JP2884748B2 - イメージセンサの特性測定方法 - Google Patents

イメージセンサの特性測定方法

Info

Publication number
JP2884748B2
JP2884748B2 JP2234784A JP23478490A JP2884748B2 JP 2884748 B2 JP2884748 B2 JP 2884748B2 JP 2234784 A JP2234784 A JP 2234784A JP 23478490 A JP23478490 A JP 23478490A JP 2884748 B2 JP2884748 B2 JP 2884748B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
value
output
prnu
pixels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2234784A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04114572A (ja
Inventor
宏明 伊東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP2234784A priority Critical patent/JP2884748B2/ja
Publication of JPH04114572A publication Critical patent/JPH04114572A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2884748B2 publication Critical patent/JP2884748B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はイメージセンサの特性測定方法に関し、特に
感度不均一性の測定方法に関する。
〔従来の技術〕
リニア・イメージセンサはファクシミリの原稿読取装
置として広く利用されている。近年装置の高性能性化に
ともない、イメージセンサの特性、特にPRNU(感度不均
一性)に関する制約が強くなっている。従ってPRNU値を
正確に測定する必要がある。
従来のPRNU値の測定は第3図に示すようにイメージセ
ンサに光を照射した場合の全有効画素の出力の平均値
(VAVE)に対する有効画素の出力の最大値(VMAX)ある
いは図示しない最小値(VMIN)とVAVEとの差を求めてい
た。すなわち、 として求めていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来のPRNUの測定方法では、照射した光が不均一
であるような場合、あるいは、出力信号に低周波のノイ
ズが重畳しているような場合には正確なPRNU値を測定す
ることができないという問題があった。
すなわち、たとえば上述したような原因により出力全
体にムラがある場合第4図に示すように感度バラツキの
大きな画素の出力値が1200mV,この画素の感度バラツキ
のない場合の出力値を900mV,全有効画素の平均値を1000
mVとすると、従来の方法によれば、 となるが、正確には、ムラの成分の影響を取り除いて としなければならず、この場合、従来の方法では実際よ
りもPRNU値を小さく評価してしまうという問題点があっ
た。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の測定方法では、全有効画素数よりも少ないPR
NU値を測定しようとする画素とその前後に位置する画素
からの出力値の平均との差からその画素のPRNU値を求
め、以上の操作を全有効画素に対して行ない、求められ
た各有効画素のPRNU値の最大値を求めるというものであ
る。平均をとる場合にPRNU値を測定しようとする画素の
出力値を含めてもよいし、あるいは含めなくてもよい。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、第4図で示した、照射した光が不均一な場
合あるいは低周波のノイズが重畳しているため出力波形
にムラが生じた場合の感度が正常でない画素出力付近の
出力波形の拡大図である。同図で▲V0 AVE▼が画素出力
n−4,n+4の平均値である。
第1図を参照して本発明の第1の実施例について説明
する。
今第1図に示したように感度が正常でない画素がn番
目の画素であったとする。一般に微小な区間で見ると、
この区間でムラの値は一定であると考えてよい。つま
り、n番目の画素を中心としてたとえばその前後4画
素、合計9画素の出力値の平均を求め、この平均値から
のズレを求めることにより、ムラの成分の影響を除去す
ることができる。
従って、n−4,n−3,…n,…n+3,n+4番目の画素の
出力値をVn-4,Vn-3,…-Vn,…,Vn+3,Vn+4とし、n
番目の画素のPRNU値をPRNU(n)とすると として求めることができる。以上の操作の全有効画素に
ついて行ない、各画素のPRNU値を求め、それらの最大値
から全体のPRNU値を得ることができる。
次に第2図を参照して本発明の第2の実施例について
説明する。同図に示すように、n番目の画素の出力が非
常に大きな場合には、n番目の画素を含めて平均値を求
めると▲V0 AVE▼のようになり、この平均値からPRNU値
を求めると見かけ上PRNU値が小さくなり正しい値を求め
ることができない。
出力の非常に大きなn番目の画素を除いてその前後4
画素のみの平均値を求めると図の▲V0′ AVE▼のよう
になる。この平均値は感度が正常な時のn番目の画素の
出力値と同じであると考えてよい。従って として求める。以上の操作を全有効画素について行な
い、各画素のPRNU値を求め、それらの最大値を求めるこ
とにより、感度不均一性が大きな場合でも正しくPRNU値
を得ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、n番目の画素出力値と
その前後数画素の出力値の平均とから、n番目の画素の
PRNU値を求め、同様の操作を有効画素全域にわたって行
なうことにより、光の不均一性に由来する出力波形のム
ラや、低周波のノイズが出力波形に重畳することにより
生ずるムラが有る場合にも、これらのムラの成分による
影響を除去し、PRNU値を正確に測定できるという効果を
有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を説明するための出力波
形図、第2図は本発明のPRNU値の大きな画素を含んだ時
の第2の実施例を説明するための出力波形図、第3図は
従来例を説明するための図、第4図は出力波形にムラが
ある場合の出力波形図である。 VAVE……全有効画素の出力の平均値、VMAX……全有効画
素の出力の最大値、V0……感度バラツキのある画素の感
度バラツキがないと仮定した時の出力値、▲V0 AVE▼…
…n番目の画素を含めた前後各4画素出力の平均値、▲
0′ AVE▼……n番目の画素を除いた前後4画素出力
の平均値。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】イメージセンサの有効画素出力のうち、任
    意の一画素の出力値を、前記全有効画素数よりも少ない
    該一画素とその前後に位置する画素からの出力値の平均
    値で除して感度不均一性を求める操作を前記全有効画素
    について行い、得られた結果の最大値を求めることを特
    徴とするイメージセンサの特性測定方法。
  2. 【請求項2】イメージセンサの有効画素出力のうち、任
    意の一画素の出力値を、前記全有効画素数よりも少ない
    該一画素の前後に位置する画素からの出力値の平均値で
    除して感度不均一性を求める操作を前記全有効画素につ
    いて行い、得られた結果の最大値を求めることを特徴と
    するイメージセンサの特性測定方法。
JP2234784A 1990-09-05 1990-09-05 イメージセンサの特性測定方法 Expired - Lifetime JP2884748B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2234784A JP2884748B2 (ja) 1990-09-05 1990-09-05 イメージセンサの特性測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2234784A JP2884748B2 (ja) 1990-09-05 1990-09-05 イメージセンサの特性測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04114572A JPH04114572A (ja) 1992-04-15
JP2884748B2 true JP2884748B2 (ja) 1999-04-19

Family

ID=16976325

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2234784A Expired - Lifetime JP2884748B2 (ja) 1990-09-05 1990-09-05 イメージセンサの特性測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2884748B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04114572A (ja) 1992-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4616129A (en) Light detecting apparatus
EP1107614B1 (en) Detection of gaussian noise in video signals
US4659936A (en) Line width measuring device and method
US6075877A (en) Method and apparatus of image processing using energy substraction parameters according to thickness of an object
JP2884748B2 (ja) イメージセンサの特性測定方法
US7483556B2 (en) Energy subtraction processing method and apparatus
JPH05217689A (ja) X線撮影装置およびx線撮影方法
JPS5929848B2 (ja) 写真焼付露光量制御方法
US5015853A (en) Method of recognizing irradiation field, and method of adjusting image processing conditions
US4806756A (en) Method of adjusting radiation image read-out conditions
CA1236593A (en) Method of adjusting radiation image read-out conditions
US4861994A (en) Method of measuring after-glow of stimulable phosphor sheet, and method of adjusting radiation image read-out conditions
JP2008131981A (ja) 画質評価演算方法および装置ならびにプログラム
US20030002744A1 (en) Method for producing an image noise table having statistics for use by image processing algorithms
JP2699474B2 (ja) Pmtゲイン調節方法
JP2584747B2 (ja) 画像処理装置
JP2639276B2 (ja) 信号波形のピーク値検出方法
JPH10285616A (ja) ビデオ品質自動測定方法及び装置
JPH063792B2 (ja) 露光パタ−ンデ−タの評価方法
JPS63222247A (ja) 画像歪補正方法
JP3918307B2 (ja) 画像濃淡ムラ検出方法
JPS59228148A (ja) 画像の粒状性測定装置
JPH0792082A (ja) 画像濃度の検知方法および検知装置
JP2965078B2 (ja) 反射光量測定装置
JPS63119542A (ja) 2次電子取込み装置