JP2820983B2 - Ｉインタフェース加入者線試験方法 - Google Patents
Ｉインタフェース加入者線試験方法Info
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- JP2820983B2 JP2820983B2 JP1326116A JP32611689A JP2820983B2 JP 2820983 B2 JP2820983 B2 JP 2820983B2 JP 1326116 A JP1326116 A JP 1326116A JP 32611689 A JP32611689 A JP 32611689A JP 2820983 B2 JP2820983 B2 JP 2820983B2
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
- H04M3/301—Circuit arrangements at the subscriber's side of the line
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は加入者線試験方法、とくにたとえばISDN交換
機などのディジタル交換機などに有利に適用されるＩイ
ンタフェース加入者線試験方法に関する。
機などのディジタル交換機などに有利に適用されるＩイ
ンタフェース加入者線試験方法に関する。
（従来の技術） たとえばISDN交換システムに適用されているCCITT勧
告Ｉシリーズ、すなわちＩインタフェースには、OSI（O
pen Systems Interconnection）のレイヤモデルのレイ
ヤ１（物理層）、レイヤ２（データリンク層）およびレ
イヤ３（ネットワーク層）における構成が規定されてい
る。レイヤ２のデータリンク層ではデータをフレーム単
位で伝送し、フレーム毎に指令フレーム（コマンド）か
応答フレーム（レスポンス）かが定義される。そして、
コマンドの送信に対するレスポンスの受信ということに
より、プロトコルが実行される。
告Ｉシリーズ、すなわちＩインタフェースには、OSI（O
pen Systems Interconnection）のレイヤモデルのレイ
ヤ１（物理層）、レイヤ２（データリンク層）およびレ
イヤ３（ネットワーク層）における構成が規定されてい
る。レイヤ２のデータリンク層ではデータをフレーム単
位で伝送し、フレーム毎に指令フレーム（コマンド）か
応答フレーム（レスポンス）かが定義される。そして、
コマンドの送信に対するレスポンスの受信ということに
より、プロトコルが実行される。
コマンド／レスポンスの区別はフレームのアドレス部
のC/Rビットに示される。具体的には、ISDN変換機に収
容された端末が網側にコマンドを送る場合はC/Rビット
が「０」に設定され、レスポンスを送るときはC/Rビッ
トが「１」に設定される。また、網（交換機）からの場
合にはC/Rビットの論理は逆になり、網から端末側にコ
マンドを送るときはC/Rビットが「１」に設定され、レ
スポンスを送るときはC/Rビットが「０」に設定され
る。CCITT勧告I.430では、網側と端末側におけるC/Rビ
ットの設定をこのように決めている。
のC/Rビットに示される。具体的には、ISDN変換機に収
容された端末が網側にコマンドを送る場合はC/Rビット
が「０」に設定され、レスポンスを送るときはC/Rビッ
トが「１」に設定される。また、網（交換機）からの場
合にはC/Rビットの論理は逆になり、網から端末側にコ
マンドを送るときはC/Rビットが「１」に設定され、レ
スポンスを送るときはC/Rビットが「０」に設定され
る。CCITT勧告I.430では、網側と端末側におけるC/Rビ
ットの設定をこのように決めている。
フレームにおける制御フィールドのフォーマットとし
てはＩフォーマット、ＳフォーマットおよびＵフォーマ
ットの３種類があり、端末と網内の試験にはこの中のＩ
フォーマットが用いられる。したがって、この場合はレ
スポンスがなくコマンドのみとなる。
てはＩフォーマット、ＳフォーマットおよびＵフォーマ
ットの３種類があり、端末と網内の試験にはこの中のＩ
フォーマットが用いられる。したがって、この場合はレ
スポンスがなくコマンドのみとなる。
たとえば、加入者端末と交換機の上位制御装置との間
でデータのやりとりを行なっているときに、データ化け
やデータ紛失などが頻繁に発生した場合、これの原因が
交換機側か端末側かの切り分け試験が行なわれる。すな
わち、たとえば加入者端末までのルートについて交換機
側が試験を実行しようとした場合、交換機は加入者端末
を収容している加入者回路を折り返し設定を行ない、折
り返し設定された状態を読み取ることにより、その障害
が端末側から交換機機側かを切り分けていた。
でデータのやりとりを行なっているときに、データ化け
やデータ紛失などが頻繁に発生した場合、これの原因が
交換機側か端末側かの切り分け試験が行なわれる。すな
わち、たとえば加入者端末までのルートについて交換機
側が試験を実行しようとした場合、交換機は加入者端末
を収容している加入者回路を折り返し設定を行ない、折
り返し設定された状態を読み取ることにより、その障害
が端末側から交換機機側かを切り分けていた。
（発明が解決しようとする課題） しかしながらこのような従来技術では、CCITT勧告I.4
30によってC/Rビットの論理が決められているため、障
害切り分け試験の際、フレームレベルでの折り返しを実
施することがあ不可能であった。これは、C/Rビットが
ユーザ側と網側で論理が逆のため、たとえば交換機側が
試験データを端末側に送出してこれをそのまま折り返す
と、途中でC/Rビットがチェックされて無効フレームと
して廃棄されるからである。したがって従来技術では、
このような試験を行なう場合、外付けのモニタ装置を取
り付けるか、または擬似端末を取り付けて試験を行なっ
ている。このため、障害をスタティックな状態でしか検
出できず、ダイナミックな試験は不可能であった。
30によってC/Rビットの論理が決められているため、障
害切り分け試験の際、フレームレベルでの折り返しを実
施することがあ不可能であった。これは、C/Rビットが
ユーザ側と網側で論理が逆のため、たとえば交換機側が
試験データを端末側に送出してこれをそのまま折り返す
と、途中でC/Rビットがチェックされて無効フレームと
して廃棄されるからである。したがって従来技術では、
このような試験を行なう場合、外付けのモニタ装置を取
り付けるか、または擬似端末を取り付けて試験を行なっ
ている。このため、障害をスタティックな状態でしか検
出できず、ダイナミックな試験は不可能であった。
本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、ダイナ
ミックな折り返し試験が可能なＩインタフェース加入者
線試験方法を提供することを目的とする。
ミックな折り返し試験が可能なＩインタフェース加入者
線試験方法を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明は上述の課題を解決するために、Ｉインタフェ
ース加入者線が収容し該インタフェース上の第１の層を
終端する加入者手段と、第２の層を終端するLAP−Ｄ手
段とを有する交換装置に適用されるＩインタフェース加
入者線試験方法は、折り返し試験の際、LAP−Ｄ手段を
介し試験フレーム信号を送出し、送出された試験フレー
ム信号のCRビットを反転させてLAP−Ｄ手段に返送す
る。
ース加入者線が収容し該インタフェース上の第１の層を
終端する加入者手段と、第２の層を終端するLAP−Ｄ手
段とを有する交換装置に適用されるＩインタフェース加
入者線試験方法は、折り返し試験の際、LAP−Ｄ手段を
介し試験フレーム信号を送出し、送出された試験フレー
ム信号のCRビットを反転させてLAP−Ｄ手段に返送す
る。
（作 用） 本発明によれば、折り返し試験の際、試験フレーム信
号は、LAP−Ｄ手段を介して送出され、CRビットが反転
されてLAP−Ｄ手段に送られる。
号は、LAP−Ｄ手段を介して送出され、CRビットが反転
されてLAP−Ｄ手段に送られる。
（実施例） 次に添付図面を参照して本発明によるＩインタフェー
ス加入者線試験方法の実施例を詳細に説明する。
ス加入者線試験方法の実施例を詳細に説明する。
第１図には、本発明によるＩインタフェース加入者線
試験方法をISDN交換機に適用したときの中継方式図が示
されている。ISDN交換機９は、複数の加入者回路３とLA
P−Ｄ装置５、および上位制御装置７を有し、加入者線1
00を介し複数のデータ端末装置（TE）１を収容するディ
ジタル交換機である。なお同図において、本発明と直接
関係の無い交換機９の構成要素は略して記載していな
い。
試験方法をISDN交換機に適用したときの中継方式図が示
されている。ISDN交換機９は、複数の加入者回路３とLA
P−Ｄ装置５、および上位制御装置７を有し、加入者線1
00を介し複数のデータ端末装置（TE）１を収容するディ
ジタル交換機である。なお同図において、本発明と直接
関係の無い交換機９の構成要素は略して記載していな
い。
加入者回路３は、加入者線100を介してＩインタフェ
ースを有するデータ端末装置１を収容し、レイヤ１であ
る物理層を終端する加入者回路である。加入者回路３と
端末装置１との端末インタフェースは、独立した２つの
64Kb/sの情報チャネル（Ｂチャネル）と１つの16Kb/sの
信号チャネル（Ｄチャネル）より構成され、2B＋Ｄで示
される。
ースを有するデータ端末装置１を収容し、レイヤ１であ
る物理層を終端する加入者回路である。加入者回路３と
端末装置１との端末インタフェースは、独立した２つの
64Kb/sの情報チャネル（Ｂチャネル）と１つの16Kb/sの
信号チャネル（Ｄチャネル）より構成され、2B＋Ｄで示
される。
加入者回路３は、加入者線終端回路30、ビット反転回
路（RV）32、LP−Ｄインタフェース回路34および試験モ
ード受信制御回路（TCT）36により構成されている。
路（RV）32、LP−Ｄインタフェース回路34および試験モ
ード受信制御回路（TCT）36により構成されている。
加入者線終端回路30は加入者線100を介し端末装置１
に接続され、これとのＩインタフェースをとる加入者回
路である。すなわち加入者線終端回路30は、加入者線10
0の伝送路インタフェースを、回路内の送信線Ｓおよび
受信線Ｒの論理レベルに変換する機能を有する。また、
加入者線終端装置30は、折り返し制御線130を介し試験
モード受信制御回路36に接続されている。加入者線終端
装置30は、この制御線130を介し試験モード受信制御回
路36より折り返し指示を受けると、送信線Ｓと受信線Ｒ
の折り返し設定を行なう。加入者線終端装置30は、送信
線Ｓを介しインタフェース回路34に、受信線Ｒを介しビ
ット反転回路32に接続されている。
に接続され、これとのＩインタフェースをとる加入者回
路である。すなわち加入者線終端回路30は、加入者線10
0の伝送路インタフェースを、回路内の送信線Ｓおよび
受信線Ｒの論理レベルに変換する機能を有する。また、
加入者線終端装置30は、折り返し制御線130を介し試験
モード受信制御回路36に接続されている。加入者線終端
装置30は、この制御線130を介し試験モード受信制御回
路36より折り返し指示を受けると、送信線Ｓと受信線Ｒ
の折り返し設定を行なう。加入者線終端装置30は、送信
線Ｓを介しインタフェース回路34に、受信線Ｒを介しビ
ット反転回路32に接続されている。
ビット反転回路32は、後述するフレーム300（第２
図）のアドレスＡに含まれるC/Rビットを反転する機能
を有する。すなわちビット反転回路32は、C/Rビット反
転制御線132を介し試験モード受信制御回路36に接続さ
れ、通常のデータ転送のときにはC/Rビットをそのまま
の状態で出力し、受信制御回路36より試験モードの反転
指示があると、受信したフレームのC/Rビットの状態を
反転して出力する。ビット反転回路32はまた、受信線Ｒ
を介しLAP−Ｄインタフェース回路34に接続されてい
る。
図）のアドレスＡに含まれるC/Rビットを反転する機能
を有する。すなわちビット反転回路32は、C/Rビット反
転制御線132を介し試験モード受信制御回路36に接続さ
れ、通常のデータ転送のときにはC/Rビットをそのまま
の状態で出力し、受信制御回路36より試験モードの反転
指示があると、受信したフレームのC/Rビットの状態を
反転して出力する。ビット反転回路32はまた、受信線Ｒ
を介しLAP−Ｄインタフェース回路34に接続されてい
る。
試験モード受信制御回路36は、網側、すなわち本実施
例では交換機９側での折り返し試験のときに、加入者線
終端回路30とビット反転回路32を制御する制御装置であ
る。試験モード受信制御回路36は、信号線200を介し上
位制御装置７に接続され、これにより折り返し指示を受
けると、加入者線終端回路30とビット反転回路32を試験
モードを制御する。
例では交換機９側での折り返し試験のときに、加入者線
終端回路30とビット反転回路32を制御する制御装置であ
る。試験モード受信制御回路36は、信号線200を介し上
位制御装置７に接続され、これにより折り返し指示を受
けると、加入者線終端回路30とビット反転回路32を試験
モードを制御する。
LAP−Ｄインタフェース回路34は、送信線Ｓおよび受
信線Ｒを介しLAP−Ｄ装置５に接続され、これとのデー
タの送受信を行なうインタフェース回路である。
信線Ｒを介しLAP−Ｄ装置５に接続され、これとのデー
タの送受信を行なうインタフェース回路である。
LAP−Ｄ装置５は、レイヤ２であるデータリンク層を
管理する装置である。具体的には、Ｄチャネル上のリン
クアクセスプロトコル、すなわち情報転送の順序、誤り
制御などを行ない、レイヤ２を終端する。LAP−Ｄ装置
５は、たとえば加入者回路３から受信したフレームのC/
Rビットの論理が合わない場合、これを無効フレームと
して廃棄する。LAP−Ｄ装置５はそれぞれ、信号線200を
介し上位制御装置７に接続されている。
管理する装置である。具体的には、Ｄチャネル上のリン
クアクセスプロトコル、すなわち情報転送の順序、誤り
制御などを行ない、レイヤ２を終端する。LAP−Ｄ装置
５は、たとえば加入者回路３から受信したフレームのC/
Rビットの論理が合わない場合、これを無効フレームと
して廃棄する。LAP−Ｄ装置５はそれぞれ、信号線200を
介し上位制御装置７に接続されている。
上記制御装置７は、レイヤ２をレイヤ３のレベルに変
換するレベル変換装置である。上位制御装置７はまた、
加入者回路３での折り返し試験の際、加入者回路３を試
験モードを設定するとともに、LAP−Ｄ装置５に試験デ
ータを送りこれの転送指示を行なう。上位制御装置７か
らの送り返し試験指示により、試験モード受信制御回路
36は、制御線130,132を介し加入者線終端回路30とビッ
ト反転回路32を試験モードに設定する。これにより、加
入者線終端装置30は送信線Ｓと受信線Ｒをループ状に折
り返し接続する。また、ビット反転回路32、受信線Ｒよ
り受信した伝送フレームのC/Rビットの論理を反転す
る。
換するレベル変換装置である。上位制御装置７はまた、
加入者回路３での折り返し試験の際、加入者回路３を試
験モードを設定するとともに、LAP−Ｄ装置５に試験デ
ータを送りこれの転送指示を行なう。上位制御装置７か
らの送り返し試験指示により、試験モード受信制御回路
36は、制御線130,132を介し加入者線終端回路30とビッ
ト反転回路32を試験モードに設定する。これにより、加
入者線終端装置30は送信線Ｓと受信線Ｒをループ状に折
り返し接続する。また、ビット反転回路32、受信線Ｒよ
り受信した伝送フレームのC/Rビットの論理を反転す
る。
第２図には、加入者線100および信号線S,Rを伝送され
るデータフレーム300の形式、すなわちCCITT Q.921にお
けるフレーム形式が示されている。フレーム300は、ア
ドレスＡ、制御フィールドＣ、情報Ｉおよびフレームチ
ェックシーケンスFCSの各ビットを有する。コマンド／
レスポンスを示すC/Rビットは、同図に示すように、拡
張ビット（EA）、サービスアクセスポイント識別子（SA
PI）および終端点識別子（TEI）などとともにアドレス
フィールドＡに含まれている。
るデータフレーム300の形式、すなわちCCITT Q.921にお
けるフレーム形式が示されている。フレーム300は、ア
ドレスＡ、制御フィールドＣ、情報Ｉおよびフレームチ
ェックシーケンスFCSの各ビットを有する。コマンド／
レスポンスを示すC/Rビットは、同図に示すように、拡
張ビット（EA）、サービスアクセスポイント識別子（SA
PI）および終端点識別子（TEI）などとともにアドレス
フィールドＡに含まれている。
なお、制御フィールドＣは、Ｉフォーマット、Ｓフォ
ーマットおよびＵフォーマットの３つのフォーマットが
あるが、回線試験ではＩフォーマットが用いられる。し
たがって回線試験の場合には、コマンドのみでレスポン
スはない。
ーマットおよびＵフォーマットの３つのフォーマットが
あるが、回線試験ではＩフォーマットが用いられる。し
たがって回線試験の場合には、コマンドのみでレスポン
スはない。
第３図には、網側と端末側におけるコマンドとレスポ
ンスにおけるC/Rビットの論理状態が示されている。こ
のように端末側と網側では論理が逆となるため、C/Rビ
ット「１」の回線試験データは、折り返されてLAP−Ｄ
装置５に受信されるときには、反転してC/Rビットが
「０」にならなければこの装置５により廃棄される。
ンスにおけるC/Rビットの論理状態が示されている。こ
のように端末側と網側では論理が逆となるため、C/Rビ
ット「１」の回線試験データは、折り返されてLAP−Ｄ
装置５に受信されるときには、反転してC/Rビットが
「０」にならなければこの装置５により廃棄される。
Ｉインタフェース加入者線の折り返し試験について説
明する。まず、上位制御装置７は加入者回路３に対して
C/Rビットの反転指示を出す。これにより加入者回路３
内の試験モード受信制御回路36は、ビット反転指示をC/
Rビット反転回路32に伝える。次に、上位制御装置７は
折り返し指示を加入者回路３の試験モード受信制御回路
36に与える。これにより試験モード受信制御回路36が加
入者線終端回路30に折り返し制御を行なうと、加入者線
終端回路30は送信線Ｓと受信線Ｒを折り返し接続する。
明する。まず、上位制御装置７は加入者回路３に対して
C/Rビットの反転指示を出す。これにより加入者回路３
内の試験モード受信制御回路36は、ビット反転指示をC/
Rビット反転回路32に伝える。次に、上位制御装置７は
折り返し指示を加入者回路３の試験モード受信制御回路
36に与える。これにより試験モード受信制御回路36が加
入者線終端回路30に折り返し制御を行なうと、加入者線
終端回路30は送信線Ｓと受信線Ｒを折り返し接続する。
これら指示を加入者回路３に与えた後、上位制御装置
７は、LAP−Ｄ装置５に試験データを送出し、これの転
送指示を行なう。LAP−Ｄ装置５は、この指示を受ける
と、前述のＩフォーマットのフレームでデータを送出す
る。このときのデータのC/Rビットはコマンドの「１」
に設定されている。このデータは、通常の伝送と同様
に、送信線ＳよりLAP−Ｄインタフェース回路34を経由
して加入者線終端回路30に送られる。そして、この終端
回路30で送り返され、受信線Ｒよりビット反転回路32に
転送される。
７は、LAP−Ｄ装置５に試験データを送出し、これの転
送指示を行なう。LAP−Ｄ装置５は、この指示を受ける
と、前述のＩフォーマットのフレームでデータを送出す
る。このときのデータのC/Rビットはコマンドの「１」
に設定されている。このデータは、通常の伝送と同様
に、送信線ＳよりLAP−Ｄインタフェース回路34を経由
して加入者線終端回路30に送られる。そして、この終端
回路30で送り返され、受信線Ｒよりビット反転回路32に
転送される。
ビット回転回路32は、このときビット反転指示を受け
ているため、アドレスＡに含まれるC/Rビットの論理を
反転出力する。これによりC/Rビットの反転した試験デ
ータは、インタフェース回路34を通りLAP−Ｄ装置５に
返送される。LAP−Ｄ装置５は、C/Rビットが「０」に変
換されているデータをコマンドとして受信し、これを上
位制御装置に通知する。上位制御装置７は、受信データ
を読み取り、これを送信したデータと比較して正常性を
判断する。
ているため、アドレスＡに含まれるC/Rビットの論理を
反転出力する。これによりC/Rビットの反転した試験デ
ータは、インタフェース回路34を通りLAP−Ｄ装置５に
返送される。LAP−Ｄ装置５は、C/Rビットが「０」に変
換されているデータをコマンドとして受信し、これを上
位制御装置に通知する。上位制御装置７は、受信データ
を読み取り、これを送信したデータと比較して正常性を
判断する。
このように本実施例によれば、Ｉインタフェース加入
者線を有する交換装置９において、LAP−Ｄ装置５に対
してC/Rビットを反転できる機能を設け、上位制御装置
７より試験設定モードによって、コマンド・レスポンス
のC/Rビットの論理を反転できるようにした。これによ
り、フレームレベルでの折り返し試験を実施することが
可能となり、端末装置１から上位制御装置７間でのデー
タ化けまたは紛失などが頻繁に生じた場合でも、その要
因が端末か、または線路もしくは交換機かの切り分けを
ダイナミックに行なうことができる。
者線を有する交換装置９において、LAP−Ｄ装置５に対
してC/Rビットを反転できる機能を設け、上位制御装置
７より試験設定モードによって、コマンド・レスポンス
のC/Rビットの論理を反転できるようにした。これによ
り、フレームレベルでの折り返し試験を実施することが
可能となり、端末装置１から上位制御装置７間でのデー
タ化けまたは紛失などが頻繁に生じた場合でも、その要
因が端末か、または線路もしくは交換機かの切り分けを
ダイナミックに行なうことができる。
なお、ここで説明した実施例は本発明を説明するため
のものであって、本発明は必ずしもこれに限定されるも
のではなく、本発明の精神を逸脱することなく当業者が
可能な変形および修正は本発明の範囲に含まれる。すな
わち、本実施例ではC/Rビットの反転機能を加入者回路
３の受信線Ｒ側に設けたが、勿論反転機能を送信線Ｓ側
に設けても良い。また、LAP−Ｄ装置５内にC/Rビットの
反転機能を設けても良い。さらに、加入者端末装置１内
に折り返し接続機能を設ければ、伝送路である加入者線
100を含む回線試験ができる。したがってこれを本実施
例と併用すれば、交換機内と、伝送路、端末などを含む
外部との障害の切り分け試験を行なうことが可能とな
る。
のものであって、本発明は必ずしもこれに限定されるも
のではなく、本発明の精神を逸脱することなく当業者が
可能な変形および修正は本発明の範囲に含まれる。すな
わち、本実施例ではC/Rビットの反転機能を加入者回路
３の受信線Ｒ側に設けたが、勿論反転機能を送信線Ｓ側
に設けても良い。また、LAP−Ｄ装置５内にC/Rビットの
反転機能を設けても良い。さらに、加入者端末装置１内
に折り返し接続機能を設ければ、伝送路である加入者線
100を含む回線試験ができる。したがってこれを本実施
例と併用すれば、交換機内と、伝送路、端末などを含む
外部との障害の切り分け試験を行なうことが可能とな
る。
（発明の効果） このように本発明によれば、C/Rビット反転機能を設
けたことにより、現状のCCITT勧告に準拠したままでダ
イナミックな回線の折り返し試験が可能となる。したが
ってISDN網などのディジタル網における交換機保守と回
線保守の双方を向上させることができる。
けたことにより、現状のCCITT勧告に準拠したままでダ
イナミックな回線の折り返し試験が可能となる。したが
ってISDN網などのディジタル網における交換機保守と回
線保守の双方を向上させることができる。
第１図は本発明によるＩインタフェース加入者線試験方
法をISDN交換機に適用した実施例を示す中継方式図、 第２図は、Ｉインタフェースにおけるフレームフォーマ
ットの構成図、 第３図は、端末側と網側におけるC/Rビットの論理状態
を示す説明図である。 主要部分の符号の説明 １……データ端末装置 ３……加入者回路 ５……LAP−Ｄ装置 ７……上位制御装置 30……加入者線終端回路 32……C/Rビット反転回路 34……LAP−Ｄインタフェース回路 36……試験モード受信制御回路
法をISDN交換機に適用した実施例を示す中継方式図、 第２図は、Ｉインタフェースにおけるフレームフォーマ
ットの構成図、 第３図は、端末側と網側におけるC/Rビットの論理状態
を示す説明図である。 主要部分の符号の説明 １……データ端末装置 ３……加入者回路 ５……LAP−Ｄ装置 ７……上位制御装置 30……加入者線終端回路 32……C/Rビット反転回路 34……LAP−Ｄインタフェース回路 36……試験モード受信制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 新▲高▼ 宏治 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電 気工業株式会社内 (72)発明者 中谷 深 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 渡部 直也 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−34037（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−120550（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−251751（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04L 12/02 H04L 12/26 H04M 3/30
Claims (2)
- 【請求項１】Ｉインタフェース加入者線を収容し該イン
タフェース上の第１の層を終端する加入者手段と、第２
の層を終端するLAP−Ｄ手段とを有する交換装置に適用
されるＩインタフェース加入者線試験方法は、 折り返し試験の際、前記LAP−Ｄ手段を介し少なくとも
コマンド／レスポンスを示すC/Rビットを含むアドレス
フィールドとコマンドのみのＩフォーマットからなる制
御フィールドとを有する試験フレーム信号を送出する工
程と、 該送出された試験フレーム信号のC/Rビットを前記加入
者手段、該加入者手段と前記LAP−Ｄ手段との間および
該LAP−Ｄ手段のいずれかに設けたC/Rビット反転手段に
より反転させて前記LAP−Ｄ手段に返送する工程とから
なることを特徴とするＩインタフェース加入車線試験方
法。 - 【請求項２】請求項１に記載の加入者線試験方法におい
て該方法は、試験フレーム信号の折り返しを、前記加入
者線に接続された外部の装置および前記加入者手段のい
ずれかで行なうことを特徴とするＩインタフェース加入
者線試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1326116A JP2820983B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | Ｉインタフェース加入者線試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1326116A JP2820983B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | Ｉインタフェース加入者線試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03187642A JPH03187642A (ja) | 1991-08-15 |
| JP2820983B2 true JP2820983B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=18184263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1326116A Expired - Fee Related JP2820983B2 (ja) | 1989-12-18 | 1989-12-18 | Ｉインタフェース加入者線試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2820983B2 (ja) |
-
1989
- 1989-12-18 JP JP1326116A patent/JP2820983B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03187642A (ja) | 1991-08-15 |
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