JP3015974B2 - マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ - Google Patents
マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブInfo
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Description
観察できる、あるいは記録媒体間での情報の入出力に携
わるプローブ(探針)を自由端部に有したカンチレバー
型プローブに係るものであり、さらにはそれを用いた情
報処理装置及び走査型トンネル顕微鏡等に関する。
造を直接観測できる走査型トンネル顕微鏡(以下、ST
Mと略す)が開発され(G.Binnig et a
l.,Phys.Rev.Lett.49(1982)
57)、単結晶、非晶質を問わず実空間像を著しく高い
分解能(ナノメートル以下)で測定できるようになっ
た。
物質の間に電圧を加えて、1nm程度の距離まで近づけ
るとトンネル電流が流れることを利用している。この電
流は両者の距離変化に非常に敏感で指数関数的に変化す
るので、トンネル電流を一定に保つようにプローブを走
査することにより、実空間の表面構造を原子オーダの分
解能で観察することができる。
性のサンプルに限られ、絶縁性のサンプルの観察にはむ
かないという欠点がある。そこで、新たに原子間力顕微
鏡(Atomic Force Microscop
e;以後AFMと略す)というアイデアが提唱された
(Binnig他Phys.Rev.Lett.56
(1986)930参照)。かかるAFMは、物質間に
働く力によって物質表面の形状を2次元的に観察するも
のであり、STMと異なり電気伝導性のない材料表面や
有機分子がナノメートルオーダーで観察できることか
ら、広範な応用が期待されている。
(探針)を持つカンチレバー部と、このカンチレバーの
曲がりを測定する変位測定部から構成される。また、こ
のプローブは、カンチレバーの自由端にカンチレバー本
体とは別個に作製される場合や、カンチレバー自体を試
料面に傾斜配置することによりカンチレバーの自由端を
プローブとして用いる場合等がある。
距離においては分散力による微弱な引力が、近距離では
斥力が働く。カンチレバーの曲がりは、この作用する力
に比例するので、この曲がりを測定することによってプ
ローブ先端とこれに数nm以内に近接する試料表面間に
働く微弱で局所的な力を検出することが可能となる。さ
らに、試料を走査することで試料表面の力の2次元的情
報が得られる。
るようにフィードバックをかけながら走査することによ
り、試料表面の微小な凹凸形状を観察できる。
平方向で10nm程度であり、試料表面に10nm程度
の間隔で凹凸を作製し、それをAFMで読み出すことに
よって、1012ビット/cm2近い超高密度のメモリを
作製することも可能である。
感度を上げるためには、弾性定数が非常に小さいカンチ
レバーにしなければならない。一方、除振台を用いた装
置では走査系の掃引周波数と防振の点から、カンチレバ
ーの共振周波数を低くすることはできない。特に、記録
再生等を行う情報処理装置に応用する際にはこれは必須
の条件である。
るデータの記録容量は年々大きくなる傾向があり、記録
単位の大きさは小さく記録密度は高くなっている。例え
ば光記録によるディジタル・オーディオ・ディスクにお
いては記録単位の大きさは1μm2程度にまで及んでい
る。その背景には、メモリ材料開発の活発化があり、有
機色素・フォトポリマーなどの有機薄膜を用いた安価で
高密度な記録媒体が登場している。
プローブを用いて記録再生を行う場合、プローブと記録
媒体との距離をオングストロームオーダーで制御するこ
と、及び記録媒体上に2次元に配列した情報を記録再生
するために、プローブの2次元走査を数10オングスト
ロームオーダーで制御することの2点が重要である。さ
らに、記録再生システムの機能向上、特に高速化の観点
から多数のプローブを同時に駆動すること(プローブの
マルチ化)が提案されている。つまり、多数のプローブ
が配置された面積内で上記の精度でプローブと記録媒体
の相対位置を3次元的に制御しなければならない。
は、数V程度の小さな電圧での圧電力のみによる駆動
で、ミクロンオーダーの変位を取り出すことができる
が、このことは逆に、STMによって試料表面の走査を
行う際、オングストロームオーダーの制御をするには1
00μV程度の電源の制御が必要となる。従って、マル
チプローブ型にする際、試料表面と各プローブ間隔を1
ナノメーター程度に揃え、かつ各プローブを走査するに
は数V印加した上で100μVの制御を行わなければな
らず、外来ノイズ、電源自体のノイズ等の影響を鑑みれ
ば非常に困難である。
レバーと静電駆動部をシーソー型に配置したものが考え
られるが、マルチプローブ型の集積化には不利である。
板上に集積化して面内に多数個設けた場合、カンチレバ
ー一本一本の高さが異なるという問題がある。これは、
圧電体薄膜や電極薄膜の形成の際、通常スパッタリング
や蒸着法が用いられるが、これらの薄膜形成時の面内の
不均一性によるものである。この不均一性から生じる内
部応力や膜厚の違い等から、面内に均一にカンチレバー
の高さを揃えることは非常に困難である。これを記録再
生装置に用いた場合、各カンチレバー部の圧電部分に一
定の高さになるようバイアス電圧を加えなければならな
い。
囲は±10μm程度であるから、これ以上の反りがある
と、補正ができない。また、仮に補正できたとしても、
各カンチレバー部に独立のバイアス電源が必要となり、
制御系回路も複雑になり、規模が大きくなってしまう。
ー転送速度、及びデーター記録速度を向上させるといっ
た面からも、プローブの数を増やす必要がある。この
際、プローブと記録媒体との間隔を調整しつつ、記録デ
ーター列上をプローブが走行する必要がある。しかしな
がら、記録したデーター列の幅が非常に細く、装置の温
度変化によるドリフト、あるいは外部からの振動などの
影響により、プローブがデーター列からはずれて安定し
た記録再生ができなくなる。更に、1つのプローブをデ
ーター列に添って走査させると他のプローブがデーター
列からはずれてしまうこととなる。
71と電極72を積層し圧電体を4ブロックに分け、3
軸駆動が可能な自由端側にトンネル電流を検知するプロ
ーブ73を要するカンチレバー型プローブが提案されて
いる。かかる構成によれば、図14(a),(b),
(c)に示す様に各電極間に適当なバイアスをかけるこ
とによりX,Y,Z軸の各々単独での駆動は可能である
が、特にX,Y軸の変位量は小さい。例えば、圧電体に
ZnOを使用し、その微小変位素子の厚さを5μm、長
さを1000μm、幅を200μmとしたとき、10V
印加で、その変位量は、X軸で約200nm、Y軸で約
20nm、Z軸で約7500nmである。Z軸は充分な
ストロークをもつが、記録面の走査方向、すなわちXY
軸のストロークが大きいとはいえない。このようなカン
チレバー型プローブにおいて、広域なSTMによる記録
再生装置に用いるには、媒体側のXYステージによる微
動駆動が必要であった。
ルフ構成をとっているため工程数も複雑で、厚さ方向の
積層数も多いことから、薄膜のカンチレバーが膜中の内
部応力のために反ってしまう問題があった。また、内部
応力の面内分布のために、前述のようにマルチ化する
と、それぞれの反り量がまばらになってしまう。
に鑑み、本発明が解決しようとする課題は、 .カンチ
レバー型プローブを同一平面内にマルチ配列して用いる
際の、各々のプローブ高さのばらつきを取り除くような
構成を簡便な手段にて達成する点、 .カンチレバー型
プローブの駆動変位に関し、特にその基板面に平行方
向、すなわちXY平面での変位量を大きくし得る構成を
達成する点、等にあり、さらに、かかるカンチレバー型
プローブを具備した情報処理装置及び走査型トンネル顕
微鏡等を提供することにある。
下の構成により達成される。
バー型プローブを同一面内に複数設け、該複数のカンチ
レバーの各々に対して、その反り量を静電効果により独
立に位置補正する機構を設けたマルチプローブ、として
いる点にある。
方法は圧電体による電歪効果を用い、面内の高さの平面
保持は静電効果による駆動方法を用いるものである。こ
の構成により、予め、複数のカンチレバーの反り量を独
立に一本一本静電気により、高さを揃え、面内の不均一
性を補償するものである。
プローブユニットを説明する。図示するように、本発明
はSi基板28上に、電極34、誘電体30、電極2
9、圧電体31、電極29の順に積層構成されたカンチ
レバーと、ガラス基板32の上でカンチレバーの背面下
方に電極33をはり合わせたものにより構成される。2
はトンネル電流検出用プローブである。このようなカン
チレバー型プローブをSi基板上に複数個形成し、トン
ネル電流を検知することによって記録,再生を行うもの
である。
3,34間に電界を加え、あらかじめ静電荷を蓄わえて
おき寸法を調整する。こうして面内の高さを揃えた後、
トンネル電流検知時の高さ方向の微少動作は圧電体を用
いる。
は、圧電体効果にて変位するカンチレバー型プローブを
Si基板45上に形成される複数の短冊状電極46の上
方に保持し、前記短冊状電極46に電圧を加える手段に
より、静電効果にて前記カンチレバーをその幅方向に駆
動し得るカンチレバー型プローブ、としている点にある
(図2参照)。
が、カンチレバーの幅方向にそれを固有振動させる手段
とすることによっても前記目的は達成される。
数個、記録媒体と対向配置し、該カンチレバー型プロー
ブの各々に、圧電体を駆動させる手段と該駆動手段を制
御する制御手段とを設け、かつ、記録媒体とプローブと
の間に印加しうる情報の記録又は再生用バイアス電圧印
加回路を備えた情報処理装置、として前記目的を達成す
ることもできる。
る。
トについて説明する。6mm×6mm,厚さ0.2mm
のSi基板28上に、後述の工程で形成したカンチレバ
ーが12本設けられており、各カンチレバー上部には、
トンネル電流検知用のプローブ2が設けられている。こ
れにガラス基板32が貼り合わせてある。尚、1本のカ
ンチレバーのサイズは、幅200μm,長さ800μm
である。次に、上記カンチレバーの製造方法について図
1(b)に基づいて行う。まず、Si基板(100)
(厚さ0.3mm)上に、電極34を真空蒸着にて形成
後、誘電体薄膜30,電極29,圧電体薄膜31,電極
29を作製し、フォトリソグラフィーおよびエッチング
によりパターニングした。ついで、トンネル電流検知用
プローブ2を、成膜とフォトリソグラフィーとリフトオ
フにより作製した。その後、KOHによるSiの異方性
エッチングによりSi基板28の所望の部分を除去し
た。このようにして作製したSi基板上の圧電体変位素
子を図3のように貼り合わせて形成した。尚、ガラス基
板32の厚さは0.2mmとした。
ーブユニットの高さの調整法について述べる。図4はマ
ルチプローブユニット、図5はその位置補正ブロック図
を示したものである。基板28をあらかじめ平行平面の
台に置き、さらに極めて平行平面な導電体35を一定の
高さに保持し、その後にトンネル電流検知用プローブ2
と導電体35に一定の電圧をかけ、トンネル電流を検知
する。その後、電極33−1,33−2,33−3,3
3−4に電圧を印加して、各トンネル電流値がほとんど
等しくなるように各電極の電圧を調整した。これによ
り、静電気にて位置の補正を行うことができる。
ットを図6に示す情報処理装置に取り付けた。
層、603は記録層である。604はXYステージ、6
05はマルチプローブユニット、606はマルチプロー
ブユニットの支持体、607はマルチプローブユニット
をZ方向に駆動するリニアアクチュエーター、608,
609はXYステージをそれぞれX,Y方向に駆動する
リニアアクチュエーター、610は記録再生用のバイア
ス回路である。611はプローブ電極から記録層603
を介して電極層602へ流れる電流を検出する記録再生
用のトンネル電流検出器である。612はマルチプロー
ブユニットをZ軸方向に移動させるためのサーボ回路で
あり、613はアクチュエーター607を駆動するため
のサーボ回路である。614はマルチプローブユニット
をZ軸方向に動かすための駆動回路であり、615はX
Yステージの位置制御を行う駆動回路である。616は
これらの操作を制御するコンピュータである。
じめ実施例1により高さを揃えたマルチプローブユニッ
トを取りつけ、記録媒体としてガラス基板上にCr/A
uを蒸着し、その上部にポリイミドLB膜を4層(約2
0オングストローム)成膜したものを用いた。尚、この
記録媒体にはパルス電圧を加えると記録媒体の抵抗率が
2ケタ程度変化する特徴がある。
部に電圧をかけ、独立にカンチレバー部を動作させる。
記録媒体の電極とカンチレバー先端のトンネル電流検知
用プローブとの間に1.5Vの電圧をかけ、それぞれの
プローブが10-8A程度のトンネル電流になるようにカ
ンチレバー部の高さを調整した。その後、プローブにパ
ルス電圧(5V)を加え、所望の位置に情報を記録し
た。尚、その記録領域は、100オングストローム×1
00オングストローム程度で非常に小さく、超高密度の
記録を行うことができた。
1.5Vの電圧をかけ、トンネル電流の計測をしたとこ
ろ、記録した部分に抵抗値が変化した部分を検出した。
このように、本実施例においては、記録情報の書き込
み、読み出しが行えることを確認した。
ー型プローブである。
を示す。さらに図2(b)はA−A断面図である。これ
は、Si基板45上に、通常のIC作製プロセスとSi
の異方性エッチングとにより作製したものである。絶縁
層からなる弾性薄膜41上に、圧電体薄膜42を挟持し
て圧電体電極43を形成し、その上端部に情報入出力プ
ローブ44を形成した圧電薄膜カンチレバーである。こ
の構成では、圧電体層1層、電極1組で、いわゆるユニ
モルフ構成をとった薄膜カンチレバーでできている。こ
の圧電体電極43に電界を加えると、薄膜カンチレバー
の厚さ方向に駆動する(図中Z軸)。この構成による
と、圧電薄膜カンチレバーの積層数が従来のバイモルフ
構造よりも少ないので内部応力による反りも緩和され
る。
状電極46に電界を加えると、静電気によりY軸方向に
駆動することができる。なお、47はn−Siでできた
支持体で、49は短冊状電極46の取り出し電極であ
る。これは、Y軸方向の静電アクチュエーターを内蔵し
た構成をとっている。
明する。この原理は例えば、生産研究第41巻第12
号、1989年12月に掲載されている。これは、静電
気によって動作をするものである。
と抵抗体内で電荷が動き、絶縁体52が帯電する。次に
図7(b)のように絶縁体51は帯電する。次に図7
(c)のように印加電圧をかけると、反発作用が起こ
る。その結果、図7(d)の矢印に示すように駆動する
ことができる。
状電極46に、それぞれある電界を加えて薄膜カンチレ
バーをY軸に働く力を発生させるものである。つまり、
図2(a)に示したように、薄膜カンチレバーの裏面に
ある弾性薄膜41が絶縁層となり、さらに短冊状電極4
6と薄膜カンチレバーとの空間が絶縁層となっている。
つまり、上述したように短冊状電極46にある交流の電
界を加えると、薄膜カンチレバーがY軸方向に駆動する
ものである。これは、交流の電界の周波数を、薄膜カン
チレバーの幅方向の固有振動数と一致させると、Y軸方
向に振動する。すなわち、このY軸の固有振動数で振動
するモードをY軸のストロークとすることを特徴として
いる。
用いて説明する。図8(a)に示すのは、n型Si(1
00)基板45にB(ボロン)を選択的に拡散させ、P
+層にして短冊状の電極46を形成したものである。こ
こでは図示してないが、Y方向に短冊状電極46が多数
配置してある。次に、1100℃でSiCl4を用いP
H3をドーパントとして1.5μmエピタキシャル成長
させ、n型のエピタキシャル層47を得る。次に、選択
的に再度Bを拡散させてP+層48を形成した。これは
電極46の引出し用である。また基板45とエピタキシ
ャル層47とをn型にするのは、P+の電極と電気的に
分離するためである。次に、LPCVDによるNH3と
SiH2Cl2の気相成長により、Si3N4で形成した弾
性薄膜42を400nm成膜し、カンチレバーの形を得
るためのパターニングを行った。図8(b)にその断面
図、図8(c)にその上面図を示す。
ば、Cr,Auの順にそれぞれ3nm,200nm程度
蒸着し圧電体電極43を形成する。電極材としては、S
iの異方性エッチングの際に腐食されないAg,Pd,
Pt等でも良い。次に、圧電体例えばAlN,ZnO,
PZT等をスパッタ蒸着し約1μm成膜しパターニング
して圧電体薄膜42を形成した。次に、短冊状電極46
の引出しのために、弾性薄膜41をパターニングし、P
+拡散層48のコンタクトホールを形成し、さらに電極
43としてAuを200nm蒸着しパターニングして、
電極43及び49を形成した。次に、プローブ44をリ
ソグラフィーとリフトオフと蒸着により形成した。な
お、プローブ材料としては、WあるいはPtでもよい
し、これらの金属が表面に被覆された導電体であれば良
い。
クとしてSiの異方性エッチングKOH,NH3OHあ
るいはエチレンジアミン、ピカテコール系の水溶液で行
う。この際、電極46のP+層がストッパーとなり静電
力の駆動間隔がこのエピタキシャル層47の厚みで決定
される。異方性エッチングにより、最終的に図2で示さ
れるようなカンチレバー型プローブが得られた。本実施
例では、圧電体薄膜カンチレバーおよび静電アクチュエ
ータのサイズを以下のように設定すると、 圧電体薄膜厚 :1.0μm(ZnO) カンチレバー厚:1.8μm カンチレバー長:200μm カンチレバー幅: 50μm 静電アクチュエーターサイズ 短冊状電極ピッチ:2μm 絶縁体薄膜厚 :0.4μm(Si3N4) 絶縁体−電極間幅:1.5μm 以下のようなプローブの変位量が得られた。
のために、絶対変位量は少しおちるけれども、カンチレ
バーの反りを除ける効果のほうが、大きい。また走査方
向のY軸のストロークは充分に大きくとれた。
ブの他の態様を示す。
ブがSi基板上に複数個内蔵されたものである。これも
前述実施例3と同様な製造法で作製した。尚、このY軸
駆動の短冊型電極46は図10の様に配置してある。こ
れは、X軸の方向の同一延長線上にある薄膜カンチレバ
ーが同一の短冊型電極で駆動できる。このカンチレバー
も実施例3で示したようなサイズでは、X,Y軸のスト
ロークが同じだけ大きく取れる。
カンチレバーをもち、Y軸のストロークの大きなカンチ
レバー型プローブを提供することが可能となる。
いて情報の記録、再生等を行う情報処理装置について述
べる。本発明に係る装置の、情報の記録再生における模
式図の1例を図11に示す。図11(a)では、基板6
3上に、導電性有機材料からなる導電体薄膜62を形成
した後、有機材料からなる記録層63を積層して記録媒
体としている。本発明では、この記録媒体に、本発明に
係るカンチレバー端部に取り付けたプローブ電極65を
接触させることにより、記録媒体の表面形状を変化させ
て記録ビット64を形成し、情報の記録を行っている
(図11(b)参照)。
面上に走査させることにより、トンネル電流を利用して
表面形状の変化すなわち記録ビット64を読み出して記
録再生の再生を行っている。本発明で用いる記録層62
の材料としては、有機化合物であれば何を用いても構わ
ない。また、その成膜方法として、蒸着法、スパッタ法
あるいはプラズマ重合法、電解重合法等を用いるが可能
である。
単分子膜または単分子累積膜を形成することのできる有
機材料も好適である。このLB法によれば、1分子中に
疎水性部位と親水性部位とを有する有機化合物の単分子
膜又はその累積膜を基板上に容易に形成することがで
き、分子オーダーの厚みを有し、かつ大面積にわたって
均一、均質な有機超薄膜を安定に供給することができる
ため、本発明のような高密度な情報の記録再生を行うた
めには、記録層の欠陥や記録層表面の凹凸を少なくしな
ければならず、この点からLB法は記録層形成に非常に
適している。
水性部位とを有する構造の分子において、両者のバラン
ス(両親媒性のバランス)が適度に保たれているとき、
分子は水面上で親水性基を下に向けて単分子の層になる
ことを利用して単分子膜、またはその累積膜を作製する
方法である。
広く知られている飽和及び不飽和炭化水素基や縮合多環
芳香族及び、鎖状多環フェニル基等の各種疎水基が挙げ
られる。これらは各々単独又はその複数が組み合わされ
て疎水性部位を構成する。一方、親水性部位の構成要素
として最も代表的なものは、例えばカルボキシル基、エ
ステル基、酸アミド基、イミド基、ヒドロキシル基、さ
らには、アミノ基(1,2,3級及び4級)等の親水性
基等が挙げられる。これらも各々単独又はその複数が組
み合わされて上記分子の親水性部位を構成する。
く併有している有機分子であれば、水面上で単分子膜を
形成することが可能であり、本発明に対して極めて好適
な材料になる。
性を有するものであればよく、例えばAu,Pt,A
g,Pd,Al,In,Sn,Pb,W等の金属やこれ
らの合金、さらにはグラファイトやシリサイド,ITO
などの導電性酸化物を始めとして数多くの材料が挙げら
れ、これらの本発明への適用が考えられる。かかる材料
を用いた電極形成法としても従来公知の薄膜技術で十分
である。但し、導電体薄膜層も記録媒体の1部として働
くため、欠陥が少なく表面の平滑性がよい薄膜を形成で
きる材料及び、薄膜形成法が選択される。尚、導電体薄
膜層の膜厚は記録層の材料及び膜厚にもよるが、安定な
情報の記録再生を行うためには、10〜50nm程度で
あることが好ましい。
ク図を用いて説明する。図12中、705は記録媒体に
接触して記録を行ったり、トンネル電流を検知して記録
ビットを読み出すためのプローブ電極であり、704は
本実施例12で示したカンチレバー型プローブの概略図
である。707は圧電効果にて駆動することができるZ
方向微動制御機構であり、706は静電型アクチュエー
ターにより駆動できるY方向微動制御機構である。かか
るカンチレバー型プローブの駆動によりプローブ電極7
05から記録媒体にアクセスすることによって情報の記
録再生を行う。
2上に設置される。710はバイアス電圧源及びプロー
ブ電流増幅器で、709はプローブ電流を読み取り、プ
ローブ電極705の高さが一定になるように圧電体にか
ける電圧を制御する再生用サーボ回路である。711は
記録用電圧源及びサーボ回路である。711から記録用
の電圧がZ方向微動制御機構707に出力され、プロー
ブ電極705を上下させて記録媒体に接触して記録を行
うようになっている。但し、この時プローブ電流をモニ
ターして、急激な電流増加、すなわちプローブ電極70
5と導電体薄膜層702の接触を検知し、その後の記録
層701とプローブ電極705の接触量を制御するよう
にサーボ回路を設け、記録用の印加電圧を調整できるよ
うになっている。また、情報の記録時の接触量(Z方向
押し込み量)は、記録層701と導電体薄膜層702の
膜厚及び希望する記録ビットの大きさによるが、数nm
〜500nm程度が好ましい。
導電体薄膜層702が接触し、プローブ電流が急激に増
加するため、再生用サーボ回路709はその間出力電圧
が一定になるようにHOLD回路をONにするよう制御
している。708はY方向にプローブ電極705をY方
向微動制御機構706を用いて移動制御するためのY走
査駆動回路である。713と714は予め10-9A程度
のプローブ電流が得られるようにプローブ電極705と
基板703とのY方向相対変位を多きくとる(微動制御
機構の範囲外)のに用いられる。これらの各機器は、全
てマイクロコンピューター715により中央制御されて
いる。また716は表示装置を表している。
を用いた移動制御における機械的性能を下記に示す。
ける機械的性能は、 XY方向粗動制御範囲:10nm〜10mm Z方向粗動制御範囲 :10nm〜10mm 以下、説明した装置を用いての、記録再生の実験につい
て述べる。記録層701としてポリイミドLB膜を4層
(約1.5nm)成膜したものを用いた。これを、本装
置にセットした。次に、プローブ電極705と記録媒体
との間に1.5Vのバイアス電圧を印加し、プローブ電
極705と導電体薄膜層702との距離(Z)を調整し
た。この時、距離Zを制御するためのプローブ電流IP
を10-8A≧IP≧10-10Aになるように設定した。
ローブ電極705のZ方向微動制御機構707のカンチ
レバーの圧電体に記録用電圧を印加することにより、プ
ローブ電極705を上下させ、プローブ電極705を記
録媒体に接触させることにより、記録媒体の表面形状を
変化させて記録を行った。但し、この時プローブ電極7
05と記録媒体の接触量を15nmに調整した。また、
再生用サーボ回路709はその間出力電圧が一定になる
ようにHOLD回路をONするよう制御している。
間に電圧を印加しながらトンネル電流を観測し、距離Z
を一定に保ちながら、先ほど記録した場所にプローブ電
極705をXY方向に走査させたところ、記録媒体の表
面形状の変化が確認でき、記録ビットを再生することが
可能であった。
いた場合、Y方向の走査範囲を非常に大きく取れるの
で、この記録ビットを大量に記録再生できることは言う
までもない。
として実験を行った結果について述べる。
て走査し、プローブ電極705と被観察物との間に電圧
を印加し、トンネル電流値の結果を出力するとSTM像
が得られる。本実施例では被観察物としてSi基板(1
00)を用いて、STM像を得たところ、Si基板の広
範囲にわたって像を原子オーダーで観察でき、さらに安
定な像が得られた。
下のような効果がある。
を独立に位置補正する機構と位置補正用の平行平面導体
とを具備したマルチプローブユニットにおいては、 (1)操作性,安定性,耐久性の高いSTMを応用した
情報処理装置が作製できる。 (2)カンチレバー一本一本の反りも静電効果により補
償することができるので、素子の歩留りも向上するとと
もに、より制御性の高いトンネル電流検知が行える。 (3)これにより、STMを応用した情報処理装置にお
いては、超高密度な記録,再生ができるとともに、信頼
性の高い装置を供給できるようになった。
型プローブ及びそれを用いた情報処理装置等によれば、 (4)カンチレバーのY軸のストローク量を大きくす
る。 (5)圧電体薄膜カンチレバーの反り量を少なくする。 (6)情報処理装置においては、広範囲に記録媒体に情
報を記録することができる。 といったような効果がある。
板上に複数配列したマルチプローブユニットの斜視図及
びその一部断面図である。
型プローブの斜視図及びその断面図である。
図である。
図である。
た、情報処理装置の構成図である。
である。
工程図を示す。
斜視図である。
短冊状電極を示した構成斜視図である。
記録あるいは再生方法を説明するための模式図である。
ロック図である。
示す図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 圧電体効果にて変位するカンチレバー型
プローブを同一面内に複数設け、該複数のカンチレバー
の各々に対して、その反り量を静電効果により独立に位
置補正する機構を設けたことを特徴とするマルチプロー
ブユニット。 - 【請求項2】 前記カンチレバー各々の反り量を静電効
果により位置補正する際の電圧を、独立にホールドする
手段を具備することを特徴とする請求項1記載のマルチ
プローブユニット。 - 【請求項3】 請求項1又は2のいずれか一項に記載の
マルチプローブユニットを、少なくとも有することを特
徴とする情報処理装置。 - 【請求項4】 請求項1又は2のいずれか一項に記載の
マルチプローブユニットを、少なくとも有することを特
徴とする走査型トンネル顕微鏡。 - 【請求項5】 圧電体効果にて変位するカンチレバー型
プローブをSi基板上に形成される複数の短冊状電極上
方に保持し、前記短冊状電極に電圧を加える手段によ
り、静電効果にて前記カンチレバーを、その幅方向に駆
動し得るものであることを特徴とするカンチレバー型プ
ローブ。 - 【請求項6】 プローブが、圧電体への電圧印加により
カンチレバーの厚さ方向に変位する手段と、静電効果に
てカンチレバーの幅方向に固有振動する手段を具備した
ことを特徴とするカンチレバー型プローブ。 - 【請求項7】 請求項5又は6のいずれか一項に記載の
カンチレバー型プローブを、少なくとも有することを特
徴とする情報処理装置。
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---|---|---|---|
JP3149323A JP3015974B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3149323A JP3015974B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04350510A JPH04350510A (ja) | 1992-12-04 |
JP3015974B2 true JP3015974B2 (ja) | 2000-03-06 |
Family
ID=15472607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3149323A Expired - Fee Related JP3015974B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3015974B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101794549B1 (ko) * | 2016-03-22 | 2017-11-08 | 연세대학교 산학협력단 | 대면적 이미지 획득용 전기공명 모드 주사탐침 현미경의 팁 구조체 및 이것의 제조방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5537863A (en) * | 1993-07-15 | 1996-07-23 | Nikon Corporation | Scanning probe microscope having a cantilever used therein |
US5689063A (en) * | 1993-07-15 | 1997-11-18 | Nikon Corporation | Atomic force microscope using cantilever attached to optical microscope |
-
1991
- 1991-05-27 JP JP3149323A patent/JP3015974B2/ja not_active Expired - Fee Related
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