JP2815041B2 - Lsi内部状態確認回路 - Google Patents
Lsi内部状態確認回路Info
- Publication number
- JP2815041B2 JP2815041B2 JP7051236A JP5123695A JP2815041B2 JP 2815041 B2 JP2815041 B2 JP 2815041B2 JP 7051236 A JP7051236 A JP 7051236A JP 5123695 A JP5123695 A JP 5123695A JP 2815041 B2 JP2815041 B2 JP 2815041B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lsi
- internal state
- pulse
- mode
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、装置内部にLSIを採
用している機器に関し、LSI内部状態を監視する回路
に関する。
用している機器に関し、LSI内部状態を監視する回路
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年のLSIに於いては、機能向上、小
型化が進む一方で、外部出力の為のピン数は一般的に少
なく、LSI内部異常検出の為のLSI外部への出力を
LSI内部にて縮退し、LSI外部への出力ピン数を削
減する手法が取られていた。又、LSI内部状態監視で
は、特開昭63−16275号に示される様に専門のL
SI外部出力ピンを新たに用意し、LSI内部状態を時
系列上に並べて出力させることで、LSI内部状態の確
認を行う方式が提案されている。
型化が進む一方で、外部出力の為のピン数は一般的に少
なく、LSI内部異常検出の為のLSI外部への出力を
LSI内部にて縮退し、LSI外部への出力ピン数を削
減する手法が取られていた。又、LSI内部状態監視で
は、特開昭63−16275号に示される様に専門のL
SI外部出力ピンを新たに用意し、LSI内部状態を時
系列上に並べて出力させることで、LSI内部状態の確
認を行う方式が提案されている。
【0003】又、特開昭61−73075に示す様に、
LSI内部状態にアドレスを割り当て、それを指定する
為の端子を設け、アドレスを指定することにより各LS
I内部状態を外部に出力する方式も提案されている。
LSI内部状態にアドレスを割り当て、それを指定する
為の端子を設け、アドレスを指定することにより各LS
I内部状態を外部に出力する方式も提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した特開昭63−
16275号に記載された回路方式では、専用の外部出
力端子を用意する必要が有り、少くとも1本のLSI外
部出力用端子を用意する必要がある。
16275号に記載された回路方式では、専用の外部出
力端子を用意する必要が有り、少くとも1本のLSI外
部出力用端子を用意する必要がある。
【0005】又、特開昭61−73075号に記載され
た回路方式では、外部出力端子と共にLSI内部状態に
割当てた、アドレスを指定する為のスキャンアドレス端
子を必要とする。アドレスを時系列上に並べて指定する
際でも、スキャンアドレス端子1本とアドレスデータ先
頭を指示する信号の入力端子が必要である。
た回路方式では、外部出力端子と共にLSI内部状態に
割当てた、アドレスを指定する為のスキャンアドレス端
子を必要とする。アドレスを時系列上に並べて指定する
際でも、スキャンアドレス端子1本とアドレスデータ先
頭を指示する信号の入力端子が必要である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、LSI
内部状態を入力しLSI外部に出力するバッファと、パ
ルス発生部からの入力を前記バッファのイネーブル信号
として出力するシフトレジスタと、クロック信号を入力
し前記シフトレジスタにパルス信号を出力するパルス発
生部と、前記シフトレジスタの入力を切替えるモード切
替手段とを備えることを特徴とするLSI内部状態確認
回路が得られる。
内部状態を入力しLSI外部に出力するバッファと、パ
ルス発生部からの入力を前記バッファのイネーブル信号
として出力するシフトレジスタと、クロック信号を入力
し前記シフトレジスタにパルス信号を出力するパルス発
生部と、前記シフトレジスタの入力を切替えるモード切
替手段とを備えることを特徴とするLSI内部状態確認
回路が得られる。
【0007】また、本発明によれば、前記パルス発生部
は、前記シフトレジスタに出力制御用信号を周期的に入
力するためにカウンタと論理回路を組合わせて構成され
ることを特徴とするLSI内部状態確認回路が得られ
る。
は、前記シフトレジスタに出力制御用信号を周期的に入
力するためにカウンタと論理回路を組合わせて構成され
ることを特徴とするLSI内部状態確認回路が得られ
る。
【0008】更に、本発明によれば、前記モード切替手
段は、前記シフトレジスタの入力モードを切替える指示
を与えるためのモード切替端子であることを特徴とする
LSI内部状態確認回路が得られる。
段は、前記シフトレジスタの入力モードを切替える指示
を与えるためのモード切替端子であることを特徴とする
LSI内部状態確認回路が得られる。
【0009】即ち、本発明の回路構成では、LSI内部
状態観測点は、LSI内部異常を検出する為に一般的に
用いられるという点に着目し、LSI内部状態のLSI
外部への出力端子に、一般的に用いられるLSI異常を
示す端子を用い、モード切替機能を具備する事によっ
て、通常運用状態と、テスト状態とを切替えて用いる点
に特徴が有る。
状態観測点は、LSI内部異常を検出する為に一般的に
用いられるという点に着目し、LSI内部状態のLSI
外部への出力端子に、一般的に用いられるLSI異常を
示す端子を用い、モード切替機能を具備する事によっ
て、通常運用状態と、テスト状態とを切替えて用いる点
に特徴が有る。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例に係るLSI内部状態
確認回路について、図面を参照して説明する。
確認回路について、図面を参照して説明する。
【0011】図1は、本発明のLSI内部状態表示回路
の一実施例のブロック図、図2は(A)が通常モード選
択時、(B)がテストモード選択時のタイムチャートを
示したものである。
の一実施例のブロック図、図2は(A)が通常モード選
択時、(B)がテストモード選択時のタイムチャートを
示したものである。
【0012】本実施例に係るLSI内部状態確認回路
は、LSI内部状態を入力しLSI外部に出力する出力
バッファ1、2、3、4と、シフトレジスタ10と、ク
ロック信号301が入力されシフトレジスタ10にパル
ス信号を出力するパルス発生部20と、シフトレジスタ
10の入力モードを切替える指示を与えるためのモード
切替端子30とを備えている。パルス発生部20は、シ
フトレジスタ10に出力制御用信号を周期的に入力する
ためにカウンタ20Aと論理回路20Bを組合わせて構
成されている。
は、LSI内部状態を入力しLSI外部に出力する出力
バッファ1、2、3、4と、シフトレジスタ10と、ク
ロック信号301が入力されシフトレジスタ10にパル
ス信号を出力するパルス発生部20と、シフトレジスタ
10の入力モードを切替える指示を与えるためのモード
切替端子30とを備えている。パルス発生部20は、シ
フトレジスタ10に出力制御用信号を周期的に入力する
ためにカウンタ20Aと論理回路20Bを組合わせて構
成されている。
【0013】本実施例のLSI内部状態確認回路では、
通常モード選択指示として、モード切替端子30をHに
した時にはシフトレジスタ10への入力が常時Hとなる
ことから、出力バッファ1、2、3、4は全てイネイブ
ル状態となり、LSI内部状態の変化をそのまま出力す
ることになる。図1の構成例では、LSI内部状態が全
てワイヤードORされた状態で出力されるので、図2
(A)のタイムチャートの様になる。即ち、LSI内部
状態101〜104は、ワイヤードORされLSI外部
出力端子201に出力される状態であるから、一般的に
LSI故障検出端子等として使用される端子である。
通常モード選択指示として、モード切替端子30をHに
した時にはシフトレジスタ10への入力が常時Hとなる
ことから、出力バッファ1、2、3、4は全てイネイブ
ル状態となり、LSI内部状態の変化をそのまま出力す
ることになる。図1の構成例では、LSI内部状態が全
てワイヤードORされた状態で出力されるので、図2
(A)のタイムチャートの様になる。即ち、LSI内部
状態101〜104は、ワイヤードORされLSI外部
出力端子201に出力される状態であるから、一般的に
LSI故障検出端子等として使用される端子である。
【0014】これがテストモード選択指示として、モー
ド切替端子30をLにした時は、クロック信号301を
用いてパルス発生部20で任意の周期(シフトレジスタ
10の段数)のHパルスを発生することにより、それを
受けたシフトレジスタ10が順次出力バッファ1、2、
3、4をイネーブルとする。その為LSI外部出力端子
201には、LSI内部状態101〜104が時系列上
に順番に出力され、図2(B)のタイムチャートの様に
なる。ここで、パルス発生部20の出力を同期出力40
1にて参照することにより、LSI内部状態監視や確認
を行うことが出来る。
ド切替端子30をLにした時は、クロック信号301を
用いてパルス発生部20で任意の周期(シフトレジスタ
10の段数)のHパルスを発生することにより、それを
受けたシフトレジスタ10が順次出力バッファ1、2、
3、4をイネーブルとする。その為LSI外部出力端子
201には、LSI内部状態101〜104が時系列上
に順番に出力され、図2(B)のタイムチャートの様に
なる。ここで、パルス発生部20の出力を同期出力40
1にて参照することにより、LSI内部状態監視や確認
を行うことが出来る。
【0015】又、LSIに対しフレームパルスを用いた
同期方式によるデータ送受が行われている様な場合に
は、専用のパルス発生部や専用の同期出力端子を用いる
ことなしに、LSIがデータを送受信する為のフレーム
パルス端子を流用することが可能である。
同期方式によるデータ送受が行われている様な場合に
は、専用のパルス発生部や専用の同期出力端子を用いる
ことなしに、LSIがデータを送受信する為のフレーム
パルス端子を流用することが可能である。
【0016】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明は、LSI内
部状態を順次出力する構成を取り、又、通常実用として
用いるLSI端子を通常モード、テストモードで切替え
て用いることにより、小数のLSI出力端子にて多数の
LSI内部状態の機能確認を行うことが可能となる効果
を有する。LSIの用途によっては、本発明を構成する
その他の端子を実用の端子と容易に置き換えられる構成
を取ることが可能であり、テスト専用端子を容易に削減
出来る効果もある。
部状態を順次出力する構成を取り、又、通常実用として
用いるLSI端子を通常モード、テストモードで切替え
て用いることにより、小数のLSI出力端子にて多数の
LSI内部状態の機能確認を行うことが可能となる効果
を有する。LSIの用途によっては、本発明を構成する
その他の端子を実用の端子と容易に置き換えられる構成
を取ることが可能であり、テスト専用端子を容易に削減
出来る効果もある。
【図1】本発明の実施例に係るLSI内部状態確認回路
の構成図である。
の構成図である。
【図2】図1に示したLSI内部状態確認回路の動作を
示す波形図であり、(A)は通常モード時の各部に於け
る動作を示す波形図であり、(B)はテストモード時の
各部に於ける動作を示す波形図である。
示す波形図であり、(A)は通常モード時の各部に於け
る動作を示す波形図であり、(B)はテストモード時の
各部に於ける動作を示す波形図である。
1 出力バッファ 2 出力バッファ 3 出力バッファ 4 出力バッファ 10 シフトレジスタ 20 パルス発生部 20A カウンタ 20B 論理回路 30 モード切替端子 101 LSI内部状態 102 LSI内部状態 103 LSI内部状態 104 LSI内部状態 201 LSI外部出力端子 301 クロック信号 401 同期出力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/3185 G06F 11/22
Claims (2)
- 【請求項1】 LSI内部状態確認回路において、 該LSI内部状態確認回路の外部から、該LSI内部状
態確認回路の動作モードを通常モード及びテストモード
のいずれか一方に指定するモード切替手段と、 前記モード切替手段が動作モードを通常モードに指定す
る場合、常時Hパルスを出力信号とし、テストモードに
指定する場合、クロック信号N回(Nは2以上の自然
数)の入力につき1回のHパルスを出力信号とするパル
ス発生部と、 LSI内部状態を入力しLSI外部に出力するバッファ
と、 前記パルス発生部の出力信号をデータとして受信し、前
記バッファのイネーブル信号として出力する段数Nのシ
フトレジスタとを含むことを特徴とするLSI内部状態
確認回路。 - 【請求項2】 LSI内部状態確認回路において、 該LSI内部状態確認回路の外部から、Hパルス及びL
パルスのいずれか一方であるモード切替信号を受け取る
モード切替端子と、 クロック信号N回(Nは2以上の自然数)の入力につき
1回のHパルスをパルス信号として発生するカウンタ
と、 前記パルス信号及び前記モード切替信号を入力して論理
和を出力する論理回路と、 LSI内部状態を入力しLSI外部に出力するバッファ
と、 前記論理回路の出力信号をデータとして受信し、前記バ
ッファのイネーブル信号として出力する段数Nのシフト
レジスタとを含むことを特徴とするLSI内部状態確認
回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7051236A JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Lsi内部状態確認回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7051236A JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Lsi内部状態確認回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08248099A JPH08248099A (ja) | 1996-09-27 |
JP2815041B2 true JP2815041B2 (ja) | 1998-10-27 |
Family
ID=12881322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7051236A Expired - Lifetime JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Lsi内部状態確認回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2815041B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60187870A (ja) * | 1984-03-08 | 1985-09-25 | Nec Corp | 半導体集積論理回路 |
-
1995
- 1995-03-10 JP JP7051236A patent/JP2815041B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08248099A (ja) | 1996-09-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980715 |