JPS647309Y2 - - Google Patents

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JPS647309Y2
JPS647309Y2 JP1979169820U JP16982079U JPS647309Y2 JP S647309 Y2 JPS647309 Y2 JP S647309Y2 JP 1979169820 U JP1979169820 U JP 1979169820U JP 16982079 U JP16982079 U JP 16982079U JP S647309 Y2 JPS647309 Y2 JP S647309Y2
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【考案の詳細な説明】 本考案は印刷時において適正なインキ供給量を
決定するインキ供給量測定装置に関する。
一般的に印刷物はその紙面上の位置によつて印
刷する画線面積が異なつており、紙面全面に均一
な印刷濃度を得るためには、所定の印刷物を印刷
するためのポジ又はネガフイルム等の試料を複数
の区画領域に分割し各区画領域毎に画線面積を測
定して、画線面積に応じた適正インキ供給量を各
区画領域別に各区画領域に対応する独立したイン
キ供給調整弁を介して供給する方式が用いられて
いる。
例えば、所定の印刷物(図示しない)を印刷す
るために使用する第2図示のポジ又はネガフイル
ム4を予め印刷機に於けるインキ供給源からのイ
ンキ供給量を調整するインキ供給調整弁の数に対
応する数の区画領域4a〜4f(ポジ又はネガフ
イルム4を横長とし、これを第2図一点鎖線にて
縦割した6個の区画領域)に分割し、かかるポジ
又はネガフイルム4の各区画領域4a〜4fに於
ける画線面積を測定し、その測定値により、各区
画領域4a〜4fに対応するインキ供給調整弁を
調整しつつ当該各インキ供給調整弁を介して適正
なインキ供給を遂行し、印刷面の全面に均一な印
刷濃度を得た印刷物を印刷する方法が採用されて
いる。
前記ポジ又はネガフイルム4の各区画領域4a
〜4f毎に画線面積を測定する方法としては通常
光学的手段が用いられている。すなわち印刷物の
原資となるポジ又はネガフイルム4に光を照射し
た場合、画線面積はポジ又はネガフイルム4の透
過光量に比例するという原理を利用し、前記ポジ
又はネガフイルム4をこれによつて印刷される印
刷物の区画領域に対応させた各区画領域に分割し
て各区画領域4a〜4f毎の透過光量を測定する
ことにより、各区画領域毎の画線面積を測定する
方法が用いられている。
従来前記ポジ又はネガフイルム4の各区画領域
4a〜4f毎の画線面積を測定する装置として
は、第1図に示す如く光源1と複数個の光電素子
2を配列した受光面3を対向して設け、該光源1
と受光面3の間にポジ又はネガフイルム4を光電
素子の巾だけ移動させるか、光源1と複数個の光
電素子2を、光電素子2の巾だけ移動させてその
移動完了後に該ポジ又はネガフイルム4の透過光
量すなわち印刷物の画線面積を測定して記憶し、
その記憶されたものから各区画領域内の測定値と
判断できるものを選択して各区画領域の画線面積
としている。前記光電素子2の配列は第2図に示
されているように複数個一列に並べてあり、各光
電素子2毎に独立して透過光量を測定出来るよう
に構成されている。
このような構造のポジ又はネガフイルム4の透
過光量の測定装置をインキ供給量測定装置として
応用する場合次のような問題点が生じる。
すなわち光源1によりポジ又はネガフイルム4
が照射される部分は、光源1の長手方向の輝度の
不均一さや散乱あるいは外部の光等の影響により
一定の照射強度の分布にはならず、前記光電素子
2の受光面3の感度分布と組合つて、受光面全体
に複雑な不均一な感度分布を形成し区画境界での
測定範囲があいまいになるという欠点があつた。
また従来の透過光量の測定装置においては、経
年変化等による前記光源1の輝度または光電素子
2の受光感度の変化によつて、ポジ又はネガフイ
ルム4の透過光量の測定値に差異が生じ、透過光
量の測定値と測定インキ供給量との関係がズレて
しまうので、このズレを補正するためには一般的
に印刷本番前に何度も試し刷り等の試行錯誤的補
正が行われているが、このような補正方法により
適正インキ供給量のズレを正確に補正するために
は、作業者の高い技倆あるいは試し刷り等の工数
が必要になるという欠点があつた。
本考案の目的はこのような問題点を解消し、光
源の輝度分布および光電素子の受光面の感度分布
に起因した、受光面の不均一な感度分布によつて
発生する透過光量の測定誤差を低下させ、かつ光
源の輝度変化、光電素子の感度変化等によつて生
じる透過光量の測定値とそれに対する適正インキ
供給量との関係の変化を、容易にかつ自動的に正
確に調整可能とすることにより、印刷時における
インキ供給量を高い精度でかつ容易に決定し得る
インキ供給量測定装置を提供することである。
このために本考案は光源と受光面に照射用スリ
ツトと受光用スリツトをそれぞれ対向して付設
し、該スリツトの対向位置関係が変化しないよう
に該光源と受光面を1体固定した検出部の両スリ
ツトに対して、試料あるいは前記検出部自体が相
対的に直角方向に移動可能に配設して、両スリツ
ト間に介装される試料の画線面積を各区画領域移
動信号により測定するよう構成し、両スリツト間
を通過し、かつ、前記試料を透過して検知される
画線面積に比例した透過光量を光電素子により検
知して、それを各区画領域毎に試料と検出部の相
対的な移動時間により積分した各素子の値を加算
することで各区画領域の画線面積を計測する。ま
た、前記試料の1区画領域に相当しかつその画線
面積があらかじめ判明している較正用ポジ又はネ
ガフイルムを1回の測定動作工程に必ず1回、同
一原理で測定することにより、前記光源の輝度ま
たは受光面の光電素子の感度を補償する補正定数
を自動的に求め、これによつて高精度に適正イン
キ供給量の決定を可能にするようにしたことを特
徴とする。
以下に本考案の実施例につき説明する。
第3図において、光源面5は蛍光灯等の光源1
とこれを内設する光源箱6とで構成されており、
光源箱6にはスリツト6Aが設けられており、ス
リツト6A以外は密閉されて光が漏れないように
なつている。受光面3は一列に配列された複数個
の光電素子2と、これを内設する検出器箱7とで
構成されており、検出器箱7には光源用のスリツ
ト6Aと対向して受光用スリツト7Aが設けられ
ており、スリツト7A以外は密閉されて光が侵入
しないようになつている。光源箱6と検出器箱7
をスリツト6Aと7Aの対向位置が変化しないよ
うに1体固定することにより検出部17を構成
し、かつこの検出部17は同期モータ16により
当該検出部17の前記両スリツト6A,7Aの長
さ方向に対する直交方向に移動自在に構成してあ
る。
光源面5と受光面3の間には、透明ガラス等か
ら成る架台9が設置されており、印刷物の適正イ
ンキ供給量を決める場合には、上記架台9の上に
較正用ポジ又はネガフイルム8および印刷物の原
資となるポジ又はネガフイルム4が設置されて、
インキ供給調整弁の数に対応した各区画領域を識
別する信号が区画領域通過検出器10から発信さ
れるように構成されている。
又前記検出器10に例えば光電素子を区画領域
境界毎に配置して、前記検出箱7の末端に設けた
境界専用の光検出素子により検出する等の構成を
挙げることが出来る。
第4図は上記受光面3を下方から見た図を示し
ている。一列に配列された光電素子2は受光用の
スリツト7Aにより受光面3の範囲が狭められて
おりまたポジ又はネガフイルム4は照射スリツト
6Aによつて、対向して設置されている受光用の
スリツト7Aに対応する部分帯にのみ集中して照
射されているので、光源1の輝度の不均一さや散
乱あるいは外部の光等の影響が減少して、均一な
照射強度の分布が得られるのである。
第4図においてAはn番目の素子2の受光面の
中で受光量が大きい部分、すなわちネガフイルム
の画線部分又はポジフイルムでは画線以外の部分
を示し、Bは(n+1)番目の素子の同様の部分
を示す。
次に第3図に示される光源1の輝度あるいは光
電素子2の感度が変化した場合、ポジ又はネガフ
イルム4の透過光量の測定値に対する適正なイン
キ供給量のズレは、あらかじめ画線面積が判明し
ている測定面積が前記ポジ又はネガフイルム4に
おける1区画領域に相当する較正用ポジ又はネガ
フイルム8(当該較正用ポジ又はネガフイルムの
幅は前記区画領域通過検出器10の信号発生間隔
と一致する)を印刷物の原資となるポジ又はネガ
フイルム4の画線面積の測定前に測定することに
より、以下に示す如き測定結果を得ている。
すなわち第3図に示す通り、スリツト6A,ポ
ジ又はネガフイルム4,又は較正用ポジ又はネガ
フイルム8,スリツト7Aを通過した透過光量
は、各々の光電素子2により検出されて、電気信
号に変換されるとともに増幅器11により増幅さ
れて積分器12に入力され、区画領域通過検出器
10からの信号によつて各区画領域ごとに積分さ
れて記憶回路14に記憶される。このことは、ポ
ジ又はネガフイルム4又は較正用ポジ又はネガフ
イルム8の透過光量が区画領域ごとに積分されて
透過光量値すなわち画線面積として記憶されたこ
とになる。そして、測定された較正用ポジ又はネ
ガフイルム8の各光電素子の透過光量値と、この
較正用ポジ又はネガフイルム8のあらかじめ判明
している透過光量値との比率を各光電素子2毎に
導き出し、その比率によつて、印刷物の原資とな
るポジ又はネガフイルム4の各区画領域の各光電
素子2毎の記憶されている透過光量値に補正演算
を行う。この補正された各区画領域の各光電素子
透過光量値を各区画領域毎の透過光量値、即ち画
線面積として算出し測定結果出力装置15にて各
区画領域毎に出力する。図において11は光電素
子用増幅器、13は制御演算回路を示す。
以上説明したように光源1の輝度または光電素
子2の受光感度の変化を、較正用ポジ又はネガフ
イルム8の透過光量の積分値の比例的変化として
計測出来、光源1の輝度の変化または光電素子2
の受光感度の変化による適正インキ供給量のズレ
は、容易にかつ正確に補正可能となるのである。
尚、前記較正用ポジ又はネガフイルム8は第3
図に示すように架台9上側にポジ又はネガフイル
ム4に重ならないように配置すれば足り、ポジ又
はネガフイルム4の移動方向に対して前側あるい
は後側に配置するかはこれを限定しない。
又、前記実施例では構成を簡易化するために試
料としてのポジ又はネガフイルム4を架台9上に
固定し、検出部17を移動して測定する構成を示
したがこれと逆の構成により実施することも勿論
可能である。
本考案の特徴を備えたインキ供給量を用いた場
合のネガフイルムの透過光量の測定精度は、以下
に示す通り極めて高いという結果が得られてい
る。
すなわち代表的なポジ又はネガフイルムの画線
面積を測定し、次にこのポジ又はネガの関係を逆
にしたフイルムの画線面積を測定した結果、両者
の対応する区画の画線面積の測定値を加算すると
1区画領域の全積になるが、全ての区画領域につ
いてその加算結果の誤差は±1%以内であつた。
また光源に半透明のビニールをかぶせ光源の輝
度を10%低下させて測定した結果は、較正用フイ
ルムを用いて輝度修正した場合、ビニールをかぶ
せる前の測定結果に対して±1%の誤差以内で一
致していた。さらに光源の半分の面積を上記ビニ
ールをかぶせて測定した結果も±1%の誤差以内
で一致していた。
以上説明したように、本考案は簡単な機構によ
り印刷物の原資となるポジ又はネガフイルム等の
試料よりの画線面積の高精度で安定した測定を可
能にし、かつ測定器の光源の輝度または受光面の
感度の変化を自動的に修正可能とするので、操作
性に優れ、印刷物のインキ供給量測定に対して極
めて効果が大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のネガフイルムの透明度測定装置
を概略的に示す側面図、第2図は従来の光電素子
から成る受光面を示す平面図、第3図は本考案イ
ンキ供給量測定装置の一実施例を示す構成図、第
4図は同装置に於ける受光面の感度分布を示す平
面図である。 1……光源(蛍光灯)、2……光電素子
(SPD)、6……光源箱、6A……光源用スリツ
ト、7……検出器箱、7A……受光用スリツト、
8……較正用ポジ又はネガフイルム、10……区
画領域通過検出器、11……増巾器、12……積
分器、13……制御演算回路、14……記憶回
路、15……測定結果出力装置、16……同期モ
ータ、17……検出部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 光源と該光源の光源面に対向して設けられた複
    数の光電素子より形成される受光面とにより、前
    記両面間に挿入される印刷物の原資となる写真ポ
    ジ又はネガフイルム等の試料の画線面積を、当該
    試料の試料面を複数の区画領域に分割し、その各
    区画領域毎に測定し、印刷物の印刷時におけるイ
    ンキ供給量を決定するインキ供給量測定装置にお
    いて、前記光源面と受光面に照射用スリツトと受
    光用スリツトを互に対向して付設し、両スリツト
    の対向位置関係が変化しないように前記光源面と
    受光面を1体固定して検出部を構成し、かつ前記
    試料と前記両スリツトを設けた検出部とを相対的
    に移動可能に構成し、前記検出部における両スリ
    ツト間を通過していく試料の両スリツトを介して
    検知される画線面積に比例した透過光量を前記検
    出部の各素子を介して検出するとともに各素子に
    て検出される透過光量を試料の各区画領域毎に試
    料と検出部の相対的な移動時間で積分した各素子
    の値を加算することにより前記試料の各区画領域
    の画線面積を測定し得るように構成し、さらに前
    記試料の1区画領域に相当するとともに当該領域
    の画線面積があらかじめ判明している較正用ポジ
    又はネガフイルムを前記試料に重ならないように
    配設し、1回の測定動作工程の間に必ず前記試料
    と同じ方法で前記較正用ポジ又はネガフイルムを
    測定し、この測定結果から前記光源の輝度又は受
    光面の光電素子の感度を補償する補正定数を求
    め、これによつて前記試料の各区画領域の画線面
    積の測定値に対して補正演算を行いつつ、前記試
    料の各区画領域毎の画線面積を測定し、試料の各
    区画領域に対する適正インキ供給量の決定を可能
    としたことを特徴とするインキ供給量測定装置。
JP1979169820U 1979-12-10 1979-12-10 Expired JPS647309Y2 (ja)

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JPS5686550U JPS5686550U (ja) 1981-07-11
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5882109A (ja) * 1981-11-12 1983-05-17 Toppan Printing Co Ltd 画線部面積率測定方法

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JPS5028888A (ja) * 1973-06-12 1975-03-24
JPS53146690A (en) * 1977-05-26 1978-12-20 Olympus Optical Co Ltd Calibrating method of densitometer

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