JP2001099708A - 色面検査方法 - Google Patents
色面検査方法Info
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ランプの劣化とランプの固体差が色測定値に
及ぼす影響を回避し安定した測定結果が取得できる色面
検査方法の提供。 【解決手段】 (1)色測定毎に白色校正板8を用いて
白色校正を行い、白色校正板のデータをもとにランプ2
の劣化を演算し、その劣化幅で色面の色測定値を補正す
る色面検査方法。(2)ランプ2の交換毎に、ホワイト
レベル、ブラックレベルを取得し、ホワイトレベル、ブ
ラックレベル間を0〜所定の一定値とするように各画素
について補正値を求め、色面の色測定毎に、補正値をも
とに入力データをシェーディング補正する色面検査方
法。(3)ランプ劣化を補正したデータを基にして求め
た、色面の分割領域の色データが所定範囲にあるか、隣
接領域の色データとの差が所定値以下かで、色むらを自
動検査する色面検査方法。
及ぼす影響を回避し安定した測定結果が取得できる色面
検査方法の提供。 【解決手段】 (1)色測定毎に白色校正板8を用いて
白色校正を行い、白色校正板のデータをもとにランプ2
の劣化を演算し、その劣化幅で色面の色測定値を補正す
る色面検査方法。(2)ランプ2の交換毎に、ホワイト
レベル、ブラックレベルを取得し、ホワイトレベル、ブ
ラックレベル間を0〜所定の一定値とするように各画素
について補正値を求め、色面の色測定毎に、補正値をも
とに入力データをシェーディング補正する色面検査方
法。(3)ランプ劣化を補正したデータを基にして求め
た、色面の分割領域の色データが所定範囲にあるか、隣
接領域の色データとの差が所定値以下かで、色むらを自
動検査する色面検査方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、安定した測定が可
能な色面検査方法に関し、光源であるランプの劣化によ
る経時的なエネルギーの減衰および/またはランプの固
体差にかかわらず、安定した測定結果が取得でき、さら
に色むらの検査もできる色面検査方法に関する。
能な色面検査方法に関し、光源であるランプの劣化によ
る経時的なエネルギーの減衰および/またはランプの固
体差にかかわらず、安定した測定結果が取得でき、さら
に色むらの検査もできる色面検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】本特許出願人は、特願平10−1255
97号にて塗膜を表面に有する被検査物(たとえば、自
動車ボデー)の色検査と塗装欠陥検査を行う検査方法を
提案した。従来の塗面検査では、通常、光源であるラン
プからの光を被検査物(たとえば、自動車ボデー)の塗
面(色面)に照射し、塗面から離して置いたラインセン
サーで塗面からの反射光を受光し、受光をR(Re
d)、G(Green)、B(Blue)などの色要素
に分けそれぞれのエネルギー量を測定し、3CCDライ
ンセンサー(以下、単にラインセンサーともいう)から
のRGB値をコンピュータ(パソコン)に出力する。パ
ソコンでRGB値をLab値あるいはその他の色空間デ
ータに変換し、例えばLab値が所定のしきい値内にあ
るか否かを演算して、色検査と塗装欠陥検査などを行っ
ていた。
97号にて塗膜を表面に有する被検査物(たとえば、自
動車ボデー)の色検査と塗装欠陥検査を行う検査方法を
提案した。従来の塗面検査では、通常、光源であるラン
プからの光を被検査物(たとえば、自動車ボデー)の塗
面(色面)に照射し、塗面から離して置いたラインセン
サーで塗面からの反射光を受光し、受光をR(Re
d)、G(Green)、B(Blue)などの色要素
に分けそれぞれのエネルギー量を測定し、3CCDライ
ンセンサー(以下、単にラインセンサーともいう)から
のRGB値をコンピュータ(パソコン)に出力する。パ
ソコンでRGB値をLab値あるいはその他の色空間デ
ータに変換し、例えばLab値が所定のしきい値内にあ
るか否かを演算して、色検査と塗装欠陥検査などを行っ
ていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、光源であるラ
ンプが時間の経過とともに劣化していくので受光したR
GB値のエネルギー量が減衰していき、色測定に影響を
及ぼす。また、ランプを交換した時に、ランプに固体差
があり、その固体差も色測定に影響を及ぼす。ランプの
劣化などの色測定に及ぼす影響をなくすためには、特開
平7−55704号公報のような、、ランプの明るさの
調節手段を特別に設けることも考えられるが、その場合
は装置の増設、複雑化という問題が生じる。本発明の目
的は、ランプの明るさの調節手段等の装置の増設を必要
とすることなく、光源であるランプの劣化とランプの固
体差が色測定値に影響を及ぼすのを回避でき、常に安定
した測定結果が取得できる、また、色むらの検査もでき
る色面検査方法を提供することにある。
ンプが時間の経過とともに劣化していくので受光したR
GB値のエネルギー量が減衰していき、色測定に影響を
及ぼす。また、ランプを交換した時に、ランプに固体差
があり、その固体差も色測定に影響を及ぼす。ランプの
劣化などの色測定に及ぼす影響をなくすためには、特開
平7−55704号公報のような、、ランプの明るさの
調節手段を特別に設けることも考えられるが、その場合
は装置の増設、複雑化という問題が生じる。本発明の目
的は、ランプの明るさの調節手段等の装置の増設を必要
とすることなく、光源であるランプの劣化とランプの固
体差が色測定値に影響を及ぼすのを回避でき、常に安定
した測定結果が取得できる、また、色むらの検査もでき
る色面検査方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、つぎの通りである。 (1) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、白色校正板を3CCDラインセ
ンサーの視野内で測定の邪魔にならない位置でかつピン
トが合う位置に配置しておき、色測定毎に前記白色校正
板を用いて測定を行い、白色校正板のデータをもとにラ
ンプの劣化による経時的なエネルギーの減衰量を演算
し、その減衰量を基に決定した補正値で被検査色面の色
測定値を補正する色面検査方法。 (2) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、ランプ交換毎に、ホワイトレベ
ル、ブラックレベルを取得しホワイトレベル、ブラック
レベル間を0〜所定の一定値とするように各画素につい
て補正データを求め、被検査色面の色測定毎に、前記補
正データを基に各画素について測定入力データをシェー
ディング補正する色面検査方法。 (3) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、色測定毎に白色校正板を用いて
測定を行い、白色校正板のデータをもとにランプの劣化
による経時的なエネルギーの減衰量を演算し、その減衰
量を基に決定した補正値で被検査色面の色測定値を補正
すると共に補正色測定値を色空間データに変換し、被検
査色面を複数の領域に区画した場合の各領域について、
該領域の全画素の補正色測定値および/または色空間デ
ータの平均値を演算し、該平均値が予め設定した範囲内
にあるか否かおよび/または隣接領域の対応平均値との
差が予め設定した値以下か否かを判定し否の場合は色む
ら有りと判定する色面検査方法。
明は、つぎの通りである。 (1) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、白色校正板を3CCDラインセ
ンサーの視野内で測定の邪魔にならない位置でかつピン
トが合う位置に配置しておき、色測定毎に前記白色校正
板を用いて測定を行い、白色校正板のデータをもとにラ
ンプの劣化による経時的なエネルギーの減衰量を演算
し、その減衰量を基に決定した補正値で被検査色面の色
測定値を補正する色面検査方法。 (2) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、ランプ交換毎に、ホワイトレベ
ル、ブラックレベルを取得しホワイトレベル、ブラック
レベル間を0〜所定の一定値とするように各画素につい
て補正データを求め、被検査色面の色測定毎に、前記補
正データを基に各画素について測定入力データをシェー
ディング補正する色面検査方法。 (3) 被検査色面に光源であるランプから光を投光し
3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定を行う
色面検査方法であって、色測定毎に白色校正板を用いて
測定を行い、白色校正板のデータをもとにランプの劣化
による経時的なエネルギーの減衰量を演算し、その減衰
量を基に決定した補正値で被検査色面の色測定値を補正
すると共に補正色測定値を色空間データに変換し、被検
査色面を複数の領域に区画した場合の各領域について、
該領域の全画素の補正色測定値および/または色空間デ
ータの平均値を演算し、該平均値が予め設定した範囲内
にあるか否かおよび/または隣接領域の対応平均値との
差が予め設定した値以下か否かを判定し否の場合は色む
ら有りと判定する色面検査方法。
【0005】上記(1)の色面検査方法では、色測定直
前または任意の時間に、白色校正板を用いてR、G、B
値のエネルギーの減衰量を演算し、その減衰量で、実際
の被検査色面の色測定値のR、G、B値をコンピュータ
内で補正する。これによって、ランプが劣化しても、劣
化の無い状態での、安定した色測定値を得ることができ
る。明るさ調節手段等を設けることなく、コンピュータ
内での演算のみで補正することができる。上記(2)の
色面検査方法では、ランプ交換毎にラインセンサーが色
測定を行う時に出力するRGB値に対し、それぞれ別々
にR用、G用、B用のシェーディング補正データを取得
し、被検査色面の色測定毎にR、G、B値をそれぞれ別
々にシェーディング補正を行う。この方法により、ラン
プ交換時のランプ固体差による色測定値の変動が低減さ
れる。上記(1)、(2)の色面検査方法は、色測定値
の測定精度向上を達成する方法であり、色がついた被検
査物の色検査に適用することにより、色検査結果は当然
良くなる。また、本方法は、色測定値に基づく塗装欠陥
の有無の判別(たとえば、自動車ボデーの塗装欠陥の有
無の判別等)に用いることができ、本方法を適用するこ
とにより塗装欠陥の判定精度は向上する。上記(3)の
方法は、上記(1)のランプの劣化を補正する方法によ
る色面検査における測定精度の向上によって、従来人が
目視で行っていた色むらの検査まで自動で行うことがで
きるようにした色面検査方法である。上記(3)の色面
検査方法では、上記(1)の方法と同様に、被検査色面
の各画素の色測定値(R、G、B値)を補正すると共に
補正した色測定値を色空間データ(たとえば、色空間を
Lab空間とすると、補正後のR、G、B値から変換し
たL、a、b値)に変換する。そして、被検査面を被検
査色面を複数の領域に区画した場合の各領域について、
該領域の全画素の補正色測定値(R、G、B値)および
/またはその色空間データ(たとえば、色空間をLab
空間とすると、補正R、G、B値から変換したL、a、
b値)の平均値(Rm 、Gm 、Bm 値、および/また
は、色空間をたとえばLab空間とすると、Lm 、
am 、bm )を演算する。そして、該平均値が予め設定
した範囲内(上限値と下限値との間)にあるか否かおよ
び/または該平均値と隣接領域の対応平均値との差が所
定値以下か否かを判定し、否の場合は色むら有りと判定
し、表示する。否でない場合はつぎに進んで同じ演算と
判定を実行し、この演算と判定を複数の領域の全部につ
いて実行する。これによって、色面の色むらの有無を自
動判定できる。
前または任意の時間に、白色校正板を用いてR、G、B
値のエネルギーの減衰量を演算し、その減衰量で、実際
の被検査色面の色測定値のR、G、B値をコンピュータ
内で補正する。これによって、ランプが劣化しても、劣
化の無い状態での、安定した色測定値を得ることができ
る。明るさ調節手段等を設けることなく、コンピュータ
内での演算のみで補正することができる。上記(2)の
色面検査方法では、ランプ交換毎にラインセンサーが色
測定を行う時に出力するRGB値に対し、それぞれ別々
にR用、G用、B用のシェーディング補正データを取得
し、被検査色面の色測定毎にR、G、B値をそれぞれ別
々にシェーディング補正を行う。この方法により、ラン
プ交換時のランプ固体差による色測定値の変動が低減さ
れる。上記(1)、(2)の色面検査方法は、色測定値
の測定精度向上を達成する方法であり、色がついた被検
査物の色検査に適用することにより、色検査結果は当然
良くなる。また、本方法は、色測定値に基づく塗装欠陥
の有無の判別(たとえば、自動車ボデーの塗装欠陥の有
無の判別等)に用いることができ、本方法を適用するこ
とにより塗装欠陥の判定精度は向上する。上記(3)の
方法は、上記(1)のランプの劣化を補正する方法によ
る色面検査における測定精度の向上によって、従来人が
目視で行っていた色むらの検査まで自動で行うことがで
きるようにした色面検査方法である。上記(3)の色面
検査方法では、上記(1)の方法と同様に、被検査色面
の各画素の色測定値(R、G、B値)を補正すると共に
補正した色測定値を色空間データ(たとえば、色空間を
Lab空間とすると、補正後のR、G、B値から変換し
たL、a、b値)に変換する。そして、被検査面を被検
査色面を複数の領域に区画した場合の各領域について、
該領域の全画素の補正色測定値(R、G、B値)および
/またはその色空間データ(たとえば、色空間をLab
空間とすると、補正R、G、B値から変換したL、a、
b値)の平均値(Rm 、Gm 、Bm 値、および/また
は、色空間をたとえばLab空間とすると、Lm 、
am 、bm )を演算する。そして、該平均値が予め設定
した範囲内(上限値と下限値との間)にあるか否かおよ
び/または該平均値と隣接領域の対応平均値との差が所
定値以下か否かを判定し、否の場合は色むら有りと判定
し、表示する。否でない場合はつぎに進んで同じ演算と
判定を実行し、この演算と判定を複数の領域の全部につ
いて実行する。これによって、色面の色むらの有無を自
動判定できる。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明実施例の色面検査方法は、
図1、または図17の装置を用いて実施される。図1、
図17において、被検査物(たとえば、塗膜を有する自
動車ボデー、自動車ボデー等に塗装の代わりに貼付けら
れるまたは貼付けられたフィルムやテーブ、色付き防錆
鋼板等)とラインセンサー3を相対的に移動させて、色
検査を行う。被検査物の色面(被検査物が塗装面である
場合は塗面、ただし、塗面に限るものではない)1に、
光源であるランプ2からの光を斜めから投光し、反射光
を、色面1に対向させて設けたラインセンサー3で受光
して色測定を行う。測定範囲は、ラインセンサー3の視
野範囲より小さい。
図1、または図17の装置を用いて実施される。図1、
図17において、被検査物(たとえば、塗膜を有する自
動車ボデー、自動車ボデー等に塗装の代わりに貼付けら
れるまたは貼付けられたフィルムやテーブ、色付き防錆
鋼板等)とラインセンサー3を相対的に移動させて、色
検査を行う。被検査物の色面(被検査物が塗装面である
場合は塗面、ただし、塗面に限るものではない)1に、
光源であるランプ2からの光を斜めから投光し、反射光
を、色面1に対向させて設けたラインセンサー3で受光
して色測定を行う。測定範囲は、ラインセンサー3の視
野範囲より小さい。
【0007】ラインセンサー3は、たとえば3CCDラ
インセンサーからなる。ラインセンサー3は、測定範囲
での色面からの反射である受光を、プリズムに相当する
手段などを用いて、ライン上の各画素(2048画素あ
る)について、基本色成分、たとえばR(Red)、G
(Green)、B(Blue)に分光し、R、G、B
それぞれ用のCCD4でR、G、Bのエネルギー量を検
出し、それをA/D変換部5でデジタル信号に変換す
る。ラインセンサー3からのR、G、Bのデジタル信号
はデータメモリー6でデータが蓄積されてコンピュータ
(たとえば、パソコン)7に入力され、R、G、B値と
して取得される。コンピュータ7のメモリー容量が十分
な場合はデータメモリー6を省略してA/D変換部5か
らの信号をコンピュータ7に直接入力してもよい。R、
G、B値は、必要に応じて、コンピュータ7でLab
値、HSI値やその他の色空間データに演算される。色
空間がLab空間(L軸、a軸、b軸の3次元空間)で
ある場合、L値は明るさを表示する指数であり、a値は
赤−緑を表示する指数であり、b値は黄−青を表示する
指数である。
インセンサーからなる。ラインセンサー3は、測定範囲
での色面からの反射である受光を、プリズムに相当する
手段などを用いて、ライン上の各画素(2048画素あ
る)について、基本色成分、たとえばR(Red)、G
(Green)、B(Blue)に分光し、R、G、B
それぞれ用のCCD4でR、G、Bのエネルギー量を検
出し、それをA/D変換部5でデジタル信号に変換す
る。ラインセンサー3からのR、G、Bのデジタル信号
はデータメモリー6でデータが蓄積されてコンピュータ
(たとえば、パソコン)7に入力され、R、G、B値と
して取得される。コンピュータ7のメモリー容量が十分
な場合はデータメモリー6を省略してA/D変換部5か
らの信号をコンピュータ7に直接入力してもよい。R、
G、B値は、必要に応じて、コンピュータ7でLab
値、HSI値やその他の色空間データに演算される。色
空間がLab空間(L軸、a軸、b軸の3次元空間)で
ある場合、L値は明るさを表示する指数であり、a値は
赤−緑を表示する指数であり、b値は黄−青を表示する
指数である。
【0008】白色校正板(基準板)8が、ラインセンサ
ー3の視野内で測定の邪魔にならない位置でかつライン
センサー3のピントが合う位置に、配置されている。そ
して、ランプ2の劣化に対する補正に対しては、色測定
毎に、白色校正板8を用いて白色校正を行う(請求項1
の発明に対応する)。また、ランプ2の固体差に対する
補正に対しては、ランプ2の交換毎に、白色校正板8を
用いてホワイトレベルを求め、シェーディング補正デー
タを取得し、被検査色面の色測定毎にシェーディング補
正を行う(請求項2の発明に対応する)。また、色むら
検査においては、ランプ2の経時劣化に対して色測定毎
に白色校正板8を用いて白色校正を行い、ランプ2の劣
化の影響を除去したデータに基づいて色むら判定を行う
(請求項3の発明に対応する)。これらの補正は、コン
ピュータ7で行われ、演算処理によって行われる。
ー3の視野内で測定の邪魔にならない位置でかつライン
センサー3のピントが合う位置に、配置されている。そ
して、ランプ2の劣化に対する補正に対しては、色測定
毎に、白色校正板8を用いて白色校正を行う(請求項1
の発明に対応する)。また、ランプ2の固体差に対する
補正に対しては、ランプ2の交換毎に、白色校正板8を
用いてホワイトレベルを求め、シェーディング補正デー
タを取得し、被検査色面の色測定毎にシェーディング補
正を行う(請求項2の発明に対応する)。また、色むら
検査においては、ランプ2の経時劣化に対して色測定毎
に白色校正板8を用いて白色校正を行い、ランプ2の劣
化の影響を除去したデータに基づいて色むら判定を行う
(請求項3の発明に対応する)。これらの補正は、コン
ピュータ7で行われ、演算処理によって行われる。
【0009】まず、ランプ2の劣化に対する補正方法
(請求項1の発明に対応)を、図2、図3を参照して、
説明する。ランプ2は経時的に劣化していくものであ
る。したがって、ランプ2が投光した光が白色校正板8
で反射し、その反射光をラインセンサー3で受光し分光
して3CCDラインセンサーで検出した時のR、G、B
値(それぞれ、平均値を示す)は、図2に示すように、
ボデー測定台数(ボデー測定台数は時間経過に比例す
る)とともに低下していく。
(請求項1の発明に対応)を、図2、図3を参照して、
説明する。ランプ2は経時的に劣化していくものであ
る。したがって、ランプ2が投光した光が白色校正板8
で反射し、その反射光をラインセンサー3で受光し分光
して3CCDラインセンサーで検出した時のR、G、B
値(それぞれ、平均値を示す)は、図2に示すように、
ボデー測定台数(ボデー測定台数は時間経過に比例す
る)とともに低下していく。
【0010】ランプ2の経時劣化による測定精度への影
響を除去するために、図3の補正を行う。図3におい
て、ステップ101にて、ランプ使用初期(ランプ交換
時でボデー測定台数が1台目の時)にボデー色面測定前
に、白色校正板8を撮像してR、G、B値を求め、その
時の各R、G、B値を1とおく。ランプ2の使用経過に
伴い、R、G、B値は、それぞれ、低下していく。たと
えば、ボデー測定台数が101台目の時には、図2に示
したように、ランプ使用初期の1に比べて、R値が0.
86となっており、G値が0.79となっており、B値
が0.75となっている。したがって、劣化したランプ
2を用いて被検査物の色面1を実際に測定した時のR、
G、B値を減衰量分だけ補正するための補正値は、たと
えば、ボデー測定台数が101台目の時には、R値に対
し1/0.86であり、G値に対し1/0.79であ
り、B値に対し1/0.75である。
響を除去するために、図3の補正を行う。図3におい
て、ステップ101にて、ランプ使用初期(ランプ交換
時でボデー測定台数が1台目の時)にボデー色面測定前
に、白色校正板8を撮像してR、G、B値を求め、その
時の各R、G、B値を1とおく。ランプ2の使用経過に
伴い、R、G、B値は、それぞれ、低下していく。たと
えば、ボデー測定台数が101台目の時には、図2に示
したように、ランプ使用初期の1に比べて、R値が0.
86となっており、G値が0.79となっており、B値
が0.75となっている。したがって、劣化したランプ
2を用いて被検査物の色面1を実際に測定した時のR、
G、B値を減衰量分だけ補正するための補正値は、たと
えば、ボデー測定台数が101台目の時には、R値に対
し1/0.86であり、G値に対し1/0.79であ
り、B値に対し1/0.75である。
【0011】実際の被検査物(たとえば、101台目の
ボデー)の色測定毎に、その色測定前に(直前または適
当な時に)、ステップ102で、白色校正板8を撮像し
白色校正板8を用いて白色校正を行ってR、G、Bデー
タを求める。ついで、ステップ103で、白色校正板の
データをもとにランプの経時的なエネルギーの減衰量を
演算し(上記のR値が0.86、G値が0.79、B値
が0.75)、ステップ104で、その減衰量分だけ色
測定データを補正するための補正値を求め(上記のR値
に対し1/0.86、G値に対し1/0.79、B値に
対し1/0.75)、この補正値をコンピュータのRA
Mに記憶しておく。
ボデー)の色測定毎に、その色測定前に(直前または適
当な時に)、ステップ102で、白色校正板8を撮像し
白色校正板8を用いて白色校正を行ってR、G、Bデー
タを求める。ついで、ステップ103で、白色校正板の
データをもとにランプの経時的なエネルギーの減衰量を
演算し(上記のR値が0.86、G値が0.79、B値
が0.75)、ステップ104で、その減衰量分だけ色
測定データを補正するための補正値を求め(上記のR値
に対し1/0.86、G値に対し1/0.79、B値に
対し1/0.75)、この補正値をコンピュータのRA
Mに記憶しておく。
【0012】ついで、ステップ105で、実際の被検査
物(上記の例では101台目のボデー)の色面1の色測
定を、被検査物とラインセンサー3を相対的に移動させ
て行い、R、G、B値を求める。そして、ステップ10
6で、この測定された実際の色面のR、G、B値に、そ
れぞれ、上記の補正値を掛けて、ランプ2の劣化がなか
った場合に得られるであろうR、G、B値(補正R、
G、B値)を演算により求める。そして、この補正R、
G、B値を必要に応じてLab値等に変換して、色およ
び塗装欠陥有無の判定に用いる。これをラインセンサー
3が測定した全画素に対して行う。ステップ107でボ
デーの検査必要色面1全体の測定・検査が終了したか否
かを判定し、検査必要色面1全体の測定・検査が終了す
るまでステップ105に戻ってステップ105、106
を繰り返すか、またはステップ102に戻ってステップ
102〜106を繰り返す。ステップ107でボデーの
検査必要色面1全体の色測定・検査が終了したと判定さ
れると、ステップ108に進み、判定結果がOKであれ
ば、ステップ109に進む。NGであれば被検査物の再
検査(人による)を行い、処置方法が決まれば、ステッ
プ109に進み、ランプの寿命があるかないかを判定す
る。ステップ109では、ランプ寿命がきていないなら
つぎのボデーの測定を繰り返すためにステップ102に
戻る。
物(上記の例では101台目のボデー)の色面1の色測
定を、被検査物とラインセンサー3を相対的に移動させ
て行い、R、G、B値を求める。そして、ステップ10
6で、この測定された実際の色面のR、G、B値に、そ
れぞれ、上記の補正値を掛けて、ランプ2の劣化がなか
った場合に得られるであろうR、G、B値(補正R、
G、B値)を演算により求める。そして、この補正R、
G、B値を必要に応じてLab値等に変換して、色およ
び塗装欠陥有無の判定に用いる。これをラインセンサー
3が測定した全画素に対して行う。ステップ107でボ
デーの検査必要色面1全体の測定・検査が終了したか否
かを判定し、検査必要色面1全体の測定・検査が終了す
るまでステップ105に戻ってステップ105、106
を繰り返すか、またはステップ102に戻ってステップ
102〜106を繰り返す。ステップ107でボデーの
検査必要色面1全体の色測定・検査が終了したと判定さ
れると、ステップ108に進み、判定結果がOKであれ
ば、ステップ109に進む。NGであれば被検査物の再
検査(人による)を行い、処置方法が決まれば、ステッ
プ109に進み、ランプの寿命があるかないかを判定す
る。ステップ109では、ランプ寿命がきていないなら
つぎのボデーの測定を繰り返すためにステップ102に
戻る。
【0013】つぎの、ボデーの測定を行う時には、上記
と同様のことを繰り返す。すなわち、測定前に白色校正
を行ってランプの劣化を補正するための補正値をR、
G、B値それぞれに対して求め、実際の色測定を行って
実際のR、G、B値を求め、それを補正値で補正して、
ランプの劣化が無かった場合に得られるであろう補正
R、G、B値を求め、この補正R、G、B値をLab値
等に変換して、色および塗装欠陥有無の判定する。
と同様のことを繰り返す。すなわち、測定前に白色校正
を行ってランプの劣化を補正するための補正値をR、
G、B値それぞれに対して求め、実際の色測定を行って
実際のR、G、B値を求め、それを補正値で補正して、
ランプの劣化が無かった場合に得られるであろう補正
R、G、B値を求め、この補正R、G、B値をLab値
等に変換して、色および塗装欠陥有無の判定する。
【0014】つぎに、ランプ2の固体差の補正(請求項
2の発明に対応)を説明する。図4は、ランプ2が納入
された時の新品の状態での白色校正板8を用いて測定・
取得したR、G、B値のばらつきを示す。図中、88
D、89DはロットNo.を示している。たとえば、8
8D−1から88D−9までの9個のランプは同じロッ
ト内にあるにかかわらず、R、G、B値がばらついてい
る。たとえば、88D−4のランプ2は、R値が1.0
9、G値が1.2、B値が0.98であるのに対し、8
8D−3のランプ2は、R値が0.91、G値が0.8
2、B値が0.79であり、同じロット88Dであるに
かかわらず、88D−4のR、G、B値と88D−3の
R、G、B値とが異なる。これは、ランプ2の固体差に
よってばらつくものである。
2の発明に対応)を説明する。図4は、ランプ2が納入
された時の新品の状態での白色校正板8を用いて測定・
取得したR、G、B値のばらつきを示す。図中、88
D、89DはロットNo.を示している。たとえば、8
8D−1から88D−9までの9個のランプは同じロッ
ト内にあるにかかわらず、R、G、B値がばらついてい
る。たとえば、88D−4のランプ2は、R値が1.0
9、G値が1.2、B値が0.98であるのに対し、8
8D−3のランプ2は、R値が0.91、G値が0.8
2、B値が0.79であり、同じロット88Dであるに
かかわらず、88D−4のR、G、B値と88D−3の
R、G、B値とが異なる。これは、ランプ2の固体差に
よってばらつくものである。
【0015】R、G、B値をLab値等に変換してもL
ab値等は当然にばらつく。図5、図6、図7は、ボデ
ーの色測定データであるL値(明るさを表示する指
数)、a値(赤−緑を表示する指数)、b値(黄−青を
表示する指数)とボデー測定台数との関係を示してお
り、ランプからランプに変えた時とランプからラ
ンプに交換した時にデータが大きく変化しているのを
示したものである。ランプ交換時のL値、a値、b値の
変化が、ランプ2の固体差によるものである。このよう
にランプ2に固体差があると、測定および測定に基づく
塗装欠陥の判定の信頼性が低下するので、図5、図6、
図7のデータを図8、図9、図10のデータのように、
ランプ交換時にばらつかないものに補正したい。この補
正が、以下のシェーディング補正である。ここで、シェ
ーディング補正とは、レンズの特性・照明のムラによる
入力画像の不均一性・ランプ固体差を補正するもので、
画面全体が一様な明るさになる方向に補正処理すること
をいう。
ab値等は当然にばらつく。図5、図6、図7は、ボデ
ーの色測定データであるL値(明るさを表示する指
数)、a値(赤−緑を表示する指数)、b値(黄−青を
表示する指数)とボデー測定台数との関係を示してお
り、ランプからランプに変えた時とランプからラ
ンプに交換した時にデータが大きく変化しているのを
示したものである。ランプ交換時のL値、a値、b値の
変化が、ランプ2の固体差によるものである。このよう
にランプ2に固体差があると、測定および測定に基づく
塗装欠陥の判定の信頼性が低下するので、図5、図6、
図7のデータを図8、図9、図10のデータのように、
ランプ交換時にばらつかないものに補正したい。この補
正が、以下のシェーディング補正である。ここで、シェ
ーディング補正とは、レンズの特性・照明のムラによる
入力画像の不均一性・ランプ固体差を補正するもので、
画面全体が一様な明るさになる方向に補正処理すること
をいう。
【0016】図11は、レンズの特性、照明のムラによ
る入力画像の不均一性を示す。図11において、11は
レンズ、12は完全拡散物体、13はCCDを示す。レ
ンズ中心からレンズ端に行くに従い、入力画像は暗くな
る。これはレンズの特性で、角度θで入射する像は、c
os4 θに比例して暗くなることが知られている(co
s4 則)。1ラインが2047画素含むので、中央の第
1024画素で最も明るく端の第0画素と第2047画
素で暗い。
る入力画像の不均一性を示す。図11において、11は
レンズ、12は完全拡散物体、13はCCDを示す。レ
ンズ中心からレンズ端に行くに従い、入力画像は暗くな
る。これはレンズの特性で、角度θで入射する像は、c
os4 θに比例して暗くなることが知られている(co
s4 則)。1ラインが2047画素含むので、中央の第
1024画素で最も明るく端の第0画素と第2047画
素で暗い。
【0017】シェーディング補正の補正方法はつぎの通
りである。まず、ホワイトレベルとブラックレベルを取
得する。撮像する物体の中で最も明るい物(たとえば、
白色板8)を撮像し、その値をホワイトレベルとする。
ランプ交換時にホワイトレベルを取得する。撮像する物
体の中で最も暗い物(光がない状態)を撮像し、その値
をブラックレベルとする。コンピュータ内で明るさを0
とおいてもよい。図12は、ランプ、、の3つの
電球のホワイトレベルとブラックレベルを示したもので
ある。ランプ2には明るさに固体差があるので、白色板
8を用いて取得したホワイトレベルにはばらつきがあ
る。ブラックレベルはコンピュータ内で0とおいたの
で、同じである。レンズ特性があるから、各ホワイトレ
ベルは第1024画素で出力値が大で端の第0画素と第
2047画素で出力値が低下している。ランプの固体差
およびレンズの特性による端と中央でのばらつきを無く
すためにつぎの補正(シェーディング補正)を行う。
りである。まず、ホワイトレベルとブラックレベルを取
得する。撮像する物体の中で最も明るい物(たとえば、
白色板8)を撮像し、その値をホワイトレベルとする。
ランプ交換時にホワイトレベルを取得する。撮像する物
体の中で最も暗い物(光がない状態)を撮像し、その値
をブラックレベルとする。コンピュータ内で明るさを0
とおいてもよい。図12は、ランプ、、の3つの
電球のホワイトレベルとブラックレベルを示したもので
ある。ランプ2には明るさに固体差があるので、白色板
8を用いて取得したホワイトレベルにはばらつきがあ
る。ブラックレベルはコンピュータ内で0とおいたの
で、同じである。レンズ特性があるから、各ホワイトレ
ベルは第1024画素で出力値が大で端の第0画素と第
2047画素で出力値が低下している。ランプの固体差
およびレンズの特性による端と中央でのばらつきを無く
すためにつぎの補正(シェーディング補正)を行う。
【0018】図13に示すように、求めたホワイトレベ
ルとブラックレベル間を0〜所定の値(たとえば25
5、以下255の場合で説明する)とするよう、各画素
(0〜2047)の補正データを求める。たとえば、第
0画素と第2047画素に対してホワイトレベルが20
0であれば200を255にする補正値は255/20
0であり、中央の第1024画素に対してホワイトレベ
ルが230であれば230を255にする補正値は25
5/230である。
ルとブラックレベル間を0〜所定の値(たとえば25
5、以下255の場合で説明する)とするよう、各画素
(0〜2047)の補正データを求める。たとえば、第
0画素と第2047画素に対してホワイトレベルが20
0であれば200を255にする補正値は255/20
0であり、中央の第1024画素に対してホワイトレベ
ルが230であれば230を255にする補正値は25
5/230である。
【0019】この補正値をもとに入力データ(実際の測
定データ)を補正(シェーディング補正)する。図14
に示すように、第0画素および第2047画素に対して
入力データ(実際の測定データ)が100であれば、こ
の100に上記の補正値255/200を掛けて127
に補正する。同様に第1024画素の入力値が130で
あれば、この130に上記の補正値255/230を掛
けて144に補正する(ホワイトレベルを全画素につい
て255にフラット化した場合に対応する、入力データ
の補正)。その結果、中央が上に凸であった入力データ
の曲線が、補正後において、低い部分の持ち上げ量が大
きく高い部分の持ち上げ量が小さいことによって、補正
後にはよりフラットに近くなる。これにより、レンズの
特性による入力データの明るさのムラがより均一にな
る。
定データ)を補正(シェーディング補正)する。図14
に示すように、第0画素および第2047画素に対して
入力データ(実際の測定データ)が100であれば、こ
の100に上記の補正値255/200を掛けて127
に補正する。同様に第1024画素の入力値が130で
あれば、この130に上記の補正値255/230を掛
けて144に補正する(ホワイトレベルを全画素につい
て255にフラット化した場合に対応する、入力データ
の補正)。その結果、中央が上に凸であった入力データ
の曲線が、補正後において、低い部分の持ち上げ量が大
きく高い部分の持ち上げ量が小さいことによって、補正
後にはよりフラットに近くなる。これにより、レンズの
特性による入力データの明るさのムラがより均一にな
る。
【0020】同様の原理で、図12のランプ、、
に明るさに固体差があっても、何れのランプ、、
のホワイトレベルも全画素について255と補正される
ので、ランプ、、の入力データについてシェーデ
ィング補正をすることにより、シェーディング補正後に
はランプ、、の固体差の影響が無くなるか(ホワ
イトレベル基準では固体差は無くなる)、または低減さ
れる(最も暗いランプの入力データの持ち上げ量が大
きく、最も明るいランプの持ち上げ量が小さい)。し
たがって、入力データに対してシェーディング補正をか
けることにより、レンズの特性およびランプの明るさの
固体差の両方が無くなるかまたは低減される。これによ
って、図5、図6、図7のL、a、b値が、それぞれ、
図8、図9、図10のL、a、b値のようになり、ラン
プ交換時のランプ固体差によるデータのばらつきが無く
なるかまたは低減され、データのばらつきが見られなく
なる。図8、図9、図10のグラフの縦軸の目盛りは図
5、図6、図7のグラフの縦軸の目盛りと同スケールで
ある。なお、図5〜図10のグラフにおいて、ところど
ころにデータのとびはねが見られる箇所は、塗装面のブ
ツや色とびなどにより塗装欠陥が測定範囲にあったボデ
ー、あるいは実際に色がズレたボデーを示している。
に明るさに固体差があっても、何れのランプ、、
のホワイトレベルも全画素について255と補正される
ので、ランプ、、の入力データについてシェーデ
ィング補正をすることにより、シェーディング補正後に
はランプ、、の固体差の影響が無くなるか(ホワ
イトレベル基準では固体差は無くなる)、または低減さ
れる(最も暗いランプの入力データの持ち上げ量が大
きく、最も明るいランプの持ち上げ量が小さい)。し
たがって、入力データに対してシェーディング補正をか
けることにより、レンズの特性およびランプの明るさの
固体差の両方が無くなるかまたは低減される。これによ
って、図5、図6、図7のL、a、b値が、それぞれ、
図8、図9、図10のL、a、b値のようになり、ラン
プ交換時のランプ固体差によるデータのばらつきが無く
なるかまたは低減され、データのばらつきが見られなく
なる。図8、図9、図10のグラフの縦軸の目盛りは図
5、図6、図7のグラフの縦軸の目盛りと同スケールで
ある。なお、図5〜図10のグラフにおいて、ところど
ころにデータのとびはねが見られる箇所は、塗装面のブ
ツや色とびなどにより塗装欠陥が測定範囲にあったボデ
ー、あるいは実際に色がズレたボデーを示している。
【0021】図16は、上記のシェーディング補正をフ
ローチャートで示したものである。図16において、ス
テップ201でランプ交換時(ランプを丁度交換したと
ころか)か否かを判定し、ランプ交換時ならステップ2
02に進み、ランプ交換時でないならステップ204に
進む。ステップ202で、たとえば白色校正板8を用い
てホワイトレベルを取得するとともに(ただし、白色校
正板8に変えて撮像範囲で最も明るいものを用いてもよ
い)、撮像範囲で最も暗いものからブラックレベルを取
得する(ただし、コンピュータで明るさを0とおいても
よい)。ついで、ステップ203で、ホワイトレベル、
ブラックレベル間を0〜所定の一定値(たとえば、25
5)とするように、各画素(0〜2047)について補
正データ(補正値)を求める。ついで、ステップ204
に進み、被検査色面の色測定を実行する。ついで、ステ
ップ205で、上記補正データを基に各画素について測
定入力データをシェーディング補正する。ステップ20
6で色測定終了か否かを判定し、色測定終了までステッ
プ204、205を繰り返す。ステップ206で色測定
・検査が終了したと判定されると、ステップ207に進
み、判定結果がOKであれば、ステップ208に進む。
NGであれば被検査物の再検査(人による)を行い、処
置方法が決まれば、ステップ208に進む。ステップ2
08では、ランプ寿命がきていないならステップ204
に戻り、ランプ寿命がきているならランプを交換してス
テップ202に戻る。
ローチャートで示したものである。図16において、ス
テップ201でランプ交換時(ランプを丁度交換したと
ころか)か否かを判定し、ランプ交換時ならステップ2
02に進み、ランプ交換時でないならステップ204に
進む。ステップ202で、たとえば白色校正板8を用い
てホワイトレベルを取得するとともに(ただし、白色校
正板8に変えて撮像範囲で最も明るいものを用いてもよ
い)、撮像範囲で最も暗いものからブラックレベルを取
得する(ただし、コンピュータで明るさを0とおいても
よい)。ついで、ステップ203で、ホワイトレベル、
ブラックレベル間を0〜所定の一定値(たとえば、25
5)とするように、各画素(0〜2047)について補
正データ(補正値)を求める。ついで、ステップ204
に進み、被検査色面の色測定を実行する。ついで、ステ
ップ205で、上記補正データを基に各画素について測
定入力データをシェーディング補正する。ステップ20
6で色測定終了か否かを判定し、色測定終了までステッ
プ204、205を繰り返す。ステップ206で色測定
・検査が終了したと判定されると、ステップ207に進
み、判定結果がOKであれば、ステップ208に進む。
NGであれば被検査物の再検査(人による)を行い、処
置方法が決まれば、ステップ208に進む。ステップ2
08では、ランプ寿命がきていないならステップ204
に戻り、ランプ寿命がきているならランプを交換してス
テップ202に戻る。
【0022】つぎに、作用を説明する。ランプの劣化補
正も、ランプの固体差補正も、色測定値の測定精度を向
上させる。これにより、色検査結果は当然良くなり、安
定化する。また、色測定値を基に塗装欠陥の有無を判定
すると、塗装欠陥の判定精度も同時に向上する。なお、
被検査物の色面は塗膜面であってもよいし、塗膜以外の
色面であってもよい。ランプの劣化補正も、ランプの固
体差補正も、特別な、ランプの光調節手段を用いて行わ
れるものではなく、コンピュータの演算で行われる補正
であるので、装置のコストアップ、装置の複雑化を伴う
ものではない。
正も、ランプの固体差補正も、色測定値の測定精度を向
上させる。これにより、色検査結果は当然良くなり、安
定化する。また、色測定値を基に塗装欠陥の有無を判定
すると、塗装欠陥の判定精度も同時に向上する。なお、
被検査物の色面は塗膜面であってもよいし、塗膜以外の
色面であってもよい。ランプの劣化補正も、ランプの固
体差補正も、特別な、ランプの光調節手段を用いて行わ
れるものではなく、コンピュータの演算で行われる補正
であるので、装置のコストアップ、装置の複雑化を伴う
ものではない。
【0023】つぎに、色むらの検査を自動的に行う色面
検査方法(請求項3の発明に対応)を、図17〜図25
を参照して、説明する。図17は色面1が自動車ボデー
の塗装面の場合を示している。ただし、被検査物は自動
車に限るものではなく、また、色面1も塗装面に限るも
のではなく、たとえば、フィルムやテープなどであって
もよい。説明では自動車ボデーの塗装面を例にとり、そ
の色面の色むらを検査する場合を例にとる。
検査方法(請求項3の発明に対応)を、図17〜図25
を参照して、説明する。図17は色面1が自動車ボデー
の塗装面の場合を示している。ただし、被検査物は自動
車に限るものではなく、また、色面1も塗装面に限るも
のではなく、たとえば、フィルムやテープなどであって
もよい。説明では自動車ボデーの塗装面を例にとり、そ
の色面の色むらを検査する場合を例にとる。
【0024】自動車ボデーは幅が大のため、ボデーを幅
方向に3領域に等分して、各領域にそれぞれ3CCDラ
インセンサー3を設置し、したがってラインセンサーを
3台設置し、各ラインセンサーが各領域を色測定するよ
うにする。図示例では、3台のランインセンサーのうち
の1台のみを示している。そして、自動車ボデーと3C
CDラインセンサー3を、相対的にボデー前後方向に移
動させて、ボデー全面の色測定を行う。白色校正板8、
ランプ2は、3CCDラインセンサーの1台につき、そ
れぞれ、1つづつ設けられる。白色校正板8、ランプ
2、3CCDラインセンサー3は、ボデーに対して相対
的に移動される場合は、一体的に移動される。
方向に3領域に等分して、各領域にそれぞれ3CCDラ
インセンサー3を設置し、したがってラインセンサーを
3台設置し、各ラインセンサーが各領域を色測定するよ
うにする。図示例では、3台のランインセンサーのうち
の1台のみを示している。そして、自動車ボデーと3C
CDラインセンサー3を、相対的にボデー前後方向に移
動させて、ボデー全面の色測定を行う。白色校正板8、
ランプ2は、3CCDラインセンサーの1台につき、そ
れぞれ、1つづつ設けられる。白色校正板8、ランプ
2、3CCDラインセンサー3は、ボデーに対して相対
的に移動される場合は、一体的に移動される。
【0025】色むらの検出は、つぎのようにして行う。
まず、3CCDラインセンサー3、ランプ2、白色板8
と、自動車ボデーを相対的に移動ささせ、自動車ボデー
全面(自動車ボデーの任意の部位でも可)の色データを
取得する。測定データは各画素についての、R、G、B
値であるが、これをランプの経時劣化分補正する。補正
したR、G、B値をLab値やその他の色空間データに
変換する。ランプの経時劣化分補正する理由は、色むら
の検出は、塗装ブツや色とびに比べて、色の変化量が微
量であるため、ランプ2の経時劣化などの外乱を受けや
すいが、その外乱を受け難くするためである。
まず、3CCDラインセンサー3、ランプ2、白色板8
と、自動車ボデーを相対的に移動ささせ、自動車ボデー
全面(自動車ボデーの任意の部位でも可)の色データを
取得する。測定データは各画素についての、R、G、B
値であるが、これをランプの経時劣化分補正する。補正
したR、G、B値をLab値やその他の色空間データに
変換する。ランプの経時劣化分補正する理由は、色むら
の検出は、塗装ブツや色とびに比べて、色の変化量が微
量であるため、ランプ2の経時劣化などの外乱を受けや
すいが、その外乱を受け難くするためである。
【0026】ついで、図18に示すように、色データを
取得した範囲を複数の領域に分割する。この分割は、大
きさ、形を任意に設定することができる。図18は、各
ラインセンサー3の色データ取得範囲を、ボデー幅方向
にA、B、C・・・、ボデー前後方向に1、2、3、4
・・・・、と複数の領域に分割した場合を示す(他のセ
ンサーの測定範囲もこれに準じる)。この場合、ライン
センサー3の測定ラインはボデー幅方向に延び、領域
A、B、C・・・の全体で2048画素となる。ライン
センサー3はボデー前後方向にボデーと相対移動して、
つぎのラインを測定していくことを繰り返すので、領域
1、2、3、・・・の各領域において、たとえば2の領
域においても、ボデー長手方向に複数の画素が存在す
る。
取得した範囲を複数の領域に分割する。この分割は、大
きさ、形を任意に設定することができる。図18は、各
ラインセンサー3の色データ取得範囲を、ボデー幅方向
にA、B、C・・・、ボデー前後方向に1、2、3、4
・・・・、と複数の領域に分割した場合を示す(他のセ
ンサーの測定範囲もこれに準じる)。この場合、ライン
センサー3の測定ラインはボデー幅方向に延び、領域
A、B、C・・・の全体で2048画素となる。ライン
センサー3はボデー前後方向にボデーと相対移動して、
つぎのラインを測定していくことを繰り返すので、領域
1、2、3、・・・の各領域において、たとえば2の領
域においても、ボデー長手方向に複数の画素が存在す
る。
【0027】そして、分割された各領域毎の色のデータ
(補正したR、G、B値、他の色空間データ、たとえば
L、a、b値)とその平均値(その領域に含まれる全画
素について平均した色データR、G、B、L、a、bの
平均値Rm 、Gm 、Bm 、L m 、am 、bm )をコンピ
ュータ内で演算にて求める。
(補正したR、G、B値、他の色空間データ、たとえば
L、a、b値)とその平均値(その領域に含まれる全画
素について平均した色データR、G、B、L、a、bの
平均値Rm 、Gm 、Bm 、L m 、am 、bm )をコンピ
ュータ内で演算にて求める。
【0028】図19は、各領域のL値(明るさを示す指
標)の平均値Lm の一例を示す。図19の例では、上限
のしきい値をA2の領域がオーバーしており、下限のし
きい値をA7、B6、B7の領域がオーバーしている。
この結果が、図20に示すように、コンピュータ7のC
RTに示される。以上は、Lm について説明したが、a
m 、bm およびその他の色空間データについても同様で
あり、作業者が一目でどの領域がNG(不良)であるか
がわかるようにしてある。
標)の平均値Lm の一例を示す。図19の例では、上限
のしきい値をA2の領域がオーバーしており、下限のし
きい値をA7、B6、B7の領域がオーバーしている。
この結果が、図20に示すように、コンピュータ7のC
RTに示される。以上は、Lm について説明したが、a
m 、bm およびその他の色空間データについても同様で
あり、作業者が一目でどの領域がNG(不良)であるか
がわかるようにしてある。
【0029】また、図19のA2、A3間のLm 値の変
化量が大きいが、このように隣接するデータを比較し
て、その変化量(差)が予め設定された数値より大きい
場合はNGとし、CRTに表示するようにしてある。上
記方法を用いることにより、ボデーの色データ取得時
に、リアルタイムで図20のように結果を出力できる。
化量が大きいが、このように隣接するデータを比較し
て、その変化量(差)が予め設定された数値より大きい
場合はNGとし、CRTに表示するようにしてある。上
記方法を用いることにより、ボデーの色データ取得時
に、リアルタイムで図20のように結果を出力できる。
【0030】図21〜図24は、色むら検査のもう一つ
の例を示している。3CCDラインセンサー3により撮
像された画像を図21のように、連続した番号1〜24
を付した領域に分割する。3CCDラインセンサー3か
らの入力値のR、G、B値をランプ経時劣化分補正した
補正R、G、B値を、Lab値、HSI値および/また
はその他の色空間データに変換し、これらの補正R、
G、B値およびLab値、HSI値および/またはその
他の色空間データ(以下ではLab値の場合を例にと
る)の、各領域での、該領域に含まれる全画素について
の平均値Rm 、Gm 、Bm 、Lm 、am、bm 、最大
値、最小値を求める。
の例を示している。3CCDラインセンサー3により撮
像された画像を図21のように、連続した番号1〜24
を付した領域に分割する。3CCDラインセンサー3か
らの入力値のR、G、B値をランプ経時劣化分補正した
補正R、G、B値を、Lab値、HSI値および/また
はその他の色空間データに変換し、これらの補正R、
G、B値およびLab値、HSI値および/またはその
他の色空間データ(以下ではLab値の場合を例にと
る)の、各領域での、該領域に含まれる全画素について
の平均値Rm 、Gm 、Bm 、Lm 、am、bm 、最大
値、最小値を求める。
【0031】各領域のLm 、am 、bm 値と、それらに
対する上限値、下限値を示すと、図22〜図24に示す
ようになる。図22は、Lm 値とその上限値、下限値を
示し、領域番号6、7、15が上限値、下限値をオーバ
ーしており、それがCRTやプリンターに図22の右欄
に示したように表示される。そして、領域番号6、7、
15が色むら上、NGとなる。図23は、am 値とその
上限値、下限値を示し、全領域について上限値と下限値
の間にあり、それがCRTやプリンターに図23の右欄
に示したように表示される。この場合は、色むら上、と
くに問題はない。図24は、bm 値とその上限値、下限
値を示し、領域番号6、14が上限値、下限値をオーバ
ーしており、それがCRTやプリンターに図24の右欄
に示したように表示される。また、隣接する領域である
領域番号12、13間のbm 値の変動(差)が大きく、
このような場合も、図24の右欄に示したように表示さ
れる。そして、領域番号6、12、13、14が、色む
ら上、NGとなる。検討する変動量は、上記の例のよう
に、Lm 、am 、bm の各値の変動量であってもよい
し、または、色空間における2点間の距離、すなわち、
Lab空間などの色空間の場合は、隣接領域のサッフィ
ックスを(R )とおくと、{(Lm −LmR)2 +(am
−amR)2 +(bm −bmR)2 }1/2 )であってもよ
い。
対する上限値、下限値を示すと、図22〜図24に示す
ようになる。図22は、Lm 値とその上限値、下限値を
示し、領域番号6、7、15が上限値、下限値をオーバ
ーしており、それがCRTやプリンターに図22の右欄
に示したように表示される。そして、領域番号6、7、
15が色むら上、NGとなる。図23は、am 値とその
上限値、下限値を示し、全領域について上限値と下限値
の間にあり、それがCRTやプリンターに図23の右欄
に示したように表示される。この場合は、色むら上、と
くに問題はない。図24は、bm 値とその上限値、下限
値を示し、領域番号6、14が上限値、下限値をオーバ
ーしており、それがCRTやプリンターに図24の右欄
に示したように表示される。また、隣接する領域である
領域番号12、13間のbm 値の変動(差)が大きく、
このような場合も、図24の右欄に示したように表示さ
れる。そして、領域番号6、12、13、14が、色む
ら上、NGとなる。検討する変動量は、上記の例のよう
に、Lm 、am 、bm の各値の変動量であってもよい
し、または、色空間における2点間の距離、すなわち、
Lab空間などの色空間の場合は、隣接領域のサッフィ
ックスを(R )とおくと、{(Lm −LmR)2 +(am
−amR)2 +(bm −bmR)2 }1/2 )であってもよ
い。
【0032】図25は、上記の色むら検査の色面検査方
法をフローチャートで示したものである。該色面検査方
法では、ステップ101〜107は前述のランプ劣化分
補正に準じる。すなわち、図25の色面検査方法では、
ステップ101でランプ交換初期のRGBデータを取込
み、ステップ102で、色測定毎に白色板8のRGB値
を測定し、ステップ103でランプ経時劣化幅を求め、
ステップ104でランプ劣化分の補正値を決定し、ステ
ップ105で実際の色面のRGB値を測定し、ステップ
106で測定RGB値にランプ劣化分の補正値をかけて
ランプ劣化がなかったら得られるであろう補正RGB値
を演算する。また、ステップ106で、補正RGB値
を、Lab値などの空間データに変換する。ついで、ス
テップ107で検査必要面の全面について検査が行われ
たか否かを判定し、否ならラインセンサーとボデーとを
相対移動させてつぎのラインまたは領域の測定への移り
ステップ102に戻って上記を繰り返す。ステップ10
7で検査必要面の全面について検査が終了したと判定さ
れたらエンドとなる。
法をフローチャートで示したものである。該色面検査方
法では、ステップ101〜107は前述のランプ劣化分
補正に準じる。すなわち、図25の色面検査方法では、
ステップ101でランプ交換初期のRGBデータを取込
み、ステップ102で、色測定毎に白色板8のRGB値
を測定し、ステップ103でランプ経時劣化幅を求め、
ステップ104でランプ劣化分の補正値を決定し、ステ
ップ105で実際の色面のRGB値を測定し、ステップ
106で測定RGB値にランプ劣化分の補正値をかけて
ランプ劣化がなかったら得られるであろう補正RGB値
を演算する。また、ステップ106で、補正RGB値
を、Lab値などの空間データに変換する。ついで、ス
テップ107で検査必要面の全面について検査が行われ
たか否かを判定し、否ならラインセンサーとボデーとを
相対移動させてつぎのラインまたは領域の測定への移り
ステップ102に戻って上記を繰り返す。ステップ10
7で検査必要面の全面について検査が終了したと判定さ
れたらエンドとなる。
【0033】色むら検査では、ステップ106とステッ
プ107の間にステップ201〜205を挿入して、ス
テップ201〜205を実行させる。ステップ202で
は、分割した各領域で、各RGB値および/または各色
空間データLab値の、該領域に含まれる全画素につい
ての平均値Rm 、Gm 、Bm、Lm 、am 、bm を演算
する。ついで、ステップ203で各平均値Rm 、Gm、
Bm 、Lm 、am 、bm が予め設定されているそれぞれ
の上限値と下限値との間にあるか否かを判定し、否なら
ステップ203に進んで色むら有りと表示する。ついで
ステップ204に進み、該領域の平均値Rm 、Gm 、B
m 、Lm 、am、bm と隣接領域の対応平均値RmR、G
mR、BmR、LmR、amR、bmRとの差が所定値以下か否か
を判定し、否の場合は色むら有りと表示する。この差に
は、3次元空間内での距離である場合を含む。色空間で
の距離は{(Lm −LmR)2 +(am −amR)2 +(b
m −bmR)2 }1/2 である。色むら無しの場合は、ステ
ップ107に戻る。これによって、各領域で色が所定範
囲にない場合および/または隣接領域との色差が大きす
ぎる場合が抽出され、色むらを自動判定できる。
プ107の間にステップ201〜205を挿入して、ス
テップ201〜205を実行させる。ステップ202で
は、分割した各領域で、各RGB値および/または各色
空間データLab値の、該領域に含まれる全画素につい
ての平均値Rm 、Gm 、Bm、Lm 、am 、bm を演算
する。ついで、ステップ203で各平均値Rm 、Gm、
Bm 、Lm 、am 、bm が予め設定されているそれぞれ
の上限値と下限値との間にあるか否かを判定し、否なら
ステップ203に進んで色むら有りと表示する。ついで
ステップ204に進み、該領域の平均値Rm 、Gm 、B
m 、Lm 、am、bm と隣接領域の対応平均値RmR、G
mR、BmR、LmR、amR、bmRとの差が所定値以下か否か
を判定し、否の場合は色むら有りと表示する。この差に
は、3次元空間内での距離である場合を含む。色空間で
の距離は{(Lm −LmR)2 +(am −amR)2 +(b
m −bmR)2 }1/2 である。色むら無しの場合は、ステ
ップ107に戻る。これによって、各領域で色が所定範
囲にない場合および/または隣接領域との色差が大きす
ぎる場合が抽出され、色むらを自動判定できる。
【0034】色むら自体は塗装ブツや色とびなどの欠陥
に比べて非常に小さな色の変化量であるため、ランプ劣
化分の補正により測定精度が向上して始めて可能となっ
た検査方法である。これによって、従来人の作業でしか
判別できなかった色むら検査が自動化できる。また、こ
の色むら検査は、塗装面(アルミ片の並びの変化や塗膜
の膜厚の変化により色むらが生じる)のみならず、フィ
ルムやテープの色むらにも適用でき、フィルムやテープ
の場合は自動車ボデーに貼付ける前に平面の状態でも検
査できるので、作業を容易化できる。また、測定と同時
に検査が進行するので、リアルタイムの色むら検出がで
き、対応も迅速化できる。
に比べて非常に小さな色の変化量であるため、ランプ劣
化分の補正により測定精度が向上して始めて可能となっ
た検査方法である。これによって、従来人の作業でしか
判別できなかった色むら検査が自動化できる。また、こ
の色むら検査は、塗装面(アルミ片の並びの変化や塗膜
の膜厚の変化により色むらが生じる)のみならず、フィ
ルムやテープの色むらにも適用でき、フィルムやテープ
の場合は自動車ボデーに貼付ける前に平面の状態でも検
査できるので、作業を容易化できる。また、測定と同時
に検査が進行するので、リアルタイムの色むら検出がで
き、対応も迅速化できる。
【0035】
【発明の効果】請求項1の色面検査方法によれば、色測
定毎に白色校正板を用いて測定を行い、白色校正板のデ
ータをもとにランプの劣化による経時的なエネルギーの
減衰量を演算し、その減衰量を基に決定した補正値で被
検査色面の色測定値を補正するので、ランプが劣化して
も、劣化の無い状態での、安定した色測定値を得ること
ができる。従来と異なり明るさ調節手段等を設けること
なく、コンピュータ内での演算のみで補正することがで
きる。請求項2の色面検査方法によれば、ランプ交換毎
に、ホワイトレベル、ブラックレベルを取得しホワイト
レベル、ブラックレベル間を0〜所定の一定値とするよ
うに各画素について補正データを求め、被検査色面の色
測定毎に、補正データを基に各画素について測定入力デ
ータをシェーディング補正するので、ランプ固体差によ
る色測定値の変動を無くすかまたは低減できる。これも
コンピュータ内での演算のみで補正することができる。
請求項3の色面検査方法によれば、被検査色面の各画素
の色測定値(R、G、B値)をランプの劣化による経時
的なエネルギーの減衰量を基に決定した補正値で補正す
ると共に補正した色測定値を色空間データに変換し、被
検査面を被検査色面を複数の領域に区画した場合の各領
域について、補正色測定値(R、G、B値)および/ま
たはその色空間データ(たとえば、L、a、b値)の平
均値(R m 、Gm 、Bm 値、および/または、色空間を
たとえばLab空間とすると、L m 、am 、bm )を演
算し、該平均値が予め設定した範囲内にあるか否かおよ
び/または該平均値と隣接領域の対応平均値との差が所
定値以下か否かを判定し、否の場合は色むら有りと判定
し、表示するので、自動で色むらの有無を検査できる。
定毎に白色校正板を用いて測定を行い、白色校正板のデ
ータをもとにランプの劣化による経時的なエネルギーの
減衰量を演算し、その減衰量を基に決定した補正値で被
検査色面の色測定値を補正するので、ランプが劣化して
も、劣化の無い状態での、安定した色測定値を得ること
ができる。従来と異なり明るさ調節手段等を設けること
なく、コンピュータ内での演算のみで補正することがで
きる。請求項2の色面検査方法によれば、ランプ交換毎
に、ホワイトレベル、ブラックレベルを取得しホワイト
レベル、ブラックレベル間を0〜所定の一定値とするよ
うに各画素について補正データを求め、被検査色面の色
測定毎に、補正データを基に各画素について測定入力デ
ータをシェーディング補正するので、ランプ固体差によ
る色測定値の変動を無くすかまたは低減できる。これも
コンピュータ内での演算のみで補正することができる。
請求項3の色面検査方法によれば、被検査色面の各画素
の色測定値(R、G、B値)をランプの劣化による経時
的なエネルギーの減衰量を基に決定した補正値で補正す
ると共に補正した色測定値を色空間データに変換し、被
検査面を被検査色面を複数の領域に区画した場合の各領
域について、補正色測定値(R、G、B値)および/ま
たはその色空間データ(たとえば、L、a、b値)の平
均値(R m 、Gm 、Bm 値、および/または、色空間を
たとえばLab空間とすると、L m 、am 、bm )を演
算し、該平均値が予め設定した範囲内にあるか否かおよ
び/または該平均値と隣接領域の対応平均値との差が所
定値以下か否かを判定し、否の場合は色むら有りと判定
し、表示するので、自動で色むらの有無を検査できる。
【図1】本発明実施例の色面検査方法を実施する装置の
系統図である。
系統図である。
【図2】ランプの劣化を示す、白色校正板によるRGB
値対ボデー測定台数のグラフである。
値対ボデー測定台数のグラフである。
【図3】ランプの劣化補正のフローチャートである。
【図4】ランプの固体差を示す、白色校正板によるRG
B値対ランプ(電球)番号のグラフである。
B値対ランプ(電球)番号のグラフである。
【図5】白色校正およびシェーディング補正をしていな
い場合の、L値対ボデー測定台数のグラフである。
い場合の、L値対ボデー測定台数のグラフである。
【図6】白色校正およびシェーディング補正をしていな
い場合の、a値対ボデー測定台数のグラフである。
い場合の、a値対ボデー測定台数のグラフである。
【図7】白色校正およびシェーディング補正をしていな
い場合の、b値対ボデー測定台数のグラフである。
い場合の、b値対ボデー測定台数のグラフである。
【図8】白色校正およびシェーディング補正をした場合
の、L値対ボデー測定台数のグラフである。
の、L値対ボデー測定台数のグラフである。
【図9】白色校正およびシェーディング補正をした場合
の、a値対ボデー測定台数のグラフである。
の、a値対ボデー測定台数のグラフである。
【図10】白色校正およびシェーディング補正をした場
合の、b値対ボデー測定台数のグラフである。
合の、b値対ボデー測定台数のグラフである。
【図11】レンズ特性により入力画像に明るさに変化が
生じる理由を示す測定装置図とそれに対応する明るさ分
布図である。
生じる理由を示す測定装置図とそれに対応する明るさ分
布図である。
【図12】全画素位置に対するランプ、、のホワ
イトレベル、ブラックレベルの出力値分布図である。
イトレベル、ブラックレベルの出力値分布図である。
【図13】全画素位置に対するホワイトレベル出力値の
分布図と、それに対するホワイトレベルを所定値(たと
えば、255)にする補正方法を示す補正図である。
分布図と、それに対するホワイトレベルを所定値(たと
えば、255)にする補正方法を示す補正図である。
【図14】全画素位置に対するホワイトレベルと入力デ
ータの出力値の分布図と、それに対するホワイトレベル
を所定値(たとえば、255)にする補正条件で入力デ
ータを補正する方法を示す補正図である。
ータの出力値の分布図と、それに対するホワイトレベル
を所定値(たとえば、255)にする補正条件で入力デ
ータを補正する方法を示す補正図である。
【図15】全画素位置に対するホワイトレベルと入力デ
ータの出力値の分布図と、シェーディング補正後のホワ
イトレベルの補正値(全画素について255一定)と入
力データの補正値の出力値の分布図である。
ータの出力値の分布図と、シェーディング補正後のホワ
イトレベルの補正値(全画素について255一定)と入
力データの補正値の出力値の分布図である。
【図16】シェーディング補正のフローチャートであ
る。
る。
【図17】本発明実施例の色むら検査の色面検査方法を
実施している時の検査装置、ボデーの斜視図である。
実施している時の検査装置、ボデーの斜視図である。
【図18】図17の色面の分割の一例を示すボデーの一
部の平面図である。
部の平面図である。
【図19】分割された各領域のL値の平均値のグラフで
ある。
ある。
【図20】図18の分割色面において明るさの色むらが
生じた領域を示す平面図である。
生じた領域を示す平面図である。
【図21】色面の分割の他例を示す平面図である。
【図22】分割領域に対するL値平均値の分布図とCR
T出力図である。
T出力図である。
【図23】分割領域に対するa値平均値の分布図とCR
T出力図である。
T出力図である。
【図24】分割領域に対するb値平均値の分布図とCR
T出力図である。
T出力図である。
【図25】色むら検査のフローチャートである。
1 色面 2 ランプ 3 ラインセンサー(3CCDラインセンサー) 4 CCD 5 A/D変換器 6 データメモリー 7 コンピュータ(たとえば、パソコン) 8 白色校正板
フロントページの続き (72)発明者 八木 敏 愛知県名古屋市中区大須三丁目31番28号 シージーエイ株式会社内 Fターム(参考) 2G020 AA08 CB24 CC63 CD24 CD34 CD37 CD38 DA02 DA03 DA04 DA34 DA45 2G051 AA89 AB12 BA08 CA03 CB01 CD01 EA24 EB01 EC03
Claims (3)
- 【請求項1】 被検査色面に光源であるランプから光を
投光し3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定
を行う色面検査方法であって、白色校正板を3CCDラ
インセンサーの視野内で測定の邪魔にならない位置でか
つピントが合う位置に配置しておき、色測定毎に前記白
色校正板を用いて測定を行い、白色校正板のデータをも
とにランプの劣化による経時的なエネルギーの減衰量を
演算し、その減衰量を基に決定した補正値で被検査色面
の色測定値を補正する色面検査方法。 - 【請求項2】 被検査色面に光源であるランプから光を
投光し3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定
を行う色面検査方法であって、ランプ交換毎に、ホワイ
トレベル、ブラックレベルを取得しホワイトレベル、ブ
ラックレベル間を0〜所定の一定値とするように各画素
について補正データを求め、被検査色面の色測定毎に、
前記補正データを基に各画素について測定入力データを
シェーディング補正する色面検査方法。 - 【請求項3】 被検査色面に光源であるランプから光を
投光し3CCDラインセンサーにて被検査色面の色測定
を行う色面検査方法であって、色測定毎に白色校正板を
用いて測定を行い、白色校正板のデータをもとにランプ
の劣化による経時的なエネルギーの減衰量を演算し、そ
の減衰量を基に決定した補正値で被検査色面の色測定値
を補正すると共に補正色測定値を色空間データに変換
し、被検査色面を複数の領域に区画した場合の各領域に
ついて、該領域の全画素の補正色測定値および/または
色空間データの平均値を演算し、該平均値が予め設定し
た範囲内にあるか否かおよび/または隣接領域の対応平
均値との差が予め設定した値以下か否かを判定し否の場
合は色むら有りと判定する色面検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30617099A JP2001099708A (ja) | 1999-07-27 | 1999-10-28 | 色面検査方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21204599 | 1999-07-27 | ||
JP11-212045 | 1999-07-27 | ||
JP30617099A JP2001099708A (ja) | 1999-07-27 | 1999-10-28 | 色面検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001099708A true JP2001099708A (ja) | 2001-04-13 |
Family
ID=26518973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30617099A Pending JP2001099708A (ja) | 1999-07-27 | 1999-10-28 | 色面検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001099708A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310934A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置 |
JP2007263671A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Tateyama Machine Kk | コーティング検査装置 |
JP2008145316A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Hamamatsu Metrix Kk | 色むら検査装置 |
JP2013532290A (ja) * | 2010-07-09 | 2013-08-15 | テクノロジアン テュトキムスケスクス ヴェーテーテー | 表面の色及び他の特性を測定する方法及び装置 |
CN112197701A (zh) * | 2020-09-30 | 2021-01-08 | 山东省科学院激光研究所 | 应用于大幅面工件的三维数据提取方法 |
-
1999
- 1999-10-28 JP JP30617099A patent/JP2001099708A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002310934A (ja) * | 2001-04-18 | 2002-10-23 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置 |
JP4669151B2 (ja) * | 2001-04-18 | 2011-04-13 | 株式会社サキコーポレーション | 外観検査装置 |
JP2007263671A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Tateyama Machine Kk | コーティング検査装置 |
JP2008145316A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Hamamatsu Metrix Kk | 色むら検査装置 |
JP2013532290A (ja) * | 2010-07-09 | 2013-08-15 | テクノロジアン テュトキムスケスクス ヴェーテーテー | 表面の色及び他の特性を測定する方法及び装置 |
CN112197701A (zh) * | 2020-09-30 | 2021-01-08 | 山东省科学院激光研究所 | 应用于大幅面工件的三维数据提取方法 |
CN112197701B (zh) * | 2020-09-30 | 2022-08-26 | 山东省科学院激光研究所 | 应用于大幅面工件的三维数据提取方法 |
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