JP3158966B2 - バンプ付電子部品の製造装置および製造方法 - Google Patents

バンプ付電子部品の製造装置および製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ワークの電極上に半田
ボールを搭載してバンプを形成するバンプ付電子部品の
製造装置および製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】基板などのワークの電極上にバンプ(突
出電極)を形成してバンプ付電子部品を製造する方法と
して、半田ボールを用いる方法が知られている。この方
法は、半田ボールの供給部に備えられた半田ボールを、
例えば半田ボールを真空吸着するヘッドなどによりピッ
クアップし、次いで半田ボールをワークの電極上に搭
した後、ワークを加熱炉で加熱して半田ボールを溶融固
化させ、電極上にバンプを生成するものである。
【0003】上記方法によれば、ワークの多数個の電極
上にバンプを同時に一括形成できる利点がある。ところ
が、ヘッドにより半田ボールをワークの電極上に搭載す
る場合、すべての半田ボールが電極上に正しく搭載され
るとは限らず、一部の半田ボールが電極上を転動するな
どして電極から大きく位置ずれしたり、搭載されなかっ
たりする場合がある。そこで従来は、このように半田ボ
ールの搭載ミスが生じた場合には、オペレータがブラシ
などの清掃手段を用いて、ワークの上面を掃くなどして
半田ボールを除去し、再度半田ボールをワークの電極上
に搭載し直していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、オペレ
ータが手作業で半田ボールを清掃除去する上記従来の方
法では、オペレータの労働負担が大きく、また作業がは
かどらないという問題点があった。
【0005】そこで本発明は、半田ボールの搭載ミスに
自動対処してリカバリーできるバンプ付電子部品の製造
装置および製造方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】このために本発明は、半
田ボールの供給部と、この供給部の半田ボールをピック
アップしてワークに搭載するヘッドと、前記ワークの上
面の電極に搭載された半田ボールを認識する認識手段
と、前記ワークの上面の半田ボールを除去する除去手段
と、前記ワークを加熱して前記ワークの電極上に搭載さ
れた半田ボールを加熱溶融させ、前記電極上にバンプを
生成する加熱炉とからバンプ付電子部品の製造装置を構
成した。
【0007】
【0008】またヘッドが半田ボールの供給部に備えら
れた半田ボールをピックアップしてワークの電極上に搭
載する工程と、認識手段が前記ワークの上面を認識し
て、前記電極上に半田ボールが正しく搭載されているか
否かを検査する工程と、前記工程で半田ボールの搭載ミ
スが検出されたときには、半田ボールの除去手段により
前記ワーク上の半田ボールを前記ワークから除去する工
程と、半田ボールが搭載されたワークを加熱炉で加熱し
て、半田ボールを電極上で溶融固化させ、バンプを生成
する工程とからバンプ付電子部品の製造方法を構成し
た。
【0009】
【0010】
【作用】上記構成によれば、ワークの電極上に半田ボー
ルが正しく搭載されているか否かを認識手段により検査
し、半田ボールが電極上に正しく搭載されていない場合
には、除去手段によりワーク上の半田ボールを除去す
る。この場合、望ましくはワークの電極上に正しく搭載
された半田ボールを含むすべての半田ボールを一括除去
することにより、ヘッドによる半田ボールのワークへの
搭載を直ちにやり直すことができる。
【0011】
【実施例】次に、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の
製造工程図、図2は同バンプ付電子部品の製造装置の斜
視図、図3は同ヘッドの断面図、図4は同制御系のブロ
ック図、図5は同動作のフローチャートである。まず図
1を参照して、バンプ付電子部品の全製造工程を簡単に
説明する。図1(a)において、1はワークとしての基
板であり、図1(b)に示すようにその上面と下面に電
極2を形成するとともに、電極2同士を電気的に接続す
るスルーホール1aを形成する。なお図2を参照して後
述するように、この基板1は3面取りであるが、図1で
は1枚の基板1のみを示している。
【0012】次に基板1の上面にチップCを搭載し(図
1(c))、チップCの上面の電極と基板1の上面の電
極2をワイヤWで接続する(図1(d))。次いでチッ
プCとワイヤWを保護するモールド体Mを合成樹脂によ
り形成する(図1(e))。次いで基板1を上下反転さ
せて電極2の上面に半田ボール4を搭載する(図1
(f))。次いで基板1を加熱炉へ送って加熱し、半田
ボール4を溶解固化させることによりバンプ4’を形成
する(図1(g))。
【0013】以上によりバンプ付電子部品が完成する。
次に、各図を参照して、図1(f)(g)の工程、すな
わちバンプ用の電極2に半田ボール4を搭載し、バンプ
4’を形成する工程について詳しく説明する。
【0014】図2において、1は図1(e)に示す基板
であって、上下反転されており、その下面にはチップC
をモールドするモールド体Mが形成されている。この基
板1は、多面取り(本実施例では3面取り)基板であっ
てバンプが形成された後の工程において破線に沿って3
分割される。3は基板1の位置決め部としてのガイドレ
ールであって、基板1を左右からクランプして固定し、
また基板1を右方へ搬送する。
【0015】ガイドレール3の側方には、半田ボール4
の供給部5とフラックス6の貯溜部7が設けられてい
る。供給部5には半田ボール4が大量に貯溜されてい
る。またガイドレール3の他方の側方には、ボックスか
ら成る半田ボールの回収部8が設けられている。
【0016】10はヘッドであり、その下面には半田ボ
ール4を真空吸着して保持する吸着孔11がマトリクス
状に多数個形成されている(図3も参照)。ヘッド10
はチューブ12、バルブユニット13を介してブロア部
14に接続されている。ヘッド10はブラケット15の
前面に設けられたガイドレール16に上下動自在に保持
されている。ブラケット15にはモータ17が設けられ
ており、モータ17に駆動されて回転する垂直なボール
ねじ18は、ヘッド10の側部に設けられたナット19
に螺合している。したがってモータ17が正逆回転する
と、ヘッド10はガイドレール16に沿って上下動す
る。なおヘッドとしては、上記ヘッド21以外にも、粘
着テープに半田ボールを付着させるものなども知られて
いる。
【0017】図2および図3において、ヘッド10の一
方の側面にはノズル21が設けられている。ノズル21
はボール溜り22に連結されており、またボール溜り2
2はチューブ23を介して上記バルブユニット13に接
続されている。24はボール溜り22とチューブ23の
間に設けられたフィルターである。このノズル21は、
基板1上の半田ボール4を吸引して除去するための除去
手段となっている。またヘッド10の他方の側部には、
認識手段としてのカメラ20が一体的に設けられてい
る。
【0018】ブラケット15はX方向に長尺のリニアモ
ータ25に保持されている。またリニアモータ25の両
端部にはナット26が結合されており、ナット26はY
方向に長尺のボールねじ27に螺合している。28はボ
ールねじ27を回転させるモータである。したがってリ
ニアモータ25が駆動するとヘッド10はX方向へ水平
移動し、またモータ28が駆動するとY方向へ水平移動
する。またヘッド10と一体のノズル21やカメラ20
は、ヘッド10と一緒にX方向やY方向に水平移動す
る。すなわちリニアモータ25、ナット26、ボールね
じ27、モータ28は、ヘッド10などを水平移動させ
る移動手段となっている。
【0019】ガイドレール3の下流側には、加熱炉29
が設置されている。加熱炉29の内部にはヒータやファ
ンなどが設けられており、その内部を搬送される基板1
を加熱する。
【0020】図4において、バルブユニット13は、チ
ューブ12が接続されるバルブ13aと、チューブ23
が接続されるバルブ13bを備えており、それぞれ制御
部30により個別に開閉制御される。またカメラ20は
認識ユニット31に接続されており、カメラ20に入手
された画像データは、この認識ユニット31で認識され
る。32はモータ17、28を制御するモータコントロ
ーラである。制御部30、認識ユニット31、モータコ
ントローラ32は、バス33を介してRAM34、RO
M35、CPU36などに接続されている。RAM34
には数値データなどが記憶される。またROM35には
プログラムなどが記憶されている。CPU36は装置全
体を制御する。
【0021】このバンプ付電子部品の製造装置は上記の
ように構成されており、次に図1(f)(g)に示す工
程を行なうための動作を説明する。図2において、ガイ
ドレール3の所定の位置に基板1が位置決めされると、
ヘッド10は供給部5の上方へ移動し、そこで上下動作
を行うことにより、吸着孔11に半田ボール4を真空吸
着してピックアップする。次にヘッド10は貯溜部7の
上方へ移動し、そこで上下動作を行うことにより、半田
ボール4の下面にフラックス6を付着させる。次にヘッ
ド10は基板1の上方へ移動し、そこで下降し、半田ボ
ール4の真空吸着による保持状態を解除することによ
り、多数個(本実施例では3×3=9個)の半田ボール
4を基板1の電極2上に同時に一括搭載する(図1
(f)を参照)。
【0022】次にカメラ20が基板1の上方へ移動し、
基板1の上面を観察してその画像データを認識ユニット
31に入手する。CPU36は認識ユニット31に入手
された画像データに基づいて、すべての電極2上に半田
ボール4が正しく搭載されているか否かを判断する。そ
してOKならば、基板1は加熱炉29へ送られて加熱さ
れる。基板1が加熱されると、電極2上の半田ボール4
は溶融し、次いで冷却されると固化し、電極2上にバン
プが生成される。なお本実施例の基板1は3面取りであ
り、3×3=9個の半田ボール4が3箇所搭載される
と、基板1は加熱炉29へ送られる。
【0023】さて、カメラ20による観察の結果がNG
のとき、すなわち1個またはそれ以上の半田ボール4が
電極2から位置ずれをしているときや搭載されていなか
ったときには、ノズル21を基板1の上方へ移動させ、
基板1上の半田ボール4を吸引してボール溜り22に回
収する。この場合、後述するリトライのために、搭載ミ
スの半田ボール4を含む3×3=9の範囲、すなわちヘ
ッド10による一括搭載が可能な範囲内に存在するすべ
ての半田ボール4を回収する。
【0024】次にヘッド10は供給部5の上方へ移動し
て半田ボール4を再度ピックアップし、次に貯溜部7の
上方へ移動して半田ボール4の下面にフラックス6を付
着させた後、基板1の上方へ移動して半田ボール4を先
程の電極2上に再度搭載する。以下、カメラ20により
基板1を観察して上記動作が繰り返される。以上のよう
にして、リトライ(半田ボール4の再搭載)を行ってO
Kとなったならば、この基板1は加熱炉29へ送られ、
図1(g)に示すバンプ4’が生成されてバンプ付電子
部品が完成する。
【0025】なお図3のボール溜り22に回収された半
田ボール4は、ノズル21を回収部8の上方へ移動さ
せ、そこでブロア部14を逆方向に作動させて空気を吹
き出すことにより、ノズル21から回収部8に落下させ
る。
【0026】図6は本発明の第二実施例のバンプ付電子
部品の製造装置のヘッドの側面図である。このヘッド1
0には、上記ノズル21に替えてブラシ40などの除去
手段が設けられている。ブラシ40はシリンダ41のロ
ッド42に結合されている。したがってロッド42を突
出させてブラシ40を下降させ、基板1の上面に接地さ
せて水平移動させることにより、基板1上の半田ボール
4を基板1から掃き出して除去する。なお上記第一実施
例においても、ノズル21を上下動自在に設ければ、ノ
ズル21の下端部を基板1の上面に接地させて、半田ボ
ール4をより確実に吸引することができる。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ワ
ークに対する半田ボールの搭載ミスの有無を検出し、搭
載ミスがあったときには、自動的に半田ボールを除去し
てリカバリーを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の製造
工程図
【図2】本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の製造
装置の斜視図
【図3】本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の製造
装置のヘッドの断面図
【図4】本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の製造
装置の制御系のブロック図
【図5】本発明の第一実施例のバンプ付電子部品の製造
装置の動作のフローチャート
【図6】本発明の第二実施例のバンプ付電子部品の製造
装置のヘッドの側面図
【符号の説明】
1 基板 2 電極 3 ガイドレール 4 半田ボール 5 半田ボールの供給部 8 回収部 10 ヘッド 11 吸着孔 14 ブロア部 21 ノズル 25 リニアモータ 26 ナット 27 ボールねじ 28 モータ 29 加熱炉 40 ブラシ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/12 H01L 21/60 H05K 3/34

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半田ボールの供給部と、この供給部の半田
    ボールをピックアップしてワークに搭載するヘッドと、
    前記ワークの上面の電極に搭載された半田ボールを認識
    する認識手段と、前記ワークの上面の半田ボールを除去
    する除去手段と、前記ワークを加熱して前記ワークの電
    極上に搭載された半田ボールを加熱溶融させ、前記電極
    上にバンプを生成する加熱炉とを備えたことを特徴とす
    るバンプ付電子部品の製造装置。
  2. 【請求項2】前記ヘッドが、下面に半田ボールを真空吸
    着する吸着孔が形成されたヘッドであって、このヘッド
    に接続されたブロア部を備えたことを特徴とする請求項
    1記載のバンプ付電子部品の製造装置。
  3. 【請求項3】前記認識手段と前記除去手段が前記ヘッド
    に一体的に設けられていることを特徴とする請求項
    載のバンプ付電子部品の製造装置。
  4. 【請求項4】前記除去手段が半田ボールの吸引手段であ
    ることを特徴とする請求項1からのいずれかに記載の
    バンプ付電子部品の製造装置。
  5. 【請求項5】前記吸引手段が前記ブロア部に接続され
    て、前記吸引手段と前記ヘッドが前記ブロア部を共有す
    ることを特徴とする請求項記載のバンプ付電子部品の
    製造装置。
  6. 【請求項6】前記除去手段により前記ワークから除去さ
    れた半田ボールの回収部を備えたことを特徴とする請求
    1記載のバンプ付電子部品の製造装置。
  7. 【請求項7】ヘッドが半田ボールの供給部に備えられた
    半田ボールをピックアップしてワークの電極上に搭載す
    る工程と、認識手段が前記ワークの上面を認識して、前
    記電極上に半田ボールが正しく搭載されているか否かを
    検査する工程と、前記工程で半田ボールの搭載ミスが検
    出されたときには、半田ボールの除去手段により前記ワ
    ーク上の半田ボールを前記ワークから除去する工程と、
    半田ボールが搭載されたワークを加熱炉で加熱して、半
    田ボールを電極上で溶融固化させ、バンプを生成する工
    程と、を含むことを特徴とするバンプ付電子部品の製造
    方法。
  8. 【請求項8】前記除去手段が半田ボールの吸引手段であ
    ることを特徴とする請求項に記載のバンプ付電子部品
    の製造方法。
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100268632B1 (ko) * 1996-03-08 2000-10-16 야마구치 다케시 범프형성방법 및 장치
NL1006366C2 (nl) * 1997-06-20 1998-12-22 Meco Equip Eng Werkwijze en inrichting voor het hechten van soldeerballen aan een substraat.
US6237219B1 (en) * 1998-03-05 2001-05-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of mounting conductive ball
JP3076305B2 (ja) * 1998-06-23 2000-08-14 九州日本電気株式会社 半田ボール搭載装置およびその方法
JP3932501B2 (ja) * 1998-12-01 2007-06-20 澁谷工業株式会社 ボールマウント装置
JP4253748B2 (ja) 1998-12-25 2009-04-15 澁谷工業株式会社 半田ボール等の供給装置
JP3024113B1 (ja) * 1999-01-27 2000-03-21 株式会社日鉄マイクロメタル 金属球配列方法及び配列装置
JP4143788B2 (ja) * 1999-08-04 2008-09-03 澁谷工業株式会社 ボールマウント装置及びマウント方法
SG97164A1 (en) 2000-09-21 2003-07-18 Micron Technology Inc Individual selective rework of defective bga solder balls
JP3803556B2 (ja) * 2001-03-26 2006-08-02 日本電気株式会社 ボール転写装置およびボール整列装置
US7033842B2 (en) * 2002-03-25 2006-04-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
US7213738B2 (en) * 2002-09-30 2007-05-08 Speedline Technologies, Inc. Selective wave solder system
JP3959336B2 (ja) * 2002-11-08 2007-08-15 ユー・エム・シー・ジャパン株式会社 バンプボール圧着装置
US6983872B2 (en) * 2003-06-03 2006-01-10 Asm Assembly Automation Ltd. Substrate alignment method and apparatus
JP2005064205A (ja) * 2003-08-11 2005-03-10 Niigata Seimitsu Kk 回路基板の移載装置および移載方法、半田ボール搭載方法
WO2006027919A1 (en) * 2004-09-03 2006-03-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Substrate edge part cleaning apparatus and substrate edge part cleaning method
US8222559B2 (en) * 2009-11-30 2012-07-17 Cheng Uei Precision Industry Co. Ltd. Automatic soldering machine
JP5951425B2 (ja) * 2011-10-04 2016-07-13 株式会社日立製作所 ハンダボール印刷装置
KR102270748B1 (ko) * 2013-11-07 2021-06-30 삼성전자주식회사 솔더볼 부착 장치, 솔더볼 부착 방법 및 이를 포함하는 반도체 패키지의 제조 방법
KR101762644B1 (ko) * 2016-06-27 2017-07-28 (주) 에스에스피 인라인 방식으로 리워크를 수행하는 반도체 패키지 제조 시스템 및 방법

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0795554B2 (ja) * 1987-09-14 1995-10-11 株式会社日立製作所 はんだ球整列装置
GB2269335A (en) * 1992-08-04 1994-02-09 Ibm Solder particle deposition
JPH06310515A (ja) * 1993-04-22 1994-11-04 Hitachi Ltd 微小球体整列搭載方法
US5467913A (en) * 1993-05-31 1995-11-21 Citizen Watch Co., Ltd. Solder ball supply device
DE69322775T2 (de) * 1993-08-12 1999-07-22 International Business Machines Corp., Armonk, N.Y. Verfahren zur Inspektion vom Verbindungskugel-Satz eines intergrierten Schaltungsmoduls
US5652658A (en) * 1993-10-19 1997-07-29 View Engineering, Inc. Grid array inspection system and method
JP3290788B2 (ja) * 1993-12-14 2002-06-10 富士通株式会社 プリント基板の半田膜形成装置
US5431332A (en) * 1994-02-07 1995-07-11 Motorola, Inc. Method and apparatus for solder sphere placement using an air knife
US5540377A (en) * 1994-07-15 1996-07-30 Ito; Carl T. Solder ball placement machine
US5611491A (en) * 1995-02-27 1997-03-18 Hughes Aircraft Company Modular CO2 jet spray device

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