JP3144383B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
り、特に、半導体装置のリードフレームの形状とボンデ
ィングに関する。
ものである。図6(a)は平面図、図6(b)は断面の
概略図である。装置は半導体チップ1aがリードフレー
ムのアイランド2aにマウントされており、チップ上の
電極(ボンディングパッド)6,6a,6b,6c,6
dとリードフレームのインナーリード4cとをボンディ
ングワイヤ3で電気的に接続している。図6(a)のチ
ップ下側のような単列パッド6に対しては、従来の平面
のリードフレームで製造が可能であったが、集積度の向
上と信号数の増大に伴い、図6(a)のチップ左側のよ
うな千鳥状パッド配列が必要不可欠となり、図6に示す
ようにボンディングワイヤ同士が接近し、さらにはボン
ディングできないパッド6c,6dがでてきた。
52646、特開昭62−1239号公報では図7のよ
うに、リードフレームの隣接するインナーリードを上下
方向に交互に段差を設け(図7(b)4d,4e)、ボ
ンディング時において特に千鳥パッドの場合は外側パッ
ド6aは低く短いリードでボンディングし、内側パッド
(6b)は高く長いリードでボンディングすることによ
り、図7(b)のように隣り合うボンディングワイヤの
間隔を立体的に保つことで、ワイヤ同士の接触をさけ
て、単列パッド、及び千鳥パッドに対しボンディングで
きるようにしている。
図8のように全てのインナーリード4fを先端で低く、
その外側で高くした段差を持たせることにより、ボンデ
ィング時において特に千鳥パッドの場合は外側パッド6
aはリード4fの低い位置にボンディングし、内側パッ
ド6bはリード4fの高い位置にボンディングすること
により、図8(b)のように隣り合うボンディングワイ
ヤ3の間隔を立体的に保つことで、ワイヤ同士の接触を
さけて単列パッド、及び千鳥パッドに対しボンディング
できるようにしている。
によるチップ面積の縮小と、チップの端子数増加に伴
い、チップ電極を千鳥状に配置することによるボンディ
ングパッドの増加をはかることが必要不可欠になってい
る。一方、隣り合う電極同士、隣り合うインナーリード
の間隔が従来のものと比較して非常に狭くなっているこ
とから、従来技術のように、インナーリードを上下方向
に交互に段差を設けることや、先端で低く、その内側で
高くするだけでは隣り合うボンディングワイヤ同士の接
触をさけることが困難である。
ナーリードにボンディング点が1点しかないから、隣り
合う電極同士、隣り合うインナーリードの間隔が更に狭
くなると、製造が困難になる。特開平4−196158
号公報の技術では、各インナーリードの長さが同一の長
さであるため、同一信号数(電極数)で従来以上にチッ
プ面積が縮小すると、インナーリードをチップ電極の近
くまで持っていけないため、チップ上の電極とインナー
リードの間隔が広くなり、つまりボンディングワイヤー
長が長くなり、製造時にワイヤ流れなどが生じ、製造が
困難になる。
した従来技術の欠点を改良し、特に、従来以上の小チッ
プ、多ピン化によるパッド間隔の狭い半導体チップに対
し、ボンディングの自由度、生産性、信頼性の高い半導
体装置を提供するものである。
達成するため、基本的には、以下に記載されたような技
術構成を採用するものである。即ち、本発明に係わる半
導体装置の第1態様は、リードフレームのアイランド上
に半導体チップが組み付けられ、この半導体チップ上に
設けられた千鳥状に配置された電極と、前記リードフレ
ームのインナーリードと、前記電極とインナーリードと
の間に設けられるボンディングワイヤとからなる半導体
装置において、前記隣接するインナーリードは互いに異
なる長さに形成され、且つ、前記インナーリードの全て
は、前記アイランド部と同一面上に形成した低部と、前
記低部より高い位置に形成した高部と、前記低部と高部
とを接続する部分とからなり、前記何れかのインナーリ
ードの高部及び低部にそれぞれ、前記ボンディングワイ
ヤをボンディングしたボンディング点を少なくとも一つ
設けたことを特徴とするものであり、又、第2態様は、
前記インナーリードの長さは、少なくとも2種類の長さ
を含むことを特徴とするものである。
ドフレームのインナーリードを隣接する各インナーリー
ドに対し、互いに長さ方向に差をもたせ、且つ、全ての
インナーリードが先端で低く、その内側で高く形成した
段差をもち、しかも、この段差を介して形成された高部
及び低部に各々ボンディングするボンディング点を複数
有するように構成することで、千鳥状に配置された半導
体チップの電極のワイヤボンディングを可能にしたもの
である。
ドの長さに差をもたせることにより、半導体チップとイ
ンナーリード間の距離を一部縮めることができる。又、
全てのインナーリードが先端で低く、その内側で高くし
た段差を形成することにより、3次元的にボンディング
ワイヤー間の距離を保つことができる。更に、インナー
リードの高部と低部で各々ボンディングするボンディン
グ点を有することにより、同一電位のインナーリードか
ら複数の同一電位パッドへのボンディングが可能とな
り、且つ、ワイヤーの交差配線も容易にできる。
性、信頼性の高い半導体装置の製造が可能となる。
を図面を参照しながら詳細に説明する。図1、2は、本
発明に係わる半導体装置の具体例の構造を示す図であっ
て、これらの図には、リードフレームのアイランド2a
上に半導体チップが組み付けられ、この半導体チップ2
a上に設けられた千鳥状に配置された電極6a,6b
と、前記リードフレームのインナーリード4a,4b
と、前記電極6a,6bとインナーリード4a,4bと
の間に設けられるボンディングワイヤ3a,3b,3c
とからなる半導体装置において、前記隣接するインナー
リード4a,4bは互いに異なる長さに形成され、且
つ、インナーリード4a,4b先端部とその内側との間
に段差5aを介して高部Hと低部Lとが形成され、且
つ、前記高部H又は低部Lの何れかには複数のボンディ
ング点7a,7a,7b,7b,を有する半導体装置が
示されている。
ィングの高さ方向の位置において、少なくとも二つの異
なる位置7a,7bにボンディングされ、且つ、前記半
導体チップから離間する方向の前記インナーリード4
a,4b上においても、少なくとも二つの異なる位置7
a,7bにボンディングされる半導体装置の製造方法が
示されている。
くとも2つ、最大4つのボンディング点を有する半導体
装置とその製造方法が示されている。以下に、本発明を
更に詳細に説明する。図4は本発明の上から見た構造図
であり、2aはリードフレームのアイランド、4a,4
bはインナーリード、5aはインナーリードに形成した
傾斜部からなる段差である。
a,4bはインナーリード、5aはインナーリードの傾
斜した段差、7a,7bはインナーリード上のボンディ
ング点である。図2は図1のインナーリードに配線を行
なった状態の斜視図であり、1aは半導体チップ、3
a,3b,3cはボンディングワイヤ、4a,4bはイ
ンナーリード、5aはインナーリードの段差、6a,6
bは半導体電極(パッド)である。
5は本発明の他の具体例の主要部斜視図であり、このよ
うに構成した半導体装置において、図示したように隣接
する各インナーリード4a,4bは、互いに長さ方向に
差をもたせてある。このように長さ方向に差を持たせる
ことにより、長いインナーリード4bとチップ1a間と
の距離を短縮することができ、インナーリード先端部に
おいてインナーリード4bの幅が細くならず、幅を十分
に保つことができる。
aを持ち、この段差5aの高部Hにボンディング点7a
を、又、低部Lにボンディング点7bを配置している。
図3はワイヤーボンディングした状態の断面図であり、
リードフレームのアイランド2a上にチップ1aがマウ
ントされている。本図ではアイランド2aとリードフレ
ーム4a,4bの低部Lの高さが同じになっているが、
アイランド2aの高さをインナーリード低部Lより低く
しても同様の効果が得られる。
いて説明する。図3、5のようにインナーリード低部L
を使用したときもインナーリード側のボンディング点の
組み合わせにより、図3のインナーリード3d,3e及
び図5のインナーリード3d,3eに見られるように隣
接するボンディングワイヤの高さ方向の距離が生じ、ワ
イヤ同士の3次元的な間隔を保つことができ、ワイヤー
の接触をさけてボンディングすることができる。
した場合は、薄型パッケージにも使用できる。次に、イ
ンナーリード低部及び高部を使用した場合について説明
する。図2のようにインナーリードの高部Hと低部Lの
ボンディング点を使うことにより、さらに間隔の狭い千
鳥配列パッドに対してのボンディングが可能になる。基
本的に外側のパッド(図2の符号6a)はインナーリー
ドの低部Lとボンディングし、内側パッド(図2の符号
6b)はインナーリードの高部Hのボンディング点を使
用することにより、隣接するボンディングワイヤに高さ
方向の距離を図2のワイヤ3b,3a及び図3のワイヤ
3b,3aに見られるように容易に保つことができ、ワ
イヤ同士の接触をさけてボンディングすることができ
る。さらに、必要に応じて交差配線も、図2のワイヤ3
cのようにボンディングをすることが可能となる。な
お、図2のワイヤ3cは交差配線(ボンディング)かつ
同一電位のインナーリードから複数の同一電位パッドへ
のボンディング例である。
のリードフレームの構造を、隣接する各インナーリード
に対し図4のように、互いに長さ方向に差をもたせ、図
1のようにかつ全てのインナーリードが先端で低く、そ
の内側で高くされた段差をもち、その高部と低部にボン
ディング点を有することにより、ボンディングワイヤ同
士の隣接距離を3次元的に保ち、ボンディングワイヤ同
士の接触の低減をはかることにより小チップサイズ、且
つ、多ピンの狭間隔千鳥電極の半導体チップを、きわめ
て生産性及び信頼性高く生産できる効果を有する。
ディングワイヤ 4a,4b,4c,4d,4e,4f…インナーリード 5a…インナーリードの段差 6,6a,6b,6c,6d…半導体電極 7a,7b…インナーリードのボンディング点
Claims (2)
- 【請求項1】 リードフレームのアイランド上に半導体
チップが組み付けられ、この半導体チップ上に設けられ
た千鳥状に配置された電極と、前記リードフレームのイ
ンナーリードと、前記電極とインナーリードとの間に設
けられるボンディングワイヤとからなる半導体装置にお
いて、 前記隣接するインナーリードは互いに異なる長さに形成
され、且つ、前記インナーリードの全ては、前記アイラ
ンド部と同一面上に形成した低部と、前記低部より高い
位置に形成した高部と、前記低部と高部とを接続する部
分とからなり、前記何れかのインナーリードの高部及び
低部にそれぞれ、前記ボンディングワイヤをボンディン
グしたボンディング点を少なくとも一つ設けたことを特
徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記インナーリードの長さは、少なくと
も2種類の長さを含むことを特徴とする請求項1記載の
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13932198A JP3144383B2 (ja) | 1998-05-21 | 1998-05-21 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13932198A JP3144383B2 (ja) | 1998-05-21 | 1998-05-21 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11330132A JPH11330132A (ja) | 1999-11-30 |
JP3144383B2 true JP3144383B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=15242595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7102216B1 (en) * | 2001-08-17 | 2006-09-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and leadframe with horizontal leads spaced in the vertical direction and method of making |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6429050B1 (en) * | 1997-12-18 | 2002-08-06 | Texas Instruments Incorporated | Fine pitch lead frame and method |
IT1317559B1 (it) * | 2000-05-23 | 2003-07-09 | St Microelectronics Srl | Telaio di supporto per chip avente interconnessioni a bassa resistenza. |
JP4967524B2 (ja) * | 2006-08-15 | 2012-07-04 | ヤマハ株式会社 | 半導体装置及びワイヤーボンディング方法 |
JP4835449B2 (ja) * | 2007-01-29 | 2011-12-14 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JP5387715B2 (ja) | 2012-04-06 | 2014-01-15 | 住友電気工業株式会社 | 半導体デバイス |
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US7102216B1 (en) * | 2001-08-17 | 2006-09-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and leadframe with horizontal leads spaced in the vertical direction and method of making |
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---|---|
JPH11330132A (ja) | 1999-11-30 |
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