JP3237304B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

Info

Publication number
JP3237304B2
JP3237304B2 JP12892293A JP12892293A JP3237304B2 JP 3237304 B2 JP3237304 B2 JP 3237304B2 JP 12892293 A JP12892293 A JP 12892293A JP 12892293 A JP12892293 A JP 12892293A JP 3237304 B2 JP3237304 B2 JP 3237304B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
transistors
output transistors
pad
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12892293A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06338566A (ja
Inventor
勝信 野村
雅也 玉村
真一 塩津
正恭 北條
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP12892293A priority Critical patent/JP3237304B2/ja
Priority to US08/227,348 priority patent/US5694078A/en
Priority to GB9407503A priority patent/GB2278724A/en
Priority to DE4414353A priority patent/DE4414353A1/de
Publication of JPH06338566A publication Critical patent/JPH06338566A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3237304B2 publication Critical patent/JP3237304B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11898Input and output buffer/driver structures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トランジスタ基本回路
(トランジスタ基本セル)を行列状に規則的に配置して
構成される半導体集積回路、いわゆるゲートアレイ(ga
te array)に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、ゲートアレイを使用して構成さ
れる半導体集積回路(IC)の一例の要部を示す回路図
である。
【0003】図中、1はチップ本体、2は出力回路、3
は信号伝送線路、4は信号伝送線路3の特性インピーダ
ンスに整合させるようにした終端抵抗、5は電圧VT
T、例えば、−2[V]が印加されるVTT電圧線であ
る。
【0004】また、出力回路2において、6は出力バッ
ファ部であり、差動増幅回路により構成されている。こ
こに、7は高電圧側の電源電圧VCC、例えば、0
[V]が印加されるVCC電源線、8は低電圧側の電源
電圧VEE、例えば、−5.2[V]が印加されるVE
E電源線である。
【0005】また、9、10はNPNトランジスタから
なる駆動トランジスタ、Sは駆動トランジスタ9のゲー
トに供給される信号、/Sは信号Sと反転関係にある信
号、11は定電流源回路、12、13はそれぞれ駆動ト
ランジスタ9、10の負荷をなす抵抗である。
【0006】また、14はNPNトランジスタからなる
出力トランジスタ、15はパッド(電極)である。
【0007】このような半導体集積回路を構成するため
のゲートアレイに汎用性を持たせるためには、出力回路
2の出力パワーにバリエーションを持たせ、処理スピー
ドを選択できるように構成することが必要となる。
【0008】この場合、出力レベル(パッド15のレベ
ル)は、出力回路2の出力パワーの大きさには関係な
く、一定の値、即ち、Lレベル(ロウレベル)の場合で
あれば、例えば、−1.7[V]、Hレベル(ハイレベ
ル)の場合であれば、例えば、−0.9[V]になるよ
うに調整、設定できるようにすることが必要となる。
【0009】この点について、まず、出力レベル=Lレ
ベルの場合について考える。即ち、どのようにすれば、
出力回路2の出力パワーの大きさに関係なく、出力レベ
ルのうち、Lレベルを一定値に調整、設定することがで
きるかを検討する。
【0010】ここに、出力レベル=Lレベルの場合にお
けるパッド15の電圧(Lレベル電圧)VOLは、抵抗1
3の抵抗値をR13、定電流源回路11に流れる電流をI
CS、出力トランジスタ14のベース・エミッタ間電圧を
BEとすると、V0L=VCC−R13・ICS−VBEとな
る。
【0011】したがって、R13=(VCC−VBE
0L)/ICSとなるようにすれば、出力パワーに関係な
く、即ち、電流ICSが変わっても、Lレベル電圧VOL
ついては、一定値とすることができる。
【0012】例えば、VCC=0[V]、VBE=0.8
[V]、VOL=−1.7[V]の場合、R13=(VCC
−VBE−VOL)/ICS=[0−0.8−(−1.7)]/
CS=0.9/ICSとすれば、ICSの値が変わっても、
Lレベル電圧VOLについては、一定値=−1.7[V]
とすることができる。
【0013】いま、出力回路2の出力パワーを、Lパワ
ー(低パワー:ロウパワー)、Mパワー(中パワー:ミ
ドルパワー)、Hパワー(高パワー:ハイパワー)の3
種類とする。
【0014】この場合、Lパワー、Mパワー、Hパワー
の場合における定電流源回路11の電流ICSをそれぞれ
4、8、16[mA]とすると、Lレベル電圧VOLを一
定値=−1.7[V]とするために必要とされる抵抗1
3の抵抗値R13は、表1に示すようになる。
【0015】
【表1】
【0016】次に、出力レベル=Hレベルの場合を考え
る。即ち、どのようにすれば、出力回路2の出力パワー
の大きさによらず、出力レベルのうち、Hレベルを一定
値にすることができるかを考える。
【0017】ここに、出力レベル=Hレベルの場合の出
力電流I0は、出力レベル=Hレベルの場合のパッド1
5の電圧(Hレベル電圧)をVOH(−0.9[V])、
終端抵抗4の抵抗値をR4(50[Ω])とすると、I0
=(VOH−VTT)/R4=[−0.9−(−2.0)]
/50=0.022[A]=22[mA]となる。
【0018】したがって、この場合、出力トランジスタ
14のベース電流IBは、この出力トランジスタ14の
電流増幅率をhfe(=100)とすれば、IB=I0/h
fe=0.022/100=0.00022[A]=0.2
2[mA]となる。
【0019】この結果、このベース電流IBによる抵抗
13の電圧降下ΔV13は、各出力パワーについて、表2
に示すようになり、それぞれ異なる値をとる。
【0020】
【表2】
【0021】この例では、Lパワーと、Hパワーとで、
抵抗13の電圧降下ΔV13に約38[mV]の差がでて
いる。この電圧降下ΔV13の差は、そのまま、ノード1
6のレベルの差と見えてしまい、このままでは、Hレベ
ル電圧VOHは、出力パワーにより異なる値を持つことに
なってしまう。
【0022】この不都合を解消し、出力回路2の出力パ
ワーの大きさに関係なく、Hレベル電圧VOHを一定値に
調整、設定する方法として、出力トランジスタ14のベ
ース・エミッタ間電圧VBEを出力パワーごとに異なるよ
うに調整、設定する方法がある。
【0023】ここに、NPNトランジスタのJE(エミ
ッタ電流密度)−VBE特性は図6に示すようになり、N
PNトランジスタにおいては、エミッタ電流密度JE
2倍になると、ベース・エミッタ間電圧VBEは約20
[mV]大きくなるという特性がある。
【0024】このNPNトランジスタのJE−VBE特性
からして、前述した、Lパワーの場合における抵抗13
の電圧降下ΔV13と、Hパワーの場合における抵抗13
の電圧降下ΔV13との差である約38[mV]の電圧
は、エミッタ電流密度JEでいえば、約4倍の差に相当
する。
【0025】したがって、出力パワー=Hパワーである
場合における出力トランジスタ14のエミッタ電流密度
を、出力パワー=Lパワーである場合における出力トラ
ンジスタ14のエミッタ電流密度の4倍に設定すること
ができれば、出力パワーがHパワーの場合であっても、
Lパワーの場合であっても、Hレベル電圧VOHを一定値
に調整、設定することができる。
【0026】即ち、出力トランジスタ14を構成するた
めのNPNトランジスタとして、エミッタの面積を異に
するLパワー用のトランジスタ、Mパワー用のトランジ
スタ、Hパワー用のトランジスタを用意し、これらを選
択して使用できるようにしておくことによって、出力パ
ワーがLパワーの場合であっても、Mパワーの場合であ
っても、Hパワーの場合であっても、Hレベル電圧の値
を一定値に調整、設定することができる。
【0027】なお、この場合、Lパワー用の出力トラン
ジスタは、エミッタの面積を最も大きく形成され、Hパ
ワー用の出力トランジスタはエミッタの面積を最も小さ
く形成され、Mパワー用の出力トランジスタは、エミッ
タの面積をLパワー用の出力トランジスタのエミッタの
面積とHパワー用の出力トランジスタのエミッタの面積
との中間の大きさに形成される。
【0028】このように、出力パワーにバリエーション
を持たせると、その数に相当する出力トランジスタが必
要となるが、従来のゲートアレイにおいては、1個の出
力回路を構成するために、例えば、1個の出力バッファ
部と、3個の出力トランジスタと、1個のパッドとを設
けるようにする場合、これら出力バッファ部と、出力ト
ランジスタと、パッドとを図7に示すように、配置させ
ていた。
【0029】図中、17はチップの素子形成面の一辺、
18、19は出力バッファ部、20、21はLパワー用
の出力トランジスタ、22、23はMパワー用の出力ト
ランジスタ、24、25はHパワー用の出力トランジス
タ、26、27はパッドである。
【0030】なお、出力トランジスタ20〜25におい
て、Cはコレクタ、Bはベース、Eはエミッタである。
また、28〜30は、図面上、便宜的に使用した破断線
である。
【0031】ここに、図8は、図7のA−A線に沿った
断面図であり、出力トランジスタ20の断面構造を示し
ている。なお、他の出力トランジスタ21〜25も、同
様に構成されている。
【0032】図中、31はP型シリコン基板、32はコ
レクタをなすN層、33はベースをなすP層、34、3
5はエミッタをなすN層、36〜47は絶縁層である。
【0033】また、48、49はN層(コレクタ)32
とのコンタクトを図るための窓、いわゆるコレクタ窓、
50〜52はP層(ベース)33とのコンタクトを図る
ための窓、いわゆるベース窓、53、54はN層(エミ
ッタ)34、35とのコンタクトを図るための窓、いわ
ゆるエミッタ窓である。
【0034】ここに、図7において、出力トランジスタ
20、22、24は、出力バッファ部18に対応して設
けられており、パッド26は、出力トランジスタ20、
22、24に対応して設けられている。
【0035】また、出力トランジスタ21、23、25
は、出力バッファ部19に対応して設けられており、パ
ッド27は、出力トランジスタ21、23、25に対応
して設けられている。
【0036】即ち、出力バッファ部18と、出力トラン
ジスタ20、22、24のいずれかの出力トランジスタ
と、パッド26とで1個の出力回路を構成することがで
きるようにされている。
【0037】また、出力バッファ部19と、出力トラン
ジスタ21、23、25のいずれかの出力トランジスタ
と、パッド27とで別の1個の出力回路を構成すること
ができるようにされている。
【0038】
【発明が解決しようとする課題】ここに、図7に示すゲ
ートアレイにおいては、出力トランジスタ20、22、
24をパッド26に近接するチップの素子形成面の辺1
7に平行に、即ち、出力バッファ部18及びパッド26
の配列方向と直交する方向に配列させている。
【0039】また、出力トランジスタ21、23、25
についても、これらをパッド27に近接するチップの素
子形成面の辺17に平行に、即ち、出力バッファ部19
及びパッド27の配列方向と直交する方向に配列させて
いる。
【0040】このように、従来のゲートアレイにおいて
は、1個の出力回路を構成するために、複数個の出力ト
ランジスタを設けておく場合、これら複数個の出力トラ
ンジスタを、対応するパッドに近接するチップの素子形
成面の辺に平行に、即ち、対応する出力バッファ部及び
パッドの配列方向と直交する方向に配列させていた。
【0041】このため、パッドの間隔(例えば、パッド
26と、パッド27との間隔)が大きくなるようにレイ
アウトしなければならず、チップ面積の増大を招いてし
まうという問題点があった。
【0042】本発明は、かかる点に鑑み、1個の出力回
路を構成するために、複数個の出力トランジスタを設け
ておく場合においても、パッドの間隔を狭くでき、チッ
プ面積の縮小化を図ることができると共に、電源線を効
率的に配線することができるようにした半導体集積回路
を提供することを目的とする。
【0043】
【課題を解決するための手段】本発明は、出力バッファ
部と、エミッタの面積を異にする複数個の出力トランジ
スタと、パッドとを有し、前記出力バッファ部と、前記
複数個の出力トランジスタの一部又は全部の出力トラン
ジスタと、前記パッドとで、出力回路を構成することが
できるように構成される半導体集積回路において、前記
出力バッファ部と、前記複数個の出力トランジスタと、
前記パッドとは、前記パッドに近接するチップの素子形
成面の辺と直交する方向に略一列に配列され、前記複数
個の出力トランジスタは、エミッタの面積が小さい出力
トランジスタほど、前記パッドに近い位置に配置されて
いるというものである。
【0044】
【作用】本発明においては、出力回路を構成するために
設けられる出力バッファ部と、複数個の出力トランジス
タと、パッドとは、パッドに近接するチップの素子形成
面の辺と直交する方向に略一列に配列されるので、出力
トランジスタが1個の場合と同様に、パッド間の間隔を
狭くすることができ、チップ面積の縮小化を図ることが
できる。また、複数個の出力トランジスタは、エミッタ
の面積が小さい出力トランジスタほど、パッドに近い位
置に配置されるので、電源線を効率的に配線することが
できる。
【0045】
【実施例】以下、図1〜図4を参照して、本発明の第1
実施例及び第2実施例について説明する。
【0046】(第1実施例・・図1〜図3) 図1は本発明の第1実施例の要部を示す概略的平面図で
あり、チップの素子形成面の一部分の平面を概略的に示
している。
【0047】図中、83はチップの素子形成面の一辺、
84、85は出力バッファ部であり、これら出力バッフ
ァ部84、85は、定電流源回路を構成するために設け
られている複数個の抵抗を選択して使用することによ
り、Lパワー、Mパワー又はHパワーの出力バッファ部
として調整、設定できるように構成されている。
【0048】また、86、87はLパワー用の出力トラ
ンジスタ、88、89はMパワー用の出力トランジス
タ、90、91はHパワー用の出力トランジスタ、9
2、93はパッドである。
【0049】なお、これら出力トランジスタ86〜91
は、辺83に平行な線(図示せず)に沿った断面構造を
図8に示す出力トランジスタ20とほぼ同様に構成され
ている。なお、94〜96は、図面上、便宜的に使用し
た破断線である。
【0050】また、出力トランジスタ86〜91は、図
上、X方向のサイズを同一とし、Y方向のサイズが異な
るように構成されている。即ち、Lパワー用の出力トラ
ンジスタ86、87はエミッタの面積を最も大きく構成
され、Y方向のサイズを最も大きく構成されている。
【0051】また、Hパワー用の出力トランジスタ9
0、91はエミッタの面積を最も小さく構成され、Y方
向のサイズを最も小さく構成されている。
【0052】また、Mパワー用の出力トランジスタ8
8、89は、そのエミッタの面積をLパワー用の出力ト
ランジスタ86、87のエミッタの面積と、Hパワー用
の出力トランジスタ90、91のエミッタの面積との中
間の大きさに構成されている。
【0053】ここに、出力トランジスタ86、88、9
0は、出力バッファ部84に対応して設けられており、
パッド92は、出力トランジスタ86、88、90に対
応して設けられている。
【0054】また、出力トランジスタ87、89、91
は、出力バッファ部85に対応して設けられており、パ
ッド93は、出力トランジスタ87、89、91に対応
して設けられている。
【0055】即ち、出力バッファ部84と、出力トラン
ジスタ86、88、90のいずれかの出力トランジスタ
と、パッド92とで、1個の出力回路を構成することが
できるようにされている。
【0056】また、出力バッファ部85と、出力トラン
ジスタ87、89、91のいずれかの出力トランジスタ
と、パッド93とで、別の1個の出力回路を構成するこ
とができるようにされている。
【0057】ここに、この第1実施例においては、出力
バッファ部84と、出力トランジスタ86、88、90
と、パッド92とは、パッド92に近接するチップの素
子形成面の辺83と直交する方向に略一列に配列されて
いる。
【0058】また、出力バッファ部85と、出力トラン
ジスタ87、89、91と、パッド93も、チップの素
子形成面の辺83と直交する方向に略一列に配列されて
いる。したがって、パッド92と、パッド93との間隔
を狭くすることができる。
【0059】このように、この第1実施例によれば、1
個の出力回路を構成するために設けられる1個の出力バ
ッファ部と、複数個の出力トランジスタと、1個のパッ
ドとを、この1個のパッドに近接するチップの素子形成
面の辺と直交する方向に略一列に配列するとしているの
で、出力トランジスタが1個の場合と同様に、パッドの
間隔を狭くし、チップ面積の縮小化を図ることができ
る。
【0060】また、この第1実施例においては、エミッ
タの面積が小さい出力トランジスタほど、パッドに近い
位置に配置するように構成しているので、例えば、出力
バッファ部84をHパワーとして設定した場合には、図
2に示すように、VCC電源線97を配線することがで
きる。
【0061】即ち、必要とされるHパワー用の出力トラ
ンジスタ90は別として、不要とされるLパワー用の出
力トランジスタ86及びMパワー用の出力トランジスタ
88はVCC電源線97の下方に位置させることができ
るので、出力バッファ部84に比較的大きな電流を供給
し得るように、出力バッファ部84の部分のVCC電源
線97Aが幅広になるように、VCC電源線97を効率
的に配線することができる。
【0062】なお、出力バッファ部84をLパワーとし
て設定した場合には、図3に示すように、Hパワー用の
出力トランジスタ86、88、90の上方を除いて、V
CC電源線97を配線する必要がある。
【0063】しかし、この場合、出力バッファ部84に
流れる電流は比較的小さいので、図3に示すように、出
力バッファ部84の部分のVCC電源線97Aを狭くし
ても問題は発生しない。
【0064】このように、この第1実施例によれば、エ
ミッタの面積が小さい出力トランジスタほど、対応する
パッドに近い位置に配置するようにしているので、VC
C電源線を効率的に配線することができる。
【0065】(第2実施例・・図4) 図4は本発明の第2実施例の要部を示す概略的平面図で
あり、チップの素子形成面の一部分の平面を概略的に示
している。
【0066】図中、98はチップの素子形成面の一辺、
99、100は出力バッファ部であり、これら出力バッ
ファ部99、100は、定電流源回路を構成するために
設けられている複数個の抵抗を選択して使用することに
より、Lパワー、Mパワー又はHパワーの出力バッファ
部として調整、設定できるように構成されている。
【0067】また、101、102はLパワー用の出力
トランジスタ、103、104はMパワー用の出力トラ
ンジスタ、105、106はHパワー用の出力トランジ
スタ、107、108はパッドである。
【0068】なお、これら出力トランジスタ101〜1
06は、辺98に平行な線(図示せず)に沿った断面構
造を図8に示す出力トランジスタ20とほぼ同様に構成
されている。
【0069】但し、出力トランジスタ101、102、
103、104については、ベース窓及びエミッタ窓の
数を図8に示す出力トランジスタ20の場合と異にして
いる。なお、109〜111は、図面上、便宜的に使用
した破断線である。
【0070】ここに、出力トランジスタ101〜106
は、図上、Y方向のサイズを同一とし、X方向のサイズ
が異なるように構成されている。即ち、Lパワー用の出
力トランジスタ101、102はエミッタの面積を最も
大きく構成され、X方向のサイズを最も大きく構成され
ている。
【0071】また、Hパワー用の出力トランジスタ10
5、106はエミッタの面積を最も小さく構成され、X
方向のサイズを最も小さく構成されている。
【0072】また、Mパワー用の出力トランジスタ10
3、104は、そのエミッタの面積をLパワー用の出力
トランジスタ101、102のエミッタの面積と、Hパ
ワー用の出力トランジスタ105、106のエミッタの
面積との中間の大きさに構成されている。
【0073】ここに、出力トランジスタ101、10
3、105は、出力バッファ部99に対応して設けられ
ており、パッド107は、出力トランジスタ101、1
03、105に対応して設けられている。
【0074】また、出力トランジスタ102、104、
106は、出力バッファ部100に対応して設けられて
おり、パッド108は、出力トランジスタ102、10
4、106に対応して設けられている。
【0075】即ち、出力バッファ部99と、出力トラン
ジスタ101、103、105のいずれかの出力トラン
ジスタと、パッド107とで、1個の出力回路を構成す
ることができるようにされている。
【0076】また、出力バッファ部100と、出力トラ
ンジスタ102、104、106のいずれかの出力トラ
ンジスタと、パッド108とで、別の1個の出力回路を
構成することができるようにされている。
【0077】ここに、出力バッファ部99と、出力トラ
ンジスタ101、103、105と、パッド107と
は、パッド107に近接するチップの素子形成面の辺9
8と直交する方向に略一列に配列されている。
【0078】また、出力バッファ部100と、出力トラ
ンジスタ106、104、102と、パッド108も、
チップの素子形成面の辺98と直交する方向に略一列に
配列されている。
【0079】しかも、X方向の幅が最も大きいLレベル
用の出力トランジスタ101と、X方向の幅が最も小さ
いHレベル用の出力トランジスタ106とは、X方向に
おいて隣接するように配置されている。
【0080】また、X方向の幅が中間の大きさのMレベ
ル用の出力トランジスタ103と、同じくX方向の幅が
中間の大きさのMレベル用の出力トランジスタ104と
は、X方向において隣接するように配置されている。
【0081】また、X方向の幅が最も小さいHレベル用
の出力トランジスタ105と、X方向の幅が最も大きい
Lレベル用の出力トランジスタ102とは、X方向にお
いて隣接するように配置されている。
【0082】即ち、1個の出力回路を構成するために設
けられる出力バッファ部99と、出力トランジスタ10
1、103、105と、パッド107とを、Y方向に略
一列に配列すると共に、出力トランジスタ101、10
3、105がX方向においてサイズに差がある場合、こ
れら出力トランジスタ101、103、105を、これ
ら出力トランジスタ101、103、105のそれぞれ
のX方向のサイズと、X方向において隣合う他の出力回
路を構成するために設けられている出力トランジスタ1
06、104、102のX方向のサイズとの合計値が同
一となるように配置している。
【0083】したがって、Y方向のサイズを同一とし、
X方向のサイズを異なるようにされた出力トランジスタ
101〜106を配列させる場合においても、パッド1
07と、パッド108との間隔を最小限に抑えることが
できる。
【0084】このように、この第2実施例によれば、1
個の出力回路を構成するために設けられる1個の出力バ
ッファ部と、複数個の出力トランジスタと、1個のパッ
ドとを、この1個のパッドに近接するチップの素子形成
面の辺と直交する方向に略一列に配列するとしている。
【0085】そして、また、1個の出力回路を構成する
ために設けられる複数個の出力トランジスタが、これら
複数個の出力トランジスタの配列方向と直交する方向に
おいてサイズに差がある場合、これら複数個の出力トラ
ンジスタを、これら複数個の出力トランジスタのそれぞ
れの配列方向と直交する方向におけるサイズと、隣合う
他の出力回路を構成するために設けられる出力トランジ
スタの配列方向と直交する方向におけるサイズとの合計
値が同一となるように配置するとしている。
【0086】したがって、1個の出力回路を構成するた
めに設けられる複数個の出力トランジスタが、これら複
数個の出力トランジスタの配列方向と直交する方向にお
いてサイズに差がある場合においても、パッドの間隔を
狭くし、チップ面積の縮小化を図ることができる。
【0087】なお、上述の実施例においては、1個の出
力回路を構成するために、3個の出力トランジスタを設
け、これら3個の出力トランジスタのいずれか1個の出
力トランジスタを使用するようにした場合について説明
したが、これら3個の出力トランジスタのいずれか2個
又は3個全部の出力トランジスタを使用するようにして
も良い。
【0088】この場合、上述の実施例においては、出力
トランジスタは、エミッタ窓の延在方向を出力トランジ
スタの配列方向と同一方向としているので、2個又は3
個の出力トランジスタのエミッタ間を配線により容易に
接続ことができる。
【0089】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、出力回
路を構成するために設けられる出力バッファ部と、複数
個の出力トランジスタと、パッドとは、パッドに近接す
るチップの素子形成面の辺と直交する方向に略一列に配
列されるので、出力トランジスタが1個の場合と同様
に、パッド間の間隔を狭くすることができ、チップ面積
の縮小化を図ることができる。また、複数個の出力トラ
ンジスタは、エミッタの面積が小さい出力トランジスタ
ほど、パッドに近い位置に配置されるので、電源線を効
率的に配線することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の要部(チップの素子形成
面の一部分)を示す概略的平面図である。
【図2】本発明の第1実施例の効果を説明するための概
略的平面図である。
【図3】本発明の第1実施例の効果を説明するための概
略的平面図である。
【図4】本発明の第2実施例の要部(チップの素子形成
面の一部分)を示す概略的平面図である。
【図5】ゲートアレイを使用して構成される半導体集積
回路の一例の要部(出力回路)を示す図である。
【図6】NPNトランジスタのJE(エミッタ電流密
度)−VBE(ベース・エミッタ間電圧)特性を示す図で
ある。
【図7】従来のゲートアレイにおける出力トランジスタ
の配列を示す概略的平面図である。
【図8】図7のA−A線に沿った断面図である。
【符号の説明】
83 チップの素子形成面の一辺 84、85 出力バッファ部 86〜91 出力トランジスタ 92、93 パッド 94〜96 図面上、便宜的に使用した破断線 98 チップの素子形成面の一辺 99、100 出力バッファ部 101〜106 出力トランジスタ 107、108 パッド 109〜111 図面上、便宜的に使用した破断線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北條 正恭 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−85065(JP,A) 特開 平5−55894(JP,A) 特開 平4−350954(JP,A) 特開 昭63−43345(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/82 H01L 27/118

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】出力バッファ部と、エミッタの面積を異に
    する複数個の出力トランジスタと、パッドとを有し
    記出力バッファ部と、前記複数個の出力トランジスタの
    一部又は全部の出力トランジスタと、前記パッドとで、
    出力回路を構成することができるように構成される半導
    体集積回路において、前記出力バッファ部 と、前記複数個の出力トランジスタ
    と、前記パッドとは、前記パッドに近接するチップの素
    子形成面の辺と直交する方向に略一列に配列され、 前記複数個の出力トランジスタは、エミッタの面積が小
    さい出力トランジスタほど、前記パッドに近い位置に配
    置されていることを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】前記出力バッファ部は、定電流源回路を設
    けてなる差動増幅回路からなり、前記定電流源回路を構
    成するために設けられている複数個の抵抗のうち、所望
    の抵抗を選択して使用するように配線することにより、
    選択できる出力パワーのうち、所望の出力パワーに設定
    することができるように構成されていることを特徴とす
    る請求項1記載の半導体集積回路。
  3. 【請求項3】前記複数個の出力トランジスタの配列方向
    と直交する一の方向において前記出力バッファ部、前記
    複数個の出力トランジスタ及び前記パッドとそれぞれ隣
    合うように配置された別の出力バッファ部、別の複数個
    の出力トランジスタ及び別のパッドを有し、前記別の出
    力バッファ部と、前記別の複数個の出力トランジスタの
    一部又は全部の出力トランジスタと、前記別のパッドと
    で、別の出力回路を構成することができるように構成さ
    れ、 前記複数個の出力トランジスタは、前記複数個の出力ト
    ランジスタの配列方向と直交する方向においてサイズに
    差があり、 前記別の複数個の出力トランジスタは、前記複数個の出
    力トランジスタと同一サイズのトランジスタを有し、 前記複数個の出力トランジスタと前記別の複数個の出力
    トランジスタとは、前記複数個の出力トランジスタの配
    列方向と直交する方向で隣合う出力トランジスタのサイ
    ズの合計値が同一となるように配置されている ことを特
    徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
  4. 【請求項4】前記複数個の出力トランジスタは、エミッ
    タ窓の延在方向を前記複数個の出力トランジスタの配列
    方向と同一方向としていることを特徴とする請求項1記
    の半導体集積回路。
JP12892293A 1993-05-31 1993-05-31 半導体集積回路 Expired - Fee Related JP3237304B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12892293A JP3237304B2 (ja) 1993-05-31 1993-05-31 半導体集積回路
US08/227,348 US5694078A (en) 1993-05-31 1994-04-14 Semiconductor integrated circuit having regularly arranged transistor basic cells
GB9407503A GB2278724A (en) 1993-05-31 1994-04-15 Semiconductor integrated circuit having regularly arranged transistor basic cells
DE4414353A DE4414353A1 (de) 1993-05-31 1994-04-25 Integrierte Halbleiterschaltung mit regelmäßig angeordneten Transistor-Basiszellen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12892293A JP3237304B2 (ja) 1993-05-31 1993-05-31 半導体集積回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06338566A JPH06338566A (ja) 1994-12-06
JP3237304B2 true JP3237304B2 (ja) 2001-12-10

Family

ID=14996700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12892293A Expired - Fee Related JP3237304B2 (ja) 1993-05-31 1993-05-31 半導体集積回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5694078A (ja)
JP (1) JP3237304B2 (ja)
DE (1) DE4414353A1 (ja)
GB (1) GB2278724A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6114903A (en) * 1998-01-14 2000-09-05 Lsi Logic Corporation Layout architecture for core I/O buffer

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58124263A (ja) * 1982-01-20 1983-07-23 Toshiba Corp 半導体装置
JPS58190036A (ja) * 1982-04-23 1983-11-05 Fujitsu Ltd ゲ−ト・アレイ大規模集積回路装置
JPH0793356B2 (ja) * 1985-07-24 1995-10-09 株式会社日立製作所 論理集積回路
JPS63108733A (ja) * 1986-10-24 1988-05-13 Nec Corp 半導体集積回路
JPH0210869A (ja) * 1988-06-29 1990-01-16 Hitachi Ltd 半導体装置
US5124776A (en) * 1989-03-14 1992-06-23 Fujitsu Limited Bipolar integrated circuit having a unit block structure
US5329156A (en) * 1992-12-22 1994-07-12 Spectrian, Inc. Feed bus for RF power transistors

Also Published As

Publication number Publication date
GB2278724A (en) 1994-12-07
JPH06338566A (ja) 1994-12-06
DE4414353A1 (de) 1994-12-01
GB9407503D0 (en) 1994-06-08
US5694078A (en) 1997-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4827368A (en) Semiconductor integrated circuit device
US4480319A (en) Emitter coupled flip flop memory with complementary bipolar loads
EP0024883B1 (en) Semiconductor integrated memory device
US4952997A (en) Semiconductor integrated-circuit apparatus with internal and external bonding pads
JP3237304B2 (ja) 半導体集積回路
EP0005601A1 (en) Semiconductor integrated memory circuit
US4322640A (en) Three-state output circuit
EP0006702B1 (en) Semiconductor integrated memory circuit
US5095355A (en) Bipolar cross-coupled memory cells having improved immunity to soft errors
US5708610A (en) Semiconductor memory device and semiconductor device
CA1089032A (en) D.c. testable ttl logic circuit
US4231109A (en) Semiconductor integrated circuit device
US4145621A (en) Transistor logic circuits
EP0056191A2 (en) Integrated injection logic
US5237215A (en) ECL master slice gates with different power levels
US4646125A (en) Semiconductor device including Darlington connections
JP2001358300A (ja) 半導体集積回路装置
JPH06350037A (ja) バイポーラ型半導体集積回路
JP3111533B2 (ja) 半導体集積回路
JP3091571B2 (ja) Lsiの自動配置方法
JP3038896B2 (ja) 半導体装置
JP2811740B2 (ja) 集積回路
JPH02260561A (ja) 半導体装置
JPS6237538B2 (ja)
JPS63192269A (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010904

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071005

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081005

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081005

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091005

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees