JP2965078B2 - 反射光量測定装置 - Google Patents
反射光量測定装置Info
- Publication number
- JP2965078B2 JP2965078B2 JP63322430A JP32243088A JP2965078B2 JP 2965078 B2 JP2965078 B2 JP 2965078B2 JP 63322430 A JP63322430 A JP 63322430A JP 32243088 A JP32243088 A JP 32243088A JP 2965078 B2 JP2965078 B2 JP 2965078B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light amount
- reflected light
- sensor
- fluorescent lamp
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、螢光灯から放射される光を被測定物に照射
し、この被測定物から反射される反射光の光量を測定す
る反射光量測定装置に関するものであって、特に絵柄面
積率の測定に使用されるものである。
し、この被測定物から反射される反射光の光量を測定す
る反射光量測定装置に関するものであって、特に絵柄面
積率の測定に使用されるものである。
（従来の技術） 絵柄面積率の測定に用いられる従来の反射光量測定装
置は、測定を開始する直前に基準板からの反射光量を螢
光灯の各部分毎に測定し、この測定結果に基づいて螢光
灯の各部分の明るさの補正を行っていた。
置は、測定を開始する直前に基準板からの反射光量を螢
光灯の各部分毎に測定し、この測定結果に基づいて螢光
灯の各部分の明るさの補正を行っていた。
（発明が解決しようとする課題） しかしながら基準板からの反射光量の測定後、蛍光灯
の光量が変動したような場合の正確な補正ができなかっ
た。
の光量が変動したような場合の正確な補正ができなかっ
た。
本発明は上記問題点を考慮してなされたものであっ
て、光源の光量が変動した場合でも測定精度を可及的に
向上させることのできる反射光量測定装置を提供するこ
とを目的とする。
て、光源の光量が変動した場合でも測定精度を可及的に
向上させることのできる反射光量測定装置を提供するこ
とを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明による反射光量測定装置は、蛍光灯の軸方向に
沿って列状に配設されて被測定物からの反射光量を検出
する複数の第１のセンサを有する反射光量検出手段と、 前記反射光量検出手段の各センサに対応するように前
記蛍光灯の軸方向に沿って列状に配設されて前記蛍光灯
から放射される光量を検出する複数の第２のセンサを有
する放射光量検出手段と、 前記蛍光灯の放射光が前記第１のセンサによって検出
されないようにかつ前記被測定物からの反射光が前記第
２のセンサによって検出されないように前記第１のセン
サと前記第２のセンサとの間に配置された遮光部材と、 前記反射光量検出手段の検出値と前記放射光量検出手
段の検出値とに基づいて、前記反射光量検出手段の検出
値である反射光量を修正する演算を行い、この修正され
た反射光量を出力する演算手段と、 を備えたことを特徴とする。
沿って列状に配設されて被測定物からの反射光量を検出
する複数の第１のセンサを有する反射光量検出手段と、 前記反射光量検出手段の各センサに対応するように前
記蛍光灯の軸方向に沿って列状に配設されて前記蛍光灯
から放射される光量を検出する複数の第２のセンサを有
する放射光量検出手段と、 前記蛍光灯の放射光が前記第１のセンサによって検出
されないようにかつ前記被測定物からの反射光が前記第
２のセンサによって検出されないように前記第１のセン
サと前記第２のセンサとの間に配置された遮光部材と、 前記反射光量検出手段の検出値と前記放射光量検出手
段の検出値とに基づいて、前記反射光量検出手段の検出
値である反射光量を修正する演算を行い、この修正され
た反射光量を出力する演算手段と、 を備えたことを特徴とする。
（作 用） このように構成された本発明による反射光量測定装置
によれば、反射光量検出手段と放射光量検出手段の検出
値に基づいて修正された反射光量が演算手段によって演
算される。この修正された反射光量の測定値は、光源の
光量が変動した場合でも測定点が同一ならば同じ値とな
り、光源の光量が変動した場合の影響を受けない。これ
により測定精度を可及的に向上させることができる。
によれば、反射光量検出手段と放射光量検出手段の検出
値に基づいて修正された反射光量が演算手段によって演
算される。この修正された反射光量の測定値は、光源の
光量が変動した場合でも測定点が同一ならば同じ値とな
り、光源の光量が変動した場合の影響を受けない。これ
により測定精度を可及的に向上させることができる。
（実施例） 第１図に本発明による反射光量測定装置の実施例を示
す。この実施例の反射光量測定装置は、螢光灯１と、複
数のセンサAiおよびBi（ｉ＝1,…ｎ）と、演算手段５と
を有している。センサAi（ｉ＝1,…ｎ）は螢光灯１の軸
方向に沿って、遮光箱15の基板16下に一列状に配設され
ており、螢光灯１から放射される光の光量aiを検出す
る。またセンサBi（ｉ＝1,…ｎ）は、センサAiに対応し
て螢光灯１の軸方向に沿って遮光箱15の基板16下に一列
状に配設されており、螢光灯１の、被測定物10によって
反射される反射光量biを測定する。なお遮光箱15の内側
の中央に、仕切板18が設けられている。この仕切板18
は、螢光灯１の放射光がセンサBiによって検知されない
ように、また被測定物からの反射光がセンサAiによって
検知されないように設けたものである。
す。この実施例の反射光量測定装置は、螢光灯１と、複
数のセンサAiおよびBi（ｉ＝1,…ｎ）と、演算手段５と
を有している。センサAi（ｉ＝1,…ｎ）は螢光灯１の軸
方向に沿って、遮光箱15の基板16下に一列状に配設され
ており、螢光灯１から放射される光の光量aiを検出す
る。またセンサBi（ｉ＝1,…ｎ）は、センサAiに対応し
て螢光灯１の軸方向に沿って遮光箱15の基板16下に一列
状に配設されており、螢光灯１の、被測定物10によって
反射される反射光量biを測定する。なお遮光箱15の内側
の中央に、仕切板18が設けられている。この仕切板18
は、螢光灯１の放射光がセンサBiによって検知されない
ように、また被測定物からの反射光がセンサAiによって
検知されないように設けたものである。
演算手段５は、センサBiの検出出力biとセンサAiの検
出出力の比bi/aiを演算する。そして更に、これらの演
算されたｎ個の比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）の平均値を求
め、この平均値を修正された反射光量の測定値（相当
値）として出力する。この修正された反射光量の測定値
は螢光灯の光量が変動した場合でも測定領域が同一なら
ば同一の値となり、螢光灯１の光量が変動した場合の影
響を受けない。これにより測定精度を向上させることが
できる。
出出力の比bi/aiを演算する。そして更に、これらの演
算されたｎ個の比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）の平均値を求
め、この平均値を修正された反射光量の測定値（相当
値）として出力する。この修正された反射光量の測定値
は螢光灯の光量が変動した場合でも測定領域が同一なら
ば同一の値となり、螢光灯１の光量が変動した場合の影
響を受けない。これにより測定精度を向上させることが
できる。
なお上記実施例においては、センサAiは螢光灯１から
直接放射される放射光の光量を検出したが、遮光箱15内
に光を反射する基準板を設け、螢光灯１から直接放射さ
れる光を上記基準板に当て、この基準板によって反射さ
れる光をセンサAiによって検出しても上記実施例と同様
の効果を得ることができる。
直接放射される放射光の光量を検出したが、遮光箱15内
に光を反射する基準板を設け、螢光灯１から直接放射さ
れる光を上記基準板に当て、この基準板によって反射さ
れる光をセンサAiによって検出しても上記実施例と同様
の効果を得ることができる。
第２図に本発明による絵柄面積率測定方法を実施する
装置の一構成例を示す。この装置は、複数のセンサAi,
およびBi（ｉ＝1,…ｎ）と、増幅器21と、マルチプレク
サ23と、アナログ除算器24と、A/D変換器25と、絵柄面
積率演算手段26とを有している。センサAi（ｉ＝1,…
ｎ）は図示していない螢光灯から放射される光の量を検
出する。センサBi（ｉ＝1,…ｎ）は上記螢光灯の、パネ
ルによって反射される反射光量を測定する。なおセンサ
A1,…AnおよびセンサB1,…Bnはそれぞれ上記螢光灯の軸
方向に沿って一列状に配設されている。増幅器21は、セ
ンサAi,およびBi（ｉ＝1,…ｎ）のそれぞれの検出出力a
iおよびbiを増幅し、マルチプレクサ23に送出する。マ
ルチプレクサ23は増幅器21によって増幅されたセンサ
Ai,およびBi（ｉ＝1,…ｎ）の検出出力aiおよびbiを１
組として順次アナログ除算器24に送出する。アナログ除
算器24は検出出力biとaiの比bi/aiを演算する。A/D変換
器25はアナログ除算器24によって演算された比bi/aiをA
/D変換する。絵柄面積率演算手段26は、A/D変換器25を
介して入力された、センサBiおよびAiの検出出力のｎ個
の比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）に基づいて、これらのｎ個の
比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）の平均値、すなわち修正された
反射光量を演算する。そしてこの演算された平均値に基
づいて絵柄面積率Ｐ（％）を下記の式を用いて演算す
る。
装置の一構成例を示す。この装置は、複数のセンサAi,
およびBi（ｉ＝1,…ｎ）と、増幅器21と、マルチプレク
サ23と、アナログ除算器24と、A/D変換器25と、絵柄面
積率演算手段26とを有している。センサAi（ｉ＝1,…
ｎ）は図示していない螢光灯から放射される光の量を検
出する。センサBi（ｉ＝1,…ｎ）は上記螢光灯の、パネ
ルによって反射される反射光量を測定する。なおセンサ
A1,…AnおよびセンサB1,…Bnはそれぞれ上記螢光灯の軸
方向に沿って一列状に配設されている。増幅器21は、セ
ンサAi,およびBi（ｉ＝1,…ｎ）のそれぞれの検出出力a
iおよびbiを増幅し、マルチプレクサ23に送出する。マ
ルチプレクサ23は増幅器21によって増幅されたセンサ
Ai,およびBi（ｉ＝1,…ｎ）の検出出力aiおよびbiを１
組として順次アナログ除算器24に送出する。アナログ除
算器24は検出出力biとaiの比bi/aiを演算する。A/D変換
器25はアナログ除算器24によって演算された比bi/aiをA
/D変換する。絵柄面積率演算手段26は、A/D変換器25を
介して入力された、センサBiおよびAiの検出出力のｎ個
の比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）に基づいて、これらのｎ個の
比bi/ai（ｉ＝1,…ｎ）の平均値、すなわち修正された
反射光量を演算する。そしてこの演算された平均値に基
づいて絵柄面積率Ｐ（％）を下記の式を用いて演算す
る。
ここでは測定すべき領域の修正された反射光量、
は第１の測定基準部（例えば画線濃度が０％）の修正さ
れた反射光量、は第２の測定基準部（例えば画線濃度
が100％）の修正された反射光量を示す。
は第１の測定基準部（例えば画線濃度が０％）の修正さ
れた反射光量、は第２の測定基準部（例えば画線濃度
が100％）の修正された反射光量を示す。
以上述べたように、修正された反射光量を用いて絵柄
面積率を演算することにより本実施例の絵柄面積率測定
方法は従来のものに比べて測定精度の向上を計ることが
できる。
面積率を演算することにより本実施例の絵柄面積率測定
方法は従来のものに比べて測定精度の向上を計ることが
できる。
本発明によれば光源の光量が変動した場合でも測定精
度を可及的に向上させることができる。
度を可及的に向上させることができる。
第１図は本発明による反射光量測定装置の実施例の構成
を示す構成図、第２図は本発明による絵柄面積率測定方
法を実施する装置の構成例を示すブロック図である。 １……螢光灯、５……演算手段、10……被測定物、Ai,B
i（ｉ＝1,…ｎ）……センサ。
を示す構成図、第２図は本発明による絵柄面積率測定方
法を実施する装置の構成例を示すブロック図である。 １……螢光灯、５……演算手段、10……被測定物、Ai,B
i（ｉ＝1,…ｎ）……センサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 大二 東京都北区赤羽南２丁目３番６号 大日 本印刷株式会社生産技術研究所内
Claims (2)
- 【請求項１】蛍光灯の軸方向に沿って列状に配設されて
被測定物からの反射光量を検出する複数の第１のセンサ
を有する反射光量検出手段と、 前記反射光量検出手段の各センサに対応するように前記
蛍光灯の軸方向に沿って列状に配設されて前記蛍光灯か
ら放射される光量を検出する複数の第２のセンサを有す
る放射光量検出手段と、 前記蛍光灯の放射光が前記第１のセンサによって検出さ
れないようにかつ前記被測定物からの反射光が前記第２
のセンサによって検出されないように前記第１のセンサ
と前記第２のセンサとの間に配置された遮光部材と、 前記反射光量検出手段の第１のセンサの検出値と前記放
射光量検出手段の対応する第２のセンサの検出値との比
に基づいて、前記反射光量検出手段の検出値である反射
光量を修正する演算を行い、この修正された反射光量を
出力する演算手段と、 を備えたことを特徴とする反射光量測定装置。 - 【請求項２】前記演算手段は、前記第１のセンサの検出
値と、この第１のセンサに対応する第２のセンサの検出
値との比の平均値を演算し、この平均値を修正された反
射光量として出力することを特徴とする請求項１記載の
反射光量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63322430A JP2965078B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 反射光量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63322430A JP2965078B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 反射光量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02167445A JPH02167445A (ja) | 1990-06-27 |
| JP2965078B2 true JP2965078B2 (ja) | 1999-10-18 |
Family
ID=18143582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63322430A Expired - Lifetime JP2965078B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 反射光量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2965078B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60100710A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | オフセツト印刷機における刷版の絵柄面積率計測装置 |
| JPS6269112A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-03-30 | Toshiba Seiki Kk | パネルの絵柄面積率測定方法 |
| JPS6316247A (ja) * | 1985-07-25 | 1988-01-23 | カ−ル・ツアイス−スチフツング | 無接触反射率測定装置 |
| JPS6388430A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-19 | Shimadzu Corp | 絶対反射率測定装置 |
-
1988
- 1988-12-21 JP JP63322430A patent/JP2965078B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60100710A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | オフセツト印刷機における刷版の絵柄面積率計測装置 |
| JPS6316247A (ja) * | 1985-07-25 | 1988-01-23 | カ−ル・ツアイス−スチフツング | 無接触反射率測定装置 |
| JPS6269112A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-03-30 | Toshiba Seiki Kk | パネルの絵柄面積率測定方法 |
| JPS6388430A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-19 | Shimadzu Corp | 絶対反射率測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02167445A (ja) | 1990-06-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6242755B1 (en) | Method and device for the contactless measuring of strand-like textile material | |
| JPWO2002039076A1 (ja) | センサ出力の補正方法 | |
| JP2003202381A (ja) | イメージセンサの不等な変換特徴を補正する方法 | |
| JP6502230B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
| WO2002039094A1 (fr) | Procede de mesure et instrument comprenant un capteur d'image | |
| JP2965078B2 (ja) | 反射光量測定装置 | |
| JP2009042233A (ja) | 放射線センサによって吸収される照射線量を決定する方法 | |
| JPH08320253A (ja) | 全光束測定装置 | |
| JPS623609A (ja) | 測距装置 | |
| JPH04138325A (ja) | アレイ検出器の感度補正装置 | |
| JP2001099708A (ja) | 色面検査方法 | |
| JP2000258146A (ja) | 放射線厚さ測定装置 | |
| JPH05297142A (ja) | シンチレ―ションカメラ | |
| JP2786216B2 (ja) | 絵柄面積率測定装置 | |
| JPS62127604A (ja) | 光学式位置検出装置 | |
| JPS63119542A (ja) | ２次電子取込み装置 | |
| JPS6040904A (ja) | 長さ測定装置 | |
| JPH068411A (ja) | 印刷汚れ検査装置 | |
| JPH0519578A (ja) | トナー濃度センサ | |
| JP2001317921A (ja) | 光学式測定方法および光学式測定装置 | |
| JP2805956B2 (ja) | 厚さ測定装置 | |
| JP2884748B2 (ja) | イメージセンサの特性測定方法 | |
| JPS61296275A (ja) | 交流信号測定装置 | |
| JPH0619454B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPS63193007A (ja) | 光学式位置計測装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070813 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813 Year of fee payment: 10 |