JP3014363B2 - 量子波干渉層を有した半導体素子 - Google Patents

量子波干渉層を有した半導体素子

Info

Publication number
JP3014363B2
JP3014363B2 JP13145598A JP13145598A JP3014363B2 JP 3014363 B2 JP3014363 B2 JP 3014363B2 JP 13145598 A JP13145598 A JP 13145598A JP 13145598 A JP13145598 A JP 13145598A JP 3014363 B2 JP3014363 B2 JP 3014363B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
semiconductor device
quantum wave
quantum
wave interference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP13145598A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11307881A (ja
Inventor
浩之 加納
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canare Electric Co Ltd
Original Assignee
Canare Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canare Electric Co Ltd filed Critical Canare Electric Co Ltd
Priority to JP13145598A priority Critical patent/JP3014363B2/ja
Priority to EP99108056A priority patent/EP0967658A3/en
Publication of JPH11307881A publication Critical patent/JPH11307881A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3014363B2 publication Critical patent/JP3014363B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/12Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/15Structures with periodic or quasi periodic potential variation, e.g. multiple quantum wells, superlattices
    • H01L29/151Compositional structures
    • H01L29/152Compositional structures with quantum effects only in vertical direction, i.e. layered structures with quantum effects solely resulting from vertical potential variation
    • H01L29/155Comprising only semiconductor materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66977Quantum effect devices, e.g. using quantum reflection, diffraction or interference effects, i.e. Bragg- or Aharonov-Bohm effects
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/86Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子又は正孔から成
るキャリアを効率良く透過させるための量子波干渉層に
関する。特に、新規構造の半導体素子に関し、移動度や
伝送速度を向上させる素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体レーザに関して、活性層を
n形クラッド層とp形クラッド層とで挟んだダブルヘテ
ロ接合構造が知られている。このレーザでは、電子及び
正孔が活性層に対して電位障壁を形成するクラッド層に
より効率良く閉じ込められる。しかしながら、クラッド
層の電位障壁を越えてキャリアがオーバーフローするた
め、発光効率を充分に向上できないという問題がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このために、JJAP
Letters Vol.29,No.11(1990 年) L1977-L1980 に記載
されたように、クラッド層に多重量子井戸構造を設ける
ことが提案されている。しかし、この文献では、キャリ
アの運動エネルギをどのような値とするかは示唆がな
く、この文献によって指摘された第1層と第2層との最
適な厚さは、本発明者らが最適とする厚さに対して1/
4〜1/6である。この結果、活性層にキャリアを十分
に蓄積することができず、発光強度が十分に向上しない
という課題がある。
【0004】そこで、本発明者らは、バンド幅の異なる
多重層構造を光の多重反射における誘電体多層膜に対応
させて、キャリアの量子波が多重層構造により多重反射
されると考えた。そして、この反射によりキャリアの効
果的な閉じ込めが可能となると考え、量子波干渉層の最
適構造を創作した。次に、本発明者らは、電子の波動と
しての性質を考慮して、光の多重反射からの類推によ
り、上記の量子波干渉層がキャリアの透過層として機能
するのではないかと考えた。即ち、多重層構造の各層の
厚さがキャリアの量子波程度となると、その多重層構造
はキャリアの伝導において量子波の干渉効果が発生する
と考えた。この量子波の干渉効果により、波としての伝
導が生じ、従って、電子を古典的な粒子としての伝導の
形ではなく、波としての共鳴、干渉等の様々な現象が発
生するものと考えた。この波動的性質により、キャリア
の移動度及び伝搬速度が向上すると考えられる。このよ
うなことから、本願発明は各種の半導体ディバイスに応
用することが可能となる。
【0005】従って、本発明の目的は、高透過率、高移
動度を有するキャリアの透過層として機能する量子波干
渉層を提供することである。又、他の発明の目的は、バ
ンド幅の異なる多重層構造に新規な層構造を加えること
で、さらに、量子波の透過率を向上させることである。
さらに、他の発明の目的は、量子波を透過することがで
きる他の構造の量子波干渉層を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、第1層と第1層よりもバンド幅の広い第2層とを多
重周期で積層した量子波干渉層を有する半導体素子にお
いて、第1層と第2層の厚さを、各層を伝導するキャリ
アの量子波の波長の4分の1の偶数倍に設定したことを
特徴とする量子波干渉層を有した半導体素子である。
【0007】又、請求項2に記載の発明は、第1層と第
2層の厚さを、第2層の最低エネルギレベル付近にある
キャリアの各層における量子波の波長の4分の1の偶数
倍に設定したことを特徴とする。
【0008】請求項3に記載の発明は、第1層と第2層
との境界に、第1層と第2層の厚さに比べて充分に薄
く、エネルギバンドを急変させるδ層を設けたことであ
る。
【0009】請求項4に記載の発明は、第1層の厚さD
W と第2層の厚さDB を次のように設定したことを特徴
とする。
【数1】 DW =nW λW /4=nW h/ 4 [2mw (E+V) ]1/2 …(1)
【数2】 DB =nB λB /4=nB h/ 4 (2mB E)1/2 …(2) 但し、hはプランク定数、mw は第1層におけるキャリ
アの有効質量、mB は第2層におけるキャリアの有効質
量、Eは第2層に流入された、第2層の最低エネルギレ
ベル付近におけるキャリアの運動エネルギ、Vは第1層
に対する第2層のバンド電位差、nW 、nB は偶数であ
る。
【0010】請求項5の発明は、量子波干渉層を次によ
うに形成したことを特徴とする。第1層、第2層を、そ
れぞれ、厚さD Wk ,D Bk で任意周期Tk だけ繰り返して
部分量子波干渉層Ik とする。但し、
【数3】 DWk=nWkλWk/4=nWkh/ 4[2mwk(Ek +V)]1/2 …(3)
【数4】 DBk=nBkλBk/4=nBkh/ 4 (2mBkk )1/2 …(4) ここで、Ek は第2層に流入されるキャリアの運動エネ
ルギの複数の異なる値、mwkは第1層における運動エネ
ルギ k +Vを有するキャリアの有効質量、mBkは第2
層における運動エネルギ k を有するキャリアの有効質
量、nWk、nBkは任意の偶数である。このように形成さ
れた部分量子波干渉層Ik をI1,, j と、kの最大
値jだけ直列接続して量子波干渉層が形成される。
【0011】請求項6の発明は、(3),(4)式で決
定される厚さ(DBk,DWk)の(第2層,第1層)を、
(DB1,DW1),…,(DBk,DWk),…,(DBj,D
Wj)と積層し、部分量子波干渉層とする。この部分量子
波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層が形成され
る。
【0012】請求項7の発明は、バンド幅の異なる異種
半導体を多重周期で接合した半導体素子において、繰り
返し幅に比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変させ
るδ層を、伝導するキャリアの量子波の波長の4分の1
の偶数倍の間隔で複数配設した量子波干渉層を設けたこ
とを特徴とする。
【0013】この間隔はキャリアの運動エネルギを1つ
の値とすると(2)式のDB で得られ、δ層は等間隔で
設けられる。又、キャリアの運動エネルギEk を複数の
値に設定すると、間隔は(4)式のDBkで与えられる。
この場合には、間隔DBkでTk 周期繰り返した部分量子
波干渉層Ik をI1,, j と直列接続して量子波干渉
層を形成することができる。又、DB1,…,DBk,…,
Bjと積層し、部分量子波干渉層とする。この部分量子
波干渉層を任意周期繰り返して量子波干渉層を形成する
こともできる。
【0014】請求項8の発明は、量子波干渉層をキャリ
アを透過させる透過層として作用させることを特徴とす
る。請求項9の発明は、量子波干渉層の量子波の入射端
はキャリアのトンネル伝導を禁止するに十分な厚さの第
2層が形成されていることを特徴とする。
【0015】請求項10の発明は、nin又はpip構
造の半導体素子において、i層に、請求項1乃至請求項
9のいずれか1項に記載の量子波干渉層を形成したこと
を特徴とする。
【0016】請求項11の発明は、i層における第2層
のバンド幅を、n層又はp層におけるバンド幅と等しく
したことを特徴とする。
【0017】請求項12の発明は、nin構造の半導体
素子において、i層における第2層の伝導帯の最低レベ
ルをn層における伝導帯の最低レベルに一致させたこと
を特徴とする。
【0018】請求項13の発明は、pip構造の半導体
素子において、i層における第2層の価電子帯の最低レ
ベルをp層における価電子帯の最低レベルに一致させた
ことを特徴とする。
【0019】
【発明の作用及び効果】〔請求項1、2、4の発明〕本
発明にかかる量子波干渉層の原理を次に説明する。図1
は、バンド幅の異なる多重層構造の伝導帯を示してい
る。電子が図上左から右方向に伝導するとする。伝導に
寄与する電子は、バンド幅の広い第2層の伝導帯の底付
近に存在する電子と考えられる。この電子の運動エネル
ギをEとする。すると、第2層Bからバンド幅の狭い第
1層Wに伝導する電子は第2層から第1層へのバンド電
位差Vにより加速されて、第1層Wにおける運動エネル
ギはE+Vとなる。又、第1層Wから第2層Bへ伝導す
る電子は第1層から第2層へのバンド電位差Vにより減
速されて、第2層Bにおける電子の運動エネルギはEに
戻る。伝導電子の運動エネルギは、多重層構造のポテン
シャルエネルギによりこのような変調を受ける。
【0020】一方、第1層と第2層の厚さが電子の量子
波長と同程度となると、電子は波動として振る舞う。電
子の量子波は電子の運動エネルギを用いて、(1)、
(2)式により求められる。第1層と第2層との境界に
おける量子波の反射率Rは第2層B、第1層Wにおける
量子波の波数ベクトルをKB ,KW とする時、次式で求
められる。
【数5】 R=(|KW |−|KB |)/(|KW |+|KB |) =([mw ( E+V)]1/2-[ mB E]1/2)/([mw ( E+V)]1/2+[ mB E]1/2) =[1- ( mB E/ mw ( E+V))1/2]/[1+ (mB E/ mw ( E+V))1/2] …(5) 又、mB =mw と仮定すれば、反射率は次式で表され
る。
【数6】 R=[1- ( E/ ( E+V))1/2]/[1+ (E/ ( E+V))1/2] …(6) E/ ( E+V) =xとおけば、(6)式は次式のように
変形できる。
【数7】 R=(1−x1/2 )/(1+x1/2 ) …(7) この反射率Rのxに対する特性は図2のようになる。
【0021】x≦1/10の時R≧0.52となり、そ
のためのE,Vの関係は
【数8】 E≦V/9 …(8) となる。第2層Bにおける伝導電子の運動エネルギEは
伝導帯の底付近であることから、(8)式の関係が満足
され、第2層Bと第1層Wとの境界での反射率Rは52
%以上となる。このようなバンド幅の異なる多重層構造
により、第1層と第2層との境界において、量子波の反
射が生じる。
【0022】又、xを用いて第2層Bの厚さの第1層W
の厚さに対する比DB /DW は次式で求められる。
【数9】 DB /DW =〔mw /(mB x)〕1/2 …(9)
【0023】第1層と第2層の厚さがこれらの各層にお
ける量子波の波長の1/4の偶数倍、例えば、量子波長
の1/2となると、量子波干渉層に定在波が立ち、共鳴
的伝導が生じるものと思われる。即ち、定在波による量
子波の周期と量子波干渉層とのポテンシャル周期とが一
致する結果、各層でのキャリアの散乱が抑制され、高移
動度の伝導が実現すると考えられる。
【0024】又、価電子帯においても、バンドの底のエ
ネルギレベルが周期的に変動するが、バンド電位差Vが
伝導帯のバンド電位差と異なること、第1層、第2層に
おける正孔の有効質量が電子の有効質量と異なること等
のため、電子に対して高透過性に設定された第1層と第
2層の幅の設定値は正孔に対する高透過性が得られる条
件にはならない。よって、上記の構造の量子波干渉層
は、電子に対して高透過性(高移動度)となり、正孔に
対しては高透過性(高移動度)にはならない。
【0025】又、逆に、価電子帯のバンド電位差、正孔
の有効質量を用いて、第1層、第2層の厚さを設計する
ことで、量子波干渉層を正孔に対して高移動度とし、電
子に対して通常の移動度とする層とする正孔透過層とす
ることも可能である。
【0026】〔請求項5の発明〕図3に示すように、複
数の運動エネルギEk のそれぞれに対して部分量子波干
渉層Ik を形成しても良い。各部分量子波干渉層Ik
(3)、(4)式で決定される厚さの第1層Wと第2層
Bとを(DWk, Bk)を1組としてTk 周期分多重化し
て形成される。この部分量子波干渉層Ik をI1 〜Ij
まで、設定した電子の運動エネルギの数だけ直列に設け
て量子波干渉層を形成しても良い。図3に示すように、
各運動エネルギEk を有する電子は、各部分量子波干渉
層Ik により高透過(高伝導)されることになり、運動
エネルギがE1 〜Ej の範囲にある電子を効率良く伝搬
させることができる。運動エネルギの間隔を細かく設定
すれば、各部分量子波干渉層Ik における第1層W又は
第2層Bの厚さ(DWk, Bk)はkに対してほぼ連続し
て変化することになる。
【0027】〔請求項6の発明〕図4に示すように、
(3)、(4)式で決定される厚さ(DWk, Bk)に関
して、厚さ(DW1, B1), …, (DWk, Bk), …
(DWj, DBj) で多重化した部分量子波干渉層を任意個
数分だけ直列接続しても良い。このように配列しても、
運動エネルギがE1 〜Ej の範囲にある電子を効率良く
透過させることができる。運動エネルギの間隔を細かく
設定すれば、各第1層又は各第2層の厚さはほぼ連続し
て変化することになる。
【0028】〔請求項3の発明〕 図8に示すように、第1層Wと第2層Bとの境界におい
て、エネルギバンドを急変させる厚さが第1層W、第2
層Bに比べて十分に薄いδ層を設けても良い。境界での
反射率は(7)式で得られるが、境界にδ層を設けるこ
とで、バンド電位差Vを大きくすることができx値が小
さくなる。x値が小さいことから反射率Rが大きくな
る。このδ層は、図8(a)に示すように、各第1層W
の両側の境界に設けられているが、片側の境界だけに設
けても良い。又、δ層は、図8(a)に示すように、境
界に第2層Bのバンドの底の電位よりもさらに高いバン
ド電位が形成されるように設けているが、図8(b)に
示すように、境界に第1層のバンドの底よりもさらに低
いエネルギレベルを有するように形成しても良い。さら
に、図8(c)に示すように、境界に第2層Bよりも高
いエネルギレベルを有し第1層Wよりも低いエネルギレ
ベルを有する2つのδ層を形成しても良い。このように
することで、第1層Wと第2層Bとの境界での量子波の
反射率を大きくすることができ、多重層に形成した場合
に全体での量子波の反射率を大きくすることができる。
このように第1層と第2層との境界における反射率をδ
層で向上させることで、量子波干渉層においてキャリア
の量子波の定在波をより大きく生成することができる。
よって、キャリアの高伝導(高透過)が達成されると
えられる
【0029】〔請求項7の発明〕請求項7の発明は、δ
層を図5、図6のように配列したものである。これは、
第2層Bの中にエネルギレベルの高いδ層又はエネルギ
レベルの低いδ層を(2)式で決定されるDB の間隔で
複数個形成したものである。又、電子の運動エネルギを
複数の値に設定した場合には、この間隔DB は図3、図
4の配列における第2層Bの厚さDBkに対応する。従っ
て、δ層を間隔DBkでTk 個繰り返した部分量子波干渉
層Ik を、設定した電子の運動エネルギの個数jだけ繰
り返して配列して量子波干渉層を形成しても良い。又、
δ層を間隔DB1,…,DBjで配列した部分量子波干渉層
を任意個数だけ直列接続して量子波干渉層を形成しても
良い。この構造によっても、量子波の定在波が生起さ
れ、高伝導(高透過)が実現される。
【0030】〔請求項8の発明〕量子波干渉層をキャリ
アを透過させる透過層として用いるもので、キャリアを
効率良く伝導させることができる。尚、上述したよう
に、この量子波干渉層は電子又は正孔の一方のキャリア
のみ透過層として機能し、他のキャリアには透過層とし
て機能しないため、一方のキャリアだけを高伝導率で伝
導させることができる。又、量子波の伝搬と考えれば、
キャリアの高速伝導が可能と考えられる。
【0031】〔請求項9の発明〕量子波干渉層の入射端
面側の1つの第2層B0 だけを厚く形成することで、共
鳴トンネル伝導を防止し、キャリアの透過を効果的に行
うことができる。〔請求項10、11、12、13の発
明〕pip構造、nin構造のi層に上記の量子波干渉
層を形成することで、両側のp層間、又は、n層間にお
けるキャリアの伝導を高移動度且つ高速で行うことがで
きる。又、その時の量子波干渉層の第2層Bのバンド幅
をn層、又は、p層のバンド幅に等しくすることで、キ
ャリアの伝導を高移動度且つ高速で行うことができる。
同様に、n層の伝導帯と第2層Bの伝導帯とを同一レベ
ルとすることで、電子の伝導を高移動度且つ高速で行う
ことができる。さらに、p層の価電子帯と第2層Bの価
電子帯とを同一レベルとすることで、正孔の伝導を高移
動度且つ高速で行うことができる。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的な実施例に
基づいて説明する。なお本発明は下記実施例に限定され
るものではない。 〔第1実施例〕図9 はnin接合構造において、量子波干渉層をi層に
形成した半導体素子の断面図である。GaAsから成る基板
10の上に、n-GaAsから成る厚さ0.3 μm 、電子濃度 2
×1018/cm3のバッファ層12が形成され、その上にn-Ga
0.51In0.49P から成る厚さ0.13μm 、電子濃度 2×1018
/cm3のn形コンタクト層14が形成されている。さら
に、n形コンタクト層14の上には、n-Al0.51In0.49P
から成る厚さ0.2 μm 、電子濃度 1×1018/cm3のn層1
6が形成されている。そのn層16の上には、不純物無
添加のi層18が形成され、そのi層18の上にはAl
0.51In0.49P から成る厚さ0.2 μm 、電子濃度1 ×1018
/cm3のn層20が形成されている。さらに、そのn層2
0の上にn-Ga0.51In0.49P から成る厚さ0.13μm 、電子
濃度 2×1018/cm3の第2n形コンタクト層22とn-GaAs
から成る厚さ0.06μm 、電子濃度 2×1018/cm3の第1n
形コンタクト層24が形成されている。さらに、基板1
0の裏面には厚さ0.2 μm のAu/Ge から成る電極26が
形成され、第1n形コンタクト層24の上には厚さ0.2
μm のAu/Ge から成る電極28が形成されている。
【0033】上記のi層18の中に、不純物無添加のGa
0.51In0.49P から成る第1層Wと不純物無添加のAl0.51
In0.49P から成る第2層Bを10周期多重化した量子波
干渉層Aが設けられている。量子波干渉層Aの詳細なバ
ンド構造が図8(a)に示されている。第1層Wの厚さ
は10nm、第2層Bの厚さは14nmであり、第2層Bと第1
層Wとの間には厚さ1.3nm の不純物無添加のAl0.33Ga
0.33In0.33P から成るδ層が形成されている。第2層B
と第1層Wの厚さの条件は、外部電圧が印加されていな
い状態で、上記した(1)、(2)式で決定されてい
る。
【0034】尚、n層20に接合する第2層Bの厚さは
0.3 μmであり、n層16に接合する第2層Bの厚さは
0.1 μm である。これは、n層20又はn層16からの
電子の第1層Wへのトンネル伝導を防止するためであ
る。又、基板10は、2インチ径の大きさであり、基板
の主面は面方位(100) に対して15°方位[011] 方向にオ
フセットしている。
【0035】この半導体素子は、ガスソースMBE法に
より製造された。ガスソースMBE法は、結晶のエレメ
ント材料全てを固体ソースから供給する従来形のMBE
法とは異なり、V族元素(As,P)等をガス状原料(AsH3,PH
3)の熱分解により供給し、III 族エレメント(In,Ga,Al)
は固体ソースから供給する超高真空下の分子線結晶成長
法である。
【0036】このようにして製造されたnin半導体素
子に電圧を印加して、V−I特性を求めた。その特性図
を図10に示す。約0.9mVで電流が急峻に20倍程
ステップ的に増加しているのが分かる。これは、外部電
圧がこの電圧に達した時に、量子波干渉層に流入する電
子の量子波の波長が各層の厚さの2倍に達したためと思
われる。これにより、この電子の高伝導透過条件が満た
された結果、急激に電流が流れたものと思われる。さら
に、外部電圧を増加すると、量子波干渉層に流入する電
子の運動エネルギーが大きくなり、その量子波の波長は
量子波干渉層の各層の厚さの2倍よりも短くなるため、
高透過条件が満たされなくなるためと思われる。
【0037】他の素子として、上記の量子波干渉層に関
し、第1層Wと第2層Bの繰返周期を3周期とした素子
を製造した。他の各層の厚さ、組成比等の条件は第1実
施例と同一である。その素子のV−I特性を図11に示
す。同様に、約0.9mV付近で電流が10-8 〜10
-5と3桁程大きくなっていることが理解される。
【0038】他の素子として、上記の量子波干渉層に関
し、第1層Wと第2層Bの繰返周期を9周期とした素子
を製造した。他の各層の厚さ、組成比等の条件は第1実
施例と同一である。その素子のV−I特性を図12に示
す。同様に、約0.9mV付近で電流が10-8 〜10
-5と3桁程大きくなっており、3mV付近で電流のステ
ップ的増加が見られている。
【0039】参考例として、上記の量子波干渉層に関し
て、第1層Wの厚さを前実施例の1/2の5nm 、第2層
Bの厚さを前実施例の1/2の7nm として、6周期繰り
返した素子を製造した。その素子の測定されたV−I特
性を図13に示す。本実施例のものに比べて電流の立ち
上がりの勾配が小さく、流れる電流量も1桁から2桁小
さくなっいることが分かる。尚、この層の厚さの条件の
場合には、量子波干渉層は反射層として機能しているこ
とが、本発明者らにより確認されている。よって、図1
3は順方向電圧を増加させる時、反射条件が満たされな
ったった電圧で、せき止められていた電流が急激に流れ
るものと思われる。しかし、その時の電流は、本実施例
のように量子波長の1/2の厚さに各層の厚さを設定し
た場合に比べて1/100程小さいことが理解される。
即ち、通常の伝導に対して、本発明では、100倍の伝
導率又は100倍の移動度が得られているものと思われ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の概念を説明するための説明図。
【図2】第2層におけるキャリアの運動エネルギの第1
層における運動エネルギに対する比xに対する反射率R
の関係を示した特性図。
【図3】本発明の概念を説明するための説明図。
【図4】本発明の概念を説明するための説明図。
【図5】本発明の概念を説明するための説明図。
【図6】本発明の概念を説明するための説明図。
【図7】本発明の概念を説明するための説明図。
【図8】本発明の概念を説明するための説明図。
【図9】本発明の具体的な一実施例に係る半導体素子の
構造を示した断面図。
【図10】その素子のV−I特性を示す測定図。
【図11】他の実施例素子のV−I特性を示す測定図。
【図12】他の実施例素子のV−I特性を示す測定図。
【図13】比較例として、第1層と第2層を量子波の波
長の1/4に設定した素子のV−I特性を示す測定図。
【符号の説明】
10…基板 12…バッファ層 14…n形コンタクト層 16…n層 A…量子波干渉層 20…n層 22…第2n形コンタクト層 24…第1n形コンタクト層 26,28…電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 Japanese Journal of Applied Physic s,Vol.29,No.11,Novem ber,1990,pp.L1977−L1980 電子情報通信学会技術研究報告,Vo l.91,No.2(OQE91 1− 17),1991,pp.73−78 電子情報通信学会技術研究報告,Vo l.91,No.15(ED91 1−7), 1991,pp.15−21 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 29/861 H01L 29/864 - 29/87 H01L 29/88 - 29/96 H01L 29/06 H01L 29/78 H01L 31/02 H01L 31/04 H01L 33/00 H01S 5/30 JICSTファイル(JOIS)

Claims (13)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1層と第1層よりもバンド幅の広い第2
    層とを多重周期で積層した量子波干渉層を設けた半導体
    素子において、 前記第1層と前記第2層の厚さを、各層を伝導するキャ
    リアの量子波の波長の4分の1の偶数倍に設定したこと
    を特徴とする量子波干渉層を有した半導体素子。
  2. 【請求項2】前記第1層と前記第2層の厚さを、第2層
    の最低エネルギレベル付近にあるキャリアの各層におけ
    る量子波の波長の4分の1の偶数倍に設定したことを特
    徴とする量子波干渉層を有した請求項1に記載の半導体
    素子。
  3. 【請求項3】 前記第1層と前記第2層との境界には、
    前記第1層と前記第2層の厚さに比べて充分に薄く、エ
    ネルギバンドを急変させるδ層が設けられていることを
    特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体素子。
  4. 【請求項4】 前記第1層における前記量子波の波長λ
    W はλW =h/[2mw(E+V) ]1/2で決定され、前記
    第2層における前記量子波の波長λB はλB =h/(2m
    B E)1/2で決定され、前記第1層の厚さDW はDW =n
    W λW /4、前記第2層の厚さDB はDB =nB λB
    4で決定される、但し、hはプランク定数、mw は第1
    層におけるキャリアの有効質量、mB は第2層における
    キャリアの有効質量、Eは第2層に流入された、第2層
    の最低エネルギレベル付近におけるキャリアの運動エネ
    ルギー、Vは第1層に対する第2層のバンド電位差、n
    W、nB は偶数であることを特徴とする請求項1乃至請
    求項3のいずれか1項に記載の量子波干渉層を有した半
    導体素子。
  5. 【請求項5】 前記量子波干渉層は、前記第2層に流入
    されるキャリアの運動エネルギを複数の異なる値Ek
    前記第1層におけるその各運動エネルギをEk+Vと
    し、第2層、第1層の各エネルギに対応した各量子波長
    をλBk,λWkとする時、第2層、第1層をnBkλBk
    4、nWkλWk/4の厚さで、Tk 周期繰り返された部分
    量子波干渉層Ik が前記値Ek の数だけ繰り返し形成さ
    れた、但し、nWk、nBkは偶数、ことを特徴とする請求
    項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の半導体素子。
  6. 【請求項6】 前記量子波干渉層は、前記第2層に流入
    されるキャリアの運動エネルギを複数の異なる値Ek
    前記第1層におけるその各運動エネルギをEk+Vと
    し、第2層、第1層の各エネルギに対応した各量子波長
    をλBk,λWkとする時、第2層、第1層を厚さ(nB1λ
    B1/4,nW1λW1/4),…,(nBkλBk/4,nWkλ
    Wk/4),…,(nBjλBj/4,nWjλWj/4)で形成
    した部分量子波干渉層を任意周期繰り返して形成され
    た、但し、nWk、nBkは偶数、ことを特徴とする請求項
    1乃至請求項4のいずれか1項に記載の半導体素子。
  7. 【請求項7】 バンド幅の異なる異種半導体を多重周期
    で接合した半導体素子において、 繰り返し幅に比べて充分に薄く、エネルギバンドを急変
    させるδ層を、伝導するキャリアの量子波の波長の4分
    の1の偶数倍の間隔で複数配設した量子波干渉層を有す
    ることを特徴とする半導体素子。
  8. 【請求項8】 前記量子波干渉層は前記キャリアを透過
    させる透過層として作用することを特徴とする請求項1
    乃至請求項7のいずれか1項に記載の量子波干渉層を有
    した半導体素子。
  9. 【請求項9】 前記量子波干渉層の量子波の入射端はキ
    ャリアのトンネル伝導を禁止するに十分な厚さの第2層
    が形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項
    8のいずれか1項に記載の半導体素子。
  10. 【請求項10】 nin又はpip構造の半導体素子に
    おいて、 i層に、請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の
    量子波干渉層を形成したことを特徴とする半導体素子。
  11. 【請求項11】 前記i層における前記第2層のバンド
    幅は、n層又はp層におけるバンド幅と等しくしたこと
    を特徴とする請求項10に記載の半導体素子。
  12. 【請求項12】 前記nin構造の半導体素子におい
    て、前記i層における前記第2層の伝導帯の最低レベル
    をn層における伝導帯の最低レベルに一致させたことを
    特徴とする請求項10に記載の半導体素子。
  13. 【請求項13】 前記pip構造の半導体素子におい
    て、前記i層における前記第2層の価電子帯の最低レベ
    ルをp層における価電子帯の最低レベルに一致させたこ
    とを特徴とする請求項10に記載の半導体素子。
JP13145598A 1998-04-24 1998-04-24 量子波干渉層を有した半導体素子 Expired - Fee Related JP3014363B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13145598A JP3014363B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 量子波干渉層を有した半導体素子
EP99108056A EP0967658A3 (en) 1998-04-24 1999-04-23 Semiconductor device with quantum-wave interference layers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13145598A JP3014363B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 量子波干渉層を有した半導体素子

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31570899A Division JP2000106474A (ja) 1999-11-05 1999-11-05 量子波干渉層を有した半導体素子及び半導体素子を構成する量子波干渉層の設計方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11307881A JPH11307881A (ja) 1999-11-05
JP3014363B2 true JP3014363B2 (ja) 2000-02-28

Family

ID=15058367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13145598A Expired - Fee Related JP3014363B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 量子波干渉層を有した半導体素子

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP0967658A3 (ja)
JP (1) JP3014363B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3626328A (en) * 1969-04-01 1971-12-07 Ibm Semiconductor bulk oscillator
JPS6028268A (ja) * 1983-07-26 1985-02-13 Agency Of Ind Science & Technol 半導体装置
US5477060A (en) * 1993-06-25 1995-12-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Infrared hot electron transistor with a superlattice base
JPH0888434A (ja) * 1994-09-19 1996-04-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ,及びその製造方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Japanese Journal of Applied Physics,Vol.29,No.11,November,1990,pp.L1977−L1980
電子情報通信学会技術研究報告,Vol.91,No.15(ED91 1−7),1991,pp.15−21
電子情報通信学会技術研究報告,Vol.91,No.2(OQE91 1−17),1991,pp.73−78

Also Published As

Publication number Publication date
EP0967658A3 (en) 2003-11-05
EP0967658A2 (en) 1999-12-29
JPH11307881A (ja) 1999-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3014339B2 (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子
US4918496A (en) Infrared emitting device with dislocation free layer
JPH02130988A (ja) 量子井戸半導体レーザ素子
US6664561B2 (en) Light-receiving device with quantum-wave interference layers
JP3014363B2 (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子
JP3014364B2 (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子
JP3014340B2 (ja) 量子波干渉層を有したダイオード
JP3014341B2 (ja) 量子波干渉層を有したダイオード
JP3442668B2 (ja) 量子波干渉層を有した電界効果トランジスタ
JP3014389B2 (ja) 量子波干渉層を有した受光素子
JP3377950B2 (ja) 量子波干渉層を有する発光素子
JP3466526B2 (ja) 量子波干渉層を有するトランジスタ
JP3014361B2 (ja) 量子波干渉層を有した可変容量素子
JP2000106474A (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子及び半導体素子を構成する量子波干渉層の設計方法
US6420727B1 (en) Light-emitting semiconductor device with quantum-wave interference layers
JP2001068793A (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子
JP2000114601A (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子及び半導体素子を構成する量子波干渉層の設計方法
JP2001068661A (ja) 量子波干渉層を有した半導体素子
JP2000124443A (ja) エネルギバンド急変層を有した半導体素子
JP3544160B2 (ja) 量子波干渉層を有した受光素子
US20030032208A1 (en) Light-receiving device with quantum-wave interference layers
JPS5916432B2 (ja) 複合半導体レ−ザ素子
JP2001068792A (ja) 量子波干渉層を有した半導体発光素子
JP2000133655A (ja) 量子波干渉層を有するトランジスタ
EP1011147A2 (en) Transistors having a quantum-wave interference layer

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees