JP3143499B2 - 焦点調節装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、画面の複数の領域のデ
フォーカス量を検出して撮影レンズの焦点調節を行う自
動焦点調節装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、カメラの自動焦点検出装置として
は、撮影レンズの異なる射出瞳領域を通過した被写体か
らの光束を、一対のラインセンサ上に結像させ、被写体
像を光電変換して得られた一対の像信号の相対位置変位
量を求めることにより、被写体のデフォーカス量を検出
して、これに基づいて撮影レンズの駆動を行う自動焦点
調節方法が良く知られている。

【０００３】更にこの焦点検出系を複数配置し複数の領
域での焦点検出を行えるようにしたものや、ラインセン
サを十字形に配置することで同じ領域内の光量分布が上
下方向でも左右方向でも焦点検出が可能な構成にしたも
のなどがある。

【０００４】

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来複数の焦点検出系
がある場合におけるデフォーカスの決定方法は，いくつ
かの選択条件を逐次的に判定し最終的ないデフォーカス
量を選択していた。

【０００６】しかしながら、この様な方法では判定を行
う順番や条件によって焦点検出に適さない測距領域を選
択してしまうおそれがあり正しい焦点検出に支障をきた
すものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の事項に鑑
み、被写界における第１と第２の領域からの光束を受光
する第１と第２のセンサー部と、各センサー部からのセ
ンサー出力に対して所定の処理を行い、各領域ごとのフ
ォーカス状態をそれぞれ独立して検出する焦点検出手段
と、第１センサー部のセンサー出力または該出力に基づ
く信号と第２センサー部のセンサー出力または該出力に
基づく信号に対して、どちらのセンサー出力またはセン
サー出力に基づく信号がフォーカス検知を行わせる信号
として適しているかを複数の異なる種類の判定条件でそ
れぞれ各条件ごとに判定する判定手段と、該判定手段に
て判定された結果としてフォーカス検知を行わせる信号
として適していると判定された条件の数が多いセンサー
部を選択する選択手段を設け、前記第１と第２の領域の
内一方の領域をフォーカス検知領域として選択するよう
にした焦点検出装置を提供するものである。

【０００８】

【０００９】

【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。

【００１０】図９は、本実施例の焦点検出装置を備えた
カメラの電気制御ブロックの具体的な構成の一例を示す
図であり、まず各部の構成について説明する。

【００１１】１はマイクロコンピュータであり、以下の
カメラ各部の動きを制御する。

【００１２】２はレンズ制御回路であり、不図示の撮影
レンズの距離環と絞りを制御する。このレンズ制御回路
２は、マイクロコンピュータ１からのＬＣＯＭ信号を受
けている間、ＤＢＵＳを介しシリアル通信を行い、この
通信内容より不図示のモーターを制御し、距離環と絞り
を制御する。また、マイクロコンピュータ１はレンズの
焦点距離情報や、距離情報、ベストピント補正情報、そ
の他各種補正情報などを受け取る。

【００１３】３は液晶表示回路であり、シャッタースピ
ード・絞り制御値などのカメラの各撮影情報を表示する
回路である。この液晶表示回路３は、マイクロコンピュ
ータ１からのＤＰＣＯＭ信号を受けている間、ＤＢＵＳ
を介しシリアル通信を行い、この通信内容より液晶表示
を行う。

【００１４】４はスイッチセンス回路であり、液晶表示
回路３とともに、常に電源が供給されており、通常のカ
メラではカメラのレリーズボタンの撮影準備を始動させ
る第１ストロークと連動しているスイッチ（以下ＳＷ１
と称す）や、その他不図示の露出モードを決めるスイッ
チやカメラの自動焦点調節（ＡＦ）のモードを決めるス
イッチなどを常に読み取ることが出来る。特に本例にお
いてはＡＦモード設定スイッチが“ＯＮＥＳＨＯＴ”モ
ード（一旦合焦するとピントをロック）であるか“ＳＥ
ＲＶＯ”モード（合焦、非合焦にかかわらず焦点検出を
行う）であるかを読み取るようになっている。そしてこ
のスイッチセンス回路４は、スイッチが切り替わるとＤ
ＢＵＳを介しシリアル通信を行い、マイクロコンピュー
タ１に各スイッチ情報を通信する。

【００１５】５はストロボ発光制御回路で、すなわちス
トロボの発光と調光を制御する回路であり、発光のため
の電荷を蓄えるための回路、発光部であるキセノン管、
トリガー回路、発光を停止させる回路、フィルム面反射
光測光回路、積分回路など既存の回路からなり、シャッ
ターユニットの先幕走行によりＯＮするＸ接点がＯＮす
ることで、ストロボの閃光を開始する。

【００１６】６は焦点検出ユニットで、後述の図１０で
説明するラインセンサ装置ＳＮＳを含む光学系の機構と
その駆動回路ＳＤＲからなる。ＳＮＳは上述のごとく２
対計４つのセンサ列ＳＮＳ−１ａ、ＳＮＳ−１ｂ、ＳＮ
Ｓ−２ａ、ＳＮＳ−２ｂから成るラインセンサ装置であ
り、駆動回路ＳＤＲからの制御信号により電荷が蓄積制
御される。このセンサ駆動回路ＳＤＲは、マイクロコン
ピュータ１からのセンサ蓄積開始信号を受け取ると、セ
ンサの蓄積を開始し、センサの蓄積レベルが一定になる
まで蓄積を行う。蓄積レベルが一定に成るとセンサの蓄
積を終了させ、センサの蓄積が終了したことをマイクロ
コンピュータ１にＤＢＵＳを介しシリアル通信する。マ
イクロコンピュータ１が、駆動回路ＳＤＲにセンサ信号
読みだし通信を行うと、センサ駆動回路ＳＤＲはライン
センサ装置ＳＮＳにセンサ駆動信号を出力し、マイクロ
コンピュータ１にラインセンサに蓄積された信号が読み
だされ、センサ駆動信号に同期してＡＤ変換を行い、Ａ
Ｄ変換された被写体の像信号から被写体が撮影レンズに
よりどの位置に焦点を結んでいるかを既存の位相差検出
法で演算によって検出するようになっている。

【００１７】７は測光回路であり、画面を複数のエリア
に分割し、各エリアの被写体の輝度をＴＴＬ測光しマイ
クロコンピュータ１に送る役目をする。

【００１８】８はシャッター制御回路であり、マイクロ
コンピュータ１の制御信号に従って不図示のシャッター
ユニットの制御を行う。

【００１９】９は給送回路であり、マイクロコンピュー
タ１の制御信号に従ってフィルム給送用モータを制御
し、フィルムの巻き上げ巻き戻しを行う。

【００２０】図１０は本実施例の焦点検出のために用い
られる光学系の概略構成を示す図である。

【００２１】この図中、ＭＳＫは視野マスクであり、中
央に十字形の開口部ＭＳＫ−１を有している。ＦＬＤＬ
はフィールドレンズである。ＤＰは絞りであり、中心部
に上下左右に一対ずつ計４つの開口部ＤＰ−１ａ、ＤＰ
−１ｂ、ＤＰ−２ａ、ＤＰ−２ｂがそれぞれ設けられて
いる。前記フィールドレンズはこれらの開口対を不図示
の対物レンズの射出瞳付近に結像する作用を有してい
る。ＡＦＬは２対計４つのレンズＡＦＬ−１ａ、ＡＦＬ
−１ｂ、レンズＡＦＬ−２ａ、ＡＦＬ−２ｂからなる２
次結像レンズであり、絞りＤＰの各開口に対応して、そ
の後方に配置されている。ＳＮＳは２対計４つのセンサ
列ＳＮＳ−１ａ、ＳＮＳ−１ｂ、ＳＮＳ−２ａ、ＳＮＳ
−２ｂから成るラインセンサ装置であり、各２次結像レ
ンズＡＦＬに対応してその像を受光するように配置され
ている。

【００２２】この図１０に示す焦点検出光学系では、撮
影レンズの焦点がフィルム面より前方に有る場合には、
左右一対のセンサ上（又は上下一対のセンサ上）に形成
される被写体像は互いに近付いた状態に成り、焦点が後
方にある場合には、被写体像は互いに離れた状態にな
る。そしてこの被写体像の相対位置変位量は撮影レンズ
の焦点外れ量と特定の関数関係にあるため、各センサ列
対でそのセンサ出力に対してそれぞれ適当な演算を施せ
ば、撮影レンズの焦点はずれ量、いわゆるデフォーカス
量を検出することができる。

【００２３】そして、以上説明した構成をとることによ
り、不図示の対物レンズにより撮影または観察される範
囲の中心付近では、光量分布が上下または左右の一方向
にのみ変化するような物体に対しても測距をすることが
できる。

【００２４】以上のような焦点検出装置等を備えた本例
のカメラにおいて行われる自動焦点調節の制御動作につ
いて以下具体的に説明する。図９に示した回路に給電が
開始されるとマイクロコンピュータ１は図１１のステッ
プ（１０１）から実行を開始してゆく。すなわちステッ
プ（１０２）において、レリーズボタンの第１段階押下
によりオンするスイッチＳＷ１の状態検知を行い、オフ
ならばステップ（１０３）へ移行し、プログラム中の変
数やＣＰＵのフラグ類を初期化し、ステップ（１０２）
に戻る。このルーチンを繰り返す途中でスイッチＳＷ１
がオンになるとステップ（１０４）へ移行し、カメラの
撮影準備動作を開始する。

【００２５】ステップ（１０４）では測光や各種スイッ
チ類の状態検知、表示等を行う［ＡＥ制御］サブルーチ
ンがコールされ実行される。［ＡＥ制御］サブルーチン
の内容は本発明と直接関わりがないので詳しい説明は省
略する。

【００２６】サブルーチン［ＡＥ制御］が終了すると、
次いでステップ（１０５）へ移行し、このステップ（１
０５）で［ＡＦ制御］サブルーチンが実行される。ここ
ではセンサの蓄積、焦点検出演算、レンズ駆動の自動焦
点調節動作が行われ、サブルーチン［ＡＦ制御］が終了
すると再びステップ（１０２）へ戻り、ＳＷ１がオフす
るまでステップ（１０４）、（１０５）が繰り返し実行
される。

【００２７】なお、上記のフローチャートでは、レリー
ズ動作の内容について記述していないが、レリーズ動作
は一般的な一眼レフカメラと同様である。

【００２８】図１２は前記ステップ（１０５）において
実行されるサブルーチン［ＡＦ制御］のフローチャート
である。

【００２９】サブルーチン［ＡＦ制御］がコールされる
と、ステップ（２０１）を経て、ステップ（２０２）以
降のＡＦ制御を実行してゆく。

【００３０】ステップ（２０２）ではＡＦモードがＯＮ
ＥＳＨＯＴモードかＳＥＲＶＯモードであるかを判定
し、ＯＮＥＳＨＯＴの場合にはステップ（２０３）へ移
行する。尚、このモードは前述の如くモードセットスイ
ッチにて予めセットされている。

【００３１】ステップ（２０３）では前回の焦点検出の
結果が合焦であったか否かを判定し、合焦であった場合
には新たな焦点検出動作を行うことなくステップ（２０
４）にてサブルーチン［ＡＦ制御］をリターンする。

【００３２】ステップ（２０３）で合焦と判定されなか
った場合や、ステップ（２０２）でＡＦモードがＳＥＲ
ＶＯモードであった場合には、新たな焦点調節動作を行
うべくステップ（２０５）へ移行する。

【００３３】ステップ（２０５）では複数の被写体領域
の焦点検出を行って各領域のデフォーカス量を検出する
サブルーチン［焦点検出］を実行する。

【００３４】図３は、サブルーチン［焦点検出］を説明
するためのフローチャート図である。サブルーチン［焦
点検出］がコールされるとステップ（Ｂ０１）を経てス
テップ（Ｂ０３）以降のステップを順次実行して行く。

【００３５】まず、ステップ（Ｂ０３）でセンサの蓄積
開始及び読みだしコマンドの設定をおこないステップ
（Ｂ０４）へ進む。

【００３６】ステップ（Ｂ０４）では補助光モードが設
定されているかどうかＡＵＸＥＦＦフラグで判定する。
ＡＵＸＥＦＦ＝１（補助光モード）の場合ステップ（Ｂ
０５）へ進み、補助光の発光を開始した後ステップ（Ｂ
０７）へ進む。ＡＵＸＥＦＦ＝０の（補助光モードでな
い）場合は、何もせずにステップ（Ｂ０７）へ進む。

【００３７】ステップ（Ｂ０７）でセンサの蓄積を開始
し、ステップ（Ｂ０９）のループへ移行し、センサの読
みだし、相関演算の処理を実行する。

【００３８】ステップ（Ｂ０９）ではセンサの読みだし
チェック及びセンサ読み出しをおこなう。この動作とし
てはまず、各センサの蓄積が終了しているかどうか判定
し、各センサのうち蓄積終了したセンサがある時、その
センサの像信号読み出しを行っていなければそのセンサ
に対して像信号の読み出しを行う。

【００３９】つぎに、相関演算チェックと相関演算を行
う。読みだしが終了したセンサに対する測距点の相関演
算が終了しているかを判定し、その測距点の相関演算を
行っていなければそれを行い、その測距点に対する相関
演算終了後ステップ（Ｂ１２）へ進む。読み出しが終了
している測距点がない場合や、読みだしが終了した測距
点全ての相関演算が終了している場合は何もせずにステ
ップ（Ｂ１２）へ進む。

【００４０】ステップ（Ｂ１２）では、最大蓄積時間の
チェックを行う。センサ蓄積が予め設定した時間（最大
蓄積時間）経過しても終了しない場合はセンサの蓄積を
強制的に終了させる。蓄積時間が最大蓄積時間に達して
いない場合は何もせずにステップ（Ｂ１６）へ進む。

【００４１】ステップ（Ｂ１６）では蓄積中にカメラの
ＳＷ１がオフされたかどうかをＳＷ１ＯＮＦで判定し、
ＳＷ１ＯＮＦ＝０すなわちカメラのＳＷ１がオフされた
場合はステップ（Ｂ３０）へ進み、蓄積終了処理を行
う。蓄積終了処理後ループをぬけステップ（Ｂ２４）へ
進む。

【００４２】ステップ（Ｂ１６）でスイッチの変化がな
く引き続きＳＷ１が押されたままならば（ＳＷ１ＯＮＦ
＝１）、ステップ（Ｂ１８）へ進み早いもの優先判定ル
ーチンを実行する。

【００４３】図４は「早いもの優先判定」サブルーチン
のフローチャートである。

【００４４】まず、ステップ（Ｈ０１）で横測距点が測
距状態にあるかどうかを示すフラグＨ ＥＮＡＢＬの判
定を行う。Ｈ ＥＮＡＢＬが１、すなわち横測距点が測
距状態にある場合はステップ（Ｈ０２）に進み、Ｈ Ｅ
ＮＡＢＬが０、すなわち横測距点が測距状態にない場合
はステップ（Ｈ１３）に進む。尚、通常このＨ ＥＮＡ
ＢＬは１にセットされているものとする。

【００４５】ステップ（Ｈ０２）では、横測距点がゴミ
で測距不能かどうかを示すフラグＨ ＧＯＭＩ２フラグの
判定を行う。Ｈ ＧＯＭＩ２フラグが１、すなわちゴミ
により測距不能の場合はステップ（Ｈ１３）へ進み、Ｈ
ＧＯＭＩ２フラグが０、すなわちゴミが無く測距可能
な場合はステップ（Ｈ０３）へ進む。

【００４６】ステップ（Ｈ０３）では、横測距点の測距
演算が終了したかどうかを示すフラグＨ ＣＬＡＥＮＤ
の判定を行う。Ｈ ＣＬＡＥＮＤが１の場合、すなわち
横測距点の測距演算が終了している場合はステップ（Ｈ
０４）へ進み、Ｈ ＣＬＡＥＮＤが０の場合、すなわち
横測距点の測距演算が終了していない場合はステップ
（Ｈ１３）へ進む。

【００４７】ステップ（Ｈ０５）では、縦測距点の測距
演算が終了したかどうかを示すフラグＶ ＣＬＡＥＮＤ
の判定を行う。Ｖ ＣＬＡＥＮＤが１の場合、すなわち
縦測距点の測距演算が終了している場合はステップ（Ｈ
１３）へ進み、Ｖ ＣＬＡＥＮＤが０の場合、すなわち
縦測距点の測距演算が終了していない場合はステップ
（Ｈ０５）へ進む。

【００４８】以上をまとめると、横測距点が測距状態に
あり、縦測距点は測距演算が終了していないが横測距点
は測距計算が終了している場合のみステップ（Ｈ０５）
へ進む。

【００４９】ステップ（Ｈ０５）では横測距点の測距デ
ータの信頼性が良いかどうかを示すフラグＨ ＦＮＣ１
ＦＬＧの判定をおこなう。Ｈ ＦＮＣ１ＦＬＧが１の場
合すなわち信頼性がなく測距に適さない場合は、ステッ
プ（Ｈ１３）へ進み、Ｈ ＦＮＣ１ＦＬＧが０の場合す
なわち信頼性が充分で測距に適す場合はステップ（Ｈ０
６）へ進む。

【００５０】ステップ（Ｈ０６）では、横測距点の被写
体像が繰り返しパターンがどうかを示すフラグＨ ＲＥ
ＰＰＴＲＮの判定を行う。Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮが１の場
合、横測距点の被写体像が繰り返しパターンである可能
性があるのでステップ（Ｈ１３）へ進み、Ｈ ＲＥＰＰ
ＴＲＮが０の場合、横測距点の被写体像が繰り返しパタ
ーンでないのでステップ（Ｈ０７）へ進む。

【００５１】ステップ（Ｈ０７）では、すでに測距点選
択を行ったかどうかを示すＳＥＬＯＮＣＥフラグの判定
を行う。ＳＥＬＯＮＣＥフラグが１、すなわち過去に測
距点選択を行った場合はステップ（Ｈ０８）へ進み、Ｓ
ＥＬＯＮＣＥフラグが０、すなわち今回初めて測距点選
択を行う場合はステップ（Ｈ１１）へ進む。

【００５２】ステップ（Ｈ１１）では、早いもの優先に
より横測距点を選択を行ったことを示すフラグ設定を行
う。すなわち早いもの優先により測距点選択を行ったこ
とを示すＦＳＴ ＣＯＭＥフラグを１に、早いもの優先
により横測距点を選択したことを示すＦＳＴ ＳＥＬＶ
フラグを０に、早いもの優先による測距点選択を行った
後、縦測距点を無効にするフラグＶ ＦＳＴＥＮを０に
する。この後ステップ（Ｈ１２）にすすむ。

【００５３】ステップ（Ｈ１２）では、図５のステップ
（Ｈ２８）ラベル名「ＨＡＹＡ ＥＸＩＴ」へジャンプ
する。

【００５４】ステップ（Ｈ０８）では、過去に選択した
測距点が縦目であることを示すＬＳＴＳＥＬフラグの判
定を行う。ＬＳＴＳＥＬフラグが１の場合、すなわち前
回縦測距点を選択した場合はステップ（Ｈ１３）へ進
み、ＬＳＴＳＥＬフラグが０の場合、すなわち前回横測
距点を選択した場合はステップ（Ｈ０９）へ進む。

【００５５】ステップ（Ｈ０９）では、ステップ（Ｈ１
１）と同様、早いもの優先により横測距点を選択を行っ
たことを示すフラグ設定（ＦＳＴ ＣＯＭＥ＝１、ＦＳ
Ｔ ＳＥＬＶ＝０、Ｖ ＦＳＴＥＮ＝０）を行い、ステッ
プ（Ｈ１０）へ進む。

【００５６】ステップ（Ｈ１０）では、図５のステップ
（Ｈ２８）ラベル名「ＨＡＹＡ ＥＸＩＴ」へジャンプ
する。

【００５７】ここまでをまとめると、早いもの優先によ
り横目を選択した場合は、ステップ（Ｈ２８）へ進み、
それ以外はステップ（Ｈ１３）へすすむ。

【００５８】ステップ（Ｈ１３）ではサーボモードかど
うかを示すＡＤＳＲＶＭＯＤフラグの判定を行う。ＡＤ
ＳＲＶＭＯＤが１の場合は、すなわちサーボモードの時
は図５のステップＨ１６へ進み、ＡＤＳＲＶＭＯＤが０
の場合は、すなわちサーボモードでない時はステップ
（Ｈ１４）へ進む。

【００５９】ステップ（Ｈ１４）では、補助光発光中か
どうかを示すＡＵＸＥＦＦフラグの判定を行う。ＡＵＸ
ＥＦＦフラグが１の場合、すなわち補助光発光中のとき
はステップ（Ｈ１５）へ進み、ＡＵＸＥＦＦフラグが０
の場合、すなわち補助光発光中でない場合は図５のステ
ップＨ１６へ進む。

【００６０】ステップ（Ｈ１５）に進むと、図５のステ
ップ（Ｈ２８）ラベル名「ＨＡＹＡ ＥＸＩＴ」へジャン
プする。これは補助光発光中に縦測距点の選択を行わな
いでサブルーチンを終了するためである。

【００６１】次に、ステップ（Ｈ１６）で縦測距点が測
距状態にあるかどうかを示すフラグＶ ＥＮＡＢＬの判
定を行う。Ｖ ＥＮＡＢＬが１、すなわち縦測距点が測
距状態にある場合はステップ（Ｈ１７）に進み、Ｖ Ｅ
ＮＡＢＬが０、すなわち縦測距点が測距状態にない場合
はステップ（Ｈ２８）に進む。尚、通常Ｖ ＥＮＡＢＬ
は１にセットされているものとする。

【００６２】ステップ（Ｈ１７）では、縦測距点がゴミ
で測距不能かどうかを示すフラグＶ ＧＯＭＩ２の判定を
行う。Ｖ ＧＯＭＩ２フラグが１、すなわちゴミにより
縦測距点が測距不能の場合はステップ（Ｈ２８）へ進
み、Ｖ ＧＯＭＩ２フラグが０、すなわちゴミが無く測
距可能な場合はステップ（Ｈ１８）へ進む。

【００６３】ステップ（Ｈ１８）では、縦測距点の測距
演算が終了したかどうかを示すフラグＶ ＣＬＡＥＮＤ
の判定を行う。Ｖ ＣＬＡＥＮＤが１の場合、すなわち
縦測距点の測距演算が終了している場合はステップ（Ｈ
１９）へ進み、Ｖ ＣＬＡＥＮＤが０の場合、すなわち
縦測距点の測距演算が終了していない場合はステップ
（Ｈ２８）へ進む。

【００６４】ステップ（Ｈ１９）では、横測距点の測距
演算が終了したかどうかを示すフラグＨ ＣＬＡＥＮＤ
の判定を行う。Ｈ ＣＬＡＥＮＤが１の場合、すなわち
横測距点の測距演算が終了している場合はステップ（Ｈ
１９）へ進み、Ｈ ＣＬＡＥＮＤが０の場合、すなわち
横測距点の測距演算が終了していない場合はステップ
（Ｈ２０）へ進む。

【００６５】ステップ（Ｈ２０）では縦測距点の測距デ
ータの信頼性が良いかどうかを示すフラグＶ ＦＮＣ１
ＦＬＧの判定をおこなう。Ｖ ＦＮＣ１ＦＬＧが１の場
合すなわち信頼性がなく測距に適さない場合は、ステッ
プ（Ｈ２８）へ進み、Ｖ ＦＮＣ１ＦＬＧが０の場合す
なわち信頼性が充分で測距に適す場合は、ステップ（Ｈ
２１）へ進む。

【００６６】ステップ（Ｈ２１）では、縦測距点の被写
体像が繰り返しパターンかどうかを示すフラグＶ ＲＥ
ＰＰＴＲＮの判定を行う。Ｖ ＲＥＰＰＴＲＮが１の場
合、縦測距点の被写体像が繰り返しパターンである可能
性があるのでステップ（Ｈ２８）へ進み、Ｖ ＲＥＰＰ
ＴＲＮが０の場合は縦測距点の被写体像が繰り返しパタ
ーンでないのでステップ（Ｈ２２）へ進む。

【００６７】ステップ（Ｈ２２）では、すでに測距点選
択を行ったかどうかを示すＳＥＬＯＮＣＥフラグの判定
を行う。ＳＥＬＯＮＣＥフラグが１、すなわち過去に測
距点選択を行った場合はステップ（Ｈ２３）へ進み、Ｓ
ＥＬＯＮＣＥフラグが０、すなわち今回初めて測距点選
択を行う場合はステップ（Ｈ２６）へ進む。

【００６８】ステップ（Ｈ２６）では、早いもの優先に
より縦測距点を選択を行ったことを示すフラグ設定を行
う。すなわち早いもの優先により測距点選択を行ったこ
とを示すＦＳＴ ＣＯＭＥフラグを１に、早いもの優先
により縦測距点を選択したことを示すＦＳＴ ＳＥＬＶ
フラグを１に、早いもの優先による測距点選択を行った
後、横測距点を無効にするフラグＨ ＦＳＴＥＮを０に
する。この後ステップ（Ｈ２７）にすすむ。

【００６９】ステップ（Ｈ２７）では、ステップ（Ｈ２
８）ラベル名「ＨＡＹＡ ＥＸＩＴ」へジャンプする。

【００７０】ステップ（Ｈ２３）では、過去に選択した
測距点が縦目であることを示すＬＳＴＳＥＬフラグの判
定を行う。ＬＳＴＳＥＬフラグが１の場合、すなわち前
回縦測距点を選択した場合はステップ（Ｈ２４）へ進
み、ＬＳＴＳＥＬフラグが０の場合、すなわち前回横測
距点を選択した場合はステップ（Ｈ２８）へ進む。

【００７１】ステップ（Ｈ２４）では、ステップ（Ｈ２
６）と同様、早いもの優先により縦測距点を選択を行っ
たことを示すフラグ設定（ＦＳＴ ＣＯＭＥ＝１、ＦＳ
Ｔ ＳＥＬＶ＝１、Ｈ ＦＳＴＥＮ＝０）を行い、ステッ
プ（Ｈ２５）へ進む。

【００７２】ステップ（Ｈ２５）では、図５のステップ
（Ｈ２８）ラベル名「ＨＡＹＡ ＥＸＩＴ」へジャンプ
する。

【００７３】ステップ（Ｈ１６）からここまでをまとめ
ると、早いもの優先により縦目を選択した場合は、フラ
グ設定を行った後ステップ（Ｈ２８）へ進み、それ以外
は何の処理もせずにステップ（Ｈ２８）へすすむ。

【００７４】ステップ（Ｈ２９）で「早いもの優先判
定」サブルーチンを終了しリターンし、図３のステップ
（Ｂ２０）へ進む。

【００７５】ステップ（Ｂ２０）ではステップ（Ｂ１
８）で早いもの優先判定により測距点が選択されたかど
うかをＦＳＴ ＣＯＭＥフラグで判定する。ＦＳＴ Ｃ
ＯＭＥ＝１ならループをぬけステップ（Ｂ２４）へ進
む。ＦＳＴ ＣＯＭＥ＝０ならステップ（Ｂ２２）へ進
む。

【００７６】ステップ（Ｂ２２）ではループの終了チェ
ックを行う。蓄積を行った全てのセンサーの相関演算が
終了したかを判定し、終了していればＪＵＭＰＦＬＧを
クリアする。ステップ（Ｂ２３）ではＪＵＭＰＦＬＧに
よりループを繰り返すか終了するかの分岐を行う。すな
わちＪＵＭＰＦＬＧ＝１の場合はステップ（Ｂ０９）に
戻りループを繰り返す。ＪＵＭＰＦＬＧ＝０の場合はル
ープをぬけステップ（Ｂ２４）へ進む。

【００７７】ステップ（Ｂ２４）では補助光の消灯処理
を行う。補助光消灯処理は補助光が発光していないとき
も悪影響がないため、補助光モードであるかどうかの判
定を行わず常に実行する。

【００７８】次にステップ（Ｂ３３）でデフォーカス計
算を行う。相関演算によって産出する値はセンサー上で
の像ずれ量なので、この値に所定の演算をほどこしデフ
ォーカス量に変換する。

【００７９】デフォーカス計算が終了するとステップ
（Ｂ４０）に進み、サブルーチン「焦点検出」をリター
ンする。

【００８０】この様にして早いもの優先にて測距点が選
択された時には選択測距点に対するデフォーカス量検知
がなされ、早いもの優先にて測距点が選択されない時に
は２つの被写体領域毎にそれぞれデフォーカス量検知が
なされた、各領域毎のデフォーカス量ＤＥＦ１、ＤＥＦ
２が得られるものとする。また、各領域について像信号
のコントラスト等から公知の方法によって焦点検出可
能、不能の判定も行われるものとする。

【００８１】次のステップ（２０６）ではサブルーチン
［ゴミ判定］を実行する。［ゴミ判定］は焦点検出系
（光学系とセンサ）中に存在するゴミのために生じる偽
の検出結果を排除するためのサブルーチンである。サブ
ルーチン［ゴミ判定］の実行を終了すると、ステップ
（２０７）へ移行する。

【００８２】ステップ（２０７）において、全てのセン
サ、すなわち総ての被写体領域が焦点検出不能であるか
否かを判断し、総てが不能であればステップ（２１４）
へ移行し、サブルーチン［サーチレンズ駆動］を実行す
る。これは被写体のコントラストが低くて焦点検出不能
となった場合に、撮影レンズを駆動させながら焦点検出
動作を実行する制御で、詳しくは特願昭６１−１６０８
２４号公報に開示されているものであるので、本発明は
説明を省略する。

【００８３】ステップ（２０７）において総ての被写体
領域が焦点検出不能でない場合には、ステップ（２０
９）へ移行してサブルーチン［センサ選択］を実行す
る。

【００８４】サブルーチン［センサ選択］は焦点検出可
能な複数の被写体領域（センサ）のなかから、最終的に
焦点調節を行うための被写体領域を選択するためのサブ
ルーチンであり、図１にフローチャートを示している。

【００８５】サブルーチン［センサ選択］がコールされ
ると、図１のステップ（Ｓ００）を経て、ステップ（Ｓ
０１）以降の処理を実行してゆく。

【００８６】ステップ（Ｓ０１）では、過去に測距点選
択を行ったかどうかを示すＳＥＬＯＮＣＥフラグの判定
を行う。ＳＥＬＯＮＣＥフラグが１の場合すなわち過去
に測距点選択を行った場合は、ステップ（Ｓ０２）に進
み、ＳＥＬＯＮＣＥフラグが０の場合はステップ（Ｓ０
５）へ進む。

【００８７】ステップ（Ｓ０２）では、前回の選択測距
点が縦測距点であることを示すＬＳＴＳＥＬフラグをク
リアし、ステップ（Ｓ０３）へ進む。

【００８８】ステップ（Ｓ０３）では、選択結果が縦測
距点であることを示すＳＥＬＬ Ｖフラグの判定を行
う。この時点でＳＥＬＬ Ｖフラグは前回の測距結果に
従って設定されたままになっているので、実質的に前回
の選択結果により分岐を行うことに成る。ＳＥＬＬ Ｖ
が０ならば（前回横測距点を選択した）ＬＳＴＳＥＬフ
ラグはステップ（Ｓ０２）でクリアされたままステップ
（Ｓ０５）へ進む。ＳＥＬＬ Ｖが１の場合は（前回縦
測距点を選択した）ステップ（Ｓ０４）へ進み、ＬＳＴ
ＳＥＬを１に設定した後、ステップ（Ｓ０５）へ進む。

【００８９】ステップ（Ｓ０５）では、早いもの優先判
定により測距点がすでに選択されたかどうかＦＳＴ Ｃ
ＯＭＥフラグ判定を行う。ＦＳＴ ＣＯＭＥ＝１の場
合、すなわち早いもの優先選択によりすでに測距点選択
がされている場合は、ステップ（Ｓ３７）へ進む。ＦＳ
Ｔ ＣＯＭＥ＝０の場合はステップ（Ｓ０９）へ進む。

【００９０】ステップ（Ｓ３７）では、ＦＳＴ ＳＥＬ
Ｖフラグの判定をおこなう。早いもの優先判定で縦測距
点を選択した場合はＦＳＴ ＳＥＬＶ＝１なのでステッ
プ（Ｓ０７）へ進み、ステップ（Ｓ０７）では縦測距点
が選択された時の処理をおこなう。ステップ（Ｓ３７）
でＦＳＴ ＳＥＬＶ＝０の時は、ステップ（Ｓ０６）へ
進み横測距点が選択された時の処理をおこなう。

【００９１】ステップ（Ｓ０７）と（Ｓ０６）の処理が
終了するとステップ（Ｓ０８）へ進み、（Ｓ０８）では
ＳＥＬＥＣＴ ＥＮＤ（ステップ（Ｓ３２））へジャン
プする。

【００９２】一方ステップ（Ｓ０５）においてＦＳＴ
ＣＯＭＥ＝０の場合、ステップ（Ｓ０９）へ進み、ステ
ップ（Ｓ０９）では、サーボモードかどうかをＡＤＳＥ
ＲＶＭＯＤフラグで判定する。ＡＤＳＥＲＶＭＯＤ＝１
の場合（サーボモードの時）は、ステップ（Ｓ１３）へ
進み、ＡＤＳＥＲＶＭＯＤ＝０の時はステップ（Ｓ１
０）へ進む。

【００９３】ステップ（Ｓ１０）では今回の測距が補助
光モードか否かをＡＵＸＥＦＦフラグで判定する。ＡＵ
ＸＥＦＦ＝１（今回の測距で補助光を発光した場合）の
時はステップ（Ｓ１１）に進み、ステップ（Ｓ１１）で
は横測距点の選択処理を行う。ステップ（Ｓ１１）の処
理が終了するとステップ（Ｓ１２）へ進みＳＥＬＥＣＴ
ＥＮＤへジャンプする。

【００９４】ステップ（Ｓ０９）でＡＤＳＥＲＶＭＯＤ
＝１の場合と、ステップ（Ｓ１０）でＡＵＸＥＦＦ＝０
の場合はステップ（Ｓ１３）へ進む。

【００９５】ステップ（Ｓ１３）では、縦測距点のデフ
ォーカス計算を行ったかどうかをＶ ＤＥＦＣＥフラグで
判定する。Ｖ ＤＥＦＣＥ＝０で縦測距点のデフォーカ
ス計算が行われなかった場合、ステップ（Ｓ１４）へ進
み横測距点選択の処理を行った後、ステップ（Ｓ１５）
でＳＥＬＥＣＴ ＥＮＤにジャンプする。

【００９６】ステップ（Ｓ１６）では、横測距点のデフ
ォーカス計算を行ったかどうかをＨ ＤＥＦＣＥフラグで
判定する。Ｈ ＤＥＦＣＥ＝０で縦測距点のデフォーカ
ス計算が行われなかった場合、ステップ（Ｓ１６）へ進
み縦測距点選択の処理を行った後、ステップ（Ｓ１７）
でＳＥＬＥＣＴ ＥＮＤにジャンプする。

【００９７】Ｈ ＤＥＦＣＥ＝１かつＶ ＤＥＦＣＥ＝
１の場合はステップ（Ｓ１８）へ進み、「繰り返し判定
解除チェック」サブルーチンを行う。「繰り返し判定解
除チェック」サブルーチンでは縦横の測距点の測距結果
から、Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮフラグ及びＶ ＲＥＰＰＴＲ
Ｎフラグのクリアを行う。Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮフラグ及
びＶ ＲＥＰＰＴＲＮフラグは測距演算中に被写体像の
形が繰り返しパターンになっている可能性がある場合に
“１”に設定されるが、縦測距点と横測距点がほぼ同じ
デフォーカス量を検出した場合は、正しく測距されたと
判定し、繰り返しパターンフラグ（Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮ
及びＶ ＲＥＰＰＴＲＮ）をクリアする。ステップ（Ｓ
１８）で「繰り返し判定解除チェック」サブルーチンの
処理が終わると、次に図２のステップ（Ｓ１９）に進
む。

【００９８】ステップ（Ｓ１９）では横測距点がゴミの
影響を受けているかどうかをＨ ＧＯＭＩ２フラグで判
定する。Ｈ ＧＯＭＩ２フラグ＝１の場合、すなわち横
測距点がゴミの影響を受けている場合はステップ（Ｓ２
０）へ進み縦測距点がゴミの影響を受けているかどうか
判定する。Ｖ ＧＯＭＩ２＝０で縦測距点がゴミの影響
を受けていなければステップ（Ｓ２１）に進み、縦測距
点選択の処理を行いステップ（２２）に進みＳＥＬＥＣ
Ｔ ＥＮＤへジャンプする。

【００９９】ステップ（Ｓ１９）でＨ ＧＯＭＩ２＝０
又はステップ（Ｓ２０）でＶ ＧＯＭＩ２＝１の場合は
ステップ（Ｓ２３）へ進む。

【０１００】ステップ（Ｓ２３）ではまず横測距点がゴ
ミの影響を受けているかどうかをＨ ＧＯＭＩ２フラグで
判定する。Ｈ ＧＯＭＩ２フラグ＝０の場合、すなわち
横測距点がゴミの影響を受けていない場合はステップ
（Ｓ２４）へ進み縦測距点がゴミの影響を受けているか
どうか判定する。Ｖ ＧＯＭＩ２＝１で縦測距点がゴミ
の影響を受けていればステップ（Ｓ２５）に進み、横測
距点選択の処理を行い、ステップ（２６）に進みＳＥＬ
ＥＣＴ ＥＮＤへジャンプする。

【０１０１】ステップ（Ｓ２３）でＨ ＧＯＭＩ２＝１
又はステップ（Ｓ２４）でＶ ＧＯＭＩ２＝０の場合は
ステップ（Ｓ２７）へ進む。

【０１０２】ステップ（Ｓ２７）では、縦横測距点の信
頼性比較演算を行う。

【０１０３】ここで信頼性の意味とフラグの対応付けを
説明する。

【０１０４】信頼性０：信頼性が非常に良く測距に適す
る。

【０１０５】信頼性１：信頼性０より悪いが、信頼性が
良く測距に適する。

【０１０６】信頼性２：信頼性やや悪い。大デフォーカ
スの時はレンズ駆動を行うが、小デフォーカスの特はＮ
Ｇ判定。

【０１０７】信頼性３：信頼性が悪く測距に適さない。

【０１０８】ここで信頼性とフラグの関係は以下のとお
りである。

【０１０９】 信頼性０：ＦＮＣ１ＦＬＧ＝０、ＦＮＣ２ＦＬＧ＝０、
ＦＮＣ３ＦＬＧ＝０ 信頼性１：ＦＮＣ１ＦＬＧ＝１、ＦＮＣ２ＦＬＧ＝０、
ＦＮＣ３ＦＬＧ＝０ 信頼性２：ＦＮＣ１ＦＬＧ＝１、ＦＮＣ２ＦＬＧ＝１、
ＦＮＣ３ＦＬＧ＝０ 信頼性３：ＦＮＣ１ＦＬＧ＝１、ＦＮＣ２ＦＬＧ＝１、
ＦＮＣ３ＦＬＧ＝１ ステップ（Ｓ２７）では信頼性１と信頼性０は区別せず
に判定を行い、この比較結果によりステップ（Ｓ２８）
とステップ（Ｓ３１）で分岐を行う。

【０１１０】ステップ（Ｓ２８）で横測距点の信頼性が
信頼性０か１で縦測距点の信頼性が信頼性０でも１でも
ない場合ステップ（Ｓ２９）へ進む。ステップ（Ｓ２
９）では横測距点の選択処理を行ってステップ（Ｓ３
２）すなわちＳＥＬＥＣＴ ＥＮＤへすすむ。

【０１１１】横測距点の信頼性が縦測距点の信頼性より
良くなかった場合はステップ（Ｓ３１）へ進む。ここで
縦測距点の信頼性が信頼性０か１で横測距点の信頼性が
信頼性０でも１でもない場合ステップ（Ｓ３０）へ進
む。ステップ（Ｓ３０）では横測距点の選択処理を行っ
てステップ（Ｓ３２）すなわちＳＥＬＥＣＴ ＥＮＤへ
すすむ。

【０１１２】ステップ（Ｓ２８）とステップ（Ｓ３１）
でそれぞれステップ（Ｓ２９）、ステップ（Ｓ３０）に
分岐しなかった場合は（信頼性に大きな差がなかった場
合）ステップ（Ｓ３８）へ進み、多数決による測距点選
択をおこなう。

【０１１３】図６は多数決による測距点選択サブルーチ
ンである。サブルーチン多数決判定がコールされるとス
テップ（Ｔ００）を経てステップ（Ｔ０２）以降のステ
ップを実行して行く。

【０１１４】ステップ（Ｔ０２）では横測距点が繰り返
しパターンかどうかをＨ ＲＥＰＰＴＲＮフラグで判定
し分岐を行う。Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮ＝１の場合はステッ
プ（Ｔ０４）へ進み、Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮ＝０の場合は
ステップ（Ｔ１０）へ進む。

【０１１５】ステップ（Ｔ０４）では縦測距点が繰り返
しパターンかどうかをＶ ＲＥＰＰＴＲＮフラグで判定
し分岐を行う。Ｖ ＲＥＰＰＴＲＮ＝１の場合はステッ
プ（Ｔ１０）へ進み、Ｖ ＲＥＰＰＴＲＮ＝０の場合は
ステップ（Ｔ０６）へ進む。

【０１１６】ステップ（Ｔ０６）を実行するのは横測距
点が繰り返しパターンで縦測距点は繰り返しパターンで
はない場合である。ステップ（Ｔ０６）では縦測距点の
選択処理を行い、ステップ（Ｔ０８）に進み、図８のス
テップ（Ｔ１９）へジャンプする（ラベル名ＣＯＭＰＡ
ＲＥ ＥＮＤ）。

【０１１７】横測距点のみが繰り返しパターンである場
合以外は、ステップ（Ｔ１０）以降のルーチンを実行す
る。ステップ（Ｔ１０）では縦測距点が繰り返しパター
ンかどうかをＶ ＲＥＰＰＴＲＮフラグで判定し分岐を
行う。Ｖ ＲＥＰＰＴＲＮ＝１の場合はステップ（Ｔ１
２）へ進み、Ｖ ＲＥＰＰＴＲＮ＝０の場合はステップ
（Ｔ１８）へ進む。

【０１１８】ステップ（Ｔ１２）では横測距点が繰り返
しパターンかどうかをＨ ＲＥＰＰＴＲＮフラグで判定
し分岐を行う。Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮ＝１の場合はステッ
プ（Ｔ１８）へ進み、Ｈ ＲＥＰＰＴＲＮ＝０の場合は
ステップ（Ｔ１４）へ進む。

【０１１９】ステップ（Ｔ１４）を実行するのは縦測距
点が繰り返しパターンで横測距点は繰り返しパターンで
はない場合である。ステップ（Ｔ１４）では横測距点の
選択処理を行い、ステップ（Ｔ１６）に進み、図８のス
テップ（Ｔ１９）へジャンプする（ラベル名ＣＯＭＰＡ
ＲＥ ＥＮＤ）。

【０１２０】どちらか片方の測距点だけが繰り返しパタ
ーンである場合以外（両方が繰り返しパターンでない
か、両方とも繰り返しパターンの場合）は、ステップ
（Ｔ１８）へ進み、ここで選択カウンタＨ ＰＲＩＯＲ
及びＶ ＰＲＩＯＲのクリアを行う。

【０１２１】次にステップ（Ｔ２０）へ進み、縦測距点
と横測距点のコントラスト比較を行う。コントラストが
大きい方が測距に適しているのでコントラストの大きい
測距点の選択カウンタをカウントアップする。ステップ
（Ｔ２２）で横測距点のコントラストが大きい場合はス
テップ（Ｔ２４）に分岐し、横測距点の選択カウンタＨ
ＰＲＩＯＲをカウントアップし、ステップ（Ｔ３０）
に進む。

【０１２２】ステップ（Ｔ２２）で横測距点のコントラ
ストが小さかった場合ステップ（Ｔ２６）へ進む。ここ
で縦測距点のコントラストが大きい場合はステップ（Ｔ
２８）に分岐し、縦測距点の選択カウンタＶ ＰＲＩＯ
Ｒをカウントアップし、ステップ（Ｔ３０）に進む。両
方の測距点のコントラストが同じであれば何もせずにス
テップ（Ｔ３０）に進む。

【０１２３】ステップ（Ｔ３０）ではフィルターの種類
の比較を行う。測距演算の過程像信号に対して第１また
は第２のフィルター処理を行うが、第１フィルターの方
が測距に適しているので、片方の測距点のみ第１フィル
ターを使用している場合はその測距点の選択カウンター
をカウントアップする。尚、このフィルターとしては像
信号に含まれるＤＣ成分をカットするディジタルフィル
ターで第１フィルターは第２フィルターより低周波帯の
ものを通過させるものとする。

【０１２４】図７のステップ（Ｔ３２）では横測距点が
第１フィルターを使用し縦測距点が第２フィルターを使
用した場合にステップ（Ｔ３４）に分岐する。ステップ
（Ｔ３４）では横測距点の選択カウンタＨ ＰＲＩＯＲ
をカウントアップした後、ステップ（Ｔ４０）に進む。

【０１２５】ステップ（Ｔ３６）では横測距点が第２フ
ィルターを使用し縦測距点が第１フィルターを使用した
場合にステップ（Ｔ３８）に分岐する。ステップ（Ｔ３
４）では縦測距点の選択カウンタＶ ＰＲＩＯＲをカウ
ントアップした後、ステップ（Ｔ４０）に進む。

【０１２６】両方の測距点が同じフィルターを使用して
いる場合は何もせずにステップ（Ｔ４０）へ進む。

【０１２７】ステップ（Ｔ４０）ではセンサーの読みだ
し時のゲイン（センサーからの信号を読み出す時のアン
プのゲイン）の比較を行う。センサーの読みだしゲイン
は被写体像の明るさや蓄積時間により決定され１倍、２
倍、４倍、８倍の４種類がある。ゲインが小さい方がよ
り測距に適している。但しゲインの差が１段しか違わな
い場合は優位さはほとんどないため、２段以上の差があ
る場合のみ比較対象とする。ステップ（Ｔ４０）でゲイ
ンに２段以上の差があるかどうかを比較し、ステップ
（Ｔ４２）、（Ｔ４４）でゲインの差があった場合の分
岐を行う。

【０１２８】ステップ（Ｔ４２）で横測距点のゲインが
２段以上よかった（ゲインが低い）場合ステップ（Ｔ４
６）へ進み、横測距点の選択カウンタＨ ＰＲＩＯＲを
カウントアップし、ステップ（Ｔ５０）に進む。

【０１２９】横目のゲインが２段以上よくなかった場合
は、ステップ（Ｔ４４）で縦測距点のゲインが２段以上
よいかどうかを判定し、よかった場合ステップ（Ｔ４
８）へ分岐し、縦測距点の選択カウンタＶ ＰＲＩＯＲ
をカウントアップし、ステップ（Ｔ５０）に進む。

【０１３０】横測距点のゲインと縦測距点のゲインに２
段以上差がなかった場合はどちらの選択カウンターもカ
ウントアップせずにステップ（Ｔ５０）に進む。

【０１３１】ステップ（Ｔ５０）では信頼性の比較を行
う。図２のステップ（Ｓ２７）では信頼性０と信頼性１
の区別を行わずに測距点選択を行ったがここでは信頼性
を更に詳しく比較する。

【０１３２】ステップ（Ｔ５２）では横測距点だけが信
頼性０の場合、ステップ（Ｔ５４）に分岐し、横測距点
の選択カウンタＨ ＰＲＩＯＲをカウントアップした後
ステップ（Ｔ６０）へ進む。横測距点のみが信頼性０の
場合以外はステップ（Ｔ５６）へ進み縦測距点のみが信
頼性０かどうかを判定する。縦測距点のみ信頼性０の時
はステップ（Ｔ５８）へ進み、縦測距点選択カウンタＶ
ＰＲＩＯＲをカウントアップし、ステップ（Ｔ６０）
へ進む。

【０１３３】横測距点の信頼性と縦測距点の信頼性が同
じだった場合はどちらの選択カウンターもカウントアッ
プせずに図８のステップ（Ｔ６０）に進む。

【０１３４】ステップ（Ｔ６０）で、前回測距を行った
かどうかを判定し、前回測距を行っていれば（ＳＥＬＯ
ＮＣＤＥ＝１の場合）ステップ（Ｔ６２）に分岐しその
結果を測距点判定に反映させる。

【０１３５】ステップ（Ｔ６２）で前回の選択測距点が
横測距点の場合（ＬＳＴＳＥＬ＝０のとき）はステップ
（Ｔ６３）へ進み、Ｈ ＰＲＩＯＲをカウントアップす
る。前回の選択測距点が縦測距点の場合（ＬＳＴＳＥＬ
＝１のとき）はステップ（Ｔ６５）へ進み、縦測距点の
選択カウンタＶ ＰＲＩＯＲをカウントアップする。カ
ウントアップ後ステップ（Ｔ６７）へ進む。

【０１３６】ステップ（Ｔ６７）では、ステップ（Ｔ２
０）〜（Ｔ６５）でカウントアップした選択カウンタの
比較を行う。横測距点の選択カウンタと縦測距点の選択
カウンタが２つ以上の差があるかどうかを判定し、差が
ある場合はステップ（Ｔ６９）とステップ（Ｔ７１）で
分岐をおこなう。

【０１３７】まずステップ（Ｔ６９）で、横測距点の選
択カウンタのカウント値が縦測距点の選択カウンタのカ
ウント値より２つ以上大きければステップ（Ｔ８０）で
横測距点の選択処理を行う。

【０１３８】横測距点の選択カウントが２つ以上大きく
なかった場合は、ステップ（Ｔ６９）に進み、縦測距点
の選択カウンタのカウント値が横測距点の選択カウンタ
のカウント値より２つ以上大きいかを判定し、大きけれ
ばステップ（Ｔ８２）で縦測距点の選択処理を行う。

【０１３９】ステップ（Ｔ８０）、（Ｔ８２）で選択処
理が終了するとステップ（Ｔ１９）ラベル名ＣＯＭＰＡ
ＲＥ ＥＮＤへ進む。

【０１４０】両測距点の選択カウンタ値に２つ以上の差
がない場合はステップ（Ｔ７３）へ進み、すでに測距点
選択が行われたかどうかを判定する。ＳＥＬＯＮＳＥ＝
１で前回測距点選択を行っている場合は、ステップ（Ｔ
７７）へ分岐し前回の選択測距点と同じ測距点を今回選
択する。すなわち前回の選択測距点が横測距点なら（Ｌ
ＳＴＳＥＬ＝０）ステップ（Ｔ９５）で横測距点選択処
理を行い、前回の選択測距点が縦測距点なら（ＬＳＴＳ
ＥＬ＝１の場合）ステップ（Ｔ９０）で縦測距点選択処
理を行う。測距点選択処理が終了するとステップ（Ｔ１
９）へ進む。

【０１４１】ステップ（Ｔ７３）で測距点の選択が過去
になされていない場合は、ステップ（Ｔ７５）へ進みデ
フォーカスの比較演算を行う。本発明の実施例では、デ
フォーカス量が正の場合は後ピン、負の場合は前ピンを
意味しており、従って検出されたデフォーカス量が大き
い方が手前にある被写体を測距していることになる。ス
テップ（Ｔ８５）では比較演算結果に基づき分岐をおこ
なう。横測距点のデフォーカス量が縦測距点のデフォー
カス量より大きい場合はステップ（Ｔ８９）へ進み、横
測距点の選択処理を行う。縦測距点のデフォーカス量が
縦測距点のデフォーカス量以上の場合はステップ（Ｔ８
７）へ進み、縦測距点の選択処理を行う。

【０１４２】測距点の選択処理が終了するとステップ
（Ｔ１９）（ラベル名ＣＯＭＰＡＲＥ ＥＮＤ）を経てス
テップ（Ｔ９９）でサブルーチン「多数決判定」を終了
し、図２ステップ（Ｓ３２）にリターンする。

【０１４３】次にステップ（Ｓ３３）へ進み“選択され
た測距点の信頼性”により分岐をおこなう。信頼性２よ
りよければ（ＦＮＣ３ＦＬＧ＝０）ステップ（Ｓ３５）
へ進み、測距点選択を行ったことを示すＳＥＬＯＮＣＥ
フラグを１にする。ステップ（Ｓ３３）で信頼性３なら
ばステップ（Ｓ３４）に進み、ＳＥＬＯＮＣＥフラグを
クリアする。これは今回の選択測距点は信頼性が良くな
いのでこの選択結果を次回に影響させないようにするた
めである。

【０１４４】ステップ（Ｓ３６）で測距点選択サブルー
チンを終了し、再び図１２に戻ってステップ（２１０）
へ移行する。

【０１４５】ステップ（２１０）では、最終的に選択さ
れたデフォーカス量に基づいて撮影レンズが合焦状態に
あるかどうかを判定する。合焦状態の場合はステップ
（２１３）へ移行して、サブルーチン［合焦表示］を実
行して、ファインダ内に合焦表示を行い、次のステップ
（２１５）でサブルーチン［ＡＦ制御］をリターンす
る。

【０１４６】ステップ（２１０）にて、合焦状態にない
と判定された場合は、ステップ（２１１）へ移行してレ
ンズ駆動を行い、次いでステップ（２１５）でサブルー
チン［ＡＦ制御］をリターンする。

【０１４７】尚、レンズ駆動に関しては本出願人による
特願昭６１−１６０８２４号公報等により開示した方法
等を用いれば良い。

【０１４８】

【発明の効果】以上のように、本発明では、被写界にお
ける第１と第２の領域からの光束を受光する第１と第２
のセンサー部と、各センサー部からのセンサー出力に対
して所定の処理を行い、各領域ごとのフォーカス状態を
それぞれ独立して検出する焦点検出手段と、第１センサ
ー部のセンサー出力または該出力に基づく信号と第２セ
ンサー部のセンサー出力または該出力に基づく信号に対
して、どちらのセンサー出力またはセンサー出力に基づ
く信号がフォーカス検知を行わせる信号として適してい
るかを複数の異なる種類の判定条件でそれぞれ各条件ご
とに判定する判定手段と、該判定手段にて判定された結
果としてフォーカス検知を行わせる信号として適してい
ると判定された条件の数が多いセンサー部を選択する選
択手段を設け、前記第１と第２の領域の内一方の領域を
フォーカス検知領域として選択するようにしたので，よ
り適正は焦点検知が行えるものである。

【０１４９】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る焦点検出装置におけるセンサー選
択サブルーチンの一部を示す説明図である。

【図２】図１とともにセンサー選択サブルーチンの一部
を示す説明図である。

【図３】焦点検出サブルーチンを示す説明図である。

【図４】早いもの優先判定サブルーチンの一部を示す説
明図である。

【図５】図４とともに早いもの優先判定サブルーチンの
一部を示す説明図である。

【図６】多数決判定サブルーチンの一部を示す説明図で
ある。

【図７】図６とともに多数決判定サブルーチンの一部を
示す説明図である。

【図８】図６，図７とともに多数決判定サブルーチンの
一部を示す説明図である。

【図９】本発明に係る焦点検出装置を有するカメラの一
実施例を示すブロック図である。

【図１０】焦点検出装置の焦点検出光学系の構成を示す
構成図である。

【図１１】図９に示したカメラの全体の動作を説明する
ための説明図である。

【図１２】オートフォーカス制御サブルーチンを説明す
るための説明図である。

【符号の説明】

１ マイクロコンピューター ２ レンズ制御回路 ６ 焦点検出ユニット

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写界における第１と第２の領域からの
   光束を受光する第１と第２のセンサー部と、各センサー
   部からのセンサー出力に対して所定の処理を行い、各領
   域ごとのフォーカス状態をそれぞれ独立して検出する焦
   点検出手段と、第１センサー部のセンサー出力または該
   出力に基づく信号と第２センサー部のセンサー出力また
   は該出力に基づく信号に対して、どちらのセンサー出力
   またはセンサー出力に基づく信号がフォーカス検知を行
   わせる信号として適しているかを複数の異なる種類の判
   定条件でそれぞれ各条件ごとに判定する判定手段と、該
   判定手段にて判定された結果としてフォーカス検知を行
   わせる信号として適していると判定された条件の数が多
   いセンサー部を選択する選択手段を設け、前記第１と第
   ２の領域の内一方の領域をフォーカス検知領域として選
   択することを特徴とする焦点検出装置。