JP2571420B2 - 光学的検出装置 - Google Patents
光学的検出装置Info
- Publication number
- JP2571420B2 JP2571420B2 JP63104045A JP10404588A JP2571420B2 JP 2571420 B2 JP2571420 B2 JP 2571420B2 JP 63104045 A JP63104045 A JP 63104045A JP 10404588 A JP10404588 A JP 10404588A JP 2571420 B2 JP2571420 B2 JP 2571420B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- slit
- printing plate
- shielding box
- calibration mark
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- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はオフセット印刷用印刷版等の刷版の絵柄面積
率測定装置に用いられる光学的検出装置に関する。
率測定装置に用いられる光学的検出装置に関する。
［従来の技術］ オフセット印刷版等の刷版の絵柄面積率を測定する絵
柄面積率測定装置は、被測定刷版をテーブル上に固定
し、光学的検出装置により刷版の絵柄面積率を測定す
る。
柄面積率測定装置は、被測定刷版をテーブル上に固定
し、光学的検出装置により刷版の絵柄面積率を測定す
る。
光学的検出装置は、検査ヘッドに複数の遮光ボックス
を並列配置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、
検査ヘッドをその遮光ボックス群の並列配置方向に直交
する方向に移動走査し、光照射された刷版から反射光を
上記各受光器にて受光し、その反射光の強度を光学的に
検出する。
を並列配置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、
検査ヘッドをその遮光ボックス群の並列配置方向に直交
する方向に移動走査し、光照射された刷版から反射光を
上記各受光器にて受光し、その反射光の強度を光学的に
検出する。
ところで、オフセット印刷用印刷版等の被測定刷版に
は、刷版のエッジ部分（オフセット印刷用印刷版の場合
には、印刷版の咬えまたは咬え尻、印刷に悪影響を及ぼ
さない部分）にキャリブレーションマークが付されてお
り、このキャリブレーションマークを絵柄部測定基準と
して用いる。このため、刷版の絵柄面積率を測定する
時、上記キャリブレーションマークからの反射光の強度
を刷版の他の検出領域からの反射光の影響を受けずに正
確に測定する必要がある。
は、刷版のエッジ部分（オフセット印刷用印刷版の場合
には、印刷版の咬えまたは咬え尻、印刷に悪影響を及ぼ
さない部分）にキャリブレーションマークが付されてお
り、このキャリブレーションマークを絵柄部測定基準と
して用いる。このため、刷版の絵柄面積率を測定する
時、上記キャリブレーションマークからの反射光の強度
を刷版の他の検出領域からの反射光の影響を受けずに正
確に測定する必要がある。
そこで従来、特開昭57−74605号公報に記載される如
く、キャリブレーションマークからの反射光の強さを刷
版の他の検出領域からの反射光の影響を受けず正確に測
定するため、キャリブレーションマークに対向する遮光
ボックス下部に、遮光板（マスク）を固定することが提
案されている。
く、キャリブレーションマークからの反射光の強さを刷
版の他の検出領域からの反射光の影響を受けず正確に測
定するため、キャリブレーションマークに対向する遮光
ボックス下部に、遮光板（マスク）を固定することが提
案されている。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記従来の光学的検出装置にあって
は、以下の如くの問題点がある。
は、以下の如くの問題点がある。
受光器に入射する反射光量が減少し、測定精度の向上
の阻害をする。
の阻害をする。
受光器と刷版の被検出面間距離を大きくすると、遮光
板が設けられていない受光器の検出値は減少していくも
のの、遮光板が設けられた受光器にかぎっては、今まで
遮光板で遮ぎられていた光が入射するようになりその検
出値は増加傾向を示す。よって、測定精度が受光器と刷
版の被検出面間の距離の変動に左右されやすい。
板が設けられていない受光器の検出値は減少していくも
のの、遮光板が設けられた受光器にかぎっては、今まで
遮光板で遮ぎられていた光が入射するようになりその検
出値は増加傾向を示す。よって、測定精度が受光器と刷
版の被検出面間の距離の変動に左右されやすい。
本発明は、キャリブレーションマークからの反射光量
を周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精度に検
出し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうこ
とを目的とする。
を周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精度に検
出し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうこ
とを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明は、検査ヘッドに複数の遮光ボックスを並列配
置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッ
ドと刷版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交
する方向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの
反射光を上記各受光器にて受光する光学的検出装置にお
いて、刷版のキャリブレーションマークに対向すること
となる遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、この
スリットは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有す
る略矩形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリッ
トを経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向
幅がキャリブレーションマークの同方向幅以下となるサ
イズに設定されているようにしたものである。
置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッ
ドと刷版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交
する方向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの
反射光を上記各受光器にて受光する光学的検出装置にお
いて、刷版のキャリブレーションマークに対向すること
となる遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、この
スリットは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有す
る略矩形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリッ
トを経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向
幅がキャリブレーションマークの同方向幅以下となるサ
イズに設定されているようにしたものである。
また、本発明は、前記遮光ボックスの光取入口と受光
器との間に中間スリットを設けるようにしたものであ
る。
器との間に中間スリットを設けるようにしたものであ
る。
［作用］ 本発明によれば、キャリブレーションマークに対向す
ることとなる遮光ボックスの光取入口に設けたスリット
が、遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有する略矩
形状をなし、このスリットの上記短辺は、このスリット
を経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅
がキャリブレーションマークの同方向幅以下となるサイ
ズに設定されるから、遮光ボックス群の並列配置方向
に直交する方向（走査方向X1）に設けられる長辺の長さ
を十分に取ることにより、測定に必要な反射光の入光量
を確保するに足るスリット面積を確保する状態下で、
遮光ボックス群の並列配置方向X2にスリットの長辺を位
置せしめる場合に比して、キャリブレーションマークの
周辺からの反射光が上記遮光ボックス内に入光すること
を抑制し、キャリブレーションマークからの反射光を周
辺からの悪影響を排除した状態で受光できる。したがっ
て、キャリブレーションマークからの反射光量を周辺か
らの影響を受けることなく確実かつ高精度に検出し、刷
版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうことができ
る。
ることとなる遮光ボックスの光取入口に設けたスリット
が、遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有する略矩
形状をなし、このスリットの上記短辺は、このスリット
を経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅
がキャリブレーションマークの同方向幅以下となるサイ
ズに設定されるから、遮光ボックス群の並列配置方向
に直交する方向（走査方向X1）に設けられる長辺の長さ
を十分に取ることにより、測定に必要な反射光の入光量
を確保するに足るスリット面積を確保する状態下で、
遮光ボックス群の並列配置方向X2にスリットの長辺を位
置せしめる場合に比して、キャリブレーションマークの
周辺からの反射光が上記遮光ボックス内に入光すること
を抑制し、キャリブレーションマークからの反射光を周
辺からの悪影響を排除した状態で受光できる。したがっ
て、キャリブレーションマークからの反射光量を周辺か
らの影響を受けることなく確実かつ高精度に検出し、刷
版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうことができ
る。
また、上記光学的検出装置において、前記遮光ボック
スの光取入口と受光器との間に中間スリットを設ける場
合には、キャリブレーションマークの周辺からの反射光
が光取入口に設けた上記スリットを経て入光し、遮光ボ
ックス内面にて反射したとしても、受光器までの光路中
間部にて確実に遮光せしめられる。
スの光取入口と受光器との間に中間スリットを設ける場
合には、キャリブレーションマークの周辺からの反射光
が光取入口に設けた上記スリットを経て入光し、遮光ボ
ックス内面にて反射したとしても、受光器までの光路中
間部にて確実に遮光せしめられる。
［実施例］ 第１図（Ａ）は検査ヘッドを示す縦断面図、第１図
（Ｂ）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図
（Ｃ）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図
（Ｄ）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率
測定装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を
示す模式図である。
（Ｂ）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図
（Ｃ）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図
（Ｄ）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率
測定装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を
示す模式図である。
第２図は本発明の光学的検出装置を用いた絵柄面積率
測定装置10であり、テーブル11の傾斜状吸着面12にオフ
セット印刷用印刷版等の刷版13を載置できるようになっ
ている。
測定装置10であり、テーブル11の傾斜状吸着面12にオフ
セット印刷用印刷版等の刷版13を載置できるようになっ
ている。
テーブル11の上下に設けられるガイドロッド14、15は
光学的検査ヘッド16が移動走査可能に架設されている。
検査ヘッド16は、第３図に原理的に示すように、照明光
学系17と遮光ボックス群18とを備える。
光学的検査ヘッド16が移動走査可能に架設されている。
検査ヘッド16は、第３図に原理的に示すように、照明光
学系17と遮光ボックス群18とを備える。
照明光学系17は２本の蛍光灯17A、17Bからなり、刷版
13を光照射する。
13を光照射する。
遮光ボックス群18は複数の並列配置された遮光ボック
ス19からなり、各遮光ボックス19の内部にフォトダイオ
ード等からなる受光器S0、S1、S2、…Snを設け、それら
の光取入口にスリット20を設けている。各遮光ボックス
19は両蛍光灯17A、17Bの中間上部に位置しており、刷版
13の被測定面からのスリット20を経て入光する反射光を
対応する受光部S0、S1、S2、…Snを案内する。なお、光
学的検査ヘッド16の前述の走査方向X1（第１図（Ｄ）の
矢印X1の方向）は遮光ボックス群18の並列配置方向X2
（第１図（Ｄ）の矢印X2の方向）に直交する方向に設定
されている。
ス19からなり、各遮光ボックス19の内部にフォトダイオ
ード等からなる受光器S0、S1、S2、…Snを設け、それら
の光取入口にスリット20を設けている。各遮光ボックス
19は両蛍光灯17A、17Bの中間上部に位置しており、刷版
13の被測定面からのスリット20を経て入光する反射光を
対応する受光部S0、S1、S2、…Snを案内する。なお、光
学的検査ヘッド16の前述の走査方向X1（第１図（Ｄ）の
矢印X1の方向）は遮光ボックス群18の並列配置方向X2
（第１図（Ｄ）の矢印X2の方向）に直交する方向に設定
されている。
ここで、刷版13のエッジ部分（オフセット印刷用印刷
板の場合の咬えまたは咬え尻部分）にキャリブレーショ
ンマーク21が設けられている。キャリブレーションマー
ク21は、刷版13の絵柄面積率を測定する時、絵柄部（画
線部）測定基準となる。
板の場合の咬えまたは咬え尻部分）にキャリブレーショ
ンマーク21が設けられている。キャリブレーションマー
ク21は、刷版13の絵柄面積率を測定する時、絵柄部（画
線部）測定基準となる。
しかして、刷版13のキャリブレーションマーク21に対
向することとなる遮光ボックス19Aの光取入口に設けら
れているスリット20Aは、遮光ボックス群18の並列配置
方向X2に短辺（ａ）を有する略矩形状をなしている。ま
た、このスリット20Aの短辺（ａ）は、このスリット20A
を経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅
f1がキャリブレーションマーク21の同方向幅f0以下とな
るサイズに設定されている。ｂはスリット20Aの長辺方
向幅である（第１図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｄ）参照）。
向することとなる遮光ボックス19Aの光取入口に設けら
れているスリット20Aは、遮光ボックス群18の並列配置
方向X2に短辺（ａ）を有する略矩形状をなしている。ま
た、このスリット20Aの短辺（ａ）は、このスリット20A
を経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅
f1がキャリブレーションマーク21の同方向幅f0以下とな
るサイズに設定されている。ｂはスリット20Aの長辺方
向幅である（第１図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｄ）参照）。
なお、この実施例において、キャリブレーションマー
ク21を除く検出領域に対向することとなる遮光ボックス
19の光取入口に設けられているスリット20は、検査ヘッ
ド16の走査方向X1に短辺（ｃ）を有し、遮光ボックス群
18の並列配置方向X2に長辺（ｄ）を有する略矩形状をな
すように形成されている。これは、受光器Ｓのサイズが
要因となって定まる受光器Ｓの取付ピッチ間隔Ｐ（例え
ば約20mm）、および測定精度確保の点から定まる検査ヘ
ッド16の走査ピッチ間隔Ｋ（スキャニングピッチ：例え
ば約2mm）等に基づいて決定されたものである。
ク21を除く検出領域に対向することとなる遮光ボックス
19の光取入口に設けられているスリット20は、検査ヘッ
ド16の走査方向X1に短辺（ｃ）を有し、遮光ボックス群
18の並列配置方向X2に長辺（ｄ）を有する略矩形状をな
すように形成されている。これは、受光器Ｓのサイズが
要因となって定まる受光器Ｓの取付ピッチ間隔Ｐ（例え
ば約20mm）、および測定精度確保の点から定まる検査ヘ
ッド16の走査ピッチ間隔Ｋ（スキャニングピッチ：例え
ば約2mm）等に基づいて決定されたものである。
さらに、前述の、印版13のキャリブレーションマーク
21に対向することとなる遮光ボックス19Aの光取入口
（スリット20A）と受光器S0との間には、中間スリット2
2が設けられる。
21に対向することとなる遮光ボックス19Aの光取入口
（スリット20A）と受光器S0との間には、中間スリット2
2が設けられる。
次に、上記実施例の作用について説明する。
測定装置10のテーブル11にオフセット印刷用印刷版等
の刷版13を載置する。
の刷版13を載置する。
刷版13を所定位置に固定した後、照明光学系17を作動
させ、蛍光灯17A、17Bからの照明光により刷版13の検出
領域を光照射する。光照射された刷版13からの反射光は
スリット20を経て各遮光ボックス19の内部に案内され、
受光器Ｓに受光されてそれぞれ読取られる。受光器Ｓの
読取により、刷版検出領域の絵柄面積率が瞬時に検出さ
れる。
させ、蛍光灯17A、17Bからの照明光により刷版13の検出
領域を光照射する。光照射された刷版13からの反射光は
スリット20を経て各遮光ボックス19の内部に案内され、
受光器Ｓに受光されてそれぞれ読取られる。受光器Ｓの
読取により、刷版検出領域の絵柄面積率が瞬時に検出さ
れる。
しかして上記実施例によれば、キャリブレーションマ
ーク21に対向することとなる遮光ボックス19Aの光取入
口に設けたスリット20Aが、遮光ボックス群18の並列配
置方向X2に短辺（ａ）に有する略矩形状をなし、かつこ
のスリット20Aの上記短辺（ａ）は、このスリット20Aを
経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅f1
がキャリブレーションマーク21の同方向幅f0以下となる
サイズに設定されるから、遮光ボックス群18の並列配
置方向X2に直交する方向（走行方向X1）に設けられる長
辺（ｂ）の長さを十分に取ることにより、測定に必要な
反射光の入光量を確保するに足るスリット面積を確保す
る状態下で、遮光ボックス群18の並列配置方向X2にス
リット20の長辺（ｄ）を位置せしめる場合に比して、キ
ャリブレーションマーク21の周辺からの反射光が上記遮
光ボックス19Aの内部に入光することを抑制し、キャリ
ブレーションマーク21からの反射光を周辺からの悪影響
を排除した状態で受光できる。したがって、キャリブレ
ーションマーク21からの反射光量を周辺からの影響を受
けることなく確実かつ高精度に検出し、刷版13の絵柄面
積率の光学的検出を正確に行なうことができる。
ーク21に対向することとなる遮光ボックス19Aの光取入
口に設けたスリット20Aが、遮光ボックス群18の並列配
置方向X2に短辺（ａ）に有する略矩形状をなし、かつこ
のスリット20Aの上記短辺（ａ）は、このスリット20Aを
経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅f1
がキャリブレーションマーク21の同方向幅f0以下となる
サイズに設定されるから、遮光ボックス群18の並列配
置方向X2に直交する方向（走行方向X1）に設けられる長
辺（ｂ）の長さを十分に取ることにより、測定に必要な
反射光の入光量を確保するに足るスリット面積を確保す
る状態下で、遮光ボックス群18の並列配置方向X2にス
リット20の長辺（ｄ）を位置せしめる場合に比して、キ
ャリブレーションマーク21の周辺からの反射光が上記遮
光ボックス19Aの内部に入光することを抑制し、キャリ
ブレーションマーク21からの反射光を周辺からの悪影響
を排除した状態で受光できる。したがって、キャリブレ
ーションマーク21からの反射光量を周辺からの影響を受
けることなく確実かつ高精度に検出し、刷版13の絵柄面
積率の光学的検出を正確に行なうことができる。
また、遮光ボックス19Aの光取入口（スリット20A）と
受光器S0の間に中間スリット22を設けたから、キャリブ
レーションマーク21の周辺からの反射光が光取入口に設
けた上記スリット20Aから入光しても、受光器S0までの
光路中間部にて確実に遮光せしめられる。
受光器S0の間に中間スリット22を設けたから、キャリブ
レーションマーク21の周辺からの反射光が光取入口に設
けた上記スリット20Aから入光しても、受光器S0までの
光路中間部にて確実に遮光せしめられる。
なお、本発明の光学的検出装置においては、刷版を検
査ヘッドに対し移動するものであってもよい。
査ヘッドに対し移動するものであってもよい。
［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば、キャリブレーション
マークからの反射光量を周辺からの影響を受けることな
く確実かつ高精度に検出し、刷版の絵柄面積率の光学的
検出を正確に行なうことができる。
マークからの反射光量を周辺からの影響を受けることな
く確実かつ高精度に検出し、刷版の絵柄面積率の光学的
検出を正確に行なうことができる。
第１図（Ａ）は検査ヘッドを示す縦断面図、第１図
（Ｂ）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図
（Ｃ）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図
（Ｄ）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率
測定装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を
示す模式図である。 13……刷版、 16……検査ヘッド、 18……遮光ボックス群、 19、19A……遮光ボックス、 20、20A……スリット、 21……キャリブレーションマーク、 22……中間スリット、 ａ……短辺、 ｂ……長辺、 Ｓ……受光器。
（Ｂ）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図
（Ｃ）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図
（Ｄ）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率
測定装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を
示す模式図である。 13……刷版、 16……検査ヘッド、 18……遮光ボックス群、 19、19A……遮光ボックス、 20、20A……スリット、 21……キャリブレーションマーク、 22……中間スリット、 ａ……短辺、 ｂ……長辺、 Ｓ……受光器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−73607（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−73608（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−74605（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】検査ヘッドに複数の遮光ボックスを並列配
置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッ
ドと刷版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交
する方向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの
反射光を上記各受光器にて受光する光学的検出装置にお
いて、刷版のキャリブレーションマークに対向すること
となる遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、この
スリットは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有す
る略矩形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリッ
トを経て入光する反射光の被測定面における該短辺方向
幅がキャリブレーションマークの同方向幅以下となるサ
イズに設定されていることを特徴とする光学的検出装
置。 - 【請求項２】前記遮光ボックスの光取入口と受光器との
間に中間スリットを設けた請求項１記載の光学的検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63104045A JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63104045A JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01276006A JPH01276006A (ja) | 1989-11-06 |
| JP2571420B2 true JP2571420B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=14370247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63104045A Expired - Lifetime JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2571420B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2888357B2 (ja) * | 1989-11-24 | 1999-05-10 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 刷版の絵柄面積率測定システム |
| CN102967278B (zh) * | 2012-12-11 | 2015-05-20 | 浙江中烟工业有限责任公司 | 烟支污点面积测量装置及方法和数据采集装置 |
-
1988
- 1988-04-28 JP JP63104045A patent/JP2571420B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01276006A (ja) | 1989-11-06 |
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