JPS6316247A - 無接触反射率測定装置 - Google Patents

無接触反射率測定装置

Info

Publication number
JPS6316247A
JPS6316247A JP61171958A JP17195886A JPS6316247A JP S6316247 A JPS6316247 A JP S6316247A JP 61171958 A JP61171958 A JP 61171958A JP 17195886 A JP17195886 A JP 17195886A JP S6316247 A JPS6316247 A JP S6316247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
measurement
diffuse reflectance
light source
illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61171958A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2518822B2 (ja
Inventor
ヘルマン・ゲルリンガー
ゲルハルト・ホーベルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Publication of JPS6316247A publication Critical patent/JPS6316247A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2518822B2 publication Critical patent/JP2518822B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、例えば走行するコンベアベルトにおいて、試
料表面の照明面を照明する位置固定光源と、試料表面の
測定面から拡散反射される光線を検出する測定装置とを
有し、その際上記照明面が測定面よりも大きい形式の無
接触測定用の拡散反射率測定装置に関する。
従来の技術 この種の装置は、ドイツ連邦共和国特許第162248
4号明細書から公知である。この場合には、走行するコ
ンベアベルトベルトの小さな範囲がパルス光源によって
照明され、その際光源によって照明された絞りがコンベ
ア上に結像される。この照明面(上記特許明細書には、
視野制限像と記載されている)から、中央帯域が受光器
上に結像される、従ってその拡散反射された光線が測定
装置によって検出される測定面は照明mlよりも小さく
なる。この公知の装置は、測定結果が測定装置からのベ
ルトの距離に左右されるという欠点を有する。しかしな
がら、この距離は、走行するベルトの拡散反射能または
色を測定しようとする多くの機械においては、一定でな
い、それというのも、測定装置を組み込むことのできる
位置で、走行するベルトは振動するからである。
発明が解決しようとする問題点 本発明の課題は、測定結果が一定の範囲内では測定装置
から試料までの距離に実質的に影響されない拡散反射率
測定装置を提供することであった。
問題点を解決するための手段 旧記課題は、冒頭に記載した形式の拡散及射出測定装置
において、測定面m内の試料表面10bの照明強度か一
定の範囲Δd内では照明及び測定装置18から試料表面
tabまで距離とは実質的に無関係であることにより解
決される本発明の有利なl実施態様によれば、光源が集
光レンズの焦点に配置されており、かつ試料表面が照明
及υ測定装置からの最大可能距離にある場合には、測定
面が照明面のコアiil囲よりも小さい。
点状光源(及び無収差集光レンズ)の場合には、照準光
束はあらゆる距離において同じ照明強度を生ぜしめる。
光源の大きさが有限であることにより、距離に依存する
周辺減光を惹起する拡散が生じる。しかしながら、一定
のコア範囲内では、照明強度は距離には無関係に維持さ
れる。従って、距離に依存しない測定のための前提条件
は、測定装置が上記コア範囲内からの拡散反射光線のみ
を検出すること、即ち測定面積がコアW1囲よりも小さ
いことである。ドイツ連邦共和国特許第1622484
号明細書においても満足されているもう1つの前提条件
は、測定装置の開口度が一定であること、即ち受光器ま
たはポリ定装置によって検出される立体角が一定である
ことである。
本発明の別の有利な実施態様は、特許請求の範囲第3項
以下及び以下の図面の説明から明らかである。
発明の効果 本発明の特別の利点は、距離に無関係な測定により測定
結果を記録のためだけでなく、例えば紙製造の際に配合
をまたは繊維の染色の際にロール圧を変化さけろことに
より、直接的にプロセス制御のために使用することがで
きることにある。
実施例 次に5図示の実施例につき本発明の詳細な説明する。
第1図には、IOで例えば製紙機械または印刷機械の走
行ベルトが示されており、該ベルトは矢印10aの方向
に運動せしめられる。その際表面tabは範囲Δd内で
は数mmだけ上下運動する、即ちベルトは拡散反射率能
または色値を測定するために測定装置または装置ヘッド
18のための場所が設けられた位置で振動する。
この振動、即ち測定ヘッド18と被測定物体の表面Jo
bとの間のΔdだけ変動する距離は、公知の測定装置に
おいては、ヒトの目が差として認識することのできる値
の数分の1まで影響する。
本発明によれば、ベルト表面10bの、測定のために利
用される範囲の照明は、集光レンズ12の焦点に配置さ
れた光源11で行われる。
光源11が点状である場合には、集光レンズI2の後方
でも、集光レンズの結像収差を無視したとすれば、境界
線12aを有する正確な平行光束が形成される。それに
より照明される試料表面10bの部分を照明面すと称す
る。しかしながら、光源の膨張により、12aで示した
線の間に距離に依存する周辺減光を惹起する拡散が生じ
る。しかし、コア範囲に内では、理想的条件が満足され
る、従ってこの範囲内では試料表面の照明強度は測定ヘ
ッド18から試料(面tabまでの距離dには依存せず
、但し照明装置の光軸と試料表面との間の角度αにだけ
依存する。しかしながら、後者は距離dが変化しても実
質的に一定である。
試料表面10bから拡散反射された光は一部分、レンズ
13、光導波体14及びダイオード列スペクトロメータ
15から構成される装置置によって検出される。拡散反
射された光線を検出するための光学的関係は、第2図と
関連して説明する。ダイオード列スペクトロメータI5
は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開第32158
79号明細書から公知であり、該ダイオード列スペクト
ロメータはホログラフィー四面洛子+5a長びダイオー
ド列15bから成る。この場合には、光導波体l4の端
部14bによって入射スリット+5cが照明されろ。光
導波体が多数の光導波体ファイバから成っていろ場合に
は、これらのファイバは相互にスリットの前に配置され
ろ。しかしながら、図面には縮尺に従って示ざれていな
い光導波体は、1本の単一ファイバから成っていてもよ
い。
特に光源11のためにパルス光源を使用する場合には、
それぞれのパルスのスペクトルを対照として受光するこ
とか必要である。このために光導波体16が役立ち、該
光導波体の受光面16aは例えば光源の近くで直接光線
にさらされる。
光導波体l6は、第2のダイオード列スペクトロメータ
17に導かれている。スペクトロメータによって受光さ
れたスペクトルの評価及び拡散反射率または色値の計算
は公知形式で行われる。
第2図には、照明装置及び測定装置の光学的構造の1実
施例が示されている。光κiはこの場合ら11で示され
ている。集光レンズ22として、特に小さな色収差を達
成するために、接合対物レンズを使用することらできる
。ベルト表面はSobで示されておりかつその上で照明
される照明面はbで示ざれている。エネルギーの理由か
ら、ノヨートアーク放電ランプ、例えばFirma O
sramのXBO75を光源として使用するのが宵にす
である。高速運動するベルトの場合には、閃光ランプ、
例えばFa、 HeimannのBGS29027が特
に好適である、それというのも該ランプは短い測定時間
を可能にするからである。このような放電ランプはたい
ていはアーク位置の不規則な変化を示す、それにより照
明光束も変化せしめられる。この効果は、アークを自体
内に結像する凹面鏡11aによって回避される。アーク
が外部にずれると、その鏡像は反対方向に移動する、従
って全体的に対称が近似値的に保持される。
集光レンズ22と、試料表面tabとの間に、測定ヘッ
ド18を閉鎖する窓28が設けられている。この窓で、
照明光束の一部分が強制的に反射される。この反射され
た成分は、比較スペクトルのために利用され、この場合
光導波体16の出発点16aは、該成分がコア範rMk
の中心部から成る区分に当たるように構成されている。
このような配置は、できるだけ高い測定精変が必要であ
る場合に特に有1=1である。
特に色収差のできるだけ良好な補正を達成するためには
、測定装置において2成分対物レンズを使用することも
できる。対物レンズ23はベルト表面10bを光導波体
14の出発面l11aに鮮鋭に結像する必要はなく、そ
の本来の課 ′題は、入力面14aと一緒に試料表面上
の測定面mの大きさを制限することにある。この制限は
ベルト表面からの対物レンズ23の距離を変化させるこ
とにより変更することができる。しかし、測定面は常に
照明面すの、kで示されるコア範囲すの範囲内にある。
入力面14aはもちろん別の制限面と交換することがで
き、その際には専ら、開口度が一定であること、即ち測
定装置によって検出された空間角が一定であり、ひいて
はベルト表面10bと照明及び測定装置18との間の距
離dに依存しないことである図示の実施例では、拡散反
射及び色測定技術におい゛ニ一般的である4010−ジ
オメトリ−が実現されている。もちろん別のジオメトリ
−も可能である。第2図にほぼl 、5 :1の縮尺率
で拡大された図面においては、照明面すは図面に対して
垂直方向に約20ml11、図面内で約30mmの寸法
を有する。測定面は3〜105mの直径に調整すること
ができる。±4.5++vまでのベルト面の距離変化Δ
dの場合には、白色の表面に対する色許容差は、 ΔE ab*≦0.3−(D I N  6174に基
づく)の範囲内にある。
種々の角度のために、1つの照明装置と多数の測定装置
とを組み合わせ、それぞれの測定装置を1つのスペクト
ロメータと接続することも可能である。この構成は特に
光沢固有特性を宵する試料のために有利である。
特に、照明及び測定装置18aの総ての部材を1つのケ
ーシング15c内にまとめ、該ケーシングを光導波体1
4及び16を介してスペクトロメータ15及び17と接
続するのが有利である。この際には、スペクトロメータ
は第2のケーシング15c内に光源11のための給電装
置と一緒に組み込み、両ケーシングを測定位置から若干
の間隔をおいて設置することができる。更に、外部に旋
回した状態で校正のために有色または白色標準を平均的
距離dで窓28の前に移動させることができるように、
ケーシング18aを旋回装置(図示せず)内でベルト1
0上でモニターするのが有利である。この標準は軸29
bを中心に旋回可能であり、かつ利用されない場合には
、その表面がほこり等に対して保護されるような位置に
存在する。
前記拡散反射率測定装置は、走行するベルトの測定のた
めだけに適当であるのではない。該装置は、被測定試料
がしばしば起こりうるように、測定開口に接触させるこ
とが不可能であるような、別の総ての拡散反射率測定の
ために有利に使用することもできる。また、前記拡散反
射率測定装置は、例えば液状インキにおけるように、総
ての無接触測定のために特に好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による1実施例の装置全体の原理的構成
図及び第2図は照明及び測定装置の光学的構造に関する
1実施例の構成図である。 10・・試料(ベルト)、10b・・・試料表面、11
・・・光源、12.22・・集光レンズ、13.23・
・レンズ、14・・光導波体、14a・・・制限面、1
5・・・ダイオード列スペクトロメータ、16.17・
・基準測定装置、18・・・照明及び測定装置、18a
・・ケーシング、28・・・窓、b・・・照明面、d・
・・距離、Δd・・範囲、k・・コア範囲、m・・測定

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、試料表面の照明面を照明する位置固定光源と、試料
    表面の測定面から拡散反射される光線を検出する測定装
    置とを有し、その際上記照明面が測定面よりも大きい形
    式の無接触測定用の拡散反射率測定装置において、測定
    面(m)内の試料表面(10b)の照明強度が一定の範
    囲(Δd)内では照明及び測定装置(18)からの試料
    表面(10b)までの距離とは実質的に無関係であるこ
    とを特徴とする無接触測定用の拡散反射率測定装置。 2、光源(11)が集光レンズ(12、22)の焦点に
    配置されており、かつ試料表面(10b)が照明及び測
    定装置(18)からの最大可能距離にある場合には、測
    定面(m)が照明面(b)のコア範囲(k)よりも小さ
    い、特許請求の範囲第1項記載の拡散反射率測定装置。 3、光源(11)の、集光レンズ(12、22)の反対
    側に凹面鏡(11a)が配置されており、該凹面鏡の焦
    点が光源(11)内に位置する、特許請求の範囲第1項
    または第2項記載の拡散反射率測定装置。 4、測定装置の光学成分がレンズ(13、23)及び制
    限面(14a)から構成されている、特許請求の範囲第
    1項から第3項までのいずれか1項に記載の拡散反射率
    測定装置。 5、拡散反射された光線の受光器としてダイオード列ス
    ペクトロメータ(15)が設けられており、該スペクト
    ロメータが光導波体(14)を介して測定装置に接続さ
    れており、その際光導波体(14)の出発点が制限面(
    14a)である、特許請求の範囲第4項記載の拡散反射
    率測定装置。 6、光源(11)、集光レンズ(12、22)、凹面鏡
    (11a)、レンズ(13、23)及び制限面(14a
    )がケーシング(18a)内に組み込まれており、該ケ
    ーシングが窓(28)を備えている、特許請求の範囲第
    1項から第5項までのいずれか1項に記載の拡散反射率
    測定装置。 7、基準測定装置(16、17)が設けられており、該
    基準測定装置が窓(28)で反射された、光源(11)
    の光線の内のコア範囲(k)の中心部から成る成分を吸
    収する、特許請求の範囲第1項から第6項までのいずれ
    か1項に記載の拡散反射率測定装置。 8、基準測定装置のために、第2のダイオード列スペク
    トロメータ(17)が設けられている、特許請求の範囲
    第7項記載の拡散反射率測定装置。 9、照明及び測定装置(18)がベルト(10)から外
    に旋回可能であり、かつ有色または白色標準(29、2
    9a)が試料(10)の平均距離で旋回投入可能である
    、特許請求の範囲第1項から第8項までのいずれか1項
    に記載の拡散反射率測定装置。 10、光源(11)としてパルス光源が設けられている
    、特許請求の範囲第1項から第9項までのいずれか1項
    に記載の拡散反射率測定装置。
JP61171958A 1985-07-25 1986-07-23 無接触反射率測定装置 Expired - Fee Related JP2518822B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3526553.1 1985-07-25
DE19853526553 DE3526553A1 (de) 1985-07-25 1985-07-25 Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6316247A true JPS6316247A (ja) 1988-01-23
JP2518822B2 JP2518822B2 (ja) 1996-07-31

Family

ID=6276684

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61171958A Expired - Fee Related JP2518822B2 (ja) 1985-07-25 1986-07-23 無接触反射率測定装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4756619A (ja)
EP (1) EP0209860B1 (ja)
JP (1) JP2518822B2 (ja)
AT (1) ATE84617T1 (ja)
CA (1) CA1278702C (ja)
DE (2) DE3526553A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02167445A (ja) * 1988-12-21 1990-06-27 Toshiba Seiki Kk 反射光量測定方法および装置
JPH04115143A (ja) * 1990-09-05 1992-04-16 Central Jidosha Kk 塗布剤の塗布伏態検出装置
US5894353A (en) * 1996-10-18 1999-04-13 Fuji Xerox Co., Ltd. Optical measuring method, optical measuring apparatus and image forming apparatus
JPH11211568A (ja) * 1998-01-29 1999-08-06 Fuji Xerox Co Ltd 光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置
WO2001075423A1 (fr) * 2000-03-30 2001-10-11 Nippon Paper Industries Co., Ltd. Procede et appareil pour mesurer l'orientation de fibres de papier
JP2008215879A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Toyota Motor Corp 清浄度判定装置および方法
JP2016186472A (ja) * 2015-03-27 2016-10-27 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置、及び画像形成装置
JP2017072463A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社トプコン 分光計測装置

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2193803A (en) * 1986-07-04 1988-02-17 De La Rue Syst Monitoring diffuse reflectivity
DE3701721A1 (de) * 1987-01-22 1988-08-04 Zeiss Carl Fa Remissionsmessgeraet zur beruehrungslosen messung
DE8704679U1 (de) * 1987-03-30 1987-05-27 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Meßgerät für Oberflächen mit bunten Glanzeffekten
DE3731804A1 (de) * 1987-09-22 1989-03-30 Agfa Gevaert Ag Anordnung zur bestimmung des dispersionsgrades magnetischer pigmente in einer dispersion
US4865456A (en) * 1987-10-01 1989-09-12 Gretag Aktiengesellschaft Measuring head
US4841140A (en) * 1987-11-09 1989-06-20 Honeywell Inc. Real-time color comparator
US4968140A (en) * 1988-02-02 1990-11-06 Gretag Aktiengesellschaft Manual device for the determination or measurement of photometric data using a measuring head
DE58900676D1 (de) * 1988-02-02 1992-02-20 Gretag Ag Handgeraet zur erfassung der optischen remissionseigenschaften.
FI80959C (fi) * 1988-04-21 1990-08-10 Outokumpu Oy Foerfarande och anordning foer inspektion av spegelreflexionsytor.
US4948256A (en) * 1988-09-14 1990-08-14 Industrial Technology Research Institute Optical fiber type colorimeter
GB2237378A (en) * 1989-10-17 1991-05-01 Street Graham S B Measurement or spectra
JPH0365953U (ja) * 1989-10-30 1991-06-26
US5262840A (en) * 1990-01-30 1993-11-16 Sequa Corporation Multispectral reflectometer
FR2699677B1 (fr) * 1992-12-22 1995-03-03 Bertin & Cie Procédé et dispositif de détermination de la couleur d'un objet transparent, diffusant et absorbant, tel en particulier qu'une dent.
US5608520A (en) * 1994-07-11 1997-03-04 The United States Of America As Represented By He Department Of Energy Plasma emission spectroscopy method of tumor therapy
US5701181A (en) * 1995-05-12 1997-12-23 Bayer Corporation Fiber optic diffuse light reflectance sensor utilized in the detection of occult blood
DE19543729B4 (de) * 1995-11-23 2008-08-21 Berthold Gmbh & Co. Kg Spektrometer
CA2250400A1 (en) * 1996-04-30 1997-11-06 Metrika, Inc. Method and device for measuring reflected optical radiation
US5652654A (en) * 1996-08-12 1997-07-29 Asimopoulos; George Dual beam spectrophotometer
DE19633557A1 (de) * 1996-08-21 1998-03-05 Techkon Elektronik Gmbh Spektrales Handmeßgerät
DE19850335B4 (de) * 1998-11-02 2008-06-05 Metso Paper Automation Oy Vorrichtung zum Erfassen von Eigenschaften einer in Längsrichtung transportierten Warenbahn
US6384918B1 (en) * 1999-11-24 2002-05-07 Xerox Corporation Spectrophotometer for color printer color control with displacement insensitive optics
US20030156293A1 (en) * 2000-03-30 2003-08-21 Fukuoka Kazuhiko Method for measuring orientation of paper fibers and apparatus for measuring orientation of paper fibers
US7365860B2 (en) * 2000-12-21 2008-04-29 Sensory Analytics System capable of determining applied and anodized coating thickness of a coated-anodized product
US6674533B2 (en) 2000-12-21 2004-01-06 Joseph K. Price Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product
US7274463B2 (en) * 2003-12-30 2007-09-25 Sensory Analytics Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product
US6633382B2 (en) * 2001-05-22 2003-10-14 Xerox Corporation Angular, azimuthal and displacement insensitive spectrophotometer for color printer color control systems
JP2003327346A (ja) * 2002-05-14 2003-11-19 Sharp Corp 光学式物体識別装置およびそれを用いた印刷装置
ITVI20020159A1 (it) * 2002-07-15 2004-01-15 Job Joint Srl Metodo per il rilevamento ed il controllo di caratteristiche di riflessione di un prodotto laminare, nonche' apparato per la realizzazione d
GB2407156B (en) * 2003-10-16 2007-01-03 Abington Consultants Non-contact optical monitor providing measurement insensitive to distance between sample and device
JP2007085963A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Fuji Xerox Co Ltd 光学測定装置及びこれを用いた画像形成装置
EP2002035B1 (en) * 2006-03-07 2018-02-14 Sensory Analytics A mobile apparatus capable of surface measurements of a coating thickness
DE102011050969A1 (de) 2011-06-09 2013-05-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur referenzierten Messung von reflektiertem Licht und Verfahren zum Kalibrieren einer solchen Vorrichtung
DE102012208248B3 (de) * 2012-05-16 2013-08-29 Astech Angewandte Sensortechnik Gmbh Abstandsvariationskompensiertes Farbsensorsystem

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5243478A (en) * 1975-10-01 1977-04-05 Ibm Sample retainer for spectrophotometer
JPS56168145A (en) * 1980-05-29 1981-12-24 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Multichannel radiation flux measuring device
JPS58140609A (ja) * 1982-02-17 1983-08-20 Toshiba Corp 表面状態評価装置
JPS6117046A (ja) * 1984-07-02 1986-01-25 Fuji Photo Film Co Ltd 反射光測定装置における照明光源位置決め方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3458261A (en) * 1964-09-25 1969-07-29 Kollmorgen Corp Pulsed light photometric apparatus for measuring light characteristics of moving materials
US3526777A (en) * 1968-04-25 1970-09-01 Hunter Associates Lab Inc Reflectance measuring apparatus including a mask for compensating for movement of the specimen
DE1902101A1 (ja) * 1969-01-16 1971-01-21
US3718399A (en) * 1971-06-29 1973-02-27 G Kalman Distance compensated reflectance sensor
US3743430A (en) * 1971-11-12 1973-07-03 Shell Oil Co Light transmission monitor
FR2191786A5 (ja) * 1972-06-30 1974-02-01 Gitac
US3973849A (en) * 1975-06-16 1976-08-10 International Business Machines Corporation Self-calibratable spectrum analyzer
JPS5249873A (en) * 1975-10-17 1977-04-21 Oki Electric Ind Co Ltd Chromaticity gradient analitical apparatus
US3999864A (en) * 1975-11-17 1976-12-28 International Business Machines Corporation Gloss measuring instrument
US4003660A (en) * 1975-12-03 1977-01-18 Hunter Associates Laboratory, Inc. Sensing head assembly for multi-color printing press on-line densitometer
US4022534A (en) * 1976-03-23 1977-05-10 Kollmorgen Corporation Reflectometer optical system
US4319847A (en) * 1979-12-05 1982-03-16 Measurex Corporation Apparatus to measure select properties of a moving sheet with improved standardization means
US4379225A (en) * 1980-07-03 1983-04-05 Kontes Glass Company Fiberoptic head with fiber bundles having different numerical apertures
DE3215879A1 (de) * 1982-04-29 1983-11-03 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Geraet zur spektrenmessung in der blutbahn
DE3226372A1 (de) * 1982-07-14 1984-01-19 Compur-Electronic GmbH, 8000 München Verfahren und vorrichtung zum messen von remissionen
US4449821A (en) * 1982-07-14 1984-05-22 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process colorimeter
GB2131161B (en) * 1982-09-10 1986-01-29 Hudson S Bay And Annings Limit Measuring reflectance, handling, and sorting articles such as furs
HU190892B (en) * 1983-04-13 1986-12-28 Mta Mueszaki Fizikai Kutato Intezete,Hu Aparatus for measuring reflection of the planar surfaces, in particular fluckering meter
DE3332986A1 (de) * 1983-09-10 1985-04-04 Optronik Gmbh, 1000 Berlin Reflexionsmessgeraet fuer die messung des spektralen strahldichtefaktors fuer die 45/0-messgeometrie

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5243478A (en) * 1975-10-01 1977-04-05 Ibm Sample retainer for spectrophotometer
JPS56168145A (en) * 1980-05-29 1981-12-24 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Multichannel radiation flux measuring device
JPS58140609A (ja) * 1982-02-17 1983-08-20 Toshiba Corp 表面状態評価装置
JPS6117046A (ja) * 1984-07-02 1986-01-25 Fuji Photo Film Co Ltd 反射光測定装置における照明光源位置決め方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02167445A (ja) * 1988-12-21 1990-06-27 Toshiba Seiki Kk 反射光量測定方法および装置
JP2965078B2 (ja) * 1988-12-21 1999-10-18 東芝メカトロニクス株式会社 反射光量測定装置
JPH04115143A (ja) * 1990-09-05 1992-04-16 Central Jidosha Kk 塗布剤の塗布伏態検出装置
US5894353A (en) * 1996-10-18 1999-04-13 Fuji Xerox Co., Ltd. Optical measuring method, optical measuring apparatus and image forming apparatus
JPH11211568A (ja) * 1998-01-29 1999-08-06 Fuji Xerox Co Ltd 光学測定方法、光学測定装置および画像形成装置
WO2001075423A1 (fr) * 2000-03-30 2001-10-11 Nippon Paper Industries Co., Ltd. Procede et appareil pour mesurer l'orientation de fibres de papier
JP2008215879A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Toyota Motor Corp 清浄度判定装置および方法
JP2016186472A (ja) * 2015-03-27 2016-10-27 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置、及び画像形成装置
JP2017072463A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社トプコン 分光計測装置
US10578485B2 (en) 2015-10-07 2020-03-03 Topcon Corporation Spectroscopic instrument

Also Published As

Publication number Publication date
JP2518822B2 (ja) 1996-07-31
CA1278702C (en) 1991-01-08
EP0209860B1 (de) 1993-01-13
ATE84617T1 (de) 1993-01-15
EP0209860A2 (de) 1987-01-28
EP0209860A3 (en) 1989-03-22
DE3526553A1 (de) 1987-01-29
US4756619A (en) 1988-07-12
DE3687490D1 (de) 1993-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6316247A (ja) 無接触反射率測定装置
JP2716445B2 (ja) 無接触測定のための拡散反射率測定装置
US4186431A (en) Linear light source
KR100363150B1 (ko) 용기끝치수파라미터의광학적검사
US8767218B2 (en) Optical apparatus for non-contact measurement or testing of a body surface
US5831740A (en) Optical characteristic measuring apparatus with correction for distance variation
US3524067A (en) Compact line grating position sensing device
US5483347A (en) Non-contact measurement apparatus using bifurcated optical fiber bundle with intermixed fibers
KR100521616B1 (ko) 분광 반사율 측정 장치 및 분광 반사율 측정 방법
CA2132111C (en) Inspection of translucent containers
US5637864A (en) Optical inspection of translucent containers for vertical checks and split seams in the container sidewalls
US6744514B2 (en) Process and arrangement for detecting or recognizing an object
US5111037A (en) Device for measuring light scattered by an information support
EP0051899B1 (en) Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints
JP3871415B2 (ja) 分光透過率測定装置
US5142135A (en) Optical sensor projecting an image of the sensor for alignment purposes
RU1775599C (ru) Устройство дл контрол геометрических параметров отверстий
US5543913A (en) Device for measuring the spatial characteristics of a light source
JP2002323404A (ja) 表面検査装置
JP2004198244A (ja) 透過率測定装置および絶対反射率測定装置
SU1165883A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
JPH04522B2 (ja)
JPH03130639A (ja) Mtf測定装置の光軸整合方法
KR0129330Y1 (ko) 변배계를 갖는 편심측정기
KR20210132586A (ko) 광 통과 및 반사 장치를 구비한 블로커

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees