JP3265667B2 - チップサーミスタ - Google Patents

チップサーミスタ

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JP3265667B2
JP3265667B2 JP00422393A JP422393A JP3265667B2 JP 3265667 B2 JP3265667 B2 JP 3265667B2 JP 00422393 A JP00422393 A JP 00422393A JP 422393 A JP422393 A JP 422393A JP 3265667 B2 JP3265667 B2 JP 3265667B2
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康訓 並河
範光 鬼頭
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、サーミスタ素子に関
し、特に面実装型チップ部品として好適に用いることの
できるサーミスタ素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】面実装型のチップ部品として従来より用
いられているサーミスタ素子は、焼成により形成したサ
ーミスタ素体の両端面に導電ペーストを塗布し、これを
焼き付けて外部電極を形成することによって製造してい
る。
【0003】このようにして製造した従来のサーミスタ
素子では、セラミック素体の厚みを変化させることによ
り抵抗値の調整を行なう必要があった。このような厚み
の調整は、セラミック・ウエハーの厚みを研磨して減ら
したり、あるいはスライスしてウエハー厚みを変えるこ
とにより行なうが、製造ロット間において素子の厚みが
かなり大きく変動する。また、素子の厚みのばらつきに
より、抵抗値にばらつきを生じやすいという問題があっ
た。
【0004】また、外部電極が表面に露出しているた
め、経時により特性が変化しやすく、ライフ特性が十分
でないという問題もあった。また、サーミスタ素体の寸
法のばらつき及び外部電極間の寸法のばらつきにより、
抵抗値が大きく影響されるため、従来より所望の抵抗値
を高い精度で実現することのできるサーミスタ素子が求
められている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の問題
点を解決する方法として、サーミスタ素体内に内部電極
を設けることが考えられる。内部電極を設けることによ
り、内部電極間の距離によって抵抗値が決定されるた
め、従来のようなセラミック素体の寸法のばらつき及び
外部電極間の距離のばらつきによる影響を少なくするこ
とができ、かつ外部環境からの影響も少なくすることが
できる。このため、高精度でかつ高信頼性を有するサー
ミスタ素子とすることができる。
【0006】このような内部電極を有したサーミスタ素
体は、セラミックグリーンシートを内部電極材料と共に
積層し、これを焼成することにより製造することができ
る。図12は、このようにしてサーミスタ素体内に内部
電極を形成したサーミスタ素子を示す断面図である。図
12を参照して、サーミスタ素体11内には、一対の内
部電極14及び15が設けられている。サーミスタ素体
11の両端には、一対の外部電極16及び17が形成さ
れている。外部電極16は内部電極14とコンタクトし
ており、外部電極17は内部電極15とコンタクトして
いる。
【0007】しかしながら、これらのサーミスタ素子
は、上述のように一体のセラミックグリーンシートに内
部電極材料を積層し、グリーンシートを重ね合わせてこ
れを焼成することにより内部電極を製造するものである
ため、内部電極として用いることのできる材料がある程
度限定されてしまう場合があった。このため、正特性
(PTC)サーミスタのサーミスタ素体としてPbを含
む組成のものを用い、内部電極材料としてAgやPt等
を用いる場合には、セラミック素体と内部電極との間で
オーミック接触を得ることができず、内部電極型のチッ
プPTCサーミスタを製造することがでないという問題
があった。
【0008】また、セラミック素体の組成によっては、
内部電極材料とセラミック素体の接触部分においてデラ
ミネーション(層剥離)が発生するという問題があっ
た。例えば、Pbを含む組成のセラミック素体では、内
部電極とセラミック素体との間で大きなデラミネーショ
ンが発生するという問題があった。
【0009】Pbを含有させることにより、キュリー点
を上昇させることができるので、キュリー点の高いPT
Cサーミスタを得る場合には、このようなPbを含む組
成を用いてPTCサーミスタを製造する必要があった。
【0010】本発明の目的は、このような従来の問題点
を解消し、内部電極材料に対しオーミック接触を得にく
い組成のサーミスタ素体を用いた内部電極型のチップサ
ーミスタを提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明の
チップサーミスタは、サーミスタ素体の両端に一対の外
部電極を設け、該外部電極と電気的に接続された少なく
とも一対の内部電極をサーミスタ素体内に形成し、サー
ミスタ素体は第1の素体部を挟みその両側に第2の素体
部及び第3の素体部を設けることにより構成されてい
る。第1の素体部は外部電極を構成する内部電極材料に
対しオーミック接触を得にくいPbを含む組成からな
り、第2及び第3の素体部は、内部電極材料に対し第1
の素体部よりもオーミック接触を得やすいPbをほとん
ど含まない組成からなり、かつ内部電極の一方は第2の
素体部内に形成され、他方は第3の素体部に形成されて
いることを特徴としている。
【0012】請求項2に記載の発明のチップサーミスタ
は、請求項1に記載の発明のチップサーミスタと同様
に、第1の素体部を挟みその両側に第2の素体部及び第
3の素体部を設けることによりサーミスタ素体が構成さ
れている。第1の素体部は内部電極を構成する内部電極
材料に対しオーミック接触を得にくいPbを含む組成か
らなり、第2及び第3の素体部は、内部電極材料に対し
第1の素体部よりもオーミック接触を得やすいPbをほ
とんど含まない組成から形成されている。本発明では、
一対の内部電極は共に第2の素体部内に形成され、第3
の素体部内には、外部電極とは電気的に接続されておら
ず、かつ一対の内部電極のそれぞれに対し対向する電極
面を有した中間電極部が設けられていることを特徴とさ
れている。
【0013】請求項1及び2に記載の発明のチップサー
ミスタは、正特性サーミスタのみならず、負特性のサー
ミスタにも適用されるものである。請求項1及び2に記
載の発明において、内部電極材料としては、例えばP
t、Ni、Pd−Ag、Pd等を用いることができる。
【0014】
【作用】請求項1及び2に記載の発明のチップサーミス
タでは、サーミスタ素体は、第1の素体部を挟みそれぞ
れの側に第2の素体部及び第3の素体部を設けることに
より構成されている。第1の素体部は、内部電極を構成
する内部電極材料に対しオーミック接触を得にくい組成
からなり、一方第2及び第3の素体部は内部電極材料に
対し第1の素体部よりもオーミック接触を得やすい組成
からなる。
【0015】請求項1に記載の発明においては、内部電
極は、オーミック接触を得にくい組成からなる第1の素
体部に設けられるのではなく、この第1の素体部を挟み
その両側に設けられる第2及び第3の素体部内に設けら
れ、第1の素体部は、一対の内部電極間に挟まれた構造
となる。このため、内部電極との接触抵抗の大きいよう
な組成のセラミック素体であっても、内部電極型のチッ
プサーミスタとすることができる。また、内部電極材料
とデラミネーションを生じやすい組成のセラミック素体
であっても、これを第1の素体部とすることにより、内
部電極型のチップサーミスタとすることができる。
【0016】請求項2に記載の発明においては、一対の
内部電極が共に第2の素体部内に形成され、第3の素体
部内には中間電極部が設けられている。この中間電極部
は、外部電極とは電気的に接続されておらず、一対の内
部電極のそれぞれに対し対向する電極面を有するよう設
けられている。このため、一方の内部電極と中間電極部
との間に挟まれる第1の素体部と、他方の内部電極と中
間電極部との間に挟まれる第1の素体部とが電気的に結
合される。この結果、第1の素体部に用いる材料の比抵
抗を小さくすることができ、抵抗値特性の精度及び信頼
性を高めることができる。また、請求項1に記載の発明
と同様に、内部電極材料との接触抵抗の大きい組成のセ
ラミック素体や内部電極材料とのデラミネーションを生
じやすい組成のセラミック素体であっても、これを第1
の素体部とすることにより、内部電極型のチップサーミ
スタとすることができる。
【0017】
【実施例】図1は、請求項1に記載の発明に従い、第1
の素体部の両側に第2の素体部及び第3の素体部を設け
たセラミック素体を製造する際のグリーンシートの重ね
合わせ状態を示す斜視図である。図1を参照して、内部
電極材料に対しオーミック接触を得にくい組成、例えば
Pbを含むBaTiO3 等を主成分とする組成からなる
シートを重ね合わせ第1の素体部1とする。内部電極材
料に対しオーミック接触を得やすい組成、例えばPbを
含まないBaTiO3 を主成分とする組成のグリーンシ
ートを重ね合わせて第2の素体部2及び第3の素体部3
とする。第2の素体部2を構成するシートの下方のシー
トに、例えば、Ptを主成分とする材料を用いて内部電
極4を形成するためのペーストを塗布する。同様に、第
3の素体部3の上方のシートの裏面にも、内部電極5と
なる導電性のペーストを塗布する。
【0018】この状態で重ね合わせて圧着し、所定のサ
イズにカットした後焼成する。その後、バレルをかけ、
外部電極を塗布して焼き付けセラミック素子とする。そ
して、このセラミック素子の外部電極に対し、400V
のパルス電圧を+一方向にそれぞれ2回印加し、バリア
ブレイクすることによって電極−素子間のオーミック接
触を得る。
【0019】図2は、このようにして作製されたチップ
サーミスタの一実施例を示す断面図である。また、図3
は、図2のA−A線に沿う平面断面図である。図2及び
図3を参照して、サーミスタ素体8は、第1の素体部1
を挟み、その両側に第2の素体部2及び第3の素体部3
を設けることにより構成されている。図2においては、
第1の素体部と第2の素体部及び第3の素体部の境界を
点線で示している。
【0020】第2の素体部2内には、内部電極4が設け
られており、第3の素体部3内には内部電極5が設けら
れている。サーミスタ素体8の両端面には、内部電極4
の端部と電気的に接続された外部電極6、及び内部電極
5の端部と電気的に接続された外部電極7がそれぞれ設
けられている。
【0021】図2に示されるように、請求項1に記載の
発明に従えば、内部電極材料に対しオーミック接触を得
にくい組成からなる第1の素体部1内に内部電極を設け
ずとも、チップサーミスタ素子を構成することができ
る。このため、Pbを含むようなBaTiO3 を主成分
とする組成であっても、内部電極型のチップサーミスタ
素子とすることができ、例えばキュリー点が120℃を
超える内部電極型チップサーミスタ素子を作製すること
ができ、高精度でかつ高信頼性を有するチップサーミス
タ素子とすることができる。
【0022】以下、請求項1に記載の発明に従うPTC
サーミスタを作製する実施例について説明する。
【0023】実施例1 BaTiO3 99.95mol%に半導体化剤としてY
2 3 を0.05mol%加え、さらに鉱化剤として、
SiO2 を0.3重量%、Al2 3 を0.2重量%、
特性改善剤としてMnO2 を0.2重量%加えて混合粉
砕し、仮焼した。次に、アクリル系有機バインダーを混
合し、スラリー状のセラミックス材料を作製した。この
スラリーを所定の均一の厚さのグリーンシートに成形
し、このシートを所定のサイズに打ち抜いた。このよう
にして得られたシートの一部に、Ptを主成分とする材
料にワニスとバインダーを混合してペーストとし、この
ペーストを内部電極を形成する領域に塗布した。これら
のシートを第2の素体部及び第3の素体部を構成するシ
ートとして用いた。
【0024】また、第1の素体部用のシートとして、B
aTiO3 94.95mol%、Y 2 3 0.05mo
l%、PbTiO3 5.0mol%に、上記と同様の鉱
化剤及び特性改善剤を添加し、上記と同様の方法で所定
のサイズのシートを作製した。このシートを第1の素体
部を構成するシートとして、その両側に第2の素体部を
構成するシート及び第3の素体部を構成するシートを図
1に示すようにして積み重ねた。積み重ねたシートを圧
着し、その後所定のチップサイズ(2×1.25mm)
にカットし、焼成温度1200〜1350℃で2時間焼
成した。その後バレルにかけ、外部電極を塗布し、65
0℃で10分間焼き付けて外部電極を形成し、図2に示
すような構造のチップPTCサーミスタを得た。そし
て、このチップPTCサーミスタの外部電極に対し、4
00Vのパルス電圧を+一方向にそれぞれ2回印加し、
バリアブレイクすることによって、電極−素子間のオー
ミック接触を得た。
【0025】第1の素体部1並びに第2の素体部2及び
第3の素体部3を構成するシートの枚数を変化させるこ
とにより、図4〜図6に示すような構造1〜3のチップ
PTCサーミスタを上記の製造方法に準じて作製した。
図4に示す構造1のサーミスタは、第1の素体部1の厚
みが0.2mmであり、第1の素体部1から内部電極4
及び内部電極5までの距離が0.3mmとなるように作
製されている。また図5に示す構造2では、第1の素体
部1の厚みが0.4mmであり、第1の素体部1から内
部電極4及び内部電極5までの距離がそれぞれ0.2m
mとなるように作製されている。図6に示す構造3で
は、第1の素体部1の厚みが0.6mmであり、第1の
素体部1から内部電極4及び内部電極5までの距離がそ
れぞれ0.1mmとなるように作製されている。
【0026】図7は、このような構造1〜3のチップP
TCサーミスタのPTC特性を示す図である。図7から
明らかなように、本実施例で得られたサーミスタは、P
bを含む組成のキュリー点領域のチップPTCサーミス
タであり、Pbを含む組成の第1素体部の厚みを変える
ことにより種々のキュリー点を有するチップPTCサー
ミスタを得ることができる。
【0027】実施例2 第1の素体部を構成するシートの組成をBaTiO3
9.95mol%、PbTiO3 10mol%とし、そ
の他の成分は上記実施例1と同様にして、図4〜6に示
す構造1〜3のチップPTCサーミスタを作製した。
【0028】図8は、このようにして得られたサーミス
タのPTC特性を示す図である。図8から明らかなよう
に、さらにPbの含有量を増加させた組成のものを第1
の素体部として用いることにより、さらにキュリー点の
高いチップPTCサーミスタを得ることができる。
【0029】比較例 比較として、第1の素体部を構成する組成のシートのみ
でチップサーミスタを作製した。第1の素体部の組成と
しては、実施例1で用いたPbを含む組成のシートを用
いた。第2素体部及び第3素体部のシートに内部電極を
形成する代わりに、第1の素体部シートに内部電極とな
るペーストを塗布し、内部電極を形成させた。内部電極
間の距離は、図4〜6と同様に0.8mmとなるように
形成した。この結果得られたチップは、室温抵抗値が得
られず、またPTC特性も得られなかった。
【0030】図9は、請求項2に記載の発明に従い、第
1の素体部の両側に第2の素体部及び第3の素体部を設
けたセラミック素体を製造する際のグリーンシートの重
ね合わせ状態を示す斜視図である。図1に示すグリーン
シートと同様に、例えばPbを含むBaTiO3 等を主
成分とする組成からなるシートを重ね合わせ第1の素体
部21とし、例えば、Pbを含まないBaTiO3 等を
主成分とする組成のグリーンシートを重ね合わせて第2
の素体部22及び第3の素体部23とする。第2の素体
部22を構成するシートの他方のシートに、例えばPt
を主成分とする材料を用いて内部電極24及び25が所
定間隔を隔てて形成されるようにペーストを塗布する。
第3の素体部23の上方のシートの裏面には、中間電極
部26となるように導電ペーストを塗布する。この時、
中間電極部26が内部電極24及び25とそれぞれ部分
的に重なり合い対向するように塗布し形成する。この状
態で重ね合わせて圧着し、所定のサイズにカットした後
焼成する。その後、バレルをかけ、外部電極を塗布して
焼付けセラミック素子とする。そして、このチップPT
Cサーミスタの外部電極に対し、400Vのパルス電圧
を+一方向にそれぞれ2回印加し、バリアブレイクする
ことによって、電極−素子間のオーミック接触を得る。
【0031】図10は、このようにして作製したチップ
PTCサーミスタを示す断面図である。図10に示す構
造のサーミスタは、第1素体部21の厚みが0.4mm
であり、第1素体部21から外部電極24及び内部電極
25までの距離が0.1mmであり、第1素体部21か
ら中間電極部26までの距離が0.1mmとなるように
作製せれている。
【0032】第1の素体部21、第2の素体部22及び
第3の素体部23を構成するシートは、実施例1と同様
にして作製し、図10に示すような内部電極24,25
及び中間電極部26の構造となるように形成する以外は
実施例1と同様にしてチップPTCサーミスタを作製し
た。
【0033】また比較として図11に示すような構造の
チップPTCサーミスタを作製した。これは、請求項1
に記載の発明に従う構造のものであり、第2の素体部2
2内には内部電極25が設けられており、第3の素体部
23内には内部電極24が設けられている。第1の素体
部21の厚みは、図10に示すチップPTCサーミスタ
と同様に0.4mmであり、第1の素体部21から内部
電極24及び内部電極25までの距離はそれぞれ0.1
mmである。内部電極24と内部電極25との重なり面
積は、図10における中間電極部26と内部電極24及
び内部電極25との合計の重なり面積とほぼ同一になる
ように作製されている。また第1の素体部21の組成
は、図10に示す第1の素体部21よりも材料比抵抗が
約4倍大きい組成となるように調整されている。
【0034】図10に示す請求項2に記載の発明に従う
チップPTCサーミスタの抵抗値は470Ωであり、3
CVの値は20%であった。これに対し、比較の図11
に示す値PTCサーミスタの抵抗値は420Ωであり、
3CVの値は80%であった。このように、請求項2に
記載の発明に従うことにより、第1の素体部に用いる組
成として、材料比抵抗の小さなものを用いることがで
き、この結果抵抗値のばらつきを抑制し、精度及び信頼
性の高いチップサーミスタとすることができる。
【0035】以上の実施例では、PTCサーミスタを例
にして説明したが、請求項1及び2に記載の発明は負特
性(NTC)サーミスタにも適用されるものである。
【0036】
【発明の効果】以上のように、請求項1及び2に記載の
発明に従えば、内部電極との接触抵抗の大きい組成のセ
ラミックであっても内部電極型のチップサーミスタのセ
ラミックスとして用いることができる。また、内部電極
とデラミネーションを起こしやすいセラミックスであっ
ても、内部電極型のチップサーミスタのセラミックスと
して用いることができる。このため、種々のセラミック
材料を用いてサーミスタ素子を作製することができ、従
来よりも幅広い抵抗と特性をチップサーミスタに与える
ことができる。また、第1の素体部のセラミックに高耐
圧の組成のセラミックを用いることにより、チップサー
ミスタの高耐圧化を図ることができる。
【0037】また、請求項2に記載の発明に従えば、第
1素体部の組成として材料比抵抗の小さいものを用いる
ことができ、チップサーミスタの抵抗値のばらつきを低
く抑制することができ、精度及び信頼性の高いチップサ
ーミスタとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に記載の発明に従う実施例における積
層シートを示す斜視図。
【図2】請求項1に記載の発明に従う実施例のチップサ
ーミスタを示す断面図。
【図3】図2のA−A線に沿う断面図。
【図4】請求項1に記載の発明に従う第1の実施例を示
す断面図。
【図5】請求項1に記載の発明に従う第2の実施例を示
す断面図。
【図6】請求項1に記載の発明に従う第3の実施例を示
す断面図。
【図7】図4〜図6に示す構造1〜3の実施例のサーミ
スタのPTC特性を示す図。
【図8】図4〜図6に示す構造1〜3の請求項1に記載
の発明に従う実施例のチップサーミスタのPTC特性を
示す図。
【図9】請求項2に記載の発明に従う実施例における積
層シートを示す斜視図。
【図10】請求項2に記載の発明に従う実施例のチップ
サーミスタを示す断面図。
【図11】請求項2に記載の発明に従う実施例と比較す
るための請求項1に記載の発明に従うチップサーミスタ
を示す断面図。
【図12】内部電極を有した比較の構造のチップサーミ
スタを示す断面図。
【符号の説明】
1,21…第1の素体部 2,22…第2の素体部 3,23…第3の素体部 4,5,24,25…内部電極 6,7…外部電極 26…中間電極部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−66906(JP,A) 特開 昭58−48907(JP,A) 特開 平2−189901(JP,A) 特開 平1−96901(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01C 7/02 - 7/22

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 サーミスタ素体の両端に一対の外部電極
    を設け、該外部電極と電気的に接続された少なくとも一
    対の内部電極をサーミスタ素体内に形成したチップサー
    ミスタであって、 前記サーミスタ素体は、第1の素体部を挟みその両側に
    第2の素体部及び第3の素体部を設けることにより構成
    されており、 前記第1の素体部は、内部電極を構成する内部電極材料
    に対しオーミック接触を得にくいPbを含む組成からな
    り、前記第2及び第3の素体部は内部電極材料に対し前
    記第1の素体部よりもオーミック接触を得やすいPbを
    ほとんど含まない組成からなり、かつ前記内部電極の一
    方は第2の素体部内に形成され、他方は第3の素体部内
    に形成されていることを特徴とする、チップサーミス
    タ。
  2. 【請求項2】 サーミスタ素体の両端に一対の外部電極
    を設け、該外部電極と電気的に接続された少なくとも一
    対の内部電極をサーミスタ素体内に形成したチップサー
    ミスタであって、 前記サーミスタ素体は、第1の素体部を挟みその両側に
    第2の素体部及び第3の素体部を設けることにより構成
    されており、 前記第1の素体部は、内部電極を構成する内部電極材料
    に対しオーミック接触を得にくいPbを含む組成からな
    り、前記第2及び第3の素体部は内部電極材料に対し前
    記第1の素体部よりもオーミック接触を得やすいPbを
    ほとんど含まない組成からなり、かつ前記一対の内部電
    極は共に第2の素体部内に形成され、第3の素体部内に
    は、前記外部電極とは電気的に接続されておらず、かつ
    前記一対の内部電極のそれぞれに対し、対向する電極面
    を有した中間電極部が設けられていることを特徴とす
    る、チップサーミスタ。
JP00422393A 1992-03-25 1993-01-13 チップサーミスタ Expired - Lifetime JP3265667B2 (ja)

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