JP2815041B2 - Ｌｓｉ内部状態確認回路 - Google Patents
Ｌｓｉ内部状態確認回路Info
- Publication number
- JP2815041B2 JP2815041B2 JP7051236A JP5123695A JP2815041B2 JP 2815041 B2 JP2815041 B2 JP 2815041B2 JP 7051236 A JP7051236 A JP 7051236A JP 5123695 A JP5123695 A JP 5123695A JP 2815041 B2 JP2815041 B2 JP 2815041B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lsi
- internal state
- pulse
- mode
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、装置内部にＬＳＩを採
用している機器に関し、ＬＳＩ内部状態を監視する回路
に関する。
用している機器に関し、ＬＳＩ内部状態を監視する回路
に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年のＬＳＩに於いては、機能向上、小
型化が進む一方で、外部出力の為のピン数は一般的に少
なく、ＬＳＩ内部異常検出の為のＬＳＩ外部への出力を
ＬＳＩ内部にて縮退し、ＬＳＩ外部への出力ピン数を削
減する手法が取られていた。又、ＬＳＩ内部状態監視で
は、特開昭６３−１６２７５号に示される様に専門のＬ
ＳＩ外部出力ピンを新たに用意し、ＬＳＩ内部状態を時
系列上に並べて出力させることで、ＬＳＩ内部状態の確
認を行う方式が提案されている。
型化が進む一方で、外部出力の為のピン数は一般的に少
なく、ＬＳＩ内部異常検出の為のＬＳＩ外部への出力を
ＬＳＩ内部にて縮退し、ＬＳＩ外部への出力ピン数を削
減する手法が取られていた。又、ＬＳＩ内部状態監視で
は、特開昭６３−１６２７５号に示される様に専門のＬ
ＳＩ外部出力ピンを新たに用意し、ＬＳＩ内部状態を時
系列上に並べて出力させることで、ＬＳＩ内部状態の確
認を行う方式が提案されている。
【０００３】又、特開昭６１−７３０７５に示す様に、
ＬＳＩ内部状態にアドレスを割り当て、それを指定する
為の端子を設け、アドレスを指定することにより各ＬＳ
Ｉ内部状態を外部に出力する方式も提案されている。
ＬＳＩ内部状態にアドレスを割り当て、それを指定する
為の端子を設け、アドレスを指定することにより各ＬＳ
Ｉ内部状態を外部に出力する方式も提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した特開昭６３−
１６２７５号に記載された回路方式では、専用の外部出
力端子を用意する必要が有り、少くとも１本のＬＳＩ外
部出力用端子を用意する必要がある。
１６２７５号に記載された回路方式では、専用の外部出
力端子を用意する必要が有り、少くとも１本のＬＳＩ外
部出力用端子を用意する必要がある。
【０００５】又、特開昭６１−７３０７５号に記載され
た回路方式では、外部出力端子と共にＬＳＩ内部状態に
割当てた、アドレスを指定する為のスキャンアドレス端
子を必要とする。アドレスを時系列上に並べて指定する
際でも、スキャンアドレス端子１本とアドレスデータ先
頭を指示する信号の入力端子が必要である。
た回路方式では、外部出力端子と共にＬＳＩ内部状態に
割当てた、アドレスを指定する為のスキャンアドレス端
子を必要とする。アドレスを時系列上に並べて指定する
際でも、スキャンアドレス端子１本とアドレスデータ先
頭を指示する信号の入力端子が必要である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、ＬＳＩ
内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力するバッファと、パ
ルス発生部からの入力を前記バッファのイネーブル信号
として出力するシフトレジスタと、クロック信号を入力
し前記シフトレジスタにパルス信号を出力するパルス発
生部と、前記シフトレジスタの入力を切替えるモード切
替手段とを備えることを特徴とするＬＳＩ内部状態確認
回路が得られる。
内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力するバッファと、パ
ルス発生部からの入力を前記バッファのイネーブル信号
として出力するシフトレジスタと、クロック信号を入力
し前記シフトレジスタにパルス信号を出力するパルス発
生部と、前記シフトレジスタの入力を切替えるモード切
替手段とを備えることを特徴とするＬＳＩ内部状態確認
回路が得られる。
【０００７】また、本発明によれば、前記パルス発生部
は、前記シフトレジスタに出力制御用信号を周期的に入
力するためにカウンタと論理回路を組合わせて構成され
ることを特徴とするＬＳＩ内部状態確認回路が得られ
る。
は、前記シフトレジスタに出力制御用信号を周期的に入
力するためにカウンタと論理回路を組合わせて構成され
ることを特徴とするＬＳＩ内部状態確認回路が得られ
る。
【０００８】更に、本発明によれば、前記モード切替手
段は、前記シフトレジスタの入力モードを切替える指示
を与えるためのモード切替端子であることを特徴とする
ＬＳＩ内部状態確認回路が得られる。
段は、前記シフトレジスタの入力モードを切替える指示
を与えるためのモード切替端子であることを特徴とする
ＬＳＩ内部状態確認回路が得られる。
【０００９】即ち、本発明の回路構成では、ＬＳＩ内部
状態観測点は、ＬＳＩ内部異常を検出する為に一般的に
用いられるという点に着目し、ＬＳＩ内部状態のＬＳＩ
外部への出力端子に、一般的に用いられるＬＳＩ異常を
示す端子を用い、モード切替機能を具備する事によっ
て、通常運用状態と、テスト状態とを切替えて用いる点
に特徴が有る。
状態観測点は、ＬＳＩ内部異常を検出する為に一般的に
用いられるという点に着目し、ＬＳＩ内部状態のＬＳＩ
外部への出力端子に、一般的に用いられるＬＳＩ異常を
示す端子を用い、モード切替機能を具備する事によっ
て、通常運用状態と、テスト状態とを切替えて用いる点
に特徴が有る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例に係るＬＳＩ内部状態
確認回路について、図面を参照して説明する。
確認回路について、図面を参照して説明する。
【００１１】図１は、本発明のＬＳＩ内部状態表示回路
の一実施例のブロック図、図２は（Ａ）が通常モード選
択時、（Ｂ）がテストモード選択時のタイムチャートを
示したものである。
の一実施例のブロック図、図２は（Ａ）が通常モード選
択時、（Ｂ）がテストモード選択時のタイムチャートを
示したものである。
【００１２】本実施例に係るＬＳＩ内部状態確認回路
は、ＬＳＩ内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力する出力
バッファ１、２、３、４と、シフトレジスタ１０と、ク
ロック信号３０１が入力されシフトレジスタ１０にパル
ス信号を出力するパルス発生部２０と、シフトレジスタ
１０の入力モードを切替える指示を与えるためのモード
切替端子３０とを備えている。パルス発生部２０は、シ
フトレジスタ１０に出力制御用信号を周期的に入力する
ためにカウンタ２０Ａと論理回路２０Ｂを組合わせて構
成されている。
は、ＬＳＩ内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力する出力
バッファ１、２、３、４と、シフトレジスタ１０と、ク
ロック信号３０１が入力されシフトレジスタ１０にパル
ス信号を出力するパルス発生部２０と、シフトレジスタ
１０の入力モードを切替える指示を与えるためのモード
切替端子３０とを備えている。パルス発生部２０は、シ
フトレジスタ１０に出力制御用信号を周期的に入力する
ためにカウンタ２０Ａと論理回路２０Ｂを組合わせて構
成されている。
【００１３】本実施例のＬＳＩ内部状態確認回路では、
通常モード選択指示として、モード切替端子３０をＨに
した時にはシフトレジスタ１０への入力が常時Ｈとなる
ことから、出力バッファ１、２、３、４は全てイネイブ
ル状態となり、ＬＳＩ内部状態の変化をそのまま出力す
ることになる。図１の構成例では、ＬＳＩ内部状態が全
てワイヤードＯＲされた状態で出力されるので、図２
（Ａ）のタイムチャートの様になる。即ち、ＬＳＩ内部
状態１０１〜１０４は、ワイヤードＯＲされＬＳＩ外部
出力端子２０１に出力される状態であるから、一般的に
ＬＳＩ故障検出端子等として使用される端子である。
通常モード選択指示として、モード切替端子３０をＨに
した時にはシフトレジスタ１０への入力が常時Ｈとなる
ことから、出力バッファ１、２、３、４は全てイネイブ
ル状態となり、ＬＳＩ内部状態の変化をそのまま出力す
ることになる。図１の構成例では、ＬＳＩ内部状態が全
てワイヤードＯＲされた状態で出力されるので、図２
（Ａ）のタイムチャートの様になる。即ち、ＬＳＩ内部
状態１０１〜１０４は、ワイヤードＯＲされＬＳＩ外部
出力端子２０１に出力される状態であるから、一般的に
ＬＳＩ故障検出端子等として使用される端子である。
【００１４】これがテストモード選択指示として、モー
ド切替端子３０をＬにした時は、クロック信号３０１を
用いてパルス発生部２０で任意の周期（シフトレジスタ
１０の段数）のＨパルスを発生することにより、それを
受けたシフトレジスタ１０が順次出力バッファ１、２、
３、４をイネーブルとする。その為ＬＳＩ外部出力端子
２０１には、ＬＳＩ内部状態１０１〜１０４が時系列上
に順番に出力され、図２（Ｂ）のタイムチャートの様に
なる。ここで、パルス発生部２０の出力を同期出力４０
１にて参照することにより、ＬＳＩ内部状態監視や確認
を行うことが出来る。
ド切替端子３０をＬにした時は、クロック信号３０１を
用いてパルス発生部２０で任意の周期（シフトレジスタ
１０の段数）のＨパルスを発生することにより、それを
受けたシフトレジスタ１０が順次出力バッファ１、２、
３、４をイネーブルとする。その為ＬＳＩ外部出力端子
２０１には、ＬＳＩ内部状態１０１〜１０４が時系列上
に順番に出力され、図２（Ｂ）のタイムチャートの様に
なる。ここで、パルス発生部２０の出力を同期出力４０
１にて参照することにより、ＬＳＩ内部状態監視や確認
を行うことが出来る。
【００１５】又、ＬＳＩに対しフレームパルスを用いた
同期方式によるデータ送受が行われている様な場合に
は、専用のパルス発生部や専用の同期出力端子を用いる
ことなしに、ＬＳＩがデータを送受信する為のフレーム
パルス端子を流用することが可能である。
同期方式によるデータ送受が行われている様な場合に
は、専用のパルス発生部や専用の同期出力端子を用いる
ことなしに、ＬＳＩがデータを送受信する為のフレーム
パルス端子を流用することが可能である。
【００１６】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明は、ＬＳＩ内
部状態を順次出力する構成を取り、又、通常実用として
用いるＬＳＩ端子を通常モード、テストモードで切替え
て用いることにより、小数のＬＳＩ出力端子にて多数の
ＬＳＩ内部状態の機能確認を行うことが可能となる効果
を有する。ＬＳＩの用途によっては、本発明を構成する
その他の端子を実用の端子と容易に置き換えられる構成
を取ることが可能であり、テスト専用端子を容易に削減
出来る効果もある。
部状態を順次出力する構成を取り、又、通常実用として
用いるＬＳＩ端子を通常モード、テストモードで切替え
て用いることにより、小数のＬＳＩ出力端子にて多数の
ＬＳＩ内部状態の機能確認を行うことが可能となる効果
を有する。ＬＳＩの用途によっては、本発明を構成する
その他の端子を実用の端子と容易に置き換えられる構成
を取ることが可能であり、テスト専用端子を容易に削減
出来る効果もある。
【図１】本発明の実施例に係るＬＳＩ内部状態確認回路
の構成図である。
の構成図である。
【図２】図１に示したＬＳＩ内部状態確認回路の動作を
示す波形図であり、（Ａ）は通常モード時の各部に於け
る動作を示す波形図であり、（Ｂ）はテストモード時の
各部に於ける動作を示す波形図である。
示す波形図であり、（Ａ）は通常モード時の各部に於け
る動作を示す波形図であり、（Ｂ）はテストモード時の
各部に於ける動作を示す波形図である。
１ 出力バッファ ２ 出力バッファ ３ 出力バッファ ４ 出力バッファ １０ シフトレジスタ ２０ パルス発生部 ２０Ａ カウンタ ２０Ｂ 論理回路 ３０ モード切替端子 １０１ ＬＳＩ内部状態 １０２ ＬＳＩ内部状態 １０３ ＬＳＩ内部状態 １０４ ＬＳＩ内部状態 ２０１ ＬＳＩ外部出力端子 ３０１ クロック信号 ４０１ 同期出力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/3185 G06F 11/22
Claims (2)
- 【請求項１】 ＬＳＩ内部状態確認回路において、 該ＬＳＩ内部状態確認回路の外部から、該ＬＳＩ内部状
態確認回路の動作モードを通常モード及びテストモード
のいずれか一方に指定するモード切替手段と、 前記モード切替手段が動作モードを通常モードに指定す
る場合、常時Ｈパルスを出力信号とし、テストモードに
指定する場合、クロック信号Ｎ回（Ｎは２以上の自然
数）の入力につき１回のＨパルスを出力信号とするパル
ス発生部と、 ＬＳＩ内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力するバッファ
と、 前記パルス発生部の出力信号をデータとして受信し、前
記バッファのイネーブル信号として出力する段数Ｎのシ
フトレジスタとを含むことを特徴とするＬＳＩ内部状態
確認回路。 - 【請求項２】 ＬＳＩ内部状態確認回路において、 該ＬＳＩ内部状態確認回路の外部から、Ｈパルス及びＬ
パルスのいずれか一方であるモード切替信号を受け取る
モード切替端子と、 クロック信号Ｎ回（Ｎは２以上の自然数）の入力につき
１回のＨパルスをパルス信号として発生するカウンタ
と、 前記パルス信号及び前記モード切替信号を入力して論理
和を出力する論理回路と、 ＬＳＩ内部状態を入力しＬＳＩ外部に出力するバッファ
と、 前記論理回路の出力信号をデータとして受信し、前記バ
ッファのイネーブル信号として出力する段数Ｎのシフト
レジスタとを含むことを特徴とするＬＳＩ内部状態確認
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7051236A JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Ｌｓｉ内部状態確認回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7051236A JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Ｌｓｉ内部状態確認回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08248099A JPH08248099A (ja) | 1996-09-27 |
| JP2815041B2 true JP2815041B2 (ja) | 1998-10-27 |
Family
ID=12881322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7051236A Expired - Lifetime JP2815041B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | Ｌｓｉ内部状態確認回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2815041B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60187870A (ja) * | 1984-03-08 | 1985-09-25 | Nec Corp | 半導体集積論理回路 |
-
1995
- 1995-03-10 JP JP7051236A patent/JP2815041B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08248099A (ja) | 1996-09-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980715 |