JPH0281234A - 電子機器の製造及び検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は電子機器の製造方法に関し、さらに詳細にはメ
モリ素子を備え種々の製造段階において検査ステーショ
ンを通過する電子機器の製造方法に関するものである。

［従来の技術］ 例えは車両や航空機に使用される安全上重要な電子機器
群においては、機器群自体及び機器の個々の素子を検査
しかつ工程カードを用いて製造段階と検査段階の記録を
取ることでよい結果が得られることが明らかにされてい
る。この記録を取ることによって、製造方法に誤りがな
いと、欠陥のない製品が保証されると同時に、検査の記
録によって、後に欠陥が生じた場合に欠陥を分析するこ
とが可能となる。このように厳しい製造規定及び検査規
定には多大な時間とコストが必要であって、それが製品
を非常に高価なものにしてしまう。さらに機器群が複雑
である場合には、製品に付随する検査書類が非常に広範
なものになってしまい、機器群を製造しかつ使用する場
合に貯蔵と管理が煩雑になる。

雑誌「ファインヴエルクテヒニーク　ウントメステヒニ
ーク（精密機械技術と測定技術）」９６　（１９８８）
５、第２０９頁〜第２１０頁にはさらに、自動車電子部
品の電子機器群をコンピュータ制御の検査ステーション
で自動的に検査し、得られた検査結果をネットワークを
介してホストコンピュータへ送り、ホストコンピュータ
がこの検査結果をデータバンクシステムに格納して修理
に備えることが記載されている。

［発明が解決しようとする課題］ 本発明の課題は上記のような従来の技術を改良すること
である。

［課題を解決するための手段］ 上記の課題を解決するために本発明によれは、メモリ素
子を備え種々の製造段階において検査ステーションを通
過する電子機器の製造方法において、検査ステーション
を通過後それぞれの検査段階を記録する情報が電子機器
のメモリ素子に格納される構成が採用されている。

［作用コ 本発明は上記のように構成されているので、電子機器の
製造時に検査の流れを自動的に監視してそれぞれの検査
状態が秩序通り行われていることを確認することができ
る。それによって特に簡単かつ合理的な方法で電子機器
の品質を向上させることができる。さらに本発明方法に
よれは、すべての検査の経過とその結果を電子機器のメ
モリに格納することができるので、電子機器はその製造
処理に関する記録を常に備えていることができる。

後に電子機器の使用中に故障が発生した場合には、故障
の原因が電子機器の製造処理の欠陥にあるのかどうかを
検査することができる。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に示し、以下で詳細に説明
する。

第１図は例えは搭乗者を支援する支援手段を作動させる
制御装置などの電子機器ＳＧの概略を示すものであって
、この電子機器は製造工程の間に多数の検査ステーショ
ンＰＳ１〜ＰＳＩＯへ送られ、これらの検査ステーショ
ンで検査を受ける。

制御装置ＳＧ内には後述する機能に必要な少なくとも１
つのメモリ素子Ｓが配置されている。検査工程の量制御
装置ＳＧとそれぞれの検査ステーションＰＳＩはインタ
ーフェイスＩｓ、ＩＰと接続導線Ｃを介して互いに接続
されている。製造方法の枠内で例えば検査ステーション
ＰＳｌでの検査工程が終了した後に、制御装置ＳＧは順
次後続の検査ステーションＰＳ２、ＰＳ３〜ｐｓｔｏへ
送られて、他の検査工程を実施される。

次に第２図のフローチャートを用いて種々の検査ステー
ションで行われる検査の過程を説明する。

第２図のフローチャートは検査ステーションＰＳ６〜Ｐ
ＳＩＯで行われる検査工程の一部を示すものである。制
御装置ＳＧは、検査ステーションＰＳｌ、ＰＳ２、ＰＳ
３、ＰＳ４、ＰＳ５と順に通過した後に検査ステーショ
ンＰＳ６へ送られる。

検査ステーションＰＳ５で検査工程が秩序通り行われた
場合には本発明によれば制御装置ＳＧのメモリ素子Ｓに
は、場合によって検査の経過と検査の結果を記録する情
報の他に、検査ステーションＰＳ５の具体的なコード（
検査ステーション識別コード）が格納され、このコード
は第２図では単に「５」という数で示されている。制御
装置ＳＧが検査ステーションＰＳ６へ送られると、検査
ステーションＰＳ６ではまず制御装置ＳＧのメモリ素子
の内容を読み出して、メモリ素子Ｓ内に直前の検査ステ
ーションＰＳ５の検査が秩序通りであったことを示す検
査ステーションＰＳ５の検査コードが格納されているか
どうかを検出する。この検査ステーションＰＳ５の検査
ステーションコードが検出されなかった場合には、検査
の過程が不完全であると結論して、まず制御装置ＳＧを
外して、場合によっては前段の検査ステーションＰＳ５
へ制御装置ＳＧを送り直す。また、制御装置ＳＧのメモ
リ素子Ｓ内に検査コード５が存在することが確認された
場合には、制御装置ＳＧは検査ステーションＰＳ６の行
う検査を受ける。制御装置ＳＧが検査ステーションＰＳ
６のすへての検査に合格した場合には、検査ステーショ
ンＰＳ６の特徴を示す検査ステーションコード（この場
合には「６」という数字で示される）が制御装置Ｓｄの
メモリ素子Ｓに格納される。検査ステーションＰＳ６で
検査を行う際に検査工程が成功であるという結論を得ら
れなかったことが明らかになった場合には、制御装置Ｓ
Ｇに欠陥があるとの結論が出されて、制御装＃ＳＧは検
査の流れから除去されて、場合によってはまず修理のル
ープへ送られる。

この修理のループにおいては、発生した欠陥を見つけ出
して（］蒼理することが試みられる。次に、修理された
制御装置ＳＧはその欠陥を結論づけた検査ステーション
へ再び戻される。検査ステーションＰＳ６ですべての検
査工程がクリアされた後に、秩序通り検査されて良好で
あると結論された制御装置ＳＧは以降の検査ステーショ
ンＰＳ７、ＰＳ８、ＰＳ９へ送られるが、これらの検査
ステーションの一部は第２図のフローチャートには記載
されていない。さらに制御装置ＳＧは検査ステーション
ＰＳ９で検査に合格した後に、最後の検査ステーション
に送られ、ここで最終検査を受ける。

制御装置ＳＧがこの検査ステーションＰＳＩＯですべて
の検査をクリアした場合には、制御装置ＳＧのメモリ素
子Ｓには同制御装置ＳＧがすべての検査ステーションを
クリアしたことを示す検査ステーションコードが格納さ
れる。検査ステーションＰＳＩＯを示す検査ステーショ
ンコードの他に、好ましくは検査全体の過程とその際に
測定された制御装置ＳＧの識別値が制御装置のメモリ素
子に格納される。従って制御装置ＳＧは製造処理及び製
造処理の間に行われた検査工程に関する完全な記録を持
つことになる。制御装置を規定通りに使用している間に
制御装置の機能に障害が発生した場合には、必要に応じ
てその障害が制御装置ＳＧの製造中の欠陥に原因がある
のかどうかを確認することができる。このような検査を
行えるということは、特に例えば搭乗者の支援システム
の制御装置のように安全上重要な電子機器の場合には極
めて重要な意味を持つ。というのは、事故の発生後は車
両メーカーに責任が帰せられることが多いからである。

制御装置ＳＧのメモリ素子Ｓが、制御装置ＳＧを正常な
使い方をしていてもほぼ全体を使用するような、限定さ
れた記憶容重しか持たない場合には、検査工程と検査の
際に得られた測定値に関する完全な記録を格納するので
はなく、すべての検査に合格したことを縮小されたコー
ドでメモリ素子Ｓに格納するようにすることができる。

好ましくはメモリ素子Ｓに格納された検査過程に関する
情報を資格のない者のアクセスから保護することによっ
て、その情報を永続的に確実なものとすることができる
。この保護は例えば次のようにして行われる。すなわち
、制御装置ＳＧのインターフェイスＩＳを所定に形成す
ることによりメモリ素子Ｓの具体的な情報が格納されて
いるメモリ領域へのアクセスが禁止される。さらに、回
路技術的及び（あるいは）プログラム技術的な手段によ
って、資格を持たない者がメモリ素子Ｓのこの保護デー
タにアクセスすることを阻止することも可能である。

制御装置ＳＧのメモリ素子Ｓに記憶された内容を電子処
理することなく、それぞれの検査状態を検出することが
できるようにするために、好ましくは外からでも検査状
態を識別することのできる他のマーキングを取り付けて
取扱を容易にすることができる。この場合に例えば色の
点、色の線あるいは場合によってはバーコードリーダで
読取り可能なバーコードなどを有するマーキングが使用
される。少なくとも最後の検査ステーションＰＳ１０を
クリアした制御装置ｓＧにはこの種のマーキングをさら
に加えることが効果的であることが明らかにされている
。

制御装置ＳＧには例えば警告ランプ、ブザーなどの警報
装置が多重に設けられており、制御装置ＳＧを規定通り
使用している間に故障が発生した場合に例えばその自動
車の運転者に制御装置の故障を知らせることができる。

好ましくはこれらの警報装置は検査に従事する人に制御
装置ＳＧの欠陥を表示するのに用いられる。少なくとも
検査ステーションＰＳＩＯで最後の検査を実施する際に
発生した欠陥は表示されなければならない。そのために
制御装置には、検査コードを処理し欠陥が存在する場合
には警告装置を作動させる処理手段が設けられている。

以上の説明においては本発明方法は、搭乗者の支援手段
を制御する制御装置を例にとって説明されている。しか
しこの方法を例えばブレーキ制御など他の使用領域を有
する制御装置等地の電子機器にも同様にして使用できる
ことは当然である。

また、本発明の実施例によれば、制御装置のメモリ素子
に格納されたそれぞれの検査ステーションに関する情報
に具体的なデータ値が含まれる構成が採用されている。

また、本発明の実施例によれば、制御装置のメモリ素子
に格納された制御装置に関する情報に例えば検査ステー
ションで得られた測定値などのデータ値が含まれる構成
が採用されている。

また、本発明の実施例によれは、欠陥が確認されたとき
にその欠陥を結論づけた検査ステーションないし修理ス
テーションに電子機器が戻される構成が採用されている
。

また、本発明の実施例によれば、制御装置のメモリ素子
に情報を格納すると同時に、前記制御装置に視認可能な
いし読取可能なマークが取り付けられる構成が採用され
ている。

また、本発明の実施例によれば、電子機器固有のデータ
値に許容誤差範囲が設けられ、許容誤差範囲が守られな
い場合にそれぞれ検査された機器が少なくとも一時的に
工程から外されて修理ループへ送られて修理される構成
が採用されている。

さらに本発明の実施例によれば、電子機器に警告装置が
設けられている場合に、検査ステーション固有の情報を
検出し、場合によっては検査ステーション固有の情報が
検出されないときに警告装置を作動させる手段が設けら
る構成が採用されている。

［発明の効果］ 以上の説明から明らかなように本発明によれば、例えば
車両や航空機に使用される安全上重要な電子機器群にお
いて、簡単な構成で製造段階と検査段階の記録を取るこ
とで機器群自体及び機器の個々の素子を検査し管理する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は記憶素子を有する電子機器と多数の検査ステッ
プの概略を示すブロック図、第２図は電子機器の検査の
経過を示すフローチャート図である。 Ｐｓｉ−ＰＳＩＯ・・・検査ステーションＳＧ・・・制
御装置 Ｉｓ、ＰＳ・・・インターフエイス

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）メモリ素子を備え種々の製造段階において検査ステ
   ーションを通過する電子機器の製造方法において、 検査ステーション（ＰＳ）を通過後それぞれの検査段階
   を記録する情報が電子機器（ＳＧ）のメモリ素子（Ｓ）
   に格納されることを特徴とする電子機器の製造方法。 ２）制御装置（ＳＧ）のメモリ素子（Ｓ）に格納された
   それぞれの検査ステーション（ＰＳ）に関する情報に具
   体的なデータ値が含まれることを特徴とする請求項第１
   項に記載の方法。 ３）制御装置（ＳＧ）のメモリ素子（Ｓ）に格納された
   制御装置（ＳＧ）に関する情報に例えば検査ステーショ
   ン（ＰＳ）で得られた測定値などのデータ値が含まれる
   ことを特徴とする請求項第１項あるいは第２項に記載の
   方法。 ４）欠陥が確認されたときにその欠陥を結論づけた検査
   ステーションないし修理ステーションに電子機器が戻さ
   れることを特徴とする請求項第１項から第３項のいずれ
   か１項に記載の方法。 ５）制御装置（ＳＧ）のメモリ素子（Ｓ）に情報を格納
   すると同時に、前記制御装置（ＳＧ）に視認可能ないし
   読取可能なマークが取り付けられることを特徴とする請
   求項第１項から第４項のいずれか１項に記載の方法。 ６）電子機器固有のデータ値に許容誤差範囲が設けられ
   、許容誤差範囲が守られない場合にそれぞれ検査された
   機器（ＳＧ）が少なくとも一時的に工程から外されて修
   理ループへ送られて修理されることを特徴とする請求項
   第１項から第５項のいずれか１項に記載の方法。 ７）電子機器（ＳＧ）に警告装置が設けられている場合
   に、検査ステーション固有の情報を検出し、場合によっ
   ては検査ステーション固有の情報が検出されないときに
   警告装置を作動させる手段が設けられていることを特徴
   とする請求項第１項から第６項のいずれか１項に記載の
   方法。