JP2958024B2 - 電子機器の製造及び検査方法 - Google Patents
電子機器の製造及び検査方法Info
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- JP2958024B2 JP2958024B2 JP1198129A JP19812989A JP2958024B2 JP 2958024 B2 JP2958024 B2 JP 2958024B2 JP 1198129 A JP1198129 A JP 1198129A JP 19812989 A JP19812989 A JP 19812989A JP 2958024 B2 JP2958024 B2 JP 2958024B2
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- electronic device
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- inspection station
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は電子機器の製造及び検査方法に関し、さらに
詳細にはメモリ素子を備え種々の製造段階において検査
ステーションを通過する電子機器の製造及び検査方法に
関するものである。
詳細にはメモリ素子を備え種々の製造段階において検査
ステーションを通過する電子機器の製造及び検査方法に
関するものである。
［従来の技術］ 例えば車両や航空機に使用される安全上重要な電子機
器群においては、機器群自体及び機器の個々の素子を検
査しかつ工程カードを用いて製造段階と検査段階の記録
を取ることでよい結果が得られることが明らかにされて
いる。この記録を取ることによって、製造方法に誤りが
ないと、欠陥のない製品が保証されると同時に、検査の
記録によって、後に欠陥が生じた場合に欠陥を分析する
ことが可能となる。このように厳しい製造規定及び検査
規定には多大な時間とコストが必要であって、それが製
品を非常に高価なものにしてしまう。さらに機器群が複
雑である場合には、製品に付随する検査書類が非常に広
範なものになってしまい、機器群を製造しかつ使用する
場合に貯蔵と管理が煩雑になる。
器群においては、機器群自体及び機器の個々の素子を検
査しかつ工程カードを用いて製造段階と検査段階の記録
を取ることでよい結果が得られることが明らかにされて
いる。この記録を取ることによって、製造方法に誤りが
ないと、欠陥のない製品が保証されると同時に、検査の
記録によって、後に欠陥が生じた場合に欠陥を分析する
ことが可能となる。このように厳しい製造規定及び検査
規定には多大な時間とコストが必要であって、それが製
品を非常に高価なものにしてしまう。さらに機器群が複
雑である場合には、製品に付随する検査書類が非常に広
範なものになってしまい、機器群を製造しかつ使用する
場合に貯蔵と管理が煩雑になる。
雑誌「ファインヴェルクテヒニークウントメステヒニ
ーク（精密機械技術と測定技術）」96（1988）５、第20
9頁〜第210頁にはさらに、自動車電子部品の電子機器群
をコンピュータ制御の検査ステーションで自動的に検査
し、得られた検査結果をネットワークを介してホストコ
ンピュータへ送り、ホストコンピュータがこの検査結果
をデータバンクシステムに格納して修理に備えることが
記載されている。
ーク（精密機械技術と測定技術）」96（1988）５、第20
9頁〜第210頁にはさらに、自動車電子部品の電子機器群
をコンピュータ制御の検査ステーションで自動的に検査
し、得られた検査結果をネットワークを介してホストコ
ンピュータへ送り、ホストコンピュータがこの検査結果
をデータバンクシステムに格納して修理に備えることが
記載されている。
［発明が解決しようとする課題］ 本発明の課題は上記のような従来の技術を改良するこ
とである。
とである。
［課題を解決するための手段］ 上記課題を解決するために、本発明によれば、電子機
器内にメモリ素子を設けた電子機器の製造及び検査方法
であって、電子機器が種々の製造段階において検査ステ
ーションを通過する電子機器の製造及び検査方法におい
て、検査ステーション（PS）を通過後それぞれの検査工
程を記録する情報が前記電子機器（SG）のメモリ素子
（Ｓ）に永続的に格納され、該情報を用いて後続の検査
工程が制御される構成が採用されている。
器内にメモリ素子を設けた電子機器の製造及び検査方法
であって、電子機器が種々の製造段階において検査ステ
ーションを通過する電子機器の製造及び検査方法におい
て、検査ステーション（PS）を通過後それぞれの検査工
程を記録する情報が前記電子機器（SG）のメモリ素子
（Ｓ）に永続的に格納され、該情報を用いて後続の検査
工程が制御される構成が採用されている。
［作用］ 本発明は上記のように構成されているので、電子機器
の製造時に検査の流れを自動的に監視してそれぞれの検
査状態が秩序通り行われていることを確認することがで
きる。それによって特に簡単かつ合理的な方法で電子機
器の品質を向上させることができる。さらに本発明方法
によれば、すべての検査の経過とその結果を電子機器の
メモリに格納することができるので、電子機器はその製
造処理に関する記録を常に備えていることができる。後
に電子機器の使用中に故障が発生した場合には、故障の
原因が電子機器の製造処理の欠陥にあるのかどうかを検
査することができる。
の製造時に検査の流れを自動的に監視してそれぞれの検
査状態が秩序通り行われていることを確認することがで
きる。それによって特に簡単かつ合理的な方法で電子機
器の品質を向上させることができる。さらに本発明方法
によれば、すべての検査の経過とその結果を電子機器の
メモリに格納することができるので、電子機器はその製
造処理に関する記録を常に備えていることができる。後
に電子機器の使用中に故障が発生した場合には、故障の
原因が電子機器の製造処理の欠陥にあるのかどうかを検
査することができる。
［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に示し、以下で詳細に説
明する。
明する。
第１図は例えば搭乗者を支援する支援手段を作動させ
る制御装置などの電子機器SG（以下、電子機器が制御装
置である場合を例にして説明する）の概略を示すもので
あって、この電子機器は製造工程の間に多数の検査ステ
ーションPS1〜PS10へ送られ、これらの検査ステーショ
ンで検査を受ける。制御装置SG内には後述する機能に必
要な少なくとも１つのメモリ素子Ｓが配置されている。
検査工程の間制御装置SGとそれぞれの検査ステーション
PS1はインターフェイスIS、IPと接続導線Ｃを介して互
いに接続されている。製造方法の枠内で例えば検査ステ
ーションPS1での検査工程が終了した後に、制御装置SG
は順次後続の検査ステーションPS2、PS3〜PS10へ送られ
て、他の検査工程を実施される。
る制御装置などの電子機器SG（以下、電子機器が制御装
置である場合を例にして説明する）の概略を示すもので
あって、この電子機器は製造工程の間に多数の検査ステ
ーションPS1〜PS10へ送られ、これらの検査ステーショ
ンで検査を受ける。制御装置SG内には後述する機能に必
要な少なくとも１つのメモリ素子Ｓが配置されている。
検査工程の間制御装置SGとそれぞれの検査ステーション
PS1はインターフェイスIS、IPと接続導線Ｃを介して互
いに接続されている。製造方法の枠内で例えば検査ステ
ーションPS1での検査工程が終了した後に、制御装置SG
は順次後続の検査ステーションPS2、PS3〜PS10へ送られ
て、他の検査工程を実施される。
次に第２図のフローチャートを用いて種々の検査ステ
ーションで行われる検査の過程を説明する。第２図のフ
ローチャートは検査ステーションPS6〜PS10で行われる
検査工程の一部を示すものである。制御装置SGは、検査
ステーションPS1、PS2、PS3、PS4、PS5と順に通過した
後に検査ステーションPS6へ送られる。検査ステーショ
ンPS5で検査工程が秩序通り行われた場合には本発明に
よれば制御装置SGのメモリ素子Ｓには、場合によって検
査の経過と検査の結果を記録する情報の他に、検査ステ
ーションPS5の具体的なコード（検査ステーション識別
コード）が格納され、このコードは第２図では単に
「５」という数で示されている。制御装置SGが検査ステ
ーションPS6へ送られると、検査ステーションPS6ではま
ず制御装置SGのメモリ素子の内容を読み出して、メモリ
素子Ｓ内に直前の検査ステーションPS5の検査が秩序通
りであったことを示す検査ステーションPS5の検査コー
ドが格納されているかどうかを検出する。この検査ステ
ーションPS5の検査ステーションコードが検出されなか
った場合には、検査の過程が不完全であると結論して、
まず制御装置SGを外して、場合によっては前段の検査ス
テーションPS5へ制御装置SGを送り直す。また、制御装
置SGのメモリ素子Ｓ内に検査コード５が存在することが
確認された場合には、制御装置SGは検査ステーションPS
6の行う検査を受ける。制御装置SGが検査ステーションP
S6のすべての検査に合格した場合には、検査ステーショ
ンPS6の特徴を示す検査ステーションコード（この場合
には「６」という数字で示される）が制御装置SGのメモ
リ素子Ｓに格納される。検査ステーションPS6で検査を
行う際に検査工程が成功であるという結論を得られなか
ったことが明らかになった場合には、制御装置SGに欠陥
があるとの結論が出されて、制御装置SGは検査の流れか
ら除去されて、場合によってはまず修理のループへ送ら
れる。この修理のループにおいては、発生した欠陥を見
つけ出して修理することが試みられる。次に、修理され
た制御装置SGはその欠陥を結論づけた検査ステーション
へ再び戻される。検査ステーションPS6ですべての検査
工程がクリアされた後に、秩序通り検査されて良好であ
ると結論された制御装置SGは以降の検査ステーションPS
7、PS8、PS9へ送られるが、これらの検査ステーション
の一部は第２図のフローチャートには記載されていな
い。さらに制御装置SGは検査ステーションPS9で検査に
合格した後に、最後の検査ステーションに送られ、ここ
で最終検査を受ける。制御装置SGがこの検査ステーショ
ンPS10ですべての検査をクリアした場合には、制御装置
SGのメモリ素子Ｓには同制御装置SGがすべての検査ステ
ーションをクリアしたことを示す検査ステーションコー
ドが格納される。検査ステーションPS10を示す検査ステ
ーションコードの他に、好ましくは検査全体の過程とそ
の際に測定された制御装置SGの識別値が制御装置のメモ
リ素子に格納される。従って制御装置SGは製造処理及び
製造処理の間に行われた検査工程に関する完全な記録を
持つことになる。制御装置を規定通りに使用している間
に制御装置の機能に障害が発生した場合には、必要に応
じてその障害が制御装置SGの製造中の欠陥に原因がある
のかどうかを確認することができる。このような検査を
行えるということは、特に例えば搭乗者の支援システム
の制御装置のように安全上重要な電子機器の場合には極
めて重要な意味を持つ。というのは、事故の発生後は車
両メーカーに責任が帰せられることが多いからである。
ーションで行われる検査の過程を説明する。第２図のフ
ローチャートは検査ステーションPS6〜PS10で行われる
検査工程の一部を示すものである。制御装置SGは、検査
ステーションPS1、PS2、PS3、PS4、PS5と順に通過した
後に検査ステーションPS6へ送られる。検査ステーショ
ンPS5で検査工程が秩序通り行われた場合には本発明に
よれば制御装置SGのメモリ素子Ｓには、場合によって検
査の経過と検査の結果を記録する情報の他に、検査ステ
ーションPS5の具体的なコード（検査ステーション識別
コード）が格納され、このコードは第２図では単に
「５」という数で示されている。制御装置SGが検査ステ
ーションPS6へ送られると、検査ステーションPS6ではま
ず制御装置SGのメモリ素子の内容を読み出して、メモリ
素子Ｓ内に直前の検査ステーションPS5の検査が秩序通
りであったことを示す検査ステーションPS5の検査コー
ドが格納されているかどうかを検出する。この検査ステ
ーションPS5の検査ステーションコードが検出されなか
った場合には、検査の過程が不完全であると結論して、
まず制御装置SGを外して、場合によっては前段の検査ス
テーションPS5へ制御装置SGを送り直す。また、制御装
置SGのメモリ素子Ｓ内に検査コード５が存在することが
確認された場合には、制御装置SGは検査ステーションPS
6の行う検査を受ける。制御装置SGが検査ステーションP
S6のすべての検査に合格した場合には、検査ステーショ
ンPS6の特徴を示す検査ステーションコード（この場合
には「６」という数字で示される）が制御装置SGのメモ
リ素子Ｓに格納される。検査ステーションPS6で検査を
行う際に検査工程が成功であるという結論を得られなか
ったことが明らかになった場合には、制御装置SGに欠陥
があるとの結論が出されて、制御装置SGは検査の流れか
ら除去されて、場合によってはまず修理のループへ送ら
れる。この修理のループにおいては、発生した欠陥を見
つけ出して修理することが試みられる。次に、修理され
た制御装置SGはその欠陥を結論づけた検査ステーション
へ再び戻される。検査ステーションPS6ですべての検査
工程がクリアされた後に、秩序通り検査されて良好であ
ると結論された制御装置SGは以降の検査ステーションPS
7、PS8、PS9へ送られるが、これらの検査ステーション
の一部は第２図のフローチャートには記載されていな
い。さらに制御装置SGは検査ステーションPS9で検査に
合格した後に、最後の検査ステーションに送られ、ここ
で最終検査を受ける。制御装置SGがこの検査ステーショ
ンPS10ですべての検査をクリアした場合には、制御装置
SGのメモリ素子Ｓには同制御装置SGがすべての検査ステ
ーションをクリアしたことを示す検査ステーションコー
ドが格納される。検査ステーションPS10を示す検査ステ
ーションコードの他に、好ましくは検査全体の過程とそ
の際に測定された制御装置SGの識別値が制御装置のメモ
リ素子に格納される。従って制御装置SGは製造処理及び
製造処理の間に行われた検査工程に関する完全な記録を
持つことになる。制御装置を規定通りに使用している間
に制御装置の機能に障害が発生した場合には、必要に応
じてその障害が制御装置SGの製造中の欠陥に原因がある
のかどうかを確認することができる。このような検査を
行えるということは、特に例えば搭乗者の支援システム
の制御装置のように安全上重要な電子機器の場合には極
めて重要な意味を持つ。というのは、事故の発生後は車
両メーカーに責任が帰せられることが多いからである。
制御装置SGのメモリ素子Ｓが、制御装置SGを正常な使
い方をしていてもほぼ全体を使用するような、限定され
た記憶容量しか持たない場合には、検査工程と検査の際
に得られた測定値に関する完全な記録を格納するのでは
なく、すべての検査に合格したことを縮小されたコード
でメモリ素子Ｓに格納するようにすることができる。
い方をしていてもほぼ全体を使用するような、限定され
た記憶容量しか持たない場合には、検査工程と検査の際
に得られた測定値に関する完全な記録を格納するのでは
なく、すべての検査に合格したことを縮小されたコード
でメモリ素子Ｓに格納するようにすることができる。
好ましくはメモリ素子Ｓに格納された検査過程に関す
る情報を資格のない者のアクセスから保護することによ
って、その情報を永続的に確実なものとすることができ
る。この保護は例えば次のようにして行われる。すなわ
ち、制御装置SGのインターフェイスISを所定に形成する
ことによりメモリ素子Ｓの具体的な情報が格納されてい
るメモリ領域へのアクセスが禁止される。さらに、回路
技術的及び（あるいは）プログラム技術的な手段によっ
て、資格を持たない者がメモリ素子Ｓのこの保護データ
にアクセスすることを阻止することも可能である。
る情報を資格のない者のアクセスから保護することによ
って、その情報を永続的に確実なものとすることができ
る。この保護は例えば次のようにして行われる。すなわ
ち、制御装置SGのインターフェイスISを所定に形成する
ことによりメモリ素子Ｓの具体的な情報が格納されてい
るメモリ領域へのアクセスが禁止される。さらに、回路
技術的及び（あるいは）プログラム技術的な手段によっ
て、資格を持たない者がメモリ素子Ｓのこの保護データ
にアクセスすることを阻止することも可能である。
制御装置SGのメモリ素子Ｓに記憶された内容を電子処
理することなく、それぞれの検査状態を検出することが
できるようにするために、好ましくは外からでも検査状
態を識別することのできる他のマーキングを取り付けて
取扱を容易にすることができる。この場合に例えば色の
点、色の線あるいは場合によってはバーコードリーダで
読取り可能なバーコードなどを有するマーキングが使用
される。少なくとも最後の検査ステーションPS10をクリ
アした制御装置SGにはこの種のマーキングをさらに加え
ることが効果的であることが明らかにされている。
理することなく、それぞれの検査状態を検出することが
できるようにするために、好ましくは外からでも検査状
態を識別することのできる他のマーキングを取り付けて
取扱を容易にすることができる。この場合に例えば色の
点、色の線あるいは場合によってはバーコードリーダで
読取り可能なバーコードなどを有するマーキングが使用
される。少なくとも最後の検査ステーションPS10をクリ
アした制御装置SGにはこの種のマーキングをさらに加え
ることが効果的であることが明らかにされている。
制御装置SGには例えば警告ランプ、ブザーなどの警報
装置が多重に設けられており、制御装置SGを規定通り使
用している間に故障が発生した場合に例えばその自動車
の運転者に制御装置の故障を知らせることができる。好
ましくはこれらの警報装置は検査に従事する人に制御装
置SGの欠陥を表示するのに用いられる。少なくとも検査
ステーションPS10で最後の検査を実施する際に発生した
欠陥は表示されなければならない。そのために制御装置
には、検査コードを処理し欠陥が存在する場合には警告
装置を作動させる処理手段が設けられている。
装置が多重に設けられており、制御装置SGを規定通り使
用している間に故障が発生した場合に例えばその自動車
の運転者に制御装置の故障を知らせることができる。好
ましくはこれらの警報装置は検査に従事する人に制御装
置SGの欠陥を表示するのに用いられる。少なくとも検査
ステーションPS10で最後の検査を実施する際に発生した
欠陥は表示されなければならない。そのために制御装置
には、検査コードを処理し欠陥が存在する場合には警告
装置を作動させる処理手段が設けられている。
以上の説明においては本発明方法は、搭乗者の支援手
段を制御する制御装置を例にとって説明されている。し
かしこの方法を例えばブレーキ制御など他の使用領域を
有する制御装置等他の電子機器にも同様にして使用でき
ることは当然である。
段を制御する制御装置を例にとって説明されている。し
かしこの方法を例えばブレーキ制御など他の使用領域を
有する制御装置等他の電子機器にも同様にして使用でき
ることは当然である。
また、本発明の実施例によれば、電子機器のメモリ素
子に格納された情報が、それぞれ検査ステーションを識
別する識別コードを含む構成が採用されている。
子に格納された情報が、それぞれ検査ステーションを識
別する識別コードを含む構成が採用されている。
また、本発明の実施例によれば、電子機器のメモリ素
子に格納された情報が、電子機器の識別値を含む構成が
採用されている。
子に格納された情報が、電子機器の識別値を含む構成が
採用されている。
また、本発明によれば、欠陥が確認されたときにその
欠陥に応じて検査ステーションないし修理ステーション
に電子機器が戻される構成が採用されている。
欠陥に応じて検査ステーションないし修理ステーション
に電子機器が戻される構成が採用されている。
また、本発明の実施例によれば、電子機器のメモリ素
子に情報を格納すると同時に、電子機器に視認可能ない
し読取可能なマークが取り付けられる構成が採用されて
いる。
子に情報を格納すると同時に、電子機器に視認可能ない
し読取可能なマークが取り付けられる構成が採用されて
いる。
また、本発明の実施例によれば、電子機器固有のデー
タ値に許容誤差範囲が設けられ、許容誤差範囲が守られ
ない場合にそれぞれ検査された電子機器が少なくとも一
時的に工程から外されて修理ループへ送られて修理され
る構成が採用されている。
タ値に許容誤差範囲が設けられ、許容誤差範囲が守られ
ない場合にそれぞれ検査された電子機器が少なくとも一
時的に工程から外されて修理ループへ送られて修理され
る構成が採用されている。
さらに本発明の実施例によれば、電子機器に警告装置
が設けられている場合に、検査ステーション固有の情報
を検出し、場合によっては検査ステーション固有の情報
が検出されないときに警告装置を作動させる手段が設け
らる構成が採用されている。
が設けられている場合に、検査ステーション固有の情報
を検出し、場合によっては検査ステーション固有の情報
が検出されないときに警告装置を作動させる手段が設け
らる構成が採用されている。
［発明の効果］ 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、検
査ステーションのそれぞれの検査工程を記録した情報
が、電子機器に内蔵のメモリ素子に永続的に格納され、
電子機器はその情報を常にメモリ素子に備えているの
で、製造時に検査が正常に行なわれたかを確認できると
ともに、後で電子機器の使用中に故障が発生した場合、
その原因が電子機器の製造工程の欠陥にあるのかを即座
にしかも効率的に検査することが可能になり、例えば車
両や航空機に使用される安全上重要な電子機器の品質を
向上させることができる、という優れた効果が得られ
る。
査ステーションのそれぞれの検査工程を記録した情報
が、電子機器に内蔵のメモリ素子に永続的に格納され、
電子機器はその情報を常にメモリ素子に備えているの
で、製造時に検査が正常に行なわれたかを確認できると
ともに、後で電子機器の使用中に故障が発生した場合、
その原因が電子機器の製造工程の欠陥にあるのかを即座
にしかも効率的に検査することが可能になり、例えば車
両や航空機に使用される安全上重要な電子機器の品質を
向上させることができる、という優れた効果が得られ
る。
第１図は記憶素子を有する電子機器と多数の検査ステッ
プの概略を示すブロック図、第２図は電子機器の検査の
経過を示すフローチャート図である。 PS1〜PS10……検査ステーション、SG……制御装置、I
S、PS……インターフェイス
プの概略を示すブロック図、第２図は電子機器の検査の
経過を示すフローチャート図である。 PS1〜PS10……検査ステーション、SG……制御装置、I
S、PS……インターフェイス
フロントページの続き (72)発明者 ハラルト・フォークト ドイツ連邦共和国 7141 シュヴィーバ ーディンゲン・ケーニッヒスベルガーシ ュトラーセ 24 (72)発明者 ルドルフ・アイゼンバールト ドイツ連邦共和国 3320 ザルツギッタ ー 51・エリーザベトシュトラーセ ５ (56)参考文献 特開 昭62−114860（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−270058（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−22251（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−61749（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06F 11/22 B23P 21/00 B23Q 41/00
Claims (7)
- 【請求項１】電子機器内にメモリ素子を設けた電子機器
の製造及び検査方法であって、電子機器が種々の製造段
階において検査ステーションを通過する電子機器の製造
及び検査方法において、 検査ステーション（PS）を通過後それぞれの検査工程を
記録する情報が前記電子機器（SG）のメモリ素子（Ｓ）
に永続的に格納され、該情報を用いて後続の検査工程が
制御されることを特徴とする電子機器の製造及び検査方
法。 - 【請求項２】前記電子機器（SG）のメモリ素子（Ｓ）に
格納された情報は、それぞれの検査ステーション（PS）
を識別する識別コードを含むことを特徴とする請求項第
１項に記載の方法。 - 【請求項３】前記電子機器（SG）のメモリ素子（Ｓ）に
格納された情報は、電子機器（SG）の識別値を含むこと
を特徴とする請求項第１項あるいは第２項に記載の方
法。 - 【請求項４】欠陥が確認されたときにその欠陥に応じて
検査ステーションないし修理ステーションに電子機器が
戻されることを特徴とする請求項第１項から第３項のい
ずれか１項に記載の方法。 - 【請求項５】前記電子機器（SG）のメモリ素子（Ｓ）に
情報を格納すると同時に、前記電子機器（SG）に視認可
能ないし読取可能なマークが取り付けられることを特徴
とする請求項第１項から第４項のいずれか１項に記載の
方法。 - 【請求項６】電子機器固有のデータ値に許容誤差範囲が
設けられ、許容誤差範囲が守られない場合にそれぞれ検
査された電子機器（SG）が少なくとも一時的に工程から
外されて修理ループへ送られて修理されることを特徴と
する請求項第１項から第５項のいずれか１項に記載の方
法。 - 【請求項７】電子機器（SG）に警告装置が設けられてい
る場合に、検査ステーション固有の情報を検出し、場合
によっては検査ステーション固有の情報が検出されない
ときに警告装置を作動させる手段が設けられていること
を特徴とする請求項第１項から第６項のいずれか１項に
記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3828988.1 | 1988-08-26 | ||
| DE3828988A DE3828988A1 (de) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | Herstellungsverfahren fuer ein elektronisches geraet |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0281234A JPH0281234A (ja) | 1990-03-22 |
| JP2958024B2 true JP2958024B2 (ja) | 1999-10-06 |
Family
ID=6361652
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1198129A Expired - Lifetime JP2958024B2 (ja) | 1988-08-26 | 1989-08-01 | 電子機器の製造及び検査方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
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