JP3340227B2 - 部分平滑回路 - Google Patents
部分平滑回路Info
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- JP3340227B2 JP3340227B2 JP02448794A JP2448794A JP3340227B2 JP 3340227 B2 JP3340227 B2 JP 3340227B2 JP 02448794 A JP02448794 A JP 02448794A JP 2448794 A JP2448794 A JP 2448794A JP 3340227 B2 JP3340227 B2 JP 3340227B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は交流の入力電圧を整流し
た後、平滑する部分平滑回路に関するもので、部分平滑
回路の部分の短絡事故又は開放事故によって、装置が焼
損あるいは絶縁破壊して安全性を損なうことのないよう
にするものである。
た後、平滑する部分平滑回路に関するもので、部分平滑
回路の部分の短絡事故又は開放事故によって、装置が焼
損あるいは絶縁破壊して安全性を損なうことのないよう
にするものである。
【０００２】
【従来の技術】ここで部分平滑回路の部品が短絡又は開
放した時、回路がどのような状態になるか説明する。図
２は従来より使用されている部分平滑回路で、回路の部
分が短絡又は開放すると次の現象が起こる。 コンデンサＣ１又はダイオードＤ３のいずれかが短絡
するとコンデンサＣ２の印加電圧が正常時の約２倍の電
圧になる。 コンデンサＣ２又はダイオードＤ２のいずれかが短絡
するとコンデンサＣ１の印加電圧が正常時の約２倍の電
圧になる。 ダイオードＤ２が開放するとコンデンサＣ１の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
って異なるが約１．５倍になる。 ダイオードＤ３が開放するとコンデンサＣ２の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
って異なるが約１．５倍になる。
放した時、回路がどのような状態になるか説明する。図
２は従来より使用されている部分平滑回路で、回路の部
分が短絡又は開放すると次の現象が起こる。 コンデンサＣ１又はダイオードＤ３のいずれかが短絡
するとコンデンサＣ２の印加電圧が正常時の約２倍の電
圧になる。 コンデンサＣ２又はダイオードＤ２のいずれかが短絡
するとコンデンサＣ１の印加電圧が正常時の約２倍の電
圧になる。 ダイオードＤ２が開放するとコンデンサＣ１の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
って異なるが約１．５倍になる。 ダイオードＤ３が開放するとコンデンサＣ２の印加電
圧が正常時よりも高い電圧になる。その電圧は負荷によ
って異なるが約１．５倍になる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】以上のからの状態
に基づき従来回路の課題について説明する。従来の部分
平滑回路は回路内の部品が短絡又は開放すると、コンデ
ンサＣ１又はコンデンサＣ２の印加電圧が正常時よりも
高い電圧になってコンデンサの定格電圧を超えるため、
コンデンサが破壊する。部分平滑回路に使用されるコン
デンサは一般に電解コンデンサであるので、防爆弁が作
動し、電解液が霧状に飛散し回路の絶縁を破壊したり回
路部品を焼損させるような重大な危険が生ずる。
に基づき従来回路の課題について説明する。従来の部分
平滑回路は回路内の部品が短絡又は開放すると、コンデ
ンサＣ１又はコンデンサＣ２の印加電圧が正常時よりも
高い電圧になってコンデンサの定格電圧を超えるため、
コンデンサが破壊する。部分平滑回路に使用されるコン
デンサは一般に電解コンデンサであるので、防爆弁が作
動し、電解液が霧状に飛散し回路の絶縁を破壊したり回
路部品を焼損させるような重大な危険が生ずる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決したものであり、図１のようにコンデンサＣ１又はコ
ンデンサＣ２の印加電圧が定格電圧を超えると、コンデ
ンサの両端に接続されているツェナーダイオードＤ４又
はツェナーダイオードＤ５のツェナー電圧を超えるた
め、サイリスタＳのゲートに電圧が印加されて該サイリ
スタＳがオンし、抵抗Ｒ６に電流が流れる。該抵抗Ｒ６
に流れる電流によって入力側のヒューズＦを熔断し入力
の電源供給を遮断し、コンデンサの破損を防止し、装置
の絶縁破壊あるいは焼損の危険を防止しようとするもの
である。すなわち、第１のコンデンサＣ１の負極（−）
と第２のコンデンサＣ２の正極（＋）との間に第１のダ
イオードＤ１が充電電流の流れる方向に接続され、かつ
第１のコンデンサＣ１の負極（−）と第２のコンデンサ
Ｃ２の負極（−）との間に、第２のダイオードＤ２がコ
ンデンサＣ１の放電電流の流れる方向に接続され、さら
に第１のコンデンサＣ１の正極（＋）と第２のコンデン
サＣ２の正極（＋）との間に、第３のダイオードＤ３が
コンデンサＣ２の放電電流が流れる方向に接続されてな
る部分平滑回路において、上記第１のコンデンサＣ１の
正極（＋）と負極（−）との間に抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と
ツェナーダイオードＤ４の直列回路が、該抵抗Ｒ１をコ
ンデンサＣ１の正極（＋）に、該ツェナーダイオードＤ
４のアノードをコンデンサＣ１の負極（−）にして接続
され、上記第２のコンデンサＣ２の正極（＋）と負極
（−）との間に、抵抗Ｒ３とツェナーダイオードＤ５と
抵抗Ｒ４の直列回路が、該抵抗Ｒ３をコンデンサＣ２の
正極（＋）に該ツェナーダイオードＤ５をツェナー電流
の流れる方向に、該抵抗Ｒ４をコンデンサＣ２の負極
（−）にして接続され、さらにＰＮＰ型トランジスタＱ
１のエミッタをコンデンサＣ１の正極（＋）に、該トラ
ンジスタＱ１のベースを抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点
に、該トランジスタＱ１のコレクタを抵抗Ｒ５を介して
ツェナーダイオードＤ５と抵抗Ｒ４の接続点にそれぞれ
接続され、サイリスタＳのカソードをコンデンサＣ２の
負極（−）に、該サイリスタＳのゲートをツェナーダイ
オードＤ５と抵抗Ｒ４の接続点に、該サイリスタＳのア
ノードを抵抗Ｒ６を介してコンデンサＣ１の正極（＋）
に接続したことを特徴とする部分平滑回路である。
決したものであり、図１のようにコンデンサＣ１又はコ
ンデンサＣ２の印加電圧が定格電圧を超えると、コンデ
ンサの両端に接続されているツェナーダイオードＤ４又
はツェナーダイオードＤ５のツェナー電圧を超えるた
め、サイリスタＳのゲートに電圧が印加されて該サイリ
スタＳがオンし、抵抗Ｒ６に電流が流れる。該抵抗Ｒ６
に流れる電流によって入力側のヒューズＦを熔断し入力
の電源供給を遮断し、コンデンサの破損を防止し、装置
の絶縁破壊あるいは焼損の危険を防止しようとするもの
である。すなわち、第１のコンデンサＣ１の負極（−）
と第２のコンデンサＣ２の正極（＋）との間に第１のダ
イオードＤ１が充電電流の流れる方向に接続され、かつ
第１のコンデンサＣ１の負極（−）と第２のコンデンサ
Ｃ２の負極（−）との間に、第２のダイオードＤ２がコ
ンデンサＣ１の放電電流の流れる方向に接続され、さら
に第１のコンデンサＣ１の正極（＋）と第２のコンデン
サＣ２の正極（＋）との間に、第３のダイオードＤ３が
コンデンサＣ２の放電電流が流れる方向に接続されてな
る部分平滑回路において、上記第１のコンデンサＣ１の
正極（＋）と負極（−）との間に抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と
ツェナーダイオードＤ４の直列回路が、該抵抗Ｒ１をコ
ンデンサＣ１の正極（＋）に、該ツェナーダイオードＤ
４のアノードをコンデンサＣ１の負極（−）にして接続
され、上記第２のコンデンサＣ２の正極（＋）と負極
（−）との間に、抵抗Ｒ３とツェナーダイオードＤ５と
抵抗Ｒ４の直列回路が、該抵抗Ｒ３をコンデンサＣ２の
正極（＋）に該ツェナーダイオードＤ５をツェナー電流
の流れる方向に、該抵抗Ｒ４をコンデンサＣ２の負極
（−）にして接続され、さらにＰＮＰ型トランジスタＱ
１のエミッタをコンデンサＣ１の正極（＋）に、該トラ
ンジスタＱ１のベースを抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点
に、該トランジスタＱ１のコレクタを抵抗Ｒ５を介して
ツェナーダイオードＤ５と抵抗Ｒ４の接続点にそれぞれ
接続され、サイリスタＳのカソードをコンデンサＣ２の
負極（−）に、該サイリスタＳのゲートをツェナーダイ
オードＤ５と抵抗Ｒ４の接続点に、該サイリスタＳのア
ノードを抵抗Ｒ６を介してコンデンサＣ１の正極（＋）
に接続したことを特徴とする部分平滑回路である。
【０００５】
【作用】本発明は上述のように構成されているので、回
路内の部品が故障してコンデンサに定格電圧以上の電圧
が印加されると、サイリスタを作動させて入力のヒュー
ズを熔断して電源入力の給電を止めるから、コンデンサ
を破壊から守り、装置の焼損や絶縁破壊を防止すること
ができる。
路内の部品が故障してコンデンサに定格電圧以上の電圧
が印加されると、サイリスタを作動させて入力のヒュー
ズを熔断して電源入力の給電を止めるから、コンデンサ
を破壊から守り、装置の焼損や絶縁破壊を防止すること
ができる。
【０００６】
【実施例】図１は本発明の一実施例の回路図であって、
図２と同じものは同一符号で示す。同図において、Ｆは
ヒューズ、Ｄ０は商用ダイオード、Ｃ１及びＣ２は部分
平滑回路のコンデンサ、Ｄ１，Ｄ２及びＤ３は部分平滑
回路のダイオードであって、本発明の回路は次の各部か
ら形成される。Ｄ４及びＤ５はツェナーダイオード、Ｒ
１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５及びＲ６は抵抗器、Ｑ１は
ＰＮＰ型トランジスタ、Ｓはサイリスタである。抵抗Ｒ
１と抵抗Ｒ２とツェナーダイオードＤ４は直列にコンデ
ンサＣ１の正極（＋）と負極（−）との間に接続され、
抵抗Ｒ１をコンデンサＣ１の正極（＋）に、ツェナーダ
イオードＤ４のアノードをコンデンサＣ１の負極（−）
に接続されており、抵抗Ｒ３とツェナーダイオードＤ５
と抵抗Ｒ４はコンデンサＣ２の正極（＋）と負極（−）
との間に直列に接続され、抵抗Ｒ３をコンデンサＣ２の
正極（＋）に、ツェナーダイオードＤ５をツェナー電流
の流れる方向にして、抵抗Ｒ４をコンデンサＣ２の負極
（−）に接続されている。さらに、ＰＮＰ型トランジス
タＱ１が、該トランジスタＱ１のエミッタをコンデンサ
Ｃ１の正極（＋）に、該トランジスタＱ１のベースを抵
抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点に、該トランジスタＱ１のコ
レクタを抵抗Ｒ５を介してツェナーダイオードＤ５と抵
抗Ｒ４に接続され、又、サイリスタＳが該サイリスタＳ
のカソードをコンデンサＣ２の負極（−）に、該サイリ
スタＳのゲートをツェナーダイオードＤ５と抵抗Ｒ４の
接続点に、該サイリスタＳのアノードを抵抗Ｒ６を介し
てコンデンサＣ１の正極（＋）に接続された回路であ
る。正常な状態では、部分平滑回路のコンデンサＣ１及
びコンデンサＣ２の印加電圧をＶとするとコンデンサＣ
１又はダイオードＤ３が短絡故障した時、コンデンサＣ
２の印加電圧は２倍の２×Ｖとなり、同様に、コンデン
サＣ２又はダイオードＤ２が故障した時、コンデンサＣ
１の印加電圧は２倍の２×Ｖとなる。又、ダイオードＤ
２が開放故障した時のコンデンサＣ１の印加電圧は正常
時のおよそ１．５倍の１．５×Ｖになり、同様にダイオ
ードＤ３が開放故障した時のコンデンサＣ２の印加電圧
は正常時のおよそ１．５倍の１．５×Ｖになる。このよ
うにコンデンサＣ１の印加電圧が異常な電圧になると、
ツェナーダイオードＤ４にツェナー電流が流れ、この電
流によって抵抗Ｒ１の両端に電圧が生じ、ＰＮＰ型トラ
ンジスタＱ２のベース・エミッタ間にバイアス電圧が生
ずるため該トランジスタＱ２のエミッタ・コレクタ間が
オンになって抵抗Ｒ５に電流が流れ、抵抗Ｒ４の両端に
電圧が生じ、サイリスタＳのゲートに電圧が印加される
ため、該サイリスタＳのカソード・アノード間がオンと
なり、抵抗Ｒ６に電流が流れ、この電流によって入力ヒ
ューズＦを熔断し、電源入力を遮断し、コンデンサＣ１
の破壊を防止するから、装置の電解液による焼損あるい
は絶縁破壊を防止することができる。同様に、コンデン
サＣ２の印加電圧が異常な電圧になると、ツェナーダイ
オードＤ５にツェナー電流が流れ、抵抗Ｒ４の両端にゲ
ート電圧が誘起するため、サイリスタＳのアノード・カ
ソード間がオンとなり抵抗Ｒ６に電流が流れヒューズＦ
を熔断し、電源入力を遮断し、コンデンサＣ２の破壊を
防ぐから、電解液による装置の焼損あるいは絶縁破壊を
防止することが出来る。
図２と同じものは同一符号で示す。同図において、Ｆは
ヒューズ、Ｄ０は商用ダイオード、Ｃ１及びＣ２は部分
平滑回路のコンデンサ、Ｄ１，Ｄ２及びＤ３は部分平滑
回路のダイオードであって、本発明の回路は次の各部か
ら形成される。Ｄ４及びＤ５はツェナーダイオード、Ｒ
１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５及びＲ６は抵抗器、Ｑ１は
ＰＮＰ型トランジスタ、Ｓはサイリスタである。抵抗Ｒ
１と抵抗Ｒ２とツェナーダイオードＤ４は直列にコンデ
ンサＣ１の正極（＋）と負極（−）との間に接続され、
抵抗Ｒ１をコンデンサＣ１の正極（＋）に、ツェナーダ
イオードＤ４のアノードをコンデンサＣ１の負極（−）
に接続されており、抵抗Ｒ３とツェナーダイオードＤ５
と抵抗Ｒ４はコンデンサＣ２の正極（＋）と負極（−）
との間に直列に接続され、抵抗Ｒ３をコンデンサＣ２の
正極（＋）に、ツェナーダイオードＤ５をツェナー電流
の流れる方向にして、抵抗Ｒ４をコンデンサＣ２の負極
（−）に接続されている。さらに、ＰＮＰ型トランジス
タＱ１が、該トランジスタＱ１のエミッタをコンデンサ
Ｃ１の正極（＋）に、該トランジスタＱ１のベースを抵
抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点に、該トランジスタＱ１のコ
レクタを抵抗Ｒ５を介してツェナーダイオードＤ５と抵
抗Ｒ４に接続され、又、サイリスタＳが該サイリスタＳ
のカソードをコンデンサＣ２の負極（−）に、該サイリ
スタＳのゲートをツェナーダイオードＤ５と抵抗Ｒ４の
接続点に、該サイリスタＳのアノードを抵抗Ｒ６を介し
てコンデンサＣ１の正極（＋）に接続された回路であ
る。正常な状態では、部分平滑回路のコンデンサＣ１及
びコンデンサＣ２の印加電圧をＶとするとコンデンサＣ
１又はダイオードＤ３が短絡故障した時、コンデンサＣ
２の印加電圧は２倍の２×Ｖとなり、同様に、コンデン
サＣ２又はダイオードＤ２が故障した時、コンデンサＣ
１の印加電圧は２倍の２×Ｖとなる。又、ダイオードＤ
２が開放故障した時のコンデンサＣ１の印加電圧は正常
時のおよそ１．５倍の１．５×Ｖになり、同様にダイオ
ードＤ３が開放故障した時のコンデンサＣ２の印加電圧
は正常時のおよそ１．５倍の１．５×Ｖになる。このよ
うにコンデンサＣ１の印加電圧が異常な電圧になると、
ツェナーダイオードＤ４にツェナー電流が流れ、この電
流によって抵抗Ｒ１の両端に電圧が生じ、ＰＮＰ型トラ
ンジスタＱ２のベース・エミッタ間にバイアス電圧が生
ずるため該トランジスタＱ２のエミッタ・コレクタ間が
オンになって抵抗Ｒ５に電流が流れ、抵抗Ｒ４の両端に
電圧が生じ、サイリスタＳのゲートに電圧が印加される
ため、該サイリスタＳのカソード・アノード間がオンと
なり、抵抗Ｒ６に電流が流れ、この電流によって入力ヒ
ューズＦを熔断し、電源入力を遮断し、コンデンサＣ１
の破壊を防止するから、装置の電解液による焼損あるい
は絶縁破壊を防止することができる。同様に、コンデン
サＣ２の印加電圧が異常な電圧になると、ツェナーダイ
オードＤ５にツェナー電流が流れ、抵抗Ｒ４の両端にゲ
ート電圧が誘起するため、サイリスタＳのアノード・カ
ソード間がオンとなり抵抗Ｒ６に電流が流れヒューズＦ
を熔断し、電源入力を遮断し、コンデンサＣ２の破壊を
防ぐから、電解液による装置の焼損あるいは絶縁破壊を
防止することが出来る。
【０００７】
【発明の効果】本発明の部分平滑回路によって、回路の
焼損及び絶縁破壊を防止し、装置の安全性を保つ効果が
ある。
焼損及び絶縁破壊を防止し、装置の安全性を保つ効果が
ある。
【図１】本発明の一実施例の部分平滑回路図である。
【図２】従来の部分平滑回路である。
Ｃ１ 第１のコンデンサ Ｃ２ 第２のコンデンサ Ｄ０ 商用ダイオード Ｄ１ 第１のダイオード Ｄ２ 第２のダイオード Ｄ３ 第３のダイオード Ｄ４ ツェナーダイオード Ｄ５ ツェナーダイオード Ｆ ヒューズ Ｑ１ ＰＮＰ型トランジスタ Ｒ１ 抵抗器 Ｒ２ 抵抗器 Ｒ３ 抵抗器 Ｒ４ 抵抗器 Ｒ５ 抵抗器 Ｒ６ 抵抗器 Ｓ サイリスタ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−364371（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−112363（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−293968（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−74057（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−111289（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−2386（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02M 7/06 H02H 3/20 H02M 7/155
Claims (1)
- 【請求項１】 第１のコンデンサＣ１の負極（−）と第
２のコンデンサＣ２の正極（＋）との間に第１のダイオ
ードＤ１が充電電流の流れる方向に接続され、かつ第１
のコンデンサＣ１の負極（−）と第２のコンデンサＣ２
の負極（−）との間に、第２のダイオードＤ２がコンデ
ンサＣ１の放電電流の流れる方向に接続され、さらに第
１のコンデンサＣ１の正極（＋）と第２のコンデンサＣ
２の正極（＋）との間に第３のダイオードＤ３がコンデ
ンサＣ２の放電電流の流れる方向に接続されてなる部分
平滑回路において、上記第１のコンデンサＣ１の正極
（＋）と負極（−）との間に、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２とツ
ェナーダイオードＤ４の直列回路が、該抵抗Ｒ１をコン
デンサＣ１の正極（＋）に、該ツェナーダイオードＤ４
のアノードをコンデンサＣ１の負極（−）にして接続さ
れ、上記第２のコンデンサＣ２の正極（＋）と負極
（−）との間に、抵抗Ｒ３とツェナーダイオードＤ５と
抵抗Ｒ４の直列回路が、該抵抗Ｒ３をコンデンサＣ２の
正極（＋）に該ツェナーダイオードＤ５をツェナー電流
の流れる方向に、該抵抗Ｒ４をコンデンサＣ２の負極
（−）にして接続され、さらにＰＮＰ型トランジスタＱ
１をエミッタをコンデンサＣ１の正極（＋）に、該トラ
ンジスタＱ１のベースを抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点
に、該トランジスタＱ１のコレクタを抵抗Ｒ５を介して
ツェナーダイオードＤ５と抵抗Ｒ４との接続点にそれぞ
れ接続され、サイリスタＳのカソードをコンデンサＣ２
の負極（−）に、該サイリスタＳのゲートをツェナーダ
イオードＤ５と抵抗Ｒ４との接続点に、該サイリスタＳ
のアノードを抵抗Ｒ６を介してコンデンサＣ１の正極
（＋）に接続したことを特徴とする部分平滑回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02448794A JP3340227B2 (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 部分平滑回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02448794A JP3340227B2 (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 部分平滑回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07236276A JPH07236276A (ja) | 1995-09-05 |
| JP3340227B2 true JP3340227B2 (ja) | 2002-11-05 |
Family
ID=12139551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02448794A Expired - Fee Related JP3340227B2 (ja) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | 部分平滑回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3340227B2 (ja) |
-
1994
- 1994-02-22 JP JP02448794A patent/JP3340227B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07236276A (ja) | 1995-09-05 |
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Legal Events
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