JP3318425B2 - 部分平滑回路 - Google Patents

部分平滑回路

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JP3318425B2
JP3318425B2 JP01822994A JP1822994A JP3318425B2 JP 3318425 B2 JP3318425 B2 JP 3318425B2 JP 01822994 A JP01822994 A JP 01822994A JP 1822994 A JP1822994 A JP 1822994A JP 3318425 B2 JP3318425 B2 JP 3318425B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、交流の入力電圧を整流
した後、平滑する部分平滑回路に関するもので、部分平
滑回路の部品の短絡事故又は開放事故によって装置が焼
損あるいは絶縁破壊して安全性を損なうことのないよう
にするものである。
【0002】
【従来の技術】ここで部分平滑回路の部品が短絡又は開
放したとき、回路がどのような状態になるか説明する。
図2は従来より使用されている部分平滑回路を用いたス
イッチング電源で、部分平滑回路の部品が短絡又は開放
すると次の現象が起こる。 コンデンサC1又はダイオードD3のいずれかが短絡
すると、コンデンサC2の印加電圧が正常時の約2倍の
電圧になる。 コンデンサC2又はダイオードD2のいずれかが短絡
すると、コンデンサC1の印加電圧が正常時の約2倍の
電圧になる。 ダイオードD2が開放するとコンデンサC1の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
っても異なるが約1.5倍になる。 ダイオードD3が開放するとコンデンサC2の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
っても異なるが、約1・5倍になる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以上のからの状態
に基づき、従来回路の課題について説明する。従来の部
分平滑回路は、回路内の部品が短絡又は開放すると、コ
ンデンサC1又はコンデンサC2に正常時よりも高い電
圧が印加され、コンデンサの定格電圧を超えるためコン
デンサが破壊する。部分平滑回路に使用されるコンデン
サは一般に電解コンデンサであるので、防爆弁が作動
し、電解液が霧状に飛散し、回路の絶縁を破壊したり、
回路部品を焼損させるような重大な危険が生ずる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決したものであり、図1のようにコンデンサC1又は
コンデンサC2の印加電圧が定格電圧を超えると、コン
デンサの両端に接続されているツェナーダイオードD5
又はツェナーダイオードD6のツェナー電圧を超えるた
め、それぞれPNP型トランジスタQ2又はNPN型ト
ランジスタQ3とPNP型トランジスタQ2がオンとな
りツェナーダイオードD4及びスイッチング素子Q1を
短絡破壊し、回路に短絡電流が流れ、入力のヒューズF
を熔断し入力の電源供給を遮断し、コンデンサの破損を
防止することにより装置の絶縁破壊、あるいは焼損の危
険を防止しようとするものである。
【0005】すなわち、第1のコンデンサC1の負極
(−)と第2のコンデンサC2の正極(+)との間で充
電電流が流れる方向に第1のダイオードD1を接続し、
かつ第1のコンデンサC1の負極(−)と第2のコンデ
ンサC2の負極との間でコンデンサC1の放電電流が流
れる方向に第2のダイオードD2を接続し、さらに第1
のコンデンサC1の正極(+)と第2のコンデンサC2
の正極(+)との間でコンデンサC2の放電電流が流れ
る方向に第3のダイオードD3を接続してなる部分平滑
回路において、上記第1のコンデンサC1の正極と負極
との間に抵抗R3とツェナーダイオードD5とを直列接
続し、該ツェナーダイオードD5のアノードが負極側に
接続され、かつ第2のコンデンサC2の正極(+)と負
極(−)との間にツェナーダイオードD6と抵抗R4と
を直列接続し、該ツェナーダイオードD6のカソードが
コンデンサC2の正極側(+)に接続され、かつ上記抵
抗R3をPNP型トランジスタQ2のベース・エミッタ
間に接続し、該PNP型トランジスタQ2のエミッタが
第1のコンデンサC1の正極(+)に接続され、該PN
P型トランジスタQ2のコレクタが抵抗R5を介してス
イッチング素子Q1の起動用ツェナーダイオードD4の
カソードに接続され、さらに上記抵抗R4をNPN型ト
ランジスタQ3のベース・エミッタ間に接続し、該NP
N型トランジスタQ3のエミッタを第2のコンデンサC
2の負極(−)に接続し、該NPN型トランジスタQ3
のコレクタを上記PNP型トランジスタQ2のベースに
接続したことを特徴とする部分平滑回路である。
【0006】
【作用】本発明は、上述のように構成されているので、
回路内の部分の故障によってコンデンサに定格電圧以上
の電圧が印加されるとスイッチング電源素子を短絡さ
せ、入力のヒューズを熔断して、電源入力の給電を止め
るから、コンデンサを破壊から守り、装置の焼損や絶縁
破壊を防止することができる。
【0007】
【実施例】図1は本発明の一実施例の回路図であって、
図2と同じものは、同一符号で示す。同図において、T
1はコンバータトランス、Q1はスイッチング素子(こ
こではFETを示す)、R1及びR2は抵抗器、D4は
ツェナーダイオード、「制御回路」はスイッチング電源
部のQ1のパルス幅を制御する回路、C1及びC2は部
分平滑回路のコンデンサ、D1、D2及びD3は部分平
滑回路のダイオード、D0は交流入力を整流する商用ダ
イオード、Fはヒューズであって、本発明の回路は次の
各部から形成される。D5及びD6はツェナーダイオー
ド、R3、R4及びR5は抵抗器、Q2はPNP型トラ
ンジスタ、Q3はNPN型トランジスタである。
【0008】ツェナーダイオードD5は抵抗器R3と直
列に接続され、コンデンサC1の正極(+)と負極
(−)の間に接続され、該トランジスタQ2のエミッタ
・ベース間に抵抗器R3が接続され、該トランジスタQ
2のエミッタをコンデンサC1の正極(+)に接続し、
該トランジスタQ2のコレクタを抵抗器R5を介して、
ツェナーダイオードD4のカソードに接続されている。
ツェナーダイオードD6は抵抗器R4と直列に接続さ
れ、コンデンサC2の正極(+)と負極(−)の間に接
続され、トランジスタQ3のベース・エミッタ間に抵抗
器R4を接続して、コンデンサC2の負極(−)にトラ
ンジスタQ3のエミッタを接続し、該トランジスタQ3
のコレクタをトランジスタQ2のベースに接続された回
路である。
【0009】正常な状態では、部分平滑回路のコンデン
サC1及びコンデンサC2の電圧Vは、およそ次の式で
表される電圧が印加されている。
【0010】
【数1】
【0011】ここで、コンデンサC1又はダイオードD
3が破壊して短絡した場合、コンデンサC2の電圧は正
常時の電圧の2倍、つまり√2×Vac(r.m.
s.)で表される電圧が印加されることになる。同様
に、コンデンサC2又はダイオードD2が破壊して短絡
するとコンデンサC1の電圧が正常時の2倍の電圧にな
る。このようにコンデンサC1が異常な電圧になると、
ツェナーダイオードD5にツェナー電流が流れ、抵抗器
R3の両端の電圧が上がり、トランジスタQ2のベース
・エミッタ間の電圧が上がり、トランジスタQ2がオン
となり抵抗器R5を通して電流が流れるため、ツェナー
ダイオードD4を短絡破壊させ、スイッチング素子Q1
を短絡破壊させるため、入力に大電流が流れヒューズF
を熔断することにより、コンデンサC1の破壊(弁作
動)を防止し、電解液による絶縁破壊を防止することが
出来る。
【0012】又、コンデンサC2が異常な電圧になる
と、ツェナーダイオードD6にツェナー電流が流れ、抵
抗器R4の両端電圧が上がり、トランジスタQ3のベー
ス・エミッタ間の電圧が上がり、トランジスタQ3がオ
ンするため、抵抗器R3の両端電圧が上がり、トランジ
スタQ2のベース・エミッタ間電圧が上がりトランジス
タQ2がオンし抵抗器R5に電流が流れるため、上述の
ステップによりツェナーダイオードD4、スイッチング
素子Q1を短絡させ、ヒューズFを熔断し、コンデンサ
C2の破壊を防止し、電解液による絶縁破壊を防ぐこと
ができる。
【0013】
【発明の効果】本発明の部分平滑回路によって、回路の
焼損及び絶縁破壊を防止し、電源装置の安全性を保つ効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の部分平滑回路図である。
【図2】従来の部分平滑回路図である。
【符号の説明】
C1 第1のコンデンサ C2 第2のコンデンサ D1 第1のダイオード D2 第2のダイオード D3 第3のダイオード D0 商用ダイオード D4 起動用のツェナーダイオード D5 ツェナーダイオード D6 ツェナーダイオード F ヒューズ Q1 スイッチング素子(FET又はトランジスタ) Q2 PNP型トランジスタ Q3 NPN型トランジスタ R1 抵抗器 R2 抵抗器 R3 抵抗器 R4 抵抗器 R5 抵抗器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−293968(JP,A) 特開 昭64−74057(JP,A) 実開 平4−111289(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H02M 7/06 H02H 7/12 H02J 1/00 H02M 3/28

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のコンデンサC1の負極(−)と第
    2のコンデンサC2の正極(+)との間で充電電流が流
    れる方向に第1のダイオードD1を接続し、かつ第1の
    コンデンサC1の負極(−)と第2のコンデンサC2の
    負極(−)との間でコンデンサC1の放電電流が流れる
    方向に第2のダイオードD2を接続し、さらに第1のコ
    ンデンサC1の正極(+)と第2のコンデンサC2の正
    極(+)との間でコンデンサC2の放電電流が流れる方
    向に第3のダイオードD3を接続してなる部分平滑回路
    において、 上記第1のコンデンサC1の正極(+)と負極(−)と
    の間に抵抗R3とツェナーダイオードD5とを直列接続
    し、該ツェナーダイオードD5のアノードがコンデンサ
    C1の負極(−)側に接続され、かつ第2のコンデンサ
    C2の正極(+)と負極(−)との間にツェナーダイオ
    ードD6と抵抗R4とを直列接続し、該ツェナーダイオ
    ードD6のカソードがコンデンサC2の正極(+)側に
    接続され、かつ上記抵抗R3をPNP型トランジスタQ
    2のベース・エミッタ間に接続し、該PNP型トランジ
    スタQ2のエミッタが第1のコンデンサC1の正極
    (+)に接続され、該PNP型トランジスタQ2のコレ
    クタが抵抗R5を介してスイッチング素子Q1の起動用
    のツェナーダイオードD4のカソードに接続され、かつ
    上記抵抗R4をNPN型トランジスタQ3のベース・エ
    ミッタ間に接続し、該NPN型トランジスタQ3のエミ
    ッタを第2のコンデンサC2の負極(−)に接続し、該
    NPN型トランジスタQ3のコレクタを上記PNP型ト
    ランジスタQ2のベースに接続したことを特徴とする部
    分平滑回路。
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