JP3315871B2 - 半田バンプを有する配線基板及びその製造方法 - Google Patents

半田バンプを有する配線基板及びその製造方法

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JP3315871B2 JP23316996A JP23316996A JP3315871B2 JP 3315871 B2 JP3315871 B2 JP 3315871B2 JP 23316996 A JP23316996 A JP 23316996A JP 23316996 A JP23316996 A JP 23316996A JP 3315871 B2 JP3315871 B2 JP 3315871B2
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晴彦 村田
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3478Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フリップチップ実
装用基板やボールグリッドアレイ基板等の半田バンプを
有する配線基板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば集積回路チップ(フリ
ップチップ)を配線基板に実装する場合には、フリップ
チップ及び配線基板の接合面に、格子状又は千鳥状に複
数の端子を形成し、これによって両者を接合する方式が
知られている。
【0003】前記フリップチップを搭載した配線基板と
プリント基板(マザーボード等)との接合においては、
他方の接合面(フリップチップを搭載しない面)に、接
合用の高融点半田やCu等からなるボールを用いて格子
状に複数の端子(半田バンプ)を形成し、これによって
プリント基板と接合する方式も知られている。
【0004】ところで、上述した半田バンプを高融点の
ボールを用いて形成する場合には、図6(a)に示す様
に、下記〜の手順で行われている。 凹版P1の凹部P2に、例えば高融点半田からなるボ
ールP3を振り込む(落し込む)。
【0005】一方、配線基板P4のうち、ボールP3
を配置したい位置に、例えば共晶半田を含む半田ペース
トP5を印刷する。 次に、凹版P1の凹部P2中のボールP3を、孔P6
があけられた吸引部材P7を用いて真空吸着して、配線
基板P4の半田ペーストP5上に移載する。
【0006】次に、約200℃のリフロー炉で共晶半
田を融解し、中心にボールP3を有する半田バンプP8
を形成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な方法で半田バンプP8を形成する場合には、下記のよ
うな問題があり、一層の改善が求められている。 (1)前記の工程にてボールP3を移載する場合に、吸
着し損なって(配線基板P4上のボールP3の配列にお
いて)ボールP3の欠損が発生することがある。
【0008】(2)また、使用するボールP3の種類とし
て、ボールP3の外周に共晶半田をコーティングしてい
ないものを用いる場合には、前記の工程における接合
の際に、図6(b)に示す様に、ボールP3と配線基板
P4との接合強度が低いという問題がある。それに対し
て、ボールP3の外周に共晶半田P9をコーティングし
たものは、加熱時にボールP3表面の共晶半田P9も溶
けて半田ペーストP5と混じりあうため、ボールP3と
配線基板P4との接合強度が大きいが、共晶半田P9を
コーティングしたボールP3は高価であるという別の問
題がある。
【0009】本発明は、前記課題を解決するためになさ
れたものであり、ボール欠損が生じることなく、低コス
トでしかもボールの接合強度が高い半田バンプを有する
配線基板及びその製造方法を提供することを目的とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1の発明は、配線基板に形成された複数の半田
バンプ用パッドに対応する位置に形成された複数の凹部
を有する凹版の該凹部に、高融点のボールを入れる工程
と、前記ボールを入れた前記凹部に、該ボールより低融
点の半田を含む半田ペーストを充填する工程と、前記凹
部を前記パッドの位置に合わせるように、前記凹版と前
記配線基板とを重ねる工程と、その状態で、前記半田ペ
ースト中の半田を溶融させる温度以上で且つ前記ボール
を溶融させない温度で加熱して半田バンプを形成する工
程と、冷却した後に、前記凹版を除去する工程と、を有
することを特徴とする半田バンプを有する配線基板の製
造方法を要旨とする。
【0011】・前記ボールの材料としては、半田ペース
ト中の材料を溶融させる温度では溶融しない材料、例え
ば高温半田、Cu、Agなどを使用できる。 ・前記半田ペースト中の半田材料としては、Pb−Sn
系の軟ろうの他、例えばバンプ材料として使用されるA
u−Sn系、Au−Si系等、例えば450℃以下の低
融点を有する広義のろう材を使用できる。
【0012】・前記凹部に半田ペーストを充填する方法
としては、例えば印刷による擦り込みの方法や、ディス
ペンサーによる注入の方法が挙げられる。 ・前記加熱溶融温度としては、半田ペーストの融点(即
ち半田の融点)以上でかつボールの融点より低い温度で
あればよいが、例えば半田の融点より10〜40℃高い
温度を採用できる。
【0013】請求項2の発明は、前記ボールが高温半田
からなり、前記半田ペースト中の半田が、共晶半田から
なることを特徴とする前記請求項1に記載の半田バンプ
を有する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0014】前記高温半田としては、例えば90Pb−
10Sn,95Pb−5Sn,93.5Pb−5Sn−
1.5Ag等が挙げられ、共晶半田としては、例えば3
7Pb−63Sn,40Pb−60Sn,36Pb−6
2Sn−2Ag等が挙げられる。
【0015】請求項3の発明は、前記ボールが、Agま
たはCuの少なくともいずれかを主成分とすることを特
徴とする前記請求項1または2に記載の半田バンプを有
する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0016】例えば、Ag単体、Cu単体、AgとCu
の合金、或はこれらに他の成分を加えたもの、さらに
は、これらの表面にNiメッキを施したものなどが挙げ
られる。請求項4の発明は、前記加熱して半田バンプを
形成する工程において、前記凹部の底面により該半田バ
ンプの頂部を規制して、該頂部が平坦な半田バンプを形
成することを特徴とする前記請求項1〜3のいずれかに
記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を要旨と
する。
【0017】請求項5の発明は、前記ボールの直径をB
[mm]、前記凹部の径をD[mm]、深さをW[m
m]としたときに、下記関係式 1.2B≦D≦1.7B および 1.0B≦W≦1.
3B を満たす凹部を有する前記凹版を用いることを特徴とす
る前記請求項1〜4のいずれかに記載の半田バンプを有
する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0018】請求項6の発明は、配線基板に形成された
複数の半田バンプ用パッドに対応する位置に形成された
複数の凹部を有する第2の凹版と、該第2の凹版の該凹
部に対応する位置に形成された複数の凹部を有する第1
の凹版とを用意し、前記第1の凹版の該凹部に、高温半
田ペーストを充填する工程と、前記高温半田ペースト中
の高温半田を加熱溶融させて高温半田ボールを形成する
工程と、前記第1の凹版の凹部中のフラックスを洗浄し
て除去する工程と、前記第1の凹版の凹部中の高温半田
ボールを、前記第2の凹版の対応する前記凹部に移す工
程と、前記高温半田ボールが入っている前記第2の凹版
の前記凹部に、該高温半田ボールより低融点の半田を含
む半田ペーストを充填する工程と、前記第2の凹版の凹
部を前記パッドの位置に合わせるように、前記第2の凹
版と前記配線基板とを重ねる工程と、その状態で、前記
半田ペースト中の半田を溶融させる温度以上で且つ前記
高温半田ボールを溶融させない温度で加熱して半田バン
プを形成する工程と、冷却した後に、前記凹版を除去す
る工程と、を有することを特徴とする半田バンプを有す
る配線基板の製造方法を要旨とする。
【0019】・前記第2の凹版の凹部に対応する位置に
設けた第1の凹版の凹部の位置としては、第2の凹版の
凹部と同様の配列で設ける場合と、第2の凹版と重ねた
ときに両者の凹部が対向するように、第2の凹版の凹部
と左右対称の配列で設ける場合がある。
【0020】・前記高温半田ペースト中の高温半田の材
料としては、例えば90Pb−10Sn,95Pb−5
Sn,93.5Pb−5Sn−1.5Ag等が挙げられ
る。 ・前記半田ペースト中の半田材料としては、Pb−Sn
系の軟ろうの他、例えばバンプ材料として使用されるA
u−Sn系等、例えば300℃以下の融点を有する広義
のろう材を使用できる。
【0021】・前記凹部に半田ペーストを充填する方法
としては、例えば印刷による擦り込みの方法や、ディス
ペンサーによる注入の方法が挙げられる。 ・前記加熱溶融温度としては、半田ペーストの融点(即
ち半田の融点)以上でかつ高温半田ボールの融点より低
い温度であればよいが、例えば半田の融点より10〜4
0℃高い温度を採用できる。
【0022】請求項7の発明は、配線基板に形成された
複数の半田バンプ用パッドに対応する位置に形成された
複数の凹部を有する凹版の該凹部に、高温半田ペースト
を充填する工程と、前記高温半田ペースト中の高温半田
を加熱溶融させて高温半田ボールを形成する工程と、前
記凹部中のフラックスを洗浄して除去する工程と、前記
高温半田ボールが入っている前記凹部に、該高温半田ボ
ールより低融点の半田を含む半田ペーストを充填する工
程と、前記凹部を前記パッドの位置に合わせるように、
前記凹版と前記配線基板とを重ねる工程と、その状態
で、前記半田ペースト中の半田を溶融させる温度以上で
且つ前記高温半田ボールを溶融させない温度で加熱して
半田バンプを形成する工程と、冷却した後に、前記凹版
を除去する工程と、を有することを特徴とする半田バン
プを有する配線基板の製造方法を要旨とする。
【0023】前記高温半田ペースト中の高温半田の材
料、半田ペースト中の半田材料、凹部に半田ペーストを
充填する方法、加熱溶融温度に関しては、前記請求項6
の発明と同様である。請求項8の発明は、頂部に平坦部
を有し、内部に高融点のボールを有する複数の半田バン
プを備えたことを特徴とする半田バンプを有する配線基
板を要旨とする。
【0024】前記高融点のボールとしては、例えば高温
半田ボール、AgやCuを主成分とするボール等が挙げ
られ、その外周に付着した半田としては、高融点のボー
ルより低い融点を有する例えば共晶半田が挙げられる。
【0025】
【発明の実施の形態】前記目的を達成するための請求項
1の発明では、凹版の凹部に高融点のボールを入れ、そ
の凹部に低融点の半田ペーストを充填し、凹版と配線基
板とを重ねて所定の温度で加熱して半田バンプを形成す
る。
【0026】(1)これにより、中心に高融点のボールを
有すると共に、その外周に低融点の半田を有する半田バ
ンプを、簡易な工程にて形成することができる。 (2)また、本発明では、従来のように、ボールを吸着し
て移載しないので、移載時にボール欠損が生じることが
ない。また、ボールの外周に半田をコーティングした市
販の高コスト品を使用しなくても、半田バンプを形成す
る際にボールの外周に半田を配置することができるの
で、配線基板との接合強度が高くなる。
【0027】(3)前記凹部に入れるボールの個数は通常
1個であるが、必ずしも1個には限定されず、複数個入
れてもよい。つまり、1個とすればバンプの大きさは小
さくなり通常のバンプならこれで足りるが、大きな径の
バンプを形成してこの大きなバンプによって接合強度を
得ようとする場合には、複数個入れてもよい。
【0028】(4)本発明では、前記加熱して半田バンプ
を形成する工程において、低融点の半田でボールを覆う
ので、頂部が酸化していない構造を有する半田バンプを
形成することができる。従来、半田コートされていない
ボールをパッド上に塗布した半田ペースト上に載せて溶
融させると、ボールの頂部まで半田が広がらず、頂部に
半田がないので、他の基板(プリント基板等)と接続す
る場合、接続性の低い半田バンプとなることがあった。
また、半田コートされているボールを用いる場合に、パ
ッドに半田ペーストやフラックスを塗布しその上に半田
コートされたボールを載せて溶融させても、頂部までフ
ラックスが広がらないために、頂部近傍が酸化したバン
プとなることがあった。このようなバンプでは、接続性
が低く、また、いわゆるミラーボール現象(表面が細か
い多面体になる現象)を生じ易くなるという問題があっ
た。
【0029】これに対して、本発明によって半田バンプ
を形成すると、ボールをフラックスの入った半田ペース
トで覆いつつ溶融するので、ボールを半田が覆うことに
なり、頂部の半田が酸化することはなく、従って、接続
性の高いバンプを形成できる。
【0030】請求項2の発明では、ボールの材料として
高温半田を採用でき、半田ペースト中の半田の材料とし
て、共晶半田を採用できる。この様な材料の組み合せに
より、所定温度で加熱することによって、ボールの外周
を共晶半田で覆った半田バンプを形成することができる
ので、通常用いられる温度のリフロー炉などで他の基板
等と接続することができる。
【0031】請求項3の発明では、ボールの材料とし
て、AgまたはCuの少なくともいずれかを主成分とす
る材料を採用できる。このようにすると、ボールに低融
点の半田がよく濡れるので、ボールが半田に覆われたバ
ンプを確実に形成できる。また、ボールの融点が高いの
で、高い温度でバンプを形成し、あるいは他の基板と接
続しても、バンプが潰れることがない。
【0032】さらに、Niメッキを施したものにおいて
は、ボールの成分(Ag,Cu)等が半田に溶け込む、
いわゆる半田くわれを防止できるので、ボール形状をよ
り良く保つことができる。また、半田の成分変化による
融点の変動を抑制することができる。
【0033】請求項4の発明では、半田バンプを形成す
る際に、凹部の底面により(溶融した)半田バンプの頂
部を規制するので、半田バンプの頂部が平坦になる。平
坦にすると、他の基板との接続時に、半田が溶融して頂
部が高くなるので、他の基板のパッド等と確実に接続で
きる。
【0034】請求項5の発明では、凹部の寸法として、
下記〜の理由により、下記関係式、1.2B≦D≦
1.7B および 1.0B≦W≦1.3B、(但し、
ボールの直径;B[mm]、凹部の径;D[mm]、深
さ;W[mm])を採用できる。
【0035】穴径Dが小さいと凹部側壁とボールの間
の間隔が狭く、ボール下の部分にペーストが充填し難く
なるので、1.2B≦Dとする。 凹部にボールを1個だけ入れるには、穴径が広すぎる
と余分なボールが入ってしまうため、D≦1.7Bとす
る。
【0036】凹部深さWがボール径より小さいと、ボ
ールがはみ出して平坦なバンプがつくれず、また、ペー
ストが充填し難いため、1.0B≦Wとする。 凹部深さWが深すぎると、ボールを入れたときに余分
なボールが入り込んで出にくくなるので、W≦1.3B
とする。
【0037】従って、以上のような寸法とすると、凹部
に1個のボールを確実にしかも容易に振り込むことがで
きる。また、ペーストも確実に充填できる。請求項6の
発明では、まず、第1の凹版の凹部に、高温半田ペース
トを充填し加熱して高温半田ボールを形成する。次に、
この高温半田ボールを第2の凹版の凹部に移し、低融点
の半田ペーストを充填して所定温度で加熱することによ
り半田バンプを形成する。
【0038】(1)これにより、中心に高融点の高温半田
ボールを有すると共に、その外周に低融点の半田を有す
る半田バンプを、簡易な工程にて形成することができ
る。 (2)また、前記請求項1と同様に、ボール欠損を生じる
ことがない。また、半田バンプ形成の際に高温半田ボー
ルの外周に半田を配置することができるので、配線基板
との接続性を高くすることができる。しかも、従来の半
田コーティング品より低コストである。
【0039】(3)本発明によって半田バンプを形成する
と、高温半田ボールをフラックスの入った半田ペースト
で覆いつつ溶融するので、高温半田ボールを低融点の半
田が覆うことになり、しかも頂部の半田が酸化すること
はない。 (4)特に本発明では、第1の凹版を高温半田ボールの形
成に使用し、第2の凹版を半田バンプの形成に使用して
おり、各凹版をその目的に応じて区別して使用してい
る。従って、各凹版の凹部の寸法を適宜設定することに
より、高温半田ボールの寸法や半田バンプの寸法を所望
のものとすることができる。
【0040】なお、ここでは、更に下記〜の構成を
採用できる。 第1の凹版の凹部中の高温半田ボールを第2の凹版の
対応する凹部に移す工程が、第1の凹版の凹部の開口部
と第2の凹版の凹部の開口部との位置を合わせるように
して第1の凹版の上に第2の凹版を重ね、第1と第2の
凹版を上下逆転させて高温半田ボールを第2の凹版の凹
部に移すことを特徴とする半田バンプを有する配線基板
の製造方法。
【0041】これにより、第1の凹版中の高温半田ボー
ルを第2の凹版の凹部に、簡単にしかも確実に移すこと
ができる。 第1の凹版の凹部中のフラックスを洗浄して除去する
際に、凹部から高温半田ボールが出ないように、凹部の
開口部を網で覆うことを特徴とする半田バンプを有する
配線基板の製造方法。
【0042】これにより、洗浄の際に、第1の凹版の凹
部中より高温半田ボールが誤って飛び出ることがないの
で、充分な洗浄を行なうことができ、しかもボール欠損
が生じることがない。請求項7の発明は、まず、凹版の
凹部に高温半田ペーストを充填し、加熱して高温半田ボ
ールを形成する。次に、この凹版の凹部に高温半田ボー
ルを入れたまま、凹部に低融点の半田ペーストを充填
し、所定温度で加熱することにより半田バンプを形成す
る。
【0043】これにより、前記請求項6の発明の(1)〜
(3)と同様な作用効果を奏するとともに、1種類の凹版
を使用するだけであるので、作業工程が簡易化されると
いう利点がある。請求項8の発明では、配線基板上の複
数の半田バンプは、頂部に平坦部を有し、内部に高融点
のボールを有している。
【0044】つまり、本発明では、半田バンプの頂部が
平坦なので、他の基板(プリント基板等)との接続性に
優れている。半田バンプの低融点の半田を溶融させた時
に、バンプ頂部の高さが高くなるからである。また、内
部にボールを有しているので、外周を覆っている半田
(共晶半田等)を溶融させてもバンプが潰れないため、
配線基板と他の基板との間隔を保つことができる。更
に、バンプが潰れて横方向に拡がることがないので、隣
接するバンプ間でブリッジしてショートするような不具
合を生じ難い。
【0045】
【実施例】次に、本発明の半田バンプを有する配線基板
及びその製造方法の実施例について説明する。ここで
は、一方の側に集積回路チップ(以下単にフリップチッ
プと称す)を実装し、他方の側にプリント基板を接合す
る樹脂製の回路基板(以下単に配線基板と称す)を例に
挙げるが、以下の実施例においては、高融点のボールを
中心に含む半田バンプは配線基板のうちプリント基板と
接合される面側に形成される。 (実施例1)本実施例では、配線基板の表面に、予め用
意してある高融点ボールを使用して半田バンプを形成す
る。
【0046】図1(a)に示すように、本実施例により
製造される配線基板3は、外径が約25mm角、板厚約
1mmの樹脂製であり、片側の面3a(プリント基板を
接合する側の面;図の上面)に、高融点ボールを中心に
備えたBGA用の半田バンプ1を有する多層配線基板で
ある。
【0047】なお、配線基板3の他方の面には、フリッ
プチップ接合用の半田バンプ(図示せず)を形成する
が、以下の説明では、プリント基板接合用の(高融点ボ
ールを含む)半田バンプ1を形成する方法について述べ
る。 まず、配線基板3を製造する場合には、図1(b)に
拡大及び破断して示すように、BTコア基板5上にエポ
キシ樹脂による絶縁層7を形成すると共に、BTコア基
板5及び絶縁層7にわたって、無電解Cuメッキ及び電
解Cuメッキを用いたセミアディティブ法によってCu
内部配線9を形成して積層する。なお、Cu内部配線9
の形成法としては、サブトラクティブ法やフルアディテ
ィブ法によってもよい。
【0048】次に、配線基板3の最表面では、前記C
u内部配線9と接合されるCu配線11の耐食のため及
び半田との密着性を向上させるために、無電解Ni−P
メッキによって約3μmのNi−P層13を形成し、更
にその上に、無電解Auメッキによって約0.1μmの
Au層15を形成して、Ni−P層13及びAu層15
からなる直径約1.0mmの下地導電性パッド(以下単
にパッドと称す)17を作成する。なお、その他の部位
には、アクリルやエポキシ樹脂などにより、ソルダーレ
ジスト層19を形成する。
【0049】なお、上述したメッキ方法は、周知の多層
プリント配線板のメッキ方法と同様であるので詳述しな
い(例えば、「多層プリント配線板ステップ365」;
藤平・藤森共著;工業調査会;1989年発行参照)。 次に、図2に模式的に示すように、パッド17(な
お、以下ではパッドは図示しない)と同じ配列に凹部2
1を形成したステンレス製の凹版23の凹部21に、各
々90Pb−10Snの高温半田(融点301℃)から
なる高融点ボール25を振り込む。なお、高温半田から
なるボール以外に、CuやAgを主成分とする高融点の
ボールを使用することもできる。
【0050】前記凹版23の材質は、半田に濡れないス
テンレスやチタン等の金属又は窒化珪素等のセラミック
である。また、凹部21は、エッチングやNC加工機等
によって形成され、個々の凹部の底面(平面)21cの
深さは揃えられており、各底面21cをつなげた仮想的
な面の持つ平面度は、例えば0.1μm/mmである。
【0051】また、前記凹部21は、各々直径1.5m
m、深さ1.0mmであり、高融点ボール25は、直径
1.0mmである。これらの寸法は、下記の範囲のもの
が好適である。 凹部の直径;ボール直径×1.2≦凹部穴径≦ボール直
径×1.7 凹部の深さ;ボール直径×1.0≦凹部深さ≦ボール直
径×1.3 これは、この寸法の範囲内であれば、1つの凹部21の
中にボールを1個だけ確実かつ容易に入れることがで
き、しかも凹部21全体に隙間なく半田ペースト27を
充填できるからである。
【0052】この状態を、図3に示す。図3(a)は1
つの凹部21中に高融点ボール25が1個のみ入れられ
且つ半田ペースト27の充填も十分な最適状態を示し、
図3(b)は穴径が過大で高融点ボール25が2個入る
場合を示し、図3(c)は穴深さが過大で高融点ボール
25が2個入る場合を示し、図3(d)は穴径が過小で
半田ペースト27の充填が不十分な場合を示している。
【0053】次に、前記図2に示すように、高融点半
田ボール25を入れた凹部21中に、37Pb−63S
nからなる共晶半田ペースト(融点183℃)27を、
スキージ印刷にて充填する。本実施例の場合、高融点ボ
ール25の体積は、0.52mm3、凹部21の容積は
1.77mm3であるので、充填される共晶半田ペース
ト27の量は、その差の1.25mm3である。
【0054】次に、凹部21を上に向けて凹版23を
配置した状態で、凹版23の上面に配線基板3を載置す
る。このとき、凹版23は、配線基板3の各パッド17
と各凹部21が一致するように配置する。 次に、この凹版23上に配線基板3を載置した状態
で、図示しないリフロー炉内に配置して、高融点ボール
25が溶融しない温度で、且つ共晶半田27aの融点
(この場合は183℃)より10〜40℃高い温度(例
えば200℃)に加熱する。この加熱により、共晶半田
27aを溶融させて未溶融の高融点ボール25の外周に
凝集させる。その後冷却して、共晶半田27aを凝固さ
せて半田バンプ1を形成し、次いで、凹版23を取り除
いて、フラックスの除去等のために洗浄を行う。
【0055】これによって、配線基板3のパッド17
(図2では下面側)上に、高さが揃うと共にその頂部が
平坦とされた半田バンプ1が複数形成される。特に、こ
の半田バンプ1は、中心に高融点ボール25を有すると
ともに、その外周に共晶半田27aを有している。
【0056】なお、前記共晶半田ペースト25は、体積
の50%が共晶半田(粉末)であり、残り50%がフラ
ックスであるので、形成された半田バンプ1の体積は、
1.15mm3(0.52mm3+1.25/2mm3
である。また、形成された半田バンプ1の形状は、配線
基板3に接合していない場合は、直径1.3mmの球状
となるが、本実施例の場合には、配線基板3と凹部21
の底面に挟まれてその高さが規制されるので、頂部の平
坦部の直径が1.0mm、高さ1.0mm、直径1.3
mmの樽形となる。
【0057】このように、本実施例によれば、凹部21
が上を向くように配置した凹版23の凹部21に、高融
点ボール25を入れ、その後該凹部21に共晶半田ペー
スト27を充填し、この凹版23上に配線基板3を載置
して加熱することにより、中心に高融点ボール25を有
し且つ外周に共晶半田27aを有する半田バンプ1を形
成することができる。
【0058】従って、本実施例では、従来のように、ボ
ール移載の際の吸着ミスによるボール欠損の発生がない
という効果がある。また、高価な共晶半田コーティング
ボールを使用しなくとも、半田バンプの形成時に高融点
ボール25の外周を共晶半田25aが覆う状態となるの
で、低コストで済む。さらに、高融点ボール25のパッ
ド17との接合強度が高く、頂部が酸化しないので、他
の基板のパッド等との接続性も良好であるという利点が
ある。
【0059】なお、使用する高融点ボール25として、
市販されている各種のBGA中心核用のボールを使用す
ることが可能である。また、本実施例の方法で製造され
た半田バンプ1を有する配線基板3においては、半田バ
ンプ1の頂部が平坦なので、他の基板(プリント基板
等)との接続性に優れている。接続時に共晶半田が溶融
してバンプ頂部の高さが高くなるので、他の基板のパッ
ド等との間隔に不揃いがあっても、バンプ頂部の高さの
変化によって吸収し、接続できるからである。また、半
田バンプ1の内部に高融点ボール25を有しているの
で、外周を覆っている共晶半田27aを溶融させても半
田バンプ1が潰れないため、配線基板3と他の基板との
間隔を保つことができる。更に、半田バンプ1は潰れな
いので、隣接するバンプ間でブリッジしてショートする
ような不具合を生じ難い。 (実施例2)次に、実施例2について説明する。
【0060】特に本実施例では、凹版を用いて高融点ボ
ールを製造し、この高融点ボールを使用して半田バンプ
を形成するものである。なお、前記実施例1と同様な部
分の説明は、省略又は簡略化する。 前記実施例1の,の工程と同様にて、同様な形状
及び構造の樹脂製の配線基板31を形成する。
【0061】次に、図4に模式的に示すように、後述
する第2の凹版43と重ね合わせたときに、第2の凹版
43に形成された凹部45に対向する位置、したがっ
て、パッド17(図示せず)と左右対称の位置(配列)
に凹部33を形成したステンレス製の第1の凹版35を
用意し、この第1の凹版35の凹部33に、90Pb−
10Snの高温半田ペースト37を、スキージ印刷によ
り充填する。
【0062】前記第1の凹版35の材質は、前記実施例
1と同様に、ステンレスやチタン等の金属又は窒化珪素
等のセラミックである。また、凹部21の寸法は、直径
1.15mm×深さ1.0mm、体積1.04mm3
ある。なお、この第1の凹版35は、高融点ボール形成
用であるので、後に示す半田バンプ形成用の第2の凹版
43とは、凹部33の寸法が若干異なり、凹部33の形
成位置は、第2の凹版43の凹部45と左右対称の位置
にある。なお、第2の凹版43の凹部45は、基板31
のバンプ17の位置に合わせて形成されている。
【0063】次に、高温半田ペースト37を凹部33
に充填した凹版35を、図示しないリフロー炉内に配置
して、高温半田の融点(301℃)より10〜40℃高
い温度(例えば320℃)に加熱し、その後冷却して、
凹部33中にて高温半田からなる高融点ボール39を形
成する。なお、使用した高温半田ペースト37中の高温
半田の体積は約半分であるから、高温半田の体積は0.
52mm3であり、よって、直径1.0mmの高融点ボ
ール39が形成される。
【0064】次に、高融点ボール39が入っている凹
部33上に、高融点ボール39が飛び出さないように網
41をかぶせ、第1の凹版35ごとフラックス洗浄機に
通して洗浄して、フラックス等を除去し、凹部33中に
高融点ボール39のみが残るようにする。
【0065】次に、網41を取り除いてから、第1の
凹版35の上に第2の凹版43を重ね合わせる。つま
り、高融点ボール39が入った凹部33が上を向いた状
態にて、その上から、第2の凹版43の凹部45が下を
向くようにして、互いの凹部33,45の開口部の位置
が一致するように、即ち、両者が対向するようにして、
第1の凹版35と第2の凹版43とを重ね合わせる。
【0066】次に、この第1の凹版35と第2の凹版
43とを重ね合わせたまま、その上下を逆にする。これ
によって、上側となった第1の凹版35の凹部33中か
ら、下側となった第2の凹版43の凹部45中に、高融
点ボール39が落ちてその移載が完了する。
【0067】その後、前記実施例1の〜と同様な
工程により、第2の凹版43の凹部45中に共晶半田ペ
ースト47を充填し、同様な温度で加熱し冷却すること
によって、配線基板31のパッド(図では下面側)上
に、高さが揃うと共にその頂部が平坦とされた半田バン
プ47を形成する。即ち、中心に高融点ボール39を有
するとともに、その外周に共晶半田49を有する前記実
施例1と同様な半田バンプ47を形成する。
【0068】このように、本実施例によれば、高融点ボ
ール形成用の第1の凹版35を用いて高融点ボール39
を形成し、この高融点ボール39を半田バンプ形成用の
第2の凹版43の凹部45に移載し、その後該凹部45
に共晶半田ペースト49を充填し、この凹版23上に配
線基板3を載置して加熱することにより、中心に高融点
ボール25を有し外周に共晶半田27aを有する半田バ
ンプ1を形成することができる。
【0069】従って、本実施例では、前記実施例1と同
様に、ボール移載の際の吸着ミスによるボール欠損の発
生がないという効果がある。また、高価な共晶半田コー
ティング品ボールを使用しなくともよく、高融点ボール
39の接合強度も高い。
【0070】特に、本実施例では、高融点ボール形成用
の第1の凹版35の凹部33の形状を変えることで、各
種のサイズの高融点ボール39ひいては各種のサイズの
半田バンプ49を形成でき、従来のように、各サイズの
高融点ボール39の在庫を持ったり、使わなくなった高
融点ボール39が余って無駄になることがない。
【0071】なお、第1の凹版35の凹部33にある高
融点ボール25を吸着して、第2の凹版43の凹部45
へ各々移載してもよい。 (実施例3)次に、実施例3について説明する。
【0072】特に本実施例では、第1の凹版から第2の
凹版への移載方法のみが前記実施例2と異なる。なお、
前記実施例2と同様な部分の説明は、省略又は簡略化す
る。 前記実施例2の,の工程と同様にて、同様な形状
及び構造の樹脂製の配線基板50を形成する。
【0073】次に、図5に模式的に示すように、前記
実施例2の〜の工程と同様にて、第1の凹版51の
凹部53中に(高温半田ペースト54から)高融点ボー
ル55を形成する。 次に、高融点ボール55が入った凹部53上に網57
をかぶせたまま、上下逆さまにして、高融点ボール55
を別の(半田バンプ形成用の)第2の凹版59の凹部6
1に移し変える。つまり、第2の凹版59をその凹部6
1が上を向くように配置するとともに、この凹部61と
第1の凹版51の凹部53とが向き合うように配置し、
この状態で網57を除去すると、高融点ボール55は、
第1の凹版51の凹部53から第2の凹版59の凹部6
1に落下して、移載が完了する。
【0074】その後、前記実施例2の〜と同様な
工程にて、凹部61に共晶半田ペースト65を充填して
加熱することによって、配線基板50の図示しないパッ
ド(図では下面側)上に、高さが揃うと共にその頂部が
平坦とされた半田バンプ63、即ち、中心に高融点ボー
ル55を有するとともに、その外周に共晶半田65を有
する前記実施例2と同様な半田バンプ63が形成され
る。
【0075】これにより、前記実施例2と同様な効果を
奏する。なお、本発明は前記実施例になんら限定される
ものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において
種々の態様で実施しうることはいうまでもない。 (1)例えば、前記実施例1〜3では、配線基板3の一
方の側にBGA用の半田バンプ1を形成する場合につい
て述べたが、フリップチップ接合用の半田バンプを形成
するのに適用してもよい。また、必要に応じて配線基板
の両側に、前記実施例1,2の手法を用いて、BGA用
やフリップチップ接合用の半田バンプを形成してもよ
い。
【0076】なお、上記では、配線基板を凹版上に載置
して半田バンプを形成する例を示したが、配線基板を下
にして、その上に凹版を載置して半田バンプを形成して
もよい。また、基板両面に半田バンプを設ける場合に
は、基板を2つの凹版で挟むようにして、バンプを形成
してもよい。
【0077】(2)前記配線基板の材料としては、樹脂
以外に、アルミナ等のセラミックスを採用することもで
きる。 (3)前記各実施例で使用する半田ペースト中の半田の
材質としては、用途に応じて、Pb90%半田などの高
融点半田や、AgやIn入り半田等を使用可能である。
また、半田ペースト中に含まれるフラックスの種類も、
(還元性の小さなものから)Rタイプ、RMAタイプ、
RAタイプのどれでも使用できる。なお、ここでは、ボ
ールの外周に設けられるバンプ材料として、通常、半田
と称されるPb−Sn系のろう材以外に、Au−Sn
系、Au−Si系等の合金も使用できる。
【0078】(4)前記凹版の凹部は、エッチングやN
C加工機によって形成した例を示したが、その他、凹部
に対応する貫通穴を設けたステンレス板と平板状のステ
ンレス板とを貼り合わせる方法や、凹部に対応する貫通
穴を設けたセラミックグリーンシートと平板状のグリー
ンシートとを積層後焼成する方法によって、凹部を有す
る凹版を形成してもよい。
【0079】(5)前記実施例2,3では、高融点ボー
ルの形成と半田バンプの形成の際に、異なる形状の凹部
を有する凹版を使用したが、それとは別の方法として、
両工程に同じ凹版を用いてもよい。この場合、半田バン
プを構成する低融点の半田の量や半田バンプの形状に制
約があるものの、中心に高融点ボールを有しその外周に
低融点の半田を有する半田バンプを、より簡単に形成す
ることができる。
【0080】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1の発明で
は、中心に高融点のボールを有すると共に、その外周に
低融点の半田を有する半田バンプを、簡易な工程にて形
成することができる。また、従来のように、移載時にボ
ール欠損が生じることがない。更に、低コストであり、
しかもボールの接合強度が高く配線基板との接続性に優
れている。
【0081】請求項2の発明では、ボールの材料として
高温半田を採用でき、半田ペースト中の半田の材料とし
て、共晶半田を採用できる。請求項3の発明では、ボー
ルの材料として、AgまたはCuの少なくともいずれか
を主成分とする材料を採用できる。
【0082】請求項4の発明では、半田バンプを形成す
る際に、半田バンプの頂部を平坦にすることができる。
請求項5の発明では、凹部に1個のボールを入れ、しか
も半田バンプを形成するのに充分な半田ペーストを充填
することができる。それにより、所望の形状の半田バン
プを確実に形成することができる。請求項6の発明で
は、中心に高融点の高温半田ボールを有し、その外周に
低融点の半田を有する半田バンプを、簡易な工程にて形
成することができる。また、前記請求項1と同様に、ボ
ール欠損が生じることがなく、低コストであり、しかも
配線基板との接続性に優れている。特に、本発明では、
第1,第2の凹版をその目的に応じて区別して使用して
いるので、各凹版の凹部の寸法を適宜設定することによ
り、高温半田ボールの寸法や半田バンプを寸法を所望の
ものとすることができる。
【0083】請求項7の発明では、前記請求項6の発明
と同様な効果を奏するとともに、1種類の凹版を使用す
るだけであるので、作業工程が簡易化されるという利点
がある。請求項8の発明では、半田バンプの頂部が平坦
なので、他の基板との接続性に優れている。また、内部
にボールを有しているので、外周を覆っている半田を溶
融させてもバンプが潰れず、配線基板と他の基板との間
隔を保つことができる。更に、バンプは潰れないので、
隣接するバンプ間でブリッジしてショートするような不
具合を生じ難い。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の半田バンプを有する配線基板を示
し、(a)はその斜視図、(b)はその一部を拡大して
示す断面図である。
【図2】 実施例1の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図3】 凹部に入れられる高融点ボール及び半田ペー
ストの状態を示す説明図である。
【図4】 実施例2の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図5】 実施例3の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
【図6】 従来技術を示す説明図である。
【符号の説明】
1,49,63…半田バンプ 3,31,50…配線基板 21,33,45,53,61…凹部 23…凹版 35,51…第1の凹版 43,59…第2の凹版 25,39,55…高融点ボール 37,55…高温半田ペースト 27,47,65…共晶半田ペースト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−69282(JP,A) 特開 平6−120230(JP,A) 特開 平7−249631(JP,A) 特開 平7−307341(JP,A) 特開 平10−32283(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配線基板に形成された複数の半田バンプ
    用パッドに対応する位置に形成された複数の凹部を有す
    る凹版の該凹部に、高融点のボールを入れる工程と、 前記ボールを入れた前記凹部に、該ボールより低融点の
    半田を含む半田ペーストを充填する工程と、 前記凹部を前記パッドの位置に合わせるように、前記凹
    版と前記配線基板とを重ねる工程と、 その状態で、前記半田ペースト中の半田を溶融させる温
    度以上で且つ前記ボールを溶融させない温度で加熱して
    半田バンプを形成する工程と、 冷却した後に、前記凹版を除去する工程と、 を有することを特徴とする半田バンプを有する配線基板
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記ボールが高温半田からなり、前記半
    田ペースト中の半田が、共晶半田からなることを特徴と
    する前記請求項1に記載の半田バンプを有する配線基板
    の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記ボールが、AgまたはCuの少なく
    ともいずれかを主成分とすることを特徴とする前記請求
    項1または2に記載の半田バンプを有する配線基板の製
    造方法。
  4. 【請求項4】 前記加熱して半田バンプを形成する工程
    において、 前記凹部の底面により該半田バンプの頂部を規制して、
    該頂部が平坦な半田バンプを形成することを特徴とする
    前記請求項1〜3のいずれかに記載の半田バンプを有す
    る配線基板の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記ボールの直径をB[mm]、前記凹
    部の径をD[mm]、深さをW[mm]としたときに、
    下記関係式 1.2B≦D≦1.7B および 1.0B≦W≦1.
    3B を満たす凹部を有する前記凹版を用いることを特徴とす
    る前記請求項1〜4のいずれかに記載の半田バンプを有
    する配線基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 配線基板に形成された複数の半田バンプ
    用パッドに対応する位置に形成された複数の凹部を有す
    る第2の凹版と、該第2の凹版の該凹部に対応する位置
    に形成された複数の凹部を有する第1の凹版とを用意
    し、前記第1の凹版の該凹部に、高温半田ペーストを充
    填する工程と、 前記高温半田ペースト中の高温半田を加熱溶融させて高
    温半田ボールを形成する工程と、 前記第1の凹版の凹部中のフラックスを洗浄して除去す
    る工程と、 前記第1の凹版の凹部中の高温半田ボールを、前記第2
    の凹版の対応する前記凹部に移す工程と、 前記高温半田ボールが入っている前記第2の凹版の前記
    凹部に、該高温半田ボールより低融点の半田を含む半田
    ペーストを充填する工程と、 前記第2の凹版の凹部を前記パッドの位置に合わせるよ
    うに、前記第2の凹版と前記配線基板とを重ねる工程
    と、 その状態で、前記半田ペースト中の半田を溶融させる温
    度以上で且つ前記高温半田ボールを溶融させない温度で
    加熱して半田バンプを形成する工程と、 冷却した後に、前記凹版を除去する工程と、 を有することを特徴とする半田バンプを有する配線基板
    の製造方法。
  7. 【請求項7】 配線基板に形成された複数の半田バンプ
    用パッドに対応する位置に形成された複数の凹部を有す
    る凹版の該凹部に、高温半田ペーストを充填する工程
    と、 前記高温半田ペースト中の高温半田を加熱溶融させて高
    温半田ボールを形成する工程と、 前記凹部中のフラックスを洗浄して除去する工程と、 前記高温半田ボールが入っている前記凹部に、該高温半
    田ボールより低融点の半田を含む半田ペーストを充填す
    る工程と、 前記凹部を前記パッドの位置に合わせるように、前記凹
    版と前記配線基板とを重ねる工程と、 その状態で、前記半田ペースト中の半田を溶融させる温
    度以上で且つ前記高温半田ボールを溶融させない温度で
    加熱して半田バンプを形成する工程と、 冷却した後に、前記凹版を除去する工程と、 を有することを特徴とする半田バンプを有する配線基板
    の製造方法。
  8. 【請求項8】 頂部に平坦部を有し、内部に高融点のボ
    ールを有する複数の半田バンプを備えたことを特徴とす
    る半田バンプを有する配線基板。
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KR100384845B1 (ko) * 2000-12-30 2003-05-22 주식회사 하이닉스반도체 표면실장형 패키지의 리패어 방법 및 상기 방법에적용되는 딥핑장치
JP4749791B2 (ja) * 2005-07-29 2011-08-17 新日鉄マテリアルズ株式会社 はんだボールの製造方法
JP4966558B2 (ja) * 2006-02-07 2012-07-04 日本電気株式会社 Lsiパッケージ及びコア入りはんだバンプ並びにlsiパッケージ実装方法
KR100972027B1 (ko) 2008-09-12 2010-07-22 고려대학교 산학협력단 금속 미세 패턴 형성 방법
KR100995442B1 (ko) 2008-11-11 2010-11-18 이헌 금속미세패턴 형성방법
PL2567104T3 (pl) * 2010-05-03 2017-08-31 A. Raymond Et Cie Sposób mocowania elementu adhezyjnego do podłoża w rodzaju weź i połącz
CN115152007A (zh) * 2019-12-27 2022-10-04 昭和电工材料株式会社 焊料凸块形成用部件、焊料凸块形成用部件的制造方法及带焊料凸块的电极基板的制造方法
KR20220121832A (ko) * 2019-12-27 2022-09-01 쇼와덴코머티리얼즈가부시끼가이샤 땜납 범프 형성용 부재, 땜납 범프 형성용 부재의 제조 방법, 및 땜납 범프 부착 전극 기판의 제조 방법

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