JPH08229920A - スル−ホ−ルの検査・修正装置 - Google Patents

スル−ホ−ルの検査・修正装置

Info

Publication number
JPH08229920A
JPH08229920A JP6706995A JP6706995A JPH08229920A JP H08229920 A JPH08229920 A JP H08229920A JP 6706995 A JP6706995 A JP 6706995A JP 6706995 A JP6706995 A JP 6706995A JP H08229920 A JPH08229920 A JP H08229920A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
inspection
correction
holes
sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6706995A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Okada
健一 岡田
Shiyouji Nakajima
紹二 中嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6706995A priority Critical patent/JPH08229920A/ja
Publication of JPH08229920A publication Critical patent/JPH08229920A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 グリ−ンシ−トのスル−ホ−ル内に付着した
異物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物の除
去、修正を同一装置内で行うことにある。 【構成】 光源4の光により検査対象のグリ−シ−ト
(以下、シート)の平面画像を撮影する撮像手段5と、撮
像結果に基づき検査視野内のスル−ホ−ル(以下、ホー
ル)の数、穴位置、穴面積を算出し、ホ−ル数の設計値
との不一致または穴位置、穴面積が許容範囲内にないこ
との何れかの条件で視野内のホ−ルの欠陥を判定し、穴
位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置8を備える
検査部と、位置決めされたシ−トのホ−ルに対しノズル
からエアーを噴出してホ−ル内壁面の異物を除去する修
正部6と、テーブル上のシ−トを移動するX−Yテーブ
ルと、シ−トの検査部への位置決め及び前記判定結果に
基づく修正部への位置決めと検査部及び修正部を制御す
る制御部9と、除去された異物の回収部7を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミック基板の製造
工程において、セラミックグリ−ンシ−トに明けたスル
−ホ−ルの欠陥検査及び欠陥部を修正する装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の方法は、例えば、特開平5−52
765号に示されているように、セラミック基板を製造
するためのセラミックグリ−ンシ−トに明けたスル−ホ
−ルの検査方式は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグ
リ−ンシ−トの一方平面側からの光源の照射によって、
前記光源の反対側で透過平面画像を撮像し、その画像を
画像処理装置により、その視野内のスル−ホ−ル内壁面
に付着した異物による穴面積少、穴数不足などの欠陥を
検査する方式である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、グ
リ−ンシ−トのスル−ホ−ル内壁面に付着した異物など
の欠陥を検査するのみであるため、付着した異物などの
欠陥を除去、修正し、救済する機能はなかった。本発明
の目的は、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルに付着した異
物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物、抜き
カスなどの欠陥部を除去、修正し、救済する機能を有す
る、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置を
提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグリ−
シ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置であり、検査対
象の前記グリ−シ−トの平面画像を撮影する撮像手段
と、撮像したグリ−シ−ト平面画像に基づき検査視野内
のスル−ホ−ルの数、穴位置、穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が設計値に一致しないこと、または
穴位置、穴面積が許容範囲内に収まっていないことの何
れかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥があることを
判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置
を備える検査部と、ノズルを有し、位置決めされたグリ
−シ−トのスル−ホ−ルに対し該ノズルからエアーを噴
出してスル−ホ−ル内壁面に付着した異物を除去する修
正部と、テーブル上に載置されたグリ−シ−トを移動す
る移動機構と、移動機構によるグリ−シ−トの前記検査
部への位置決めおよび該検査部の判定結果に基づく修正
部への位置決めを制御し、かつ前記検査部および修正部
を制御する制御部を備えるようにしている。さらに、前
記修正部により除去された異物を回収する回収部を前記
修正部に対向して設けるようにしている。
【0005】
【作用】上記手段によれば、多数のスル−ホ−ルが形成
されたグリ−ンシ−トの撮像画像と穴数、穴位置、穴面
積などの検査デ−タとを比較して判定結果を得る検査部
と、該判定結果に基づきスル−ホ−ル内壁面に付着した
異物を除去する修正部を同一装置内に設けた構造とした
ため、検査により明確になった欠陥スル−ホ−ルのみに
対し、検査に引き続き修正部において欠陥スル−ホ−ル
内の異物を除去修正することが可能であり、さらに、回
収部を設けているため除去した異物を回収することが可
能である。
【0006】
【実施例】以下、本発明を実施例に基ずいて詳細に説明
する。図1は、本発明のスル−ホ−ル検査・修正装置の
一実施例を示す斜視図である。図1において、1は検査
装置本体であり、正面から見て左側には検査対象のグリ
−ンシ−ト2を図示のX,Y方向に移動可能なX−Yテ
−ブル3に順次供給し、また検査を終えたグリ−ンシ−
ト2を収納するグリ−ンシ−ト供給/収納装置10が設
けられている。なお、グリ−ンシ−トの供給/収納の機
構は本発明の主題ではないので、詳細な図示、説明は省
略する。検査対象のグリ−ンシ−ト2を載置するX−Y
テ−ブル3は、薄くて可撓性のあるグリ−ンシ−ト2を
平坦に置くために透明なガラス板を置いた構造であり、
その下方には、グリ−ンシ−ト2の下面に向けて照明光
を照射する光源4が配置されている。また、X−Yテ−
ブル3はガラス板のみが下降し、ガラス板とグリ−ンシ
−ト2の間に空間を作りだせる構造である。5は、X−
Yテ−ブル3の上方に位置し、グリ−ンシ−ト2の平面
画像を撮影する撮像カメラであり、8は撮像カメラ5で
撮像したグリ−ンシ−ト平面画像に基ずいて視野内のス
ル−ホ−ルの数、位置および各穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が規定数に一致しないこと、または
穴位置および穴面積が許容範囲内に収まっていないこと
のいずれかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥がある
ことを判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処
理装置であり、撮像カメラ5と画像処理装置8により検
査部を構成している。9はX−Yテ−ブル3を移動し、
グリ−ンシ−ト2の検査部位を撮像カメラ5の視野内に
位置決めし、また画像処理装置に記憶された穴位置対応
の判定結果に基づき修正部位を後述の修正部6に位置決
めする等の制御を行う制御装置である。6は、前記グリ
−ンシ−ト2を修正するための修正部であり、グリ−ン
シ−ト2はスル−ホ−ル検査で抜きカス残り等の不良箇
所が発見されたとき、X−Yテ−ブル3により移動さ
れ、修正部6に位置決めされる。さらに、7は前記修正
により発生した抜きカス等の異物を回収するための回収
部である。
【0007】図2は、X−Yテ−ブルのガラス板3a上
に載置した検査対象のグリ−ンシ−ト2と撮像カメラ5
および光源4との関係を示す図であり、多数のスル−ホ
−ル11が明けられたグリ−ンシ−ト2の鉛直上方にお
いてグリ−ンシ−ト2の平面画像を撮像カメラ5で撮像
するようになっている。図中、12はスル−ホ−ル11
内壁に付着した抜きカスを示す。図3は、図2の撮像カ
メラ5で撮像した視野20の平面画像19を示す。グリ
−ンシ−ト2のスル−ホ−ル11の数及び、抜きカス1
2がスル−ホ−ル11内に残存していることが、この画
像により容易に分かる。
【0008】図4は、グリ−ンシ−ト2のスル−ホ−ル
11内に残存している抜きカス12を除去修正するため
の修正部6、及び前記抜きカス12がグリ−ンシ−ト2
に再付着することを防止するための、抜きカス12の回
収部7を示す。前記画像処理装置等による検査により抜
きカス12の残存が明確になったグリ−ンシ−ト2のス
ル−ホ−ル11上に、前記記憶された判定結果に基づき
X−Yテ−ブルを移動し、修正用のノズル15を位置決
めする。ノズル15は、ホルダ−14により把持されて
いるとともに、圧縮エア−16をスル−ホ−ル11に向
かって噴射できる。また、グリ−ンシ−ト2の下方には
回収部7が位置し、回収部7はその上部に回収管18を
有し、回収口18aから吸引17により抜きカス12を
回収できる構造である。回収した抜きカス12は、回収
管18を経て集塵機(図示せず)に回収する。なお、グ
リ−ンシ−ト2の修正部への移動前には、回収部7は、
X−Yテ−ブル3の移動の邪魔にならないように、図1
における後方に引き込まれている。そして、X−Yテ−
ブル3が修正部6に移動して位置決めされると、X−Y
テ−ブルのガラス板3aは図4の下部に示す位置に下降
し、その後、回収部7が図1における前方に移動して出
され、グリ−ンシ−ト2を支えるように多少上方に移動
するように制御が行われる。
【0009】図5は、本発明のスル−ホ−ル検査・修正
装置の一実施例における検査と修正の動作の概要を示す
フロ−チャ−トである。次に、以上の構成に係わる動作
を図1および図5により説明する。まず、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をグリ−ンシ−ト供給/収納装置
10側に移動し、検査対象のグリ−ンシ−ト2をX−Y
テ−ブル3の上に供給させる。X−Yテ−ブル3の上面
にグリ−ンシ−ト2が載置されたならば、X−Yテ−ブ
ル3を撮像カメラ5側へ移動させる。次に、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をX方向およびY方向に移動し、
グリ−ンシ−ト2の上面を所定面積単位で区分けした複
数の検査領域のうち最初の検査領域が撮像カメラ5の真
下に位置するように、グリ−ンシ−ト2を位置決めす
る。この状態で、制御装置9は光源4を駆動し、グリ−
ンシ−ト2の下面側に照明光を照射させる。同時に、撮
像カメラ5に撮像開始を指示する。すると、図3に示す
ように、撮像カメラ5の視野20内で最初の検査領域の
グリ−ンシ−ト2の平面画像19が撮像される。この撮
像したグリ−ンシ−ト2の平面画像19は画像処理装置
8に入力される。画像処理装置8、入力されたグリ−ン
シ−ト2の平面画像19に基づき、検査領域内のスル−
ホ−ル11の数、および各穴面積を算出し、算出したス
ル−ホ−ル11の数、および各穴面積が許容範囲内に収
まっていないときは、スル−ホ−ル11に欠陥があるこ
とを判定し、その判定結果を穴位置対応に記憶する。こ
こで、抜きカス12あるいは異物等がスル−ホ−ル11
に残存した場合は、穴面積が正常時より小さくなるので
欠陥を発見できる。次に、制御装置9は検査結果が合格
の場合はX−Yテ−ブル3を駆動し、次の検査視野へ移
動し、同様の検査方法で検査を続行する。しかし、欠陥
が発見された時は、X−Yテ−ブル3の駆動により、グ
リ−ンシ−ト2を修正部まで移動、位置決めし、修正部
6に修正作業を行わせる。修正作業が終了したならば、
X−Yテ−ブル3を駆動しグリ−ンシ−ト2をもとの検
査位置まで移動し、修正を行った視野のみを再検査す
る。これにより、検査合格となれば次の検査視野へと移
動し同様の検査方法で検査を続行する。しかし、一度の
修正作業で欠陥を除去、修正できない場合は、再度同様
の検査、修正を実施する。グリ−ンシ−ト2の検査すべ
き領域が全てが検査、修正を終了したならばX−Yテ−
ブル3を駆動し、グリ−ンシ−ト2をグリ−ンシ−ト供
給/収納装置10側に移動し収納することで終了する。
【0010】
【発明の効果】以上、本発明によれば、多数のスル−ホ
−ルが形成されたグリ−ンシ−トの穴面積不足、穴数不
足などの欠陥を検査する検査部に加えて、検査により明
確になった前記欠陥部のあるスル−ホ−ルのみを、噴射
エア−により抜きカス及び異物等を除去、修正できる修
正部、抜きカスを回収する回収部を検査部と同一装置内
に設けた構造としているため、スル−ホ−ルの検査作業
と欠陥部の修正作業が同一装置内でしかも短時間で実施
でき、検査修正工数の低減、異物回収による救済による
歩留まり向上、コスト低減、および異物回収による再付
着防止での製品信頼性の向上がはかれるといった優れた
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す斜視図である。
【図2】撮像カメラ、光源および検査対象のグリ−ンシ
−トとの関係を示す図である。
【図3】検査一視野内での拡大した倍率のスル−ホ−ル
平面画像を示す図である。
【図4】修正部、回収部および修正対象のグリ−ンシ−
トとの関係と、修正動作を説明するための図である。
【図5】実施例における検査と修正の動作の概要を示す
フロ−チャ−トである。
【符号の説明】
1 検査・修正装置本体 2 グリ−ンシ−ト 3 X−Yテ−ブル 3a ガラス板 4 光源 5 撮像カメラ 6 修正部 7 回収部 8 画像処理装置 9 制御装置 11 スル−ホ−ル 12 抜きカス 15 ノズル 16 圧縮エア− 17 吸引 18 吸引管 18a 回収口 19 平面画像 20 視野

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多数のスル−ホ−ルが形成されたグリ−
    シ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置であって、 検査対象の前記グリ−シ−トの平面画像を撮影する撮像
    手段と、撮像したグリ−シ−ト平面画像に基づき検査視
    野内のスル−ホ−ルの数、穴位置、穴面積を算出し、算
    出したスル−ホ−ルの数が設計値に一致しないこと、ま
    たは穴位置、穴面積が許容範囲内に収まっていないこと
    の何れかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥があるこ
    とを判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処理
    装置を備える検査部と、 ノズルを有し、位置決めされたグリ−シ−トのスル−ホ
    −ルに対し該ノズルからエアーを噴出してスル−ホ−ル
    内壁面に付着した異物を除去する修正部と、 テーブル上に載置されたグリ−シ−トを移動する移動機
    構と、 該移動機構によるグリ−シ−トの前記検査部への位置決
    めおよび該検査部の判定結果に基づく修正部への位置決
    めを制御し、かつ前記検査部および修正部を制御する制
    御部を備えることを特徴とするスル−ホ−ルの検査・修
    正装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のスル−ホ−ルの検査・修
    正装置において、 前記修正部により除去された異物を回収する回収部を前
    記修正部に対向して設けることを特徴とするスル−ホ−
    ルの検査・修正装置。
JP6706995A 1995-03-01 1995-03-01 スル−ホ−ルの検査・修正装置 Pending JPH08229920A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6706995A JPH08229920A (ja) 1995-03-01 1995-03-01 スル−ホ−ルの検査・修正装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6706995A JPH08229920A (ja) 1995-03-01 1995-03-01 スル−ホ−ルの検査・修正装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08229920A true JPH08229920A (ja) 1996-09-10

Family

ID=13334202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6706995A Pending JPH08229920A (ja) 1995-03-01 1995-03-01 スル−ホ−ルの検査・修正装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08229920A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002134371A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Hitachi Metals Ltd スルーホール品質判定方法
US7043072B2 (en) * 2000-04-27 2006-05-09 Seiko Epson Corporation Method for examining foreign matters in through holes
JP2007114203A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Orbotech Ltd 電気回路検査装置及び方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7043072B2 (en) * 2000-04-27 2006-05-09 Seiko Epson Corporation Method for examining foreign matters in through holes
JP2002134371A (ja) * 2000-10-30 2002-05-10 Hitachi Metals Ltd スルーホール品質判定方法
JP2007114203A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Orbotech Ltd 電気回路検査装置及び方法
US8290239B2 (en) 2005-10-21 2012-10-16 Orbotech Ltd. Automatic repair of electric circuits

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4896655B2 (ja) 実装不良の原因特定方法および実装基板製造装置
JP7102271B2 (ja) 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
KR100647528B1 (ko) 백라이트유닛의 표면을 검사하는 방법 및 장치
WO1997050286A1 (fr) Procede de montage de pieces electroniques
US20110007146A1 (en) Substrate inspection device and substrate inspection method
WO2016021043A1 (ja) スクリーン印刷装置
CN217857436U (zh) 一种外形尺寸检测设备
JP2015205730A (ja) 部品搭載装置及び部品搭載方法
JP2008060249A (ja) 部品実装方法および表面実装機
JP5144599B2 (ja) 電子部品の装着方法
JP4409017B2 (ja) 部品装着確認方法および同装置
JPH08229920A (ja) スル−ホ−ルの検査・修正装置
JP2007157848A (ja) 表面実装機
CN116525477A (zh) 芯片的检查方法
JP2011014946A (ja) 電子部品実装方法及び実装機
JP4388423B2 (ja) 電子部品搭載装置
CN114964989A (zh) 具有除尘功能的设备及其方法和光学镜头检测系统
JP7425091B2 (ja) 検査装置及び検査方法
WO2021014615A1 (ja) 実装装置及び実装装置の制御方法
JP2010108960A (ja) 電子部品実装装置
JPH10258384A (ja) レーザ加工機の自動工具径補正方法
JP4298459B2 (ja) 部品認識装置、表面実装機および部品試験装置
JP3279216B2 (ja) リード付き電子部品の実装方法
JP3749337B2 (ja) レーザ加工機における製品検査方法および加工プログラム修正方法並びにレーザ加工機
JPH10261675A (ja) 導電性ボールの搭載方法