JPS6269112A

JPS6269112A - パネルの絵柄面積率測定方法

Info

Publication number: JPS6269112A
Application number: JP60210595A
Authority: JP
Inventors: Ryuzo Tamaoki; 玉置　隆三
Original assignee: Toshiba Seiki Co Ltd
Current assignee: Toshiba Mechatronics Co Ltd
Priority date: 1985-09-24
Filing date: 1985-09-24
Publication date: 1987-03-30
Also published as: JPH0575047B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の技術分野］本発明は、パネルの絵柄面積率測定方法に関する。

［発明の技術的背景］オフセット印刷等の印刷は、表面を版面としたパネルを
版ローラの周部に装着させ、回転する版ローラ周部に装
着されるパネルの絵柄部分に油性インクを、絵柄部分以
外の部分に水を供給して（１なわれる。すなわら、オフ
セラ１〜印刷は、回転される版ローラに印刷紙を供給し
、パネル上のインクを印刷紙に転写させて行なうように
している。

パネルは、一般に写真製版により製作され、パネルの絵
柄は、パネルの所定領域に一定間隔で設けられたドツト
により表わされる。さらに、絵柄の濃淡は、各ドツトの
大きざを変化させて表わされ、画線濃度の高い場合は、
ドツトを大きくし、画線濃度の低い場合は、ドツトを小
さくしてそれぞれ表わすようにしている。パネルへのイ
ンクの供給１は、パネルの所定領域における絵柄面積率
、すなわちパネルの所定領域における大小のドラ［−の
占める割合面積率を測定して行なわれる。パネルの絵柄
面積率の測定は、例えば待Ｕｉ１昭５７−７４６０５号
公報に示される光学的な絵柄面積率測定装置が用いられ
、パネルの所定領域に照射光を照射し、該領域での平均
反射光量を測定して行なわれる。

例えば第５図に示すようなパネル１０の場合、絵柄領域
１１をｉｌａ、１１ｂ、１１Ｇ、１１ｄ、１１ｅの５つ
の領域に分割し、各領域１１ａ〜１１Ｃでの平均反射光
量を測定し、非絵柄領域１２に設けられる所定の画線濃
度を有する基準値としてのマーク１３．１４の反射光量
と比較することによって、各領域１１ａ〜１１ｅ１．：
あける絵柄面積率を測定するようにしている。マーク１
３．１４は絵柄領域１１の絵柄と同様な状態及び条件、
すなわら同じ製版機械、同じ光量、温度状態で製版され
てなる。絵柄面積率の測定装置についでは先に述べた特
開昭５７−７４．６０５号公報に記載されているので、
詳細な説明は省略するが、その原理について説明すると
、次のとおりである。すなわら、パネル１０に光を照射
しながら、検出ヘッドを領域１１ａから領域１１ｅに向
けて走査する。この検出ヘッド内には、検出ヘッドの走
査方向と直交して複数の光センサが配列されており、検
出ヘッドかパネル１０上を走査中に、各光セン号は対向
するパネル１０における各領域における反Ｑ：Ｉ光量を
受光する。これと同時にパネル１０にあける非絵柄領域
１２に設けられたマーク１３．１４からの反Ｑ＝１光吊
を対向１−る光センサで受光する。そしてパネル１０の
絵柄領域１１に対向する各光センサの受光♀と、マーク
］３．１４に対向する光センリーの受光量とを比較する
ことにより、絵柄領域１１での絵柄面積率を測定するよ
うにしている。

［背景技術の問題点］ところで、前記した方法で絵柄領域での絵柄面積率を測
定する場合、各光センサは、対向するパネルの部分から
の反射光だけを受光するようにしなければ正確な測定は
行なえない。特に基準値となるマーク１３．１４からの
反射光は重要である。

このため特開昭５７−７４６０５号公報にはその対策と
して、マーク１３．１４に対向する光センサの両側に、
パネル近傍まで延びで終端する遮光板を設けることによ
って解決している。しかしながら依然として他の光セン
サでの受光量は、他のパネル領域からの反則光の影響を
受けてしまう。

そこで各光センサ毎に遮光板を設けることが考えられる
。しかしなから、この方法では、各光セン１大の受光量
か減少することになり、各光センサからの出力電圧か低
下し受光量の測定が困難になったり、或いは遮光板によ
ってできる影によりパネルへの照射光量が不均一となり
、正確な受光量の測定ができないという欠点を有してし
まう。

「発明の目的１本発明は上記した欠点を除去するために成されたもので
、各光センサによる反射光量をソフｌ〜的に遮理するこ
とにより、パネルの絵柄面積率を正確に測定することの
できるパネルの絵柄面積率測定方法を提供することを目
的とする。

［発明の概要］上記目的を達成するため本発明は、パネルの検出領域を
走査しながら光を照ｑ」シ、その反４１光量を、検出ヘ
ッドに整列配置された複数の尤センナで゛受光し、各光
センサでの受光量に基づいて前記パネルにおける絵柄面
積率を測定するようにした絵）内面積率測定方法におい
て、１つの光センナでの受光量を、この先センサ以外の
光センナにあける受光量を用いて補正することを持ｊ毀
とするものでおる。

［発明の実施例］以下本発明の一実施例について説明する。第１図は本発
明が適用されるパネルの絵柄面積率測定装置の斜視図、
第２図は第１図における検出ヘッドの正面断面図、第３
図は第２図にａ３　ｊＪるＡ−Ａ断面図、第４図は絵柄
面積率の測定方法のブロック図を各々示している。図中
符Ｑ２０は絵柄面積率測定装置で、本体ハウジング２１
を有する。本体ハウジング２１はブロア等の負圧源が内
部に収容されるとともにその前面にはデープル２２が一
体成形されている。テーブル２２は前面がパンチングプ
レート２３に覆われ、このパンチングプレート２３のプ
レー１〜面は上方に向って漸次本体ハウジング２１の背
側に近づくように傾斜しているとともに、パネル１０の
載置面を形成する。２４．２５は本体ハウジング２１の
上下にそれぞれ水平方向に設けられたガイドロッドで、
両ガイドロッド２４．２５に沿って検出ヘッド２６が水
平に案内されるようになっている。２７．２８はパンチ
ングプレート２３のプレート面に載置されるパネル１０
の下面並びに側面の位置を決める位置決めバー並びに位
置決めビンである。検出ヘッド２６は第２図にその詳細
が示されるように、ボックス状のへラドケーシング２９
を有し、このヘッドケーシング２９内に照明光学系３０
と光学的検出装置３１とが設けられる。照明光学系３０
は、線状照明用光源として並設されヘッドケーシング２
９にその両端が固定された２本の蛍光灯３２．３２を有
する。蛍光灯３２．３２はヘッドケーシング２９の底壁
に固定されたマスク３３．３３により両性側から覆われ
る。マスク３３．３３はパネル１０側に向って斜めに延
び、パネル面近傍位置で終端しており、その終端部に細
長い矩形の窓部３４が形成される。この窓部３４を通し
て蛍光灯３２．３２からの照射光が照射され、パネル１
０の検出域Ｂをスリット露光している。その際、マスク
３３の直線部は黒色塗イ［され、蛍光灯３２．３２から
の照射光を吸収する非反射面３３△とじて形成される。

また光学的検出装置３１は、ヘッドケーシング２９内に
収容され、ヘッドケーシング２９の底面にＬ形取付具３
５により固定される。上記光学的検出装置３１は列状に
配設された多数の遮光ボックス３６と、各遮光ボックス
３６の頂部に取付けられた受光器としての）ｔトダイオ
ード等の光センサ３７とを有し、各遮光ボックス３６の
下部にスリット３８がそれぞれ取付けられる。各遮光ボ
ックス３６は雨量光灯３２の中間上部に位置しており、
パネル１０の検出域をスリット露光した光の反射光を、
光センサ３７に案内している。遮光ボックス３６の列は
雨量光灯３２の長手方向と平行に延びている。

マーク１３．１４を施したパネル１０のマークエリアＴ
に相当する位置に一体の遮光板３９．３９が対向して設
けられる。遮光板３９は第３図に示すように光学的検出
装置３１の遮光ボックス３６下部（パネル側）に固定さ
れる。遮光板３９は遮光ボックス３６の列方向に間隔を
おいて対向し、かつパネル１０面近傍まで延びて終端し
ている。

各光センサ３７（８０〜８口）からの出力は、第４図に
示されるように演算処理回路４０にそれぞれ入力され、
後述する演算がなされるとともに、演算結果はプリンタ
４１から出力される。

さて、演算処理回路４０にて行なわれる演算は次のとあ
りである。令兄センサＳ５が受光した反射光量をＶ５と
する。ところでこの反射光量Ｖ５というのは、光センサ
Ｓ５が対向するパネル１０上の検出領域χ５からの反射
光量に加え、この検出領域χ５以外からの反射光量、例
えば検出領域χ４からの反則光量をも同時に受光してし
まうため検出領域χ５からだけの正確な反射光ｆｆ１Ｌ
５とは異なる。そのため次の式（１）によって反則光量
の補正を行なう。

１５　＝Ｖ５−ａ　（Ｖ４　＋Ｖ６　）　−ｂ　（Ｖ３
　＋Ｖ７−ｃ　（Ｖ２　＋Ｖ８　）　−ｄ　（Ｖｌ　＋
Ｖ９　）・・・・・・・・・・・・（１）ただし　Ｌ５　：検出順１或χ５からだけの正確な反射
光量ｙｎ（ｎは整数）：光センサ３ｎが受光した反射光量ａ、ｂ、ｃ、ｄ：係数なおａは検出領域χ４とχ６からの反射光量が一つ離れ
た（隣りの）検出領域χ５に対向する光センサＳ５に与
える影響度、ｂは検出領域χ３とχ７からの反射光量が
二つ離れた検出領域χ５に対向する光センサＳ５に与え
る影響度、Ｃは検出領域χ２とχ８からの反射光量が三
つ離れた検出領域χ５に対向する光センサＳ５に与える
影響度、ｄは検出領！或χ１とχ９からの反射光量が四
つ離れた検出領域χ５に対向する光センサＳ５に与える
影響度で、各係数ａ乃至ｄは実験的に求められる。なお
式（１）の右辺は５項目で終わっているが、精度を上げ
るためには同様の考え方で検出領域χ１０、χ１１、・
・・からの反射光信の影響度も考慮に入れて補正計篩を
行なえばよい。

さてこのようにして各光センサ３７（３０〜Ｓｎ）にお
いて受光した反則光量を式（１）と同様の考えですべて
について補正計粋を行ない、各倹査領域からだけの正確
な反ｑ・１光吊を算出する。そして算出された反射光量
に基づき、パネル１０におＣプる絵柄領域１１の各領域
１１８〜１１ｅにおけるそれぞれ平均反射光ｆｆ１ｃａ
〜ｅを求める。一方パネル１０にお（プる非絵柄領域１
２におけるマーク１３．１４からの反射光量は、光セン
サＳＯによって正確に受光される。例えばマーク１３は
画線濃度を０％とし、光センサＳＯによって受光された
反射光量をト１とする。そしてマーク１４は画線濃度を
１００％とし、光センサＳＯによって受光された反射光
量をＭとする。そこで各領域１１ａ〜１１ｅでの各絵柄
面積率Ｐａ−ｅは下記の式（２）により求められる。

・・・・・・・・・・・・（２）これにより、例えばｐａ＝０．２とされる場合、該絵柄
領域１１ａでのドツトの占める割合面積が２０％という
ことになり、領域１１ａへのインク供給量を最大時の２
０％として調整するようにしている。

次に上記実施例にＪ′３１．ｊる作動について説明する
。

まずパネル１０をパンチングプレート２３上に載置し、
位置決めバー２７、位置決めピン２８を用いて位置決め
する。そして本体ハウジング２１内のブロアを作動させ
ることによりパンチングプレート２３上に密着固定する
。次に蛍光灯：、３２．３２を点灯させ、検出ヘッド２
６をガイドロッド２４．２５に沿って移動させる。蛍光
灯３２．３２の照明光はパネル１０上に投射されるとと
もに検出ヘッド２６の移動中に、この検出ヘッド２６に
内蔵された光学的検出装置３１によりその反則光量がス
リット３８を通って各光センサ３７（Ｓ。

〜Ｓｎ）にて受光される。各光センサ３７にで受光され
た反射光子は、随時演締処理回路４０に入力され、この
演算処理回路４０ては、前述した式（１）により各光セ
ンサＣ受光した反射光量か補正され、各検査領域χ０か
らの正確な反射光子が算出される。そして締出された反
射光ωｌ−ｎに基づぎ、パネル１０の各領域１１８〜１
１ｅでの平均反射光量Ｃａ−ｅが計鈴される。平均反射
光ヱＣａ〜ｅが算出されれば、前記した式（２）を用い
て各領域１１８〜１１ｅにおける絵柄面積率Ｐａ−ｅが
算出されることとなり、その結果がプリンタ４１に出力
される。

以上説明した一実施例においては、各領域１１ａ〜１１
ｅの絵柄面積率Ｐａ−ｅを求めるために、各光センサ３
７が各々受光した反射光量をそのまま対向するパネル１
０の検査領域χｎからの反則光量とせず、式（１）を用
いて正確な反則光量を補正計篩するＪ：うにしているの
で、従来に比べはるかに正確な絵柄面積率を求めること
ができる。

また各光センサに遮光板を設ける場合に比べ、従来の構
造をそのまま用いることができ、ざらに各光センサで受
光される反０＝Ｉ光吊を従来通り多くすることができ、
従・）て各光センサからの出力電圧を多くすることが′
Ｃきるので小型の蛍光灯３２．３２でも精度の高い測定
が１１能となる。また、遮光板によって生じる影の影響
がまったくないので、蛍光灯３２．３２によりパネル１
０への照ｑツ光量を均一とすることもできる。

［発明の効果１以上本発明によるパネルの絵柄面積率測定方法によれば
、各光せンサで受光された反射光量を演算処理回路で補
正処理し、検出領域にお【プる正確な反射光子を算出す
るにうにしたしので゛ある。従って、従来に比べ、パネ
ルの絵柄面積率の測定がより正確なものとなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明か適用されるパネルの絵柄面積率測定装
置の斜視図、第２図は第１図にＪ３ける検出ヘッドの正
面断面図、第３図は第２図におけるＡ−Ａ断面図、第４
図は絵）丙面偵率の測定方法のブロック図、第５図は絵
柄面積率を測定するパネルの平面図を各々示す。１０・・・バネ！し、１′１・・・絵柄領域、１２・・
・非絵柄領域、１３．１４・・・マーク、２０・・・絵
柄面（＾率測定Ｈｉｆｆｉ、２０・・・検出ヘッド、３
０・・・照明光学系、３１・・・光学的検出装置６．３
２・・・蛍光灯、３３・・・マスフ、３６・・・遮光ボ
ックス、３７・・・光センサ、４０・・・演算処理回路
、４１・・・プリンタ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）パネルの検出領域を走査しながら光を照射し、そ
の反射光量を、検出ヘッドに整列配置された複数の光セ
ンサで受光し、各光センサでの受光量に基づいて前記パ
ネルにおける絵柄面積率を測定するようにした絵柄面積
率測定方法において、１つの光センサでの受光量を、こ
の光センサ以外の光センサにおける受光量を用いて補正
することを特徴とするパネルの絵柄面積率測定方法。