JPH0575047B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、パネルの絵柄面積率測定方法に関す
る。

［発明の技術的背景］ オフセツト印刷等の印刷は、表面を版面とした
パネルを版ローラの周部に装着され、回転する版
ローラ周部に装着されるパネルの絵柄部分に油性
インクを、絵柄部分以外の部分に水を供給して行
なわれる。すなわち、オフセツト印刷は、回転さ
れる版ローラに印刷紙を供給し、パネル上のイン
クを印刷紙に転写させて行なうようにしている。
パネルは、一般に写真製版により製作され、パネ
ルの絵柄は、パネルの所定領域に一定間隔で設け
られたドツトにより表わされる。さらに、絵柄の
濃淡は、各ドツトの大きさを変化させて表わさ
れ、画線濃度の高い場合は、ドツトを大きくし、
画線濃度の低い場合は、ドツトを小さくしてそれ
ぞれ表わすようにしている。パネルへのインクの
供給量は、パネルの所定領域における絵柄面積
率、すなわちパネルの所定領域における大小のド
ツトの占める割合面積率を測定して行なわれる。
パネルの絵柄面積率の測定は、例えば特開昭57−
74605号公報に示される光学的な絵柄面積率測定
装置が用いられ、パネルの所定領域に照射光を照
射し、該領域での平均反射光量を測定して行なわ
れる。

例えば第５図に示すようなパネル１０の場合、
絵柄領域１１を１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１
ｄ，１１ｅの５つの領域に分割し、各領域１１ａ
〜１１ｅでの平均反射光量を測定し、非絵柄領域
１２に設けられる所定の画線濃度を有する基準値
としてのマーク１３，１４からの反射光量と比較
することによつて、各領域１１ａ〜１１ｅにおけ
る絵柄面積率を測定するようにしている。マーク
１３，１４は絵柄領域１１の絵柄と同様な状態及
び条件、すなわち同じ製版機械、同じ光量、温度
状態で製版されてなる。絵柄面積率の測定装置に
ついては先に述べた特開昭57−74605号公報に記
載されているので、詳細な説明は省略するが、そ
の原理について説明すると、次のとおりである。
すなわち、パネル１０の版面に光を照射しなが
ら、検出ヘツドを領域１１ａから領域１１ｅに向
けて走査する。この検出ヘツド内には、検出ヘツ
ドの走査方向と直交して複数の光センサが配列さ
れており、検出ヘツドがパネル１０上を走査中
に、各光センサは対向するパネル１０における各
領域における反射光を受光する。これと同時にパ
ネル１０における非絵柄領域１２に設けられたマ
ーク１３，１４からの反射光を対向する光センサ
で受光する。そしてパネル１０の絵柄領域１１に
対向する各光センサの出力値と、マーク１３，１
４に対向する光センサの出力値とを比較すること
により、絵柄領域１１での絵柄面積率が測定され
る。

［背景技術の問題点］ ところで、絵柄領域の絵柄面積率を測定するに
あたつては、各光センサにて、パネルにおいて対
向する個々の検出領域からの反射光だけを受光す
るようにしなければ正確な測定は行なえない。特
に基準値となるマーク１３，１４からの反射光量
の測定は重要である。そこで、特開昭57−74605
号公報においてはその対策として、マーク１３，
１４に対向する光センサの両側に、パネル近傍ま
で延びて終端する遮光板を設けることによつて解
決している。しかしながら依然として他の光セン
サには、それ自身の検出領域以外の検出領域から
の反射光も入射し、正確な測定が行なえない。そ
こで各光センサごとに遮光板を設けることが考え
られる。しかしながら、この方法では、各光セン
サの受光量が減少することになり、各光センサか
らの出力電圧が低下し反射光量の測定が困難にな
つたり、或いは遮光板によつてできる影によりパ
ネルへの照射光量が不均一となり、正確な反射光
量の測定ができないという欠点を有してしまう。

［発明の目的］ 本発明は上記した欠点を除去するために成され
たもので、各光センサの出力値に含まれる、光セ
ンサ自身の検出領域以外からの反射光の影響を取
り除き、パネルの絵柄面積率を正確に測定するこ
とのできるパネルの絵柄面積率測定方法を提供す
ることを目的とする。

［発明の概要］ 上記目的を達成するため本発明は、パネルの版
面を走査しながら光を照射し、その反射光を、検
出ヘツドに整列配置された複数の光センサで受光
し、各光センサの出力値に基づいて前記パネルに
おける複数の領域ごとの絵柄面積率を測定するよ
うにしたパネルの絵柄面積率測定方法において、
前記各光センサごとにその出力値を当該光センサ
に隣接する他の光センサの出力値を用いて所定の
演算式により補正して補正出力値を求め、求めた
光センサごとの補正出力値を各光センサが前記パ
ネルにて対向するそれぞれの検出領域からの反射
光量に相当する出力値とみなし、この各光センサ
の補正出力値を用いて絵柄面積率を測定すること
を特徴とするものである。

［発明の実施例］ 以下本発明の実施例について説明する。第１図
は本発明が適用されるパネルの絵柄面積率測定装
置の斜視図、第２図は第１図における検出ヘツド
の正面断面図、第３図は第２図におけるＡ−Ａ断
面図、第４図は絵柄面積率の測定方法のブロツク
図を各々示している。図中、符号２０は絵柄面積
率測定装置で、本体ハウジング２１を有する。本
体ハウジング２１はブロア等の負圧源が内部に収
容されるとともにその前面にはテーブル２２が一
体成形されている。テーブル２２は前面がパンチ
ングプレート２３に覆われ、このパンチングプレ
ート２３のプレート面は上方に向つて漸次本体ハ
ウジング２１の背側に近づくように傾斜している
とともに、パネル１０の載置面を形成する。２
４，２５は本体ハウジング２１の上下にそれぞれ
水平方向に設けられたガイドロツドで、両ガイド
ロツド２４，２５に沿つて検出ヘツド２６が水平
に案内されるようになつている。２７，２８はパ
ンチングプレート２３のプレート面に載置される
パネル１０の下面並びに側面の位置を決める位置
決めバー並びに位置決めピンである。検出ヘツド
２６は第２図にその詳細が示されるように、ボツ
クス状のヘツドケーシング２９を有し、このヘツ
ドケーシング２９内に照明光学系３０と光学的検
出装置３１とが設けられる。照明光学系３０は線
状照明用光源として並設されヘツドケーシング２
９にその両端が固定された２本の蛍光灯３２，３
２を有する。蛍光灯３２，３２はヘツドケーシン
グ２９の底壁に固定されたマスク３３，３３によ
り両外側から覆われる。マスク３３，３３はパネ
ル１０側に向つて斜めに延び、パネル面近傍位置
で終端しており、その終端部に細長い矩形の窓部
３４が形成される。この窓部３４を通して蛍光灯
３２，３２からの照射光が照射され、パネル１０
の検出域Ｂをスリツト露光している。その際、マ
スク３３の直線部は黒色塗布され、蛍光灯３２，
３２からの照射光を吸収する非反射面３３Ａとし
て形成される。

また光学的検出装置３１は、ヘツドケーシング
２９内に収容され、ヘツドケーシング２９の底面
にＬ形取付具３５により固定される。上記光学的
検出装置３１は列状に配設された多数の遮光ボツ
クス３６と、各遮光ボツクス３６の頂部に取付け
られた受光器としてのフオトダイオード等の光セ
ンサ３７とを有し、各遮光ボツクス３６の下部に
スリツト３８がそれぞれ取付けられる。各遮光ボ
ツクス３６は両蛍光灯３２の中間上部に位置して
おり、パネル１０の検出域をスリツト露光した光
の反射光を、光センサ３７に案内している。遮光
ボツクス３６の列は両蛍光灯３２の長手方向と平
行に延びている。

マーク１３，１４を施したパネル１０のマーク
エリアＴに相当する位置に一体の遮光板３９，３
９が対向して設けられる。遮光板３９は第３図に
示すように光学的検出装置３１の遮光ボツクス３
６下部（パネル側）に固定される。遮光板３９は
遮光ボツクス３６の列方向に間隔をおいて対向
し、かつパネル１０面近傍まで延びて終端してい
る。

各光センサ３７（S0〜Sn）からの出力は、第
４図に示されるように演算処理回路４０にそれぞ
れ入力され、後述する演算がなされるとともに、
演算結果はプリンタ４１から出力される。

さて、演算処理回路４０にて行なわれる演算は
次のとおりである。今光センサS5の出力値がV5
とする。ところでこの出力値V5というのは、光
センサS5にはこの光センサS5が対向するパネル
１０上の検出領域x5からの反射光に加え、この
検出領域x5以外からの反射光、例えば検出領域
x4からの反射光も同時に入射するため、検出領
域x5からだけの正確な反射光に基づく出力値L5
とは異なる。そのため次の式(1)によつて出力値の
補正を行なう。

L5＝V5−ａ（V4＋V6）−ｂ（V3＋V7）−ｃ（V2＋V8
）−ｄ（V1＋V9）……(1) ただし L5：検出領域x5からだけの反射光に基づく正
確な出力値 Vn（ｎは整数）：光センサSnからの出力値。

ａ，ｂ，ｃ，ｄ：係数 なお、ａは検出領域x4とx6からの反射光が一
つ離れた（隣りの）検出領域x5に対向する光セ
ンサS5に与える影響度、ｂは検出領域x3とx7か
らの反射光が二つ離れた検出領域x5に対向する
光センサS5に与える影響度、ｃは検出領域x2と
x8からの反射光が三つ離れた検出領域x5に対向
する光センサS5に与える影響度、ｄは検出領域
x1とx9からの反射光が四つ離れた検出領域x5に
対向する光センサS5に与える影響度で、各係数
ａ乃至ｄは実験的に求められる。

また、式(1)の右辺は５項目で終わつているが、
精度を上げるためには同様の考え方で検出領域
x10，x11，……からの反射光の影響度も考慮に
入れて補正計算を行なえばよい。

さて、このようにして各光センサ３７（S0〜
Sn）の出力値を式(1)と同様の考えで補正計算を
行ない補正出力値を求める。そして、算出された
光センサ３７ごとの補正出力値を各光センサ３７
がパネル１０にて対向するそれぞれの検出領域か
らの反射光量に相当する出力値とみなし、各光セ
ンサ３７の補正出力値を用いて、パネル１０にお
ける絵柄領域１１の各領域１１ａ〜１１ｅごとに
平均反射光量値（平均補正出力値）Ca〜ｅを求
める。

一方、パネル１０における非絵柄領域１２にお
けるマーク１３，１４からの反射光は、光センサ
S0によつて正確に受光される。例えばマーク１
３は画線濃度を０％とし、このマーク１３を走査
した時の光センサS0からの出力値を［Ｈ］とす
る。そしてマーク１４は画線濃度を100％とし、
このマーク１４を走査した時の光センサS0から
の出力値を［Ｍ］とする。そこで、各領域１１ａ
〜１１ｅごとの各絵柄面積率Pa〜ｅは下記の式
(2)により求められる。

Pa〜ｅ＝１−［Ca〜ｅ］−［Ｍ］／［Ｈ］−［Ｍ］
……(2) これにより、例えば絵柄領域１１ａにおいて
Pa＝0.2とされる場合、領域１１ａでのドツトの
占める割合面積が20％ということになり、この領
域１１ａへのインク供給量を最大時の20％として
調整するようにしている。

次に、上記実施例における作動について説明す
る。まずパネル１０をパンチングプレート２３上
に載置し、位置決めバー２７、位置決めピン２８
を用いて位置決めする。そして本体ハウジング２
１内のブロアを作動させることによりパンチング
プレート２３上に密着固定する。次に蛍光灯３
２，３２を点灯させ、検出ヘツド２６をガイドロ
ツド２４，２５に沿つて移動させる。蛍光灯３
２，３２の照明光はパネル１０上に投射されると
ともに検出ヘツド２６の移動中に、その反射光が
スリツト３８を通つて各光センサ３７（S0〜Sn）
にて受光される。各光センサ３７よりの出力値
は、随時演算処理回路４０に入力され、この演算
処理回路４０で前述した式(1)により補正され、補
正出力値Lnが算出される。そしてこの各光セン
サ３７の補正出力値Lnを用いて、パネル１０の
各領域１１ａ〜１１ｅの平均反射光量値（平均補
正出力値）Ca〜ｅが計算される。平均反射光量
値Ca〜ｅが算出されれば、前記した式(2)を用い
て各領域１１ａ〜１１ｅごとの絵柄面積率Pa〜
ｅが算出されることとなり、その結果がプリンタ
４１に出力される。

以上説明した実施例においては、各領域１１ａ
〜１１ｅごとの絵柄面積率Pa〜ｅを求めるにあ
たり、各光センサ３７からの出力値をそのまま用
いるのではなく、各出力値から式(1)を用いて補正
出力値を求め、この補正出力値に基づいて絵柄面
積率を測定するものであるため、各センサ３７の
出力値に含まれる。光センサ自身の検出領域以外
からの反射光の影響が取り除かれ、従来に比べは
るかに正確な絵柄面積率を求めることができる。
また各光センサに遮光板を設ける場合に比べ、従
来の構造をそのまま用いることができ、このため
各光センサ３７で受光される反射光量を従来通り
多くすることができ、従つて各光センサ３７から
の出力電圧を多くすることができるので小型の蛍
光灯３２，３２でも精度の高い測定が可能とな
る。また、遮光板によつて生じる影の影響がまつ
たくないので、蛍光灯３２，３２によりパネル１
０への照明光量を均一とすることもできる。

［発明の効果］ 本発明によれば、パネルの絵柄面積率の測定に
あたり、光センサ自身の検出領域以外からの反射
光の影響が考慮されて取り除かれ、従来より正確
な絵柄面積率の測定が行なえる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が適用されるパネルの絵柄面積
率測定装置の斜視図、第２図は第１図における検
出ヘツドの正面断面図、第３図は第２図における
Ａ−Ａ断面図、第４図は絵柄面積率の測定方法の
ブロツク図、第５図は絵柄面積率を測定するパネ
ルの平面図を各々示す。 １０……パネル、１１……絵柄領域、１２……
非絵柄領域、１３，１４……マーク、２０……絵
柄面積率測定装置、２６……検出ヘツド、３０…
…照明光学系、３１……光学的検出装置、３２…
…蛍光灯、３３……マスク、３６……遮光ボツク
ス、３７……光センサ、４０……演算処理回路、
４１……プリンタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ パネルの版面を走査しながら光を照射し、そ
   の反射光を検出ヘツドに整列配置された複数の光
   センサで受光し、各光センサの出力値に基づいて
   前記パネルにおける複数の領域ごとの絵柄面積率
   を測定するようにしたパネルの絵柄面積率測定方
   法において、前記各光センサごとにその出力値を
   当該光センサに隣接する他の光センサの出力値を
   用いて所定の演算式により補正して補正出力値を
   求め、求めた光センサごとの補正出力値を各光セ
   ンサが前記パネルにて対向するそれぞれの検出領
   域からの反射光量に相当する出力量とみなし、こ
   の各光センサの補正出力値を用いて絵柄面積率を
   測定することを特徴とするパネルの絵柄面積率測
   定方法。