JP3198355B2 - 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 - Google Patents

微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置

Info

Publication number
JP3198355B2
JP3198355B2 JP15125592A JP15125592A JP3198355B2 JP 3198355 B2 JP3198355 B2 JP 3198355B2 JP 15125592 A JP15125592 A JP 15125592A JP 15125592 A JP15125592 A JP 15125592A JP 3198355 B2 JP3198355 B2 JP 3198355B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
displacement element
thin film
micro
element according
recording medium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP15125592A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05347439A (ja
Inventor
敬介 山本
有二 笠貫
義勇 鈴木
隆行 八木
優 中山
裕 平井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP15125592A priority Critical patent/JP3198355B2/ja
Priority to AT92304772T priority patent/ATE149685T1/de
Priority to CA002069702A priority patent/CA2069702C/en
Priority to US07/888,789 priority patent/US5268571A/en
Priority to DE69217721T priority patent/DE69217721T2/de
Priority to EP92304772A priority patent/EP0516380B1/en
Publication of JPH05347439A publication Critical patent/JPH05347439A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3198355B2 publication Critical patent/JP3198355B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/10STM [Scanning Tunnelling Microscopy] or apparatus therefor, e.g. STM probes
    • G01Q60/16Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y35/00Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q10/00Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
    • G01Q10/04Fine scanning or positioning
    • G01Q10/045Self-actuating probes, i.e. wherein the actuating means for driving are part of the probe itself, e.g. piezoelectric means on a cantilever probe
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/06Probe tip arrays
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B9/00Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
    • G11B9/12Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
    • G11B9/14Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
    • G11B9/1418Disposition or mounting of heads or record carriers
    • G11B9/1427Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement
    • G11B9/1436Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/20Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
    • H10N30/204Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
    • H10N30/2041Beam type
    • H10N30/2042Cantilevers, i.e. having one fixed end
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q80/00Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/70Nanostructure
    • Y10S977/832Nanostructure having specified property, e.g. lattice-constant, thermal expansion coefficient
    • Y10S977/837Piezoelectric property of nanomaterial
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/86Scanning probe structure
    • Y10S977/861Scanning tunneling probe
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/86Scanning probe structure
    • Y10S977/872Positioner
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/86Scanning probe structure
    • Y10S977/873Tip holder

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ユニモルフカンチレバ
ーからなる微小変位素子、これを用いた走査型トンネル
顕微鏡(以下「STM」と記す)、及び大容量、高密度
の情報処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、情報処理装置におけるデータの記
録容量は年々大きくなる傾向があり、記録単位の大きさ
は小さく記録密度は高くなっている。例えば光記録によ
るデイジタル・オーディオ・ディスクにおいては記録単
位の大きさは1μm2 程度にまで及んでいる。その背景
には、メモリ材料開発の活発化があり、有機色素・フォ
トポリマーなどの有機薄膜を用いた安価で高密度な記録
媒体が登場してきている。
【0003】一方、最近、導体の表面原子の電子構造を
直接観察できるSTMが開発され(G.Binning
et al.,Helvetica Physica
Acta,55,726(1982))、単結晶、非
晶質を問わず実空間像の高い分解能の測定ができるよう
になり、しかも媒体に電流による損傷を与えずに低電力
で観測できる利点をも有し、さらに大気中でも動作し種
々の材料に対して用いることができるため広範囲な応用
が期待されている。
【0004】STMは金属の探針(プローブ電極)と導
電性物質の間に電圧を加えて1nm程度の距離まで近づ
けるとトンネル電流が流れることを利用している。この
電流は両者の距離変化に非常に敏感であり、電流もしく
は両者の平均的な距離を一定に保つように探針を走査す
ることにより実空間の表面情報を得ることができる。こ
の際、面内方向の分解能は1Å程度である。
【0005】このSTMの原理を応用すれば十分に原子
オーダー(数Å)での高密度記録再生を行なうことが可
能である。この際の記録再生方法としては、粒子線(電
子線、イオン線)或いはX線等の高エネルギー電磁波及
び可視・紫外線等のエネルギー線を用いて適当な記録層
の表面状態を変化させて記録を行ない、STMで再生す
る方法や、記録層として電圧電流のスイッチング特性に
対してメモリ効果を持つ材料、例えばπ電子系有機化合
物やカルコゲン化物類の薄膜層を用いて、記録・再生を
STMを用いて行なう方法等が提案されている(特開昭
63−161552号)。
【0006】このSTMを利用した情報処理装置におい
ては、プローブと記録媒体との距離をÅオーダーで制御
することが重要である。さらに記録再生システムの機能
向上、特に高速化の観点から多数のプローブを同時に駆
動すること(プローブのマルチ化)が提案されている。
【0007】従来この制御には、プローブ側或いは媒体
側に取り付けた積層型圧電素子、円筒型圧電素子等を用
いている(米国特許第4668865号明細書)。しか
しこれらの素子は変位量は大きくとれるものの集積化に
は適しておらず、マルチプローブ型の情報処理装置に使
用するのは不利である。この観点から、プローブを長さ
数100μm程度のカンチレバー(片持ち梁)上に取り
付け、このカンチレバーを圧電体で駆動する方法が考え
られている。
【0008】図9、図10に、Si基板上に圧電バイモ
ルフからなるカンチレバーを形成した例を示す(Tho
mas R他(J.Vac.Sci.Technol
A8P317)1990年)。図9はその斜視図であ
り、Si基板1上に2分割下電極3、ZnO圧電体薄膜
904、中電極902、ZnO圧電体薄膜904、2分
割上電極5と積層したカンチレバーを作製し、その下の
Si基板の一部を異方性エッチングにより除去して、S
i基板の端部から片持ちで支持されるように形成されて
いる。
【0009】その圧電バイモルフからなるカンチレバー
の先端には金属によりプローブ6が形成されている。こ
れは引き出し電極を通してトンネル電流を検知する。そ
の際、図10の断面図に示すようにカンチレバーの上電
極5と中電極902の間に挟まれる2つの圧電体領域
と、下電極3と中電極902との間に挟まれる2つの圧
電体領域の4箇所にそれぞれ独立に電圧をかけることに
より、プローブ6を持つカンチレバーを独立に動かすこ
とができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
に見られる圧電バイモルフ構造を有するカンチレバーで
は、高速スキャンさせた時、カンチレバーに寄生振動と
いう不都合な機械的振動が発生しやすく、正確な像観察
を困難にした。
【0011】また、集積化して、カンチレバーを複数個
設けた場合、何本かのカンチレバー部が圧電体薄膜ない
しは、電極薄膜の内部応力のため、反ってしまうという
問題があった。これはスパッタリング法や蒸着法により
圧電体薄膜や、電極薄膜を形成する際の不均一性等によ
るものと考えられる。
【0012】情報処理装置においては情報の書き込み、
或いは読み出しのためにカンチレバー1本1本全てが正
常動作する必要がある。このためカンチレバーの精度が
悪いとその精度を補償するために外的な補正の動作等を
加える必要があった。
【0013】さらに、圧電体を2層用いた圧電バイモル
フ構造をとるために工程数が多く複雑となり、その結果
薄膜の応力を各層で制御することが難しくなっている。
【0014】そこで本発明の目的は、高速スキャン時に
カンチレバーに生ずる寄生振動を格段に低減し、精度及
び再現性の良好な像観察、又は画像の記録・再生を可能
とする新規な微小変位素子、これを用いたSTM及び記
録再生装置を提供することにある。
【0015】また、本発明の目的は、同一基板上に複数
のカンチレバーを設けた際、カンチレバーの反りのばら
つきを極力減らし、精度及び再現性の良好な像観察又は
画像の記録・再生を可能とするマルチ微小変位素子、こ
れを用いたSTM及び記録再生装置を提供することにあ
る。
【0016】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の第1の
態様は、圧電体薄膜、これを挟持する一対の電極及び弾
性体薄膜を有するユニモルフカンチレバーであって、該
カンチレバーの一端が支持体に支持され、且つその他端
に情報入出力用のプローブを備えたことを特徴とする微
小変位素子である。
【0017】本発明の第2の態様は、上述の微小変位素
子が少なくとも2個以上2次元配置されていることを特
徴とするマルチ微小変位素子である。
【0018】本発明の第3の態様は、上述の微小変位素
子を電気導電体に対向配置し、該微小変位素子を駆動す
るための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手段を設
け、電気導電体とプローブとの間に電圧を印加する手
段、両者間に流れるトンネル電流を検出するための手段
及び該トンネル電流の検出に基づき電気導電体表面の情
報を出力する手段を備えたことを特徴とする走査型トン
ネル顕微鏡である。本発明の第4の態様は、上述の微小
変位素子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆
動するための駆動手段と該駆動手段を制御する手段を設
け、上記記録媒体とプローブとの間に情報記録用パルス
電圧を印加するための手段を備えたことを特徴とする情
報処理装置である。
【0019】本発明の第5の態様は、上述の微小変位素
子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆動する
ための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手段を設
け、記録媒体とプローブとの間に情報再生用バイアス電
圧を印加するための手段を備えたことを特徴とする情報
処理装置である。
【0020】本発明の第6の態様は、上述の微小変位素
子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆動する
ための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手段を設
け、記録媒体とプローブとの間に情報記録用パルス電圧
を印加するための手段、情報再生用バイアス電圧を印加
するための手段を備えたことを特徴とする情報処理装置
である。
【0021】以下、本発明を詳細に説明する。
【0022】本発明においては、微小変位させるカンチ
レバー状変位素子の構造を、2層の圧電体薄膜を夫々電
極で挟持したバイモルフ構造ではなく、弾性体薄膜と、
一対の電極に挟持された単層の圧電体薄膜からなるユニ
モルフ構造とすることにより、高速動作時の寄生振動を
低減し、製造時の工程数を減らし、薄膜形成の際の不均
一性を助長するような多回成膜を最小限に抑えたもので
ある。
【0023】更に、弾性体薄膜に、圧電体薄膜と同等な
線熱膨張係数を持つ材料を選択することにより、熱的に
も安定で、反りの少ない素子とすることができる。
【0024】これは、STMを動作させる場合、分子・
原子オーダー、つまり数nmのオーダーでの制御が必要
になるためであり、温度差があると、バイメタル効果に
より、カンチレバーに反りが発生する恐れがあるためで
ある。
【0025】弾性体薄膜と圧電体薄膜の好適な材料の組
合せとしては、両者の線熱膨張係数が同等なものであれ
ば良く、少なくとも以下の関係式を満足するものであれ
ば良い。
【0026】(A−B)/A×100≦50% 但し、A:弾性体薄膜を構成する材料の線熱膨張係数 B:圧電体薄膜を構成する材料の線熱膨張係数 具体的な組合せ例としては、以下のものが挙げられる。
【0027】 弾性体薄膜 圧電体薄膜 MgO(A:1.3×10-5/k) ZnO(B:1.5×10-5/k) Mo (A:5.0×10-6/k) AlN(B:5.0×10-6/k) Si (A:2.5×10-6/k)PbTiO3 (B:3.0×10-6/k) 弾性体薄膜の厚さの好適範囲は、圧電体薄膜と同程度で
あれば良く、好ましくは、0.1〜1.5μmであり、
材料としては有機、無機を問わない。
【0028】また、本発明の微小変位素子においては、
ダンパー(ブレーキ材)としての弾性体薄膜のヤング率
を好適範囲に設定することが重要である。つまりSTM
における高速動作において、例えば、動作させるために
制動電圧にパルス電圧を加えると変位量がオーバーシュ
ートする。これは、固有振動数が原因と考えられる。
【0029】弾性体薄膜のヤング率を1×104 〜5×
1011N/m2 の範囲、好ましくは、1×106 〜5×
108 N/m2 の範囲に設定することが必要である。
【0030】上記情報処理装置において、微小変位素子
の駆動信号としては、広帯域にわたる交流信号である正
弦波、三角波、矩形波、等が用いられるために、弾性体
薄膜を具備することにより、不要な振動を除去すること
もできる。
【0031】さらに、カンチレバーの幅方向に電極の組
を付加することによって、独立に異なるプローブの変形
を行なうことができることも、本発明の特徴である。
【0032】またマルチ微小変位素子においては1本1
本のカンチレバーは精度良く形成され、その結果、反り
による不良品を形成することなく、歩留を向上させ且つ
高品質のカンチレバーを実現することができる。
【0033】図1に本発明の微小変位素子の断面図、図
2にその斜視図を示す。
【0034】Si基板1上に弾性体薄膜2を形成し、下
部電極3、その上に圧電体薄膜4、上部電極5、プロー
ブ6で構成される。このような微小変位素子を同一Si
基板上に複数個設け圧電体部に電界をかけ、カンチレバ
ー部を駆動することによりトンネル電流を使って読み込
み、書き込みを行なうものである。
【0035】
【実施例】以下本発明を実施例により詳細に説明する。
【0036】実施例1 図5に複数の微小変位素子の模式図を示す。
【0037】6mm×6mmの厚さ0.3mmのSi
(100)基板1上に後述の工程によって形成した弾性
体薄膜と一対の電極を持つ圧電体薄膜からなるカンチレ
バー8が4×3=12本設けられており、各カンチレバ
ー上には、信号の書き込み或いは読み出し用のプローブ
6が設けられている。尚カンチレバーのサイズは幅10
0μm、長さ500μmである。
【0038】上記カンチレバーの作製法を図1を用いて
説明する。先ずSi(100)基板1(厚さ0.3m
m)上にCVD法により弾性体薄膜2としてSi34
膜を1500Å程度成膜した。尚、この膜のSi34
膜のヤング率は2×1011N/m2 であった。使用した
ガスはSiH2 Cl2 :NH3 =1:9であり、成膜温
度は800℃であった。次に、フォトリソグラフィー、
CF4 ドライエッチングにより、弾性体薄膜2を所望の
形状にパターニングを行なった。この後、Cr50Å、
Au1000Åを成膜し、下電極3を作製し、フォトリ
ソグラフィー及びウェットエッチングによりパターニン
グした。次いでスパッタ法により、圧電体薄膜4とし
て、ZnOを3000Å成膜した。ダーゲットにはZn
Oを用い、O2 雰囲気でスパッタした。さらにフォトリ
ソグラフィーとウェットエッチングによりパターニング
を行なった。その後、下電極3と同様の作製法で、上電
極5を形成した。
【0039】次にプローブ用電極材としてWを成膜し、
フォトリソグラフィーとリフトオフによりプローブ6を
作製した。その後にKOHによるSiの異方性エッチン
グによりSi基板1の所望の部分を除去し、微小変位素
子を作製した。
【0040】このように作製した微小変位素子の反り量
は、カンチレバーの自由端の先端とSi基板との高さの
ずれを測定したところ、12本のカンチレバーに対し、
±1μm程度の範囲内であった。
【0041】さらに、0℃〜60℃の温度範囲でも、こ
の反り量は変わらなかった。
【0042】次に、この微小変位素子のカンチレバー1
本に図3(a)のような、三角波の交流を加えた。尚、
周波数は500Hzである。このときのカンチレバーの
応答は図3(b)のようになり、応答性の良好なカンチ
レバーであることを確認した。
【0043】本図から明らかな通り、寄生振動がほとん
ど生じていない。
【0044】さらに、2分割された上電極5にそれぞれ
違う波形の電界を加えたところ、幅方向に100Å程度
駆動することができた。
【0045】比較例 実施例1と同様に作製して、工程を増やし、中電極を含
む圧電体薄膜を2つ含むバイモルフ構造の微小変位素子
を形成した。この時のカンチレバーの自由端の先端と、
Si基板との高さのずれは12本のカンチレバーに対
し、±150μmの反りであった。
【0046】さらに、このバイモルフ構造のカンチレバ
ーに対して、図4(a)のような三角波を加えた(周波
数500Hz)。この時のカンチレバーの応答は図4
(b)のようになった。つまり、寄生振動が発生し、こ
れを用いた像観察ではノイズが多く、正確な像観察を困
難にする。
【0047】実施例2 実施例2を図6を用いて説明する。実施例1と同様な方
法でSi34 の弾性体薄膜を形成した後、Cr50
Å、Au1000Åの2分割された下電極11を形成し
た。その後、スパッタ法でPbTi3 を5000Å程度
成膜した。ターゲットはPbTiO3 焼結体を用い、O
2 +Ar雰囲気でスパッタを行ない、圧電体薄膜4を形
成した。その後、リソグラフィー、エッチングによりパ
ターニングした後、Alを蒸着して上部2分割電極13
を形成した。その後Ptを成膜してプローブ14を形成
した。
【0048】ここで実施例1の構成と異なる点は、上、
下電極とも2分割されており、これらの2対の対向電極
に異なる波形の電界を加えた時、カンチレバーの上下運
動のみならず、平面運動をも行なうことができるという
ことである。
【0049】実施例3 実施例2において、弾性体薄膜としてSi34 に代え
てMgOを用い、また圧電体薄膜としてPbTiO3
代えてZnOを用い、それぞれ膜厚を1μmとして微小
変位素子を形成した。この変位素子の反り量の変化率
は、−20℃〜60℃の範囲で100ppm以下であっ
た。
【0050】実施例4 実施例2において、弾性体薄膜としてSi34 に代え
てMoを用い、圧電体薄膜としてPbTiO3 に代えて
AlNを用い、それぞれの膜厚を5000Åとして微小
変位素子を形成した。この素子の反り量の変化率は、−
20℃〜60℃の範囲において、100ppmであっ
た。
【0051】実施例5 実施例2において、弾性体薄膜としてSi34 に代え
てSiを用い、圧電体薄膜としてPbTiO3 を用い、
それぞれ膜厚3000Åとして微小変位素子を形成し
た。この素子の反り量の変化率は−20℃〜60℃の範
囲で100ppmであった。
【0052】実施例6 実施例2で作製した、5×6=30本の微小変位素子を
持つ複数のプローブを、図7に示す情報処理装置に取り
付けた。
【0053】図中101は媒体の基板、102は金属電
極層、103は記録層である。201はXYステージ、
202は微小変位素子のプローブ、203は微小変位素
子の支持体、204は微小変位素子をZ方向に駆動する
リニアアクチュエーター、205、206はXYステー
ジをそれぞれX、Y方向に駆動するリニアアクチュエー
ター、207は記録・再生用のバイアス回路である。3
01はプローブ電極から記録層103を介して電極層1
02へ流れる電流を検出する記録再生用のトンネル電流
検出器である。302はカンチレバーをZ軸方向に移動
させるためのサーボ回路であり、303はアクチュエー
ター204を駆動するためのサーボ回路である。304
は複数のカンチレバーをZ軸方向に動かすための駆動回
路であり、305はXYステージの制御を行なう駆動回
路である。306は、これらの操作を制御するコンピュ
ーターである。
【0054】本実施例では、この情報処理装置に微小変
位素子を取り付け、記録媒体としてガラス基板上にCr
/Auを蒸着し、その上部にポリイミドLB膜を4層
(約15Å)成膜したものを用いた。記録媒体の電極と
微小変位素子の先端のプローブに1.5Vの電圧を印加
した。30本全ての微小変位素子のプローブが、それぞ
れ10-8A程度のトンネル電流になるよう微小変位素子
の圧電体薄膜に電界を加えてプローブの位置を移動させ
た。この際30本に各自独立に圧電薄膜にかけた電界は
ほとんど±10%以内のバラツキでしかなかった。
【0055】尚、この記録媒体にパルス電圧を加える
と、記録媒体の抵抗率が2ケタ程度変化する特徴があ
る。
【0056】その後、プローブに、パルス電圧(10
V)を加え、所望の位置に情報を記録した。尚。その領
域は約100Å×100Å程度で非常に小さく、超高密
度の記録を行なうことができた。
【0057】次に、プローブと記録媒体の電極間に1.
5Vの電圧を印加し、トンネル電流の変位を見たとこ
ろ、記録した部分に抵抗値が変化した部分を検出した。
このように本実施例においては、記録情報の書き込み、
読み出しが行なえることを確認した。
【0058】実施例7 本実施例では前述した記録再生装置を使って、STMと
して実験を行なった結果について述べる。
【0059】実施例6で述べた情報処理装置を使って、
記録媒体を、被観察物として走査し、プローブ電極20
2と被観察物との間に電圧を印加し、トンネル電流値の
結果を出力すると、STM像が得られる。本実施例にお
いては被観察物として、Si基板(100)を用いて、
STM像を得たところ、Si基板の広範囲にわたって像
を原子オーダーで観察でき、さらにノイズがほとんどな
い安定した像が得られた。
【0060】実施例8 実施例1のカンチレバーを以下の方法で作成した。
【0061】先ず、Si(100)基板1(厚さ0.3
mm)上に塗布法により弾性体薄膜2として、アクリル
樹脂膜を1μm程度形成した。尚、このアクリル樹脂の
ヤング率は、2×107 N/m2 であった。次にフォト
リソグラフィー、ケミカルエッチングにより、弾性体薄
膜2を所望の形状にパターニングを行なった。エッチン
グ液として、酢酸ブチルを使用した。この後、Cr50
Å、Au1000Åを成膜し、下電極3を作成し、フォ
トリソグラフィー及びウェットエッチングによりパター
ニングした。次いでスパッタ法により、圧電体薄膜4と
して、AlNを1μm成膜した。ダーゲットには、Al
N焼結体を用い、Ar雰囲気でスパッタした。更にフォ
トリソグラフィーとウェットエッチングによりパターニ
ングを行なった。その後、下電極3と同様の作成法で、
上電極5を形成した。
【0062】次に、プローブ用電極材として、Ptを成
膜し、フォトリソグラフィーとリフトオフによりプロー
ブ6を作製した。その後、KOHによるSiの異方性エ
ッチングによりSi基板1の所望の部分を除去し、微小
変位素子を作製した。
【0063】こうして得られた微小変位素子の変位特性
を測定したところ、固有振動数は15KHzであった。
この共振時の機械的Q値は2程度であった。
【0064】弾性体として、1×106 〜5×108
/m2 のヤング率を持つ剛性の低い材料を選ぶと、更に
寄生振動が少なく、応答性の優れたものとなる。とりわ
け、本発明の微小変位素子をSTMとして作動させると
きに効果がある。
【0065】STMにおいては、トンネル電流をモニタ
ーすることにより、媒体の凹凸に追従してSTMプロー
ブが動く。このSTMプローブを動かす微小変位素子に
おいては、オーバーシュ−ティングや寄生振動がないこ
とが望ましい。
【0066】このため弾性体薄膜のヤング率の小さいも
のを用いることにより、機械的Q値が下がり、オーバー
シューティングのない微小変位素子が得られる。
【0067】図8は、本実施例の微小変位素子の特性を
示したものである。
【0068】図8(a)に示す如く、10msec,1
0Vの矩形波の電圧を微小変位素子に加えた。このとき
の変位(応答)は、ヤング率の小さい弾性体を用いた
時、図8(b)のようにオーバーシューティングが全く
見られない。これに対し、ヤング率の大きい弾性体を用
いた時、図8(c)のように立ち上がりにオーバーシュ
ーティングが見られ、位置だしが安定するのに時間がか
かる。
【0069】このように、弾性体として1×106 〜5
×108 N/m2 のヤング率を持つ材料を選ぶと、高速
応答可能なSTMが実現できる。
【0070】また、弾性体薄膜のヤング率の小さいもの
を用いることにより、圧電材料との熱膨張係数と、弾性
体薄膜のそれと大きく相違していても、温度変化に対
し、反りの発生を抑制することが可能であった。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように、シリコン基板の一
方面に、弾性体薄膜及び一対の電極に挟まれた1つの圧
電性薄膜で構成されるカンチレバーにトンネル電流を検
出するプローブを設けた微小変位素子においては、温度
性、応答性、操作性の高いSTMを応用した、高速動作
に適した情報処理装置が作製できる。また、複数のプロ
ーブを持つ微小変位素子においては、1本1本のカンチ
レバーの反りが少なく、平面度が高いので、歩留が向上
すると共に、制御性も高まる。
【0072】このことによって、STMを応用した情報
処理装置において、超高密度な記録、再生ができると共
に、安価な装置を供給することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の微小変位素子の断面図である。
【図2】本発明の微小変位素子の斜視図である。
【図3】本発明の微小変位素子の応答性を示す図であ
る。
【図4】バイモルフカンチレバーを用いた場合の応答性
を示す図である。
【図5】本発明のマルチ微小変位素子の断面図である。
【図6】本発明の実施例2の微小変位素子の断面図であ
る。
【図7】実施例2に用いた記録再生装置の模式図であ
る。
【図8】実施例4の微小変位素子の特性を示す図であ
る。
【図9】従来の微小変位素子の斜視図である。
【図10】従来の微小変位素子の断面図である。
【符号の説明】
1 Si基板 2 弾性体薄膜 3 下電極 4 圧電体薄膜 5 上電極 6 プローブ 8 カンチレバー 101 記録媒体基板 102 金属電極層 103 記録層 201 XYステージ 202 プローブ電極 203 支持体 204 Z方向リニアアクチュエーター 205 X方向リニアアクチュエーター 206 Y方向リニアアクチュエーター 207 記録再生用バイアス回路 301 トンネル電流検出器 302、303 サーボ回路 304、305 駆動回路 306 コンピューター 902 中電極 904 圧電体薄膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木 隆行 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 中山 優 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (72)発明者 平井 裕 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 41/08 G11B 9/00 H02N 2/00 H01J 37/00

Claims (16)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 圧電体薄膜、これを挟持する一対の電極
    及び弾性体薄膜を有するユニモルフカンチレバーであっ
    て、該カンチレバーの一端が支持体に支持され、且つそ
    の他端に情報入出力用のプローブを備えたことを特徴と
    する微小変位素子。
  2. 【請求項2】 前記弾性体薄膜のヤング率が1×104
    〜1×1011N/m2 の範囲にあることを特徴とする請
    求項1記載の微小変位素子。
  3. 【請求項3】 前記弾性体薄膜のヤング率が1×106
    〜5×108 N/m2 の範囲にあることを特徴とする請
    求項1記載の微小変位素子。
  4. 【請求項4】 前記電極の少なくとも一方が、幅方向に
    分割されていることを特徴とする請求項1記載の微小変
    位素子。
  5. 【請求項5】 前記弾性体薄膜を構成する材料の線熱膨
    張係数が、前記圧電体薄膜を構成する材料の線熱膨張係
    数と同等であることを特徴とする請求項1記載の微小変
    位素子。
  6. 【請求項6】 前記弾性体薄膜を構成する材料の線熱膨
    張係数Aと、前記圧電体薄膜を構成する材料の線熱膨張
    係数Bとの関係が、以下の式を満足することを特徴とす
    る請求項5記載の微小変位素子。 (A−B)/A×100≦50%
  7. 【請求項7】 弾性体薄膜を構成する材料が、酸化マグ
    ネシウム、モリブデン及びシリコンから選択されること
    を特徴とする請求項1記載の微小変位素子。
  8. 【請求項8】 弾性体薄膜を構成する材料が有機材料で
    あることを特徴とする請求項1記載の微小変位素子。
  9. 【請求項9】 圧電体薄膜を構成する材料が、酸化亜
    鉛、窒化アルミニウム、酸化チタン亜鉛から選択される
    ことを特徴とする請求項1記載の微小変位素子。
  10. 【請求項10】 請求項1〜9のいずれかに記載の微小
    変位素子が少なくとも2個以上2次元配置されているこ
    とを特徴とするマルチ微小変位素子。
  11. 【請求項11】 請求項1〜9のいずれかに記載の微小
    変位素子を電気導電体に対向配置し、該微小変位素子を
    駆動するための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手
    段を設け、電気導電体とプローブとの間に電圧を印加す
    る手段、両者間に流れるトンネル電流を検出するための
    手段及び該トンネル電流の検出に基づき電気導電体表面
    の情報を出力する手段を備えたことを特徴とする走査型
    トンネル顕微鏡。
  12. 【請求項12】 請求項1〜9のいずれかに記載の微小
    変位素子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆
    動するための駆動手段と該駆動手段を制御する手段を設
    け、上記記録媒体とプローブとの間に情報記録用パルス
    電圧を印加するための手段を備えたことを特徴とする情
    報処理装置。
  13. 【請求項13】 請求項1〜9のいずれかに記載の微小
    変位素子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆
    動するための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手段
    を設け、記録媒体とプローブとの間に情報再生用バイア
    ス電圧を印加するための手段を備えたことを特徴とする
    情報処理装置。
  14. 【請求項14】 請求項1〜9のいずれかに記載の微小
    変位素子を記録媒体に対向配置し、該微小変位素子を駆
    動するための駆動手段と該駆動手段を制御する制御手段
    を設け、記録媒体とプローブとの間に情報記録用パルス
    電圧を印加するための手段、情報再生用バイアス電圧を
    印加するための手段を備えたことを特徴とする情報処理
    装置。
  15. 【請求項15】 記録媒体が、電気メモリー効果を有す
    ることを特徴とする請求項12〜14のいずれかに記載
    の情報処理装置。
  16. 【請求項16】 記録媒体の表面が非導電性であること
    を特徴とする請求項12〜14のいずれかに記載の情報
    処理装置。
JP15125592A 1991-05-28 1992-05-20 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 Expired - Fee Related JP3198355B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15125592A JP3198355B2 (ja) 1991-05-28 1992-05-20 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
AT92304772T ATE149685T1 (de) 1991-05-28 1992-05-27 Mikroverschiebungselement für ein tunnelrastermikroskop
CA002069702A CA2069702C (en) 1991-05-28 1992-05-27 Micro-displacement element, and scanning tunneling microscope and information processing apparatus using same
US07/888,789 US5268571A (en) 1991-05-28 1992-05-27 Micro-displacement element, and scanning tunneling microscope and information processing apparatus using same
DE69217721T DE69217721T2 (de) 1991-05-28 1992-05-27 Mikroverschiebungselement für ein Tunnelrastermikroskop
EP92304772A EP0516380B1 (en) 1991-05-28 1992-05-27 Micro-displacement element for a scanning tunneling microscope

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15094291 1991-05-28
JP3-150942 1991-05-28
JP15125592A JP3198355B2 (ja) 1991-05-28 1992-05-20 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05347439A JPH05347439A (ja) 1993-12-27
JP3198355B2 true JP3198355B2 (ja) 2001-08-13

Family

ID=26480370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15125592A Expired - Fee Related JP3198355B2 (ja) 1991-05-28 1992-05-20 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5268571A (ja)
EP (1) EP0516380B1 (ja)
JP (1) JP3198355B2 (ja)
AT (1) ATE149685T1 (ja)
CA (1) CA2069702C (ja)
DE (1) DE69217721T2 (ja)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5481184A (en) * 1991-12-31 1996-01-02 Sarcos Group Movement actuator/sensor systems
JP3261544B2 (ja) * 1991-10-03 2002-03-04 キヤノン株式会社 カンチレバー駆動機構の製造方法、プローブ駆動機構の製造方法、カンチレバー駆動機構、プローブ駆動機構、及びこれを用いたマルチプローブ駆動機構、走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
JPH06132579A (ja) * 1992-09-01 1994-05-13 Canon Inc 変位素子及びそれを用いたプローブ、同プローブを有する機器
US5338932A (en) * 1993-01-04 1994-08-16 Motorola, Inc. Method and apparatus for measuring the topography of a semiconductor device
JPH06241777A (ja) * 1993-02-16 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 原子間力顕微鏡用カンチレバー、その製造方法、このカンチレバーを用いた原子間力顕微鏡及びこのカンチレバーを用いた試料表面密着性評価方法
US5689063A (en) * 1993-07-15 1997-11-18 Nikon Corporation Atomic force microscope using cantilever attached to optical microscope
US5537863A (en) * 1993-07-15 1996-07-23 Nikon Corporation Scanning probe microscope having a cantilever used therein
US5475318A (en) * 1993-10-29 1995-12-12 Robert B. Marcus Microprobe
US5679889A (en) * 1995-02-06 1997-10-21 Nikon Corporation Method for extracting electrode and cantilever for AFM using said method for extracting electrode
JP3581421B2 (ja) * 1995-02-23 2004-10-27 キヤノン株式会社 情報処理装置
JPH08297129A (ja) * 1995-04-26 1996-11-12 Nikon Corp 原子間力顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法
DE19520796A1 (de) * 1995-06-07 1996-12-12 Siemens Ag Piezoelektrischer Biegewandler
US7260051B1 (en) 1998-12-18 2007-08-21 Nanochip, Inc. Molecular memory medium and molecular memory integrated circuit
SG147277A1 (en) * 2000-02-01 2008-11-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Head support mechanism and thin film piezoelectric actuator
US6887873B2 (en) 2001-03-23 2005-05-03 Aventis Pharma S.A. Triazine derivatives and their application as antitelomerase agents
US6912778B2 (en) * 2001-07-19 2005-07-05 Micron Technology, Inc. Methods of fabricating full-wafer silicon probe cards for burn-in and testing of semiconductor devices
WO2003049209A1 (en) * 2001-11-21 2003-06-12 Apogent Robotics Limited Actuator structure
KR100746768B1 (ko) * 2002-03-19 2007-08-06 주식회사 엘지이아이 캔틸레버를 이용한 정보 기록 및 판독 장치
US7063909B2 (en) * 2002-08-14 2006-06-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Fuel-cell element stack with stress relief and methods
JP4329322B2 (ja) * 2002-10-04 2009-09-09 ソニー株式会社 相互反応作用検出方法及びバイオアッセイ装置、並びにバイオアッセイ用基板
US7233517B2 (en) 2002-10-15 2007-06-19 Nanochip, Inc. Atomic probes and media for high density data storage
US7055378B2 (en) 2003-08-11 2006-06-06 Veeco Instruments, Inc. System for wide frequency dynamic nanomechanical analysis
US7367119B2 (en) 2005-06-24 2008-05-06 Nanochip, Inc. Method for forming a reinforced tip for a probe storage device
US7463573B2 (en) 2005-06-24 2008-12-09 Nanochip, Inc. Patterned media for a high density data storage device
US7309630B2 (en) 2005-07-08 2007-12-18 Nanochip, Inc. Method for forming patterned media for a high density data storage device
JP4316590B2 (ja) 2006-06-23 2009-08-19 株式会社東芝 圧電駆動型memsアクチュエータ
KR100790893B1 (ko) * 2006-10-20 2008-01-03 삼성전자주식회사 볼록한 저항성 팁을 구비한 반도체 탐침 및 그 제조방법
EP2288179B1 (en) 2008-05-29 2015-09-30 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric speaker, speaker device and tactile feedback device
WO2009144972A1 (ja) 2008-05-29 2009-12-03 株式会社村田製作所 シート型振動体および音響機器
JP5609244B2 (ja) * 2010-04-28 2014-10-22 パナソニック株式会社 振動発電デバイス
CN102064745B (zh) * 2010-11-15 2013-07-31 中国人民解放军国防科学技术大学 一种双稳压电悬臂梁振子装置
FR3022690B1 (fr) * 2014-06-24 2016-07-22 Commissariat Energie Atomique Dispositif de connexion electrique comportant des elements de connexion a position commandable

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5946432B2 (ja) * 1980-04-11 1984-11-12 株式会社東芝 バイモルフ圧電素子
EP0194323B1 (en) * 1985-03-07 1989-08-02 International Business Machines Corporation Scanning tunneling microscope
DE3751183T2 (de) * 1986-09-29 1995-11-16 Mitsubishi Chem Corp Piezoelektrischer Antrieb.
EP0262253A1 (en) * 1986-10-03 1988-04-06 International Business Machines Corporation Micromechanical atomic force sensor head
DE3789373T2 (de) * 1986-12-24 1994-06-23 Canon Kk Aufnahmegerät und Wiedergabegerät.
JP2556491B2 (ja) * 1986-12-24 1996-11-20 キヤノン株式会社 記録装置及び記録法
US4906840A (en) * 1988-01-27 1990-03-06 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr., University Integrated scanning tunneling microscope
DE3850968T2 (de) * 1988-10-14 1995-03-16 Ibm Abstandsgesteuerter Tunneleffektwandler und den Wandler verwendende Speichereinheit mit direktem Zugriff.
US5079958A (en) * 1989-03-17 1992-01-14 Olympus Optical Co., Ltd. Sensor having a cantilever
US5015850A (en) * 1989-06-20 1991-05-14 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Microfabricated microscope assembly
US5075548A (en) * 1989-07-17 1991-12-24 Olympus Optical Co., Ltd. Tunnel current probe moving mechanism having parallel cantilevers
JPH0483104A (ja) * 1990-07-26 1992-03-17 Olympus Optical Co Ltd 走査型トンネル顕微鏡
JP3030574B2 (ja) * 1990-08-16 2000-04-10 キヤノン株式会社 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置
JPH0758193B2 (ja) * 1990-09-14 1995-06-21 三菱電機株式会社 原子間力顕微鏡の微動走査機構

Also Published As

Publication number Publication date
EP0516380A3 (en) 1993-06-16
DE69217721T2 (de) 1997-07-17
DE69217721D1 (de) 1997-04-10
JPH05347439A (ja) 1993-12-27
ATE149685T1 (de) 1997-03-15
EP0516380B1 (en) 1997-03-05
CA2069702A1 (en) 1992-11-29
US5268571A (en) 1993-12-07
EP0516380A2 (en) 1992-12-02
CA2069702C (en) 1999-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3198355B2 (ja) 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
JP3030574B2 (ja) 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置
JP2741629B2 (ja) カンチレバー型プローブ、それを用いた走査型トンネル顕微鏡及び情報処理装置
US5412641A (en) Information recording/reproducing apparatus for recording/reproducing information with probes
US5448421A (en) Method for positioning an information processing head by detecting a magnetization pattern on a magnetic material positioned relative to a recording medium and a process for forming a recording and/or reproducing cantilever type probe
JPH05284765A (ja) カンチレバー型変位素子、及びこれを用いたカンチレバー型プローブ、及びこのカンチレバー型プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡並びに情報処理装置
EP1151437A2 (en) Molecular memory medium and molecular memory integrated circuit
JP3135779B2 (ja) 情報処理装置
JP3062967B2 (ja) カンチレバー型アクチュエータ及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
JP3224174B2 (ja) 微小変位素子、光偏向器、走査型プローブ顕微鏡、および情報処理装置
JPH06241781A (ja) カンチレバー、及びこれを利用したカンチレバー型プローブ、及びカンチレバー型プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
JP3234722B2 (ja) 円弧状反りレバー型アクチュエータ、該アクチュエータの駆動方法及び情報入出力用プローブを用いた情報処理装置
JP2890268B2 (ja) プローブユニット及びこれを用いた情報処理装置と走査型トンネル顕微鏡
JP3015974B2 (ja) マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ
JP3023728B2 (ja) プローブ構造体、記録装置、情報検出装置、再生装置及び記録再生装置
JP3060142B2 (ja) カンチレバー型変位素子の駆動方法、走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置、及びカンチレバー型変位素子
JP3044425B2 (ja) 薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置
JP2968613B2 (ja) 情報再生装置
JP3118654B2 (ja) 情報処理装置及び走査型トンネル電子顕微鏡
JPH04115103A (ja) カンチレバー型プローブ及び該プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡、精密位置決め装置、情報処理装置
JPH06300513A (ja) プローブ位置制御方法,走査型トンネル顕微鏡および記録再生装置
JPH06313847A (ja) カンチレバー型アクチュエータ、カンチレバー型プローブ及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡並びに情報処理装置
JPH07110969A (ja) 面合わせ方法,位置制御機構および該機構を有する情報処理装置
JPH0875759A (ja) 微小変位素子及びこれを用いたデバイス
JPH06195777A (ja) 情報処理装置および走査型プローブ顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010424

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080615

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090615

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090615

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100615

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees