JP3264827B2 - Ｌａｎテスタ - Google Patents
ＬａｎテスタInfo
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- JP3264827B2 JP3264827B2 JP13216496A JP13216496A JP3264827B2 JP 3264827 B2 JP3264827 B2 JP 3264827B2 JP 13216496 A JP13216496 A JP 13216496A JP 13216496 A JP13216496 A JP 13216496A JP 3264827 B2 JP3264827 B2 JP 3264827B2
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- Japan
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- pair
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- transistor
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＡＮ（Local Ar
ea Network）における断線，短絡，極性チェック，接続
試験，逆接続試験等を簡易に行う試験装置に属する。
ea Network）における断線，短絡，極性チェック，接続
試験，逆接続試験等を簡易に行う試験装置に属する。
【０００２】
【従来の技術】従来、パーソナルコンピュータ等の比較
的小規模なデータ処理装置は、単独で使用されることが
多かったが、近時におけるデータ処理能力の向上と、ダ
ウンサイジング化の流れの中にあって、蓄積されたデー
タの有効利用を図るために、例えば、会社内や部内等の
特定範囲内における複数のデータ処理装置をそれぞれネ
ットワークで接続して分散処理システムを構成したり、
分散処理までは行わないが簡易なネットワークを構築す
るということが良く行われている。
的小規模なデータ処理装置は、単独で使用されることが
多かったが、近時におけるデータ処理能力の向上と、ダ
ウンサイジング化の流れの中にあって、蓄積されたデー
タの有効利用を図るために、例えば、会社内や部内等の
特定範囲内における複数のデータ処理装置をそれぞれネ
ットワークで接続して分散処理システムを構成したり、
分散処理までは行わないが簡易なネットワークを構築す
るということが良く行われている。
【０００３】このようなネットワークは、一般に、ＬＡ
Ｎと呼ばれており、最も簡単なＬＡＮの構築の一つに、
ネットワーク用ＯＳ（Operating System）と、ピア・ツ
ー・ピアによる１０ＢＡＳＥ２や１０ＢＡＳＥ−Ｔ等と
を組み合わせたものがある。このうち１０ＢＡＳＥ−Ｔ
によるＬＡＮ結線は比較的簡単であり、わざわざ専門家
に依頼して結線してもらわなくてもユーザサイドで行う
ことが可能である。このため、１０ＢＡＳＥ−Ｔによる
ＬＡＮ構築の際には、その配線はユーザが独自に行う場
合が多かった。
Ｎと呼ばれており、最も簡単なＬＡＮの構築の一つに、
ネットワーク用ＯＳ（Operating System）と、ピア・ツ
ー・ピアによる１０ＢＡＳＥ２や１０ＢＡＳＥ−Ｔ等と
を組み合わせたものがある。このうち１０ＢＡＳＥ−Ｔ
によるＬＡＮ結線は比較的簡単であり、わざわざ専門家
に依頼して結線してもらわなくてもユーザサイドで行う
ことが可能である。このため、１０ＢＡＳＥ−Ｔによる
ＬＡＮ構築の際には、その配線はユーザが独自に行う場
合が多かった。
【０００４】しかし、１０ＢＡＳＥ−Ｔの配線がいくら
簡単であるとはいえ、配線ミスがあるとネットワークと
して機能せず、また、ＬＡＮの規模が大きくなってくる
につれてケーブル数も増え、配線も煩雑になってくる。
このような状態で、例えば、ケーブル断線や誤配線等の
障害が発生した場合、どのケーブルについて障害が発生
しているのかを見つけるための手順としては、まず、各
ケーブルの両端に折り返し用コネクタを接続するととも
に、ループ抵抗等を含む専用のケーブル試験器を接続
し、各ケーブルに対して導通試験を行うことによって、
ケーブル毎に断線や誤配線の有無を確認し、障害の発生
したケーブルを探すという方法が用いられている。
簡単であるとはいえ、配線ミスがあるとネットワークと
して機能せず、また、ＬＡＮの規模が大きくなってくる
につれてケーブル数も増え、配線も煩雑になってくる。
このような状態で、例えば、ケーブル断線や誤配線等の
障害が発生した場合、どのケーブルについて障害が発生
しているのかを見つけるための手順としては、まず、各
ケーブルの両端に折り返し用コネクタを接続するととも
に、ループ抵抗等を含む専用のケーブル試験器を接続
し、各ケーブルに対して導通試験を行うことによって、
ケーブル毎に断線や誤配線の有無を確認し、障害の発生
したケーブルを探すという方法が用いられている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の断線ケーブルの探索方法では、試験するケー
ブルの両端に折り返し用コネクタを接続する必要がある
ことから、一方端に折り返し用コネクタを接続した後に
他方端にも折り返し用コネクタを接続するためには、一
方端に折り返し用コネクタを接続したケーブルを辿って
いくという作業が必要になってくる。すなわち、どのケ
ーブルに対して折り返し用コネクタを接続するかを見つ
ける作業は、煩雑な配線の中においては大変な作業であ
り、従来の導通試験では、障害の発見には極めて多くの
労力を要することとなる。
うな従来の断線ケーブルの探索方法では、試験するケー
ブルの両端に折り返し用コネクタを接続する必要がある
ことから、一方端に折り返し用コネクタを接続した後に
他方端にも折り返し用コネクタを接続するためには、一
方端に折り返し用コネクタを接続したケーブルを辿って
いくという作業が必要になってくる。すなわち、どのケ
ーブルに対して折り返し用コネクタを接続するかを見つ
ける作業は、煩雑な配線の中においては大変な作業であ
り、従来の導通試験では、障害の発見には極めて多くの
労力を要することとなる。
【０００６】また、導通試験を行うための折り返し用コ
ネクタの接続作業には、つなぎ間違いや接触不良等の新
たな障害の要因にもなるといった問題点があり、さら
に、従来の導通試験では、ケーブルの試験だけしか行う
ことができず、ＨＵＢ等を含めた接続確認試験はできな
いという問題点があった。
ネクタの接続作業には、つなぎ間違いや接触不良等の新
たな障害の要因にもなるといった問題点があり、さら
に、従来の導通試験では、ケーブルの試験だけしか行う
ことができず、ＨＵＢ等を含めた接続確認試験はできな
いという問題点があった。
【０００７】本発明の課題は、上記問題点を解消し、一
方端だけでケーブル導通試験や誤配線確認試験ができる
とともに、ＨＵＢ等を含めた簡易動作試験も可能なＬＡ
Ｎテスタを提供することにある。
方端だけでケーブル導通試験や誤配線確認試験ができる
とともに、ＨＵＢ等を含めた簡易動作試験も可能なＬＡ
Ｎテスタを提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のＬＡＮテスタは、ＬＡＮ配線用のペア信号
線が接続される一対の送信用端子（ＳＡ,ＳＢ）と一対
の受信用端子（ＲＡ、ＲＢ）とからなる試験用端子と、
入力された信号を折り返して出力可能な回路を含むＬＡ
Ｎと前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）又は前記一対
の受信用端子（ＲＡ，ＲＢ）とが前記ペア信号線で接続
されたときにこのペア信号線によって閉回路を形成する
とともに当該閉回路の導通の有無を検出する第１の試験
回路、及び、前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）から
入力される信号の極性を検出する第２の試験回路を含む
電子回路と、この電子回路に直流電力を供給する電源部
（Ｅ）と、前記電子回路（１）を前記第１の試験回路又
は前記第２の試験回路として動作させるためにオン状態
とオフ状態とを選択的に形成する切替回路（１ａ，Ｑ
３）とを有し、前記第１の試験回路は、前記一対の受信
用端子（ＲＡ、ＲＢ）が前記ＬＡＮ及びペア信号線を通
じて導通し且つ前記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態
のときに通電してその通電状態を明示する第１の単向性
素子（ＬＹ１）と、前記一対の送信用端子（ＳＡ、Ｓ
Ｂ）が前記ＬＡＮ及びペア信号線を通じて導通し且つ前
記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態のときに通電して
その通電状態を明示する第２の単向性素子（ＬＹ２）と
を有し、前記第２の試験回路は、それぞれ前記切替回路
（１ａ，Ｑ３）がオン状態のときにオフ状態、オフ状態
のときにオン状態となる第１トランジスタ（Ｑ２）及び
第２トランジスタ（Ｑ４）が互いに並列に接続されてお
り、第１トランジスタ（Ｑ２）は、一方の送信用端子
（ＳＡ）に負パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に正パ
ルスが印加されているときにオン状態となるものであ
り、第２トランジスタ（Ｑ４）は、一方の送信用端子
（ＳＡ）に正パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に負パ
ルスが印加されているときにオン状態となるものであ
り、さらに、前記第２トランジスタ（Ｑ４）がオン状態
のときに通電してその通電状態を明示する第３の単向性
素子（ＬＧ）と、前記第１トランジスタ（Ｑ２）がオン
状態のときに通電してその通電状態を明示する第４の単
向性素子（ＬＲ）とを有することを特徴とする。
め、本発明のＬＡＮテスタは、ＬＡＮ配線用のペア信号
線が接続される一対の送信用端子（ＳＡ,ＳＢ）と一対
の受信用端子（ＲＡ、ＲＢ）とからなる試験用端子と、
入力された信号を折り返して出力可能な回路を含むＬＡ
Ｎと前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）又は前記一対
の受信用端子（ＲＡ，ＲＢ）とが前記ペア信号線で接続
されたときにこのペア信号線によって閉回路を形成する
とともに当該閉回路の導通の有無を検出する第１の試験
回路、及び、前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）から
入力される信号の極性を検出する第２の試験回路を含む
電子回路と、この電子回路に直流電力を供給する電源部
（Ｅ）と、前記電子回路（１）を前記第１の試験回路又
は前記第２の試験回路として動作させるためにオン状態
とオフ状態とを選択的に形成する切替回路（１ａ，Ｑ
３）とを有し、前記第１の試験回路は、前記一対の受信
用端子（ＲＡ、ＲＢ）が前記ＬＡＮ及びペア信号線を通
じて導通し且つ前記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態
のときに通電してその通電状態を明示する第１の単向性
素子（ＬＹ１）と、前記一対の送信用端子（ＳＡ、Ｓ
Ｂ）が前記ＬＡＮ及びペア信号線を通じて導通し且つ前
記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態のときに通電して
その通電状態を明示する第２の単向性素子（ＬＹ２）と
を有し、前記第２の試験回路は、それぞれ前記切替回路
（１ａ，Ｑ３）がオン状態のときにオフ状態、オフ状態
のときにオン状態となる第１トランジスタ（Ｑ２）及び
第２トランジスタ（Ｑ４）が互いに並列に接続されてお
り、第１トランジスタ（Ｑ２）は、一方の送信用端子
（ＳＡ）に負パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に正パ
ルスが印加されているときにオン状態となるものであ
り、第２トランジスタ（Ｑ４）は、一方の送信用端子
（ＳＡ）に正パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に負パ
ルスが印加されているときにオン状態となるものであ
り、さらに、前記第２トランジスタ（Ｑ４）がオン状態
のときに通電してその通電状態を明示する第３の単向性
素子（ＬＧ）と、前記第１トランジスタ（Ｑ２）がオン
状態のときに通電してその通電状態を明示する第４の単
向性素子（ＬＲ）とを有することを特徴とする。
【０００９】正パルス又は負パルスの極性状態を正しく
認識できるようにするため、前記第１トランジスタ（Ｑ
２）の出力端子と前記第４の単向性素子（ＬＲ）との
間、及び、前記第２トランジスタ（Ｑ４）の出力端子と
前記第３の単向性素子（ＬＧ）との間に、それぞれ前記
一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）に印加される正パルス
又は負パルスの極性状態を一定時間維持する平滑化回路
（Ｃ１，Ｒ４，Ｒ５，Ｑ１，Ｃ２，Ｒ１５，Ｒ１６，Ｑ
５）が介在するようにしてもよい。
認識できるようにするため、前記第１トランジスタ（Ｑ
２）の出力端子と前記第４の単向性素子（ＬＲ）との
間、及び、前記第２トランジスタ（Ｑ４）の出力端子と
前記第３の単向性素子（ＬＧ）との間に、それぞれ前記
一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）に印加される正パルス
又は負パルスの極性状態を一定時間維持する平滑化回路
（Ｃ１，Ｒ４，Ｒ５，Ｑ１，Ｃ２，Ｒ１５，Ｒ１６，Ｑ
５）が介在するようにしてもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、本発明のＬＡＮテスタの実
施形態を図１〜図１０を参照して説明する。図１は、こ
のＬＡＮテスタを実施する場合の形態例を示す回路構成
図であり、大別して、電源部２と、電流検出部３と、順
極性検出部４と、逆極性検出部５と、第一切替スイッチ
（切替スイッチ）６と、折り返し接続部の機能を有する
第二切替スイッチ７とから成る。なお、図中、ＲＡ，Ｒ
Ｂは受信用端子であり、ＳＡ，ＳＢは送信用端子であ
る。
施形態を図１〜図１０を参照して説明する。図１は、こ
のＬＡＮテスタを実施する場合の形態例を示す回路構成
図であり、大別して、電源部２と、電流検出部３と、順
極性検出部４と、逆極性検出部５と、第一切替スイッチ
（切替スイッチ）６と、折り返し接続部の機能を有する
第二切替スイッチ７とから成る。なお、図中、ＲＡ，Ｒ
Ｂは受信用端子であり、ＳＡ，ＳＢは送信用端子であ
る。
【００１１】電源部２は、電源スイッチＳＷＰ、内蔵電
池Ｅから構成され、電流検出部３は、バイポーラトラン
ジスタＱ３、黄色に点灯する発光ダイオードＬＹ１，Ｌ
Ｙ２、及び複数の抵抗Ｒ１，Ｒ７，Ｒ８，Ｒ１４から構
成される。なお、抵抗Ｒ７，Ｒ８は、バイポーラトラン
ジスタＱ３をオンにし、バイポーラトランジスタＱ２を
オフにするとともに、送信端子ＳＡに対して電源電流を
供給するために設けられている。Ｒ１，Ｒ１４は５６０
Ω、Ｒ７，Ｒ８は１０ｋΩ程度が適当である。順極性検
出部４は、バイポーラトランジスタＱ４及び電界効果形
トランジスタＱ５、緑色に点灯する発光ダイオードＬ
Ｇ、抵抗Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１５，Ｒ１６、及びコンデ
ンサＣ２から構成されており、逆極性検出部５は、バイ
ポーラトランジスタＱ２、電界効果形トランジスタＱ
１、赤色に点灯する発光ダイオードＬＲ、及び抵抗Ｒ
４，Ｒ５，Ｒ６，Ｒ９、コンデンサＣ１から構成されて
いる。なお、抵抗Ｒ１０，Ｒ１１は、バイポーラトラン
ジスタＱ２，Ｑ４にバイアスをかけるために設けられて
おり、また、コンデンサＣ１及び抵抗Ｒ５、コンデンサ
Ｃ２及び抵抗Ｒ１５により平滑回路が構成されている。
抵抗Ｒ６，Ｒ９，Ｒ１２，Ｒ１３は１ｋΩ、Ｒ１０は２
７０Ω、，Ｒ１１は４．７ｋΩ、抵抗Ｒ４，Ｒ１６は５
００ｋΩ、抵抗Ｒ５，Ｒ１５は５ＭΩ、コンデンサＣ
１，Ｃ２は０．１μＦ程度が適当である。第一切替スイ
ッチ６は、図３に示すように、接続端子１ａのオン・オ
フを行うとともに、送信用端子ＳＢを接続端子２ａまた
は２ｂのいずれかに接続するスイッチＳＷ１からなり、
第二切替スイッチ７は、図１０（ｂ）に示すように、送
信用端子ＳＡと受信用端子ＲＡ、また、送信用端子ＳＢ
と受信用端子ＲＢをそれぞれ接続するスイッチＳＷ２か
ら構成されている。
池Ｅから構成され、電流検出部３は、バイポーラトラン
ジスタＱ３、黄色に点灯する発光ダイオードＬＹ１，Ｌ
Ｙ２、及び複数の抵抗Ｒ１，Ｒ７，Ｒ８，Ｒ１４から構
成される。なお、抵抗Ｒ７，Ｒ８は、バイポーラトラン
ジスタＱ３をオンにし、バイポーラトランジスタＱ２を
オフにするとともに、送信端子ＳＡに対して電源電流を
供給するために設けられている。Ｒ１，Ｒ１４は５６０
Ω、Ｒ７，Ｒ８は１０ｋΩ程度が適当である。順極性検
出部４は、バイポーラトランジスタＱ４及び電界効果形
トランジスタＱ５、緑色に点灯する発光ダイオードＬ
Ｇ、抵抗Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１５，Ｒ１６、及びコンデ
ンサＣ２から構成されており、逆極性検出部５は、バイ
ポーラトランジスタＱ２、電界効果形トランジスタＱ
１、赤色に点灯する発光ダイオードＬＲ、及び抵抗Ｒ
４，Ｒ５，Ｒ６，Ｒ９、コンデンサＣ１から構成されて
いる。なお、抵抗Ｒ１０，Ｒ１１は、バイポーラトラン
ジスタＱ２，Ｑ４にバイアスをかけるために設けられて
おり、また、コンデンサＣ１及び抵抗Ｒ５、コンデンサ
Ｃ２及び抵抗Ｒ１５により平滑回路が構成されている。
抵抗Ｒ６，Ｒ９，Ｒ１２，Ｒ１３は１ｋΩ、Ｒ１０は２
７０Ω、，Ｒ１１は４．７ｋΩ、抵抗Ｒ４，Ｒ１６は５
００ｋΩ、抵抗Ｒ５，Ｒ１５は５ＭΩ、コンデンサＣ
１，Ｃ２は０．１μＦ程度が適当である。第一切替スイ
ッチ６は、図３に示すように、接続端子１ａのオン・オ
フを行うとともに、送信用端子ＳＢを接続端子２ａまた
は２ｂのいずれかに接続するスイッチＳＷ１からなり、
第二切替スイッチ７は、図１０（ｂ）に示すように、送
信用端子ＳＡと受信用端子ＲＡ、また、送信用端子ＳＢ
と受信用端子ＲＢをそれぞれ接続するスイッチＳＷ２か
ら構成されている。
【００１２】次に本発明のＬＡＮテスタによる各試験に
ついて説明する。図２は、本発明のＬＡＮテスタにより
導通試験を行う場合のＨＵＢ（又はＡＵＩ）２０との接
続関係を示す図であり、図３は、導通試験での動作例を
説明するために図１の要部を抽出した回路構成図であ
る。すなわち、導通試験時には、バイポーラトランジス
タＱ３がオンすることによってバイポーラトランジスタ
Ｑ２はオフし、パイロットデータの監視は停止する。ま
た、スイッチＳＷ１（２ｂ部分）が離れることによって
バイポーラトランジスタＱ４には信号電流が流れなくな
り、動作しないため、図１に示すＬＡＮテスタ１は、図
３に示すような回路と等価なものとなる。
ついて説明する。図２は、本発明のＬＡＮテスタにより
導通試験を行う場合のＨＵＢ（又はＡＵＩ）２０との接
続関係を示す図であり、図３は、導通試験での動作例を
説明するために図１の要部を抽出した回路構成図であ
る。すなわち、導通試験時には、バイポーラトランジス
タＱ３がオンすることによってバイポーラトランジスタ
Ｑ２はオフし、パイロットデータの監視は停止する。ま
た、スイッチＳＷ１（２ｂ部分）が離れることによって
バイポーラトランジスタＱ４には信号電流が流れなくな
り、動作しないため、図１に示すＬＡＮテスタ１は、図
３に示すような回路と等価なものとなる。
【００１３】まず、受信線の導通試験を行う場合、図２
に示すように、ＬＡＮテスタ１の受信用端子ＲＡ，ＲＢ
にＨＵＢ２０を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにす
る。この状態で、スイッチＳＷ１を押すと、受信線又は
ＨＵＢ２０が正常であれば、図３に示すように、電源電
流が受信用端子ＲＡ，ＲＢ間を通して、発光ダイオード
ＬＹ１→ダイオードＤ１→抵抗Ｒ１→スイッチＳＷ１
（１ａ部分）→グランドＧＮＤの経路で流れるので、発
光ダイオードＬＹ１が黄色に点灯し、受信線が正常であ
る旨が外部に報知される。また、受信線又はＨＵＢ２０
に断線等の障害がある場合、前述の電流経路が遮断され
ることになるため、発光ダイオードＬＹ１は点灯せず、
受信線又はＨＵＢ２０に異常があることがわかる。
に示すように、ＬＡＮテスタ１の受信用端子ＲＡ，ＲＢ
にＨＵＢ２０を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにす
る。この状態で、スイッチＳＷ１を押すと、受信線又は
ＨＵＢ２０が正常であれば、図３に示すように、電源電
流が受信用端子ＲＡ，ＲＢ間を通して、発光ダイオード
ＬＹ１→ダイオードＤ１→抵抗Ｒ１→スイッチＳＷ１
（１ａ部分）→グランドＧＮＤの経路で流れるので、発
光ダイオードＬＹ１が黄色に点灯し、受信線が正常であ
る旨が外部に報知される。また、受信線又はＨＵＢ２０
に断線等の障害がある場合、前述の電流経路が遮断され
ることになるため、発光ダイオードＬＹ１は点灯せず、
受信線又はＨＵＢ２０に異常があることがわかる。
【００１４】一方、送信線の導通試験を行う場合、図２
に示すように、ＬＡＮテスタ１の送信用端子ＳＡ，ＳＢ
にＨＵＢ２０を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにす
る。この状態で、スイッチＳＷ１を押すと、バイポーラ
トランジスタＱ３のベース電流が抵抗Ｒ８を介してスイ
ッチＳＷ１（１ａ部分）からグランドＧＮＤに流れるた
め、バイポーラトランジスタＱ３はオンとなる。バイポ
ーラトランジスタＱ３がオンすると、送信線又はＨＵＢ
２０が正常であれば、図３に示すように、電源電流が送
信用端子ＳＡ，ＳＢ間を通して、スイッチＳＷ１（２ａ
部分）→抵抗Ｒ１４→発光ダイオードＬＹ２→グランド
ＧＮＤの経路で流れるので、発光ダイオードＬＹ２が黄
色に点灯し、送信線又はＨＵＢ２０が正常である旨が外
部に報知される。また、送信線又はＨＵＢ２０に断線等
の障害がある場合、前述の電流経路が遮断されることに
なるため、発光ダイオードＬＹ２は点灯せず、送信線又
はＨＵＢ２０に異常があることがわかる。このように、
配線ケーブルの導通試験は、折り返し器具を使用せずに
ＨＵＢまたはＡＵＩ内のコイルを通じて行う。すなわ
ち、折り返し器具を使わないために、従来のように、配
線ケーブルを辿るといった作業は不要となり、探索作業
にかける労力を大幅に軽減することができる。
に示すように、ＬＡＮテスタ１の送信用端子ＳＡ，ＳＢ
にＨＵＢ２０を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにす
る。この状態で、スイッチＳＷ１を押すと、バイポーラ
トランジスタＱ３のベース電流が抵抗Ｒ８を介してスイ
ッチＳＷ１（１ａ部分）からグランドＧＮＤに流れるた
め、バイポーラトランジスタＱ３はオンとなる。バイポ
ーラトランジスタＱ３がオンすると、送信線又はＨＵＢ
２０が正常であれば、図３に示すように、電源電流が送
信用端子ＳＡ，ＳＢ間を通して、スイッチＳＷ１（２ａ
部分）→抵抗Ｒ１４→発光ダイオードＬＹ２→グランド
ＧＮＤの経路で流れるので、発光ダイオードＬＹ２が黄
色に点灯し、送信線又はＨＵＢ２０が正常である旨が外
部に報知される。また、送信線又はＨＵＢ２０に断線等
の障害がある場合、前述の電流経路が遮断されることに
なるため、発光ダイオードＬＹ２は点灯せず、送信線又
はＨＵＢ２０に異常があることがわかる。このように、
配線ケーブルの導通試験は、折り返し器具を使用せずに
ＨＵＢまたはＡＵＩ内のコイルを通じて行う。すなわ
ち、折り返し器具を使わないために、従来のように、配
線ケーブルを辿るといった作業は不要となり、探索作業
にかける労力を大幅に軽減することができる。
【００１５】図４は、本発明のＬＡＮテスタ１により極
性試験を行う場合のＨＵＢ４０との接続関係を示す図、
図５は、本発明のＬＡＮテスタ１により通信モニタを行
う場合のＨＵＢ４０、ＡＵＩ５０との接続関係を示す図
であり、図６は、極性試験及び通信モニタでの動作例を
説明するために図１の要部を抽出した回路構成図であ
る。すなわち、極性試験及び通信モニタ時には、バイポ
ーラトランジスタＱ３がオフしているのでバイポーラト
ランジスタＱ２，Ｑ４は能動状態となり、また、スイッ
チＳＷ１（２ｂ部分）が端子ＳＢと接続されることによ
ってパイロットデータの監視機能が働くため、図１に示
すＬＡＮテスタ１は、図６に示すような回路と等価なも
のとなる。
性試験を行う場合のＨＵＢ４０との接続関係を示す図、
図５は、本発明のＬＡＮテスタ１により通信モニタを行
う場合のＨＵＢ４０、ＡＵＩ５０との接続関係を示す図
であり、図６は、極性試験及び通信モニタでの動作例を
説明するために図１の要部を抽出した回路構成図であ
る。すなわち、極性試験及び通信モニタ時には、バイポ
ーラトランジスタＱ３がオフしているのでバイポーラト
ランジスタＱ２，Ｑ４は能動状態となり、また、スイッ
チＳＷ１（２ｂ部分）が端子ＳＢと接続されることによ
ってパイロットデータの監視機能が働くため、図１に示
すＬＡＮテスタ１は、図６に示すような回路と等価なも
のとなる。
【００１６】ＨＵＢ４０の極性試験を行う場合、図４に
示すように、ＬＡＮテスタ１の端子ＳＡ，ＳＢにＨＵＢ
を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにする。この状態
で、スイッチＳＷ１は押されていないため、バイポーラ
トランジスタＱ３にはベース電流が流れず、バイポーラ
トランジスタＱ３はオフとなり、抵抗Ｒ１０，Ｒ１１に
より設定される電源電圧の分圧比に基づいてバイポーラ
トランジスタＱ２及びバイポーラトランジスタＱ４に若
干のバイアスが与えられる。この状態において、図７に
示すようなパルス信号がトリガパルスとなって、端子Ｓ
Ａに正パルス、端子ＳＢに負パルスが連続して印加され
ると、パルス印加に対応してバイポーラトランジスタＱ
４に断続的にベース電流が流れ、これによって、バイポ
ーラトランジスタＱ４は、断続的にオンすることにな
る。
示すように、ＬＡＮテスタ１の端子ＳＡ，ＳＢにＨＵＢ
を接続し、電源スイッチＳＷＰをオンにする。この状態
で、スイッチＳＷ１は押されていないため、バイポーラ
トランジスタＱ３にはベース電流が流れず、バイポーラ
トランジスタＱ３はオフとなり、抵抗Ｒ１０，Ｒ１１に
より設定される電源電圧の分圧比に基づいてバイポーラ
トランジスタＱ２及びバイポーラトランジスタＱ４に若
干のバイアスが与えられる。この状態において、図７に
示すようなパルス信号がトリガパルスとなって、端子Ｓ
Ａに正パルス、端子ＳＢに負パルスが連続して印加され
ると、パルス印加に対応してバイポーラトランジスタＱ
４に断続的にベース電流が流れ、これによって、バイポ
ーラトランジスタＱ４は、断続的にオンすることにな
る。
【００１７】バイポーラトランジスタＱ４が断続的にオ
ンすると、断続的なパルス状の電圧が抵抗Ｒ１６を介し
て電界効果形トランジスタＱ５に印加されることになる
が、このパルス状の電圧は、抵抗Ｒ１５及びコンデンサ
Ｃ２により構成される時定数回路によって平滑化される
ため、電界効果形トランジスタＱ５はオンして発光ダイ
オードＬＧが緑色に点灯し、正しい極性（順極性）で接
続されている旨が外部に報知される。
ンすると、断続的なパルス状の電圧が抵抗Ｒ１６を介し
て電界効果形トランジスタＱ５に印加されることになる
が、このパルス状の電圧は、抵抗Ｒ１５及びコンデンサ
Ｃ２により構成される時定数回路によって平滑化される
ため、電界効果形トランジスタＱ５はオンして発光ダイ
オードＬＧが緑色に点灯し、正しい極性（順極性）で接
続されている旨が外部に報知される。
【００１８】一方、端子ＳＡに負パルス、端子ＳＢに正
パルスが連続して印加されると、パルス印加に対応して
バイポーラトランジスタＱ２に断続的にベース電流が流
れ、これによって、バイポーラトランジスタＱ２は、断
続的にオンすることになる。バイポーラトランジスタＱ
２が断続的にオンすると、断続的なパルス状の電圧が抵
抗Ｒ４を介して電界効果形トランジスタＱ１に印加され
ることになるが、このパルス状の電圧は、抵抗Ｒ５及び
コンデンサＣ１により構成される時定数回路によって平
滑化されるため、電界効果形トランジスタＱ１はオンし
て発光ダイオードＬＲが赤色に点灯し、誤った極性（逆
極性）で接続されている旨が外部に報知される。このよ
うに、発光ダイオードＬＧまたは発光ダイオードＬＲの
点灯により、信号の有無及び極性の確認を容易に行うこ
とができる。
パルスが連続して印加されると、パルス印加に対応して
バイポーラトランジスタＱ２に断続的にベース電流が流
れ、これによって、バイポーラトランジスタＱ２は、断
続的にオンすることになる。バイポーラトランジスタＱ
２が断続的にオンすると、断続的なパルス状の電圧が抵
抗Ｒ４を介して電界効果形トランジスタＱ１に印加され
ることになるが、このパルス状の電圧は、抵抗Ｒ５及び
コンデンサＣ１により構成される時定数回路によって平
滑化されるため、電界効果形トランジスタＱ１はオンし
て発光ダイオードＬＲが赤色に点灯し、誤った極性（逆
極性）で接続されている旨が外部に報知される。このよ
うに、発光ダイオードＬＧまたは発光ダイオードＬＲの
点灯により、信号の有無及び極性の確認を容易に行うこ
とができる。
【００１９】また、通信モニタを行う場合、本発明のＬ
ＡＮテスタ１を通信ケーブル間に挿入し、図５に示すよ
うにＨＵＢ４０，ＡＵＩ５０を接続することにより、図
８に示すような通信波形が印加されると、前述した極性
試験時における動作により、通信状態をモニタすること
ができる。すなわち、端子ＳＡに正パルス、端子ＳＢに
負パルスが連続して印加されるような波形が印加される
ときには発光ダイオードＬＧが緑色に点灯し、端子ＳＡ
に負パルス、端子ＳＢに正パルスが連続して印加される
ような波形が印加されるときには、発光ダイオードＬＲ
が赤色に点灯するので、各発光ダイオードＬＧ，ＬＲの
点滅により簡易的に信号のモニタを行うことができる。
なお、トランジスタＱ１，Ｑ５をオンさせるためのケー
ブルに流れる信号電圧は、図７に示すように非常に短い
パルスのため、このパルスに基づいて発光ダイオードＬ
Ｇ，ＬＲを駆動・点灯させても肉眼では認識することは
むずかしい。このため、コンデンサＣ１，Ｃ２によって
点灯時間の幅をとり、点灯状態を見易くしている。この
ように、極性の判断は、信号パルスの方向を検知するこ
とにより２個の発光ダイオードＬＧ，ＬＲの点滅により
容易に判断することができる。
ＡＮテスタ１を通信ケーブル間に挿入し、図５に示すよ
うにＨＵＢ４０，ＡＵＩ５０を接続することにより、図
８に示すような通信波形が印加されると、前述した極性
試験時における動作により、通信状態をモニタすること
ができる。すなわち、端子ＳＡに正パルス、端子ＳＢに
負パルスが連続して印加されるような波形が印加される
ときには発光ダイオードＬＧが緑色に点灯し、端子ＳＡ
に負パルス、端子ＳＢに正パルスが連続して印加される
ような波形が印加されるときには、発光ダイオードＬＲ
が赤色に点灯するので、各発光ダイオードＬＧ，ＬＲの
点滅により簡易的に信号のモニタを行うことができる。
なお、トランジスタＱ１，Ｑ５をオンさせるためのケー
ブルに流れる信号電圧は、図７に示すように非常に短い
パルスのため、このパルスに基づいて発光ダイオードＬ
Ｇ，ＬＲを駆動・点灯させても肉眼では認識することは
むずかしい。このため、コンデンサＣ１，Ｃ２によって
点灯時間の幅をとり、点灯状態を見易くしている。この
ように、極性の判断は、信号パルスの方向を検知するこ
とにより２個の発光ダイオードＬＧ，ＬＲの点滅により
容易に判断することができる。
【００２０】次に、本発明のＬＡＮテスタを用いて配線
の接続方向の確認試験を行う場合について説明する。図
９は、例えばＬＡＮ配線に用いられる汎用の８ピンのモ
ジュラージャックの誤配線の有無の確認試験を行う場合
の構成例を示す図である。図９に示すように、ＬＡＮテ
スタには、例えばモジュラージャックの該当受け端子に
導通接続される複数の逆接続確認回路１２ａ，１２ｂ・
・・を設けておく。各逆接続確認回路１２ａ，１２ｂ
は、ダイオードＤ１１（Ｄ１２）と発光ダイオードＬＤ
１ａ（ＬＤ２ａ）とを逆接続したものである。
の接続方向の確認試験を行う場合について説明する。図
９は、例えばＬＡＮ配線に用いられる汎用の８ピンのモ
ジュラージャックの誤配線の有無の確認試験を行う場合
の構成例を示す図である。図９に示すように、ＬＡＮテ
スタには、例えばモジュラージャックの該当受け端子に
導通接続される複数の逆接続確認回路１２ａ，１２ｂ・
・・を設けておく。各逆接続確認回路１２ａ，１２ｂ
は、ダイオードＤ１１（Ｄ１２）と発光ダイオードＬＤ
１ａ（ＬＤ２ａ）とを逆接続したものである。
【００２１】試験対象となるモジュラージャック（Ｍ
Ｊ）１０の１番と２番にはペア信号線１１ａ，１１ｂの
一方端が接続されており、このペア信号線の１つの信号
線路、例えばＭＪ１０の１番ピンに接続された信号線路
１１ａには、上述の電源部２から直流電圧Ｅａに基づく
電流が供給されるようになっている。また、ＭＪ１０の
２番ピンに接続された信号線路１１ｂと接地線との間に
は、通電時に点灯する発光ダイオードＬＤ１ｂが挿入接
続されている。これらの信号線１１ａ，１１ｂの他方端
には、上述の逆接続確認回路１２ａが接続される。
Ｊ）１０の１番と２番にはペア信号線１１ａ，１１ｂの
一方端が接続されており、このペア信号線の１つの信号
線路、例えばＭＪ１０の１番ピンに接続された信号線路
１１ａには、上述の電源部２から直流電圧Ｅａに基づく
電流が供給されるようになっている。また、ＭＪ１０の
２番ピンに接続された信号線路１１ｂと接地線との間に
は、通電時に点灯する発光ダイオードＬＤ１ｂが挿入接
続されている。これらの信号線１１ａ，１１ｂの他方端
には、上述の逆接続確認回路１２ａが接続される。
【００２２】ＭＪ１０には、図示のように、その３番ピ
ンと６番ピンにもペア信号線１１ｃ，１１ｄが接続され
る。そのため、上記ペア信号線１１ａ，１１ｂの場合と
同様に、３番ピンに直流電流Ｅｂに基づく電流を供給
し、６番ピンと接地線との間に発光ダイオードＬＤ２ｂ
を挿入接続するとともに、ペア信号線１１ｃ，１１ｄの
他方端に逆接続確認回路１２ｂを接続する。
ンと６番ピンにもペア信号線１１ｃ，１１ｄが接続され
る。そのため、上記ペア信号線１１ａ，１１ｂの場合と
同様に、３番ピンに直流電流Ｅｂに基づく電流を供給
し、６番ピンと接地線との間に発光ダイオードＬＤ２ｂ
を挿入接続するとともに、ペア信号線１１ｃ，１１ｄの
他方端に逆接続確認回路１２ｂを接続する。
【００２３】なお、試験実施時には、直流電圧Ｅａ，Ｅ
ｂに基づく電流は、各々電源部２から異なるタイミング
で別々に供給する。給電タイミングの切換自体は公知の
技術を採用できるため、ここでは敢えて図示しない。ま
た、発光ダイオードＬＤ１ｂ，ＬＤ２ｂは、上述の電流
検出部３の回路をそのまま使用することができる。
ｂに基づく電流は、各々電源部２から異なるタイミング
で別々に供給する。給電タイミングの切換自体は公知の
技術を採用できるため、ここでは敢えて図示しない。ま
た、発光ダイオードＬＤ１ｂ，ＬＤ２ｂは、上述の電流
検出部３の回路をそのまま使用することができる。
【００２４】次に、上記構成のＬＡＮテスタによる接続
方向の確認試験の具体例を図１０及び図１１を参照して
説明する。図１０（ａ）はＭＪ１０の配線が正常の場
合、すなわちペア信号線１１ａ，１１ｂが順方向に接続
されている場合の状態を示す図である。この場合は、Ｍ
Ｊ１０の１番ピンから供給される電流が逆接続確認回路
１２ａのダイオードＤ１１を通ってＭＪ１０の２番ピン
に到達するため、発光ダイオードＬＤ１ａが点灯する。
これによりＭＪ１０の配線が正常であることを視認する
ことができる。
方向の確認試験の具体例を図１０及び図１１を参照して
説明する。図１０（ａ）はＭＪ１０の配線が正常の場
合、すなわちペア信号線１１ａ，１１ｂが順方向に接続
されている場合の状態を示す図である。この場合は、Ｍ
Ｊ１０の１番ピンから供給される電流が逆接続確認回路
１２ａのダイオードＤ１１を通ってＭＪ１０の２番ピン
に到達するため、発光ダイオードＬＤ１ａが点灯する。
これによりＭＪ１０の配線が正常であることを視認する
ことができる。
【００２５】図１０（ｂ）はＭＪ１０の配線が異常の場
合、すなわちペア信号線１１ａ，１１ｂが逆接続されて
いる場合の状態を示す図である。この場合は、ＭＪ１０
の１番ピンに供給される電流が他方の信号線１１ｂの方
から逆接続確認回路１２ａに到達するため、発光ダイオ
ードＬＤ１ａが点灯する。また、発光ダイオードＬＤ１
ａを通った電流は、ＭＪ１０の６番ピンに到達するの
で、発光ダイオードＬＤ１ｂも点灯する。したがって、
この場合は、ＭＪ１０の１番ピンと２番ピンとが逆に接
続されていることが視認により判る。
合、すなわちペア信号線１１ａ，１１ｂが逆接続されて
いる場合の状態を示す図である。この場合は、ＭＪ１０
の１番ピンに供給される電流が他方の信号線１１ｂの方
から逆接続確認回路１２ａに到達するため、発光ダイオ
ードＬＤ１ａが点灯する。また、発光ダイオードＬＤ１
ａを通った電流は、ＭＪ１０の６番ピンに到達するの
で、発光ダイオードＬＤ１ｂも点灯する。したがって、
この場合は、ＭＪ１０の１番ピンと２番ピンとが逆に接
続されていることが視認により判る。
【００２６】また、ＭＪ１０における他の信号線路間の
誤配線の有無もこのＬＡＮテスタにより視認することが
できる。例えば図１１（ａ）は、ＭＪ１０の３番ピンに
電流を供給すると、正常配線時には発光ダイオードＬＤ
２ａ，ＬＤ２ｂが点灯すべきところ、他の発光ダイオー
ドＬＤ１ａ，ＬＤ１ｂが点灯している。この状態は、図
示のように、ＭＪ１０における配線が順次上方へずれて
いることを意味しているので誤配線であることを視認す
ることができる。また、図１１（ｂ）に示すように、Ｍ
Ｊ１０の１番ピンに電流を流したときに、本来点灯すべ
きでない発光ダイオードＬＤ２ａ，ＬＤ２ｂが点灯する
場合も、ＭＪ１０の配線が正常でないことを表してい
る。このように、ＭＪ１０への給電タイミングと発光ダ
イオードＬＤ１ａ，ＬＤ１ｂ，ＬＤ２ａ，ＬＤ２ｂの点
灯パターンとの組合せにより、ＭＪ１０の接続方向の確
認試験を容易に実施することができる。
誤配線の有無もこのＬＡＮテスタにより視認することが
できる。例えば図１１（ａ）は、ＭＪ１０の３番ピンに
電流を供給すると、正常配線時には発光ダイオードＬＤ
２ａ，ＬＤ２ｂが点灯すべきところ、他の発光ダイオー
ドＬＤ１ａ，ＬＤ１ｂが点灯している。この状態は、図
示のように、ＭＪ１０における配線が順次上方へずれて
いることを意味しているので誤配線であることを視認す
ることができる。また、図１１（ｂ）に示すように、Ｍ
Ｊ１０の１番ピンに電流を流したときに、本来点灯すべ
きでない発光ダイオードＬＤ２ａ，ＬＤ２ｂが点灯する
場合も、ＭＪ１０の配線が正常でないことを表してい
る。このように、ＭＪ１０への給電タイミングと発光ダ
イオードＬＤ１ａ，ＬＤ１ｂ，ＬＤ２ａ，ＬＤ２ｂの点
灯パターンとの組合せにより、ＭＪ１０の接続方向の確
認試験を容易に実施することができる。
【００２７】以上、複数の実施の形態を示して本発明を
説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるも
のでないことはいうまでもない。例えば電流検出部３、
あるいは逆接続確認回路１２ａ，１２ｂにおいて発光ダ
イオードを使用することにより、通電状態を検出するよ
うに構成されているが、他にも流れる電流値をメータ表
示するものや、音（音色や音量）によって外部に報知す
るように構成してもよい。
説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるも
のでないことはいうまでもない。例えば電流検出部３、
あるいは逆接続確認回路１２ａ，１２ｂにおいて発光ダ
イオードを使用することにより、通電状態を検出するよ
うに構成されているが、他にも流れる電流値をメータ表
示するものや、音（音色や音量）によって外部に報知す
るように構成してもよい。
【００２８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、電流検出部による電流検出の有無により、信
号線路に断線等の障害があるか否かを判断することがで
き、順極性検出部及び逆極性検出部によるパルス検出の
有無により信号線が正しい極性となっているか逆極性と
なっているかを確認することができる。また、送信用信
号線のパルスを受信用信号線に折り返すことにより擬似
信号を発生させることができ、接続されるＨＵＢまたは
ＡＵＩの動作状態を確認することができる。さらに、配
線の誤接続等も容易に確認することができる。
によれば、電流検出部による電流検出の有無により、信
号線路に断線等の障害があるか否かを判断することがで
き、順極性検出部及び逆極性検出部によるパルス検出の
有無により信号線が正しい極性となっているか逆極性と
なっているかを確認することができる。また、送信用信
号線のパルスを受信用信号線に折り返すことにより擬似
信号を発生させることができ、接続されるＨＵＢまたは
ＡＵＩの動作状態を確認することができる。さらに、配
線の誤接続等も容易に確認することができる。
【図１】本発明におけるＬＡＮテスタの一実施形態を示
す回路図。
す回路図。
【図２】本発明のＬＡＮテスタにより導通試験を行う場
合のＨＵＢ，ＡＵＩとの接続関係を示す図。
合のＨＵＢ，ＡＵＩとの接続関係を示す図。
【図３】本発明のＬＡＮテスタによる導通試験での動作
例を説明するための図１の要部抽出図。
例を説明するための図１の要部抽出図。
【図４】本発明のＬＡＮテスタにより極性試験を行う場
合のＨＵＢとの接続関係を示す図。
合のＨＵＢとの接続関係を示す図。
【図５】本発明のＬＡＮテスタにより通信モニタを行う
場合のＨＵＢ，ＡＵＩとの接続関係を示す図。
場合のＨＵＢ，ＡＵＩとの接続関係を示す図。
【図６】本発明のＬＡＮテスタによる極性試験及び通信
モニタでの動作例を説明するための図１の要部抽出図。
モニタでの動作例を説明するための図１の要部抽出図。
【図７】図４におけるトリガパルス（キャリア成分）の
波形例を示す図。
波形例を示す図。
【図８】図５における通信中の波形例を示す図。
【図９】ＬＡＮ配線に用いられる汎用の８ピンのモジュ
ラージャックの誤配線の有無の確認試験を行う場合の構
成例を示す図。
ラージャックの誤配線の有無の確認試験を行う場合の構
成例を示す図。
【図１０】（ａ）はペア信号線が順方向に接続されてい
る場合の状態を示す図，（ｂ）は（ｂ）はペア信号線が
逆接続されている場合の状態を示す図。
る場合の状態を示す図，（ｂ）は（ｂ）はペア信号線が
逆接続されている場合の状態を示す図。
【図１１】（ａ），（ｂ）は、共に他の信号線路間が誤
接続されている状態を示す図。
接続されている状態を示す図。
１ＬＡＮテスタ ２ 電源部 ３ 電流検出部 ４ 順極性検出部 ５ 逆極性検出部 ６ 第一切替スイッチ（切替スイッチ） ７ 第二切替スイッチ（折り返し接続部） １０ モジュラージャック（ＭＪ） １１，１１ａ〜１１ｄ 信号線路 １２ａ，１２ｂ 逆接続確認回路 ２０，４０ ＨＵＢ ５０ ＡＵＩ
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−11178（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−71373（ＪＰ，Ａ) 実開 平７−6773（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭51−42444（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/02 H04L 13/00
Claims (2)
- 【請求項１】 ＬＡＮ配線用のペア信号線が接続される
一対の送信用端子（ＳＡ,ＳＢ）と一対の受信用端子
（ＲＡ、ＲＢ）とからなる試験用端子と、 入力された信号を折り返して出力可能な回路を含むＬＡ
Ｎと前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）又は前記一対
の受信用端子（ＲＡ，ＲＢ）とが前記ペア信号線で接続
されたときにこのペア信号線によって閉回路を形成する
とともに当該閉回路の導通の有無を検出する第１の試験
回路、及び、前記一対の送信用端子（ＳＡ，ＳＢ）から
入力される信号の極性を検出する第２の試験回路を含む
電子回路と、 この電子回路に直流電力を供給する電源部（Ｅ）と、 前記電子回路のうち前記第１の試験回路又は前記第２の
試験回路を動作させるためにオン状態とオフ状態とを選
択的に形成する切替回路（１ａ，Ｑ３）とを有し、 前記第１の試験回路は、 前記一対の受信用端子（ＲＡ、ＲＢ）が前記ＬＡＮ及び
ペア信号線を通じて導通し且つ前記切替回路（１ａ，Ｑ
３）がオン状態のときに通電してその通電状態を明示す
る第１の単向性素子（ＬＹ１）と、前記一対の送信用端
子（ＳＡ、ＳＢ）が前記ＬＡＮ及びペア信号線を通じて
導通し且つ前記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態のと
きに通電してその通電状態を明示する第２の単向性素子
（ＬＹ２）とを有し、 前記第２の試験回路は、 それぞれ前記切替回路（１ａ，Ｑ３）がオン状態のとき
にオフ状態、オフ状態のときにオン状態となる第１トラ
ンジスタ（Ｑ２）及び第２トランジスタ（Ｑ４）が互い
に並列に接続されており、 第１トランジスタ（Ｑ２）は、一方の送信用端子（Ｓ
Ａ）に負パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に正パルス
が印加されているときにオン状態となるものであり、 第２トランジスタ（Ｑ４）は、一方の送信用端子（Ｓ
Ａ）に正パルス、他方の送信用端子（ＳＢ）に負パルス
が印加されているときにオン状態となるものであり、 さらに、 前記第２トランジスタ（Ｑ４）がオン状態のときに通電
してその通電状態を明示する第３の単向性素子（ＬＧ）
と、 前記第１トランジスタ（Ｑ２）がオン状態のときに通電
してその通電状態を明示する第４の単向性素子（ＬＲ）
とを有することを特徴とする、 ＬＡＮテスタ。 - 【請求項２】 前記第１トランジスタ（Ｑ２）の出力端
子と前記第４の単向性素子（ＬＲ）との間、及び、前記
第２トランジスタ（Ｑ４）の出力端子と前記第３の単向
性素子（ＬＧ）との間に、それぞれ前記一対の送信用端
子（ＳＡ，ＳＢ）に印加される正パルス又は負パルスの
極性状態を一定時間維持する平滑化回路（Ｃ１，Ｒ４，
Ｒ５，Ｑ１，Ｃ２，Ｒ１５，Ｒ１６，Ｑ５）が介在する
ことを特徴とする、 請求項１記載のＬＡＮテスタ。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13216496A JP3264827B2 (ja) | 1995-07-26 | 1996-05-27 | Ｌａｎテスタ |
| AU65315/96A AU703954B2 (en) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | Lan tester |
| CA002200729A CA2200729C (en) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | Lan tester |
| US08/809,808 US6087835A (en) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | LAN tester |
| KR1019970701568A KR100258708B1 (ko) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | Lan 테스터 |
| EP96925099A EP0784207A4 (en) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | LAN EXAMINER |
| PCT/JP1996/002106 WO1997005494A1 (en) | 1995-07-26 | 1996-07-26 | Lan tester |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7-189992 | 1995-07-26 | ||
| JP18999295 | 1995-07-26 | ||
| JP13216496A JP3264827B2 (ja) | 1995-07-26 | 1996-05-27 | Ｌａｎテスタ |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000270731A Division JP2001127714A (ja) | 1995-07-26 | 2000-09-06 | Ｌａｎテスタ |
| JP2001346555A Division JP3492345B2 (ja) | 1995-07-26 | 2001-11-12 | Ｌａｎテスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| JP3264827B2 true JP3264827B2 (ja) | 2002-03-11 |
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ID=26466795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13216496A Expired - Lifetime JP3264827B2 (ja) | 1995-07-26 | 1996-05-27 | Ｌａｎテスタ |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
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| EP (1) | EP0784207A4 (ja) |
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| KR (1) | KR100258708B1 (ja) |
| AU (1) | AU703954B2 (ja) |
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| WO (1) | WO1997005494A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6480510B1 (en) | 1998-07-28 | 2002-11-12 | Serconet Ltd. | Local area network of serial intelligent cells |
| US6434716B1 (en) * | 1999-01-29 | 2002-08-13 | Psiber Data Systems Inc. | Network link tester device configured to selectively and automatically couple to a network transmit pair line or a node transmit pair line of a LAN port and determine available operational modes |
| US6956826B1 (en) | 1999-07-07 | 2005-10-18 | Serconet Ltd. | Local area network for distributing data communication, sensing and control signals |
| US6549616B1 (en) | 2000-03-20 | 2003-04-15 | Serconet Ltd. | Telephone outlet for implementing a local area network over telephone lines and a local area network using such outlets |
| US6842459B1 (en) | 2000-04-19 | 2005-01-11 | Serconet Ltd. | Network combining wired and non-wired segments |
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