JP3046688B2 - チップマウンター - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子素子供給装置から
電子素子をヘッドにより吸引保持して基板上の予め決め
られた位置に該電子素子を設置するチップマウンターに
関する。
電子素子をヘッドにより吸引保持して基板上の予め決め
られた位置に該電子素子を設置するチップマウンターに
関する。
【０００２】
【従来の技術】基板上に、例えばダイオード、抵抗やＬ
ＳＩ等の電子素子を予め決められた位置に自動的に設置
する所謂チップマウンターが知られており、このチップ
マウンターを示したのが図６である。同図において、符
号１は基板を示しており、この基板１は基板を水平状態
に支持する支持手段１’のベルトコンベヤによりチップ
マウンター上の所定位置に移送される。この基板１上方
には、図におけるＸ方向に摺動可能なＸ移動腕３ａと、
このＸ移動腕３ａ上を図におけるＹ方向に摺動可能なＹ
移動腕３ｂとからなる移動腕３が設けられており、この
移動腕３には電子素子を吸引し、この吸引保持した電子
素子を基板１上に設置するヘッド２が備えられている。
基板１の近傍には、電子素子供給装置４が複数個、基板
１を挟むようにして所定位置に配置されている（図にお
ける基板１後方側の電子素子供給装置４は図が煩雑にな
るため図示せず）。この電子素子供給装置４は所謂テー
プフィーダと称されるもので、このテープフィーダ４に
は部品リール４ａが支持されており、この部品リール４
ａには、例えばダイオード、抵抗等の電子素子が所定間
隔をおいて巻装され、この部品リール４ａからテープフ
ィーダ４にそれぞれの電子素子を送り出せるようになっ
ている。この部品リール４ａを支持するテープフィーダ
４はチップマウンターに対して着脱可能であり、複数個
並んで配置されている。この複数個のテープフィーダ４
は別の種類の電子素子供給装置、所謂トレイホルダーと
称される１ユニットと交換可能である。
ＳＩ等の電子素子を予め決められた位置に自動的に設置
する所謂チップマウンターが知られており、このチップ
マウンターを示したのが図６である。同図において、符
号１は基板を示しており、この基板１は基板を水平状態
に支持する支持手段１’のベルトコンベヤによりチップ
マウンター上の所定位置に移送される。この基板１上方
には、図におけるＸ方向に摺動可能なＸ移動腕３ａと、
このＸ移動腕３ａ上を図におけるＹ方向に摺動可能なＹ
移動腕３ｂとからなる移動腕３が設けられており、この
移動腕３には電子素子を吸引し、この吸引保持した電子
素子を基板１上に設置するヘッド２が備えられている。
基板１の近傍には、電子素子供給装置４が複数個、基板
１を挟むようにして所定位置に配置されている（図にお
ける基板１後方側の電子素子供給装置４は図が煩雑にな
るため図示せず）。この電子素子供給装置４は所謂テー
プフィーダと称されるもので、このテープフィーダ４に
は部品リール４ａが支持されており、この部品リール４
ａには、例えばダイオード、抵抗等の電子素子が所定間
隔をおいて巻装され、この部品リール４ａからテープフ
ィーダ４にそれぞれの電子素子を送り出せるようになっ
ている。この部品リール４ａを支持するテープフィーダ
４はチップマウンターに対して着脱可能であり、複数個
並んで配置されている。この複数個のテープフィーダ４
は別の種類の電子素子供給装置、所謂トレイホルダーと
称される１ユニットと交換可能である。
【０００３】上記チップマウンターには、電子素子吸着
時のヘッド２の真空圧を測定する図示されない圧力セン
サが備えられている。この圧力センサは、電子素子吸引
時の吸着不良を検出するためのものであり、図７（ａ）
に示されるように電子素子４ｂを表面より正しく吸引し
た場合には、その圧力により正常に吸着が行われたと判
断し、一方図７（ｂ）に示されるように電子素子４ｂ
を、例えば角部より吸引した場合には、ヘッド２先端と
電子素子４ｂとの間に間隙を生じ正常時に対して圧力が
変化するので、その圧力変化により吸着不良と判断して
いる。
時のヘッド２の真空圧を測定する図示されない圧力セン
サが備えられている。この圧力センサは、電子素子吸引
時の吸着不良を検出するためのものであり、図７（ａ）
に示されるように電子素子４ｂを表面より正しく吸引し
た場合には、その圧力により正常に吸着が行われたと判
断し、一方図７（ｂ）に示されるように電子素子４ｂ
を、例えば角部より吸引した場合には、ヘッド２先端と
電子素子４ｂとの間に間隙を生じ正常時に対して圧力が
変化するので、その圧力変化により吸着不良と判断して
いる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記チ
ップマウンターにおいては、以下の問題点がある。すな
わち、電子素子４ｂを、図７（ｃ）に示されるように、
例えば角部に若干の吸引力が作用してその結果側面より
吸引した場合には、実際には吸着不良であるが、その圧
力は図７（ａ）に示される正常時の圧力と全く変わらな
いので、正常と判断してしまい吸着不良を検出できず、
従って品質及び信頼性が低下するといった問題がある。
ップマウンターにおいては、以下の問題点がある。すな
わち、電子素子４ｂを、図７（ｃ）に示されるように、
例えば角部に若干の吸引力が作用してその結果側面より
吸引した場合には、実際には吸着不良であるが、その圧
力は図７（ａ）に示される正常時の圧力と全く変わらな
いので、正常と判断してしまい吸着不良を検出できず、
従って品質及び信頼性が低下するといった問題がある。
【０００５】そこで本発明は、電子素子の吸着不良を確
実に検出でき、品質及び信頼性が向上されるチップマウ
ンターを提供することを目的とする。
実に検出でき、品質及び信頼性が向上されるチップマウ
ンターを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本願発明のチップマウン
ターは上記目的を達成するために、直線上に並べて固定
配置される複数個の電子素子供給装置から電子素子をヘ
ッドにより吸引保持して搬送路を通って移動させ、基板
上の予め決められた位置に該電子素子を設置するチップ
マウンターにおいて、前記ヘッドの複数個を、前記電子
素子供給装置の並び方向と一致するように直線上に並べ
たヘッドユニットを備え、発光素子と受光素子からな
り、その光軸が前記ヘッドの搬送路下方で該搬送路を含
む平面と交わらないように平行をなすと共に、前記複数
のヘッドの並び方向及び前記電子素子供給装置の並び方
向に対してある角度をなす一組の光センサを設け、この
光センサを、前記電子素子の吸着不良時に吸着良好時よ
りも下方に位置する電子素子の部位により前記光軸が遮
蔽される位置に配置すると共に、吸着不良時に前記光軸
を遮蔽した電子素子に対応するヘッドを、前記ヘッドユ
ニットの位置に基づいて割り出す吸着不良ヘッド検出手
段を備えていることを特徴としている。
ターは上記目的を達成するために、直線上に並べて固定
配置される複数個の電子素子供給装置から電子素子をヘ
ッドにより吸引保持して搬送路を通って移動させ、基板
上の予め決められた位置に該電子素子を設置するチップ
マウンターにおいて、前記ヘッドの複数個を、前記電子
素子供給装置の並び方向と一致するように直線上に並べ
たヘッドユニットを備え、発光素子と受光素子からな
り、その光軸が前記ヘッドの搬送路下方で該搬送路を含
む平面と交わらないように平行をなすと共に、前記複数
のヘッドの並び方向及び前記電子素子供給装置の並び方
向に対してある角度をなす一組の光センサを設け、この
光センサを、前記電子素子の吸着不良時に吸着良好時よ
りも下方に位置する電子素子の部位により前記光軸が遮
蔽される位置に配置すると共に、吸着不良時に前記光軸
を遮蔽した電子素子に対応するヘッドを、前記ヘッドユ
ニットの位置に基づいて割り出す吸着不良ヘッド検出手
段を備えていることを特徴としている。
【０００７】
【０００８】
【作用】このような手段におけるチップマウンターによ
れば、ヘッドが電子素子を表面以外から吸着した場合に
は、電子素子が吸着良好時よりも下方に位置し、この下
方に位置する電子素子の部位により光センサの光軸が遮
られるようになり、電子素子の吸着不良が確実に検出さ
れる。また、１つのヘッドユニットにおける複数個のヘ
ッドに吸着された複数の電子素子の吸着不良が、一組の
光センサによって一時に検出されることとなり、検出動
作が効率的に行われるようになっている。
れば、ヘッドが電子素子を表面以外から吸着した場合に
は、電子素子が吸着良好時よりも下方に位置し、この下
方に位置する電子素子の部位により光センサの光軸が遮
られるようになり、電子素子の吸着不良が確実に検出さ
れる。また、１つのヘッドユニットにおける複数個のヘ
ッドに吸着された複数の電子素子の吸着不良が、一組の
光センサによって一時に検出されることとなり、検出動
作が効率的に行われるようになっている。
【０００９】また、ヘッドを複数個有するヘッドユニッ
トを用いて電子素子を吸引し、このヘッドの何れかが電
子素子を表面以外から吸着した場合には、電子素子が吸
着良好時よりも下方に位置し、この下方に位置する電子
素子の部位により光センサの光軸が遮られるようになる
が、該光センサはその光軸がヘッドの並びに対してある
角度をなすように配置されており、従って吸着不良ヘッ
ド検出手段により吸着不良時の光軸を遮蔽した電子素子
に対応するヘッドがヘッドユニットの位置に基づいて割
り出されるようになり、電子素子の吸着不良が何れのヘ
ッドにおいて発生したかが確実に検出される。
トを用いて電子素子を吸引し、このヘッドの何れかが電
子素子を表面以外から吸着した場合には、電子素子が吸
着良好時よりも下方に位置し、この下方に位置する電子
素子の部位により光センサの光軸が遮られるようになる
が、該光センサはその光軸がヘッドの並びに対してある
角度をなすように配置されており、従って吸着不良ヘッ
ド検出手段により吸着不良時の光軸を遮蔽した電子素子
に対応するヘッドがヘッドユニットの位置に基づいて割
り出されるようになり、電子素子の吸着不良が何れのヘ
ッドにおいて発生したかが確実に検出される。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
するが、それに先立って光センサを用いた一般的な装置
の基本的な構造及び検出動作を説明しておく。図１は、
一般に用いられている光センサを有するチップマウンタ
ーの電子素子吸引時の正常、不良を説明するための側面
図であり、従来技術で説明したのと同一なものに対して
は同一符号を付し、ここでの説明は省略する。また、図
２においては図が煩雑になるのを避けるために、電子素
子供給装置載置部５に着脱可能に載置されるテープフィ
ーダ４やトレイホルダーは省略されている。この図１に
示されている光センサを備えたチップマウンターが従来
技術のそれと違う点は、発光素子と受光素子からなる一
組の光センサ６を、図２に示されるように、電子素子供
給装置載置部５と基板１との間に設けた点である。この
一対の発光素子と受光素子からなる一組の光センサ６
は、電子素子供給装置が基板１を挟んで両側に配置され
るためにそれぞれの側に配置されており、その光軸６ａ
がヘッド２の搬送路下方で該搬送路を含む平面と交わら
ないよう平行に配置されている。すなわち、ヘッド２は
電子素子供給装置より電子素子４ｂを吸着してある一定
の高さに該電子素子４ｂをリフトアップし、その後その
高さのままで該電子素子４ｂを基板１まで移動するが、
光センサ６は、その光軸６ａがこのヘッド２の平行移動
中の搬送路の下方でかつ搬送路を含む平面と交わらない
ように平行に配置されている。しかも、この光センサ６
は、電子素子４ｂの吸着不良時に吸着良好時よりも下方
に位置する電子素子４ｂの部位により光軸６ａが遮蔽さ
れる位置にセッティングされている。
するが、それに先立って光センサを用いた一般的な装置
の基本的な構造及び検出動作を説明しておく。図１は、
一般に用いられている光センサを有するチップマウンタ
ーの電子素子吸引時の正常、不良を説明するための側面
図であり、従来技術で説明したのと同一なものに対して
は同一符号を付し、ここでの説明は省略する。また、図
２においては図が煩雑になるのを避けるために、電子素
子供給装置載置部５に着脱可能に載置されるテープフィ
ーダ４やトレイホルダーは省略されている。この図１に
示されている光センサを備えたチップマウンターが従来
技術のそれと違う点は、発光素子と受光素子からなる一
組の光センサ６を、図２に示されるように、電子素子供
給装置載置部５と基板１との間に設けた点である。この
一対の発光素子と受光素子からなる一組の光センサ６
は、電子素子供給装置が基板１を挟んで両側に配置され
るためにそれぞれの側に配置されており、その光軸６ａ
がヘッド２の搬送路下方で該搬送路を含む平面と交わら
ないよう平行に配置されている。すなわち、ヘッド２は
電子素子供給装置より電子素子４ｂを吸着してある一定
の高さに該電子素子４ｂをリフトアップし、その後その
高さのままで該電子素子４ｂを基板１まで移動するが、
光センサ６は、その光軸６ａがこのヘッド２の平行移動
中の搬送路の下方でかつ搬送路を含む平面と交わらない
ように平行に配置されている。しかも、この光センサ６
は、電子素子４ｂの吸着不良時に吸着良好時よりも下方
に位置する電子素子４ｂの部位により光軸６ａが遮蔽さ
れる位置にセッティングされている。
【００１１】従って、電子素子４ｂを表面より正しく吸
引し基板１へ移動した場合には、図１（ａ）に示される
ように、光軸（光路）６ａが遮光されないので正常に吸
着が行われたと判断され、一方電子素子４ｂを側面より
吸引し基板１へ移動した場合には、図１（ｂ）に示され
るように、光軸６ａが遮光されるので吸着不良と判断さ
れるようになっている。また、電子素子４ｂを、例えば
角部より吸引し基板１へ移動した場合にも、図１（ｃ）
に示されるように、光軸６ａが遮光されるので吸着不良
と判断されるようになっている。
引し基板１へ移動した場合には、図１（ａ）に示される
ように、光軸（光路）６ａが遮光されないので正常に吸
着が行われたと判断され、一方電子素子４ｂを側面より
吸引し基板１へ移動した場合には、図１（ｂ）に示され
るように、光軸６ａが遮光されるので吸着不良と判断さ
れるようになっている。また、電子素子４ｂを、例えば
角部より吸引し基板１へ移動した場合にも、図１（ｃ）
に示されるように、光軸６ａが遮光されるので吸着不良
と判断されるようになっている。
【００１２】このように、一般に用いられている光セン
サ６においては、ヘッド２が電子素子４ｂを表面以外か
ら吸着した場合には、電子素子４ｂが吸着良好時よりも
下方に位置し、この下方に位置する電子素子の部位によ
り光センサ６の光軸６ａが遮られて吸着不良と判断でき
るようになっているので、電子素子４ｂの吸着不良が全
て確実に検出され得るようになっている。
サ６においては、ヘッド２が電子素子４ｂを表面以外か
ら吸着した場合には、電子素子４ｂが吸着良好時よりも
下方に位置し、この下方に位置する電子素子の部位によ
り光センサ６の光軸６ａが遮られて吸着不良と判断でき
るようになっているので、電子素子４ｂの吸着不良が全
て確実に検出され得るようになっている。
【００１３】ここで、上記電子素子４ｂを、例えばサイ
ズが大きく厚みが厚い素子に変えると、上記設定のまま
では、ヘッド２が該電子素子４ｂを正常に表面より吸着
して移動しても光軸６ａが遮光される場合があるので、
電子素子４ｂの大きさに応じてヘッド２の平行移動中の
高さ、或いは光センサ６の設置高さを変える必要があ
る。
ズが大きく厚みが厚い素子に変えると、上記設定のまま
では、ヘッド２が該電子素子４ｂを正常に表面より吸着
して移動しても光軸６ａが遮光される場合があるので、
電子素子４ｂの大きさに応じてヘッド２の平行移動中の
高さ、或いは光センサ６の設置高さを変える必要があ
る。
【００１４】なお、上記実施例においては、光センサ６
を、その光軸６ａがヘッド２の搬送方向Ｘに直交する方
向（図２におけるＹ方向）に一致するよう配置している
が、ヘッド２のＸ方向における搬送路を決めれば、その
光軸６ａがヘッド２の搬送方向Ｘに一致するよう配置す
ることも可能であり、要は光軸６ａがヘッド２の搬送路
下方で該搬送路と平行をなし、しかも電子素子４ｂの吸
着不良時に吸着良好時よりも下方に位置する電子素子４
ｂの部位により光軸６ａが遮蔽される位置に光センサ６
が配置してあれば良い。
を、その光軸６ａがヘッド２の搬送方向Ｘに直交する方
向（図２におけるＹ方向）に一致するよう配置している
が、ヘッド２のＸ方向における搬送路を決めれば、その
光軸６ａがヘッド２の搬送方向Ｘに一致するよう配置す
ることも可能であり、要は光軸６ａがヘッド２の搬送路
下方で該搬送路と平行をなし、しかも電子素子４ｂの吸
着不良時に吸着良好時よりも下方に位置する電子素子４
ｂの部位により光軸６ａが遮蔽される位置に光センサ６
が配置してあれば良い。
【００１５】因みに、上記実施例の手段だけにより電子
素子４ｂの吸着不良を判定すると、電子素子４ｂを吸着
できなかった場合に吸着不良と判断されないので、従来
の真空圧による判定手段と併用することが望ましい。
素子４ｂの吸着不良を判定すると、電子素子４ｂを吸着
できなかった場合に吸着不良と判断されないので、従来
の真空圧による判定手段と併用することが望ましい。
【００１６】図３は本発明の一実施例を示すチップマウ
ンターの要部の概略構成図、図４は電子素子吸引時の正
常、不良を説明するための側面図であり、この第２の実
施例は吸着部にヘッドユニット１２を用いた場合の適用
例を示している。このヘッドユニット１２は、第１の実
施例で示したヘッド２を複数個備えるものであり、本実
施例においては、例えば３連のヘッドユニットを用いて
いる。これらヘッド２の並び方向は、搬送方向Ｘと直交
するテープフィーダ４の並び方向（図２におけるＹ方
向）に一致しており、ヘッド２同士の間隔はテープフィ
ーダ４の設置間隔にそれぞれ一致している。
ンターの要部の概略構成図、図４は電子素子吸引時の正
常、不良を説明するための側面図であり、この第２の実
施例は吸着部にヘッドユニット１２を用いた場合の適用
例を示している。このヘッドユニット１２は、第１の実
施例で示したヘッド２を複数個備えるものであり、本実
施例においては、例えば３連のヘッドユニットを用いて
いる。これらヘッド２の並び方向は、搬送方向Ｘと直交
するテープフィーダ４の並び方向（図２におけるＹ方
向）に一致しており、ヘッド２同士の間隔はテープフィ
ーダ４の設置間隔にそれぞれ一致している。
【００１７】この本発明にかかる実施例が、上述した一
般のものと違う点は、光センサ１６を、図３に示される
ように、その光軸１６ａがヘッドユニット１２の並びに
対してある角度Θをなすよう配置すると共に、吸着不良
時に光軸１６ａを遮蔽した電子素子４ｂに対応するヘッ
ド２を、ヘッドユニット１２の位置に基づいて割り出す
吸着不良ヘッド検出手段９を設けた点である。ここで、
Ｘ移動腕３ａ，Ｙ移動腕３ｂを駆動するヘッドユニット
駆動装置７にはエンコーダ１０が付設され、このエンコ
ーダ１０からの位置信号はラッチ回路８を介して吸着不
良ヘッド検出手段９に入力されており、この吸着不良ヘ
ッド検出手段９においてヘッドユニット１２の位置が常
に検知され得るようになっている。この吸着不良ヘッド
検出手段９は周知のマイクロコンピューターで構成され
ており、ＲＯＭにおいて各設定値やデータテーブル（各
ユニットの座標の位置関係等）が記憶処理されている。
般のものと違う点は、光センサ１６を、図３に示される
ように、その光軸１６ａがヘッドユニット１２の並びに
対してある角度Θをなすよう配置すると共に、吸着不良
時に光軸１６ａを遮蔽した電子素子４ｂに対応するヘッ
ド２を、ヘッドユニット１２の位置に基づいて割り出す
吸着不良ヘッド検出手段９を設けた点である。ここで、
Ｘ移動腕３ａ，Ｙ移動腕３ｂを駆動するヘッドユニット
駆動装置７にはエンコーダ１０が付設され、このエンコ
ーダ１０からの位置信号はラッチ回路８を介して吸着不
良ヘッド検出手段９に入力されており、この吸着不良ヘ
ッド検出手段９においてヘッドユニット１２の位置が常
に検知され得るようになっている。この吸着不良ヘッド
検出手段９は周知のマイクロコンピューターで構成され
ており、ＲＯＭにおいて各設定値やデータテーブル（各
ユニットの座標の位置関係等）が記憶処理されている。
【００１８】従って、例えば図３、図４に示されるよう
に、右側のヘッド２において吸着不良が生じたとする
と、第１の実施例と同様に光センサ１６の光軸１６ａ
が、図４に示されるように遮光され、吸着不良が発生し
ているとエンコーダ１０の座標位置からどのヘッドが不
良であるかが判断されるわけであるが、本実施例におい
ては、上述の如く、光センサ１６を、図３に示されるよ
うに、その光軸１６ａがヘッドユニット１２の並びに対
してある角度Θをなすよう配置しているので、図５にお
ける上段の位置で遮光が起こった場合には、右側のヘッ
ド２において吸着不良が生じたと吸着不良ヘッド検出手
段９において判断できるようになっている。同様に、図
５における中段の位置で遮光が起こった場合には、真中
のヘッド２において、図５における下段の位置で遮光が
起こった場合には、左側のヘッド２において、それぞれ
吸着不良が生じたと吸着不良ヘッド検出手段９において
判断できるようになっている。
に、右側のヘッド２において吸着不良が生じたとする
と、第１の実施例と同様に光センサ１６の光軸１６ａ
が、図４に示されるように遮光され、吸着不良が発生し
ているとエンコーダ１０の座標位置からどのヘッドが不
良であるかが判断されるわけであるが、本実施例におい
ては、上述の如く、光センサ１６を、図３に示されるよ
うに、その光軸１６ａがヘッドユニット１２の並びに対
してある角度Θをなすよう配置しているので、図５にお
ける上段の位置で遮光が起こった場合には、右側のヘッ
ド２において吸着不良が生じたと吸着不良ヘッド検出手
段９において判断できるようになっている。同様に、図
５における中段の位置で遮光が起こった場合には、真中
のヘッド２において、図５における下段の位置で遮光が
起こった場合には、左側のヘッド２において、それぞれ
吸着不良が生じたと吸着不良ヘッド検出手段９において
判断できるようになっている。
【００１９】このように、本発明にかかる実施例におい
ては、１つのヘッドユニット１２における複数個のヘッ
ド２に吸着された複数の電子素子４ｂの吸着不良が、一
組の光センサ１６によって一時に検出されることとな
り、検出動作が効率的に行われるようになっている。 ま
た、光センサ１６を、その光軸１６ａがヘッドユニット
１２を用いた場合の複数ヘッド２の並びに対してある角
度Θをなすように配置しているので、ヘッドユニット１
２を用いて電子素子４ｂを吸引し、この複数ヘッド２の
何れかが電子素子４ｂを表面以外から吸着した場合に
は、吸着不良ヘッド検出手段９により吸着不良時の光軸
１６ａを遮蔽した電子素子４ｂに対応するヘッド２がヘ
ッドユニット１２の位置に基づいて割り出されるように
なっており、従って電子素子４ｂの吸着不良が何れのヘ
ッド２において発生したかが確実に検出され得るように
なっている。
ては、１つのヘッドユニット１２における複数個のヘッ
ド２に吸着された複数の電子素子４ｂの吸着不良が、一
組の光センサ１６によって一時に検出されることとな
り、検出動作が効率的に行われるようになっている。 ま
た、光センサ１６を、その光軸１６ａがヘッドユニット
１２を用いた場合の複数ヘッド２の並びに対してある角
度Θをなすように配置しているので、ヘッドユニット１
２を用いて電子素子４ｂを吸引し、この複数ヘッド２の
何れかが電子素子４ｂを表面以外から吸着した場合に
は、吸着不良ヘッド検出手段９により吸着不良時の光軸
１６ａを遮蔽した電子素子４ｂに対応するヘッド２がヘ
ッドユニット１２の位置に基づいて割り出されるように
なっており、従って電子素子４ｂの吸着不良が何れのヘ
ッド２において発生したかが確実に検出され得るように
なっている。
【００２０】なお、２個以上のヘッド２が吸着不良を起
こした場合も同様にして吸着不良ヘッドをそれぞれ検出
できるというのはいうまでもない。因みに、第２の実施
例においては、３連のヘッドユニット１２を用いた場合
の適用例が述べられているが、３連以外のヘッドユニッ
トに対しても同様に適用可能である。
こした場合も同様にして吸着不良ヘッドをそれぞれ検出
できるというのはいうまでもない。因みに、第２の実施
例においては、３連のヘッドユニット１２を用いた場合
の適用例が述べられているが、３連以外のヘッドユニッ
トに対しても同様に適用可能である。
【００２１】以上述べたように本願発明のチップマウン
ターによれば、発光素子と受光素子からなり、その光軸
がヘッドの搬送路下方で該搬送路と平行をなす光センサ
を設けるようにしたので、ヘッドが電子素子を表面以外
から吸着した場合には、電子素子が吸着良好時よりも下
方に位置し、この下方に位置する電子素子の部位により
光センサの光軸が遮られるようになり、従って電子素子
の吸着不良が確実に検出され、品質及び信頼性の向上が
図られるとともに、１つのヘッドユニットに配置した複
数ヘッドに対して一組の光センサを設け、その一組の光
センサによって複数のヘッドにおける電子素子の吸着不
良を効率的に検出するようにしたものであるから、装置
の簡易化を図りつつ検出時間の短縮化を図ることができ
る。また、本願発明では、上記光センサを、その光軸が
ヘッドユニットを用いた場合のヘッドの並びに対してあ
る角度をなすようにも配置しているので、ヘッドユニッ
トを用いて電子素子を吸引し、このヘッドの何れかが電
子素子を表面以外から吸着した場合には、吸着不良ヘッ
ド検出手段により吸着良好時の光軸を遮蔽した電子素子
に対応するヘッドがヘッドユニットの位置に基づいて割
り出されるようになり、従って電子素子の吸着不良が何
れのヘッドにおいて発生したかが確実に検出され、さら
に品質及び信頼性の向上が図られる。
ターによれば、発光素子と受光素子からなり、その光軸
がヘッドの搬送路下方で該搬送路と平行をなす光センサ
を設けるようにしたので、ヘッドが電子素子を表面以外
から吸着した場合には、電子素子が吸着良好時よりも下
方に位置し、この下方に位置する電子素子の部位により
光センサの光軸が遮られるようになり、従って電子素子
の吸着不良が確実に検出され、品質及び信頼性の向上が
図られるとともに、１つのヘッドユニットに配置した複
数ヘッドに対して一組の光センサを設け、その一組の光
センサによって複数のヘッドにおける電子素子の吸着不
良を効率的に検出するようにしたものであるから、装置
の簡易化を図りつつ検出時間の短縮化を図ることができ
る。また、本願発明では、上記光センサを、その光軸が
ヘッドユニットを用いた場合のヘッドの並びに対してあ
る角度をなすようにも配置しているので、ヘッドユニッ
トを用いて電子素子を吸引し、このヘッドの何れかが電
子素子を表面以外から吸着した場合には、吸着不良ヘッ
ド検出手段により吸着良好時の光軸を遮蔽した電子素子
に対応するヘッドがヘッドユニットの位置に基づいて割
り出されるようになり、従って電子素子の吸着不良が何
れのヘッドにおいて発生したかが確実に検出され、さら
に品質及び信頼性の向上が図られる。
【図１】一般的な構造例における光センサを備えたチッ
プマウンターの電子素子吸引時の正常、不良を説明する
ための側面図である。
プマウンターの電子素子吸引時の正常、不良を説明する
ための側面図である。
【図２】図１に示された光センサの配置を説明するため
のチップマウンターの斜視図である。
のチップマウンターの斜視図である。
【図３】本発明の一実施例を示すチップマウンターの要
部の概略構成図である。
部の概略構成図である。
【図４】図３の実施例における電子素子吸引時の正常、
不良を説明するための側面図である。
不良を説明するための側面図である。
【図５】吸着不良ヘッド検出手段の具体的な検出方法を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図６】従来技術を示すチップマウンターの斜視図であ
る。
る。
【図７】従来技術における電子素子吸引時の正常、不
良、その問題点を説明するための側面図である。
良、その問題点を説明するための側面図である。
１ 基板 ２ ヘッド ４ 電子素子供給装置 ４ｂ 電子素子 ６，１６ 光センサ ６ａ，１６ａ 光軸 ９ 吸着不良ヘッド検出手段 １２ ヘッドユニット Θ ある角度
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−160794（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−179200（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−183200（ＪＰ，Ａ) 特公 平３−45919（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H05K 13/04 H05K 13/08 B23P 21/00 305
Claims (1)
- 【請求項１】 直線上に並べて固定配置される複数個の
電子素子供給装置から電子素子をヘッドにより吸引保持
して搬送路を通って移動させ、基板上の予め決められた
位置に該電子素子を設置するチップマウンターにおい
て、 前記ヘッドの複数個を、前記電子素子供給装置の並び方
向と一致するように直線上に並べたヘッドユニットを備
え、 発光素子と受光素子からなり、その光軸が前記ヘッドの
搬送路下方で該搬送路を含む平面と交わらないように平
行をなすと共に、前記複数のヘッドの並び方向及び前記
電子素子供給装置の並び方向に対してある角度をなす一
組の光センサを設け、 この光センサを、前記電子素子の吸着不良時に吸着良好
時よりも下方に位置する電子素子の部位により前記光軸
が遮蔽される位置に配置すると共に、吸着不良時に前記
光軸を遮蔽した電子素子に対応するヘッドを、前記ヘッ
ドユニットの位置に基づいて割り出す吸着不良ヘッド検
出手段を備えていることを特徴とするチップマウンタ
ー。
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|---|---|---|---|
| JP5023763A JP3046688B2 (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | チップマウンター |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5023763A JP3046688B2 (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | チップマウンター |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06216584A JPH06216584A (ja) | 1994-08-05 |
| JP3046688B2 true JP3046688B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=12119383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5023763A Expired - Fee Related JP3046688B2 (ja) | 1993-01-19 | 1993-01-19 | チップマウンター |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3046688B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009054820A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Panasonic Corp | 部品実装装置 |
| JP2009054821A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Panasonic Corp | 部品実装装置 |
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| JP4697176B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2011-06-08 | パナソニック株式会社 | 部品実装装置の部品持ち帰り検査装置及び方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| JPH03183200A (ja) * | 1989-12-12 | 1991-08-09 | Tdk Corp | 電子部品装着機における装着部品の検出装置 |
-
1993
- 1993-01-19 JP JP5023763A patent/JP3046688B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009054820A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Panasonic Corp | 部品実装装置 |
| JP2009054821A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Panasonic Corp | 部品実装装置 |
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| Publication number | Publication date |
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| JPH06216584A (ja) | 1994-08-05 |
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