JPH08229920A - スル−ホ−ルの検査・修正装置 - Google Patents
スル−ホ−ルの検査・修正装置Info
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- JPH08229920A JPH08229920A JP6706995A JP6706995A JPH08229920A JP H08229920 A JPH08229920 A JP H08229920A JP 6706995 A JP6706995 A JP 6706995A JP 6706995 A JP6706995 A JP 6706995A JP H08229920 A JPH08229920 A JP H08229920A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 グリ−ンシ−トのスル−ホ−ル内に付着した
異物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物の除
去、修正を同一装置内で行うことにある。 【構成】 光源4の光により検査対象のグリ−シ−ト
(以下、シート)の平面画像を撮影する撮像手段5と、撮
像結果に基づき検査視野内のスル−ホ−ル(以下、ホー
ル)の数、穴位置、穴面積を算出し、ホ−ル数の設計値
との不一致または穴位置、穴面積が許容範囲内にないこ
との何れかの条件で視野内のホ−ルの欠陥を判定し、穴
位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置8を備える
検査部と、位置決めされたシ−トのホ−ルに対しノズル
からエアーを噴出してホ−ル内壁面の異物を除去する修
正部6と、テーブル上のシ−トを移動するX−Yテーブ
ルと、シ−トの検査部への位置決め及び前記判定結果に
基づく修正部への位置決めと検査部及び修正部を制御す
る制御部9と、除去された異物の回収部7を備える。
異物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物の除
去、修正を同一装置内で行うことにある。 【構成】 光源4の光により検査対象のグリ−シ−ト
(以下、シート)の平面画像を撮影する撮像手段5と、撮
像結果に基づき検査視野内のスル−ホ−ル(以下、ホー
ル)の数、穴位置、穴面積を算出し、ホ−ル数の設計値
との不一致または穴位置、穴面積が許容範囲内にないこ
との何れかの条件で視野内のホ−ルの欠陥を判定し、穴
位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置8を備える
検査部と、位置決めされたシ−トのホ−ルに対しノズル
からエアーを噴出してホ−ル内壁面の異物を除去する修
正部6と、テーブル上のシ−トを移動するX−Yテーブ
ルと、シ−トの検査部への位置決め及び前記判定結果に
基づく修正部への位置決めと検査部及び修正部を制御す
る制御部9と、除去された異物の回収部7を備える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミック基板の製造
工程において、セラミックグリ−ンシ−トに明けたスル
−ホ−ルの欠陥検査及び欠陥部を修正する装置に関する
ものである。
工程において、セラミックグリ−ンシ−トに明けたスル
−ホ−ルの欠陥検査及び欠陥部を修正する装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の方法は、例えば、特開平5−52
765号に示されているように、セラミック基板を製造
するためのセラミックグリ−ンシ−トに明けたスル−ホ
−ルの検査方式は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグ
リ−ンシ−トの一方平面側からの光源の照射によって、
前記光源の反対側で透過平面画像を撮像し、その画像を
画像処理装置により、その視野内のスル−ホ−ル内壁面
に付着した異物による穴面積少、穴数不足などの欠陥を
検査する方式である。
765号に示されているように、セラミック基板を製造
するためのセラミックグリ−ンシ−トに明けたスル−ホ
−ルの検査方式は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグ
リ−ンシ−トの一方平面側からの光源の照射によって、
前記光源の反対側で透過平面画像を撮像し、その画像を
画像処理装置により、その視野内のスル−ホ−ル内壁面
に付着した異物による穴面積少、穴数不足などの欠陥を
検査する方式である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、グ
リ−ンシ−トのスル−ホ−ル内壁面に付着した異物など
の欠陥を検査するのみであるため、付着した異物などの
欠陥を除去、修正し、救済する機能はなかった。本発明
の目的は、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルに付着した異
物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物、抜き
カスなどの欠陥部を除去、修正し、救済する機能を有す
る、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置を
提供することにある。
リ−ンシ−トのスル−ホ−ル内壁面に付着した異物など
の欠陥を検査するのみであるため、付着した異物などの
欠陥を除去、修正し、救済する機能はなかった。本発明
の目的は、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルに付着した異
物などの欠陥を検査するとともに、付着した異物、抜き
カスなどの欠陥部を除去、修正し、救済する機能を有す
る、グリ−ンシ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置を
提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグリ−
シ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置であり、検査対
象の前記グリ−シ−トの平面画像を撮影する撮像手段
と、撮像したグリ−シ−ト平面画像に基づき検査視野内
のスル−ホ−ルの数、穴位置、穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が設計値に一致しないこと、または
穴位置、穴面積が許容範囲内に収まっていないことの何
れかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥があることを
判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置
を備える検査部と、ノズルを有し、位置決めされたグリ
−シ−トのスル−ホ−ルに対し該ノズルからエアーを噴
出してスル−ホ−ル内壁面に付着した異物を除去する修
正部と、テーブル上に載置されたグリ−シ−トを移動す
る移動機構と、移動機構によるグリ−シ−トの前記検査
部への位置決めおよび該検査部の判定結果に基づく修正
部への位置決めを制御し、かつ前記検査部および修正部
を制御する制御部を備えるようにしている。さらに、前
記修正部により除去された異物を回収する回収部を前記
修正部に対向して設けるようにしている。
め、本発明は、多数のスル−ホ−ルが形成されたグリ−
シ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置であり、検査対
象の前記グリ−シ−トの平面画像を撮影する撮像手段
と、撮像したグリ−シ−ト平面画像に基づき検査視野内
のスル−ホ−ルの数、穴位置、穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が設計値に一致しないこと、または
穴位置、穴面積が許容範囲内に収まっていないことの何
れかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥があることを
判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処理装置
を備える検査部と、ノズルを有し、位置決めされたグリ
−シ−トのスル−ホ−ルに対し該ノズルからエアーを噴
出してスル−ホ−ル内壁面に付着した異物を除去する修
正部と、テーブル上に載置されたグリ−シ−トを移動す
る移動機構と、移動機構によるグリ−シ−トの前記検査
部への位置決めおよび該検査部の判定結果に基づく修正
部への位置決めを制御し、かつ前記検査部および修正部
を制御する制御部を備えるようにしている。さらに、前
記修正部により除去された異物を回収する回収部を前記
修正部に対向して設けるようにしている。
【0005】
【作用】上記手段によれば、多数のスル−ホ−ルが形成
されたグリ−ンシ−トの撮像画像と穴数、穴位置、穴面
積などの検査デ−タとを比較して判定結果を得る検査部
と、該判定結果に基づきスル−ホ−ル内壁面に付着した
異物を除去する修正部を同一装置内に設けた構造とした
ため、検査により明確になった欠陥スル−ホ−ルのみに
対し、検査に引き続き修正部において欠陥スル−ホ−ル
内の異物を除去修正することが可能であり、さらに、回
収部を設けているため除去した異物を回収することが可
能である。
されたグリ−ンシ−トの撮像画像と穴数、穴位置、穴面
積などの検査デ−タとを比較して判定結果を得る検査部
と、該判定結果に基づきスル−ホ−ル内壁面に付着した
異物を除去する修正部を同一装置内に設けた構造とした
ため、検査により明確になった欠陥スル−ホ−ルのみに
対し、検査に引き続き修正部において欠陥スル−ホ−ル
内の異物を除去修正することが可能であり、さらに、回
収部を設けているため除去した異物を回収することが可
能である。
【0006】
【実施例】以下、本発明を実施例に基ずいて詳細に説明
する。図1は、本発明のスル−ホ−ル検査・修正装置の
一実施例を示す斜視図である。図1において、1は検査
装置本体であり、正面から見て左側には検査対象のグリ
−ンシ−ト2を図示のX,Y方向に移動可能なX−Yテ
−ブル3に順次供給し、また検査を終えたグリ−ンシ−
ト2を収納するグリ−ンシ−ト供給/収納装置10が設
けられている。なお、グリ−ンシ−トの供給/収納の機
構は本発明の主題ではないので、詳細な図示、説明は省
略する。検査対象のグリ−ンシ−ト2を載置するX−Y
テ−ブル3は、薄くて可撓性のあるグリ−ンシ−ト2を
平坦に置くために透明なガラス板を置いた構造であり、
その下方には、グリ−ンシ−ト2の下面に向けて照明光
を照射する光源4が配置されている。また、X−Yテ−
ブル3はガラス板のみが下降し、ガラス板とグリ−ンシ
−ト2の間に空間を作りだせる構造である。5は、X−
Yテ−ブル3の上方に位置し、グリ−ンシ−ト2の平面
画像を撮影する撮像カメラであり、8は撮像カメラ5で
撮像したグリ−ンシ−ト平面画像に基ずいて視野内のス
ル−ホ−ルの数、位置および各穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が規定数に一致しないこと、または
穴位置および穴面積が許容範囲内に収まっていないこと
のいずれかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥がある
ことを判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処
理装置であり、撮像カメラ5と画像処理装置8により検
査部を構成している。9はX−Yテ−ブル3を移動し、
グリ−ンシ−ト2の検査部位を撮像カメラ5の視野内に
位置決めし、また画像処理装置に記憶された穴位置対応
の判定結果に基づき修正部位を後述の修正部6に位置決
めする等の制御を行う制御装置である。6は、前記グリ
−ンシ−ト2を修正するための修正部であり、グリ−ン
シ−ト2はスル−ホ−ル検査で抜きカス残り等の不良箇
所が発見されたとき、X−Yテ−ブル3により移動さ
れ、修正部6に位置決めされる。さらに、7は前記修正
により発生した抜きカス等の異物を回収するための回収
部である。
する。図1は、本発明のスル−ホ−ル検査・修正装置の
一実施例を示す斜視図である。図1において、1は検査
装置本体であり、正面から見て左側には検査対象のグリ
−ンシ−ト2を図示のX,Y方向に移動可能なX−Yテ
−ブル3に順次供給し、また検査を終えたグリ−ンシ−
ト2を収納するグリ−ンシ−ト供給/収納装置10が設
けられている。なお、グリ−ンシ−トの供給/収納の機
構は本発明の主題ではないので、詳細な図示、説明は省
略する。検査対象のグリ−ンシ−ト2を載置するX−Y
テ−ブル3は、薄くて可撓性のあるグリ−ンシ−ト2を
平坦に置くために透明なガラス板を置いた構造であり、
その下方には、グリ−ンシ−ト2の下面に向けて照明光
を照射する光源4が配置されている。また、X−Yテ−
ブル3はガラス板のみが下降し、ガラス板とグリ−ンシ
−ト2の間に空間を作りだせる構造である。5は、X−
Yテ−ブル3の上方に位置し、グリ−ンシ−ト2の平面
画像を撮影する撮像カメラであり、8は撮像カメラ5で
撮像したグリ−ンシ−ト平面画像に基ずいて視野内のス
ル−ホ−ルの数、位置および各穴面積を算出し、算出し
たスル−ホ−ルの数が規定数に一致しないこと、または
穴位置および穴面積が許容範囲内に収まっていないこと
のいずれかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥がある
ことを判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処
理装置であり、撮像カメラ5と画像処理装置8により検
査部を構成している。9はX−Yテ−ブル3を移動し、
グリ−ンシ−ト2の検査部位を撮像カメラ5の視野内に
位置決めし、また画像処理装置に記憶された穴位置対応
の判定結果に基づき修正部位を後述の修正部6に位置決
めする等の制御を行う制御装置である。6は、前記グリ
−ンシ−ト2を修正するための修正部であり、グリ−ン
シ−ト2はスル−ホ−ル検査で抜きカス残り等の不良箇
所が発見されたとき、X−Yテ−ブル3により移動さ
れ、修正部6に位置決めされる。さらに、7は前記修正
により発生した抜きカス等の異物を回収するための回収
部である。
【0007】図2は、X−Yテ−ブルのガラス板3a上
に載置した検査対象のグリ−ンシ−ト2と撮像カメラ5
および光源4との関係を示す図であり、多数のスル−ホ
−ル11が明けられたグリ−ンシ−ト2の鉛直上方にお
いてグリ−ンシ−ト2の平面画像を撮像カメラ5で撮像
するようになっている。図中、12はスル−ホ−ル11
内壁に付着した抜きカスを示す。図3は、図2の撮像カ
メラ5で撮像した視野20の平面画像19を示す。グリ
−ンシ−ト2のスル−ホ−ル11の数及び、抜きカス1
2がスル−ホ−ル11内に残存していることが、この画
像により容易に分かる。
に載置した検査対象のグリ−ンシ−ト2と撮像カメラ5
および光源4との関係を示す図であり、多数のスル−ホ
−ル11が明けられたグリ−ンシ−ト2の鉛直上方にお
いてグリ−ンシ−ト2の平面画像を撮像カメラ5で撮像
するようになっている。図中、12はスル−ホ−ル11
内壁に付着した抜きカスを示す。図3は、図2の撮像カ
メラ5で撮像した視野20の平面画像19を示す。グリ
−ンシ−ト2のスル−ホ−ル11の数及び、抜きカス1
2がスル−ホ−ル11内に残存していることが、この画
像により容易に分かる。
【0008】図4は、グリ−ンシ−ト2のスル−ホ−ル
11内に残存している抜きカス12を除去修正するため
の修正部6、及び前記抜きカス12がグリ−ンシ−ト2
に再付着することを防止するための、抜きカス12の回
収部7を示す。前記画像処理装置等による検査により抜
きカス12の残存が明確になったグリ−ンシ−ト2のス
ル−ホ−ル11上に、前記記憶された判定結果に基づき
X−Yテ−ブルを移動し、修正用のノズル15を位置決
めする。ノズル15は、ホルダ−14により把持されて
いるとともに、圧縮エア−16をスル−ホ−ル11に向
かって噴射できる。また、グリ−ンシ−ト2の下方には
回収部7が位置し、回収部7はその上部に回収管18を
有し、回収口18aから吸引17により抜きカス12を
回収できる構造である。回収した抜きカス12は、回収
管18を経て集塵機(図示せず)に回収する。なお、グ
リ−ンシ−ト2の修正部への移動前には、回収部7は、
X−Yテ−ブル3の移動の邪魔にならないように、図1
における後方に引き込まれている。そして、X−Yテ−
ブル3が修正部6に移動して位置決めされると、X−Y
テ−ブルのガラス板3aは図4の下部に示す位置に下降
し、その後、回収部7が図1における前方に移動して出
され、グリ−ンシ−ト2を支えるように多少上方に移動
するように制御が行われる。
11内に残存している抜きカス12を除去修正するため
の修正部6、及び前記抜きカス12がグリ−ンシ−ト2
に再付着することを防止するための、抜きカス12の回
収部7を示す。前記画像処理装置等による検査により抜
きカス12の残存が明確になったグリ−ンシ−ト2のス
ル−ホ−ル11上に、前記記憶された判定結果に基づき
X−Yテ−ブルを移動し、修正用のノズル15を位置決
めする。ノズル15は、ホルダ−14により把持されて
いるとともに、圧縮エア−16をスル−ホ−ル11に向
かって噴射できる。また、グリ−ンシ−ト2の下方には
回収部7が位置し、回収部7はその上部に回収管18を
有し、回収口18aから吸引17により抜きカス12を
回収できる構造である。回収した抜きカス12は、回収
管18を経て集塵機(図示せず)に回収する。なお、グ
リ−ンシ−ト2の修正部への移動前には、回収部7は、
X−Yテ−ブル3の移動の邪魔にならないように、図1
における後方に引き込まれている。そして、X−Yテ−
ブル3が修正部6に移動して位置決めされると、X−Y
テ−ブルのガラス板3aは図4の下部に示す位置に下降
し、その後、回収部7が図1における前方に移動して出
され、グリ−ンシ−ト2を支えるように多少上方に移動
するように制御が行われる。
【0009】図5は、本発明のスル−ホ−ル検査・修正
装置の一実施例における検査と修正の動作の概要を示す
フロ−チャ−トである。次に、以上の構成に係わる動作
を図1および図5により説明する。まず、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をグリ−ンシ−ト供給/収納装置
10側に移動し、検査対象のグリ−ンシ−ト2をX−Y
テ−ブル3の上に供給させる。X−Yテ−ブル3の上面
にグリ−ンシ−ト2が載置されたならば、X−Yテ−ブ
ル3を撮像カメラ5側へ移動させる。次に、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をX方向およびY方向に移動し、
グリ−ンシ−ト2の上面を所定面積単位で区分けした複
数の検査領域のうち最初の検査領域が撮像カメラ5の真
下に位置するように、グリ−ンシ−ト2を位置決めす
る。この状態で、制御装置9は光源4を駆動し、グリ−
ンシ−ト2の下面側に照明光を照射させる。同時に、撮
像カメラ5に撮像開始を指示する。すると、図3に示す
ように、撮像カメラ5の視野20内で最初の検査領域の
グリ−ンシ−ト2の平面画像19が撮像される。この撮
像したグリ−ンシ−ト2の平面画像19は画像処理装置
8に入力される。画像処理装置8、入力されたグリ−ン
シ−ト2の平面画像19に基づき、検査領域内のスル−
ホ−ル11の数、および各穴面積を算出し、算出したス
ル−ホ−ル11の数、および各穴面積が許容範囲内に収
まっていないときは、スル−ホ−ル11に欠陥があるこ
とを判定し、その判定結果を穴位置対応に記憶する。こ
こで、抜きカス12あるいは異物等がスル−ホ−ル11
に残存した場合は、穴面積が正常時より小さくなるので
欠陥を発見できる。次に、制御装置9は検査結果が合格
の場合はX−Yテ−ブル3を駆動し、次の検査視野へ移
動し、同様の検査方法で検査を続行する。しかし、欠陥
が発見された時は、X−Yテ−ブル3の駆動により、グ
リ−ンシ−ト2を修正部まで移動、位置決めし、修正部
6に修正作業を行わせる。修正作業が終了したならば、
X−Yテ−ブル3を駆動しグリ−ンシ−ト2をもとの検
査位置まで移動し、修正を行った視野のみを再検査す
る。これにより、検査合格となれば次の検査視野へと移
動し同様の検査方法で検査を続行する。しかし、一度の
修正作業で欠陥を除去、修正できない場合は、再度同様
の検査、修正を実施する。グリ−ンシ−ト2の検査すべ
き領域が全てが検査、修正を終了したならばX−Yテ−
ブル3を駆動し、グリ−ンシ−ト2をグリ−ンシ−ト供
給/収納装置10側に移動し収納することで終了する。
装置の一実施例における検査と修正の動作の概要を示す
フロ−チャ−トである。次に、以上の構成に係わる動作
を図1および図5により説明する。まず、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をグリ−ンシ−ト供給/収納装置
10側に移動し、検査対象のグリ−ンシ−ト2をX−Y
テ−ブル3の上に供給させる。X−Yテ−ブル3の上面
にグリ−ンシ−ト2が載置されたならば、X−Yテ−ブ
ル3を撮像カメラ5側へ移動させる。次に、制御装置9
は、X−Yテ−ブル3をX方向およびY方向に移動し、
グリ−ンシ−ト2の上面を所定面積単位で区分けした複
数の検査領域のうち最初の検査領域が撮像カメラ5の真
下に位置するように、グリ−ンシ−ト2を位置決めす
る。この状態で、制御装置9は光源4を駆動し、グリ−
ンシ−ト2の下面側に照明光を照射させる。同時に、撮
像カメラ5に撮像開始を指示する。すると、図3に示す
ように、撮像カメラ5の視野20内で最初の検査領域の
グリ−ンシ−ト2の平面画像19が撮像される。この撮
像したグリ−ンシ−ト2の平面画像19は画像処理装置
8に入力される。画像処理装置8、入力されたグリ−ン
シ−ト2の平面画像19に基づき、検査領域内のスル−
ホ−ル11の数、および各穴面積を算出し、算出したス
ル−ホ−ル11の数、および各穴面積が許容範囲内に収
まっていないときは、スル−ホ−ル11に欠陥があるこ
とを判定し、その判定結果を穴位置対応に記憶する。こ
こで、抜きカス12あるいは異物等がスル−ホ−ル11
に残存した場合は、穴面積が正常時より小さくなるので
欠陥を発見できる。次に、制御装置9は検査結果が合格
の場合はX−Yテ−ブル3を駆動し、次の検査視野へ移
動し、同様の検査方法で検査を続行する。しかし、欠陥
が発見された時は、X−Yテ−ブル3の駆動により、グ
リ−ンシ−ト2を修正部まで移動、位置決めし、修正部
6に修正作業を行わせる。修正作業が終了したならば、
X−Yテ−ブル3を駆動しグリ−ンシ−ト2をもとの検
査位置まで移動し、修正を行った視野のみを再検査す
る。これにより、検査合格となれば次の検査視野へと移
動し同様の検査方法で検査を続行する。しかし、一度の
修正作業で欠陥を除去、修正できない場合は、再度同様
の検査、修正を実施する。グリ−ンシ−ト2の検査すべ
き領域が全てが検査、修正を終了したならばX−Yテ−
ブル3を駆動し、グリ−ンシ−ト2をグリ−ンシ−ト供
給/収納装置10側に移動し収納することで終了する。
【0010】
【発明の効果】以上、本発明によれば、多数のスル−ホ
−ルが形成されたグリ−ンシ−トの穴面積不足、穴数不
足などの欠陥を検査する検査部に加えて、検査により明
確になった前記欠陥部のあるスル−ホ−ルのみを、噴射
エア−により抜きカス及び異物等を除去、修正できる修
正部、抜きカスを回収する回収部を検査部と同一装置内
に設けた構造としているため、スル−ホ−ルの検査作業
と欠陥部の修正作業が同一装置内でしかも短時間で実施
でき、検査修正工数の低減、異物回収による救済による
歩留まり向上、コスト低減、および異物回収による再付
着防止での製品信頼性の向上がはかれるといった優れた
効果がある。
−ルが形成されたグリ−ンシ−トの穴面積不足、穴数不
足などの欠陥を検査する検査部に加えて、検査により明
確になった前記欠陥部のあるスル−ホ−ルのみを、噴射
エア−により抜きカス及び異物等を除去、修正できる修
正部、抜きカスを回収する回収部を検査部と同一装置内
に設けた構造としているため、スル−ホ−ルの検査作業
と欠陥部の修正作業が同一装置内でしかも短時間で実施
でき、検査修正工数の低減、異物回収による救済による
歩留まり向上、コスト低減、および異物回収による再付
着防止での製品信頼性の向上がはかれるといった優れた
効果がある。
【図1】本発明の一実施例の構成を示す斜視図である。
【図2】撮像カメラ、光源および検査対象のグリ−ンシ
−トとの関係を示す図である。
−トとの関係を示す図である。
【図3】検査一視野内での拡大した倍率のスル−ホ−ル
平面画像を示す図である。
平面画像を示す図である。
【図4】修正部、回収部および修正対象のグリ−ンシ−
トとの関係と、修正動作を説明するための図である。
トとの関係と、修正動作を説明するための図である。
【図5】実施例における検査と修正の動作の概要を示す
フロ−チャ−トである。
フロ−チャ−トである。
1 検査・修正装置本体 2 グリ−ンシ−ト 3 X−Yテ−ブル 3a ガラス板 4 光源 5 撮像カメラ 6 修正部 7 回収部 8 画像処理装置 9 制御装置 11 スル−ホ−ル 12 抜きカス 15 ノズル 16 圧縮エア− 17 吸引 18 吸引管 18a 回収口 19 平面画像 20 視野
Claims (2)
- 【請求項1】 多数のスル−ホ−ルが形成されたグリ−
シ−トのスル−ホ−ルの検査・修正装置であって、 検査対象の前記グリ−シ−トの平面画像を撮影する撮像
手段と、撮像したグリ−シ−ト平面画像に基づき検査視
野内のスル−ホ−ルの数、穴位置、穴面積を算出し、算
出したスル−ホ−ルの数が設計値に一致しないこと、ま
たは穴位置、穴面積が許容範囲内に収まっていないこと
の何れかの条件で視野内のスル−ホ−ルに欠陥があるこ
とを判定し、穴位置対応に判定結果を記憶する画像処理
装置を備える検査部と、 ノズルを有し、位置決めされたグリ−シ−トのスル−ホ
−ルに対し該ノズルからエアーを噴出してスル−ホ−ル
内壁面に付着した異物を除去する修正部と、 テーブル上に載置されたグリ−シ−トを移動する移動機
構と、 該移動機構によるグリ−シ−トの前記検査部への位置決
めおよび該検査部の判定結果に基づく修正部への位置決
めを制御し、かつ前記検査部および修正部を制御する制
御部を備えることを特徴とするスル−ホ−ルの検査・修
正装置。 - 【請求項2】 請求項1記載のスル−ホ−ルの検査・修
正装置において、 前記修正部により除去された異物を回収する回収部を前
記修正部に対向して設けることを特徴とするスル−ホ−
ルの検査・修正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6706995A JPH08229920A (ja) | 1995-03-01 | 1995-03-01 | スル−ホ−ルの検査・修正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6706995A JPH08229920A (ja) | 1995-03-01 | 1995-03-01 | スル−ホ−ルの検査・修正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08229920A true JPH08229920A (ja) | 1996-09-10 |
Family
ID=13334202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6706995A Pending JPH08229920A (ja) | 1995-03-01 | 1995-03-01 | スル−ホ−ルの検査・修正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08229920A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002134371A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Hitachi Metals Ltd | スルーホール品質判定方法 |
US7043072B2 (en) * | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Seiko Epson Corporation | Method for examining foreign matters in through holes |
JP2007114203A (ja) * | 2005-10-21 | 2007-05-10 | Orbotech Ltd | 電気回路検査装置及び方法 |
-
1995
- 1995-03-01 JP JP6706995A patent/JPH08229920A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7043072B2 (en) * | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Seiko Epson Corporation | Method for examining foreign matters in through holes |
JP2002134371A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Hitachi Metals Ltd | スルーホール品質判定方法 |
JP2007114203A (ja) * | 2005-10-21 | 2007-05-10 | Orbotech Ltd | 電気回路検査装置及び方法 |
US8290239B2 (en) | 2005-10-21 | 2012-10-16 | Orbotech Ltd. | Automatic repair of electric circuits |
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