JP3314921B2 - 半導体材料の切断・加工方法 - Google Patents
半導体材料の切断・加工方法Info
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Description
造に用いられるセラミックスやシリコンなどの硬質脆性
材料を切断するためのワイヤーソーを用いた切断・加工
方法の改良に係り、芯線の外周に砥粒を固着したワイヤ
ーを用い、かつ油性基剤又は水溶性基剤と遊離砥粒との
混合物であるスラリー、あるいはアルカリ溶液を用いて
切断することにより、得られたウェーハのTTV(Total Th
ickness Variation)を小さくでき、残留加工歪の低減、
加工応力の抑制、切削熱の抑制が可能な半導体材料の切
断・加工方法に関する。
単結晶インゴットよりウェーハを製造するのに、走行す
るワイヤーでウェーハに切断するワイヤーソー切断装置
が多く利用されている。
断装置の構成例を説明すると、例えば、水平配置された
3本の長尺ローラーの外周にワイヤーを一定間隔で平行
に巻回配置して、一方のワイヤーボビンから送り出され
たワイヤーが該ローラーの外周を巻回走行後に他方のワ
イヤーボビンへと巻き取られるように構成してある。
隔でワイヤーが配列して同一方向に走行している所へ、
シリコン単結晶インゴットを治具に接着してこの治具を
別途の保持機構を介して機械的に保持した状態で降下さ
せてワイヤーへ押しつけて切断するものであり、また、
単結晶インゴットは降下させる他、上昇させながらワイ
ヤーへ押しつけて切断する構成もある。
は、オイルもしくは水系のベースとしたものに一定量の
研磨粉を混ぜ合わせたスラリーをインゴットの切断面の
両端部に供給して切断する遊離砥粒による方法(実開昭5
7-193349)、金属線のワイヤーに砥粒を接着剤等により
固着あるいは金属溶着したワイヤーを使用して直接イン
ゴットを切断する固着砥粒による方法(特開平11-42548)
がある。
金属ワイヤーに換えてナイロンやポリエステルなどの樹
脂線、あるいはこれら樹脂線を炭素やガラス繊維で補強
した樹脂線を用い、単純水などのクーラント液を使用し
て切断する方法(特開平8-126953)が提案されている。
クを引張強度と硬度の高いピアノ線からなるワイヤーに
て切断するので、固着砥粒による切断の場合は、加工応
力の発生が大きいため、残留加工歪が大きくなる問題が
ある。
るためにこれが飛散して作業環境がよくない点と、スラ
リーをワイヤー上に載せて運び、切断していくため、切
断される表面粗さが悪く、かつスラリー量の持込み次第
ではウェーハの厚さむらが発生する問題がある。
工業生産上、必ずしもすぐれた方法とは言い難い。
料を切断、あるいは溝入れ加工を施すワイヤーソーを用
いた切断・加工方法において、切断後の残留加工歪が少
なく、厚み精度にすぐれた高品質、高精度の加工物が安
定的に得られる半導体材料の切断・加工方法の提供を目
的としている。
芯線の外周に砥粒を固着したワイヤーを用いた従来のワ
イヤーソーにおいては、切断後の加工物に残留加工歪が
不可避的に発生する問題を解消するため、残留加工歪の
発生を抑制可能な切断方法を目的に種々検討した結果、
特定のスラリーを併用しながら固定砥粒を固着したワイ
ヤーで切断することにより、固定砥粒切断時の加工応力
をスラリーによるラッピング効果にて相殺でき、低歪の
加工切断が可能となることを知見した。
性基剤と遊離砥粒との混合物を用いて切断加工を行うこ
とにより、切削性向上と残留加工歪低減及び加工応力の
抑制効果が高いこと、また、PEG(ポリエチレングリコー
ル材)などの水溶性ベース剤と遊離砥粒との混合物を用
いて切断加工を行うことにより、切削性向上と残留加工
歪低減及び加工応力の抑制、切削熱の抑制効果が高いこ
とを知見した。
を2%以下のKOHやNaOH等アルカリ溶液をかけながら切断
することにより、切断により発生した加工応力(残留歪
み)を除去しながら切断を進め、低歪みのウェーハを切
断することが可能となることを知見し、この発明を完成
した。
砥粒を接着剤などにより固着、あるいは金属溶着したワ
イヤーとしては、砥粒サイズが#100〜#6000のカーボラ
ンダム、ダイヤモンド、SiCなどを固着したワイヤーが
好ましい。
水溶性基剤と遊離砥粒との混合物であり、油性基剤とし
ては、鉱物油に分散剤と増粘剤などを混合したものであ
り、水溶性基剤としては、PEG又は30〜80%の水分に種々
添加剤を添加した水溶性基剤を用いる。遊離砥粒として
は、SiC、GC、BCなどを使用する。また、SiCには#600〜
#1000相当のものが好ましい。
た溶液にSiCを添加した混合物であり、混合比は基剤:Si
C=1:1〜1:1.3の範囲が好ましい。PEGまたは水分30〜80%
を含んだ水溶性基剤にSiCを添加した混合物の混合比は
基剤:SiC=1:1あるいは0.8〜0.9:1の範囲が好ましい。
又はNaOH溶液が好ましく、濃度は2%以下の溶液として使
用するとよい。
ラリーを持ち込み方法としては、材料とワイヤーの接触
長さに応じて、切断初期から切断終了までのスラリー持
ち込み量を一定にするように、スラリーパイプによる供
給位置を可変したり、ポンプによる流量を可変すること
を特徴とし、さらに、スラリーノズルを複数対、そのス
ラリー送り出し方向を相互に交差方向となるように配設
することで、メイン配管先端部分が詰まりを生じてもサ
ブ配管にてその詰まりにより供給不足、むらとなった部
分を補い安定したスラリー供給を実現して、高精度のウ
ェーハの製造を可能にする。
当て板及び取付け治具へ接着した切断前のインゴットを
準備し、ワイヤーソー装置へ装着する。次にワイヤー表
面にダイヤモンド砥粒を固着したワイヤーをメインロー
ラー等に巻付け切断準備を行う。
度が#600〜#1000相当のSiCをスラリータンクへ投入し
て、配合比がベース:SiC=1:1となるように作製した。こ
のスラリーをスラリーノズルよりカーテン状に流し、そ
の中を砥粒付きワイヤーを高速で双方向に走行させがら
切断した。
ところ、砥粒を含んだスラリーでラッピングするような
切断面であることを確認した。切断面の残留歪み層の深
さは7〜15μmであった。
iC砥粒を固着したワイヤーをメインローラーに巻付け切
断準備を行い、スラリーは、PEGと粒度が#600〜#1000相
当のSiCをスラリータンクへ投入して配合比がPEG:SiC=
1:1となるように作製した。
に流し、その中を砥粒付きワイヤーを双方向に高速走行
させながら12インチの単結晶インゴットを切断した。切
断面を観察したところ、砥粒を含んだスラリーでラッピ
ングするような切断面であることを確認した。切断面の
残留歪み層の深さは7〜15μmであった。
iC砥粒を固着したワイヤーをメインローラーに巻付け切
断準備を行い、スラリーとしては、濃度が2%のKOHアル
カリ水溶液のみを用い、ワイヤーソースラリーノズルよ
り流し出し、砥粒付きワイヤーへかけながら切断すると
ともに、切断寄与部のインゴットへ上記水溶液を吹きつ
けながら切断した。
択エッチングを行ったウェーハと同様の性状が認められ
た。切断面の残留歪み層の深さは5μm以下であった。
12インチの単結晶インゴットをダイヤモンド砥粒を固着
したワイヤーにて切断したしたところ、切断面の残留歪
み層の深さは10〜20μmであった。
る固着砥粒ワイヤーを用いたワイヤーソーによる切断・
加工方法において、切断・加工にて発生する加工応力
(残留歪み)を遊離砥粒を含んだスラリーを用いて切断・
加工することでラッピング作用を利用して、低歪みの切
断・加工が可能となり、またアルカリ溶液をかけること
で、上記同様低歪みの加工切断が可能となり、後工程で
の取り代も少なくすることができる。
による切断・加工方法では固定砥粒のみであるため、ウ
ェーハ表面下にダメージ層を持ちながら切断され、ラッ
ピングなどの後工程での加工量が多くなりがちである
が、この発明方法では切断にて生じるダメージは、ラッ
ピング作用あるいは選択エッチングを行っていることか
ら、残留歪みが極小となり、後工程での加工代が大幅に
削減可能となる。また、切断面のTTVが小さくなる利点
がある。
Claims (6)
- 【請求項1】 ワイヤーソーによる半導体材料の切断・
加工方法において、芯線の外周に砥粒を固着したワイヤ
ーを用い、該ワイヤーにて該材料の切断面へスラリーを
持ち込み切断・加工する半導体材料の切断・加工方法。 - 【請求項2】 請求項1において、スラリーが、油性基剤
又は水溶性基剤と、遊離砥粒との混合物である半導体材
料の切断・加工方法。 - 【請求項3】 請求項2において、スラリーが、鉱物油を
基剤とした溶液にSiCを添加した混合物である半導体材
料の切断・加工方法。 - 【請求項4】 請求項2において、スラリーが、PEGまた
は水分30〜80%を含んだ水溶性基剤にSiCを添加した混合
物である半導体材料の切断・加工方法。 - 【請求項5】 ワイヤーソーによる半導体材料の切断・
加工方法において、芯線の外周に砥粒を固着したワイヤ
ーを用い、該ワイヤーにてインゴットの切断面へアルカ
リ溶液を持ち込み切断・加工する半導体材料の切断・加
工方法。 - 【請求項6】 請求項5において、アルカリ溶液がKOHま
たはNaOH溶液である半導体材料の切断・加工方法。
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