KR100258708B1 - Lan 테스터 - Google Patents

Lan 테스터 Download PDF

Info

Publication number
KR100258708B1
KR100258708B1 KR1019970701568A KR19970701568A KR100258708B1 KR 100258708 B1 KR100258708 B1 KR 100258708B1 KR 1019970701568 A KR1019970701568 A KR 1019970701568A KR 19970701568 A KR19970701568 A KR 19970701568A KR 100258708 B1 KR100258708 B1 KR 100258708B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal line
polarity
test
lan
pair
Prior art date
Application number
KR1019970701568A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970705756A (ko
Inventor
마사지 하네다
Original Assignee
감바야시 도메오
엔티티 데이터 쭈우신 가부시키카이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 감바야시 도메오, 엔티티 데이터 쭈우신 가부시키카이샤 filed Critical 감바야시 도메오
Publication of KR970705756A publication Critical patent/KR970705756A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100258708B1 publication Critical patent/KR100258708B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

LAN배선의 도통시험, 극성시험 및 동작시험을 행하는 LAN테스터 1에 있어서, 시험할 페어신호선의 한쪽단부에 있어서 한쪽의 신호선로에 전원전류를 공급하는 전원부(2)와, 다른쪽의 신호선로에 흐르는 전류를 검출하는 전류검출부(3)와, 양극측신호선로 및 음극측신호선로에서의 양 및 음펄스를 검출하는 순극성검출부(4)와, 음 및 양펄스를 검출하는 역극성 검출부(5)와, 도통시험모드시에, 전원부(2) 및 전류검출부(5)를 동작시키고, 극성시험 모드시에 순극성검출부(4) 및 역극성검출부(5)를 동작시키는 제1절환 스위치(6)과, 극성시험모드시에 송신용신호선의 접속단자와 수신용신호선의 접속단자를 각각 접속하여 되돌림으로써 동작시험모드를 실현하는 제2절환스위치(7)를 구비하도록 한다. 이에 의하여, 한쪽 단부만에서 케이블도통시험이나 접속확인시험을 할 수 있고, 더욱이, HUB를 포함하여 간이동작시험도 가능한 LAN테스터를 제공할 수 있다.

Description

[발명의 명칭]
LAN테스터
[기술분야]
본 발명은, LAN(Local Area Network)에서의 단선, 단락, 극성검사, 접속시험, 역접속시험등을 간이(簡易)하게 행하는 시험장치에 관한 것이다.
[배경기술]
종래, 퍼스널컴퓨터등의 비교적 소규모의 데이터처리장치는, 단독으로 사용되는 것이 많았다. 그런데, 근래에 있어서의 데이터 처리능력의 향상과 더불어 소형화추세에 있어, 축적된 데이터를 효과적으로 이용하기 위하여, 예를 들면, 회사내나 부서(department)내등의 특정범위내에서의 복수의 데이터처리장치를 각각 네트워크로 접속하여 분산처리시스템을 구성하거나, 또는, 분산처리까지는 행하지 않으나 간단한 네트워크를 구축하는 것이 잘 행해지고 있다.
이와같은 네트워크는, 일반적으로 LAN이라 불리우고 있다. 가장 간단한 LAN의 구축의 하나로, 네트워크용의 OS(Operating System)와, 피어·투·피어(peer-to-peer)에 의한 10BASE2나 10BASE-T등을 조합한 것이 있다. 이중 10BASE-T에 의한 LAN결선은, 비교적 간단하고, 일부러 전문가에 의뢰하여 결선(結線)하여 받지 않아도 수요자측에서 행하는 것이 가능하다. 이 때문에, 10BASE-T에 의한 LAN구축시에는, 그 배선은 수요자가 독자적으로 행하는 경우가 많았다.
그러나, 10BASE-T의 배선이 어느정도 간단하다고는 하더라도, 배선미스가 있으면 네트워크로선 기능하지 않는다. 또, LAN의 규모가 커짐에 따라 케이블수도 늘고, 배선도 번잡하게 된다. 이와같은 상태에서, 예를들면, 케이블 단선이나 오배선등의 장해가 발생한 경우, 어느 케이블에 대하여 장해가 발생하고 있는지를 발견하기 위한 순서가 필요하게 된다. 이와같은 순서로서는 먼저, 각 케이블의 양단(일단 및 타단)에 되돌리기(loopback)용 커넥터를 접속함과 동시에, 루프(loop)저항등을 포함하는 전용의 케이블시험기를 접속하고, 각 케이블에 대하여 도통시험을 행함으로써, 케이블 마다 단선이나 오배선의 유무를 확인하고 장해가 발생한 케이블을 찾아내는 방법이 사용되고 있다.
그러나, 이와같은 종래의 단선케이블의 탐색방법에서는, 시험하는 케이블의 양단에 되돌리기용 커넥터를 접속할 필요가 있다. 그리고 일단부에 되돌리기용 커넥터를 접속한 후에 타단부에도 되돌리기용 커넥터를 접속하기 위해서는 일단부에 되돌리기용 커넥터를 접속한 케이블을 추적하는 작업이 필요하게 된다. 이와같이, 어느 케이블에 대하여 되돌리기용 커넥터를 접속할 것인지를 발견하는 작업은, 번잡한 배선 안에서는 대단한 작업이다. 이 때문에, 종래의 도통시험에서는, 장해의 발견에는 극히 많은 노력을 요하게 된다.
또, 도통시험을 행하기위한 되돌리기용 커넥터의 접속작업에는 연결의 잘못이나 접속불량등이 새로운 장해의 원인으로 작용하는 문제점이 있다. 더욱이, 종래의 도통 시험에서는, 케이블의 시험밖에 행할 수 없고, HUB등을 포함한 접속확인시험을 실행할 수 없는 문제점이 있었다.
본 발명은, 상기 문제점을 해소하고, 일단부에서는 케이블 도통시험이나 오배선확인시험을 함과 동시에, HUB등을 포함하여 간이동작시험도 가능한 LAN테스터를 제공하는 것을 과제로 한다.
[발명의 개시]
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 LAN테스터는, 도통시험을 하는 경우에, 단독, 또는 절환스위치(제1절환 스위치)에 의해, 동작 모드로서 도통시험 모드를 선택하고, 2개의 신호선로를 페어(pair)신호선의 일단부에서 어느 한 개의 신호선로에 전원충전을 공급하는 전원부와, 시험할 페어신호선의 일단부에서 상기 전원부에 의해서 전원전류를 공급하지 않는 측의 신호선로에 흐르는 전류를 검출하는 전류검출부를 구비하도록 구성한다. 이에 의하여, 신호선로에 단선등의 장해가 있는 경우, 전류검출부에서는 전류가 검출되지 않고, 신호선로에 이상이 없는 경우에는, 전류검출부에서 소정의 전류가 검출된다.
극성시험을 하는 경우는, 단독, 또는 절환스위치(제1절환 스위치)에 의하여, 동작 모드로서 극성시험 모드를 선택하고, 시험할 신호선의 일단부에서 양극측신호선로로 부터의 양펄스 및 음극측 신호선로로부터의 음펄스를 검출하는 순(順)극성검출부와, 시험할 신호선의 일단부에서 양극신호선로로 부터의 음펄스 및 음극측신호선로로부터의 양펄스를 검출하는 역(逆)극성검출부를 구비하도록 구성하여도 좋다.
이에 의하여, 순극성검출부에 의해 펄스가 검출된 경우, 신호선은 순극성으로 되어 있는 것이 확인된다. 한편, 역극성검출부에 의해 펄스가 검출된 경우, 신호선은 역극성으로 되어 있는 것이 확인된다.
또, 시험동작을 행하는 경우에는, 단독 또는 제1절환스위치와 제2절환스위치에 의하여, 동작 모드로서 동작시험 모드를 선택하고, 송신용 신호선을 접속하기 위한 단자와 수신용신호선을 접속하기 위한 단자를 각각 접속하는 되돌리기용 접속부와, 시험할 신호선의 일단부에서 양극측신호선로로 부터의 양펄스 및 음극측신호선로로부터의 음펄스를 검출하는 순극성검출부와, 시험할 신호선의 일단부에서 양극측신호선로로부터의 음펄스 및 음극측신호선로로부터의 양펄스를 검출하는 역극성 검출부를 구비하도록 구성한다. 이에 의하여, 송신용 신호선의 펄스가 수신용의 신호선으로 되돌려져서 의사신호가 발생되므로 접속되는 HUB(허브 : LAN을 구축하기 위한 집선장치) 또는 AUI(Attachment Unit Interface)의 동작상태가 순극성검출부 및 역극성검출부에 의해서 확인될 수 있다.
또, 접속방향의 확인시험을 행하는 경우는, 도통시험을 행하는 경우와 마찬가지로 단독, 또는 절환 스위치(제1절환스위치)로서, 동작모드로서 도통신호모드를 선택하고, 시험할 페어신호선의 일단부에 있어서 어느 하나의 신호선로에 전원전류를 공급하는 전원부와, 상기 페어 신호선의 일단부에 있어서 상기 전원부에 의해 전원전류를 공급하지 않는 측의 신호선로에 삽입접속되는 역접속확인회로를 구비하도록 구성한다. 이 역접속확인회로는, 적어도 한쪽이 통전시에 그 상태를 명시하는 1쌍의 단향성(單向性)소자를 역병열접속하여 되는 것이다. 이에 의하여, 순방향 접속시와 역방향 접속시에 역접속확인회로에서의 단향성 소자의 상태가 다르므로, 접속상태를 확인할 수 있다.
더욱이, 복수의 페어신호선에 대한 접속방향의 확인시험을 행하는 경우에 구비하여, 상기 역접속확인회로를 복수배치함과 동시에, 각 역접속확인회로에 접속되는 복수의 페어신호선에 전원전류를 공급하는 상기 전원부의 급전 타이밍을 제어하는 전원제어수단을 설치하는 것이 바람직하다.
[도면의 간단한 설명]
제1도는, 본 발명에서의 LAN테스터에 1실시형태를 도시한 회로도이고, 제2도는, 본 발명의 LAN테스터로서 도통시험을 행하는 경우의 HUB 또는 AUI와의 접속관계를 도시한 도이고, 제3도는, 본 발명의 LAN테스터로서 도통시험에서의 동작예를 설명하기 위한 제1도의 요부추출도이고, 제4도는, 본 발명의 LAN테스터로서 극성시험을 행하는 경우의 HUB와의 접속관계를 도시한 도이고, 제5도는 본 발명의 LAN테스터로서 통신 모니터를 하는 경우의 HUB 및 AUI와의 접속관계를 도시한 도이고, 제6도는, 본 발명의 LAN테스터에 의한 극성시험 및 통신 모니터로서의 동작예를 설명하기 위한 제1도의 요부추출도이고, 제7도는 제4도에서의 트리거펄스(캐리어성분)의 파형예를 도시한 도이고, 제8도는 제5도에서의 통신중의 파형예를 도시한 도이고, 제9도는 본 발명의 LAN테스터로서 간이동작시험을 행하는 경우의 HUB 또는 AUI와의 접속관계를 도시한 도이고, 제10a도와 제10b도는, 본 발명의 LAN테스터에 의한 간이동작시험으로서의 동작예를 설명하기 위한 제1도의 요부추출도이고, 제11도는, LAN배선에 쓰이는 범용의 8핀의 모듈러잭의 오배선의 유무의 확인시험을 행하는 경우의 구성예를 도시한 도이고, 제12a도는, 페어신호선이 순방향으로 접속되어 있는 경우의 상태를 도시한 도이고, 제12b도는 페어신호선이 역접속되어 있는 경우의 상태를 도시한 도이고, 제13a도와 제13b도는 모두 다른 신호배선사이가 오접속되어 있는 상태를 도시한 도이다.
[발명을 실시하기 위한 최량의 상태]
다음에, 본 발명의 LAN테스트의 실시형태를 제1도∼제10도를 참조하여 설명한다.
제1도는 이 LAN테스트를 실현하는 경우의 실시예를 도시한 회로 구성도이고, 대별하여, 전원부 2와, 전류검출부 3과, 순극성검출부 4와, 역극성검출부 5와, 제1절환스위치(절환스위치) 6과, 되돌리기 접속부의 기능을 가지는 제2절환 스위치 7로서 된다. 더욱이 도면중, RA, RB는 수신용 단자이고, SA, SB는 송신용 단자이다.
전원부 2는 전원스위치 SWP, 내장전지 E로서 구성되고, 전류검출부 3은 바이폴라트랜지스터 Q3, 황색으로 점등하는 발광 다이오드 LY1, LY2, 및 복수의 저항 R1, R7, R8, R14로서 구성된다. 더욱이, 저항 R7, R8은, 바이폴라트랜지스터 Q3을 온으로 하고, 바이폴라 트랜지스터 Q2를 오프로 함과 동시에, 송신단자 SA에 대하여 전원전류를 공급하기 위하여 설치되어 있다. R1, R14는 560Ω, R7, R8은 10kΩ정도가 적당하다.
순극성 검출부 4는, 바이폴라트랜지스터 Q4 및 전계효과형 트랜지스터 Q5, 녹색으로 점등하는 발광다이오드 LG, 저항 R12, R13, R15, R16 및 콘덴서 C2로서 구성되어 있다. 역극성검출부 5는 바이폴라트랜지스터 Q2, 전계효과형 트랜지스터 Q1, 적색으로 점등하는 발광다이오드 LR, 및 저항 R4, R5, R6, R9, 콘덴서 C1로서 구성되어 있다. 더욱이 저항 R10, R11은, 바이폴라이트랜지스터 Q2, Q4에 바이어스를 걸기위하여 설치되어 있다. 또, 콘덴서 C1 및 저항 및 R5, 콘덴서 C2 및 저항 R15로서 평활회로가 구성되어 있다. 저항 R6, R9, R12, R13은 1㏀, 저항 R10은 270Ω, 저항 R11은 4.7㏀, 저항 R4, R16은 500㏀, 저항 R5, R15는 5MΩ, 콘덴서 C1, C2는 0.1㎌정도가 적당하다.
제1절환스위치 6은, 제3도에 도시한 바와같이, 접속단자 1a의 온·오프를 행함과 동시에, 송신용 단자 SB를 접속단자 2a 또는 2b의 어느것인가에 접속하는 스위치 SW1로서 된다. 제2절환 스위치 7은, 제10b도에 도시한 바와같이, 송신용 단자 SA와 수신용단자 RA, 또, 송신용 단자 SB와 수신용단자 RB를 각각 접속하는 스위치 SW2로서 구성되어 있다.
다음에, 본 발명의 LAN테스터에 의한 각 시험에 대하여 설명한다.
제2도는 본 발명의 LAN테스터에 의하여 도통시험을 행하는 경우의 HUB(또는 AUI) 20과의 접속관계를 도시한 도이고, 제3도는 도통시험에서 동작예를 설명하기 위한 제1도의 요부를 추출하는 회로구성도이다.
즉, 도통시험시에는, 바이폴라트랜지스터의 Q3이 온함으로써 바이폴라트랜지스터 Q2는 오프하고, 파일롯(pilot)데이터의 감시는 정지한다. 또, 스위치 SW1(2b부분)이 떨어짐으로써 바이폴라트랜지스터 Q4에는 신호전류가 흐르지 않게 되고, 동작하지 않는다. 이 때문에, 제1도에 도시한 LAN테스터 1은, 제3도에 도시한 회로와 등가의 것으로 된다.
먼저, 수신용의 도통시험을 행하는 경우, 제2도에 도시한 바와 같이, LAN 테스터1의 수신용단자 RA, RB에 HUB 20을 접속하고, 전원스위치 SWP를 온으로한다. 이 상태에서, 스위치 SW1을 누르면 수신선 또는 HUB 20이 정상이면, 제3도에 도시한 바와같이, 전원전류가 수신용단자 RA, RB사이를 통하여, 발광다이오드 LY1→다이오드 D1→저항 R1→스위치 SW1(1a 부분)→접지 GND의 경로로 흐른다. 이 때문에, 발광다이오드 LY1이 황색으로 점등하고, 수신선이 정상이라는 것이 외부에 보지(報知)된다.
또, 수신선 또는 HUB 20에 단선 등의 장해가 있는 경우, 전술한 전류경로가 차단되게 된다. 이 때문에, 발광다이오드 LY1은 점등하지 않고, 수신선 또는 HUB 20에 이상이 있다는 것을 알 수 있다.
한편, 송신선의 도통시험을 행하는 경우, 제2도에 도시한 바와같이, LAN테스터의 1의 송신용 단자 SA, SB에 HUB 20을 접속하고, 전원스위치 SWP를 온으로 한다. 이 상태에서, 스위치 SW1을 누르면, 바이폴라트랜지스터 Q3의 베이스 전류가 저항 R8을 통하여 스위치 SW1(1a부분)에서 접지 GND에 흐르기 때문에, 바이폴라 트랜지스터 Q3은 온으로 된다.
바이폴라트랜지스터 Q3이 온(ON)으로 하면, 송신선 또는 HUB 20이 정상이면, 제3도에 도시한 바와같이, 전원전류가 송신용단자 SA, SB사이를 통하여, 스위치 SW1(2a부분)→저항R14→발광다이오드 LY2→접지 GND의 경로로 흐른다. 이 때문에, 발광다이오드 LY2가 황색으로 점등하고, 송신선 또는 HUB 20이 정상이라는 것을 외부에 보지된다.
또, 송신선 또는 HUB 20에 단선등의 장해가 있는 경우, 전술한 전류경로가 차단되게 된다. 이 때문에, 발광 다이오드 LY2는, 점등하지 않고, 송신선 또는 HUB 20에 이상이 있다는 것을 알 수 있다.
이와같은, 배선 케이블의 도통시험은, 되돌리기 기구(loopback tool)를 사용하지 않고 HUB 또는 AUI내의 코일을 통하여 행한다. 즉, 되돌리기 기구를 사용하지 않으므로, 종래와 같이, 배선 케이블을 추적하는 작업은 불필요하게 되고, 탐색작업에 걸리는 노력을 대폭으로 경감할 수 있다.
제4도는, 본 발명의 LAN테스터 1에 의하여 극성시험을 행하는 경우의 HUB 40과의 접속관계를 도시한 도, 제5도는, 본 발명의 LAN테스터 1로서 통신모니터를 행하는 경우의 HUB 40, AUI 50과의 접속관계를 도시한 도이고, 제6도는 극성시험 및 통신 모니터에서의 동작예를 설명하기 위하여 제1도의 요부를 추출한 회로구성도이다.
즉, 극성시험 및 모니터시에는, 바이폴라트랜지스터 Q3이 오프하고 있으므로 바이폴라 트랜지스터 Q2, Q4는 능동상태로 된다. 또, 스위치 SW1(2b 부분)이 단자 SB와 접속됨으로써 파일롯 데이터의 감시기능이 작용한다. 이 때문에, 제1도에 도시한 테스터 1은, 제6도에 도시한 바와같이, LAN테스터의 단자 SA, SB에 HUB를 접속하고, 전원스위치 SWP를 온으로 한다. 이 상태에서, 스위치 SW1은, 눌리어져 있지 않으므로 바이폴라트랜지스터 Q3에는, 베이스 전류가 흐르지 않는다. 이로써 바이폴라 트랜지스터 Q3오프로 되고, 저항 R10, R11로서 설정되는 전원전압 분압비에 의하여 바이폴라트랜지스터 Q2 및 바이폴라트랜지스터 Q4에 약간의 바이어스가 주어진다.
이 상태에 있어서 제7도에 도시한 바와같이, 펄스신호가 트리거 펄스로 되어, 단자 SA에 양펄스, 단자 SB에 음펄스가 연속하여 인가되면, 펄스인가에 대응하여 바이폴라 트랜지스의 Q4에 단속(斷續)적으로 베이스 전류가 흐른다. 이에 의하여 바이폴라 트랜지스터 Q4는, 단속적으로 온하게 된다.
바이폴라트랜지스터 Q4가 단속적으로 온하면, 단속적인 펄스상의 전압이 저항 R16을 거쳐서 전계효과형 트랜지스터 Q5에 인가되게 된다. 그런데, 이 펄스상의 전압은, 저항 R15 및 콘덴서 C2로서 구성되는 시정수회로에 의하여 평활화되므로, 전계효과형 트랜지스터 Q5는 온하여 발광 다이오드 LG가 녹색으로 점등하고 정확한 극성(순극성)으로 접속되어 있다는 것이 외부에 보지된다.
한편, 단자 SA에 음펄스, 단자 SB에 양펄스가 연속하여 인가되면, 펄스인가에 대응하여 바이폴라 트랜지스터 Q2에 단속적으로 베이스 전류가 흐른다. 이에 의하여, 바이폴라 트랜지스터 Q2는 단속적으로 온하게 된다.
바이폴라 트랜지스터 Q2가 단속적으로 온하면, 단속적인 펄스상의 전압이 저항 R4를 통하여 전계 효과형 트랜지스터Q1에 인가된다. 그런데, 이 펄스상의 전압은, 저항 R5 및 콘덴서 C1로서 구성되는 시정회수로에 의하여 평활화되므로, 전계효과형 트랜지스터 Q1은 온하여 발광 다이오드 LR이 적색으로 점등하고, 잘못된 극성(역극성)으로 접속되어 있다는 것이 외부에 보지된다.
이와같이, 발광 다이오드 LG 또는 발광 다이오드 LR의 점등으로서, 신호의 유무 및 극성의 확인을 용이하게 할 수가 있다.
또, 통신 모니터를 행하는 경우, 본 발명의 LAN테스터 1을 통신케이블사이에 삽입하고, 제5도에 도시한 바와같이 HUB 40, AUI50을 접속한다. 이에 의하여, 제8도에 도시한 바와같은, 통신파형이 인가되면, 전술한 극성시험에서의 동작으로서, 통신상태를 모니터 할 수가 있다.
즉, 단자 SA에 양펄스, 단자 SB에 음펄스가 연속하여 인가되는 바와같은 파형이 인가되었을때에는 발광 다이오드 LG가 녹색으로 점등한다. 또, 단자 SA에 음펄스, 단자 SB에 양펄스가 연속하여 인가되는 파형이 인가되었을때에는 발광 다이오드 LR이 적색으로 점등한다. 이 때문에 각 발광 다이오드 LG, LR의 점멸에 의해 용이하게 신호의 모니터를 행할 수가 있다. 더욱이 트랜지스터의 Q1, Q5를 온시키기 위한 케이블에 흐르는 신호전압은, 제7도에 도시한 바와같이 매우 짧은 펄스이다. 이로써, 이 펄스에 의하여 발광다이오드 LG, LR을 구동·점등시켜도 육안으로는 인식하는 것이 어렵다. 이 때문에, 콘덴서 C1, C2에 의하여 점등시간의 폭을 조절하여, 점등상태를 보기좋게 하고 있다.
이와같이, 극성의 판단은, 신호펄스의 방향을 검지함으로써 2개의 발광 다이오드 LG, LR의 점멸에 의해 용이하게 판단할 수가 있다.
제9도는 본 발명의 LAN테스터 1로서 간이동작시험을 행하는 경우의 HUB 40과 접속관계를 도시한 도이고, 제10도는 본 발명의 LAN테스터에 의한 간이동작시험에서의 동작예를 설명하기 위한 제1도의 요부를 추출한 도이다.
즉, HUB 40의 간이 동작시험시에는 바이폴라 트랜지스터 Q3이 오프하고 있으므로 바이폴라 트랜지스터 Q2, Q4는 능동상태이다. 또, 스위치 SW1(2b 부분)이 단자 SB와 접속됨으로써 파일롯데이터의 감시기능이 작용하므로 제1도에 도시한 LAN 테스터 1은, 제10a도에 도시한 바와같은 회로와 등가의 것으로 된다. 더욱이, 제10b도에 도시한 바와같이, 단자 RA 및 단자 SA와 단자 RB 및 SB와는 스위치 SW2를 온으로 함으로써 되돌리기위하여 각각 접속 되도록 되어있다.
HUB 40의 간이동작을 행하는 경우는, 제9도에 도시한 바와같이, 스위치 SW2를 누름으로써 LAN테스터의 단자 SA, SB를 단자 RA, RB에 각각 접속하고, 전원 스위치의 단자 SWP를 온으로 한다. 이에 의하여 송신선의 펄스를 수신선의 펄스에 송출하여 의사신호를 발생한다.
즉, 제9도에 도시한 바와같이, 본 발명의 LAN테스터 1을 HUB에 접속한 경우, HUB는 되돌려진 신호에 의하여 송신선에 다시 응답 데이터로 되는 신호전압이 출력된다. 이 때문에, 전술한 통신 모니터의 동작예와 마찬가지로 HUB 40의 PART, LINK의 확인과, 각 발광 다이오드 LG, LR이 불규칙으로 점멸함으로써, 간이적인 동작시험을 행할 수가 있다.
또, 본 발명의 LAN테스터 1을 AUI에 접속한 경우에도 HUB 40의 경우와 마찬가지로 AUI의 R/L램프의 점등과, 각 발광 다이오드 LG, LR이 불규칙으로 점멸함으로써 간이적인 동작시험을 행할 수가 있다.
즉, 장치의 접속시험이나 간이동작시험은, 단순히 신호선을 되돌림으로써 기능을 달성할 수가 있다.
이와같이, LAN테스터에 의하여, 배선내의 신호를 검지하고, 그 유뮤 및 극성을 판별함과 동시에 발광 다이오드에 의한 도시부분과, 되돌림에 의한 의사동작시험을 행함으로써 HUB나 AUI의 간이동작시험과 장치사이의 접속확인을 행할 수가 있다. 이 때문에, 10BASE-T의 트위스트 페어(twisted-pair)선에서의 단선, 단락, 극성검사 및 HUB나 AUI의 간이한 접속 시험이 가능케 된다. 이에 의하여, AUI가 LAN 통신될 수 없을 때에는, HUB∼케이블∼AUI사이의 접속이 확실히 행하여져 있는지를 용이하게 시험할 수 있고, HUB의 동작불량, 접속불량, 케이블의 단선 또는 단락 및 AUI의 동작불량을 판별할 수가 있다.
또, 도통시험시에는, 되돌리기용 커넥터등의 되돌리기 기구를 사용하지 않음으로써 배선 케이블의 탐색작업이 대폭으로 경감됨과 동시에, 편단(片端)은 장치에 연결된 채로 시험이 행하여진다. 이 때문에, 극성의 확인, 및 HUB나 AUI의 동작시험을 용이하게 할 수가 있다.
더욱이, 상술의 실시형태에 있어서, HUB 또는 AUI를 포함하여 도통시험을 행하는 경우, HUB 또는 AUI내에 직류 루프를 형성하는 펄스 트랜스를 가지는 것에 한정되나, 케이블 단체(單體)의 도통시험을 포함하는 다른 극성 시험이나, 간이동작시험, 통신 모니터등에 대해서는 한정 조건이 없다.
다음에, 본 발명의 LAN테스터를 사용하여 배선의 접속방향의 확인시험을 행하는 경우에 대해서 설명한다. 제11도는 예를들면, LAN배선에 쓰이는 범용의 8핀의 모듈러잭의 오배선의 유무의 확인시험을 행하는 경우의 구성예를 도시한 예이다. 제11도에 도시한 바와같이, LAN테스터에는, 예를들면 모듈러잭의 해당 수신단자에 도통접속되는 복수의 역접속확인회로 12a, 12b…를 설치하여 둔다. 각 역접속확인회로 12a, 12b는, 다이오드 D11(D12)와 발광 다이오드 LD1a(LD2a)와를 역접속한 것이다.
시험대상이 되는 모듈러잭(MJ)10의 1번과 2번에는 페어신호선 11a, 11b의 일단부가 접속되어 있다. 또, 이 페어신호의 1개의 신호선로, 예를들면 MJ10의 1번 핀에 접속되는 신호선로 11a에는, 상술한 전원부 2에서 직류전압 Ea에 의한 전류가 공급되도록 되어 있다. 더욱이 MJ10의 2번 핀에 접속된 신호선로 11b와 접지선과의 사이에는, 통전시에 점등하는 발광다이오드 LD1b가 삽입접속되어 있다. 이들의 신호선 11a, 11b의 타단부에는 상술한 역접속확인회로 12a가 접속된다.
MJ10에는, 도시와 같이, 그 3번 핀과 6번 핀에도 페어신호선 11c, 11d가 접속된다. 그 때문에, 상기 페어신호선 11a, 11b의 경우와 마찬가지로 3번 핀에 직류전류 Eb에 의한 전류를 공급하고, 6번 핀과 접지선과의 사이에 발광 다이오드 LD2b를 삽입 접속함과 동시에, 페어신호선 11c, 11d의 타단부에 역접속확인회로 12b를 접속한다.
더욱이, 시험결과시에는, 직류전압 Ea, Eb에 의한 전류는, 각각 전원부 2에서 다른 타이밍으로 따로따로 공급한다. 급전 타이밍의 절환 자체는 공지의 기술을 채용할 수 있으므로, 요기서는 굳이 도시하지 않는다. 또, 발광 다이오드 LD1b, LD2b는 상술한 전류검출부 3의 회로를 그대로 사용할 수 있다.
다음에 상기 구성의 LAN테스터에 의한 접속방향의 확인시험의 구체예를 제12도 및 제13도를 참조하여 설명한다.
제12a도는 MJ10의 배선이 정상인 경우, 즉, 페어신호 11a, 11b가 순방향으로 접속되어 있는 경우의 상태를 도시한 도이다.
이 경우는, MJ10의 1번 핀에서 공급되는 전류가 역접속확인회로 12a의 다이오드 D11을 통하여 MJ10의 2번 핀에 도달하므로 발광 다이오드 LD1a가 점등한다. 이에 대하여 MJ10의 배선이 정상이라는 것을 눈으로 확인할 수 있다.
제12b도는 MJ10의 배선이 이상인 경우, 즉 페어신호선 11a, 11b가 역접속되어 있는 경우의 상태를 도시한 도이다. 이 경우는, MJ10의 1번 핀에 공급되는 전류가 다른쪽의 신호선 11b의 쪽에서 역접속확인회로 12a도달한다. 이 때문에, 발광 다이오드 LD1a가 점등한다. 또, 발광다이오드 LD1a를 통한 전류는, MJ10의 2번 핀에 도달하므로, 발광 다이오드 LD1b도 점등한다. 따라서, 이 경우는, MJ10의 1번 핀과 2번 핀이 역으로 접속되어 있는 것이 눈으로 확인해 의하여 판단된다.
또, MJ10에서의 다른 신호선로 사이의 오배선의 유무도 이 LAN테스터에 의하여 눈으로 확인될 수 있다. 예를들면 제13a도에서는, MJ10의 3번핀에 전류를 공급하면, 정상배선시에는 발광다이오드 LD2a, LD2b가 점등하여야 할 때에 다른 발광 다이오드 LD1a, LD1b가 점등하고 있다. 이 상태는, 도시와 같이, MJ10에서의 배선이 순차로 상방에 벗어나 있는 것을 의미하고 있으므로, 오배선인 것을 눈으로 확인할 수가 있다. 또, 제13b도에 도시한 바와같이, MJ10의 1번 핀에 전류를 흘렸을때에, 본래 점등 할것이 아닌 발광 다이오드 LD2a, LD2b가 점등하는 경우도, MJ10의 배선이 정상이 아닌 것을 나타내고 있다. 이와같이, MJ10에의 급전 타이밍과 발광다이오드 LD1a, LD1b, LD2a, LD2b의 점등패턴과의 조합으로서, MJ10의 접속방향의 확인 시험을 용이하게 실시할 수가 있다.
이상 복수의 실시의 형태를 도시하여 본 발명을 설명 하였으나, 본 발명은, 상술의 실시형태에 한정되는 것은 아니라는 것은 말할 것도 없다. 예를 들면 전류검출부 3, 또는 역접속확인회로 12a, 12b에 있어서 발광 다이오드를 사용함으로써, 통전 상태를 검출하도록 구성되어 있으나, 그외에도 흐르는 전류치를 메타 도시하는 것이거나, 음(음색이나 음량)에 의하여 외부에 보지하도록 구성하여도 좋다.
[산업상의 이용가능성]
이상과 같이, 본 발명에 관계되는 LAN테스터는, 전류 검출부에 의한 전류 검출부의 유무로서 신호선로에 단선등의 장해가 있는지의 여부를 판단할 수 있고, 순극성검출부 및 역극성 검출부에 의한 펄스검출의 유무로서 신호선이 정확한 극성(순극성)으로 되어 있는지 역극성으로 되어 있는지를 확인할 수가 있다.
또, 송수신신호선의 펄스를 수신용 신호선에 되돌림으로써 의사 신호를 발생시킬 수 있고, 접속되는 HUB 또는 AUI의 동작상태를 확인 할 수가 있다. 더욱이, 배선의 오접속등도 용이하게 확인할 수가 있다.

Claims (11)

  1. 2개의 신호선로를 가지는 페어신호선에 의하여 접속되는 LAN배선의 도통시험 및 극성시험을 행하는 LAN테스터에 있어서, 시험할 페어신호선의 일단부측에 있어서 한 개의 신호선로에 전원전류를 공급하는 전원부(2)와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 상기 전원부에 의해서 전원전류를 공급하지 않는 측의 신호선로에 흐르는 전류를 검출하는 전류검출부(3)와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선로에서 양펄스 및 음극측 신호선로에서의 음펄스를 검출하는 순극성검출부(4)와, 상기 페어신호선의 일단측에 있어서 양극측신호선로에서의 음펄스 및 음극측 신호선로에서의 양펄스를 검출하는 역극성검출부(5)와, 동작 모드가 도통시험모드일 때에는, 상기 전원부 및 상기 전류검출부를 선택적으로 동작시키고, 한편, 동작 모드가 극성시험 모드일때에는, 상기 순극성검출부 및 상기 역극성검출부를 선택적으로 동작시키는 절환스위치(6)를 구비하는 것을 특징으로 하는 LAN테스터.
  2. 2개의 신호선로를 가지는 페어신호선에 의해서 접속되는 LAN배선의 도통시험, 극성시험 및 동작시험을 행하는 LAN테스터에 있어서 시험할 페어신호선의 일단측에 있어서 한 개의 신호선로에 전원전류를 공급하는 전원부(2)와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 상기 전원부에 의하여 전원전류를 공급하지 않는 측의 신호선로에 흐르는 전류를 검출하는 전류검출부(3)와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선로에서의 양펄스 및 음극측 신호선로에서의 음펄스를 검출하는 순극성검출부(4)와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선로에서의 음펄스 및 음극측 신호선로에서의 양펄스를 검출하는 역극성검출부(5)와, 동작 모드가 도통시험 모드일때에는, 상기 전원부 및 상기 전류 검출부를 선택적으로 동작시키고, 한편, 동작 모드가 극성 시험 모드일 때에는, 상기 순극성검출부 및 상기 역극성검출부를 선택적으로 동작시키는 제1의 절환 스위치(6)와, 상기 제1절환스위치에 의한 극성 시험 모드시에, 송신용신호선을 접속하기 위한 단자와 수신용신호선을 접속하기 위한 단자를 각각 접속하여 되돌림으로써 동작 시험 모드를 실현하는 제2절환 스위치(7)를 구비하는 것을 특징으로 하는 LAN테스터.
  3. 2개의 신호선로를 가지는 페어신호선에 의해서 접속되는 LAN배선의 도통시험을 행하는 LAN배선의 도통시험방법에 있어서, 시험할 페어신호선의 일단부측에 있어서 한 개의 신호선로에 전원전류를 공급하는 전원부와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 상기 전원부에 의해서 전원전류를 공급하지 않는 측의 신호선로에 흐르는 전류를 검출하는 전류검출기로 구성되는 LAN테스터를 페어신호선의 일단부측에만 적용시키고, 그 페어신호선의 타단부측은 LAN에 접속한 상태로 함으로써, 상기 페어신호선의 도통시험을 적용하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 LAN배선의 도통시험방법.
  4. 2개의 신호선로를 가지는 페어신호선에 의해서 접속되는 LAN배선의 극성시험을 행하는 LAN배선의 극성시험방법에 있어서, 시험할 페어신호선의 일단부측에 있어서, 양극측 신호선로에서 양펄스 및 음극측 신호선로에서 음펄스를 검출하는 순극성 검출부와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선에서의 음펄스 및 음극측 신호선에서의 양펄스를 검출하는 역극성 검출부로 구성되는 LAN테스터를 페어신호선의 일단부측에만 적용시키고, 그 페어신호선의 타단부측은 LAN에 접속한 상태로 함으로써, 상기 페어신호선의 극성시험을 적용하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 LAN배선의 극성시험방법.
  5. 2개의 신호선로를 가지는 페어신호선에 의해서 접속되는 LAN배선의 동작시험을 행하는 LAN배선의 동작 시험방법에 있어서, 송신용신호선을 접속하기 위한 단자와 수신용신호선을 접속하기 위한 단자를 각각 접속하는 되돌리기용 접속부, 시험할 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선로에서의 양펄스 및 음극측 신호선로에서의 음펄스를 검출하는 순극성검출부와, 상기 페어신호선의 일단부측에 있어서 양극측 신호선로에서의 음펄스 및 음극측 신호선로에서의 양펄스를 검출하는 역극성검출부로 구성되는 LAN테스터를 페어신호선의 일단부측에만 적용시키고 그 페어신호선의 타단부측은 LAN에 접속한 상태로 함으로써, 상기 페어신호선의 동작시험을 적용하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 LAN배선의 동작 시험방법.
  6. 제3항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 HUB에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 도통시험방법.
  7. 제4항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 HUB에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 극성시험방법.
  8. 제5항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 HUB에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 동작시험방법.
  9. 제3항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 AUI에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 도통시험방법.
  10. 제4항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 AUI에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 극성시험방법.
  11. 제5항에 있어서, 상기 페어신호선의 타단부측이 AUI에 접속된 것을 특징으로 하는 LAN배선의 동작시험방법.
KR1019970701568A 1995-07-26 1996-07-26 Lan 테스터 KR100258708B1 (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18999295 1995-07-26
JP95-189992 1995-07-26
JP13216496A JP3264827B2 (ja) 1995-07-26 1996-05-27 Lanテスタ
JP96-132164 1996-05-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970705756A KR970705756A (ko) 1997-10-09
KR100258708B1 true KR100258708B1 (ko) 2000-06-15

Family

ID=26466795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970701568A KR100258708B1 (ko) 1995-07-26 1996-07-26 Lan 테스터

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6087835A (ko)
EP (1) EP0784207A4 (ko)
JP (1) JP3264827B2 (ko)
KR (1) KR100258708B1 (ko)
AU (1) AU703954B2 (ko)
CA (1) CA2200729C (ko)
WO (1) WO1997005494A1 (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6480510B1 (en) 1998-07-28 2002-11-12 Serconet Ltd. Local area network of serial intelligent cells
US6434716B1 (en) * 1999-01-29 2002-08-13 Psiber Data Systems Inc. Network link tester device configured to selectively and automatically couple to a network transmit pair line or a node transmit pair line of a LAN port and determine available operational modes
US6956826B1 (en) 1999-07-07 2005-10-18 Serconet Ltd. Local area network for distributing data communication, sensing and control signals
US6549616B1 (en) 2000-03-20 2003-04-15 Serconet Ltd. Telephone outlet for implementing a local area network over telephone lines and a local area network using such outlets
US6842459B1 (en) 2000-04-19 2005-01-11 Serconet Ltd. Network combining wired and non-wired segments
US6961303B1 (en) 2000-09-21 2005-11-01 Serconet Ltd. Telephone communication system and method over local area network wiring
US6459275B1 (en) * 2001-02-28 2002-10-01 Avaya Technology Corp. Detection of devices on a local area network
JP2002261787A (ja) * 2001-03-05 2002-09-13 Allied Tereshisu Kk Lan用信号確認判定装置及びlan用信号確認判定方法並びにlan用信号確認判定プログラム
US6483318B1 (en) * 2001-06-29 2002-11-19 Ideal Industries, Inc. Electric circuit providing selectable short circuit for instrumentation applications
JP5167568B2 (ja) * 2001-09-28 2013-03-21 テンパール工業株式会社 分電盤の分岐回路接続チェック装置
IL152824A (en) 2002-11-13 2012-05-31 Mosaid Technologies Inc A socket that can be connected to and the network that uses it
DE10343723B4 (de) * 2003-09-22 2007-09-27 Ria-Btr Produktions-Gmbh Vorrichtung zum Testen der Installation der Anschlussdosen eines ISDN-So-Bussystems
IL159838A0 (en) 2004-01-13 2004-06-20 Yehuda Binder Information device
US7936671B1 (en) 2007-11-12 2011-05-03 Marvell International Ltd. Cable far end port identification using repeating link state patterns
JP5704690B2 (ja) * 2010-11-16 2015-04-22 九電テクノシステムズ株式会社 有線ページングシステムの複合ケーブルの異常検出装置
US8447845B1 (en) 2011-02-10 2013-05-21 Flir Systems, Inc. Setting a network device to default settings
JP5505887B2 (ja) * 2011-09-12 2014-05-28 テンパール工業株式会社 分電盤の分岐回路接続チェック装置
JP6193575B2 (ja) * 2013-01-29 2017-09-06 京セラ株式会社 エネルギー管理装置、エネルギー管理システム、及びエネルギー管理方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5943373A (ja) * 1982-09-06 1984-03-10 Fujitsu Ltd 導通試験機
US4551671A (en) * 1983-06-23 1985-11-05 International Business Machines Corp. Terminal disconnect and media wire fault detect mechanism
JPS646878A (en) * 1987-06-30 1989-01-11 Yaskawa Denki Seisakusho Kk Differential digital transmission line
CA1315858C (en) * 1987-10-30 1993-04-06 David Douglas Clegg Telecommunications wiring test apparatus and method
JPH0330874U (ko) * 1989-08-02 1991-03-26
FR2653893B1 (fr) * 1989-10-26 1992-05-22 Fieau Jean Claude Dispositif de test d'un bus a deux paires de conducteurs.
US5257287A (en) * 1990-02-15 1993-10-26 Advanced Micro Devices, Inc. Automatic polarity detection and correction method and apparatus employing linkpulses
JPH04269668A (ja) * 1991-02-25 1992-09-25 Matsushita Electric Works Ltd ツイストペア線の検査装置
US5228072A (en) * 1991-05-29 1993-07-13 Independent Technologies, Inc. Multiwire-pair telecommunications test system
USH1369H (en) * 1991-07-29 1994-11-01 Verbin; Randolph N. Cable continuity test apparatus
US5315597A (en) * 1992-05-08 1994-05-24 Digital Equipment Corporation Method and means for automatically detecting and correcting a polarlity error in twisted-pair media
US5598342A (en) * 1995-01-31 1997-01-28 The Siemon Company Cable tester

Also Published As

Publication number Publication date
US6087835A (en) 2000-07-11
AU6531596A (en) 1997-02-26
EP0784207A1 (en) 1997-07-16
JPH0996656A (ja) 1997-04-08
JP3264827B2 (ja) 2002-03-11
CA2200729A1 (en) 1997-02-13
AU703954B2 (en) 1999-04-01
KR970705756A (ko) 1997-10-09
EP0784207A4 (en) 2001-08-22
CA2200729C (en) 2001-10-16
WO1997005494A1 (en) 1997-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100258708B1 (ko) Lan 테스터
US7391168B1 (en) Digital control of electronic ballasts using AC power lines as a communication medium
JP2002520826A (ja) 回路配置およびその回路配置が設けられた信号燈
EP2760165B1 (en) Systems and methods to detect bus network fault and topology
US9037918B2 (en) Systems and methods to detect bus network fault and topology
US6977493B2 (en) Electrical power probe for testing and supplying power to electrical wiring and devices
CN111579970B (zh) 测试电路、检测设备和检测电子开关板的方法
JP3492345B2 (ja) Lanテスタ
JP2001127714A (ja) Lanテスタ
JP2001165986A (ja) ケーブル検査装置
JPH01137597A (ja) 照明負荷の駆動状態検出装置
US20220191992A1 (en) Duration select switch for an emergency lighting converter
JP2943466B2 (ja) 端末網制御装置
JP2561503B2 (ja) ランプドライバ
JPH11127178A (ja) 信号伝送システムの給電装置
JPH06282786A (ja) 防災監視装置
JP2004194123A (ja) Lan中継装置およびその給電方法
JP2004088514A (ja) 遠隔監視制御システムの端末器
EP0878944B1 (en) Network control unit
SU1398013A1 (ru) Устройство дл контрол напр жений фаз трехфазной сети
JPH0719013Y2 (ja) 小型心線対照器
JPS6314563B2 (ko)
JPH01279657A (ja) 通信端末装置
JPH0139160B2 (ko)
JP2004071378A (ja) 信号灯断芯検知回路

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030109

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee