JPS6316247A - 無接触反射率測定装置 - Google Patents
無接触反射率測定装置Info
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、例えば走行するコンベアベルトにおいて、試
料表面の照明面を照明する位置固定光源と、試料表面の
測定面から拡散反射される光線を検出する測定装置とを
有し、その際上記照明面が測定面よりも大きい形式の無
接触測定用の拡散反射率測定装置に関する。
料表面の照明面を照明する位置固定光源と、試料表面の
測定面から拡散反射される光線を検出する測定装置とを
有し、その際上記照明面が測定面よりも大きい形式の無
接触測定用の拡散反射率測定装置に関する。
従来の技術
この種の装置は、ドイツ連邦共和国特許第162248
4号明細書から公知である。この場合には、走行するコ
ンベアベルトベルトの小さな範囲がパルス光源によって
照明され、その際光源によって照明された絞りがコンベ
ア上に結像される。この照明面(上記特許明細書には、
視野制限像と記載されている)から、中央帯域が受光器
上に結像される、従ってその拡散反射された光線が測定
装置によって検出される測定面は照明mlよりも小さく
なる。この公知の装置は、測定結果が測定装置からのベ
ルトの距離に左右されるという欠点を有する。しかしな
がら、この距離は、走行するベルトの拡散反射能または
色を測定しようとする多くの機械においては、一定でな
い、それというのも、測定装置を組み込むことのできる
位置で、走行するベルトは振動するからである。
4号明細書から公知である。この場合には、走行するコ
ンベアベルトベルトの小さな範囲がパルス光源によって
照明され、その際光源によって照明された絞りがコンベ
ア上に結像される。この照明面(上記特許明細書には、
視野制限像と記載されている)から、中央帯域が受光器
上に結像される、従ってその拡散反射された光線が測定
装置によって検出される測定面は照明mlよりも小さく
なる。この公知の装置は、測定結果が測定装置からのベ
ルトの距離に左右されるという欠点を有する。しかしな
がら、この距離は、走行するベルトの拡散反射能または
色を測定しようとする多くの機械においては、一定でな
い、それというのも、測定装置を組み込むことのできる
位置で、走行するベルトは振動するからである。
発明が解決しようとする問題点
本発明の課題は、測定結果が一定の範囲内では測定装置
から試料までの距離に実質的に影響されない拡散反射率
測定装置を提供することであった。
から試料までの距離に実質的に影響されない拡散反射率
測定装置を提供することであった。
問題点を解決するための手段
旧記課題は、冒頭に記載した形式の拡散及射出測定装置
において、測定面m内の試料表面10bの照明強度か一
定の範囲Δd内では照明及び測定装置18から試料表面
tabまで距離とは実質的に無関係であることにより解
決される本発明の有利なl実施態様によれば、光源が集
光レンズの焦点に配置されており、かつ試料表面が照明
及υ測定装置からの最大可能距離にある場合には、測定
面が照明面のコアiil囲よりも小さい。
において、測定面m内の試料表面10bの照明強度か一
定の範囲Δd内では照明及び測定装置18から試料表面
tabまで距離とは実質的に無関係であることにより解
決される本発明の有利なl実施態様によれば、光源が集
光レンズの焦点に配置されており、かつ試料表面が照明
及υ測定装置からの最大可能距離にある場合には、測定
面が照明面のコアiil囲よりも小さい。
点状光源(及び無収差集光レンズ)の場合には、照準光
束はあらゆる距離において同じ照明強度を生ぜしめる。
束はあらゆる距離において同じ照明強度を生ぜしめる。
光源の大きさが有限であることにより、距離に依存する
周辺減光を惹起する拡散が生じる。しかしながら、一定
のコア範囲内では、照明強度は距離には無関係に維持さ
れる。従って、距離に依存しない測定のための前提条件
は、測定装置が上記コア範囲内からの拡散反射光線のみ
を検出すること、即ち測定面積がコアW1囲よりも小さ
いことである。ドイツ連邦共和国特許第1622484
号明細書においても満足されているもう1つの前提条件
は、測定装置の開口度が一定であること、即ち受光器ま
たはポリ定装置によって検出される立体角が一定である
ことである。
周辺減光を惹起する拡散が生じる。しかしながら、一定
のコア範囲内では、照明強度は距離には無関係に維持さ
れる。従って、距離に依存しない測定のための前提条件
は、測定装置が上記コア範囲内からの拡散反射光線のみ
を検出すること、即ち測定面積がコアW1囲よりも小さ
いことである。ドイツ連邦共和国特許第1622484
号明細書においても満足されているもう1つの前提条件
は、測定装置の開口度が一定であること、即ち受光器ま
たはポリ定装置によって検出される立体角が一定である
ことである。
本発明の別の有利な実施態様は、特許請求の範囲第3項
以下及び以下の図面の説明から明らかである。
以下及び以下の図面の説明から明らかである。
発明の効果
本発明の特別の利点は、距離に無関係な測定により測定
結果を記録のためだけでなく、例えば紙製造の際に配合
をまたは繊維の染色の際にロール圧を変化さけろことに
より、直接的にプロセス制御のために使用することがで
きることにある。
結果を記録のためだけでなく、例えば紙製造の際に配合
をまたは繊維の染色の際にロール圧を変化さけろことに
より、直接的にプロセス制御のために使用することがで
きることにある。
実施例
次に5図示の実施例につき本発明の詳細な説明する。
第1図には、IOで例えば製紙機械または印刷機械の走
行ベルトが示されており、該ベルトは矢印10aの方向
に運動せしめられる。その際表面tabは範囲Δd内で
は数mmだけ上下運動する、即ちベルトは拡散反射率能
または色値を測定するために測定装置または装置ヘッド
18のための場所が設けられた位置で振動する。
行ベルトが示されており、該ベルトは矢印10aの方向
に運動せしめられる。その際表面tabは範囲Δd内で
は数mmだけ上下運動する、即ちベルトは拡散反射率能
または色値を測定するために測定装置または装置ヘッド
18のための場所が設けられた位置で振動する。
この振動、即ち測定ヘッド18と被測定物体の表面Jo
bとの間のΔdだけ変動する距離は、公知の測定装置に
おいては、ヒトの目が差として認識することのできる値
の数分の1まで影響する。
bとの間のΔdだけ変動する距離は、公知の測定装置に
おいては、ヒトの目が差として認識することのできる値
の数分の1まで影響する。
本発明によれば、ベルト表面10bの、測定のために利
用される範囲の照明は、集光レンズ12の焦点に配置さ
れた光源11で行われる。
用される範囲の照明は、集光レンズ12の焦点に配置さ
れた光源11で行われる。
光源11が点状である場合には、集光レンズI2の後方
でも、集光レンズの結像収差を無視したとすれば、境界
線12aを有する正確な平行光束が形成される。それに
より照明される試料表面10bの部分を照明面すと称す
る。しかしながら、光源の膨張により、12aで示した
線の間に距離に依存する周辺減光を惹起する拡散が生じ
る。しかし、コア範囲に内では、理想的条件が満足され
る、従ってこの範囲内では試料表面の照明強度は測定ヘ
ッド18から試料(面tabまでの距離dには依存せず
、但し照明装置の光軸と試料表面との間の角度αにだけ
依存する。しかしながら、後者は距離dが変化しても実
質的に一定である。
でも、集光レンズの結像収差を無視したとすれば、境界
線12aを有する正確な平行光束が形成される。それに
より照明される試料表面10bの部分を照明面すと称す
る。しかしながら、光源の膨張により、12aで示した
線の間に距離に依存する周辺減光を惹起する拡散が生じ
る。しかし、コア範囲に内では、理想的条件が満足され
る、従ってこの範囲内では試料表面の照明強度は測定ヘ
ッド18から試料(面tabまでの距離dには依存せず
、但し照明装置の光軸と試料表面との間の角度αにだけ
依存する。しかしながら、後者は距離dが変化しても実
質的に一定である。
試料表面10bから拡散反射された光は一部分、レンズ
13、光導波体14及びダイオード列スペクトロメータ
15から構成される装置置によって検出される。拡散反
射された光線を検出するための光学的関係は、第2図と
関連して説明する。ダイオード列スペクトロメータI5
は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開第32158
79号明細書から公知であり、該ダイオード列スペクト
ロメータはホログラフィー四面洛子+5a長びダイオー
ド列15bから成る。この場合には、光導波体l4の端
部14bによって入射スリット+5cが照明されろ。光
導波体が多数の光導波体ファイバから成っていろ場合に
は、これらのファイバは相互にスリットの前に配置され
ろ。しかしながら、図面には縮尺に従って示ざれていな
い光導波体は、1本の単一ファイバから成っていてもよ
い。
13、光導波体14及びダイオード列スペクトロメータ
15から構成される装置置によって検出される。拡散反
射された光線を検出するための光学的関係は、第2図と
関連して説明する。ダイオード列スペクトロメータI5
は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開第32158
79号明細書から公知であり、該ダイオード列スペクト
ロメータはホログラフィー四面洛子+5a長びダイオー
ド列15bから成る。この場合には、光導波体l4の端
部14bによって入射スリット+5cが照明されろ。光
導波体が多数の光導波体ファイバから成っていろ場合に
は、これらのファイバは相互にスリットの前に配置され
ろ。しかしながら、図面には縮尺に従って示ざれていな
い光導波体は、1本の単一ファイバから成っていてもよ
い。
特に光源11のためにパルス光源を使用する場合には、
それぞれのパルスのスペクトルを対照として受光するこ
とか必要である。このために光導波体16が役立ち、該
光導波体の受光面16aは例えば光源の近くで直接光線
にさらされる。
それぞれのパルスのスペクトルを対照として受光するこ
とか必要である。このために光導波体16が役立ち、該
光導波体の受光面16aは例えば光源の近くで直接光線
にさらされる。
光導波体l6は、第2のダイオード列スペクトロメータ
17に導かれている。スペクトロメータによって受光さ
れたスペクトルの評価及び拡散反射率または色値の計算
は公知形式で行われる。
17に導かれている。スペクトロメータによって受光さ
れたスペクトルの評価及び拡散反射率または色値の計算
は公知形式で行われる。
第2図には、照明装置及び測定装置の光学的構造の1実
施例が示されている。光κiはこの場合ら11で示され
ている。集光レンズ22として、特に小さな色収差を達
成するために、接合対物レンズを使用することらできる
。ベルト表面はSobで示されておりかつその上で照明
される照明面はbで示ざれている。エネルギーの理由か
ら、ノヨートアーク放電ランプ、例えばFirma O
sramのXBO75を光源として使用するのが宵にす
である。高速運動するベルトの場合には、閃光ランプ、
例えばFa、 HeimannのBGS29027が特
に好適である、それというのも該ランプは短い測定時間
を可能にするからである。このような放電ランプはたい
ていはアーク位置の不規則な変化を示す、それにより照
明光束も変化せしめられる。この効果は、アークを自体
内に結像する凹面鏡11aによって回避される。アーク
が外部にずれると、その鏡像は反対方向に移動する、従
って全体的に対称が近似値的に保持される。
施例が示されている。光κiはこの場合ら11で示され
ている。集光レンズ22として、特に小さな色収差を達
成するために、接合対物レンズを使用することらできる
。ベルト表面はSobで示されておりかつその上で照明
される照明面はbで示ざれている。エネルギーの理由か
ら、ノヨートアーク放電ランプ、例えばFirma O
sramのXBO75を光源として使用するのが宵にす
である。高速運動するベルトの場合には、閃光ランプ、
例えばFa、 HeimannのBGS29027が特
に好適である、それというのも該ランプは短い測定時間
を可能にするからである。このような放電ランプはたい
ていはアーク位置の不規則な変化を示す、それにより照
明光束も変化せしめられる。この効果は、アークを自体
内に結像する凹面鏡11aによって回避される。アーク
が外部にずれると、その鏡像は反対方向に移動する、従
って全体的に対称が近似値的に保持される。
集光レンズ22と、試料表面tabとの間に、測定ヘッ
ド18を閉鎖する窓28が設けられている。この窓で、
照明光束の一部分が強制的に反射される。この反射され
た成分は、比較スペクトルのために利用され、この場合
光導波体16の出発点16aは、該成分がコア範rMk
の中心部から成る区分に当たるように構成されている。
ド18を閉鎖する窓28が設けられている。この窓で、
照明光束の一部分が強制的に反射される。この反射され
た成分は、比較スペクトルのために利用され、この場合
光導波体16の出発点16aは、該成分がコア範rMk
の中心部から成る区分に当たるように構成されている。
このような配置は、できるだけ高い測定精変が必要であ
る場合に特に有1=1である。
る場合に特に有1=1である。
特に色収差のできるだけ良好な補正を達成するためには
、測定装置において2成分対物レンズを使用することも
できる。対物レンズ23はベルト表面10bを光導波体
14の出発面l11aに鮮鋭に結像する必要はなく、そ
の本来の課 ′題は、入力面14aと一緒に試料表面上
の測定面mの大きさを制限することにある。この制限は
ベルト表面からの対物レンズ23の距離を変化させるこ
とにより変更することができる。しかし、測定面は常に
照明面すの、kで示されるコア範囲すの範囲内にある。
、測定装置において2成分対物レンズを使用することも
できる。対物レンズ23はベルト表面10bを光導波体
14の出発面l11aに鮮鋭に結像する必要はなく、そ
の本来の課 ′題は、入力面14aと一緒に試料表面上
の測定面mの大きさを制限することにある。この制限は
ベルト表面からの対物レンズ23の距離を変化させるこ
とにより変更することができる。しかし、測定面は常に
照明面すの、kで示されるコア範囲すの範囲内にある。
入力面14aはもちろん別の制限面と交換することがで
き、その際には専ら、開口度が一定であること、即ち測
定装置によって検出された空間角が一定であり、ひいて
はベルト表面10bと照明及び測定装置18との間の距
離dに依存しないことである図示の実施例では、拡散反
射及び色測定技術におい゛ニ一般的である4010−ジ
オメトリ−が実現されている。もちろん別のジオメトリ
−も可能である。第2図にほぼl 、5 :1の縮尺率
で拡大された図面においては、照明面すは図面に対して
垂直方向に約20ml11、図面内で約30mmの寸法
を有する。測定面は3〜105mの直径に調整すること
ができる。±4.5++vまでのベルト面の距離変化Δ
dの場合には、白色の表面に対する色許容差は、 ΔE ab*≦0.3−(D I N 6174に基
づく)の範囲内にある。
き、その際には専ら、開口度が一定であること、即ち測
定装置によって検出された空間角が一定であり、ひいて
はベルト表面10bと照明及び測定装置18との間の距
離dに依存しないことである図示の実施例では、拡散反
射及び色測定技術におい゛ニ一般的である4010−ジ
オメトリ−が実現されている。もちろん別のジオメトリ
−も可能である。第2図にほぼl 、5 :1の縮尺率
で拡大された図面においては、照明面すは図面に対して
垂直方向に約20ml11、図面内で約30mmの寸法
を有する。測定面は3〜105mの直径に調整すること
ができる。±4.5++vまでのベルト面の距離変化Δ
dの場合には、白色の表面に対する色許容差は、 ΔE ab*≦0.3−(D I N 6174に基
づく)の範囲内にある。
種々の角度のために、1つの照明装置と多数の測定装置
とを組み合わせ、それぞれの測定装置を1つのスペクト
ロメータと接続することも可能である。この構成は特に
光沢固有特性を宵する試料のために有利である。
とを組み合わせ、それぞれの測定装置を1つのスペクト
ロメータと接続することも可能である。この構成は特に
光沢固有特性を宵する試料のために有利である。
特に、照明及び測定装置18aの総ての部材を1つのケ
ーシング15c内にまとめ、該ケーシングを光導波体1
4及び16を介してスペクトロメータ15及び17と接
続するのが有利である。この際には、スペクトロメータ
は第2のケーシング15c内に光源11のための給電装
置と一緒に組み込み、両ケーシングを測定位置から若干
の間隔をおいて設置することができる。更に、外部に旋
回した状態で校正のために有色または白色標準を平均的
距離dで窓28の前に移動させることができるように、
ケーシング18aを旋回装置(図示せず)内でベルト1
0上でモニターするのが有利である。この標準は軸29
bを中心に旋回可能であり、かつ利用されない場合には
、その表面がほこり等に対して保護されるような位置に
存在する。
ーシング15c内にまとめ、該ケーシングを光導波体1
4及び16を介してスペクトロメータ15及び17と接
続するのが有利である。この際には、スペクトロメータ
は第2のケーシング15c内に光源11のための給電装
置と一緒に組み込み、両ケーシングを測定位置から若干
の間隔をおいて設置することができる。更に、外部に旋
回した状態で校正のために有色または白色標準を平均的
距離dで窓28の前に移動させることができるように、
ケーシング18aを旋回装置(図示せず)内でベルト1
0上でモニターするのが有利である。この標準は軸29
bを中心に旋回可能であり、かつ利用されない場合には
、その表面がほこり等に対して保護されるような位置に
存在する。
前記拡散反射率測定装置は、走行するベルトの測定のた
めだけに適当であるのではない。該装置は、被測定試料
がしばしば起こりうるように、測定開口に接触させるこ
とが不可能であるような、別の総ての拡散反射率測定の
ために有利に使用することもできる。また、前記拡散反
射率測定装置は、例えば液状インキにおけるように、総
ての無接触測定のために特に好適である。
めだけに適当であるのではない。該装置は、被測定試料
がしばしば起こりうるように、測定開口に接触させるこ
とが不可能であるような、別の総ての拡散反射率測定の
ために有利に使用することもできる。また、前記拡散反
射率測定装置は、例えば液状インキにおけるように、総
ての無接触測定のために特に好適である。
第1図は本発明による1実施例の装置全体の原理的構成
図及び第2図は照明及び測定装置の光学的構造に関する
1実施例の構成図である。 10・・試料(ベルト)、10b・・・試料表面、11
・・・光源、12.22・・集光レンズ、13.23・
・レンズ、14・・光導波体、14a・・・制限面、1
5・・・ダイオード列スペクトロメータ、16.17・
・基準測定装置、18・・・照明及び測定装置、18a
・・ケーシング、28・・・窓、b・・・照明面、d・
・・距離、Δd・・範囲、k・・コア範囲、m・・測定
面
図及び第2図は照明及び測定装置の光学的構造に関する
1実施例の構成図である。 10・・試料(ベルト)、10b・・・試料表面、11
・・・光源、12.22・・集光レンズ、13.23・
・レンズ、14・・光導波体、14a・・・制限面、1
5・・・ダイオード列スペクトロメータ、16.17・
・基準測定装置、18・・・照明及び測定装置、18a
・・ケーシング、28・・・窓、b・・・照明面、d・
・・距離、Δd・・範囲、k・・コア範囲、m・・測定
面
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試料表面の照明面を照明する位置固定光源と、試料
表面の測定面から拡散反射される光線を検出する測定装
置とを有し、その際上記照明面が測定面よりも大きい形
式の無接触測定用の拡散反射率測定装置において、測定
面(m)内の試料表面(10b)の照明強度が一定の範
囲(Δd)内では照明及び測定装置(18)からの試料
表面(10b)までの距離とは実質的に無関係であるこ
とを特徴とする無接触測定用の拡散反射率測定装置。 2、光源(11)が集光レンズ(12、22)の焦点に
配置されており、かつ試料表面(10b)が照明及び測
定装置(18)からの最大可能距離にある場合には、測
定面(m)が照明面(b)のコア範囲(k)よりも小さ
い、特許請求の範囲第1項記載の拡散反射率測定装置。 3、光源(11)の、集光レンズ(12、22)の反対
側に凹面鏡(11a)が配置されており、該凹面鏡の焦
点が光源(11)内に位置する、特許請求の範囲第1項
または第2項記載の拡散反射率測定装置。 4、測定装置の光学成分がレンズ(13、23)及び制
限面(14a)から構成されている、特許請求の範囲第
1項から第3項までのいずれか1項に記載の拡散反射率
測定装置。 5、拡散反射された光線の受光器としてダイオード列ス
ペクトロメータ(15)が設けられており、該スペクト
ロメータが光導波体(14)を介して測定装置に接続さ
れており、その際光導波体(14)の出発点が制限面(
14a)である、特許請求の範囲第4項記載の拡散反射
率測定装置。 6、光源(11)、集光レンズ(12、22)、凹面鏡
(11a)、レンズ(13、23)及び制限面(14a
)がケーシング(18a)内に組み込まれており、該ケ
ーシングが窓(28)を備えている、特許請求の範囲第
1項から第5項までのいずれか1項に記載の拡散反射率
測定装置。 7、基準測定装置(16、17)が設けられており、該
基準測定装置が窓(28)で反射された、光源(11)
の光線の内のコア範囲(k)の中心部から成る成分を吸
収する、特許請求の範囲第1項から第6項までのいずれ
か1項に記載の拡散反射率測定装置。 8、基準測定装置のために、第2のダイオード列スペク
トロメータ(17)が設けられている、特許請求の範囲
第7項記載の拡散反射率測定装置。 9、照明及び測定装置(18)がベルト(10)から外
に旋回可能であり、かつ有色または白色標準(29、2
9a)が試料(10)の平均距離で旋回投入可能である
、特許請求の範囲第1項から第8項までのいずれか1項
に記載の拡散反射率測定装置。 10、光源(11)としてパルス光源が設けられている
、特許請求の範囲第1項から第9項までのいずれか1項
に記載の拡散反射率測定装置。
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