JP3069117B2 - 光記憶装置用光学装置 - Google Patents

光記憶装置用光学装置

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JP3069117B2
JP3069117B2 JP2132402A JP13240290A JP3069117B2 JP 3069117 B2 JP3069117 B2 JP 3069117B2 JP 2132402 A JP2132402 A JP 2132402A JP 13240290 A JP13240290 A JP 13240290A JP 3069117 B2 JP3069117 B2 JP 3069117B2
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    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は光記憶システム及び光磁気記憶システムに
関し、特に光による記録あるいは検索（リトリーブ）の
ために情報記憶媒体に集束光ビームを当てるための光学
アセンブリの構成部分に関する。
〔従来技術およびその問題点〕
情報記憶システム、特にコンピュータシステムと共に
使用される記憶システムは、通常、データを例えば回転
磁気ディスクまたは光ディスク等いくつかの形態の記憶
媒体上に磁気的にあるいは光学的に記憶する。そのよう
な記憶媒体には、記録及び検索のみのために用いられる
文書ファイルやコンピュータ出力メモリ等のための情報
記憶媒体もあれば、情報の記録、検索及び消去が可能な
媒体もある。磁気ディスクであれ光ディスクであれ、こ
れらの媒体に記憶されるデータは一連のトラックの中に
入れられる。これらのトラックはディスクの中心の回り
に螺旋状または同心円状に形成され、その数はディスク
片面当たり数1000本にも達する。このトラック総数、従
ってディスクの記憶容量はディスクの直径と磁気記録か
光記録か等、データの記録方法によって決まる。
磁気記録でも光磁気記録でも、情報は所与のトラック
沿いの所与の点における記憶ディスクの磁場を配向する
ことによりその上に記憶される。ディスクに対してデー
タの記録（書き込み）、アクセス及び読み取りを行うた
めには、磁気記録の場合は読書きヘッドまたはトランス
デューサを、光磁気記録の場合は少なくとも対物レンズ
よりなる光学アセンブリを回転中の記憶ディスクの表面
沿いに総じて半径方向の経路に沿って移動させる。この
トランスデューサまたは光学アセンブリの半径方向の移
動は、ヘッドの位置決めにリニアクチュエータを用いる
かロータリーアクチュエータを用いるかによって直線経
路または円弧経路を辿って行われる。
光磁気記憶装置では、データは適宜の材料のサブスト
レートに蒸着された薄膜上で記録消去が行われる。この
ような光磁気記録にあって、情報は例えばＮ極アップ
（上）かまたはＮ極ダウン（下）の２つの可能な配向の
向きのどちらかにより記憶媒体の表面に垂直に配向され
た一連の磁区の形でコード化され記憶される。データが
消去されたトラックではすべての磁化領域または磁区が
一方の向きに揃えて配向されている。通常、光磁気記憶
媒体上において磁区を例えばＮ極ダウンからＮ極アップ
に反転させるあるいはひっくり返すのに必要な力、即ち
保磁力は媒体の温度によって大きく変化する。室温で
は、磁区をを反転させるのに必要な保磁力は非常に大き
く、従って非常に大きな磁石が必要になる。約150℃で
は磁区を反転させるのに必要な保磁力は格段に小さくな
り、電磁石をも含め通常の磁石で磁区をひっくり返すあ
るいは反転させることが可能となる。
記憶操作時には、光磁気記憶システムの場合、集束レ
ーザビームを用いて磁場内にある記録媒体上の選択され
た局材的スポットを加熱する。このようにして記録媒体
上の一点を加熱することができ、これによって情報を書
き込むのに必要な保磁力を低下させ、磁石はそれによっ
て発生する磁束の向きに応じて磁区の配向を局所的に反
転させることによって所望の情報を記録する。レーザビ
ームがオフになると、その前に加熱された媒体上のスポ
ットが冷え、その磁区を所望の配向状態に「凍結（フリ
ージング）」する。このように記録された情報を消去す
るには上記のプロセスを逆にするだけでよい。即ち、媒
体上の各点をレーザビームによって加熱し、磁石が発生
する磁束の向きを各磁区の配向を元に戻すかまたは反転
させるような向きにする。
光読書き装置及び光磁気読書き装置にあっては、光ビ
ームをデータ記憶媒体を当てる光学アセンブリが用いら
れる。この種の光学アセンブリは厳密に定められた数多
くの条件を満たされなければならず、これらの条件 の故にカメラ、顕微鏡等の通常の光学機器に比較して高
精密装置として区別される。この光学アセンブリでは、
一般に半導体レーザまたは他の適当な光源により発生す
るレーザビームを対物レンズによって記憶媒体上に集束
させる。このレーザビームは記憶媒体で反射させてもこ
れを透過させてもよい。媒体で反射させる場合は、反射
レーザビームは再度対物レンズを通過して光検出器また
は他の適宜の検出器により検出される。検出された信号
は処理されてその中に含まれる情報が抽出される。この
光学アセンブリが持つもう一つの機能はトラッキング信
号及び集束（focusing）信号を得ることである。一般
に、従来技術によるこの種の光学アセンブリは、集束用
サーボ機構を具備して対物レンズの集束状態（合焦点状
態）を検出し維持すると共に、トラッキングサーボ機構
を具備してトラッキングガイドを検出し、これによって
対物レンズに常時所望のトラックを追尾させるようにな
っている。このような従来の典型的な光学アセンブリ
は、部品の数が多数に上ると共に、複雑な組立て及び調
製作業が必要であり、また重くて嵩張るという問題があ
る。
1988年11月８日に発行された「異なる曲率半径を有す
る半導体を用いた光学ヘッド用の集束・トラッキング検
出装置」という名称の米国特許第4,783,589号には光メ
モリ用の光学アセンブリが開示されている。この特許に
開示されている光学アセンブリは、光ビームを光記憶媒
体に入射するよう導く光学手段及び光記憶媒体で反射さ
れた光ビームを第１及び第２の光ビームに分離する手段
を有する。この光学アセンブリは、さらに異なる曲率半
径を有してそこから第１及び第２の光ビームが放射され
る第光ビーム放射面及び第２光ビーム放射面を有してい
る。上記特許の光学アセンブリは他の従来技術の光学ア
センブリよりも小型で嵩張らないが、第１及び第２光ビ
ーム放射面の曲率半径を異ならせると共に、これより放
射される第１及び第２光ビームを集束（収束）させるの
に別途レンズを必要とする等、複雑である。
〔発明の概要〕
この発明の原理は、光記憶媒体または光磁気記憶媒体
の表面に入射するように光ビームを導く可動対物レンズ
アセンブリに平行光（コリメート）ビームを入射させる
固定光学アセンブリを用いることにある。この発明の固
定光学アセンブリは、第１の平面及び第２の平面により
形成される光学的に透明なウェッジ（楔）体を有する。
このウェッジ体の第１の平面（第１ウェッジ面）は楕円
光ビームのアナモルフィック拡大及び方向再設定（redi
rection）を行ってほぼ円形（断面）の平行光ビームを
生じさせると共に、媒体ディスクから反射された光ビー
ムの一部の方向再設定をも行う。第２ウェッジ面は、媒
体表面で反射した戻り光ビームをデータビームとトラッ
キング／集束ビーム即ちサーボビームとに分割するビー
ムスプリッタをなす２つの表面の中の１つである。固定
光学アセンブリは、さらに、データ及びトラッキング／
集束エラー信号を発生する手段を有する。光学アセンブ
リの主要光学部品はウェッジプリズムアセンブリ内で互
いに接着されて一体のユニットを形成している。このウ
ェッジプリズムアセンブリ、付属のレンズ、検出手段及
び光源は適宜のハウジング内に取り付けられて、小型で
軽量なユニットをなしている。この発明の透明ウェッジ
体は、その第１の表面でサーボビーム反射とアナモルフ
ィック拡大を行う一方、第２の表面はサーボビーム用の
偏光ビームスプリッタ及び出口窓の一部として作用する
ため、他の光学部品を用いる必要がなくなり、またそれ
らの部品の位置合わせや取り付けの手間が不要となる結
果、コスト低減及び小型化、軽量化が達成され、複雑さ
も緩和することができる。さらに、別個の光学部品を透
明な屈折率整合用セメントを用いて互いに接着するた
め、いくつかの反射防止コーティングの必要性がなくな
り、なおかつ光学アセンブリを取り付けるハウジングと
は独立の光学部品間に安定な関係を保つことができる。
そのため、光学部品間のアライメント（位置整合性）を
従来の光学アセンブリに共通して見られる同様の材料を
用いた拡大構造の場合に比べてより容易にかつ正確に維
持することができる。
〔実施例の詳細な説明〕
第１図には、平行光ビーム21をもしくは光磁気記憶デ
ィスク19に入射させる光学システムが示されている。こ
の光学アセンブリ11は２つのアセンブリ、即ち比較的嵩
張って重く且つ電気的により複雑な構成要素を有する固
定光学アセンブリと、光のスポットを記録媒体上に集束
させると共に必要に応じてこのスポットを半径方向及び
磁区方向に移動させる軽くて堅牢な可動光学アセンブリ
に分割される。この実施例では上記のような分割構造を
用いたが、これら２つつのアセンブリを単一の可動光学
アセンブリにまとめることも可能である。平行光ビーム
21を生じる固定光学アセンブリ11は記憶システムのフレ
ームまたはベース（図示省略）に取り付けられている。
対物レンズ25及びミラー23が取り付けられている可動光
学アセンブリ即ちニアアクチュエータ13は光ビームスポ
ット27を記録ディスク19上に集束させる。アクチュエー
タ13は、シーキング（探索）指令及びトラッキング指令
に応動してレール15沿いにローラ17に乗って横方向に移
動し、ビームスポット27をディスク19を横切って半径方
向経路沿いに移動させる。第１図にはリニアアクチュエ
ータ13を用いた光学システムが示されているが、この光
学システム10でリニアアクチュエータ13に代えてロータ
リーアクチュエータを用いることも可能である。記録デ
ィスク19は、通常は、外部モータ（図示省略）により駆
動されてディスクを回転させる主軸に固定されている。
また、固定光学アセンブリ11は、通常、光源及び必要な
検出器を具備している。アクチュエータ13、対物レンズ
25、ミラー23及び電気的、機械的構成部品を制御するた
めの電子回路群はこの発明の要部をなすものではなく、
従ってこれ以上の説明は省略する。
第２図には、固定光学アセンブリ11の構成及びウェッ
ジプリズムアセンブリ９を通る光ビームの伝播経路が描
かれてる。ウェッジプリズムアセンブリ９は、光学的に
透明なウェッジ体31、この透明ウェッジ体31の面Ｂに接
着された底角45゜の直角二等辺三角形プリズム（直角プ
リズム）33、この直角プリズム33の出口面42に接着され
た菱形状プリズム43、このプリズム43の面46に接着され
た上記プリズム33より小さい直角プリズム44、それぞれ
プリズム43及び44の出口に接着された２つの平凸レンズ
45及び47で構成されている。これらの平凸レンズ45及び
47は各々の凸面に光学的コーティングをしておかなくて
もよい。ウェッジプリズムアセンブリ９の各光学部品は
各々の隣合う光学部品に透明な光学セメントを用いて接
着または接合されている（この接着用としては例えばノ
ーランド・カンパニー社が製造しているような透明な屈
折率整合要セメントが好適である）。半導体レーザのよ
うな光源37は発散性の楕円光ビームを放出し、その光ビ
ームはコリーメーティングレンズ35で集光されて平行光
ビーム22に変換される。平行光ビーム22はウェッジ体31
の表面Ａに入射し、そこでビーム22の一部22′は反射さ
れて系外に失われ、他の一部21は表面Ａを透過する。光
ビーム22が入射しウェッジ体31へと透過する表面Ａのこ
の部分は、入口窓を定める。この表面Ａは光ビーム22の
アナモルフィック拡大を行って円形平行光ビーム21を生
じさせる。この円形平行光ビーム21はプリズム33を通
り、第１図に示すように対物レンズ25に入り、そこでデ
ィスク19上に集束される。光ビーム21はディスク19で反
射され逆に再びプリズム33へもどる。プリズム33はウェ
ッジ体31の表面Ｂ及び多層薄膜状の光学的コーティング
と組合わさって偏光ビームスプリッタを形成してお
り、、ディスク19より反射された光ビーム21はここでデ
ータビーム34とトラッキング／集束ビームまたはサーボ
ビーム32に分割される。サーボビーム32はウェッジ体31
の表面Ｂを通ってウェッジ体31の表面Ａの内側に入射
し、そこで出口窓36の外部へ反射され、さらにサーボレ
ンズ39を通ってサーボ検出器49に達する。サーボビーム
32がウェッジ体31から出る表面Ｂのこの部分は、出口窓
36を定める。データビーム34はプリズム33の上面42によ
り形成される出口窓を通ってプリズム43及び44に入る。
プリズム43及び44は表面46の多層薄膜状の光学的コーテ
ィングと共に第２の偏光ビームスプリッタを形成し、デ
ータビーム34を２つの相補形データビーム34aと34bに分
割し、これらの相補形ビームを平凸レンズ45及び47を通
してデータ検出器アセンブリ51へ導く。
次に第3a図、第3b図及び第4a図、第4b図を参照しつつ
説明すると、ウェッジ体31はＡ及びＢで示す２つの平面
より形成される楔状の六面体をなす光学的に透明な光学
ガラス製プリズムよりなる（このための材質としては等
級Ａの細密なましガラスBK−７が好適である）。表面Ａ
はここに入射する光ビーム22のアナモルフィック拡大を
行うと共に、ウェッジ体31及びその表面Ｂを透過するビ
ーム22の方向を入射方向より変化させる。表面Ｂ透過後
のビーム21の方向の制御はプリズム33のような別の要素
を表面Ｂに取り付けることにより行うことができる。表
面Ｂに薄膜状の光学的コーティングを施すかあるいはプ
リズム33を取り付けると、偏光ビームスリッタが形成さ
れ、対物レンズ19より反射された光ビーム21は表面Ｂで
の部分反射によって２つのビーム成分、即ちデータビー
ム34とサーボビーム32に分けられる。サーボビーム32は
表面Ａの内面での反射により表面Ｂへの入射ビーム21と
異なる方向へ分離される。表面Ｂの一部はサーボビーム
32の出口窓としても用いられ、この出口窓の部分はサー
ボビーム32が表面Ｂからほぼブルースター角（偏光角）
で出てゆくように形成されている。
符号53で示す二面角、即ちウェッジ体31の表面ＡとＢ
の延長部がなす角は次の（１）及至（４）に影響を及ぼ
す：（１）表面Ａのアナモルフィック拡大率；（２）表
面Ａの反射率；（３）表面Ｂの出口窓36へのサーボビー
ム32の入射角度（この角度はサーボビーム32が出口窓36
をほぼブルースター角で透過するよう設定される）；及
びウェッジ体31とプリズム33の間の界面における表面Ｂ
でデータビーム34が反射される角度。この実施例におい
て、二面角53は楕円光ビーム22により円形光ビーム21を
得ることができるように、且つサーボビーム32の表面Ｂ
における入射角がほぼブルースター角となるように最適
化される。（ブルースター角では、Ｐ−偏光の反射分は
消失するので、表面Ｂへの反射防止コーティングの必要
性はなくなる。） 次に第4b図において、戻り光ビーム21のサーボビーム
32の部分をスネルの法則を用いて解析すると、二面角α
（53）を計算し、最適化するための式が得られる。ここ
では、幾何学的説明を簡素化するため、表面Ｂでの戻り
光ビーム21の入射角を45゜に取る。すると、スネルの法
則より、 sinθｔ=ηsinθｉ=nsin(45゜-α) ここで、 θｉ=45゜-α= 表面Ａでの入射角 θｔ=表面Ａでの透過角 そして、 θt′=sin-1(nsin(45゜-２α)) θit′=45゜-２α= 表面Ｂでの入射角 θｔ′＝45゜−２α＝表面Ｂでの透過角 フレネルの反射率方程式より： また、アナモルフィックス拡大については： 但し、 RA＝表面Ａでの反射率 RB＝表面Ｂでの反射率 また、 AA＝表面Ａでのアナモルフィック拡大係数 AB＝表面Ｂでのアナモルフィック縮小係数 式及至を式及至に代入すると、ウェッジの二
面角αの陽関数としてRA,RB,AA及びABに関する４つのパ
ラメータ設計方程式の組が得られる。
次に第５図及び第６図において、第５図はウェッジ体
の二面角α（第３図（ｂ）に符号53で示す。例えば6.08
゜）と上記方程式及びによりそれぞれ定義される表
面Ａ及びＢでの反射率RA,RBとの関係を示すグラフであ
る。また、第６図はウェッジ体の二面角αと上記方程式
及びによりそれぞれ定義される表面Ａ及びＢでのア
ナモルフィック拡大係数AA及びアナモルフィック縮小係
数ABとの関係を示すグラフである。
次に、第７図には発明の原理に従って構成された固定
光学アセンブリ11（第１図参照）が示されている。ウェ
ッジプリズムアセンブリ９（第２図参照）は、六面体の
楔形状の光学的に透明なプリズム31とその表面Ｂの下部
にセメント接合された直角二等辺三角形プリズム（直角
プリズム）33を有する。プリズム33は損失及びサーボ検
出器49へのスプリアス反射を防止するために反射防止コ
ーティングされた出口窓42を有する。プリズム33の斜辺
の面は低減光性偏光ビームスプリッタの形成をするよう
にコーティングされている。この低減光性コーティング
は適宜の量の反射光ビームをＳ−偏光状態およびＰ−偏
光状態で反射してデータビーム34をデータ検出器アセン
ブリ51へ供給する。プリズム33の出口窓及び斜辺に用い
られている薄膜の光学的コーティングは、どちらも、そ
のコーティングによりＳ−偏光状態とＰ−偏光状態の間
の位相ずれを調節して光学ヘッドで補償用複屈折エレメ
ント（位相補償エレメント）を用いなくても済むように
すべく選択される。菱形プリズム43と第２の直角プリズ
ム44は界面46でセメント接合されている。プレズム44及
び界面46近傍のプリズム43は多層薄膜コーティングと共
に高減光性ビームスプリッタを形成し、これによってデ
ータビームを２つの相補形ビーム34aと34bに分割し（第
２図参照）、これらのビームはデータ検出器アセンブリ
51によって検出される。プリズム43の残りの部分は台形
プリズムを形成し、この台形プリズムは反射データビー
ム34bを逆に透過データビーム34の平面へ折り返す。折
り返しミラー40の光学的コーティングはこの面では全内
部反射が行われるので不必要である。ビームスプリッタ
アセンブリ43,44はウェッジアセンブリ31,33の直交軸に
対して45゜の角度でプリズム33の出口窓（上面42）に取
り付けられ、接合され、これによって上記の如く作り出
された２つのデータビーム34a,34bを適切に分離するよ
うになっている。ビームスプリッタ43,44を軸を45゜回
転させて取り付けることによってデータビーム34の偏光
面を回転させるのに半波補償器プレート（1/2wavecompe
nsator plate）を用いる必要がなくなり、その結果コス
ト低減及び複雑さの軽減が可能となり、かつ性能余裕を
改善される。プリズムアセンブリ43,44の出口面には一
対の平凸レンズ45,47が取り付けられており、相補形デ
ータビーム34a,34bをデータ検出器アクティブ51へ導
き、集束させる。
ウェッジプリズムアセンブリ９は外囲またはハウジン
グ50の内面57に取り付けられ、セメント接合されてい
る。ハウジング50は通常の金属鋳物または金属成形物あ
るいはプラスチックで形成され、光学ヘッドの光学部品
及びその他の部品をすべて互いにアライメント関係及び
適正な関係に維持する。ウェッジアセンブリの各構成部
分は互いにセメントまたはその他の手段により接着され
ているので、ハウジング50に要求される構造上の条件は
ハウジングが主要光学部品のアライメント及びこれらの
間の位置関係をも維持することが要求される場合に比べ
て大幅に軽減される。また、ハウジング50はコリメーテ
ィングレンズ35及びサーボレンズ39用の取付けブラケッ
ト41の取付け場所としても用いられる。コリメーティン
グレンズ35は市販のもので、光源37より放出された発散
性の楕円光ビームを平行光ビームに変換する。光源37は
市販の標準的なダイオードレーザよりなり、コリメーテ
ィングレンズ35と反対側のハウジング50の外面55に取付
けられている。ハウジング壁にはレーザビームをコリメ
ーティングレンズ35へ通過させるための開口部が設けら
れている。このレーザの発散性遠視野放射パターンの縦
横比はウェッジ体31のアナモルフィック表面（表面Ａ）
の拡大比に整合されており、これによってウェッジ31か
ら出てくる光ビーム21が公称円形となるようにしてあ
る。ハウジング50には、透過光ビーム及び反射光ビーム
21がハウジング50の内外に出入することができるようウ
ェッジアセンブリプリズム33の面26に対向する壁部ある
いは角隅部に開口部28が形成されている。サーボレンズ
39は市販のもので、ハウジング50の内部にブラケット41
により取り付けており、サーボビーム32をサーボ検出器
49へ導き、集束させる。サーボ検出器49はサーボレンズ
39の反対側のハウジング50の外面59に取り付けられてい
る。サーボビーム32をサーボ検出器49に入射させること
ができるように、ハウジング50の壁を貫通させて開口部
（図示省略）がもうけられている。サーボ検出器アセン
ブリ49はトラッキング／集束エラー信号を発生する。こ
の点の技術に関しては、いくつかのある周知のサーボ検
出技術の中のどれでも任意に用いることができる。デー
タ検出器アセンブリ51は一対の平凸レンズ45及び47と反
対側のハウジング50の外面59に取り付けられている。ま
たデータビーム34a,34bをデータ検出器に入射させるこ
とができるようにハウジング壁には開口部（図示省略）
が設けられている。このデータ検出器アセンブリも従来
型のもので、データビームの変化する偏光状態より生じ
るデータ信号毎に２つの検出器を有する。
〔効 果〕
本発明は、以上のように構成され、作用するものであ
るから、上記した課題を達成しうる光記憶装置用光学装
置を提供することができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例に係り、第１図は、本発明による
光学装置の概要を示す図である。 第２図は、第１図の固定光学アセンブリの配置を示す図
である。 第3a図は、楔形光学透明体の斜視図である。 第3b図は、第3a図の楔形光学透明体の平面図である。 第4a図及び第4b図は、第3a図に示す楔形光学透明体を通
る光線の入射及び反射の経路を示す図である。 第５図は、第３図ａ図及び第3b図に示す楔形光学透明体
の角度αと、面Ａ及びＢ面におけるリフレクタンスとの
関係を表すグラフを示す図である。 第６図は、第3a図及び第3b図に示す楔形光学透明体の角
度αと、面Ａにおけるアナモルフィック拡大率・面Ｂに
おけるアナモルフィック縮小率との関係をそれぞれ表す
グラフを示す図である。 第７図は、固定光学アセンブリの構造を示す斜視図であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 バーナード・ダブリュ・ベル，ジュニア アメリカ合衆国アイダホ州ボイジィ ウ インステッド・プレス 6065 (72)発明者 デイビッド・ケイ・トーナー アメリカ合衆国アイダホ州ボイジィ グ ラシャー・ドライブ 6705 (56)参考文献 特開 平２−185726（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/135

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】下記（ａ）ないし（ｄ）の特徴を有する、
    光学的記録媒体上に情報記録を行い又はそれから情報再
    生を行うための光記憶装置用光学装置。 （ａ）光学アセンブリ（９）を具備する。該光学アセン
    ブリは、第１の光学表面（Ａ）と該第１の光学表面に対
    向する第２の光学表面（Ｂ）とを具備している。該第１
    の光学表面と第２の光学表面とのなす角度は、角度αに
    なっている。 （ｂ）光源（37、35）を具備する。該光源は、コリメー
    ト光ビーム（22）を発生するものであって、該光ビーム
    は、ある角度で前記第１の光学表面（Ａ）に入射する。 （ｃ）前記コリメート光ビーム（22）は、前記第１の光
    学表面（Ａ）を透過して前記光学アセンブリの中に入
    り、前記第２の光学表面（Ｂ）の第１の位置から出て、
    前記記録媒体へ向う。該記録媒体から反射された戻りの
    光ビーム（21）は、前記第２の光学表面（Ｂ）に入射
    し、該第２の光学表面を透過して、前記第１の光学表面
    の内面に反射され（32）、前記第２の光学表面の第２の
    位置（36）から出る。 （ｄ）前記角度αは、所定の値に設定されている。この
    値は、前記第１の光学表面の外面に入射する前記コリメ
    ート光ビームのアナモルフィック拡大係数と、前記戻り
    の光ビームの前記第１の光学表面の内面からの反射の角
    度と、該反射された前記戻りの光ビームが前記第２の光
    学表面の前記第２の位置に入射する角度とに関係する。
    この入射角度は、ブルースター角となっている。
  2. 【請求項２】下記（ａ）ないし（ｃ）の特徴を有する、
    請求請１に記載の光記憶装置用光学装置。 （ａ）三角プリズム（33）を具備する。 （ｂ）前記三角プリズムは、入射面と出射面と斜面とを
    有し、前記第２の光学表面に前記第１の位置に隣接す
    る。該三角プリズムには、多層薄膜光学コーティングが
    施されており、該コーティングは、ビーム・スプリッタ
    ・インタフェースを形成する。該ビーム・スプリッタ・
    インタフェースは、前記戻りの光ビームをデータビーム
    （34）とサーボビーム（32）とに分ける。 （ｃ）前記ビーム・スプリッタ・インタフェースに反射
    された前記データビームは、前記出射面から出る。前記
    ビーム・スプリッタ・インタフェースを透過した前記サ
    ーボビームは、前記光学アセンブリの第２の光学表面
    （Ｂ）に入り、前記第１の光学表面（Ａ）に入射して該
    内面で反射され（32）、前記第２の光学表面の前記第２
    の位置（36）を透過する。
  3. 【請求項３】下記（ａ）及び（ｂ）を具備する、請求請
    ２に記載の光記憶装置用光学装置。 （ａ）データ検出手段（51）。該データ検出手段は、前
    記データビームを受け、データ信号を発生する。 （ｂ）サーボ検出手段（49）。該サーボ検出手段は、前
    記サーボビームを受け、サーボ・エラー信号を発生す
    る。
  4. 【請求項４】下記（ａ）ないし（ｅ）の特徴を有する、
    光学記録媒体から反射された光ビームからデータビーム
    及びサーボビームを発生させるための光学装置。 （ａ）ハウジング（50）を具備する。前記光学アセンブ
    リの各光学部品は、該ハウジングの所定位置に設置され
    る。 （ｂ）光学プリズム・アセンブリを具備する。 （ｂ−１）該光学プリズムアセンブリは、楔形の概形を
    有しかつ６面を有する楔形プリズム（31）を具備する。
    該楔形プリズムは、互いに対向し、かつ、所定の二面角
    αをなす第１の光学表面（Ａ）と第２の光学表面（Ｂ）
    とを有する。前記楔形プリズムは、前記第１の光学表面
    と前記第２の光学表面とに所定の角度をなす基面を有す
    る。 （ｂ−２）前記光学プリズム・アセンブリは、第１の三
    角プリズム（33）を具備する。該第１の三角プリズム
    は、前記基面に合う位置で前記第２の光学表面（Ｂ）に
    密着する。該第１の三角プリズムは、入射面と出射面と
    斜面とを有し、前記斜面が前記楔形プリズム（31）の前
    記第２の光学表面（Ｂ）に接着されている。該接着され
    た両表面の少なくとも一方には、コーティングが施さ
    れ、第１のビームセプリッタが形成される。 （ｂ−３）前記光学プリズム・アセンブリは、長斜方形
    プリズム（43）を具備する。該長斜方形プリズムは、前
    記第１の三角プリズムの出射面に接着される。該長斜方
    形プリズムは、入射面と出射面と、それら２つの面に対
    し直交しない他の２つの面とを形成する。該入射面は、
    前記第１の三角プリズムの出射面に密着する。 （ｂ−４）前記光学プリズム・アセンブリは、第２の三
    角プリズム（44）を具備する。該第２の三角プリズム
    は、出射面と斜面とを具備する。該斜面は、前記長斜方
    形プリズムの前記他の２つの面の一方に密着する。該他
    の２つの面の一方は、前記第１のビームスプリッタから
    反射され、前記長斜方形プリズムに入った光ビーム第１
    の入射面を形成する。前記密着した面の少なくとも一方
    には、コーティングが施され、第２のビームスプリッタ
    が形成される。 （ｂ−５）前記光学プリズム・アセンブリは、前記ハウ
    ジング基面上に設置される。 （ｃ）光ビームを発生する光源（37、35）を具備する。
    該光源は、前記ハウジング上に設置される。 （ｄ）データ検出手段（51）を具備する。該データ検出
    手段は、データビームを受けて、データ信号を発生す
    る。 （ｅ）トラッキング及びフォーカス検出手段（49）を具
    備する。該トラッキング及びフォーカス検出手段は、サ
    ーボビームを受けてトラッキング及びフォーカスエラー
    信号を発生する。
  5. 【請求項５】前記長斜方形プリズム（43）と、前記第２
    の三角プリズム（44）とは、前記楔形プリズム（31）の
    直交軸に対し所定の設置角度を有するものであることを
    特徴とする請求項４に記載の光学装置。
  6. 【請求項６】前記所定の設置角度は、45度であることを
    特徴とする請求項５に記載の光学装置。
  7. 【請求項７】前記光源は、前記ハウジングの外側に設置
    されるものであることを特徴とする請求項５又は６に記
    載の光学装置。
  8. 【請求項８】前記二面角αは、6.08度であることを特徴
    とする請求項１又は２又は３又は４又は５又は６又は７
    に記載の光学装置。
  9. 【請求項９】下記（ａ）ないし（ｅ）の特徴を有する、
    光学記録媒体から反射された光ビームからデータビーム
    及びサーボビームを発生させるための光学装置。 （ａ）光学プリズムを具備する。該光学プリズムは、互
    いに対向する第１の光学表面と第２の光学表面とを有す
    る。該第１の光学表面と第２の光学表面とは、所定の角
    度をなす。 （ｂ）ビーム・スプリッタ手段を具備する。該ビーム・
    スプリッタ手段は、ビーム・スプリッタ・インタフェー
    スを前記第２の光学表面の第１の位置に形成する。 （ｃ）前記記録媒体から反射された戻りの光ビームは、
    データビームおよびサーボビームとを含む。それらの一
    つは、前記ビーム・スプリッタ・インタフェースで反射
    され、もう一つは、前記ビーム・スプリッタ・インタフ
    ェースを透過する。 （ｄ）前記サーボビームは、前記第１の光学表面の内面
    に入射し反射され、前記第２の光学表面の第２の位置か
    ら出る。 （ｅ）コリメート光ビームを前記第１の光学表面に導く
    手段。
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