JP3316001B2 - 半導体メモリに対するデータ伝達方法およびこの方法を実施するための半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリに対するデータ伝達方法およびこの方法を実施するための半導体メモリ

Info

Publication number
JP3316001B2
JP3316001B2 JP13969392A JP13969392A JP3316001B2 JP 3316001 B2 JP3316001 B2 JP 3316001B2 JP 13969392 A JP13969392 A JP 13969392A JP 13969392 A JP13969392 A JP 13969392A JP 3316001 B2 JP3316001 B2 JP 3316001B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
address
control signal
memory
memory cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP13969392A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05151768A (ja
Inventor
ゾンマー デイーター
サヴイニアツク ドミニク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JPH05151768A publication Critical patent/JPH05151768A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3316001B2 publication Critical patent/JP3316001B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/103Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers
    • G11C7/1033Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers using data registers of which only one stage is addressed for sequentially outputting data from a predetermined number of stages, e.g. nibble read-write mode

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メモリセルアドレスが
データ伝達に対する制御信号により決定される半導体メ
モリの多数のメモリセルと少なくとも1つの入力/出力
端子との間のデータ伝達のための方法およびこの方法を
実施するための半導体メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】集積半導体メモリのメモリ密度の増大お
よびデータ語幅の増大に伴って、できるかぎり高い速度
でのメモリセルからの、またそれへのデータ伝達が必要
とされる。通常の半導体メモリはマトリックス配置に構
成されている。その際に各個のメモリセルは語線および
ビット線を介して決定される。このようなメモリセルへ
のアクセスはメモリセルに対応付けられているアドレス
ならびに行アドレス制御信号(列アドレスストローブ、
RAS)および列アドレス制御信号(行アドレスストロ
ーブ、CAS)を半導体メモリに与えることにより行わ
れる。その際に通常の仕方でメモリセルの行および語ア
ドレスがアドレス指定され、また信号RASにより選択
される。その後に信号CASにより列アドレスが有効に
書かれ、またこうしてメモリセルが決定される。
【0003】従来の技術からメモリセルアクセスに対す
る種々の機能モード、たとえばいわゆるページモードま
たはニブルモードが知られている。ページモードでは通
常の仕方でメモリセルを有する行が1つの語線に沿って
選択され、またその後に列アドレス制御信号CASの両
クロックエッジの1つにより選択的な列アドレスへの新
アクセスが可能である。この作動形式では個々のセルア
クセスに対する列アドレスのみが変更されればよいの
で、列アドレスおよび行アドレスが選択自由に新たに決
定されるモードにくらべて速度の利点が得られる。
【0004】ページモードにくらべてニブルモードはデ
ータ伝達速度の明白な上昇を意味する。米国特許第 4,3
44,156号明細書によるニブルモードではアドレス決定に
より4つのメモリセルへのアクセスが行われる。これら
の4つのメモリセルは決定されたアドレスの2つのアド
レスインデックスの可能な組み合わせとして生ずる。決
定されたアドレスによりアクセスされた4つのメモリセ
ルはそれらの記憶されたデータを一時メモリに出力し、
それからデータが半導体メモリの入力/出力端子から外
部へ導かれる。
【0005】通常の仕方で下降するCAS信号エッジは
ニブルクロック、すなわち4つのメモリセルのなかの4
つのビットの読出しおよび読入れに対する列アドレスを
決定し、他方においてRASエッジによりメモリセルへ
の新アクセスが行われる。ページモードの際のように、
それに続く3つのメモリセルアクセスに対しては新たな
アドレス切換は必要でなく、従ってその決定時間が著し
く節減される。
【0006】データレートを高めるための別の可能性は
ヌマタ(K.Numata)他著「高密度DRAMに対する新し
いニブルド‐ページ‐アーキテクチュア」米国電気電子
学会雑誌・固体回路編、第24巻、第4号、1989年
8月、第900〜904頁から知られている。このいわ
ゆるニブルド‐ページ‐アーキテクチュアでは選択され
た語線またはメモリ行に沿って8ビットのユニットのな
かの列アドレスへアクセスされ得る。各ユニットの8ビ
ットへのアクセスはアドレスの決定により行われる。第
1のアドレスの決定および記憶された情報のデータ出力
の後にCAS信号の短く相い続く負のエッジの各直後の
ものにより第1のアドレスに対応付けられているメモリ
セルのデータが読出される。相応のことが書込みサイク
ルに対しても当てはまる。データ出力またはデータ入力
の制御はCASおよび書込みイネーブル(WE)信号
(書込みレリーズ制御信号)により行われる。内部で8
ビットに対応付けられているメモリセルは2つのセル範
囲に分割されており、それらに4ビット幅のデータレジ
スタが対応付けられている。このかぎりにおいてこれは
公知の形式の二重化されたニブル‐モードである。この
高速アクセスの欠点は、このように考案されたメモリモ
ジュールがこのサイクルアクセスにしか使用できないこ
と、また他の運転モードを実効するのが不可能または煩
雑であることにある。
【0007】米国特許第 4,758,995号明細書から、同じ
くアドレス決定により8ビットが相い続いて読出し可能
であるデータ伝達のための方法が知られている。2つの
メモリセル範囲からアドレス授受および対応付けられて
いるメモリセルの第1の読出しの後に7つの別のビット
が相い続いて読出される。カウンタがデータ出力を、最
初の4つのメモリセルの読出しの終了前に適時にすぐ次
の4つのメモリセルがアドレス指定されかつ読出され得
るように制御する。相応のことが書込みに対しても当て
はまる。この方法もこの形式のモジュールにしか使用で
きない高速ニブルサイクルとみなされる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、半導
体メモリに対する新しいアクセス方法およびこのような
方法を実施するための半導体メモリを提供することであ
る。さらに本発明の課題は、半導体メモリの基本機能を
本質的に制約することなしにメモリセルへの高速アクセ
スを可能にする半導体メモリに対するデータ伝達のため
の方法およびこの方法を実施するための半導体メモリを
提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】この課題は請求項1の特
徴および請求項6の特徴により解決される。
【0010】本発明の実施態様は従属請求項にあげられ
ている。
【0011】
【発明の効果】本発明は、半導体メモリに対する標準化
された基本機能を代替的な作動モードで著しく損なうこ
となしにメモリセルからの、またそれへの高いデータ伝
達レートを可能にするという利点を有する。その際にデ
ータ伝達の制御のためにアドレス制御信号CASおよび
データ伝達の制御のための出力レリーズ制御信号OEが
使用される。出力レリーズ制御信号(出力イネーブル)
は外部接続ピンを介して4MBit以上のメモリ容量を
有する半導体メモリのなかに、またx4編成において標
準的に存在している半導体メモリに与えられ得る。国際
的に通用している仕様に従って、データ出力端またはデ
ータ入力端は、伝達すべきデータが与えられていないか
ぎり、トリステート状態に切換えられる。
【0012】
【実施例】以下、図面に示されている実施例により本発
明を一層詳細に説明する。図面を通じて、同じ要素には
同じ符号が付されている。
【0013】本発明による方法を説明するため図1に
は、1つの実施例としてニブル‐ページ‐モードを利用
する装置のブロック回路図が示されている。メモリ基本
機能が本発明による方法および相応の装置によりできる
かぎりわずかしか損なわれないという本発明の課題によ
り課せられる条件は、標準サイクルが変更されること、
すなわちRASまたはCAS信号によりそのアドレスに
相応して決定されたメモリセルへのアクセスが行われる
ことにより保証される。
【0014】RASまたはCAS信号の報知について述
べるとき、それらは外部からメモリの接続ピンに与えら
れるような形態の信号を意味する。このことは、通常の
仕方でTTL信号RAS、CAS、WEおよびOEがそ
の否定された形態でピンに与えられることを意味する。
このことは符号RASNT、CASNT、WENTおよ
びOENTにより確定される。図1によれば、これらの
4つの信号が半導体メモリに対する入力制御信号を形成
する。RASNTおよびCASNTによりメモリセルの
アドレスが決定され、WENTによりメモリが読出され
るべきか書込まれるべきかが決定され、またOENTは
通常の仕方でデータ出力に対する出力バッファをレリー
ズする。公知のメモリではデータ入力は分離した制御信
号により決定されない。
【0015】本発明の基本思想は、公知のメモリの場合
のようにRASまたはCAS信号によりメモリセルがア
ドレス指定され、またアドレスが立ち下がりCAS信号
エッジにより授受されることに基づいている。このよう
な主クロックの高速の連続は既に示されているように、
なかんずくアドレス授受が比較的多くの時間を要するた
めに可能でない。本発明によれば、RASおよびCAS
により決定される2つの主クロックの間に追加的にデー
タが読出され得る。そのためにCASNTおよびOEN
Tにより制御信号が発生される。ニブル‐ページ‐モー
ドの場合には主クロックは、3つの追加的なデータクロ
ックにより各主クロックの後にニブル‐モードを形成す
るページ‐モードに相当する。この仕方で公知のDRA
M作動モード、ニブル‐モードおよびページまたは高速
ページ‐モードが互いに組み合わされ得る。さらに別の
組み合わせ、たとえばビットあたりの書込みが可能であ
る。相応の標準機能はその際に著しく損なわれない。
【0016】データ伝達は外部ピンに与えられている信
号CASNTおよびOENTにより制御されるべきであ
るので、この制御に対して2つの原理的な可能性があ
る。一方では本来のデータ伝達がCASNTにより制御
され、他方ではOENTにより制御される。CASNT
によるデータ伝達の制御の際に高速のデータ伝達にもか
かわらず、新しい列アドレスの授受がCAS信号に相応
して特定のニブルクロックでしか可能でないという欠点
が生ずる。さらに、データ出力バスがCAS信号を介し
てトリステート状態に切換えられ得ないので、このトリ
ステート状態がOENTにより決定可能でなければなら
ない。公知の作動モードとの両立性が放棄されるかぎ
り、データ出力バスはトリステート移行なしでも作動し
得る。
【0017】OENTによるデータ伝達の制御の際には
確かに、x1編成およびメモリ容量≧4MBitでのメ
モリ構成の際にもこの出力レリーズ制御信号に対して接
続ピンが設けられていなければならないという欠点が生
ずる。しかし、CAS信号が通常の仕方でメモリセルの
決定の役割をするので、高速のデータ伝達の際に新しい
列アドレスの授受が各時点で可能であるという利点が生
ずる。CASNTによりその場合に実行中のニブル‐シ
ーケンスが中断され、また新しいニブル‐サイクルに対
するアドレスが授受され得る。
【0018】アドレス制御信号CASNTがメモリセル
アドレスを決定し、また出力レリーズ信号OENTがデ
ータ伝達を制御するこの第2の場合を図1により説明す
る。その際に、データ伝達レートをさらに高めるための
本発明の1つの実施例によりOENTの両信号エッジの
1つだけでなく、両信号エッジの各々がデータを読入れ
かつ読出す場合が考察される。各ニブル‐シーケンスの
第1のデータは、CASNTの負のエッジによるアドレ
スの授受の後にアドレスが決定され、またデータ入力ま
たはデータ出力が開始されるときに、当該のメモリセル
に書込まれ、またはそこから読出される。このことは、
CASNTおよびOENTの論理積が論理0であるとき
に、データ読出しまたはデータ書込み過程が開始し得る
ことを意味する。データ伝達、すなわちデータの読出し
または書込みに対してその場合、OENT信号による制
御が行われており、他方においてCASNT信号は、新
しいアドレスが授受されるべきときまで、論理0にとど
まる。
【0019】本発明による方法の進行制御のために図1
に、信号RASNT、CASNTおよびWENTを直接
に入力信号として供給される時間制御装置TCが設けら
れている。本発明により決定するレリーズ制御信号OE
NTはデータ伝達認識回路TDCを介して時間制御回路
TCと接続されている。回路TCはアドレス信号Ao
いしAi が与えられているアドレスバッフア回路AL
(アドレスラッチ)と接続されている。通常の仕方でこ
のように理解されているニブル‐モードは4つのデータ
の集合を含んでいるので、4つの対応付けられているメ
モリセルが2つのアドレスインデックスにより決定可能
である。しかしながら本発明は、2つの主クロックの間
で4つのデータを有するニブル‐モードを伝達すること
に制限されず、要求に応じてもっと多くの、たとえば8
つまたは16のデータが変形されたニブル‐モードのな
かで伝達され得る。図1には、アドレスAj ないしAi
がアドレスポインタAPに供給されることが示されてい
る。図示されていない他のアドレスAo ないしAj は相
応のデコーダに、場合によってはここでは関心のない別
の機能グループを中間に接続して、供給される。アドレ
スポインタAPは、本来のニブル‐モードを制御する課
題を有する。アドレスポインタAPおよび時間制御回路
TCはシフト制御回路(シストコントロール)SCを介
して互いに接続されている。本来のメモリセル装置に関
してアドレスポインタAPは本来のメモリセル装置MA
1と入力/出力回路I/O1との間に位置するマルチプ
レクサMUX1と接続されている。このようなメモリセ
ル装置MA1は多くのメモリセルブロックのなかでそれ
ぞれ個々のメモリセル領域に分割されていてよい。メモ
リセル装置MA1は読出しバスRB1および書込みバス
WB1を介してマルチプレクサMUX1を介して入力/
出力回路I/O1と接続されている。この最後の回路は
外部から近接可能な接続ピンDI1またはDO1と接続
されており、これらの端子はもちろんデータ入力または
データ出力に対する単一の端子により実現されていても
よい。メモリセル装置MA、マルチプレクサMUXおよ
び入力/出力回路I/Oは、図1に示されているよう
に、多重に、たとえば二重または四重に構成されていて
もよい。このような場合に、そのつどの接続または制御
は一致している。図1によればたとえばマルチプレクサ
MUX1およびMUX2がアドレスポインタAPと接続
されている。分離した書込み制御およびデータ出力バス
またはデータ出力端子のレリーズを介して入力/出力回
路I/01およびI/O2は時間制御回路TCと接続さ
れている。
【0020】図1に示されているが、まだ説明していな
い信号は後で別の図面により説明する。その他の点では
端子および端子に与えられている信号または導線および
導線を介して伝達される信号は図示を簡単化するために
それぞれ同じ符号を付されている。
【0021】データ伝達の制御は信号CASNTおよび
OENTにより行われるので、その他の回路の完全に一
致する変更の際にはたとえば回路TDCは接続ピンCA
SNTと時間制御回路TCとの間に接続されてもよいこ
とは明らかであり、その場合には信号OENTは直接に
時間制御回路に供給される。当業者にとって、本発明が
実施例に制限されていないことは容易に認識可能であ
る。当業者の知識により、別の実施例が本発明の教示に
より実施され得る。
【0022】図2には、信号OENTの際に信号移行を
認識するための回路TDCを含んでいる回路10が示さ
れている。回路の入力信号は半導体メモリの外部接続ピ
ンに与えられるTTL‐CMOSレベルを有する信号O
ENTを形成する。この信号はバッファB1のなかで内
部信号レベルに変換される。バッファB1は、外部制御
信号により導き出されている内部で発生される制御信号
によりレリーズされる。これらの内部制御信号CIN
T、RINTおよびCASNは後で説明する。バッファ
B1の出力信号はフリップフロップによりそれぞれすぐ
次の信号移行まで記憶される。フリップフロップFF1
の出力端に内部信号OEが与えられている。
【0023】回路TDCはバッファB1の出力信号によ
り、すなわち入力信号OENTにより、また内部制御信
号CASNにより制御される。両信号はNANDゲート
NA1で論理演算される。このゲートNA1の出力信号
は一度遅延され、また一度遅延されずに2つのトランジ
スタT1およびT2の駆動のために使用される。ゲート
NA1の出力信号はさらにインバータI1により反転さ
れ、その出力信号は等しい仕方で一度遅延され、また一
度遅延されずに2つのトランジスタT3およびT4の駆
動のために使用される。両トランジスタグループは配線
されたオア論理回路を形成する。この論理回路の出力端
は詳細には図示されていない別のNANDゲートの1つ
の入力端を形成し、その第2の入力は信号OEにより形
成される。このゲートの出力側に、発生すべき内部信号
CINTの駆動のために用いられる信号OETが得られ
る。説明を完全なものにするために言及すると、フリッ
プフロップFF1は内部制御信号CASNによりリセッ
ト可能である。内部信号WINTはデータ出力または信
号OEの切り離しの役割をする。
【0024】図3には外部TTL信号CASNTからの
内部行アドレスストローブ信号CASNの発生が示され
ている。外部信号は、信号を内部電圧レベルに変換し
て、本発明にとっては重要でないいくつかの論理要素の
出力端に内部信号CASNとして与えるバッファB2に
供給される。同時に図3には、信号OETおよび制御信
号CASNTからの本発明にとって重要な内部制御信号
CINTの発生が示されている。バッファB2の後で、
内部制御信号CINTを発生するために、信号CASN
Tに相応する信号がNANDゲートNA3により論理演
算される。この内部制御信号CINTはデータ伝達を制
御するための規範的な信号である。この信号の発生によ
り図2および図3から明らかになるように、CINTは
個別パルス信号をなしており、その際にそれぞれ、信号
CASNが予め定められた論理状態を占め、かつOEN
Tの論理状態の信号切換が行われるときに、パルスが発
生される。
【0025】図12によりこの関連を説明する。信号R
ASにより1つの語線が選択されており、また行アドレ
スストローブCAS信号がメモリセルアクセスを可能に
するとき、CASとならんで信号OENTが論理0であ
ると直ちに、信号CINTの第1のパルスが発生され
る。従って、これらの論理条件の論理積演算がCINT
信号の最初の発生のために必要である。OENTのそれ
に続く各信号切換によりCINTの別のパルスが発生さ
れる。CINTの両信号エッジのそれぞれ1つは次いで
データ伝達を制御する。データはその際に、CINTの
規範形成エッジによりすぐ次のデータが授受されるま
で、またはサイクルが信号CASにより中断されるま
で、与えられている。
【0026】これまでに示された図面により本発明の基
本思想は明らかである。半導体メモリに対するデータ伝
達は、メモリアドレスの必要な授受および決定により条
件付けられて、外部信号により高速で十分に“トグル”
され得ないので、外部行アドレスストローブ信号CAS
から外部OENT信号と結び付いて制御される内部制御
パルスCINTが発生される。この仕方で内部制御のこ
れまでに既に公知の標準機能が優先させられる。信号C
INTによる内部制御は信号CASの時間的制限を受け
ず、また高速のデータ伝達を可能にする。
【0027】図4には図1によるニブル‐ページ‐モー
ドの実現が一層詳細に示されている。回路10および2
0は図2および図3により既に説明済みである。言及す
べきこととして、信号RINTは信号RASNTからバ
ッファによる内部信号レベルへの外部信号レベルの変換
により発生される。回路30は内部信号CASNおよび
CINTから、データバスの制御の役割をする出力信号
CASTを発生する。回路60は内部データバスを出力
段と接続する。回路40は、WINTを外部信号WEN
Tから発生し、またバス制御モジュール60に対する制
御信号OEIおよび書込み制御信号、すなわち書込みイ
ネーブルラッチWELまたはその反転された信号WEL
Nを発生する書込み制御を含んでいる。回路50はアド
レスバッファALに対する制御信号およびアドレスポイ
ンタAPを発生する。内部信号RINT、CASNおよ
びCINTが信号WINTとならんでデータ伝達全体の
制御に対する規範形成信号であることは認識可能であ
る。
【0028】図5には信号CASTの発生のための回路
30が示されている。両制御信号CINTおよびCAS
Nは互いにゲートNA4のなかで論理演算され、また次
いで一度は遅延され、また一度は遅延されずに別のゲー
トNA5に供給され、その出力信号はCASTである。
図5による回路は、CINTの信号エッジのみを有効な
エッジとして選択する役割をする。
【0029】図6には書込み制御回路40が示されてい
る。外部書込み制御信号WENTはバッファB3により
内部信号WINTに変換される。バッファB3の出力信
号は信号RINTおよびCINTと一緒に、書込み制御
信号を発生する本来の書込み制御回路WCCの役割をす
る。この回路WCCの実現は当業者により容易に可能で
ある。バッファB3の出力信号は同じく、書込みイネー
ブル信号に関係してデータバスの制御を行う信号OEI
を発生する回路SWCの制御の役割をする。
【0030】図7には、アドレス制御信号CALNおよ
びENSHの発生の役割をする回路50が示されてい
る。信号RINTおよびCINTはノアゲートNO2の
なかで互いに論理演算され、またアドレスラッチ回路A
Lを制御する信号CALNと、それにくらべて反転され
ており同様にアドレスポインタAPによりニブル‐シー
ケンスを決定する書込み制御回路SC(シフトコントロ
ール)を制御する制御信号ENSHとを発生する。フリ
ップフロップFF3に対する信号RESは、内部制御信
号に関係するリセット信号である。
【0031】図8には、データバスDUiまたはDDi
から外部バスPUiまたはPDiへの制御を含んでいる
回路60が示されている。バスは実施例ではデータアッ
プ、データダウン、プルアップまたはプルダウンに対す
るそれぞれ4つのデータ線を含んでいる。その際に内部
データバスは論理“高”に予め充電されている。CIN
Tの有効なエッジに相応して選択されている信号CAS
Tと信号OEIとは互いに論理演算されて、信号CTと
なる。この信号はデータバスとならんでセット/リセッ
ト‐ラッチ要素SRL1ないしSRLiに対する入力信
号としての役割をする。これらのラッチの数はI/Oグ
ループの数、従ってまたデータ線グループの数に一致
し、実施例では4である。その際に信号OEIは、信号
WENTの有効なエッジが信号CASNTの有効なエッ
ジの前に生じている早期書込み状態が存在するか否かに
関係する。この場合、入力/出力線はトリステート状態
に位置しているので、データ入力/出力は許容されてい
ない。書込みイネーブルの有効なエッジが信号CASN
Tの有効なエッジの後に生じている逆の場合には、デー
タ入力/出力はレリーズされている。
【0032】信号CTが論理的に高い電位に位置してい
ると、端子LUおよびLDにおける出力ラッチL1ない
しLiに対する入力信号は論理的に低い電位にあり、ま
た相応してバスPUiならびにPDiの導線は論理的に
高い電位に、すなわちトリステート状態にある。信号C
Tが論理的に低い電位に位置していると、データバスD
UまたはDDの信号変化によりラッチLRLiまたはL
iの1つがセットされ、またこうしてデータ信号が出力
バスに伝達され得る。CINTのすぐ次の有効なエッジ
は次いで内部データバスDUおよびDDからラッチへの
新しいデータ授受を可能にする。
【0033】図9aにはセット/リセットラッチSRL
iの詳細な回路図が示されている。図9bにはアドレス
バッファの詳細な回路図が示されている。
【0034】図10には従来の技術によるニブル‐モー
ドを説明するためのブロック回路図が示されている。ニ
ブル‐シーケンスに属するアドレスADR1ないしAD
R4はアドレスポインタAPのバッファB11ないしB
14に与えられている。これらのバッファはリング回路
のなかで互いに接続されている。シフト制御回路SCは
信号CINTおよびENSHにより制御され、また制御
信号をバッファに与える。1つのニブル‐シーケンスの
なかで4つの付属のメモリセルが同時に先ず一時メモリ
セルに読入れられ、またその後にバッファによるリング
制御に相応して直接に次々と読出され、もしくは個々の
メモリセルが直接に次々と読入れられ、またデータが読
出される。
【0035】図11の信号ダイアグラムはこの公知のニ
ブル‐モードを説明するものである。信号CASNiの
立ち下がり信号エッジにより、説明されるモードでは信
号CINTNiおよびENSHによりアドレスポインタ
APがセットされ、また信号CINTNiの立ち下がり
信号エッジによりクロック信号CKが発生され、また先
にセットされたアドレスポインタがリセットされ、また
すぐ次のアドレスポインタがセットされる。各ニブル‐
シーケンスのなかでこの過程が多数回進行する。本発明
によればこの過程は任意に長くサイクリックに継続され
得る。
【0036】図13には、出力イネーブル信号OEの信
号移行により制御されるニブル‐ページ‐モードでの読
出しサイクルに対する信号ダイアグラムが示されてい
る。立ち下がり信号エッジCASにより第1の列アドレ
スが授受され、または、OEが既に論理的に低い電位に
あるので、相応のメモリセルが決定され、また同時に入
力/出力回路がレリーズされる。両立ち下がり信号エッ
ジCASおよびOEは読出し過程を開始する。両エッジ
は互いに論理積演算され、その際にこの場合にDO11
に対する第1の読出し過程がCASの負のエッジにより
制御される。3つの後続のデータが信号OEのそれぞれ
1つのエッジにより制御される。このニブル‐シーケン
スの経過の後にCASの立ち上がりエッジによりすぐ次
の列アドレスCOL2が授受され、またすぐ次の立ち下
がりエッジによりニブル‐シーケンスの付属のデータが
読出される。信号CASはこうしてページ‐モードを制
御し、他方において各ページ間隔のなかのニブル‐モー
ドは信号OEにより制御される。
【0037】相応のことが図13に相応する図14の書
込みサイクルに対しても当てはまる。
【0038】図13および図14により、CASによる
ページ‐モードおよびOEによる各信号エッジによるニ
ブル‐モードの制御により伝達レートが容易に倍増され
得ることは容易に明らかである。実施例では簡単なニブ
ル‐モードが選ばれているが、各ページ8、16または
それ以上のニブルでもデータ伝達が可能である。このこ
とは2、4またはそれ以上のニブル‐シーケンスに相当
しよう。
【0039】本発明による方法および本発明によるメモ
リセルの利点は、信号CASがその元々の決定に対する
その標準化された仕様に相応して列アドレス評価信号
(行アドレスストローブ)として、またデータ出力端が
トリステート状態にもたらされることによって直列デー
タフローの中断のために利用され得ることにある。もち
ろん、説明されるモードはx4編成で問題なく伝達され
得るし、またビットあたりの書込み機能との組み合わせ
も問題なく可能である。本発明の別の実施例は当業者に
とって容易である。もちろん信号OEにより制御される
直列ページ‐モードも可能である。この場合、常にOE
信号の両信号エッジの1つが規範を形成する。その際
に、直列データサイクルがCAS信号により中断され得
る、高められたデータレートを有する拡大されたページ
長さが得られる。既に説明された実施例のようにCAS
はは列アドレス授受を制御し、またデータ出力はOEに
より制御される。他方において、データ伝達が信号CA
S自体により制御される直列ページ‐モードも可能であ
る。その際にデータ出力端のトリステート状態はOEに
より設定される。この実施例では標準ページ‐モードは
可能でない。なぜならば、データ伝達はCASにより制
御され、従ってまたアドレス授受が特定の時点でしか、
すなわちある数のCAS信号切換の後にしか行われ得な
いからである。そのためにカウンタを設けることは目的
にかなっている。ニブル‐サイクルの中断によるアドレ
ス切換の認識も可能である。最後に、新しいアドレスを
授受し得るようにする固有のクロックも発生され得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を説明するためのブロック回路図。
【図2】出力レリーズ制御信号から内部制御信号を発生
するための原理回路図。
【図3】内部アドレス制御信号を発生するための原理回
路図。
【図4】ニブル‐ページ‐モードを説明するための原理
回路図。
【図5】出力制御に対する内部信号を発生するための原
理回路図。
【図6】内部書込み制御信号を発生するための原理回路
図。
【図7】アドレス制御信号を発生するための原理回路
図。
【図8】出力制御回路の原理回路図。
【図9】(a)は出力制御回路のラッチ回路の原理回路
図、(b)はバッファ回路の原理回路図。
【図10】本発明による信号を有するニブル‐モードを
説明するための原理回路図。
【図11】ニブル‐ページ‐モードを説明するための信
号ダイグフラム。
【図12】読出しサイクルにおける本発明による方法を
説明するための信号ダイグフラム。
【図13】読出しサイクルにおけるニブル‐ページ‐モ
ードを説明するための信号ダイグフラム。
【図14】書込みサイクルにおけるニブル‐ページ‐モ
ードを説明するための信号ダイグフラム。
【符号の説明】
CASNT アドレス制御信号 I/O 入力/出力回路 MA メモリセル MUX マルチプレクサ OENT 出力レリーズ制御信号 TC 時間制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ドミニク サヴイニアツク ドイツ連邦共和国 8045 イスマニング バーンホーフシユトラーセ 2 (56)参考文献 特開 昭61−229298(JP,A) 特開 平4−125893(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11C 11/40 - 11/4099

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルアドレスがデータ伝達に対す
    る制御信号により決定される半導体メモリの多数のメモ
    リセルと少なくとも1つの入力/出力端子との間のデ
    ータ伝達のための方法において、メモリセル(MA)か
    らの、またそれへのデータ伝達過程アドレス制御信号
    (CASNT)および出力レリーズ制御信号(EN
    T)により、両信号の一方がメモリセルアドレスを決定
    し、その後にデータ伝達過程が両制御信号の所与の論理
    演算の際に開始し、続くデータ伝達両制御信号の他方
    により制御可能であるように制御し、かつアドレス制御
    信号(CASNT)のクロックエッジの1つにより、前
    記決定されたメモリセルアドレスに対応付けられている
    データ伝達過程を終了することを特徴とする半導体メモ
    リに対するデータ伝達方法。
  2. 【請求項2】 決定されたメモリセルアドレスの各々に
    より多数のメモリセルへのアクセスが実行可能であるこ
    とを特徴とする請求項1記載の方法。
  3. 【請求項3】 アドレス制御信号(CASNT)がメモ
    リセルアドレスを決定し、また出力レリーズ制御信号
    ENT)がデータ伝達をその信号エッジのそれぞれ
    1つにより制御することを特徴とする請求項1または2
    記載の方法。
  4. 【請求項4】 アドレス制御信号(CASNT)がメモ
    リセルアドレスを決定し、また出力レリーズ制御信号
    ENT)がデータ伝達をその信号エッジの各々によ
    り制御することを特徴とする請求項1または記載の方
    法。
  5. 【請求項5】 多数のメモリセルおよび少なくとも1つ
    の入力/出力端子と、アドレス指定のための手段と、メ
    モリセルの決定のための手段と、メモリセルからの、ま
    たそれへのデータ伝達の制御のための手段とを有する半
    導体メモリにおいて、アドレス制御信号(CASNT)
    および出力レリーズ制御信号(OENT)が用いられて
    おり、両信号が、両信号の一方がメモリセルアドレスの
    決定の役割をし、また両信号の他方が、データ伝達が両
    制御信号の所与の論理演算の際に開始された後でデータ
    伝達の役割をすることによって、共通にデータ伝達過程
    を制御し、かつアドレス制御信号(CASNT)のクロ
    ックエッジの1つにより、前記決定されたメモリセルア
    ドレスに対応付けられているデータ伝達過程を中断する
    ことを特徴とする半導体メモリ。
  6. 【請求項6】 決定されたメモリセルアドレスの各々に
    よりメモリセルのアドレス指定のための手段が多数のメ
    モリセルにアクセスすることを特徴とする請求項4記載
    メモリ。
  7. 【請求項7】 アドレス制御信号(CASNT)がメモ
    リセルアドレスの決定の役割をし、また出力レリーズ制
    御信号(OENT)がその信号エッジのそれぞれ1つに
    よりデータ伝達を制御することを特徴とする請求項5ま
    たは6記載のメモリ。
  8. 【請求項8】 アドレス制御信号(CASNT)がメモ
    リセルアドレスの決定の役割をし、また出力レリーズ制
    御信号(ENT)がその信号エッジの各々によりデー
    タ伝達を制御することを特徴とする請求項または
    載のメモリ。
JP13969392A 1991-05-06 1992-05-01 半導体メモリに対するデータ伝達方法およびこの方法を実施するための半導体メモリ Expired - Lifetime JP3316001B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4114744A DE4114744C1 (ja) 1991-05-06 1991-05-06
DE4114744.8 1991-05-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05151768A JPH05151768A (ja) 1993-06-18
JP3316001B2 true JP3316001B2 (ja) 2002-08-19

Family

ID=6431081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13969392A Expired - Lifetime JP3316001B2 (ja) 1991-05-06 1992-05-01 半導体メモリに対するデータ伝達方法およびこの方法を実施するための半導体メモリ

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5357469A (ja)
EP (1) EP0513611B1 (ja)
JP (1) JP3316001B2 (ja)
KR (1) KR100292552B1 (ja)
AT (1) ATE161999T1 (ja)
DE (2) DE4114744C1 (ja)
HK (1) HK1005492A1 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07226079A (ja) * 1994-02-14 1995-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ装置
US5598376A (en) * 1994-12-23 1997-01-28 Micron Technology, Inc. Distributed write data drivers for burst access memories
US5652724A (en) * 1994-12-23 1997-07-29 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device having pipelined output buffer
US5668773A (en) * 1994-12-23 1997-09-16 Micron Technology, Inc. Synchronous burst extended data out DRAM
US5721859A (en) * 1994-12-23 1998-02-24 Micron Technology, Inc. Counter control circuit in a burst memory
US5729503A (en) * 1994-12-23 1998-03-17 Micron Technology, Inc. Address transition detection on a synchronous design
US6804760B2 (en) 1994-12-23 2004-10-12 Micron Technology, Inc. Method for determining a type of memory present in a system
US5610864A (en) * 1994-12-23 1997-03-11 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device with maximized write cycle timing
US5675549A (en) * 1994-12-23 1997-10-07 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device address counter
US5640364A (en) * 1994-12-23 1997-06-17 Micron Technology, Inc. Self-enabling pulse trapping circuit
US6525971B2 (en) 1995-06-30 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Distributed write data drivers for burst access memories
US5682354A (en) * 1995-11-06 1997-10-28 Micron Technology, Inc. CAS recognition in burst extended data out DRAM
US5526320A (en) * 1994-12-23 1996-06-11 Micron Technology Inc. Burst EDO memory device
US5717654A (en) * 1995-02-10 1998-02-10 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device with maximized write cycle timing
US5850368A (en) * 1995-06-01 1998-12-15 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory address counter
US6470405B2 (en) * 1995-10-19 2002-10-22 Rambus Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US6810449B1 (en) 1995-10-19 2004-10-26 Rambus, Inc. Protocol for communication with dynamic memory
US5729504A (en) * 1995-12-14 1998-03-17 Micron Technology, Inc. Continuous burst edo memory device
US7681005B1 (en) 1996-01-11 2010-03-16 Micron Technology, Inc. Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation
US5966724A (en) * 1996-01-11 1999-10-12 Micron Technology, Inc. Synchronous memory device with dual page and burst mode operations
US6981126B1 (en) 1996-07-03 2005-12-27 Micron Technology, Inc. Continuous interleave burst access
US6401186B1 (en) 1996-07-03 2002-06-04 Micron Technology, Inc. Continuous burst memory which anticipates a next requested start address
JPH10124447A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Fujitsu Ltd データ転送制御方法及び装置
US7103742B1 (en) 1997-12-03 2006-09-05 Micron Technology, Inc. Burst/pipelined edo memory device
US7927948B2 (en) 2005-07-20 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Devices with nanocrystals and methods of formation
CN108327042B (zh) * 2018-03-22 2023-09-15 昆明理工大学 一种陶瓷颗粒增强金属基复合材料预制体的自动化制备装置
US11630785B2 (en) 2020-11-03 2023-04-18 Western Digital Technologies, Inc. Data storage with improved data transfer

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4344156A (en) * 1980-10-10 1982-08-10 Inmos Corporation High speed data transfer for a semiconductor memory
JPS60136086A (ja) * 1983-12-23 1985-07-19 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US4897818A (en) * 1983-12-30 1990-01-30 Texas Instruments Incorporated Dual-port memory with inhibited random access during transfer cycles
JPS6167154A (ja) * 1984-09-11 1986-04-07 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS6180597A (ja) * 1984-09-26 1986-04-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPH0652632B2 (ja) * 1985-01-23 1994-07-06 株式会社日立製作所 ダイナミツク型ram
JPH079751B2 (ja) * 1985-06-17 1995-02-01 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
JPH01205788A (ja) * 1988-02-12 1989-08-18 Toshiba Corp 半導体集積回路
US5150327A (en) * 1988-10-31 1992-09-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor memory and video signal processing circuit having the same
KR920000962B1 (ko) * 1989-05-26 1992-01-31 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 데이터 출력단 전압레벨 조절회로
US4998222A (en) * 1989-12-04 1991-03-05 Nec Electronics Inc. Dynamic random access memory with internally gated RAS

Also Published As

Publication number Publication date
ATE161999T1 (de) 1998-01-15
KR100292552B1 (ko) 2001-06-01
DE59209095D1 (de) 1998-02-12
JPH05151768A (ja) 1993-06-18
DE4114744C1 (ja) 1992-05-27
US5357469A (en) 1994-10-18
EP0513611B1 (de) 1998-01-07
HK1005492A1 (en) 1999-01-08
EP0513611A2 (de) 1992-11-19
EP0513611A3 (ja) 1995-05-17
KR920022290A (ko) 1992-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3316001B2 (ja) 半導体メモリに対するデータ伝達方法およびこの方法を実施するための半導体メモリ
KR940000148B1 (ko) 듀얼포트 반도체 기억장치
US6381190B1 (en) Semiconductor memory device in which use of cache can be selected
KR100915554B1 (ko) 반도체기억장치
US8031538B2 (en) Method and apparatus for data inversion in memory device
EP0143647A2 (en) Semiconductor memory device
US4899310A (en) Semiconductor memory device having a register
JP2000222880A (ja) 半導体記憶装置とその制御方法
JPH0640439B2 (ja) 半導体記憶装置
US6078536A (en) Packet type integrated circuit memory devices having pins assigned direct test mode and associated methods
KR920001082B1 (ko) 반도체 메모리장치에 있어서 메모리 테스트용 멀티바이트 광역 병렬 라이트회로
US4905201A (en) Semiconductor memory device capable of selective operation of memory cell blocks
JPS5951073B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2746222B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0642313B2 (ja) 半導体メモリ
US4763304A (en) Semiconductor random access memory device having switchable input and output bit forms
US5821798A (en) Method for determining whether bi-directional or unidirectional data line circuits are used
JP2891979B1 (ja) 部分書き換え可能なpld
US5946269A (en) Synchronous RAM controlling device and method
JPH10144071A (ja) 半導体記憶装置
KR100211483B1 (ko) 블록 기록 시스템을 이용하는 반도체 메모리
US5644549A (en) Apparatus for accessing an extended data output dynamic random access memory
KR100345815B1 (ko) 저소비 전류의 데이터 전송 회로
JP3119632B2 (ja) メガセルテスト装置及びそのテスト方法
KR100290545B1 (ko) 메모리어레이,메모리소자및정보처리방법

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020502

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080607

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090607

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090607

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100607

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110607

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110607

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120607

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term