JP3254392B2

JP3254392B2 - 評価チャート及び画像記録装置

Info

Publication number: JP3254392B2
Application number: JP30014896A
Authority: JP
Inventors: 勝己山口
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1996-06-12
Filing date: 1996-11-12
Publication date: 2002-02-04
Anticipated expiration: 2016-11-12
Also published as: JPH1062705A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はレーザプリンタ、デ
ジタル複写機等の画像記録装置に用いられる評価チャー
ト及び画像記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、画像記録を高速に行うために
複数の光ビームを感光体上に一括して走査させて画像記
録を行うマルチビーム方式の画像記録装置がある。この
種の画像記録装置においては、感光体上の副走査方向の
光ビームのピッチを安定に保持することが重要な技術課
題となり、そのために感光体上の副走査方向の光ビーム
のピッチの変位を検知する必要がある。

【０００３】特開昭６１ー２４５１７４号公報及び特開
平３ー２２５３１４号公報には、複数の半導体レーザか
らの光ビームをプリズムからなるビーム合成手段で合成
し、この複数の光ビームを回転多面鏡からなる偏向手段
で偏向してｆθレンズ等の結像光学系を介して感光体上
に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置におい
て、ビーム合成手段から感光体に対する光書き込みに寄
与しない方向の光ビームを取り出して分割センサ等の検
知手段に導いて光ビームの間隔を検知し、非光書き込み
時間にサーボ制御機構からなる自動制御手段により半導
体レーザとビーム合成手段との間の折り返しミラー（ガ
ルバノミラー）を制御して感光体上の光ビームのピッチ
を制御するようにしたものが記載されている。この画像
記録装置では、実際に光ビームが走査される感光体上で
の光ビームの間隔は検出できない。

【０００４】特開平７ー７２３９９号公報には、２つの
三角形状のセンサを非書き込み領域に主走査方向に並設
し、各光ビームを１つづつ点灯させて２つのセンサの光
ビーム検知時間差をそれぞれ計測し、これらの光ビーム
検知時間差から光ビーム間偏差を検出してこれを基準値
と比較することにより副走査方向の光ビームピッチの変
位を検出する画像記録装置が記載されている。また、画
像記録装置においては、組付調整時の光ビームピッチの
初期設定を正確に行う必要があるが、これには大がかり
な測定評価装置が用いられている。

【０００５】マルチビーム方式の画像記録装置において
は、各光ビームの書き込みタイミング（各光ビームの感
光体に画像を書き込むタイミング）を制御し、感光体上
の各光ビームの書き出し位置（感光体上の各光ビームに
よる画像の書き込みを開始する位置）を正確に一致させ
る必要がある。

【０００６】特開昭５６ー１０４５７２号公報には、複
数のビームにより記録媒体上を走査して記録媒体上に情
報の記録を行う記録装置において、前記複数のビームの
有効走査領域外にビーム検出器を設け、前記複数のビー
ムの内選択されたビームが点灯した状態で前記ビーム検
出器を通過する如く制御し、前記ビーム検出器の出力を
基に複数のビームを変調するための複数の電気的な変調
信号を生ぜしめ、複数のビームの各配置に対応して前記
変調信号を各々遅延制御することにより複数のビームの
記録媒体上の記録開始位置を一致させるようにしたこと
を特徴とするビーム記録装置が記載されている。

【０００７】特開昭５７ー６７３７５号公報には、複数
のビームにより記録媒体上を走査して、該記録媒体上に
情報の記録を行うマルチビーム記録装置において、前記
複数のビームが所定位置に到来したことを検出し検出信
号を出力するビーム検出器と、前記ビーム検出器へ前記
複数のビームの１つが入射せしめるように設けられたビ
ーム選択部材と、前記検出信号を分配する分配器とを有
し、前記分配されたビーム検出信号により前記複数のビ
ームの夫々の記録開始を制御することを特徴とするマル
チビーム記録装置が記載されている。

【０００８】特開昭６１ー１３７１２２号公報には、複
数ビームのレーザ光を走査するレーザプリンタ装置にお
いて、個々のビームからの光を光検出器上で重ならない
ように配置し、個々のビームからの検出信号を時刻別に
独立に検出し、その検出信号と走査ビームとの対応によ
って、信号の書きだしを制御して印字することを特徴と
するレーザプリンタ装置が記載されている。

【０００９】特開平４ー３５４５３号公報には、複数の
光源と、該複数の光源より射出され、偏向走査される平
行な複数の光ビームが照射される感光体と、該感光体上
の主走査開始側の光走査領域外に配設された光センサ
と、該光センサが光ビームを検知して発生させる同期検
知信号に同期した画素クロックを発生させる画素クロッ
ク発生回路を備えた画像形成装置において、前記光セン
サは前記光源と同数個設けられ、かつ前記光源と前記光
センサは、走査される光ビームが形成する面にそれぞれ
所定の角度を以て配列され、各々の光センサが対応する
光ビームを検知してそれぞれ同期検知信号を発生させる
ようにしたことを特徴とする画像形成装置が記載されて
いる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上記特開昭６１ー２４
５１７４号公報及び特開平３ー２２５３１４号公報に記
載されている画像記録装置では、複数の光ビームを回転
多面鏡からなる偏向手段で偏向してｆθレンズ等の結像
光学系を介して感光体上に同時に走査させて画像記録を
行う画像記録装置において、プリズムからなるビーム合
成手段から感光体に対する光書き込みに寄与しない方向
の光ビームを取り出して分割センサ等の検知手段に導い
て光ビームの間隔を検知し、サーボ制御機構からなる自
動制御手段により非光書き込み時間に感光体上の光ビー
ムのピッチを制御するので、実際に光書き込みを行う光
ビームとは別の光路を通った光ビームのピッチを検出す
ることになり、実際に光ビームが走査される感光体上で
の光ビームの間隔は検出できない。

【００１１】また、上記特開平７ー７２３９９号公報に
記載されている画像記録装置では、２つの三角形状のセ
ンサを非書き込み領域に主走査方向に並設し、各光ビー
ムを１つづつ点灯させて２つのセンサの光ビーム検知時
間差をそれぞれ計測し、これらの光ビーム検知時間差か
ら光ビーム間偏差を検出してこれを基準値と比較するこ
とにより副走査方向の光ビームピッチの変位を検出する
ので、非書き込み領域（有効書き込み領域外）における
光ビームのピッチを検出することになり、実際に光ビー
ムにより書き込みが行われる領域における光ビームのピ
ッチを検出することはできない。

【００１２】また、上記画像記録装置においては、組付
調整時の光ビームピッチの初期設定を正確に行う必要が
あるが、これには大がかりな測定評価装置が必要であっ
た。また、従来、半導体レーザの破損や光ビームピッチ
の経時変動などの不具合が生じた場合にはユーザ先での
対応が困難であった。また、特開昭６１ー２４５１７４
号公報及び特開平３ー２２５３１４号公報に記載されて
いる画像記録装置では、自動制御手段により半導体レー
ザとビーム合成手段との間の折り返しミラー（ガルバノ
ミラー）を制御して感光体上の光ビームのピッチを制御
しているが、このように光ビームの角度を直接ミラーで
制御する場合には数〜１０秒オーダの高精度な角度制御
が必要になり、十分な精度を確保することが困難であっ
た。

【００１３】上記特開昭５６ー１０４５７２号公報記載
のビーム記録装置は、例えば光源として半導体レーザア
レイを用いた場合など、記録媒体としての感光体上の主
走査方向のビーム間距離が予め分かっている時に適用さ
れるものであり、特定の１ビームのみビーム検出器で検
出してこのビーム検出器の出力により上記特定の１ビー
ムを変調するための変調信号を生ぜしめ、上記ビーム検
出器の出力を上記ビーム間距離に相当する時間だけ遅延
制御して他のビームを変調するための変調信号を生ぜし
めることにより、全てのビームの書き出しタイミングを
制御するものである。

【００１４】しかし、このビーム記録装置においては、
半導体レーザアレイの各発光点位置は製造工程上極めて
正確に位置決めされているが、光源から感光体までの間
の光学部品の加工誤差や組み付け時のバラツキにより、
光源と感光体との光学的倍率に微妙なずれが生じ、各ビ
ームの書き出し位置を正確に一致させることは困難であ
った。

【００１５】また、上記特開昭５７ー６７３７５号公報
記載のマルチビーム記録装置や上記特開昭６１ー１３７
１２２号公報記載のレーザプリンタ装置、上記特開平４
ー３５４５３号公報記載の画像形成装置では、各ビーム
毎に独立に同期検知信号を得るので、より正確に各ビー
ムの位相制御を行うことができるとともに、光源として
複数の半導体レーザ（レーザダイオードを含む）を用い
た場合でも、比較的正確に各ビームの書き出しタイミン
グを制御することができる。

【００１６】しかし、通常、マルチビーム方式の画像記
録装置においては、光源として半導体レーザを用いた場
合は副走査方向に所定のビーム間隔を得るために各光ビ
ームが主走査方向に所定間隔を持つように設定され、ま
た、光源として複数の半導体レーザを用いた場合にも複
数のビームを重ならないように独立に光検出器に入射さ
せるために各光ビームが主走査方向に所定間隔を持つよ
うに設定される場合が多い。

【００１７】この場合、画像領域外に設置される、位相
同期信号を検出するための光検出器は感光体上を露光走
査する各光ビームの時間間隔を正確に検出する必要があ
るため、光検出器は感光体の光ビーム照射位置、すなわ
ち、被走査面と光学的に等価な位置に配置する必要があ
る。しかし、光検出器は、感光体上に配置されるのでは
なく、通常は水平走査（主走査）始端側の画像形成領域
外に配置される。この際、部品配置の空間的な制約条件
から光検出器は感光体よりも手前（光源側）に配置され
ることが多い。また、途中に折り返しミラーを用いた場
合でも、同じく部品配置の空間的な制約条件や組み付け
時の誤差により、光検出器を所定位置に正確に位置決め
することは難しい。

【００１８】光検出器が被走査面からずれた位置に配置
された場合について以下に説明する。図１５は光検出器
５１を被走査面５２上に配置した場合を示す。主走査方
向の間隔が所定間隔Ｐｍに設定された複数の光ビームＢ
Ｍ１，ＢＭ２のうち、先行する第１ビームＢＭ１が光検
出器５１に入射して第１の同期検知信号ｓ１が発生した
後に、所定時間間隔をおいて第２ビームＢＭ２が光検出
器５１に入射して第２の同期検知信号ｓ２が発生する。

【００１９】図１６は光検出器５１を被走査面５２より
ΔＺだけずれた位置に配置した場合を示す。主走査方向
の間隔が所定間隔Ｐｍに設定された複数の光ビームＢＭ
１，ＢＭ２のうち、先行する第１ビームＢＭ１が光検出
器５１に入射して第１の同期検知信号ｓ１が発生した後
に、所定時間間隔をおいて第２ビームＢＭ２が光検出器
５１に入射して第２の同期検知信号ｓ２’が発生する。

【００２０】この時、２つの同期検知信号ｓ１，ｓ２’
はいずれも第１ビームＢＭ１、第２ビームＢＭ２が光検
出器５１の同一位置に到来した時に発生するが、被走査
面５２上では、第１ビームＢＭ１は点Ｂ、第２ビームＢ
Ｍ２は点Ｂ’を通過した時に同期検知信号ｓ１，ｓ２’
が発生することになる。従って、図１７に示すように点
Ｂと点Ｂ’の主走査方向の間隔Δｘに相当する時間Δｔ
だけ第２の同期検知信号ｓ２’が第１の同期検知信号ｓ
１よりずれて発生し、第１ビームＢＭ１と第２ビームＢ
Ｍ２の書き出しタイミングがΔｔだけずれるので、結果
として第１ビームＢＭ１と第２ビームＢＭ２の書き出し
位置がほぼΔｘだけずれてしまうことになる。

【００２１】このような各ビームの書き出し位置のずれ
Δｘは図１８に示すように光検出器５１と被走査面５２
とのずれ量ΔＺに比例して大きくなる。本出願人の代表
的な書き込み光学系の１つについてシミュレーションを
行った結果、主走査方向のビーム間隔Ｐｍを４ｍｍとし
た時、ΔＺ：１ｍｍ当りのビーム書き出し位置のずれ量
Δｘは約２０μｍであった。

【００２２】また、光検出器５１を被走査面５２に配置
した場合でも、感光体５３に照射される光ビームの光強
度分布のバラツキがあると、正確な位相同期信号が得ら
れない。さらに、各光ビームの間に波長差がある場合
は、図１９に示すようにｆθレンズなどから構成される
走査光学系５５の色収差により倍率誤差が発生する。例
えば波長λ１の第１光ビームは図１９の実線のように回
転多面鏡５４から走査光学系５５を介して感光体５３に
照射され、波長λ２の第２光ビームは図１９の点線よう
に回転多面鏡５４から走査光学系５５を介して感光体５
３に照射される。

【００２３】この時は、正確な同期検知信号が得られた
場合でも、各光ビーム間には上記倍率誤差により水平走
査始端部から水平走査終端部側へ行くに従い次第に大き
くなるような位相ずれ（位相同期ずれ）が発生すること
になる。

【００２４】また、マルチビーム方式の画像記録装置に
おいては、光ビーム毎に光量を制御して各光ビームによ
る出力画像を均一なものとする必要がある。これらの光
量制御は、通常、半導体レーザのパッケージ内に内蔵さ
れ半導体レーザの後方出力を検出するフォトダイオード
の出力に基づいて各光ビーム毎に行われる。しかし、複
数の光ビームを用いる場合、各光ビームの光路が異なる
ので、半導体レーザを含む光源部において各光ビームの
光量制御を行っても、感光体露光時の光量は各光ビーム
間で必ずしも均一に制御することができない。また、感
光体露光時のビームスポット径にバラツキがあれば、同
一の光量でも各光ビームの書き込み画像間にバラツキが
生ずることになる。

【００２５】本発明の目的は、実際の画像記録が行われ
る領域での副走査方向の光ビームピッチの変位を高精度
で簡易に検知できる評価チャートを提供すること、及
び、実際の画像記録が行われる領域での副走査方向の光
ビームピッチの変位を高精度で簡易に検知できると共に
光ビームピッチの調整を可能とし、さらに実際の画像記
録が行われる領域での副走査方向の光ビームピッチの変
位を自動的に補正することができる画像記録装置を提供
することにある。

【００２６】本発明の他の目的は、画像形成領域での光
ビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出することがで
き、かつ、各光ビーム間の光量やビーム径等の特性バラ
ツキを高感度で簡易に検出することができる評価チャー
トを提供すること、及び、画像形成領域での光ビーム間
の位相ずれを高感度で簡易に検出することができ、各光
ビーム間の光量やビーム径等の特性バラツキを高感度で
簡易に検出することができ、光ビーム間の位相ずれを補
正することができ、さらに光ビーム間の位相ずれを自動
的に補正することができる画像記録装置を提供すること
にある。

【００２７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係る発明は、光源部から射出された複数
の光ビームを偏向手段により偏向して感光体上に同時に
走査させて画像記録を行う画像記録装置の評価チャート
であって、主走査方向に形成されるｎドットライン（ｎ
≧２）が前記光ビームの数の整数倍の周期で副走査方向
に繰り返す画像パターンからなる、複数の異なる光ビー
ムの組み合わせで形成される画像パターンを、主走査方
向に複数個隣接して並設して構成された画像評価パター
ンを含むものであり、実際の画像記録が行われる領域で
の副走査方向の光ビームピッチの変位を比較的高精度で
簡易に検知できる。

【００２８】請求項２に係る発明は、請求項１記載の評
価チャートにおいて、前記ｎドットラインが２つの異な
る光ビームの組み合わせで形成される２ドットラインで
あるものであり、実際の画像記録が行われる領域での副
走査方向の光ビームピッチの変位を高精度で簡易に検知
できる。

【００２９】請求項３に係る発明は、光源部から射出さ
れた複数の光ビームを偏向手段により偏向して感光体上
に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置におい
て、主走査方向に形成されるｎドットライン（ｎ≧２）
が前記光ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り
返す画像パターンからなる、複数の異なる光ビームの組
み合わせで形成される画像パターンを、主走査方向に複
数個隣接して並設して構成された画像評価パターンを出
力する画像評価パターン出力機能を備えたものであり、
実際の画像記録が行われる領域での副走査方向の光ビー
ムピッチの変位を比較的高精度で簡易に検知できると共
に副走査方向の光ビームピッチの調整が可能となる。

【００３０】請求項４に係る発明は、請求項３記載の画
像記録装置において、前記ｎドットラインが２つの異な
る光ビームの組み合わせで形成される２ドットラインで
あるものであり、実際の画像記録が行われる領域での副
走査方向の光ビームピッチの変位を高精度で簡易に検知
できると共に光ビームピッチの調整が可能となる。

【００３１】請求項５に係る発明は、請求項３または４
記載の画像記録装置において、前記光ビームの副走査方
向のピッチを調整するピッチ調整手段を具備したもので
あり、実際の画像記録が行われる領域での副走査方向の
光ビームピッチの変位を高精度で簡易に検知できると共
に副走査方向の光ビームピッチの調整が可能となる。

【００３２】請求項６に係る発明は、請求項５記載の画
像記録装置において、前記光源部から射出される光ビー
ムは主走査方向に所定のビーム間角度が設定され、前記
光源部を光軸回りに回動することにより前記光ビームの
副走査方向のピッチを調整するピッチ調整手段を具備し
たものであり、実際の画像記録が行われる領域での副走
査方向の光ビームピッチの変位を高精度で簡易に検知で
きると共に副走査方向の光ビームピッチの調整が可能と
なる。

【００３３】請求項７に係る発明は、請求項５または６
記載の画像記録装置において、前記画像評価パターン出
力機能により出力される画像評価パターンを所定の出力
過程で検出する検出手段を具備し、この検出手段の検出
値と予め設定された基準値との偏差が所定範囲内に収ま
るように前記ピッチ調整手段にて前記光ビームの副走査
方向のピッチを調整するものであり、実際の画像記録が
行われる領域での副走査方向の光ビームピッチの変位を
自動的に補正することができる。

【００３４】請求項８に係る発明は、請求項５または６
記載の画像記録装置において、主走査方向に並設され前
記画像評価パターン出力機能により出力される画像評価
パターンを所定の出力過程で検出する２つの検出手段を
具備し、この２つの検出手段の検出値の差分が所定範囲
内に収まるように前記ピッチ調整手段にて前記光ビーム
の副走査方向のピッチを調整するものであり、実際の画
像記録が行われる領域での副走査方向の光ビームピッチ
の変位を自動的に補正することができる。

【００３５】請求項９に係る発明は、請求項７または８
記載の画像記録装置において、前記検出手段は前記画像
評価パターンの潜像電位を検出するものであり、実際の
画像記録が行われる領域での副走査方向の光ビームピッ
チの変位を自動的に補正することができる。

【００３６】請求項１０に係る発明は、光源部から射出
された複数の光ビームを偏向手段により偏向して感光体
上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置の評
価チャートであって、主走査方向に形成される１ドット
ラインが前記光ビームの数の整数倍の周期で副走査方向
に繰り返し、前記複数の光ビームの各々により形成され
る複数個の１ドットライン画像パターンを、主走査方向
に隣接するように複数個並設して構成された画像評価パ
ターンを含むものであり、画像形成領域での光ビーム間
の位相ずれを高感度で簡易に検出することができ、か
つ、各光ビーム間の光量やビーム径等の特性バラツキを
高感度で簡易に検出することができる。

【００３７】請求項１１に係る発明は、光源部から射出
された複数の光ビームを偏向手段により偏向して感光体
上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置にお
いて、主走査方向に形成される１ドットラインが前記光
ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返し、前
記複数の光ビームの各々により形成される複数個の１ド
ットライン画像パターンを、主走査方向に隣接するよう
に複数個並設して構成された画像評価パターンを格納し
たメモリを有し、このメモリから前記画像評価パターン
を読み出して出力する画像評価パターン出力機能を備え
たものであり、画像形成領域での光ビーム間の位相ずれ
を高感度で簡易に検出することができ、各光ビーム間の
光量やビーム径等の特性バラツキを高感度で簡易に検出
することができる。

【００３８】請求項１２に係る発明は、請求項１１記載
の画像記録装置において、前記複数の光ビームの各書き
出しタイミングをそれぞれ独立に制御する位相同期制御
手段を備えたものであり、画像形成領域での光ビーム間
の位相ずれを高感度で簡易に検出することができると共
に、光ビーム間の位相ずれを補正することができる。

【００３９】請求項１３に係る発明は、請求項１２記載
の画像記録装置において、前記画像評価パターン出力時
の前記複数の光ビームに対応する前記複数個の１ドット
ライン画像パターンの各境界部に対する前記感光体の表
面電位を検出する電位検出手段を具備し、この電位検出
手段の検出値に基づいて前記位相同期制御手段にて前記
複数の光ビームの各書き出しタイミングをそれぞれ独立
に補正するものであり、画像形成領域での光ビーム間の
位相ずれを高感度で簡易に検出することができると共
に、光ビーム間の位相ずれを補正することができる。

【００４０】請求項１４に係る発明は、請求項１２記載
の画像記録装置において、前記画像評価パターン出力機
能により出力される画像評価パターンにおける前記複数
の光ビームに対応する前記複数個の１ドットライン画像
パターンの各境界部の濃度を検出する濃度検出手段を具
備し、この濃度検出手段の検出値に基づいて前記位相同
期制御手段にて前記複数の光ビームの各書き出しタイミ
ングをそれぞれ独立に補正するものであり、画像形成領
域での光ビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出する
ことができると共に、光ビーム間の位相ずれを補正する
ことができる。

【００４１】請求項１５に係る発明は、請求項１２記載
の画像記録装置において、前記画像評価パターン出力機
能が操作部からの指示信号により画像評価パターンを出
力するものであり、画像形成領域での光ビーム間の位相
ずれを高感度で簡易に検出することができると共に、光
ビーム間の位相ずれを補正することができる。

【００４２】請求項１６に係る発明は、請求項１２記載
の画像記録装置において、前記画像評価パターン出力機
能は操作部からの指示信号により画像評価パターンを出
力すると共に、操作部からの指示信号により前記複数の
光ビームの各書き出しタイミングを補正するものであ
り、画像形成領域での光ビーム間の位相ずれを高感度で
簡易に検出することができると共に、光ビーム間の位相
ずれを補正することができる。

【００４３】請求項１７に係る発明は、請求項１３また
は１４記載の画像記録装置において、操作部からの指示
信号により前記複数の光ビームの各書き出しタイミング
を自動的に補正する手段を備えたものであり、画像形成
領域での光ビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出す
ることができると共に、光ビーム間の位相ずれを自動的
に補正することができる。

【００４４】

【発明の実施の形態】図１は請求項２に係る発明の一実
施形態を説明するための図である。この実施形態は、画
像記録装置に用いられる評価チャートの一実施形態であ
り、光源部から射出された複数（ｎｂ本）の光ビームを
偏向手段により偏向して感光体上に同時に走査させて画
像記録を行う画像記録装置、例えば後述する画像記録装
置に使用されるものである。

【００４５】この実施形態の評価チャートは、図１に示
すように光源部からの第１の光ビーム（以下第ｉの光ビ
ームを単に第ｉビームという）と第２ビームとで感光体
上に主走査方向へそれぞれ形成される２ドットラインが
光源部からの光ビームの数ｎｂの整数倍の周期で副走査
方向に繰り返す画像パターンＡ１、光源部からの第２ビ
ームと第３ビームとで感光体上に主走査方向へそれぞれ
形成される２ドットラインが光源部からの光ビームの数
ｎｂの整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パター
ンＡ２、・・・、光源部からの第ｎｂビームと第１ビー
ムとで感光体上に主走査方向へそれぞれ形成される２ド
ットラインが光源部からの光ビームの数ｎｂの整数倍の
周期で副走査方向に繰り返す画像パターンＡｎｂを複数
個それぞれ主走査方向に隣接して並設して構成された画
像評価パターンであり、各２ドットラインの画像は２つ
の異なる光ビームの各組み合わせで形成される。

【００４６】ここに、第１ビーム〜第ｎｂビームは副走
査方向に順次に隣接した光ビームであって感光体上を副
走査方向へ所定のピッチをおいて主走査方向へ走査し、
上記２ドットラインはそれぞれ主走査方向に形成されて
副走査方向に隣接する２ドットラインである。この評価
チャートは各画像パターンＡ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂ
の副走査方向の繰り返し周期を光ビーム数ｎｂの整数倍
の周期としたので、同一の画像パターンＡ１、Ａ２、・
・・、Ａｎｂ内においては常に同一の組合せの２つの光
ビームで形成される。各画像パターンＡ１、Ａ２、・・
・、Ａｎｂの副走査方向の繰り返し周期は画像上ではｎ
・ｎｂ・Ｐｏである。ただし、Ｐｏは、所定の走査ピッ
チ、例えば４００ｄｐｉの記録密度では６３．５μｍで
あり、ｎは１以上の整数である。

【００４７】この評価チャートは、光ビーム数を２とし
た（ｎｂ＝２とした）場合には図２に示すように第１ビ
ームと第２ビームとの組合せで形成される２ドットライ
ンの画像パターンＡ１と、第２ビームと第１ビームとの
組合せで形成される２ドットラインの画像パターンＡ２
とが交互に主走査方向に隣接して並設される。同一の画
像パターンＡ１、Ａ２はそれぞれ光ビーム数の整数倍
（画像上の実長としては２・ｎ・Ｐｏ、但しｎは２以上
の整数）の周期で副走査方向に繰り返し、同一の画像パ
ターンＡ１、Ａ２を有する各領域は順序も含めて同じ２
つの光ビームの組合せで形成される。

【００４８】ここで、図３に模式的に示すように光ビー
ムＢ１、Ｂ２、・・・、Ｂｎｂの副走査方向のピッチが
所定値Ｐｏに対して順次にΔＰ１、ΔＰ２、・・・、Δ
Ｐｎｂ-１だけずれたとすると、上述のように隣接する
２つの光ビーム（以下単にビームという）で２ドットラ
インの画像を形成した時、図４に示すように各ビームピ
ッチの大小に応じたライン幅を有する２ドットラインの
画像Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂが感光体上に形成され
る。

【００４９】これらの画像Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂ
が同一周期で副走査方向に繰り返して形成されることに
より、２ドットラインの画像Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｎ
ｂのライン幅の大小は視覚的には画像濃度の濃淡として
感じられるようになる。図５、図６はその様子を示す。
視覚の特性として、微妙なライン幅の違いを見分けるの
は難しいが、画像濃度の濃淡の検出感度は非常に高く、
特に隣接した領域では僅かの濃度差でも検出することが
できる。このため、オペレータは画像記録装置にて出力
した評価チャートから僅かなビームピッチのずれでも目
視にて検出することができる。

【００５０】このように、この実施形態では、主走査方
向に２ドットラインを各２ビームの組合せで形成したの
で、各２ドットラインは各組合せの２ビームのピッチの
大小に応じたライン幅となり、これを副走査方向への繰
り返し画像パターンとすることで各２ドットラインの線
幅の大小は画像濃度の濃淡として知覚されるようにな
る。知覚における濃度差の検出感度は非常に高いので、
実際の画像記録が行われる領域における各隣接ビーム間
（走査間を含む）のビームピッチの変位を目視において
も高精度で簡易に検出することが可能となる。

【００５１】また、画像記録装置にて出力される評価チ
ャートの限度見本を作成してこれを実際に画像記録装置
にて出力された評価チャートと比較することにより簡易
にビームピッチの検査の合否の判断を行うことが可能と
なる。さらに、ビームピッチの変位量を振った（変え
た）時の画像記録装置にて出力される評価チャートのサ
ンプルと実際に画像記録装置にて出力された評価チャー
トとを比較することにより、ビームピッチの変位量を定
量的に検出することも可能となる。

【００５２】実際に、図２、図６に対応した画像評価パ
ターンをポストスクリプトファイルで作成し、この画像
評価パターンを上記画像記録装置で出力した結果を以下
に示す。条件ビーム数ｎｂ＝２記録密度４００ｄｐｉ、６００ｄｐｉ感光体上のビームスポット径約７０×８５μｍ画像パターンの主走査方向繰り返し周期２５４μｍ
（４００ｄｐｉ時ｎ＝２、６００ｄｐｉ時ｎ＝３）ビームピッチのずれ量ΔＰ＝０、±５μｍ、±１０μ
ｍ。

【００５３】図７及び図８は上記の条件で画像濃度の濃
度差ΔＩ．Ｄ（図６における画像Ａ１と画像Ａ２の濃度
差）の測定結果を４００ｄｐｉ時と６００ｄｐｉ時につ
いて示す。図７及び図８から分かるようにビームピッチ
の変位ΔＰと濃度差ΔＩ．Ｄはほぼリニアな関係であ
り、その比率ΔＩ．Ｄ／ΔＰは約０．００７（μｍのマ
イナス１乗）であった。また、ΔＰ＝±２〜３μｍの時
でも目視にてその濃度差を検出することができた。ここ
に、この評価チャートは、通常フロッピーディスク、Ｒ
ＯＭなどの各種記録媒体に格納され、この記録媒体から
必要に応じて読み出されて使用され得る画像データを含
むソフトウェアとしての評価チャートである。

【００５４】このように、本実施形態の評価チャート
は、請求項２に係る発明の実施形態であって、光源部か
ら射出された複数のビームを偏向手段により偏向して感
光体上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置
の評価チャートであって、主走査方向に形成される２ド
ットラインが前記ビームの数の整数倍の周期で副走査方
向に繰り返す画像パターンからなる、２つの異なるビー
ムの組み合わせで形成される画像パターンＡ１、Ａ２、
・・・、Ａｎｂを、主走査方向に複数個並設して構成さ
れた画像評価パターンを含むので、僅かなビームピッチ
のずれでも目視にて検出することができ、実際の画像記
録が行われる領域での副走査方向のビームピッチの変位
を高精度で簡易に検知できる。また、評価チャートの限
度見本を作成してこれを実際に画像記録装置にて出力さ
れた評価チャートと比較することにより簡易にビームピ
ッチの検査の合否の判断を行うことが可能となり、さら
に、ビームピッチの変位量を振った時の評価チャートの
サンプルと実際に画像記録装置にて出力された評価チャ
ートとを比較することにより、ビームピッチの変位量を
定量的に検出することも可能となる。

【００５５】また、請求項１に係る発明の実施形態は、
上記請求項２に係る発明の実施形態において、上記各２
ドットラインを、前記ビームの数の整数倍の周期で副走
査方向に繰り返す画像パターンからなる、複数の異なる
ビームの各組み合わせで形成されるｎドットライン（ｎ
≧２）、例えば３つ以上の所定数のドットラインであっ
て、主走査方向に形成されて副走査方向に順次に隣接す
るｎドットラインとしたものであり、上記請求項２に係
る発明の実施形態とほぼ同様な効果を得ることが可能で
ある。

【００５６】このように、請求項１に係る発明の実施形
態は、光源部から射出された複数のビームを偏向手段に
より偏向して感光体上に同時に走査させて画像記録を行
う画像記録装置の評価チャートであって、主走査方向に
形成されるｎドットライン（ｎ≧２）が前記ビームの数
の整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンか
らなる、複数の異なるビームの組み合わせで形成される
画像パターンを、主走査方向に複数個並設して構成され
た画像評価パターンを含むことを特徴とする評価チャー
トであるので、実際の画像記録が行われる領域での副走
査方向のビームピッチの変位を比較的高精度で簡易に検
知できる。また、評価チャートの限度見本を作成してこ
れを実際に画像記録装置にて出力された評価チャートと
比較することにより簡易にビームピッチの検査の合否の
判断を行うことが可能となり、さらに、ビームピッチの
変位量を振った時の評価チャートのサンプルと実際に画
像記録装置にて出力された評価チャートとを比較するこ
とにより、ビームピッチの変位量を定量的に検出するこ
とも可能となる。

【００５７】図９は請求項４〜６に係る発明の一実施形
態を示す。この実施形態は画像記録装置の一実施形態で
あり、複数のビームを発生する光源部１から出射された
複数のビームはそれぞれシリンダレンズ２を介して偏向
手段としての回転多面鏡３に入射する。この回転多面鏡
３に入射した各ビームは、回転多面鏡３の回転により偏
向走査され、ｆθレンズ４、トロイダルレンズ５からな
る走査光学系及び折り返しミラー６を介して感光体７上
を副走査方向のビームピッチＰで同時に露光走査する。

【００５８】ここに、光源部１は、通常、光源１１、１
２がビデオ制御部８からの画像記録を行うための画像信
号により変調され、画像信号に応じて変調された複数の
ビームを出射する。また、感光体７は、例えば感光体ド
ラムが用いられ、駆動部により副走査方向へ回転駆動さ
れる。この感光体ドラム７は、図示しない作像手段によ
る作像プロセスで画像が形成され、これを記録紙に転写
して定着させる。すなわち、作像手段は、感光体ドラム
７を帯電手段により一様に帯電して上記ビームによる露
光走査で感光体ドラム７上に静電潜像を形成し、この静
電潜像を現像手段で顕像化してトナー像とし、このトナ
ー像を転写手段により記録紙に転写して定着手段により
記録紙上のトナー像を定着させ、この記録紙を画像記録
物として外部へ排出する。

【００５９】また、光源部１には、副走査方向のビーム
ピッチを調整するピッチ調整機構が設けられ、このピッ
チ調整機構はモータ制御部９を含む。ビデオ制御部８
は、画像評価パターンを含む評価チャートがＲＯＭから
なるメモリに格納され、操作パネル１０からの指示によ
りその画像評価パターンを含む評価チャートを内部発生
テストチャートとしてＲＯＭから出力する。

【００６０】したがって、操作パネル１０からの指示に
より当該画像記録装置にて画像評価パターンを含む評価
チャートを出力する場合には、ビデオ制御部８はＲＯＭ
から画像評価パターンを含む評価チャートを読み出して
光源部１の光源１１、１２をその評価チャートにより変
調して感光体７に書き込ませる。作像手段は、感光体ド
ラム７を帯電手段にて一様に帯電して光源１１、１２か
らのビームにより露光走査することで感光体ドラム７上
に評価チャートの静電潜像を形成し、この静電潜像を現
像手段で顕像化してトナー像とし、このトナー像を転写
手段にて記録紙に転写して定着手段にて記録紙上のトナ
ー像を定着させ、この記録紙を外部に排出することで評
価チャートを出力する。

【００６１】オペレータはその画像記録装置にて出力し
た評価チャートから僅かなビームピッチのずれでも目視
にて検出することができ、実際の画像記録が行われる領
域での副走査方向のビームピッチの変位を高精度で簡易
に検知できる。そこで、オペレータはその副走査方向の
ビームピッチの変位を無くすように操作パネル１０を操
作してモータ制御部９に光源部１を回転させ、副走査方
向のビームピッチをその変位が無くなるように調整す
る。

【００６２】ビデオ制御部８のＲＯＭに格納されている
画像評価パターンを含む評価チャートは、上記請求項２
に係る発明の一実施形態の評価チャートである。すなわ
ち、ビデオ制御部８のＲＯＭに格納されている画像評価
パターンを含む評価チャートは、光源部１からの第１ビ
ームと第２ビームとで感光体７上に形成される２ドット
ラインが光源部１からのビームの数ｎｂの整数倍の周期
で副走査方向に繰り返す画像パターンＡ１、光源部１か
らの第２ビームと第３ビームとで感光体７上に形成され
る２ドットラインが光源部１からのビームの数ｎｂの整
数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンＡ２、
・・・、光源部１からの第ｎｂビームと第１ビームとで
感光体７上に形成される２ドットラインが光源部１から
のビームの数ｎｂの整数倍の周期で副走査方向に繰り返
す画像パターンＡｎｂを複数個それぞれ主走査方向に隣
接して並設して構成された画像評価パターンであり、各
２ドットラインの画像は２つの異なるビームの各組み合
わせで形成される。

【００６３】光源部１においては、図１０に示すように
２個の半導体レーザからなる光源１１、１２はそのｐｎ
接合面を一致させて同一平面上に配置され、各半導体レ
ーザ１１、１２から射出されたビームはコリメートレン
ズ１３、１４によりそれぞれ平行光とされ、アパーチャ
部材１５、１６のスリットを通ることにより所定の光束
径に整形される。

【００６４】このアパーチャ部材１５、１６からのビー
ムのうちアパーチャ部材１５からのビームは、１／２波
長板１７により偏光方向が９０度回転させられ、ビーム
合成手段としてのビーム合成プリズム１８に入射してビ
ーム合成プリズム１８の斜面１８ａで内面反射され、ビ
ーム合成プリズム１８の偏光ビームスプリッタ面１８ｂ
で反射されて基準となるアパーチャ部材１６からのビー
ム１９とその光軸近傍に合成される。

【００６５】この際、ビーム合成プリズム１８からのビ
ーム１９、２０は、主走査方向に所定角度θｍ隔てて射
出され、半導体レーザ１１においてコリメートレンズ１
３との光軸を主走査方向に僅かに偏心させることで光源
部１を光軸回りに回転させることにより、ビーム１９、
２０間の射出角度の副走査角度成分Δθｓが得られて副
走査方向のビームピッチ調整がなされる。光源部１の回
転角をαとすると、Δθｓ＝θｍ・ｓｉｎαである。こ
のように副走査方向のビームピッチを光源部１の回転角
αのサイン成分として調整するようにしたので、副走査
方向のビームピッチを１μｍの精度で調整するために光
源部１の回転角αを数分のオーダで制御すれば十分であ
る。

【００６６】図１１はピッチ調整機構を含めた光源部１
を示す。半導体レーザ１１、１２は支持体２１、２２に
固定され、基体２３の裏面にコリメートレンズ１３、１
４と光軸を合わせてネジ２４〜２７を用いて接合させて
いる。コリメートレンズ１３、１４は鏡筒に納められた
基体２３の嵌合穴２３ａ、２３ｂに各々半導体レーザ１
１、１２と位置を合わせて係合・接着される。このよう
に構成された基体２３は、各光束の整形用スリット２８
ａ、２８ｂが形成されたアパーチャ部材２８（アパーチ
ャ部材１５、１６を一体に構成したもの）及びビーム合
成プリズム１８を裏面より収容・支持したフランジ部２
９を接合して一体化され、光源部１を構成する。

【００６７】ステッピングモータ３０のシャフトは円筒
部材３１に圧入され、円筒部材３１の外周に形成された
雄ネジがアクチュエータ３２に形成された雌ネジに螺合
される。アクチュエータ３２は、フランジ部２９のレバ
ー２９ａに当接し、ステッピングモータ３０の回転に応
じて矢視方向に平行移動してフランジ部２９のレバー２
９ａを押すことにより光源部１を回転させて副走査方向
のビームピッチを調整する。このような副走査方向のビ
ームピッチの調整はサブミクロンオーダの分解能を得る
ことが容易であり、ステッピングモータ３０のステップ
数と副走査方向ビームピッチとはリニアな関係となる。
また、モータ制御部９は操作パネル１０からの入力信号
によりステッピングモータ３０の制御を行う。なお、こ
の実施形態では光源として２個の半導体レーザを使用し
ているが、光源として半導体レーザアレイを用いること
もできる。

【００６８】図１２は請求項４〜６に係る発明の他の実
施形態を示す。この実施形態は、上記請求項４〜６に係
る発明の一実施形態において、図１２に示すような半導
体レーザアレイを有する光源部を用いるようにしたもの
である。この光源部においては、複数の発光点を有する
半導体レーザアレイ３３はｐｎ接合面が主走査方向とな
るように配置され、半導体レーザアレイ３３から射出さ
れた各ビームは共通のコリメートレンズ３４によりそれ
ぞれ平行光束に変換されてアパーチャ部材３５のスリッ
トを通ることにより所定の光束径に整形される。

【００６９】この際、半導体レーザアレイ３３の各発光
点とコリメートレンズ３４との配置関係に基づき各ビー
ムが主走査方向に所定角度θｍだけ隔てて射出され、ス
テッピングモータ３０による光源部の光軸回りの回転に
より各ビーム間の射出角度の副走査角度成分Δθｓが得
られて副走査方向のビームピッチ調整がなされる。

【００７０】なお、半導体レーザアレイ３３の発光点間
隔をΔｘ、コリメートレンズ３４の焦点距離をｆｃとす
ると、θｍ≒ａｒｃｓｉｎ（Δｘ／ｆｃ）となる。ま
た、光源部の回転角度をαとすると、Δθｓ≒θｍ・ｓ
ｉｎαの関係がある。また、光源として半導体レーザア
レイ３３を用いた場合には光源からのビームは３以上の
多ビーム化を容易に実現することができる。なお、上記
請求項４〜６に係る発明の各実施形態において、ビデオ
制御部８のＲＯＭに格納されている画像評価パターンを
含む評価チャートは上記請求項１に係る発明の一実施形
態の評価チャートとしてもよい。

【００７１】このように、上記請求項４〜６に係る発明
の各実施形態は、請求項４に係る発明の実施形態であっ
て、光源部１から射出された複数のビームを偏向手段と
しての回転多面鏡３により偏向して感光体７上に同時に
走査させて画像記録を行う画像記録装置において、主走
査方向に形成される２ドットラインが前記ビームの数の
整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンから
なる、２つの異なるビームの組み合わせで形成される画
像パターンＡ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂを、主走査方向
に複数個並設して構成された画像評価パターンを出力す
るビデオ制御部８、ピッチ調整機構及び作像手段による
画像評価パターン出力機能を備えたので、実際の画像記
録が行われる領域での副走査方向のビームピッチの変位
を高精度で簡易に検知できると共に副走査方向のビーム
ピッチの調整が可能となる。また、評価チャートの限度
見本を作成してこれを実際に本実施形態にて出力された
評価チャートと比較することにより簡易にビームピッチ
の検査の合否の判断を行うことが可能となり、ビームピ
ッチの変位量を振った時の評価チャートのサンプルと実
際に本実施形態にて出力された評価チャートとを比較す
ることにより、ビームピッチの変位量を定量的に検出す
ることも可能となる。さらに、特別の測定評価装置を用
いることなしに、場所や時間によらずに必要に応じてビ
ームピッチの変位を検査することができる。

【００７２】また、上記請求項４〜６に係る発明の各実
施形態は、請求項５に係る発明の実施形態であって、請
求項４記載の画像記録装置において、前記ビームの副走
査方向のピッチを調整する操作パネル１０及びピッチ調
整機構からなるピッチ調整手段を具備したので、請求項
４記載の画像記録装置と同様な効果が得られる上に、ビ
ームピッチの変位を検出した時に即座にビームピッチの
調整を行うことが可能となる。この時、評価チャートの
出力画像の濃淡によりビームピッチの変位の方向も知る
ことができ、また、ビームピッチの変位量を振った時の
評価チャートのサンプルを予め用意しておけばそのサン
プルと実際に本実施形態にて出力された評価チャートと
を比較することにより、ビームピッチの必要な調整量が
定量的に分かるので、効率的なビームピッチ調整が可能
となる。また、光源の劣化・破損による光源部の交換が
ユーザ先にて対応可能となり、ビームピッチの経時変動
が生じた際の対応も可能となる。

【００７３】また、上記請求項４〜６に係る発明の各実
施形態は、請求項６に係る発明の実施形態であって、請
求項５記載の画像記録装置において、前記光源部１から
射出されるビームは主走査方向に所定のビーム間角度が
設定され、前記光源部１を光軸回りに回動することによ
り前記ビームの副走査方向のピッチを調整する操作パネ
ル１０及びピッチ調整機構からなるピッチ調整手段を具
備したので、請求項５記載の画像記録装置と同様な効果
が得られる上に、副走査方向のビーム間角度を直接制御
する場合に比べて極めて高精度にビームピッチを調整で
き、より高精度なビームピッチの調整が可能となる。

【００７４】請求項３に係る発明の実施形態は、上記請
求項４〜６に係る発明の各実施形態において、上記請求
項２に係る発明の実施形態の評価チャートの代りに上記
請求項１に係る発明の実施形態の評価チャートを用いる
ようにしたものであって、上記各２ドットラインを、前
記ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画
像パターンからなる、複数の異なるビームの各組み合わ
せで形成されるｎドットライン（ｎ≧２）、例えば３つ
以上の所定数のドットラインであって、主走査方向に形
成されて副走査方向に順次に隣接するｎドットラインと
したものであり、実際の画像記録が行われる領域での副
走査方向のビームピッチの変位を比較的高精度で簡易に
検知することが可能となると共に副走査方向のビームピ
ッチの調整が可能となる。

【００７５】このように、請求項３に係る発明の実施形
態は、光源部１から射出された複数のビームを偏向手段
としての回転多面鏡３により偏向して感光体７上に同時
に走査させて画像記録を行う画像記録装置において、主
走査方向に形成されるｎドットライン（ｎ≧２）が前記
ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像
パターンからなる、複数の異なるビームの組み合わせで
形成される画像パターンを、主走査方向に複数個並設し
て構成された画像評価パターンを出力するビデオ制御部
８、ピッチ調整機構及び作像手段による画像評価パター
ン出力機能を備えたので、実際の画像記録が行われる領
域での副走査方向のビームピッチの変位を比較的高精度
で簡易に検知することが可能となると共に副走査方向の
ビームピッチの調整が可能となる。また、評価チャート
の限度見本を作成してこれを実際に本実施形態にて出力
された評価チャートと比較することにより簡易にビーム
ピッチの検査の合否の判断を行うことが可能となり、ビ
ームピッチの変位量を振った時の評価チャートのサンプ
ルと実際に本実施形態にて出力された評価チャートとを
比較することにより、ビームピッチの変位量を定量的に
検出することも可能となる。さらに、特別の測定評価装
置を用いることなしに、場所や時間によらずに必要に応
じてビームピッチの変位を検査することができる。

【００７６】図１３は請求項７、９に係る発明の一実施
形態を示す。この実施形態では、上記請求項４〜６に係
る発明の一実施形態において、ピッチ制御回路３６は操
作パネル１０からのピッチ制御指示によりＲＯＭから上
述した画像評価パターンを含む評価チャートを読み出し
て光源部１の光源１１、１２をその評価チャートにより
変調して感光体７に書き込ませる。

【００７７】作像手段は、感光体ドラム７を帯電手段に
て一様に帯電して光源１１、１２からのビームにより露
光走査することで感光体ドラム７上に評価チャートの静
電潜像を形成し、この静電潜像を現像手段で顕像化して
トナー像とし、このトナー像を転写手段にて記録紙に転
写して定着手段にて記録紙上のトナー像を定着させ、こ
の記録紙を外部に排出することで評価チャートを出力す
る。

【００７８】検出手段３７は作像手段により出力される
画像評価パターンを所定の出力過程で検出し、例えば検
出手段３７として感光体７の近傍に配置された表面電位
測定器を用いて感光体ドラム７上の評価チャートの静電
潜像の電位を表面電位測定器３７により検出する。この
表面電位測定器３７は、感光体７の近傍における主走査
方向の所定位置に配置されて評価チャートの静電潜像に
おける特定の画像パターン領域内の電位を測定し、例え
ば、図２、図６に示すような画像評価パターンの静電潜
像における画像パターンＡ１の静電潜像の領域の平均電
位を測定する。

【００７９】演算手段としての演算回路３８は表面電位
測定器３７の測定値を予め設定された基準値（例えばビ
ームピッチ偏差がない時の画像パターンＡ１の領域の平
均電位）と比較し、ピッチ制御回路３６は演算回路３８
の出力信号によりステッピングモータ３０を制御して表
面電位測定器３７の測定値と基準値との偏差が所定範囲
内に収まるように光源部１の回転角度を制御することに
より副走査方向のビームピッチを調整する。

【００８０】このように、この実施形態は、請求項７に
係る発明の一実施形態であって、請求項５または６記載
の画像記録装置において、ピッチ制御回路３６及び作像
手段による前記画像評価パターン出力機能により出力さ
れる画像評価パターンを所定の出力過程で検出する検出
手段３７を具備し、この検出手段３７の検出値と予め設
定された基準値との偏差が所定範囲内に収まるように演
算回路３８、ピッチ制御回路３６及びピッチ調整機構か
らなるピッチ調整手段にて前記ビームの副走査方向のピ
ッチを調整するので、実際の画像記録が行われる領域で
の副走査方向のビームピッチの変位を自動的に補正する
ことができる。

【００８１】また、この実施形態は、請求項９に係る発
明の一実施形態であって、請求項７記載の画像記録装置
において、前記検出手段３７は前記画像評価パターンの
潜像電位を検出する表面電位測定器であるので、実際の
画像記録が行われる領域での副走査方向のビームピッチ
の変位を自動的に補正することができる。

【００８２】図１４は請求項８、９に係る発明の一実施
形態を示す。この実施形態では、上記請求項４〜６に係
る発明の一実施形態において、ピッチ制御回路３９は操
作パネル１０からのピッチ制御指示により上述したＲＯ
Ｍから画像評価パターンを含む評価チャートを読み出し
て光源部１の光源１１、１２をその評価チャートにより
変調して感光体７に書き込ませる。

【００８３】作像手段は、感光体ドラム７を帯電手段に
て一様に帯電して光源１１、１２からのビームにより露
光走査することで感光体ドラム７上に評価チャートの静
電潜像を形成し、この静電潜像を現像手段で顕像化して
トナー像とし、このトナー像を転写手段にて記録紙に転
写して定着手段にて記録紙上のトナー像を定着させ、こ
の記録紙を外部に排出することで評価チャートを出力す
る。

【００８４】検出手段４０、４１は作像手段により出力
される画像評価パターンを所定の出力過程で検出し、例
えば検出手段４０、４１として感光体７の近傍に主走査
方向へ並設された２つの表面電位測定器を用いて感光体
ドラム７上の評価チャートの静電潜像の電位を表面電位
測定器４０、４１により検出する。この表面電位測定器
４０、４１は、感光体７の近傍における主走査方向の所
定位置に配置されて評価チャートの静電潜像における互
いに異なった組合せのビームにより書き込まれた２つの
画像パターン領域内の電位をそれぞれ測定し、例えば、
表面電位測定器４０、４１は、図２、図６に示すような
画像評価パターンの静電潜像における画像パターンＡ１
の静電潜像の領域と画像パターンＡ２の静電潜像の領域
の各平均電位をそれぞれ測定する。

【００８５】演算手段としての演算回路４２は表面電位
測定器４０、４１の各測定値の差分を予め設定された基
準値と比較し、ピッチ制御回路３９は演算回路４２の出
力信号によりステッピングモータ３０を制御して表面電
位測定器４０、４１の各測定値の差分と基準値との偏差
が所定範囲内に収まるように光源部１の回転角度を制御
することにより副走査方向のビームピッチを調整する。

【００８６】このように、この実施形態は、請求項８に
係る発明の一実施形態であって、請求項５または６記載
の画像記録装置において、主走査方向に並設されピッチ
制御回路３９及び作像手段による画像評価パターン出力
機能により出力される画像評価パターンを所定の出力過
程で検出する２つの検出手段４０、４１を具備し、この
２つの検出手段４０、４１の検出値の差分が所定範囲内
に収まるように演算回路４２、ピッチ制御回路３９及び
ピッチ調整機構からなるピッチ調整手段にて前記ビーム
の副走査方向のピッチを調整するので、実際の画像記録
が行われる領域での副走査方向のビームピッチの変位を
自動的に補正することができ、ビームピッチの基準値と
の差分からビームピッチの変位を検出する場合に比べて
検出精度が向上してより高精度な自動ビームピッチ補正
ができる。

【００８７】また、この実施形態は、請求項９に係る発
明の一実施形態であって、請求項８記載の画像記録装置
において、前記検出手段４０、４１は前記画像評価パタ
ーンの潜像電位を検出する表面電位測定器であるので、
実際の画像記録が行われる領域での副走査方向のビーム
ピッチの変位を自動的に補正することができ、ビームピ
ッチの基準値との差分からビームピッチの変位を検出す
る場合に比べて検出精度が向上してより高精度な自動ビ
ームピッチ補正ができる。

【００８８】請求項７、９に係る発明の他の実施形態
は、上記請求項７、９に係る発明の一実施形態におい
て、上記請求項２に係る発明の実施形態の評価チャート
の代りに上記請求項１に係る発明の実施形態の評価チャ
ートを用いるようにしたものであって、上記各２ドット
ラインを、前記ビームの数の整数倍の周期で副走査方向
に繰り返す画像パターンからなる、複数の異なるビーム
の各組み合わせで形成されるｎドットライン（ｎ≧
２）、例えば３つ以上の所定数のドットラインであっ
て、主走査方向に形成されて副走査方向に順次に隣接す
るｎドットラインとしたものであり、上記請求項７、９
に係る発明の一実施形態とほぼ同様な効果が得られる。

【００８９】請求項８、９に係る発明の他の実施形態
は、上記請求項８、９に係る発明の一実施形態におい
て、上記請求項２に係る発明の実施形態の評価チャート
の代りに上記請求項１に係る発明の実施形態の評価チャ
ートを用いるようにしたものであって、上記各２ドット
ラインを、前記ビームの数の整数倍の周期で副走査方向
に繰り返す画像パターンからなる、複数の異なるビーム
の各組み合わせで形成されるｎドットライン（ｎ≧
２）、例えば３つ以上の所定数のドットラインであっ
て、主走査方向に形成されて副走査方向に順次に隣接す
るｎドットラインとしたものであり、上記請求項８、９
に係る発明の一実施形態とほぼ同様な効果が得られる。

【００９０】なお、上記請求項７、９に係る発明の実施
形態、上記請求項８、９に係る発明の実施形態において
は、検出手段３７、４０、４１は、感光体７上の評価チ
ャートの静電潜像の電位を測定したが、画像評価パター
ン出力機能により出力される画像評価パターンを他の出
力過程で検出してもよく、例えば検出手段３７、４０、
４１として感光体７もしくは記録紙上の画像評価パター
ンのトナー像の濃度を検出する濃度検出手段を用いるよ
うにしてもよい。

【００９１】図２０は請求項１０に係る発明の一実施形
態を説明するための図である。この実施形態は、画像記
録装置に用いられる評価チャートの一実施形態であり、
光源部から射出された複数（ｎｂ本）のビームを偏向手
段により偏向して感光体上に同時に走査させて画像記録
を行う画像記録装置、例えば後述する画像記録装置に使
用されるものである。

【００９２】この実施形態の評価チャートは、画像記録
装置において、図２０に示すように光源部からの第１の
ビームで感光体上に主走査方向へ形成される１ドットラ
インが光源部からのビームの数ｎｂの整数倍の周期で副
走査方向に繰り返す画像パターンＡ１、光源部からの第
２ビームで感光体上に主走査方向へ形成される１ドット
ラインが光源部からのビームの数ｎｂの整数倍の周期で
副走査方向に繰り返す画像パターンＡ２、・・・、光源
部からの第ｎｂビームで感光体上に主走査方向へ形成さ
れる１ドットラインが光源部からのビームの数ｎｂの整
数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンＡｎｂ
を、複数個順次に主走査方向に隣接して並設して構成さ
れた画像評価パターンであり、各１ドットラインの画像
は１つの異なるビームで形成される。

【００９３】ここに、第１ビーム〜第ｎｂビームは副走
査方向に順次に隣接したビームであって感光体上を副走
査方向へ所定のピッチをおいて主走査方向へ走査し、上
記１ドットラインはそれぞれ主走査方向に形成されて副
走査方向に隣接する１ドットラインである。１組目の画
像パターンＡ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂにおける主走査
方向の最後の画像パターンＡｎｂの次には２組目の画像
パターンＡ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂにおける主走査方
向の最初の画像パターンＡ１が主走査方向に隣接して並
設されるというように複数組の画像パターンＡ１、Ａ
２、・・・、Ａｎｂが主走査方向に隣接して並設され
る。

【００９４】この評価チャートは各画像パターンＡ１、
Ａ２、・・・、Ａｎｂの副走査方向の繰り返し周期をビ
ーム数ｎｂの整数倍の周期としたので、同一の画像パタ
ーンＡ１、Ａ２、・・・、Ａｎｂ内においては常に同一
のビームで形成される。各画像パターンＡ１、Ａ２、・
・・、Ａｎｂの副走査方向の繰り返し周期は画像上では
ｎ・ｎｂ・Ｐｓである。ただし、Ｐｓは、所定の走査ピ
ッチ、例えば４００ｄｐｉの記録密度では６３．５μｍ
であり、ｎは１以上の整数である。

【００９５】この評価チャートは、ビーム数を２とした
（ｎｂ＝２とした）場合には図２１に示すように第１ビ
ームで形成される１ドットラインの画像パターンＡ１
と、第２ビームで形成される１ドットラインの画像パタ
ーンＡ２とが交互に主走査方向に隣接して並設される。
同一の画像パターンＡ１、Ａ２はそれぞれビーム数の整
数倍（画像上の実長としては２・ｎ・Ｐｓ、但しｎは１
以上の整数）の周期で副走査方向に繰り返し、同一の画
像パターンＡ１、Ａ２を有する各領域は同一のビームで
形成される。

【００９６】ここで、図２２（ａ）に示すようにビーム
ＢＭ２、・・・、ＢＭｎｂにより１ドットラインの画像
パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂを副走査方向ピッチ
Ｐｓで形成する際に、各ビームの位相同期にずれが生じ
た場合、例えば図２２に模式的に示すように本来図２２
（ｂ）の点線で示す信号になるはずのビームＢＭ２、・
・・、ＢＭｎｂの変調信号１・・・ｎｂが図２２（ｂ）
の実線で示すようにずれてしまった場合、つまり、後続
のビームＢＭ２、・・・、ＢＭｎｂの変調信号が早まっ
た場合には、そのずれが図２３に示すように主走査方向
に隣接して並設した複数個の画像パターンＡ１、Ａ２・
・・、Ａｎｂの各境界部に縦の黒筋となって画像パター
ンに現われ、また、逆に後続のビームＢＭ２、・・・、
ＢＭｎｂの変調信号が遅れた場合には、その遅れが主走
査方向に隣接して並設した複数個の画像パターンＡ１、
Ａ２・・・、Ａｎｂの各境界部に縦の白筋となって画像
パターンに現われることになる。これらの黒筋、白筋の
パターンは、本来均一な中間調画像であるはずの画像パ
ターン上に規則的でシャープな濃度変動として知覚され
るので、目視においても非常に敏感に検知される。

【００９７】図２４及び図２５はビームの数ｎｂが２の
場合について、ビーム間に位相ずれが生じた時における
各ビームの変調信号１、２及び画像Ａ１、Ａ２・・・、
Ａｎｂを示す。この時は、ビーム間に位相ずれが生ずる
と、各１ドットラインの画像パターンＡ１、Ａ２・・
・、Ａｎｂの境界部に交互に縦の黒筋と縦の白筋とが画
像上に現われることになる。

【００９８】実験の結果では、ビームの数ｎｂが２の時
に１０μｍ程度のビーム間位相ずれを容易に検出し得
た。以上述べたように、図２０又は図２１に示すような
評価パターンを用いることにより、僅かなビーム間の位
相ずれでも目視にて検出することができる。

【００９９】次に、感光体上に照射されるビームの間で
光量やビームスポット径などの特性にバラツキが生じた
場合について説明する。図２６に模式的に示すように各
ビームＢＭ２、・・・、ＢＭｎｂによりそれぞれ１ドッ
トラインの画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂを形
成する場合に、ビームＢＭ２、・・・、ＢＭｎｂの光量
が大きい時やビームスポット径が大きい時は１ドットラ
インの画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの線幅が
大きくなり、逆にビームＢＭ２、・・・、ＢＭｎｂの光
量が小さい時やビームスポット径が小さい時は１ドット
ラインの画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの線幅
が小さくなる。

【０１００】本実施形態は、これらが同一周期で副走査
方向に繰り返すように構成したことにより、１ドットラ
インの画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの線幅が
知覚的に画像濃度の濃淡として感じられるようになる。
図２６はその様子を示す。知覚の特性として、微妙なラ
イン幅の違いを見分けるのは難しいが、画像の濃淡の検
出感度は非常に高く、特に隣接した領域では僅かな濃度
差でも検知することができる。従って、本実施形態の評
価チャートを用いることにより、ビーム間の画像上での
特性バラツキを目視にて簡易に検出することができる。

【０１０１】この評価チャートを構成する１ドットライ
ンの画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂは、必ずし
も２値的な画像パターンであるとは限らず、図２７に模
式的に示すように中間的な濃度の１ドットラインとして
形成してもよい。例えば、ビームｎｂ＝２、ｎ＝１の場
合は、このように２値的な濃度レベルの１ドットライン
で画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂを形成した方
が、効果的にビーム間の位相ずれやビーム間の特性バラ
ツキをより高感度で検出することができる。

【０１０２】また、評価チャートは、必ずしも連続した
１ドットラインを基本構成とする必要もなく、図２８に
示すように不連続な１ドットラインを基本構成としても
よい。さらに、各ビーム単独で形成される不連続な画像
パターンを主走査方向に隣接して並設するようにするこ
とにより、同様の効果が得られる。ここで、請求項１０
に係る発明の実施形態としての評価チャートは、通常フ
ロッピーディスク、ＲＯＭなどの各種記録媒体に格納さ
れ、必要に応じて読み出されて使用される得る画像デー
タを含むソフトウェアとしての評価チャートである。

【０１０３】このように、請求項１０に係る発明の実施
形態は、光源部から射出された複数のビームを偏向手段
により偏向して感光体上に同時に走査させて画像記録を
行う画像記録装置の評価チャートであって、主走査方向
に形成される１ドットラインが前記ビームの数の整数倍
の周期で副走査方向に繰り返し、前記複数のビームの各
々により形成される複数個の１ドットライン画像パター
ンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂを、主走査方向に隣接する
ように複数個並設して構成された画像評価パターンを含
むので、１ドットライン画像パターンを各ビームで主走
査方向に形成することにより、各１ドットライン画像パ
ターンは各ビームの光量やスポット径の大小に応じた線
幅となり、この１ドットライン画像パターンを副走査方
向へ繰り返し形成することで、１ドットライン画像パタ
ーンの線幅の大小が画像濃度の濃淡として知覚されるよ
うになる。従って、各ビームにより形成される１ドット
ライン画像パターンの線幅のバラツキを高精度で検出す
ることができる。

【０１０４】また、各ビームにより形成される１ドット
ライン画像パターンを主走査方向に隣接させて並設した
ことにより、各ビーム間の位相同期ずれがあると、各１
ドットライン画像パターンの境界部において黒筋又は白
筋として画像が現われるので、各ビーム間の位相同期ず
れを容易かつ高精度に検出することができる。また、評
価チャートの限度見本を作成してこれを実際に本実施形
態にて出力された評価チャートと比較することにより、
ビーム間の特性バラツキ及びビーム間の位相同期ずれの
検査を容易に行うことが可能となる。さらに、各ビーム
間の位相同期ずれ量を振った時の評価チャートのサンプ
ルと実際に本実施形態にて出力された評価チャートとを
比較することにより、各ビーム間の位相同期ずれを定量
的に検知することも可能となる。

【０１０５】図２９（ａ）は請求項１１に係る発明の一
実施形態を示す。光源部６１から射出された複数のビー
ムは、それぞれシリンダレンズ６２を介して偏向手段と
しての回転多面鏡６３に入射し、回転多面鏡６３により
その回転に伴って偏向走査される。この回転多面鏡６３
からの複数のビームはｆθレンズ６４及びトロイダルレ
ンズ６５からなる走査光学系を介して感光体６６上を同
時に露光走査する。各ビームは後述するように画像信号
に応じて変調され、図示しない作像手段により顕像化さ
れる。

【０１０６】感光体６６は、例えば感光体ドラムが用い
られ、駆動部により回転駆動される。作像手段は、感光
体６６を帯電手段により一様に帯電して感光体６６の上
記複数のビームによる露光走査で感光体６６上に静電潜
像を形成し、この静電潜像を現像手段で顕像化してトナ
ー像とし、このトナー像を転写手段にて記録紙に転写し
て定着手段により記録紙上のトナー像を定着させ、この
記録紙を外部へ排出することにより、出力画像を得る。

【０１０７】光源部６１は半導体レーザアレイ６７とコ
リメートレンズ６８からなり、半導体レーザアレイ６７
から射出された複数のビームはコリメートレンズ６８に
よりそれぞれ平行光とされて光源部６１から放射され
る。ここで、半導体レーザアレイ６７はその発光点（図
示せず）の配列方向が主走査方向に対して所定角度傾く
ように設定され、各ビームが主走査方向及び副走査方向
に所定の間隔をもって感光体６６上の被走査面６６ａを
露光走査するようになされている。

【０１０８】また、主走査開始側の非画像形成領域には
同期検知信号を検出するための光検出器６９が設けら
れ、この光検出器６９は回転多面鏡６３からｆθレンズ
６４及びトロイダルレンズ６５からなる走査光学系を介
して入射する複数のビームを検出して同期検知信号を出
力する。位相同期信号発生手段７０は光検出器６９から
入力される同期検知信号に基づいて各ビームに対応する
位相同期信号を生成し、これをビデオ制御部７１に出力
する。

【０１０９】ビデオ制御部７１は位相同期信号発生手段
７０からの位相同期信号により、各ビームを変調するた
めの画像信号の出力タイミングを制御することで各ビー
ムの書き出しタイミングを制御し、半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）駆動回路７２はビデオ制御部７１からの各画像信号
により半導体レーザアレイ６７の各発光部を駆動して複
数のビームを発光させる。

【０１１０】以下、便宜上、光源部６１から射出される
ビームの数を３として説明する。図３０は光検出器６９
の様子を示す。主走査開始側の非画像形成領域に設置さ
れた光検出器６９は、主走査方向の間隔が光検出器６９
上で干渉しない十分な所定距離Ｐｍ（少なくとも光検出
器６９の水平方向の幅より大きい距離）とされたビーム
ＢＭ１，ＢＭ２，ＢＭ３が所定の時間差ｔｍ（＝Ｐｍ／
ｖｂ、ｖｂはビーム走査速度）をもって順次にトロイダ
ルレンズ６５から入射し、このビームＢＭ１，ＢＭ２，
ＢＭ３を順次に検出する。

【０１１１】光検出器６９は１つで全てのビームＢＭ
１，ＢＭ２，ＢＭ３を検出して同期検知信号ｓを位相同
期信号発生手段７０へ出力する。位相同期信号発生手段
７０は、図３０（ｂ）に示すようにセパレータにより構
成され、光検出器６９からの同期検知信号ｓを各ビーム
ＢＭ１，ＢＭ２，ＢＭ３に対応した位相同期信号ｓ１，
ｓ２，ｓ３に分配してビデオ制御部７１へ出力する。

【０１１２】ＬＤ駆動回路７２に画像信号を供給するビ
デオ制御部７１は、上述した請求項１０に係る発明の実
施形態の評価チャートが格納されたメモリ（ＲＯＭ）７
３を有し、操作パネル７４からの指示信号により評価チ
ャートをＲＯＭ７３から読み出してＬＤ駆動回路７２へ
出力する。ＲＯＭ７３に格納されている評価チャート
は、上述のように主走査方向に形成される１ドットライ
ンがビームの数ｎｂの整数倍の周期で副走査方向に繰り
返し、複数のビームの各々により形成される複数個の１
ドットライン画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂ
を、主走査方向に隣接するように複数個並設して構成さ
れた画像評価パターンである。

【０１１３】請求項１１に係る発明の他の実施形態で
は、上記請求項１１に係る発明の一実施形態において、
光源部６１として図２９（ｂ）に示すように複数の半導
体レーザ１１、１２を有する光源部が用いられる。この
光源部６１は上述した請求項４〜６に係る発明の一実施
形態における光源部１と同様に構成される。すなわち、
この光源部６１では、２個の半導体レーザからなる光源
１１、１２はそのｐｎ接合面を一致させて同一平面上に
配置され、各半導体レーザ１１、１２から射出されたビ
ームはコリメートレンズ１３、１４によりそれぞれ平行
光とされ、アパーチャ部材１５、１６のスリットを通る
ことにより所定の光束径に整形される。

【０１１４】このアパーチャ部材１５、１６からのビー
ムのうちアパーチャ部材１５からのビームは、１／２波
長板１７により偏光方向が９０度回転させられ、ビーム
合成手段としてのビーム合成プリズム１８に入射してビ
ーム合成プリズム１８の斜面１８ａで内面反射され、ビ
ーム合成プリズム１８の偏光ビームスプリッタ面１８ｂ
で反射されて基準となるアパーチャ部材１６からのビー
ム１９とその光軸近傍に合成される。

【０１１５】この際、ビーム合成プリズム１８からのビ
ーム１９、２０は、主走査方向に所定角度θｍ隔てて射
出され、半導体レーザ１１においてコリメートレンズ１
３との光軸を主走査方向に僅かに偏心させることで光源
部１を光軸回りに回転させることにより、ビーム１９、
２０間の射出角度の副走査角度成分が得られて各ビーム
が主走査方向及び副走査方向に所定の間隔をもって感光
体６６上を露光走査するようになされる。

【０１１６】図３１は請求項１１に係る発明の他の実施
形態における光検出器６９の様子を示す。この実施形態
では、上記請求項１１に係る発明の一実施形態におい
て、上記光検出器６９は各ビームＢＭ１、ＢＭ２、ＢＭ
３に対応した複数の光検出器６９₁、６９₂、６９₃から
なり、これらの光検出器６９₁、６９₂、６９₃は各ビー
ムＢＭ１、ＢＭ２、ＢＭ３をそれぞれ独立に検出して各
ビームＢＭ１、ＢＭ２、ＢＭ３に対応した位相同期信号
ｓ１、ｓ２、ｓ３を発生する。位相同期信号発生手段７
０は省略され、光検出器６９₁、６９₂、６９₃からの位
相同期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３はビデオ制御部７１に入力
される。

【０１１７】図３２は請求項１１に係る発明の他の実施
形態における光検出器６９の様子を示す。この実施形態
は各ビームの間隔が予めある程度分かっている場合（半
導体レーザアレイを使用した場合など）に使用されるも
のである。この実施形態では、上記請求項１１に係る発
明の一実施形態において、ビデオ制御部７１は特定のビ
ーム例えばビームＢＭ１のみが光検出器６９通過時に点
灯するようにＬＤ駆動回路７２を介して光源部６１を制
御する。

【０１１８】位相同期信号発生手段７０は、図３２
（ｂ）に示すように遅延回路により構成され、光検出器
６９で得られたビームＢＭ１に対応する同期検知信号
ｓ’に所定の遅延時間を与えることにより、各ビームに
対応する位相同期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３を得る。ここ
で、所定の遅延時間を与えるとは、各位相同期信号ｓ
１、ｓ２、ｓ３間にｔｍの時間差を持たせることであ
る。

【０１１９】このように、請求項１１に係る発明の実施
形態は、光源部６１から射出された複数のビームを偏向
手段としての回転多面鏡６３により偏向して感光体６６
上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置にお
いて、主走査方向に形成される１ドットラインが前記ビ
ームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返し、前記
複数のビームの各々により形成される複数個の１ドット
ライン画像パターンを、主走査方向に隣接するように複
数個並設して構成された画像評価パターンを出力するビ
デオ制御部７１及び作像手段による画像評価パターン出
力機能を備えたので、各ビーム間の位相ずれ及び各ビー
ム間の線幅のバラツキを目視にて高精度に検出可能な評
価パターンをテストチャートとして出力することが可能
になり、上記請求項１０に係る発明の実施形態と同様な
効果が得られる上に、特別な測定評価装置を用いること
なしに、場所や時間によらず必要に応じて画像形成領域
でのビーム間の位相ずれや各ビーム間の光量やビーム径
等の特性バラツキを簡易に検出することが可能となる。
特に、画像形成領域外で発生している水平位相ずれでな
く、画像形成領域において実際に画像上で発生している
水平位相ずれを簡易に検知することができる。

【０１２０】図３３は請求項１２に係る発明の一実施形
態を示す。この実施形態では、上記請求項１１に係る発
明の一実施形態において、位相同期信号発生手段７０と
ビデオ制御部７１との間に位相同期制御手段７５が設け
られる。この位相同期制御手段７５は、位相同期信号発
生手段７０からビデオ制御部７１への位相同期信号ｓ
１、ｓ２、ｓ３を遅延させることにより、各ビームの書
き出しタイミングをそれぞれ独立に制御する。

【０１２１】ここに、ビーム間に位相ずれが生ずると、
図３８に示すように各１ドットライン画像パターンＡ
１、Ａ２・・・、Ａｎｂの境界部に縦の黒筋と縦の白筋
とが画像上に現われることになる。後続のビームの書き
出しタイミングが早い時には例えば図３９（ａ）に示す
ように画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの境界部
に交互に縦の黒筋と縦の白筋とが画像上に現われ、後続
のビームの書き出しタイミングが遅い時には例えば図３
９（ｂ）に示すように画像パターンＡ１、Ａ２・・・、
Ａｎｂの境界部に縦の白筋とが画像上に現われる。

【０１２２】位相同期制御手段７５は、ディレイライ
ン、セレクタなどから構成され、位相同期信号発生手段
７０からの位相同期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３をそれぞれ独
立に所定の時間だけ遅延させた信号に変換してビデオ制
御部７１へ出力する。位相同期制御手段７５にて位相同
期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３を遅延させる遅延時間は少なく
ともｎｂ−１（ビームの数−１）個の位相同期信号ｓ
２、ｓ３・・・に対して、例えば画素クロック周期Ｔの
１／ｍのピッチ（Ｔ／ｍ）で可変とされ、位相同期制御
手段７５は図３４にも示すように操作パネル７４から遅
延時間指令信号ｍ１、ｍ２（ｍは整数）が与えられるこ
とにより、ビームＢＭ１に対応した位相同期信号ｓ１に
対しては基準遅延時間ｔ０、ビームＢＭ２に対応した位
相同期信号ｓ２に対しては基準遅延時間ｔ０＋Δｔ１、
ビームＢＭ３に対応した位相同期信号ｓ３に対しては基
準遅延時間ｔ０＋Δｔ１＋Δｔ２だけ遅延させる。

【０１２３】ただし、Δｔ１＝（ｍ１／ｍ）・Ｔ、Δｔ
２＝（ｍ２／ｍ）・Ｔ、Δｔ３＝（ｍ３／ｍ）・Ｔであ
り、また、遅延時間補正ピッチＴ／ｍは各ビーム間の位
相ずれ許容量以下の所定値に設定されている。例えば、
本実施形態にて上述のように評価チャートを実際に出力
して各ビーム間の位相ずれを検出した時には、各ビーム
間の位相同期ずれ量を振った時の評価チャートのサンプ
ルと実際に本実施形態にて出力された評価チャートとを
比較して各ビーム間の位相ずれ量を検知し、操作パネル
７４から方向も含めて補正すべき遅延時間をその位相ず
れ量に応じて位相同期制御手段７５に指示することによ
り、各ビーム間の位相ずれが調整される。

【０１２４】また、操作パネル７４は位相同期制御手段
７５の内蔵するメモリ部７５ａに遅延時間指令信号ｍ
１、ｍ２を必要に応じて格納させることができ、この時
には位相同期制御手段７５は次に画像出力を行う場合に
メモリ部７５ａから遅延時間指令信号ｍ１、ｍ２を読み
出し、この遅延時間指令信号ｍ１、ｍ２により位相同期
信号ｓ１、ｓ２、ｓ３を遅延させる。

【０１２５】請求項１２に係る発明の他の実施形態で
は、上記請求項１２に係る発明の一実施形態において、
光源部６１として図３３（ｂ）に示すように複数の半導
体レーザ１１、１２を有する光源部が用いられる。この
光源部６１は上述した請求項４〜６に係る発明の一実施
形態における光源部１と同様に構成される。

【０１２６】このように、請求項１２に係る発明の実施
形態は、請求項１１記載の画像記録装置において、前記
複数のビームの各書き出しタイミングをそれぞれ独立に
制御する位相同期制御手段７５を備えたので、請求項１
１記載の画像記録装置と同様な効果が得られる上に、各
ビーム間の位相ずれが検知された時に即座に操作パネル
７４からの指示により各ビームの各書き出しタイミング
をそれぞれ独立に調整して各ビーム間の位相ずれを調整
することができる。

【０１２７】この時、出力画像の１ドットライン画像パ
ターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの境界部が黒筋となる
か白筋となるるかによって位相同期ずれの方向も知るこ
とができ、また、各ビーム間の位相同期ずれ量を振った
時の評価チャートのサンプルを予め用意しておけば、こ
れらのサンプルと出力画像とを比較することにより必要
な調整量が定量的に分かるので、効率的な調整が可能と
なる。また、半導体レーザの劣化、破損による光源部の
交換を行う際に生ずる位相同期ずれの検査や調整もで
き、ユーザ先にて対応可能となる。また、経時的に発生
した各ビーム間の位相同期ずれに対しても対処可能とな
る。

【０１２８】また、上記請求項１２に係る発明の実施形
態は、請求項１５に係る発明の実施形態でもあって、請
求項１２記載の画像記録装置において、ビデオ制御部７
１及び作像手段による画像評価パターン出力機能が操作
部としての操作パネル７４からの指示信号により画像評
価パターンを出力するので、画像形成領域でのビーム間
の位相ずれを高感度で簡易に検出することができると共
に、ビーム間の位相ずれを補正することができ、オペレ
ータ（サービスマン、ユーザ等）の対応が容易になり、
装置を移動させることなしにユーザ先での対応が容易に
なる。

【０１２９】また、上記請求項１２に係る発明の実施形
態は、請求項１６に係る発明の実施形態でもあって、請
求項１２記載の画像記録装置において、ビデオ制御部７
１及び作像手段による画像評価パターン出力機能は操作
部としての操作パネル７４からの指示信号により画像評
価パターンを出力すると共に、操作部７４からの指示信
号により複数のビームの各書き出しタイミングを補正す
るので、画像形成領域でのビーム間の位相ずれを高感度
で簡易に検出することができると共に、ビーム間の位相
ずれを補正することができ、オペレータ（サービスマ
ン、ユーザ等）の対応が容易になり、装置を移動させる
ことなしにユーザ先での対応が容易になる。

【０１３０】図３５（ａ）は請求項１３に係る発明の一
実施形態を示す。この実施形態では、上記請求項１２に
係る発明の一実施形態において、作像手段により出力さ
れる画像評価チャートを所定の出力過程で検出する検出
手段が設けられ、この検出手段の検出値に基づいて位相
同期制御手段７５にて各ビーム間の位相ずれを補正す
る。上記検出手段は、感光体６６上の静電潜像の電位を
検出する、ビーム数ｎｂと同数の表面電位測定器７６
１、７６２、７６３からなり、感光体６６の近傍に主走
査方向に並設するように配置されて作像手段による画像
評価チャート出力時に各１ドットライン画像パターンＡ
１、Ａ２・・・、Ａｎｂの静電潜像の境界部の電位を検
出する。

【０１３１】位相同期制御手段７５は、図３６に示すよ
うに位相同期信号発生手段７０からの位相同期信号ｓ
１、ｓ２、ｓ３をそれぞれ独立に遅延させてビデオ制御
部７１へ出力する遅延制御回路７５１と、この遅延制御
回路７５で位相同期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３を遅延させる
遅延時間を算出する遅延時間算出回路７５２から構成さ
れる。

【０１３２】ビデオ制御部７１は操作パネル７４からの
位相同期補正指令信号により上述した評価チャートをＲ
ＯＭ７３から読み出してＬＤ駆動回路７２へ出力し、光
源部６１の半導体レーザアレイ６７を変調して感光体６
６に評価チャートを書き込ませる。従って、感光体６６
は評価チャートの静電潜像が形成され、表面電位測定器
７６１、７６２、７６３が感光体６６上の各１ドットラ
イン画像パターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの静電潜像
の境界部の電位、例えばこれらの境界部の各平均電位Ｖ
１、Ｖ２、Ｖ３をそれぞれ検出する。

【０１３３】遅延時間算出回路７５２は、表面電位測定
器７６１、７６２、７６３の測定電位Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３
が入力され、これらの測定電位Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３の平均
値／Ｖ（＝（Ｖ１＋Ｖ２＋Ｖ３）／３）と各電位Ｖ１、
Ｖ２との差に基づいて遅延時間指令信号ｍ１、ｍ２を出
力する。ここに、ｍ１∝Ｖ１−／Ｖ、ｍ２∝Ｖ２−／Ｖ
である。

【０１３４】遅延制御回路７５１は、図３７に示すよう
なメモリ７７及び加算回路７８からなるメモリ部７５１
ａを内蔵し、遅延時間算出回路７５２からの遅延時間指
令信号ｍ１、ｍ２を加算回路７８を介してメモリ７７に
格納して保持する。遅延制御回路７５１は、次の通常の
画像出力時には、位相同期信号発生手段７０からの位相
同期信号ｓ１、ｓ２、ｓ３をそれぞれ独立にメモリ７７
からの遅延時間指令信号ｍ１、ｍ２に基づく所定の時間
ｔ０、ｔ０＋Δｔ１、ｔ０＋Δｔ１＋Δｔ２だけ遅延さ
せた信号ｓ１’、ｓ２’、ｓ３’に変換してビデオ制御
部７１へ出力する。

【０１３５】また、次に、操作パネル７４から位相同期
補正指令信号が指令され、遅延時間算出回路７５２にて
遅延時間指令信号ｍ１’、ｍ２’が出力された時には、
遅延時間算出回路７５２からの遅延時間指令信号ｍ
１’、ｍ２’は、加算回路７８でメモリ部７５１ａに記
憶されている遅延時間指令信号ｍ１、ｍ２と加算され、
その結果ｍ１＋ｍ１’、ｍ２＋ｍ２’がメモリ７７に新
たに格納されて保持される。遅延制御回路７５１は、次
の通常の画像出力時には、メモリ７７からその新たな遅
延時間指令信号ｍ１＋ｍ１’、ｍ２＋ｍ２’を遅延制御
回路７５１へ出力する。

【０１３６】請求項１３に係る発明の他の実施形態で
は、上記請求項１３に係る発明の一実施形態において、
光源部６１として図３５（ｂ）に示すように複数の半導
体レーザ１１、１２を有する光源部が用いられる。この
光源部６１は上述した請求項４〜６に係る発明の一実施
形態における光源部１と同様に構成される。

【０１３７】このように、請求項１３に係る発明の実施
形態は、請求項１２記載の画像記録装置において、前記
画像評価パターン出力時の前記複数のビームに対応する
前記複数個の１ドットライン画像パターンＡ１、Ａ２・
・・、Ａｎｂの各境界部に対する前記感光体６６の表面
電位を検出する電位検出手段としての表面電位測定器７
６１、７６２、７６３を具備し、この電位検出手段７６
１、７６２、７６３の検出値に基づいて前記位相同期制
御手段７５にて前記複数のビームの各書き出しタイミン
グをそれぞれ独立に補正するので、画像形成領域でのビ
ーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出することができ
ると共に、ビーム間の位相ずれを自動的に補正すること
ができる。

【０１３８】また、上記請求項１３に係る発明の実施形
態は、請求項１７に係る発明の実施形態でもあって、請
求項１３記載の画像記録装置において、操作部としての
操作パネル７４からの指示信号により前記複数のビーム
の各書き出しタイミングを自動的に補正する手段として
の電位検出手段７６１、７６２、７６３及び位相同期制
御手段７５を備えたので、画像形成領域でのビーム間の
位相ずれを高感度で簡易に検出することができると共
に、ビーム間の位相ずれを自動的に補正することがで
き、オペレータ（サービスマン、ユーザ等）の対応が容
易になり、装置を移動させることなしにユーザ先での対
応が容易になる。

【０１３９】請求項１４に係る発明の各実施形態は、上
記請求項１３に係る発明の各実施形態において、それぞ
れ作像手段により出力される画像評価チャートを所定の
出力過程で検出する検出手段として表面電位測定器７６
１、７６２、７６３の代りに、画像評価チャートの顕像
化されたトナー像（感光体６６上のトナー像又は記録紙
上のトナー像）の濃度を検出する濃度計を設けたもので
あり、基本的に上記請求項１３に係る発明の各実施形態
と同様である。濃度計の検出値は遅延時間算出回路７５
２に入力される。

【０１４０】このように、請求項１４に係る発明の実施
形態は、請求項１２記載の画像記録装置において、ビデ
オ制御部７１及び作像手段による画像評価パターン出力
機能にて出力される画像評価パターンにおける前記複数
のビームに対応する前記複数個の１ドットライン画像パ
ターンＡ１、Ａ２・・・、Ａｎｂの各境界部の濃度を検
出する濃度検出手段としての濃度計を具備し、この濃度
検出手段の検出値に基づいて前記位相同期制御手段７５
にて前記複数のビームの各書き出しタイミングをそれぞ
れ独立に補正するので、画像形成領域でのビーム間の位
相ずれを高感度で簡易に検出することができると共に、
ビーム間の位相ずれを補正することができる。

【０１４１】また、上記請求項１４に係る発明の実施形
態は、請求項１７に係る発明の実施形態でもあって、請
求項１４記載の画像記録装置において、操作部としての
操作パネル７４からの指示信号により前記複数のビーム
の各書き出しタイミングを自動的に補正する手段として
の濃度計及び位相同期制御手段７５を備えたので、画像
形成領域でのビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出
することができると共に、ビーム間の位相ずれを自動的
に補正することができ、オペレータ（サービスマン、ユ
ーザ等）の対応が容易になり、装置を移動させることな
しにユーザ先での対応が容易になる。

【０１４２】

【発明の効果】以上のように請求項１に係る発明によれ
ば、光源部から射出された複数のビームを偏向手段によ
り偏向して感光体上に同時に走査させて画像記録を行う
画像記録装置の評価チャートであって、主走査方向に形
成されるｎドットライン（ｎ≧２）が前記ビームの数の
整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンから
なる、複数の異なるビームの組み合わせで形成される画
像パターンを、主走査方向に複数個並設して構成された
画像評価パターンを含むので、実際の画像記録が行われ
る領域での副走査方向のビームピッチの変位を比較的高
精度で簡易に検知できる。また、評価チャートの限度見
本を作成してこれを実際に画像記録装置にて出力された
評価チャートと比較することにより簡易にビームピッチ
の検査の合否の判断を行うことが可能となり、さらに、
ビームピッチの変位量を振った時の評価チャートのサン
プルと実際に画像記録装置にて出力された評価チャート
とを比較することにより、ビームピッチの変位量を定量
的に検出することも可能となる。

【０１４３】請求項２に係る発明によれば、請求項１記
載の評価チャートにおいて、前記ｎドットラインが２つ
の異なるビームの組み合わせで形成される２ドットライ
ンであるので、僅かなビームピッチのずれでも目視にて
検出することができ、実際の画像記録が行われる領域で
の副走査方向のビームピッチの変位を高精度で簡易に検
知できる。また、評価チャートの限度見本を作成してこ
れを実際に画像記録装置にて出力された評価チャートと
比較することにより簡易にビームピッチの検査の合否の
判断を行うことが可能となり、さらに、ビームピッチの
変位量を振った時の評価チャートのサンプルと実際に画
像記録装置にて出力された評価チャートとを比較するこ
とにより、ビームピッチの変位量を定量的に検出するこ
とも可能となる。

【０１４４】請求項３に係る発明によれば、光源部から
射出された複数のビームを偏向手段により偏向して感光
体上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置に
おいて、主走査方向に形成されるｎドットライン（ｎ≧
２）が前記ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰
り返す画像パターンからなる、複数の異なるビームの組
み合わせで形成される画像パターンを、主走査方向に複
数個並設して構成された画像評価パターンを出力する画
像評価パターン出力機能を備えたので、実際の画像記録
が行われる領域での副走査方向のビームピッチの変位を
比較的高精度で簡易に検知することが可能となると共に
副走査方向のビームピッチの調整が可能となる。また、
評価チャートの限度見本を作成してこれを実際に本画像
記録装置にて出力された評価チャートと比較することに
より簡易にビームピッチの検査の合否の判断を行うこと
が可能となり、ビームピッチの変位量を振った時の評価
チャートのサンプルと実際に本画像記録装置にて出力さ
れた評価チャートとを比較することにより、ビームピッ
チの変位量を定量的に検出することも可能となる。さら
に、特別の測定評価装置を用いることなしに、場所や時
間によらずに必要に応じてビームピッチの変位を検査す
ることができる。

【０１４５】請求項４に係る発明によれば、請求項３記
載の画像記録装置において、前記ｎドットラインが２つ
の異なるビームの組み合わせで形成される２ドットライ
ンであるので、実際の画像記録が行われる領域での副走
査方向のビームピッチの変位を高精度で簡易に検知でき
ると共に副走査方向のビームピッチの調整が可能とな
る。また、評価チャートの限度見本を作成してこれを実
際に本画像記録装置にて出力された評価チャートと比較
することにより簡易にビームピッチの検査の合否の判断
を行うことが可能となり、ビームピッチの変位量を振っ
た時の評価チャートのサンプルと実際に本画像記録装置
にて出力された評価チャートとを比較することにより、
ビームピッチの変位量を定量的に検出することも可能と
なる。さらに、特別の測定評価装置を用いることなし
に、場所や時間によらずに必要に応じてビームピッチの
変位を検査することができる。

【０１４６】請求項５に係る発明によれば、請求項３ま
たは４記載の画像記録装置において、前記ビームの副走
査方向のピッチを調整するピッチ調整手段を具備したの
で、請求項４に係る発明と同様な効果が得られる上に、
ビームピッチの変位を検出した時に即座にビームピッチ
の調整を行うことが可能となる。この時、評価チャート
の出力画像の濃淡によりビームピッチの変位の方向も知
ることができ、また、ビームピッチの変位量を振った時
の評価チャートのサンプルを予め用意しておけばそのサ
ンプルと実際に本画像記録装置にて出力された評価チャ
ートとを比較することにより、ビームピッチの必要な調
整量が定量的に分かるので、効率的なビームピッチ調整
が可能となる。また、光源の劣化・破損による光源部の
交換がユーザ先にて対応可能となり、ビームピッチの経
時変動が生じた際の対応も可能となる。

【０１４７】請求項６に係る発明によれば、請求項５記
載の画像記録装置において、前記光源部から射出される
ビームは主走査方向に所定のビーム間角度が設定され、
前記光源部を光軸回りに回動することにより前記ビーム
の副走査方向のピッチを調整するピッチ調整手段を具備
したので、請求項５に係る発明と同様な効果が得られる
上に、副走査方向のビーム間の角度を直接制御する場合
に比べて極めて高精度にビームピッチを調整でき、より
高精度なビームピッチの調整が可能となる。

【０１４８】請求項７に係る発明によれば、請求項５ま
たは６記載の画像記録装置において、前記画像評価パタ
ーン出力機能により出力される画像評価パターンを所定
の出力過程で検出する検出手段を具備し、この検出手段
の検出値と予め設定された基準値との偏差が所定範囲内
に収まるように前記ピッチ調整手段にて前記ビームの副
走査方向のピッチを調整するので、請求項５または６に
係る発明と同様な効果が得られる上に、実際の画像記録
が行われる領域での副走査方向のビームピッチの変位を
自動的に補正することができる。

【０１４９】請求項８に係る発明によれば、請求項５ま
たは６記載の画像記録装置において、主走査方向に並設
され前記画像評価パターン出力機能により出力される画
像評価パターンを所定の出力過程で検出する２つの検出
手段を具備し、この２つの検出手段の検出値の差分が所
定範囲内に収まるように前記ピッチ調整手段にて前記ビ
ームの副走査方向のピッチを調整するので、請求項５ま
たは６に係る発明と同様な効果が得られる上に、実際の
画像記録が行われる領域での副走査方向のビームピッチ
の変位を自動的に補正することができ、ビームピッチの
基準値との差分からビームピッチの変位を検出する場合
に比べて検出精度が向上してより高精度な自動ビームピ
ッチ補正ができる。

【０１５０】請求項９に係る発明によれば、請求項７ま
たは８記載の画像記録装置において、前記検出手段は前
記画像評価パターンの潜像電位を検出するので、実際の
画像記録が行われる領域での副走査方向のビームピッチ
の変位を自動的に補正することができる。

【０１５１】請求項１０に係る発明によれば、光源部か
ら射出された複数のビームを偏向手段により偏向して感
光体上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置
の評価チャートであって、主走査方向に形成される１ド
ットラインが前記ビームの数の整数倍の周期で副走査方
向に繰り返し、前記複数のビームの各々により形成され
る複数個の１ドットライン画像パターンを、主走査方向
に隣接するように複数個並設して構成された画像評価パ
ターンを含むので、１ドットライン画像パターンを各ビ
ームで主走査方向に形成することにより、各１ドットラ
イン画像パターンは各ビームの光量やスポット径の大小
に応じた線幅となり、この１ドットライン画像パターン
を副走査方向へ繰り返し形成することで、１ドットライ
ン画像パターンの線幅の大小が画像濃度の濃淡として知
覚されるようになる。従って、各ビームにより形成され
る１ドットライン画像パターンの線幅のバラツキを高精
度で検出することができる。また、各ビームにより形成
される１ドットライン画像パターンを主走査方向に隣接
させて並設したことにより、各ビーム間の位相同期ずれ
があると、各１ドットライン画像パターンの境界部にお
いて黒筋又は白筋として画像が現われることにより、各
ビーム間の位相同期ずれを簡易かつ高精度に検出するこ
とができる。また、評価チャートの限度見本を作成して
これと実際に出力した評価チャートとを比較することに
より、ビーム間の特性バラツキ及びビーム間の位相同期
ずれの検査を簡易に行うことが可能となる。さらに、各
ビーム間の位相同期ずれ量を振った時の評価チャートの
サンプルと実際に出力した評価チャートとを比較するこ
とにより、各ビーム間の位相同期ずれを定量的に検知す
ることも可能となる。

【０１５２】請求項１１に係る発明によれば、光源部か
ら射出された複数のビームを偏向手段により偏向して感
光体上に同時に走査させて画像記録を行う画像記録装置
において、主走査方向に形成される１ドットラインが前
記ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返し、
前記複数のビームの各々により形成される複数個の１ド
ットライン画像パターンを、主走査方向に隣接するよう
に複数個並設して構成された画像評価パターンを出力す
る画像評価パターン出力機能を備えたので、各ビーム間
の位相ずれ及び各ビーム間の線幅のバラツキを目視にて
高精度に検出可能な評価パターンをテストチャートとし
て出力することが可能になり、上記請求項１０に係る発
明と同様な効果が得られる上に、特別な測定評価装置を
用いることなしに、場所や時間によらず必要に応じて画
像形成領域でのビーム間の位相ずれや各ビーム間の光量
やビーム径等の特性バラツキを簡易に検出することが可
能となる。特に、画像形成領域外で発生している水平位
相ずれでなく、画像形成領域において実際に画像上で発
生している水平位相ずれを簡易に検知することができ
る。

【０１５３】請求項１２に係る発明によれば、請求項１
１記載の画像記録装置において、前記複数のビームの各
書き出しタイミングをそれぞれ独立に制御する位相同期
制御手段を備えたので、請求項１１記載の画像記録装置
と同様な効果が得られる上に、各ビームの各書き出しタ
イミングをそれぞれ独立に調整して各ビーム間の位相ず
れを調整することができる。この時、出力画像の１ドッ
トライン画像パターンの境界部が黒筋となるか白筋とな
るるかによって位相同期ずれの方向も知ることができ、
また、各ビーム間の位相同期ずれ量を振った時の評価チ
ャートのサンプルを予め用意しておけば、これらのサン
プルと出力画像とを比較することにより必要な調整量が
定量的に分かるので、効率的な調整が可能となる。ま
た、光源部の交換を行う際に生ずる位相同期ずれの検査
や調整もでき、ユーザ先にて対応可能となる。また、経
時的に発生した各ビーム間の位相同期ずれに対しても対
処可能となる。

【０１５４】請求項１３に係る発明によれば、請求項１
２記載の画像記録装置において、前記画像評価パターン
出力時の前記複数のビームに対応する前記複数個の１ド
ットライン画像パターンの各境界部に対する前記感光体
の表面電位を検出する電位検出手段を具備し、この電位
検出手段の検出値に基づいて前記位相同期制御手段にて
前記複数のビームの各書き出しタイミングをそれぞれ独
立に補正するので、画像形成領域でのビーム間の位相ず
れを高感度で簡易に検出することができると共に、ビー
ム間の位相ずれを自動的に補正することができる。

【０１５５】請求項１４に係る発明によれば、請求項１
２記載の画像記録装置において、前記画像評価パターン
出力機能により出力される画像評価パターンにおける前
記複数のビームに対応する前記複数個の１ドットライン
画像パターンの各境界部の濃度を検出する濃度検出手段
を具備し、この濃度検出手段の検出値に基づいて前記位
相同期制御手段にて前記複数のビームの各書き出しタイ
ミングをそれぞれ独立に補正するので、画像形成領域で
のビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出することが
できると共に、ビーム間の位相ずれを補正することがで
きる。

【０１５６】請求項１５に係る発明によれば、請求項１
２記載の画像記録装置において、前記画像評価パターン
出力機能が操作部からの指示信号により画像評価パター
ンを出力するので、画像形成領域でのビーム間の位相ず
れを高感度で簡易に検出することができると共に、ビー
ム間の位相ずれを補正することができ、オペレータ（サ
ービスマン、ユーザ等）の対応が容易になり、装置を移
動させることなしにユーザ先での対応が容易になる。

【０１５７】請求項１６に係る発明によれば、請求項１
２記載の画像記録装置において、前記画像評価パターン
出力機能は操作部からの指示信号により画像評価パター
ンを出力すると共に、操作部からの指示信号により前記
複数のビームの各書き出しタイミングを補正するので、
画像形成領域でのビーム間の位相ずれを高感度で簡易に
検出することができると共に、ビーム間の位相ずれを補
正することができ、オペレータ（サービスマン、ユーザ
等）の対応が容易になり、装置を移動させることなしに
ユーザ先での対応が容易になる。

【０１５８】請求項１７に係る発明によれば、請求項１
３または１４記載の画像記録装置において、操作部から
の指示信号により前記複数のビームの各書き出しタイミ
ングを自動的に補正する手段を備えたので、画像形成領
域でのビーム間の位相ずれを高感度で簡易に検出するこ
とができると共に、ビーム間の位相ずれを自動的に補正
することができ、オペレータ（サービスマン、ユーザ
等）の対応が容易になり、装置を移動させることなしに
ユーザ先での対応が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項２に係る発明の一実施形態の評価チャー
トを説明するための図である。

【図２】同評価チャートにおいてビーム数を２とした場
合を示す図である。

【図３】ビームの副走査方向のピッチずれの例を模式的
に示す図である。

【図４】上記評価チャートの出力例を説明するための図
である。

【図５】図１に示す評価チャートの出力例を示す図であ
る。

【図６】図２に示す評価チャートの出力例を示す図であ
る。

【図７】上記評価チャートの出力画像濃度の測定結果を
４００ｄｐｉ時について示す特性図である。

【図８】上記評価チャートの出力画像濃度の測定結果を
６００ｄｐｉ時について示す特性図である。

【図９】請求項４〜６に係る発明の一実施形態を示す概
略図である。

【図１０】同実施形態の一部を示す斜視図である。

【図１１】同実施形態のビームピッチ調整機構を含む光
源部を示す分解斜視図である。

【図１２】請求項４〜６に係る発明の他の実施形態の一
部を示す斜視図である。

【図１３】請求項７、９に係る発明の一実施形態を示す
概略図である。

【図１４】請求項８、９に係る発明の一実施形態を示す
概略図である。

【図１５】画像記録装置において光検出器を被走査面上
に配置した場合を説明するための図である。

【図１６】画像記録装置において光検出器を被走査面よ
りずれた位置に配置した場合を説明するための図であ
る。

【図１７】同画像記録装置の動作タイミングを示すタイ
ミングチャートである。

【図１８】同画像記録装置における光検出器の被走査面
からのずれとビーム間主走査方向ずれとの関係を示す特
性図である。

【図１９】各ビームの間に波長差がある画像記録装置の
一部を示す概略図である。

【図２０】請求項１０に係る発明の一実施形態を説明す
るための図である。

【図２１】同実施形態においてビーム数を２とした場合
を説明するための図である。

【図２２】同実施形態を用いた画像記録装置で各ビーム
の位相同期ずれが生じた場合を説明するため図である。

【図２３】同実施形態を用いた画像記録装置で後続のビ
ームの変調信号が早まった場合に出力された画像評価チ
ャートを示す図である。

【図２４】同実施形態を用いた画像記録装置でビームの
数が２の場合についてビーム間に位相ずれが生じた時に
おける各ビームの変調信号を示すタイミングチャートで
ある。

【図２５】同実施形態を用いた画像記録装置でビームの
数が２の場合についてビーム間に位相ずれが生じた時に
出力された画像評価チャートを示す図である。

【図２６】同実施形態を用いた画像記録装置で出力され
る画像評価チャートの１ドットライン画像パターンを示
す図である。

【図２７】請求項１０に係る発明の実施形態としての中
間的な濃度の１ドットラインで構成された画像評価チャ
ートの実施形態を示す図である。

【図２８】請求項１０に係る発明の実施形態としての不
連続な１ドットラインで構成された画像評価チャートの
実施形態を示す図である。

【図２９】請求項１１に係る発明の一実施形態と他の実
施形態の一部を示す概略図である。

【図３０】請求項１１に係る発明の一実施形態を説明す
るための図である。

【図３１】請求項１１に係る発明の他の実施形態を説明
するための図である。

【図３２】請求項１１に係る発明の他の実施形態を説明
するための図である。

【図３３】請求項１２に係る発明の一実施形態と他の実
施形態の一部を示す概略図である。

【図３４】同実施形態の一部を示すブロック図及び同実
施形態を説明するためのタイミングチャートである。

【図３５】請求項１３に係る発明の一実施形態と他の実
施形態の一部を示す概略図である。

【図３６】同実施形態の一部を示す概略図である。

【図３７】同実施形態の一部を示すブロック図である。

【図３８】請求項１１に係る発明の一実施形態において
ビーム間に位相ずれが生じた場合に出力された画像評価
チャートを示す図である。

【図３９】同実施形態において後続のビームの書き出し
タイミングが早い時及び遅い時に出力された画像評価チ
ャートを示す図である。

【符号の説明】

Ａ１〜Ａｎｂ画像パターン１光源部３回転多面鏡７感光体８ビデオ制御部９モータ制御部１０操作パネル３０ステッピングモータ３３半導体レーザアレイ３６、３９ピッチ制御回路３７、４０、４１表面電位測定器３８、４２演算回路６１電源部６３回転多面鏡６６感光体６９光検出器７０位相同期信号発生手段７１ビデオ制御部７２ＬＤ駆動回路７４操作パネル７５位相同期制御手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 26/10 B41J 2/44 G01M 11/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光源部から射出された複数の光ビームを偏
向手段により偏向して感光体上に同時に走査させて画像
記録を行う画像記録装置の評価チャートであって、主走
査方向に形成されるｎドットライン（ｎ≧２）が前記光
ビームの数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像
パターンからなる、複数の異なる光ビームの組み合わせ
で形成される画像パターンを、主走査方向に複数個隣接
して並設して構成された画像評価パターンを含むことを
特徴とする評価チャート。
【請求項２】請求項１記載の評価チャートにおいて、前
記ｎドットラインが２つの異なる光ビームの組み合わせ
で形成される２ドットラインであることを特徴とする評
価チャート。
【請求項３】光源部から射出された複数の光ビームを偏
向手段により偏向して感光体上に同時に走査させて画像
記録を行う画像記録装置において、主走査方向に形成さ
れるｎドットライン（ｎ≧２）が前記光ビームの数の整
数倍の周期で副走査方向に繰り返す画像パターンからな
る、複数の異なる光ビームの組み合わせで形成される画
像パターンを、主走査方向に複数個隣接して並設して構
成された画像評価パターンを格納したメモリを有し、こ
のメモリから前記画像評価パターンを読み出して出力す
る画像評価パターン出力機能を備えたことを特徴とする
画像記録装置。
【請求項４】請求項３記載の画像記録装置において、前
記ｎドットラインが２つの異なる光ビームの組み合わせ
で形成される２ドットラインであることを特徴とする画
像記録装置。
【請求項５】請求項３または４記載の画像記録装置にお
いて、前記光ビームの副走査方向のピッチを調整するピ
ッチ調整手段を具備したことを特徴とする画像記録装
置。
【請求項６】請求項５記載の画像記録装置において、前
記光源部から射出される光ビームは主走査方向に所定の
ビーム間角度が設定され、前記光源部を光軸回りに回動
することにより前記光ビームの副走査方向のピッチを調
整するピッチ調整手段を具備したことを特徴とする画像
記録装置。
【請求項７】請求項５または６記載の画像記録装置にお
いて、前記画像評価パターン出力機能により出力される
画像評価パターンを所定の出力過程で検出する検出手段
を具備し、この検出手段の検出値と予め設定された基準
値との偏差が所定範囲内に収まるように前記ピッチ調整
手段にて前記光ビームの副走査方向のピッチを調整する
ことを特徴とする画像記録装置。
【請求項８】請求項５または６記載の画像記録装置にお
いて、主走査方向に並設され前記画像評価パターン出力
機能により出力される画像評価パターンを所定の出力過
程で検出する２つの検出手段を具備し、この２つの検出
手段の検出値の差分が所定範囲内に収まるように前記ピ
ッチ調整手段にて前記光ビームの副走査方向のピッチを
調整することを特徴とする画像記録装置。
【請求項９】請求項７または８記載の画像記録装置にお
いて、前記検出手段は前記画像評価パターンの潜像電位
を検出することを特徴とする画像記録装置。
【請求項１０】光源部から射出された複数の光ビームを
偏向手段により偏向して感光体上に同時に走査させて画
像記録を行う画像記録装置の評価チャートであって、主
走査方向に形成される１ドットラインが前記光ビームの
数の整数倍の周期で副走査方向に繰り返し、前記複数の
光ビームの各々により形成される複数個の１ドットライ
ン画像パターンを、主走査方向に隣接するように複数個
並設して構成された画像評価パターンを含むことを特徴
とする評価チャート。
【請求項１１】光源部から射出された複数の光ビームを
偏向手段により偏向して感光体上に同時に走査させて画
像記録を行う画像記録装置において、主走査方向に形成
される１ドットラインが前記光ビームの数の整数倍の周
期で副走査方向に繰り返し、前記複数の光ビームの各々
により形成される複数個の１ドットライン画像パターン
を、主走査方向に隣接するように複数個並設して構成さ
れた画像評価パターンを格納したメモリを有し、このメ
モリから前記画像評価パターンを読み出して出力する画
像評価パターン出力機能を備えたことを特徴とする画像
記録装置。
【請求項１２】請求項１１記載の画像記録装置におい
て、前記複数の光ビームの各書き出しタイミングをそれ
ぞれ独立に制御する位相同期制御手段を備えたことを特
徴とする画像記録装置。
【請求項１３】請求項１２記載の画像記録装置におい
て、前記画像評価パターン出力時の前記複数の光ビーム
に対応する前記複数個の１ドットライン画像パターンの
各境界部に対する前記感光体の表面電位を検出する電位
検出手段を具備し、この電位検出手段の検出値に基づい
て前記位相同期制御手段にて前記複数の光ビームの各書
き出しタイミングをそれぞれ独立に補正することを特徴
とする画像記録装置。
【請求項１４】請求項１２記載の画像記録装置におい
て、前記画像評価パターン出力機能により出力される画
像評価パターンにおける前記複数の光ビームに対応する
前記複数個の１ドットライン画像パターンの各境界部の
濃度を検出する濃度検出手段を具備し、この濃度検出手
段の検出値に基づいて前記位相同期制御手段にて前記複
数の光ビームの各書き出しタイミングをそれぞれ独立に
補正することを特徴とする画像記録装置。
【請求項１５】請求項１２記載の画像記録装置におい
て、前記画像評価パターン出力機能が操作部からの指示
信号により画像評価パターンを出力することを特徴とす
る画像記録装置。
【請求項１６】請求項１２記載の画像記録装置におい
て、前記画像評価パターン出力機能は操作部からの指示
信号により画像評価パターンを出力すると共に、操作部
からの指示信号により前記複数の光ビームの各書き出し
タイミングを補正することを特徴とする画像記録装置。
【請求項１７】請求項１３または１４記載の画像記録装
置において、操作部からの指示信号により前記複数の光
ビームの各書き出しタイミングを自動的に補正する手段
を備えたことを特徴とする画像記録装置。