JP3014339B2 - 量子波干渉層を有した半導体素子 - Google Patents
量子波干渉層を有した半導体素子Info
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子又は正孔から成
るキャリアを効率良く反射させるための量子波干渉層に
関する。特に、レーザ、発光ダイオード等の発光素子に
おいて、キャリアを活性層に効率良く閉じ込め、発光効
率を向上させるために用いることができる。又、他のF
ET、太陽電池等の半導体素子において、キャリアを反
射させ、キャリアの効率の良い利用を可能とする素子に
応用することができる。
るキャリアを効率良く反射させるための量子波干渉層に
関する。特に、レーザ、発光ダイオード等の発光素子に
おいて、キャリアを活性層に効率良く閉じ込め、発光効
率を向上させるために用いることができる。又、他のF
ET、太陽電池等の半導体素子において、キャリアを反
射させ、キャリアの効率の良い利用を可能とする素子に
応用することができる。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体レーザに関して、活性層を
n形クラッド層とp形クラッド層とで挟んだダブルヘテ
ロ接合構造が知られている。このレーザでは、電子及び
正孔が活性層に対して電位障壁を形成するクラッド層に
より効率良く閉じ込められる。しかしながら、クラッド
層の電位障壁を越えてキャリアがオーバーフローするた
め、発光効率を充分に向上できないという問題がある。
n形クラッド層とp形クラッド層とで挟んだダブルヘテ
ロ接合構造が知られている。このレーザでは、電子及び
正孔が活性層に対して電位障壁を形成するクラッド層に
より効率良く閉じ込められる。しかしながら、クラッド
層の電位障壁を越えてキャリアがオーバーフローするた
め、発光効率を充分に向上できないという問題がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このために、JJAP
Letters Vol.29,No.11(1990 年) L1977-L1980 に記載
されたように、クラッド層に多重量子井戸構造を設ける
ことが提案されている。しかし、この文献では、キャリ
アの運動エネルギをどのような値とするかは示唆がな
く、この文献によって指摘された第1層と第2層との最
適な厚さは、本発明者らが最適とする厚さに対して1/
4〜1/6である。この結果、活性層にキャリアを十分
に蓄積することができず、発光強度が十分に向上しない
という課題がある。
Letters Vol.29,No.11(1990 年) L1977-L1980 に記載
されたように、クラッド層に多重量子井戸構造を設ける
ことが提案されている。しかし、この文献では、キャリ
アの運動エネルギをどのような値とするかは示唆がな
く、この文献によって指摘された第1層と第2層との最
適な厚さは、本発明者らが最適とする厚さに対して1/
4〜1/6である。この結果、活性層にキャリアを十分
に蓄積することができず、発光強度が十分に向上しない
という課題がある。
【0004】そこで、本発明者らは、バンド幅の異なる
多重層構造を光の多重反射における誘電体多層膜に対応
させて、キャリアの量子波が多重層構造により多重反射
されると考えた。そして、この反射によりキャリアの効
果的な閉じ込めが可能となると考え、量子波干渉層の最
適構造を創作した。従って、本発明の目的は、高反射率
を有するキャリアの反射層として機能する量子波干渉層
を提供することである。又、他の発明の目的は、バンド
幅の異なる多重層構造に新規な層構造を加えることで、
さらに、量子波の反射率を向上させることである。さら
に、他の発明の目的は、量子波を反射することができる
他の構造の量子波干渉層を提供することである。
多重層構造を光の多重反射における誘電体多層膜に対応
させて、キャリアの量子波が多重層構造により多重反射
されると考えた。そして、この反射によりキャリアの効
果的な閉じ込めが可能となると考え、量子波干渉層の最
適構造を創作した。従って、本発明の目的は、高反射率
を有するキャリアの反射層として機能する量子波干渉層
を提供することである。又、他の発明の目的は、バンド
幅の異なる多重層構造に新規な層構造を加えることで、
さらに、量子波の反射率を向上させることである。さら
に、他の発明の目的は、量子波を反射することができる
他の構造の量子波干渉層を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、第1層と第1層よりもバンド幅の広い第2層とを多
重周期で積層した量子波干渉層を有する半導体素子にお
いて、第1層と前記第2層の厚さをその第2層の最低エ
ネルギレベル付近にあるキャリアの各層における量子波
の波長の4分の1の奇数倍に設定したことを特徴とす
る。
は、第1層と第1層よりもバンド幅の広い第2層とを多
重周期で積層した量子波干渉層を有する半導体素子にお
いて、第1層と前記第2層の厚さをその第2層の最低エ
ネルギレベル付近にあるキャリアの各層における量子波
の波長の4分の1の奇数倍に設定したことを特徴とす
る。
【0006】請求項2に記載の発明は、第1層と第1層
よりもバンド幅の広い第2層とを多重周期で積層した量
子波干渉層を有する半導体素子において、第1層と第2
層の厚さをキャリアの各層における量子波の波長の4分
の1の奇数倍に設定し、第1層と第2層との境界には、
第1層と第2層の厚さに比べて充分に薄く、エネルギバ
ンドを急変させるδ層が設けられていることを特徴とす
る。
よりもバンド幅の広い第2層とを多重周期で積層した量
子波干渉層を有する半導体素子において、第1層と第2
層の厚さをキャリアの各層における量子波の波長の4分
の1の奇数倍に設定し、第1層と第2層との境界には、
第1層と第2層の厚さに比べて充分に薄く、エネルギバ
ンドを急変させるδ層が設けられていることを特徴とす
る。
【0007】請求項3に記載の発明は、第1層の厚さD
W と第2層の厚さDB を次のように設定したことを特徴
とする。
W と第2層の厚さDB を次のように設定したことを特徴
とする。
【数1】 DW =nW λW /4=nW h/ 4 [2mw (E+V) ]1/2 …(1)
【数2】 DB =nB λB /4=nB h/ 4 (2mB E)1/2 …(2) 但し、hはプランク定数、mw は第1層におけるキャリ
アの有効質量、mB は第2層におけるキャリアの有効質
量、Eは第2層に流入された、第2層の最低エネルギレ
ベル付近におけるキャリアの運動エネルギ、Vは第1層
に対する第2層のバンド電位差、nW 、nB は奇数であ
る。
アの有効質量、mB は第2層におけるキャリアの有効質
量、Eは第2層に流入された、第2層の最低エネルギレ
ベル付近におけるキャリアの運動エネルギ、Vは第1層
に対する第2層のバンド電位差、nW 、nB は奇数であ
る。
【0008】請求項4の発明は、第1層と第1層よりも
バンド幅の広い第2層との多重周期から成る量子波干渉
層を次のように形成したことを特徴とする。第1層、第
2層を、それぞれ、厚さDWk,D Bk で任意周期Tk だけ
繰り返して部分量子波干渉層Ik とする。但し、
バンド幅の広い第2層との多重周期から成る量子波干渉
層を次のように形成したことを特徴とする。第1層、第
2層を、それぞれ、厚さDWk,D Bk で任意周期Tk だけ
繰り返して部分量子波干渉層Ik とする。但し、
【数3】 DWk=nWkλWk/4=nWkh/ 4 [2mwk(Ek +V) ]1/2 …(3)
【数4】 DBk=nBkλBk/4=nBkh/ 4 (2mBkEk )1/2 …(4) ここで、Ek は第2層に流入されるキャリアの運動エネ
ルギの複数の異なる値、mwkは第1層における運動エネ
ルギEk +Vを有するキャリアの有効質量、mBkは第2
層における運動エネルギE k を有するキャリアの有効質
量、nWk、nBkは任意の奇数である。このように形成さ
れた部分量子波干渉層Ik をI1,…, Ij と、kの最大
値jだけ直列接続して量子波干渉層が形成される。
ルギの複数の異なる値、mwkは第1層における運動エネ
ルギEk +Vを有するキャリアの有効質量、mBkは第2
層における運動エネルギE k を有するキャリアの有効質
量、nWk、nBkは任意の奇数である。このように形成さ
れた部分量子波干渉層Ik をI1,…, Ij と、kの最大
値jだけ直列接続して量子波干渉層が形成される。
【0009】請求項5の発明は、(3),(4)式で決
定される厚さ(DBk,DWk)の(第2層,第1層)を、
(DB1,DW1),…,(DBk,DWk),…,(DBj,D
Wj)と積層し、部分量子波干渉層とする。この部分量子
波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層が形成され
る。
定される厚さ(DBk,DWk)の(第2層,第1層)を、
(DB1,DW1),…,(DBk,DWk),…,(DBj,D
Wj)と積層し、部分量子波干渉層とする。この部分量子
波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層が形成され
る。
【0010】請求項6の発明は、上記のように形成され
た第1層と第2層との境界に、第1層と第2層の厚さに
比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変させるδ層を
設けたことを特徴とする。
た第1層と第2層との境界に、第1層と第2層の厚さに
比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変させるδ層を
設けたことを特徴とする。
【0011】請求項7の発明は、バンド幅の異なる異種
半導体を多重周期で接合した半導体素子において、繰り
返し幅に比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変させ
るδ層を、伝導するキャリアの量子波の波長の4分の1
の奇数倍の間隔で複数配設した量子波干渉層を有するこ
とを特徴とする。この間隔はキャリアの運動エネルギを
1つの値とすると(2)式のDB で得られ、δ層は等間
隔で設けられる。又、キャリアの運動エネルギEk を複
数の値に設定すると、間隔は(4)式のDBkで与えられ
る。この場合には、間隔DBkでTk 周期繰り返した部分
量子波干渉層Ik をI1,…, Ij と直列接続して量子波
干渉層を形成することができる。又、DB1,…,DBk,
…,DBjと積層し、部分量子波干渉層とする。この部分
量子波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層を形成
することもできる。
半導体を多重周期で接合した半導体素子において、繰り
返し幅に比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変させ
るδ層を、伝導するキャリアの量子波の波長の4分の1
の奇数倍の間隔で複数配設した量子波干渉層を有するこ
とを特徴とする。この間隔はキャリアの運動エネルギを
1つの値とすると(2)式のDB で得られ、δ層は等間
隔で設けられる。又、キャリアの運動エネルギEk を複
数の値に設定すると、間隔は(4)式のDBkで与えられ
る。この場合には、間隔DBkでTk 周期繰り返した部分
量子波干渉層Ik をI1,…, Ij と直列接続して量子波
干渉層を形成することができる。又、DB1,…,DBk,
…,DBjと積層し、部分量子波干渉層とする。この部分
量子波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層を形成
することもできる。
【0012】請求項8の発明は、量子波干渉層をキャリ
アを反射させる反射層として作用させることを特徴とす
る。請求項9の発明は、量子波干渉層の量子波の入射端
はキャリアのトンネル伝導を禁止するに十分な厚さの第
2層が形成されていることを特徴とする。
アを反射させる反射層として作用させることを特徴とす
る。請求項9の発明は、量子波干渉層の量子波の入射端
はキャリアのトンネル伝導を禁止するに十分な厚さの第
2層が形成されていることを特徴とする。
【0013】請求項10の発明は、活性層をn伝導形層
とp伝導形層で挟んだ構造の発光素子において、n伝導
形層及びp伝導形層の少なくとも一方の層において、上
記構造の量子波干渉層(請求項1乃至請求項9)を形成
したことを特徴とする。
とp伝導形層で挟んだ構造の発光素子において、n伝導
形層及びp伝導形層の少なくとも一方の層において、上
記構造の量子波干渉層(請求項1乃至請求項9)を形成
したことを特徴とする。
【0014】請求項11の発明は、活性層とn伝導形層
又はp伝導形層はヘテロ接合され、n伝導形層をn形ク
ラッド層とし、p伝導形層をp形クラッド層とし、量子
波干渉層によりキャリアを反射させて活性層に閉じ込め
ることを特徴とする。
又はp伝導形層はヘテロ接合され、n伝導形層をn形ク
ラッド層とし、p伝導形層をp形クラッド層とし、量子
波干渉層によりキャリアを反射させて活性層に閉じ込め
ることを特徴とする。
【0015】請求項12の発明は、電界効果トランジス
タにおいて、チャネルに隣接して上記構造の量子波干渉
層(請求項1乃至請求項9)を形成したことを特徴とす
る。又、請求項13の発明は、pn接合を有した光電気
変換素子において、p層又はn層に少数キャリアを反射
させるための量子波干渉層(請求項1乃至請求項9)を
形成したことを特徴とする。
タにおいて、チャネルに隣接して上記構造の量子波干渉
層(請求項1乃至請求項9)を形成したことを特徴とす
る。又、請求項13の発明は、pn接合を有した光電気
変換素子において、p層又はn層に少数キャリアを反射
させるための量子波干渉層(請求項1乃至請求項9)を
形成したことを特徴とする。
【0016】
〔請求項1、3の発明〕本発明にかかる量子波干渉層の
原理を次に説明する。図1は、バンド幅の異なる多重層
構造の伝導帯を示している。電子が図上左から右方向に
伝導するとする。伝導に寄与する電子は、バンド幅の広
い第2層の伝導帯の底付近に存在する電子と考えられ
る。この電子の運動エネルギをEとする。すると、第2
層Bからバンド幅の狭い第1層Wに伝導する電子は第2
層から第1層へのバンド電位差Vにより加速されて、第
1層Wにおける運動エネルギはE+Vとなる。又、第1
層Wから第2層Bへ伝導する電子は第1層から第2層へ
のバンド電位差Vにより減速されて、第2層Bにおける
電子の運動エネルギはEに戻る。伝導電子の運動エネル
ギは、多重層構造のポテンシャルエネルギによりこのよ
うな変調を受ける。
原理を次に説明する。図1は、バンド幅の異なる多重層
構造の伝導帯を示している。電子が図上左から右方向に
伝導するとする。伝導に寄与する電子は、バンド幅の広
い第2層の伝導帯の底付近に存在する電子と考えられ
る。この電子の運動エネルギをEとする。すると、第2
層Bからバンド幅の狭い第1層Wに伝導する電子は第2
層から第1層へのバンド電位差Vにより加速されて、第
1層Wにおける運動エネルギはE+Vとなる。又、第1
層Wから第2層Bへ伝導する電子は第1層から第2層へ
のバンド電位差Vにより減速されて、第2層Bにおける
電子の運動エネルギはEに戻る。伝導電子の運動エネル
ギは、多重層構造のポテンシャルエネルギによりこのよ
うな変調を受ける。
【0017】一方、第1層と第2層の厚さが電子の量子
波長と同程度となると、電子は波動として振る舞う。電
子の量子波は電子の運動エネルギを用いて、(1)、
(2)式により求められる。さらに、波の反射率Rは第
2層B、第1層Wにおける量子波の波数ベクトルを
KB ,KW とする時、次式で求められる。
波長と同程度となると、電子は波動として振る舞う。電
子の量子波は電子の運動エネルギを用いて、(1)、
(2)式により求められる。さらに、波の反射率Rは第
2層B、第1層Wにおける量子波の波数ベクトルを
KB ,KW とする時、次式で求められる。
【数5】 R=(|KW |−|KB |)/(|KW |+|KB |) =([mw ( E+V)]1/2-[ mB E]1/2)/([mw ( E+V)]1/2+[ mB E]1/2) =[1- ( mB E/ mw ( E+V))1/2]/[1+ (mB E/ mw ( E+V))1/2] …(5) 又、mB =mw と仮定すれば、反射率は次式で表され
る。
る。
【数6】 R=[1- ( E/ ( E+V))1/2]/[1+ (E/ ( E+V))1/2] …(6) E/ ( E+V) =xとおけば、(6)式は次式のように
変形できる。
変形できる。
【数7】 R=(1−x1/2 )/(1+x1/2 ) …(7) この反射率Rのxに対する特性は図2のようになる。
【0018】又、第2層Bと第1層WがそれぞれS層多
重化された場合の量子波の入射端面での反射率RS は次
式で与えられる。
重化された場合の量子波の入射端面での反射率RS は次
式で与えられる。
【数8】 RS =〔(1−xS )/(1+xS )]2 …(8) x≦1/10の時R≧0.52となり、そのためのE,
Vの関係は
Vの関係は
【数9】 E≦V/9 …(9) となる。第2層Bにおける伝導電子の運動エネルギEは
伝導帯の底付近であることから、(9)式の関係が満足
され、第2層Bと第1層Wとの境界での反射率Rは52
%以上となる。このようなバンド幅の異なる多重層構造
により、量子波を効率良く反射させることができる。
伝導帯の底付近であることから、(9)式の関係が満足
され、第2層Bと第1層Wとの境界での反射率Rは52
%以上となる。このようなバンド幅の異なる多重層構造
により、量子波を効率良く反射させることができる。
【0019】又、xを用いて第2層Bの厚さの第1層W
の厚さに対する比DB /DW は次式で求められる。
の厚さに対する比DB /DW は次式で求められる。
【数10】 DB /DW =〔mw /(mB x)〕1/2 …(10)
【0020】又、価電子帯においても、バンドの底のエ
ネルギレベルが周期的に変動するが、バンド電位差Vが
伝導帯のバンド電位差と異なること、第1層、第2層に
おける正孔の有効質量が電子の有効質量と異なること等
のため、電子に対して反射率を高くするように設定され
た第1層と第2層の幅の設定値は正孔に対する高反射率
が得られる条件にはならない。よって、上記の構造の量
子波干渉層は、電子だけを反射させ正孔を反射させない
ようにすることができる。又、逆に、価電子帯のバンド
電位差、正孔の有効質量を用いて、第1層、第2層の厚
さを設計することで、量子波干渉層を正孔を反射させ電
子を透過させる層とすることもできる。
ネルギレベルが周期的に変動するが、バンド電位差Vが
伝導帯のバンド電位差と異なること、第1層、第2層に
おける正孔の有効質量が電子の有効質量と異なること等
のため、電子に対して反射率を高くするように設定され
た第1層と第2層の幅の設定値は正孔に対する高反射率
が得られる条件にはならない。よって、上記の構造の量
子波干渉層は、電子だけを反射させ正孔を反射させない
ようにすることができる。又、逆に、価電子帯のバンド
電位差、正孔の有効質量を用いて、第1層、第2層の厚
さを設計することで、量子波干渉層を正孔を反射させ電
子を透過させる層とすることもできる。
【0021】〔請求項4の発明〕図3に示すように、複
数の運動エネルギEk のそれぞれに対して部分量子波干
渉層Ik を形成しても良い。各部分量子波干渉層Ik は
(3)、(4)式で決定される厚さの第1層Wと第2層
Bとを(DWk, DBk)を1組としてTk 周期分多重化し
て形成される。この部分量子波干渉層Ik をI1 〜Ij
まで、設定した電子の運動エネルギの数だけ直列に設け
て量子波干渉層を形成しても良い。図3に示すように、
各運動エネルギEk を有する電子は、各部分量子波干渉
層Ik で反射されることになり、運動エネルギがE1 〜
Ej の範囲にある電子を効率良く反射させることができ
る。運動エネルギの間隔を細かく設定すれば、各部分量
子波干渉層Ik における第1層W又は第2層Bの厚さ
(DWk, DBk)はkに対してほぼ連続して変化すること
になる。
数の運動エネルギEk のそれぞれに対して部分量子波干
渉層Ik を形成しても良い。各部分量子波干渉層Ik は
(3)、(4)式で決定される厚さの第1層Wと第2層
Bとを(DWk, DBk)を1組としてTk 周期分多重化し
て形成される。この部分量子波干渉層Ik をI1 〜Ij
まで、設定した電子の運動エネルギの数だけ直列に設け
て量子波干渉層を形成しても良い。図3に示すように、
各運動エネルギEk を有する電子は、各部分量子波干渉
層Ik で反射されることになり、運動エネルギがE1 〜
Ej の範囲にある電子を効率良く反射させることができ
る。運動エネルギの間隔を細かく設定すれば、各部分量
子波干渉層Ik における第1層W又は第2層Bの厚さ
(DWk, DBk)はkに対してほぼ連続して変化すること
になる。
【0022】〔請求項5の発明〕図4に示すように、
(3)、(4)式で決定される厚さ(DWk, DBk)に関
して、厚さ(DW1, DB1), …, (DWk, DBk), …
(DWj, DBj) で多重化した部分量子波干渉層を任意個
数分だけ直列接続しても良い。このように配列しても、
運動エネルギがE1 〜Ej の範囲にある電子を効率良く
反射させることができる。運動エネルギの間隔を細かく
設定すれば、各第1層又は各第2層の厚さはほぼ連続し
て変化することになる。
(3)、(4)式で決定される厚さ(DWk, DBk)に関
して、厚さ(DW1, DB1), …, (DWk, DBk), …
(DWj, DBj) で多重化した部分量子波干渉層を任意個
数分だけ直列接続しても良い。このように配列しても、
運動エネルギがE1 〜Ej の範囲にある電子を効率良く
反射させることができる。運動エネルギの間隔を細かく
設定すれば、各第1層又は各第2層の厚さはほぼ連続し
て変化することになる。
【0023】〔請求項2、6の発明〕図8に示すよう
に、第1層Wと第2層Bとの境界において、エネルギバ
ンドを急変させる厚さが第1層W、第2層Bに比べて十
分に薄いδ層を設けても良い。境界での反射率は(7)
式で得られるが、境界にδ層を設けることで、バンド電
位差Vを大きくすることができx値が小さくなる。x値
が小さいことから反射率Rが大きくなる。このδ層は、
図8(a)に示すように、各第1層Wの両側の境界に設
けられているが、片側の境界だけに設けても良い。又、
δ層は、図8(a)に示すように、境界に第2層Bのバ
ンドの底の電位よりもさらに高いバンド電位が形成され
るように設けているが、図8(b)に示すように、境界
に第1層のバンドの底よりもさらに低いエネルギレベル
を有するように形成しても良い。さらに、図8(c)に
示すように、境界に第2層Bよりも高いエネルギレベル
を有し第1層Wよりも低いエネルギレベルを有する2つ
のδ層を形成しても良い。このようにすることで、第1
層Wと第2層Bとの境界での量子波の反射率を大きくす
ることができ、多重層に形成した場合に全体での量子波
の反射率を大きくすることができる。
に、第1層Wと第2層Bとの境界において、エネルギバ
ンドを急変させる厚さが第1層W、第2層Bに比べて十
分に薄いδ層を設けても良い。境界での反射率は(7)
式で得られるが、境界にδ層を設けることで、バンド電
位差Vを大きくすることができx値が小さくなる。x値
が小さいことから反射率Rが大きくなる。このδ層は、
図8(a)に示すように、各第1層Wの両側の境界に設
けられているが、片側の境界だけに設けても良い。又、
δ層は、図8(a)に示すように、境界に第2層Bのバ
ンドの底の電位よりもさらに高いバンド電位が形成され
るように設けているが、図8(b)に示すように、境界
に第1層のバンドの底よりもさらに低いエネルギレベル
を有するように形成しても良い。さらに、図8(c)に
示すように、境界に第2層Bよりも高いエネルギレベル
を有し第1層Wよりも低いエネルギレベルを有する2つ
のδ層を形成しても良い。このようにすることで、第1
層Wと第2層Bとの境界での量子波の反射率を大きくす
ることができ、多重層に形成した場合に全体での量子波
の反射率を大きくすることができる。
【0024】〔請求項7の発明〕請求項7の発明は、δ
層を図5、図6のように配列したものである。これは、
第2層Bの中にエネルギレベルの高いδ層又はエネルギ
レベルの低いδ層を(2)式で決定されるDB の間隔で
複数個形成したものである。又、電子の運動エネルギを
複数の値に設定した場合には、この間隔DB は図3、図
4の配列における第2層Bの厚さDBkに対応する。従っ
て、δ層を間隔DBkでTk 個繰り返した部分量子波干渉
層Ik を、設定した電子の運動エネルギの個数jだけ繰
り返して配列して量子波干渉層を形成しても良い。又、
δ層を間隔DB1,…,DBjで配列した部分量子波干渉層
を任意個数だけ直列接続して量子波干渉層を形成しても
良い。
層を図5、図6のように配列したものである。これは、
第2層Bの中にエネルギレベルの高いδ層又はエネルギ
レベルの低いδ層を(2)式で決定されるDB の間隔で
複数個形成したものである。又、電子の運動エネルギを
複数の値に設定した場合には、この間隔DB は図3、図
4の配列における第2層Bの厚さDBkに対応する。従っ
て、δ層を間隔DBkでTk 個繰り返した部分量子波干渉
層Ik を、設定した電子の運動エネルギの個数jだけ繰
り返して配列して量子波干渉層を形成しても良い。又、
δ層を間隔DB1,…,DBjで配列した部分量子波干渉層
を任意個数だけ直列接続して量子波干渉層を形成しても
良い。
【0025】〔請求項8の発明〕量子波干渉層をキャリ
アを反射させる反射層として用いるもので、キャリアを
効率良く反射層の前に閉じ込めることができる。尚、上
述したように、この量子波干渉層は電子又は正孔の一方
のキャリアのみ反射層として機能し、他のキャリアには
反射層として機能しないため、一方のキャリアだけを蓄
積することができる。
アを反射させる反射層として用いるもので、キャリアを
効率良く反射層の前に閉じ込めることができる。尚、上
述したように、この量子波干渉層は電子又は正孔の一方
のキャリアのみ反射層として機能し、他のキャリアには
反射層として機能しないため、一方のキャリアだけを蓄
積することができる。
【0026】〔請求項9の発明〕量子波干渉層の入射端
面側の1つの第2層B0 だけを厚く形成することで、共
鳴トンネル伝導を防止し、キャリアの反射を効果的に行
うことができる。 〔請求項10、11の発明〕発光素子の活性層を挟むp
伝導層又はn伝導層の少なくとも一方に上記の量子波干
渉層を形成することで、キャリアを効果的に活性層に閉
じ込めることができ、光出力を増大させることができ
る。
面側の1つの第2層B0 だけを厚く形成することで、共
鳴トンネル伝導を防止し、キャリアの反射を効果的に行
うことができる。 〔請求項10、11の発明〕発光素子の活性層を挟むp
伝導層又はn伝導層の少なくとも一方に上記の量子波干
渉層を形成することで、キャリアを効果的に活性層に閉
じ込めることができ、光出力を増大させることができ
る。
【0027】〔請求項12の発明〕電界効果トランジス
タにおいて、チャネルに隣接して量子波干渉層を形成す
ることで、チャネルを伝導するキャリアをチャネル内に
効果的に閉じ込めることができるので、トランジスタの
増幅率、S/N比が向上する。 〔請求項13の発明〕pn接合を有した光電気変換素子
において、p層又はn層に少数キャリアを反射させるた
めの量子波干渉層を形成したので、接合付近で発生する
キャリアの逆方向へのドリフトを防止することができ
る。よって、光電気変換効率が高くなる。
タにおいて、チャネルに隣接して量子波干渉層を形成す
ることで、チャネルを伝導するキャリアをチャネル内に
効果的に閉じ込めることができるので、トランジスタの
増幅率、S/N比が向上する。 〔請求項13の発明〕pn接合を有した光電気変換素子
において、p層又はn層に少数キャリアを反射させるた
めの量子波干渉層を形成したので、接合付近で発生する
キャリアの逆方向へのドリフトを防止することができ
る。よって、光電気変換効率が高くなる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的な実施例に
基づいて説明する。なお本発明は下記実施例に限定され
るものではない。 〔第1実施例〕図9は量子波干渉層をp形クラッド層に
形成した発光ダイオードの断面図である。GaAsから成る
基板10の上に、n-GaAsから成る厚さ0.3 μm 、電子濃
度 2×1018/cm3のバッファ層12が形成され、その上に
n-Ga0.51In0.49P から成る厚さ0.3 μm 、電子濃度 2×
1018/cm3のn形コンタクト層14が形成されている。n
形コンタクト層14の上には、n-Al0.51In0.49P から成
る厚さ 1μm 、電子濃度1×1018/cm3のn形クラッド層
16が形成され、その上にはGa0.51In0.49P から成る不
純物無添加の厚さ14nmの発光層18が形成されている。
さらに、その発光層18の上に量子波干渉層である電子
反射層20が形成されており、その電子反射層20の上
にp-Al0.51In0.49P から成る厚さ 1μm 、正孔濃度 1×
1018/cm3のp形クラッド層22が形成されている。そし
て、その層22の上にp-Ga0.51In0.49P から成る厚さ0.
2 μm 、正孔濃度 2×1018/cm3の第2p形コンタクト層
24とp-GaAsから成る厚さ0.1 μm の第1p形コンタク
ト層26が形成されている。さらに、基板10の裏面に
は厚さ0.2 μm のAu/Ge から成る電極28が形成され、
第1p形コンタクト層26の上には厚さ0.2 μm のAu/Z
n から成る電極30が形成されている。尚、基板10
は、2インチ径の大きさであり、基板の主面は面方位(1
00) に対して15°方位[011] 方向にオフセットしてい
る。
基づいて説明する。なお本発明は下記実施例に限定され
るものではない。 〔第1実施例〕図9は量子波干渉層をp形クラッド層に
形成した発光ダイオードの断面図である。GaAsから成る
基板10の上に、n-GaAsから成る厚さ0.3 μm 、電子濃
度 2×1018/cm3のバッファ層12が形成され、その上に
n-Ga0.51In0.49P から成る厚さ0.3 μm 、電子濃度 2×
1018/cm3のn形コンタクト層14が形成されている。n
形コンタクト層14の上には、n-Al0.51In0.49P から成
る厚さ 1μm 、電子濃度1×1018/cm3のn形クラッド層
16が形成され、その上にはGa0.51In0.49P から成る不
純物無添加の厚さ14nmの発光層18が形成されている。
さらに、その発光層18の上に量子波干渉層である電子
反射層20が形成されており、その電子反射層20の上
にp-Al0.51In0.49P から成る厚さ 1μm 、正孔濃度 1×
1018/cm3のp形クラッド層22が形成されている。そし
て、その層22の上にp-Ga0.51In0.49P から成る厚さ0.
2 μm 、正孔濃度 2×1018/cm3の第2p形コンタクト層
24とp-GaAsから成る厚さ0.1 μm の第1p形コンタク
ト層26が形成されている。さらに、基板10の裏面に
は厚さ0.2 μm のAu/Ge から成る電極28が形成され、
第1p形コンタクト層26の上には厚さ0.2 μm のAu/Z
n から成る電極30が形成されている。尚、基板10
は、2インチ径の大きさであり、基板の主面は面方位(1
00) に対して15°方位[011] 方向にオフセットしてい
る。
【0029】この発光ダイオードは、ガスソースMBE
法により製造された。ガスソースMBE法は、結晶のエ
レメント材料全てを固体ソースから供給する従来形のM
BE法とは異なり、V族元素(As,P)等をガス状原料(AsH
3,PH3)の熱分解により供給し、III 族エレメント(In,G
a,Al)は固体ソースから供給する超高真空下の分子線結
晶成長法である。
法により製造された。ガスソースMBE法は、結晶のエ
レメント材料全てを固体ソースから供給する従来形のM
BE法とは異なり、V族元素(As,P)等をガス状原料(AsH
3,PH3)の熱分解により供給し、III 族エレメント(In,G
a,Al)は固体ソースから供給する超高真空下の分子線結
晶成長法である。
【0030】電子反射層(量子波干渉層)20は、図1
0に示すように、第1層Wにp-Ga0.51In0.49P 、第2層
Bにp-Al0.51In0.49P を用いた15周期の多重量子構造
であり、第1層Wと第2層Bの境界にp-Al0.33Ga0.33In
0.33P から成るδ層が形成されている。厚さの条件は上
記した(1)、(2)式で決定され、最初の第2層B0
の厚さはキャリアのトンネル伝導を防止できる程の厚さ
に設計されている。又、δ層の厚さは、1.3nm である。
図10のエネルギダイヤグラムでは、n形クラッド層1
6と発光層18と電子反射層20が図示されている。図
10(a)は電圧が印加されていない状態を示し、
(b)は電圧Vが印加された状態を示している。このよ
うな構造とすることで、n形クラッド層16から発光層
18に注入された電子は電子反射層20により効果的に
反射され、発光層18に閉じ込められる。又、価電子帯
においても、多重量子井戸構造が形成されるが、この構
造では電子が効果的に反射されるように第1層Wと第2
層Bの厚さの条件が決定されているので、正孔はこの多
重量子井戸構造では反射されない。よって、p形クラッ
ド層22からの正孔はこの電子反射層20を通過して、
発光層18に容易に達し、n形クラッド層16により発
光層18に閉じ込められる。
0に示すように、第1層Wにp-Ga0.51In0.49P 、第2層
Bにp-Al0.51In0.49P を用いた15周期の多重量子構造
であり、第1層Wと第2層Bの境界にp-Al0.33Ga0.33In
0.33P から成るδ層が形成されている。厚さの条件は上
記した(1)、(2)式で決定され、最初の第2層B0
の厚さはキャリアのトンネル伝導を防止できる程の厚さ
に設計されている。又、δ層の厚さは、1.3nm である。
図10のエネルギダイヤグラムでは、n形クラッド層1
6と発光層18と電子反射層20が図示されている。図
10(a)は電圧が印加されていない状態を示し、
(b)は電圧Vが印加された状態を示している。このよ
うな構造とすることで、n形クラッド層16から発光層
18に注入された電子は電子反射層20により効果的に
反射され、発光層18に閉じ込められる。又、価電子帯
においても、多重量子井戸構造が形成されるが、この構
造では電子が効果的に反射されるように第1層Wと第2
層Bの厚さの条件が決定されているので、正孔はこの多
重量子井戸構造では反射されない。よって、p形クラッ
ド層22からの正孔はこの電子反射層20を通過して、
発光層18に容易に達し、n形クラッド層16により発
光層18に閉じ込められる。
【0031】第1層Wと第2層Bの厚さを各種変化させ
て発光出力を測定した。第2層Bの厚さを7nmにして、
第1層Wの厚さを各種変化させて発光出力を測定した。
その結果を図13に示す。この測定結果からも理解され
るように、第1層Wの厚さが5nmの時に発光出力は最大
となることが分かる。次に、第1層Wの厚さを5nmにし
て、第2層Bの厚さを各種変化させて発光出力を測定し
た。その結果を図14に示す。第2層Bの厚さが7nmの
時に発光出力が最大となることが分かる。このように、
電子反射層20は第1層Wの厚さを5nm、第2層Bの厚
さを7nmにする時に発光出力が最大となることが分か
る。この出力は、電子反射層20がない場合に比べて約
8倍となった。
て発光出力を測定した。第2層Bの厚さを7nmにして、
第1層Wの厚さを各種変化させて発光出力を測定した。
その結果を図13に示す。この測定結果からも理解され
るように、第1層Wの厚さが5nmの時に発光出力は最大
となることが分かる。次に、第1層Wの厚さを5nmにし
て、第2層Bの厚さを各種変化させて発光出力を測定し
た。その結果を図14に示す。第2層Bの厚さが7nmの
時に発光出力が最大となることが分かる。このように、
電子反射層20は第1層Wの厚さを5nm、第2層Bの厚
さを7nmにする時に発光出力が最大となることが分か
る。この出力は、電子反射層20がない場合に比べて約
8倍となった。
【0032】〔第2実施例〕図11に示すように、n形
クラッド層16にも正孔反射層32が発光層18に隣接
して設けられている。この正孔反射層32も電子反射層
20と構造的には同一である。この構造のエネルギダイ
ヤグラムは図12に示す通りである。但し、正孔を効果
的に反射させるために、第1層Wの厚さは1.0nm であ
り、第2層Bの厚さは1.2nm である。このように電子反
射層20と正孔反射層32とを形成することで、電子反
射層20と正孔反射層32が形成されていない発光素子
に比べて、約16倍の出力が得られた。
クラッド層16にも正孔反射層32が発光層18に隣接
して設けられている。この正孔反射層32も電子反射層
20と構造的には同一である。この構造のエネルギダイ
ヤグラムは図12に示す通りである。但し、正孔を効果
的に反射させるために、第1層Wの厚さは1.0nm であ
り、第2層Bの厚さは1.2nm である。このように電子反
射層20と正孔反射層32とを形成することで、電子反
射層20と正孔反射層32が形成されていない発光素子
に比べて、約16倍の出力が得られた。
【0033】〔第3実施例〕次に、図10と同じ構造
で、電子反射層20のδ層の厚さを変化させて、発光出
力を測定した結果を図15に示す。図15では、第1層
Wの厚さは5.6nm であり、第2層Bの厚さは7.5nm であ
るので、最適値ではないが、δ層の厚さが約、1.3nm の
時に最大出力が得られ、δ層が存在しない場合に比べて
約1.5 倍の出力が得られることが分かる。
で、電子反射層20のδ層の厚さを変化させて、発光出
力を測定した結果を図15に示す。図15では、第1層
Wの厚さは5.6nm であり、第2層Bの厚さは7.5nm であ
るので、最適値ではないが、δ層の厚さが約、1.3nm の
時に最大出力が得られ、δ層が存在しない場合に比べて
約1.5 倍の出力が得られることが分かる。
【0034】〔第4実施例〕MOSFETは絶縁膜直下
に反転層のチャネルを形成して少数キャリアを伝導させ
る素子である。ゲート電圧が大きくなるとこの反転層に
おけるキャリアがオーバフローしS/N比が低下する。
そこで、図16に示すように、チャネルの下側にSiの第
2層BとGeの第1層Wの多重周期から成る上記構造の量
子波干渉層を設けることで、キャリアを狭いチャネルに
閉じ込めることができる。この結果、チャネルにおける
キャリアのオーバフローを防止することができ、S/N
比の向上、応答速度の向上、駆動電力の低下を実現する
ことができる。FETにおいてnチャネルで電子をキャ
リアとする場合には、第2層Bの最適厚さは6.8nm 、第
1層Wの最適厚さは2.0nm である。
に反転層のチャネルを形成して少数キャリアを伝導させ
る素子である。ゲート電圧が大きくなるとこの反転層に
おけるキャリアがオーバフローしS/N比が低下する。
そこで、図16に示すように、チャネルの下側にSiの第
2層BとGeの第1層Wの多重周期から成る上記構造の量
子波干渉層を設けることで、キャリアを狭いチャネルに
閉じ込めることができる。この結果、チャネルにおける
キャリアのオーバフローを防止することができ、S/N
比の向上、応答速度の向上、駆動電力の低下を実現する
ことができる。FETにおいてnチャネルで電子をキャ
リアとする場合には、第2層Bの最適厚さは6.8nm 、第
1層Wの最適厚さは2.0nm である。
【0035】〔第5実施例〕図17に示すように、pn
接合の光電気変換半導体素子に上記構造の量子波干渉層
を設けることができる。p層には電子を反射させる電子
反射層をn層には正孔を反射させる正孔反射層を形成す
る。pn接合部分に光が入射すると電子・正孔対が生成
される。この時、電子はn層へバンド電位差により加速
されるが、一部の電子はp層側へドリフトし光電変換に
寄与しない。入射光強度が大きくなる程、このp層への
電子のオーバフローが大きくなる。そこで、上記構造の
電子を反射させる量子波干渉層をp層に形成すること
で、電子のp層側へのドリフトを防止することができ、
n層側へ電子を伝導させることができる。又、正孔につ
いても同様に、光電変換に寄与しないn層側へのドリフ
トがある。上記構造の量子波干渉層をn層に設けること
で正孔を反射させることができる。この構造により漏れ
電流が無くなり、光電気の変換効率が向上する。
接合の光電気変換半導体素子に上記構造の量子波干渉層
を設けることができる。p層には電子を反射させる電子
反射層をn層には正孔を反射させる正孔反射層を形成す
る。pn接合部分に光が入射すると電子・正孔対が生成
される。この時、電子はn層へバンド電位差により加速
されるが、一部の電子はp層側へドリフトし光電変換に
寄与しない。入射光強度が大きくなる程、このp層への
電子のオーバフローが大きくなる。そこで、上記構造の
電子を反射させる量子波干渉層をp層に形成すること
で、電子のp層側へのドリフトを防止することができ、
n層側へ電子を伝導させることができる。又、正孔につ
いても同様に、光電変換に寄与しないn層側へのドリフ
トがある。上記構造の量子波干渉層をn層に設けること
で正孔を反射させることができる。この構造により漏れ
電流が無くなり、光電気の変換効率が向上する。
【0036】本発明は発光ダイオードに量子波干渉層を
設けた実施例を示したが、半導体レーザに量子波干渉層
を設けても良い。又、上記実施例では、量子波干渉層を
Ga0.51In0.49P とAl0.51In0.49P との多重層で構成した
が、4元系のAlxGayIn1-x-yP(0≦x,y ≦1 の任意の値)
で組成比を異にして形成しても良い。さらに、量子波干
渉層は、他のIII 族-V族化合物半導体、II族-VI 族化合
物半導体、Si/Ge 、その他の異種半導体の多重接合で構
成することが可能である。
設けた実施例を示したが、半導体レーザに量子波干渉層
を設けても良い。又、上記実施例では、量子波干渉層を
Ga0.51In0.49P とAl0.51In0.49P との多重層で構成した
が、4元系のAlxGayIn1-x-yP(0≦x,y ≦1 の任意の値)
で組成比を異にして形成しても良い。さらに、量子波干
渉層は、他のIII 族-V族化合物半導体、II族-VI 族化合
物半導体、Si/Ge 、その他の異種半導体の多重接合で構
成することが可能である。
【図1】本発明の概念を説明するための説明図。
【図2】第2層におけるキャリアの運動エネルギの第1
層における運動エネルギに対する比xに対する反射率R
の関係を示した特性図。
層における運動エネルギに対する比xに対する反射率R
の関係を示した特性図。
【図3】本発明の概念を説明するための説明図。
【図4】本発明の概念を説明するための説明図。
【図5】本発明の概念を説明するための説明図。
【図6】本発明の概念を説明するための説明図。
【図7】本発明の概念を説明するための説明図。
【図8】本発明の概念を説明するための説明図。
【図9】本発明の具体的な一実施例に係る発光素子の構
造を示した断面図。
造を示した断面図。
【図10】その実施例に係る発光素子のエネルギダイヤ
グラム。
グラム。
【図11】他の実施例に係る発光素子の構造を示した断
面図。
面図。
【図12】その実施例に係る発光素子のエネルギダイヤ
グラム。
グラム。
【図13】第1層の厚さに対する光出力の関係を示した
測定図。
測定図。
【図14】第2層の厚さに対する光出力の関係を示した
測定図。
測定図。
【図15】δ層の厚さに対する光出力の関係を示した測
定図。
定図。
【図16】その他の実施例に係るMOSFETのエネル
ギダイヤグラム。
ギダイヤグラム。
【図17】その他の実施例に係る光電気変換半導体素子
のエネルギダイヤグラム。
のエネルギダイヤグラム。
10…基板 12…バッファ層 14…n形コンタクト層 16…n形クラッド層 18…発光層 20…電子反射層 22…p形クラッド層 24…第2p形コンタクト層 26…第1p形コンタクト層 28,30…電極 32…正孔反射層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 33/00 H01L 31/02 A H01S 5/30 31/04 A (56)参考文献 Japanese Journal of Applied Physic s,Vol.29,No.11,Novem ber,1990,pp.L1977−L1980 電子情報通信学会技術研究報告,Vo l.91,No.2(OQE91 1− 17),1991,PP.73−78 電子情報通信学会技術研究報告,Vo l.91,No.15(ED91 1−7), 1991,PP.15−21 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 29/861 H01L 29/864 - 29/87 H01L 29/88 - 29/96 H01L 29/06 H01L 29/78 H01L 31/02 H01L 31/04 H01L 33/00 H01S 5/30 JICSTファイル(JOIS)
Claims (13)
- 【請求項1】 第1層と第1層よりもバンド幅の広い第
2層とを多重周期で積層した量子波干渉層を有する半導
体素子において、 前記第1層と前記第2層の厚さをその第2層の最低エネ
ルギレベル付近にあるキャリアの各層における量子波の
波長の4分の1の奇数倍に設定したことを特徴とする量
子波干渉層を有した半導体素子。 - 【請求項2】 第1層と第1層よりもバンド幅の広い第
2層とを多重周期で積層した量子波干渉層を有する半導
体素子において、 前記第1層と前記第2層の厚さをキャリアの各層におけ
る量子波の波長の4分の1の奇数倍に設定し、 前記第1層と前記第2層との境界には、前記第1層と前
記第2層の厚さに比べて充分に薄く、エネルギバンドを
急変させるδ層が設けられていることを特徴とする半導
体素子。 - 【請求項3】 前記第1層における前記量子波の波長λ
W はλW =h/[2mw(E+V) ]1/2で決定され、前記
第2層における前記量子波の波長λB はλB =h/(2m
B E)1/2で決定され、前記第1層の厚さDW はDW =n
W λW /4、前記第2層の厚さDB はDB =nB λB /
4で決定される、但し、hはプランク定数、mw は第1
層におけるキャリアの有効質量、mB は第2層における
キャリアの有効質量、Eは第2層に流入された、第2層
の最低エネルギレベル付近におけるキャリアの運動エネ
ルギー、Vは第1層に対する第2層のバンド電位差、n
W、nB は奇数であることを特徴とする請求項1又は2
に記載の量子波干渉層を有した半導体素子。 - 【請求項4】 第1層と第1層よりもバンド幅の広い第
2層とを多重周期で積層した量子波干渉層を有する半導
体素子において、 前記第2層に流入されるキャリアの運動エネルギを複数
の異なる値Ek 、前記第1層におけるその各運動エネル
ギをEk +Vとし、第2層、第1層の各エネルギに対応
した各量子波長をλBk,λWkとする時、第2層、第1層
をnBkλBk/4、nWkλWk/4の厚さで、Tk 周期繰り
返された部分量子波干渉層Ik が前記値Ek の数だけ繰
り返し形成された、但し、nWk、nBkは奇数、量子波干
渉層を有することを特徴とする半導体素子。 - 【請求項5】 第1層と第1層よりもバンド幅の広い第
2層とを多重周期で積層した量子波干渉層を有する半導
体素子において、 前記第2層に流入されるキャリアの運動エネルギを複数
の異なる値Ek 、前記第1層におけるその各運動エネル
ギをEk +Vとし、第2層、第1層の各エネルギに対応
した各量子波長をλBk,λWkとする時、第2層、第1層
を厚さ(nB1λB1/4,nW1λW1/4),…,(nBkλ
Bk/4,nWkλWk/4),…,(nBjλBj/4,nWjλ
Wj/4)で形成した部分量子波干渉層を任意周期繰り返
して形成された、但し、nWk、nBkは奇数、量子波干渉
層を有することを特徴とする半導体素子。 - 【請求項6】 前記第1層と前記第2層との境界には、
前記第1層と前記第2層の厚さに比べて充分に薄く、エ
ネルギバンドを急変させるδ層が設けられていることを
特徴とする請求項1又は請求項3乃至請求項5のいずれ
か1項に記載の半導体素子。 - 【請求項7】 バンド幅の異なる異種半導体を多重周期
で接合した半導体素子において、 繰り返し幅に比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変
させるδ層を、伝導するキャリアの量子波の波長の4分
の1の奇数倍の間隔で複数配設した量子波干渉層を有す
ることを特徴とする半導体素子。 - 【請求項8】 前記量子波干渉層は前記キャリアを反射
させる反射層として作用することを特徴とする請求項1
乃至請求項7のいずれか1項に記載の量子波干渉層を有
した半導体素子。 - 【請求項9】 前記量子波干渉層の量子波の入射端はキ
ャリアのトンネル伝導を禁止するに十分な厚さの第2層
が形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項
6のいずれか1項又は請求項8に記載の半導体素子。 - 【請求項10】 活性層をn伝導形層とp伝導形層で挟
んだ構造の発光素子において、 前記n伝導形層及び前記p伝導形層の少なくとも一方の
層において、 請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の量子波干
渉層を形成したことを特徴とする発光素子。 - 【請求項11】 前記活性層と前記n伝導形層又は前記
p伝導形層はヘテロ接合され、前記n伝導形層をn形ク
ラッド層とし、前記p伝導形層をp形クラッド層とし、
前記量子波干渉層によりキャリアを反射させて前記活性
層に閉じ込めることを特徴とする請求項10に記載の発
光素子。 - 【請求項12】 電界効果トランジスタにおいて、チャ
ネルに隣接して請求項1乃至請求項9のいずれか1項に
記載の量子波干渉層を形成したことを特徴とする電界効
果トランジスタ。 - 【請求項13】 pn接合を有した光電気変換素子にお
いて、p層又はn層に少数キャリアを反射させるための
請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の量子波干
渉層を形成したことを特徴とする光電気変換素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12348197A JP3014339B2 (ja) | 1997-04-25 | 1997-04-25 | 量子波干渉層を有した半導体素子 |
US09/059,374 US6175123B1 (en) | 1997-04-25 | 1998-04-14 | Semiconductor devices with quantum-wave interference layers |
EP98106816A EP0874403A3 (en) | 1997-04-25 | 1998-04-15 | Semiconductor devices with quantum-wave interference layers |
US09/695,312 US6476412B1 (en) | 1997-04-25 | 2000-10-25 | Light emitting semiconductor device with partial reflection quantum-wave interference layers |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12348197A JP3014339B2 (ja) | 1997-04-25 | 1997-04-25 | 量子波干渉層を有した半導体素子 |
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---|---|---|---|
JP11315707A Division JP2000114601A (ja) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | 量子波干渉層を有した半導体素子及び半導体素子を構成する量子波干渉層の設計方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10303406A JPH10303406A (ja) | 1998-11-13 |
JP3014339B2 true JP3014339B2 (ja) | 2000-02-28 |
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JP2000124443A (ja) * | 1998-10-21 | 2000-04-28 | Canare Electric Co Ltd | エネルギバンド急変層を有した半導体素子 |
JP2000133655A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Canare Electric Co Ltd | 量子波干渉層を有するトランジスタ |
JP3442668B2 (ja) * | 1998-10-23 | 2003-09-02 | カナレ電気株式会社 | 量子波干渉層を有した電界効果トランジスタ |
US6818916B2 (en) * | 1998-12-17 | 2004-11-16 | Canare Electric Co., Ltd. | Light-receiving device with quantum-wave interference layers |
JP4119158B2 (ja) * | 2002-04-23 | 2008-07-16 | 三菱電機株式会社 | 傾斜状多重量子バリアを用いた半導体発光素子 |
US7815862B2 (en) * | 2003-03-14 | 2010-10-19 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Wafer characteristics via reflectometry |
JPWO2005020396A1 (ja) * | 2003-08-26 | 2006-10-19 | ソニー株式会社 | GaN系III−V族化合物半導体発光素子及びその製造方法 |
KR20090016694A (ko) * | 2006-06-12 | 2009-02-17 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 재발광 반도체 구성 및 광학 요소를 갖는 led 소자 |
CN102403439A (zh) * | 2006-06-12 | 2012-04-04 | 3M创新有限公司 | 具有再发光半导体构造和会聚光学元件的led装置 |
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PL1883119T3 (pl) | 2006-07-27 | 2016-04-29 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Półprzewodnikowa struktura warstwowa z supersiecią |
US8022292B2 (en) | 2006-10-02 | 2011-09-20 | SolASE Corporation | Photovoltaic device employing a resonator cavity |
KR20120129029A (ko) * | 2011-05-18 | 2012-11-28 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
KR20120138080A (ko) * | 2011-06-14 | 2012-12-24 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
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---|---|---|---|---|
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JPH01181578A (ja) * | 1988-01-12 | 1989-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | アバランシ・ホトダイオード |
CA2003134C (en) * | 1988-11-16 | 1995-02-07 | Thomas K. Gaylord | Solid state, quantum mechanical, electron and hole wave devices |
CA2055208C (en) | 1990-11-09 | 2000-07-04 | Michinori Irikawa | A quatum barrier semiconductor optical device |
EP0506127B1 (en) * | 1991-03-28 | 1999-06-09 | Nec Corporation | Semiconductor photodetector using avalanche multiplication |
JPH06204457A (ja) | 1992-05-08 | 1994-07-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 多重量子障壁ショットキー接合素子 |
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-
1997
- 1997-04-25 JP JP12348197A patent/JP3014339B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-14 US US09/059,374 patent/US6175123B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-15 EP EP98106816A patent/EP0874403A3/en not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-10-25 US US09/695,312 patent/US6476412B1/en not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (3)
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Japanese Journal of Applied Physics,Vol.29,No.11,November,1990,pp.L1977−L1980 |
電子情報通信学会技術研究報告,Vol.91,No.15(ED91 1−7),1991,PP.15−21 |
電子情報通信学会技術研究報告,Vol.91,No.2(OQE91 1−17),1991,PP.73−78 |
Also Published As
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---|---|
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US6476412B1 (en) | 2002-11-05 |
EP0874403A3 (en) | 2003-11-05 |
JPH10303406A (ja) | 1998-11-13 |
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