JP3090053B2 - 回路データ用モニタ装置 - Google Patents

回路データ用モニタ装置

Info

Publication number
JP3090053B2
JP3090053B2 JP08190725A JP19072596A JP3090053B2 JP 3090053 B2 JP3090053 B2 JP 3090053B2 JP 08190725 A JP08190725 A JP 08190725A JP 19072596 A JP19072596 A JP 19072596A JP 3090053 B2 JP3090053 B2 JP 3090053B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
data
monitor
latch
clock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08190725A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1040126A (ja
Inventor
耕三 本田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP08190725A priority Critical patent/JP3090053B2/ja
Publication of JPH1040126A publication Critical patent/JPH1040126A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3090053B2 publication Critical patent/JP3090053B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路動作のモニタ
回路に係り、特に、回路中における複数箇所のデータを
モニタするための回路データ用モニタ装置に関するもの
である。
【0002】対象とするディジタル回路についてのデバ
ッグや、障害発生時の原因究明を行うためには、エラー
発生時に、回路中における、できるだけ多数の箇所のデ
ータをモニタして解析することが有効である。
【0003】このような回路データ用モニタ装置におい
ては、回路規模の大幅な増大を伴うことなしに、多数箇
所のデータをモニタすることが可能な回路データ用モニ
タ装置に対する必要性が生じている。
【0004】
【従来の技術】図3は、従来の回路データ用モニタ装置
を示す回路ブロック図を示す。この従来例では、データ
12(32ビット)に対して順次に演算を行う第1の演
算回路部61,第2の演算回路部62,第3の演算回路
部63の各出力データ(32ビット)をモニタする回路
データ用モニタ装置が例示されている。
【0005】この図3に示すように、従来の回路データ
用モニタ装置においては、ディジタル回路における複数
のモニタ箇所(演算回路部)61〜63の出力をモニタ
する箇所ごとに、それぞれ、演算結果をラッチする第1
のラッチ回路71,第2のラッチ回路72および第3の
ラッチ回路73と、各ラッチ結果を蓄積する第1のメモ
リ回路81,第2のメモリ回路82,および第3のメモ
リ回路83と、前述したラッチ結果をメモリに書き込む
ための制御を行う第1のメモリ書き込み制御回路91,
第2のメモリ書き込み制御回路92,および第3のメモ
リ書き込み制御回路93とを、それぞれ備えている。
【0006】一方、回路中の多数箇所のデータをモニタ
する方法の別の例として、マイクロプロセッサの故障検
出のために、通常実行モードに設定したマイクロプロセ
ッサの診断用データと監視実行モードに設定したマイク
ロプロセッサの診断用データとの一致を検出することに
よって、通常実行モードに設定したマイクロプロセッサ
の障害を検出する方法(特開平6−75812号公報)
が知られている。
【0007】また、複数個のノードが二重化されたトー
クン・リング伝送路に従続接続されたトークン・リング
装置において、各ノードにおける、二重化されたリング
伝送路とのインタフェースを行う2系統のトークン・リ
ングインタフェース部に、各系統ごとのデータフレーム
送受信状態を格納する記憶手段と、自系統の記憶手段と
他系統の記憶手段の内容を選択して監視ノードに返送す
るセレクタ手段とを設けることによって、装置内の障害
を早期に検出する方式(特開昭64−16146号公
報)が知られている。
【0008】さらに、共振回路の一部を形成するコイル
からなる複数のセンサを用いて、被測定物の接近や有無
等の状態を検出する状態表示回路を形成し、この状態表
示回路に異常が発生した場合に、回路の主要部を分離し
て診断することによって、その異常箇所を表示する故障
分離診断装置(特開昭63−42479号公報)が知ら
れている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3に
記載された従来例においては、モニタ個所とメモリ回路
とが1対1に接続されているため、モニタ個所ごとに、
メモリ回路とメモリ書き込み制御回路等が必要であっ
て、回路規模が大きくなり、このため、モニタ個所の数
が制限されるという不都合が生じていた。
【0010】また、特開平6−75812号公報に開示
されたマイクロプロセッサの故障検出装置は、マイクロ
プロセッサの故障検出には適しているが、本発明が対象
とするバス接続された論理回路システムの状況モニタと
しては不適切なものとなっている。また、特開昭64−
16146号公報に開示されたトークン・リング装置
は、トークン・リング装置の障害検出には有効である
が、本発明の課題解決に寄与するものではない。さら
に、特開昭63−42479号公報に開示された故障分
離診断装置は、特別のセンサを有する状態表示回路には
適しているが、バス接続された論理回路システムの状況
モニタとして用いることはできない。
【0011】
【発明の目的】本発明は、かかる従来例の有する不都合
を改善し、とくに多数個所における回路データのモニタ
を同時に行うことでき、且つ多数箇所のモニタデータ
を同一時刻において収集して比較することによって回路
障害の解析を効率的に行うことができ、同時に装置全体
の小型化を図った回路データ用モニタ装置を提供するこ
とを、その目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明では、ディジタル回路における
複数のモニタ箇所(演算回路部)に対応して設けられ各
モニタデータを互いにずれたラッチタイミングでラッチ
する複数のラッチ回路と、当該各ラッチ回路に併設され
前記ラッチタイミングを各ラッチ回路ごとにずらして
えるラッチタイミング発生回路と、前記各ラッチ回路
順次ラッチされたモニタデータを順次転送するモニタデ
ータバスと、このモニタデータバスから転送されてきた
モニタデータを選択して時分割でメモリ回路に書き込む
メモリ書き込み制御回路とを備えている。そして、ディ
ジタル回路における複数のモニタ箇所のモニタデータを
同一のメモリ回路に収集する、という構成を採ってい
る。
【0013】このため、この請求項1記載の発明では、
例えば図1において、複数の演算回路部1〜3の各演算
結果を個別にラッチする第1乃至第3の各ラッチ回路1
1〜13を、まずモニタデータ用バス7に接続し、それ
ぞれの第1乃至第3の各ラッチ回路11〜13に対し
て、対応する第1〜第3の各ラッチタイミング発生回路
21〜23から、それぞれラッチタイミングT1
2 ,T3 を与えることによって、各モニタ個所からモ
ニタデータを時分割でバス7に出力し、メモリ書き込み
制御回路8で取得したいモニタデータを選択して、バス
7からメモリ回路9に接続し、これによって、メモリ回
路9に書き込むようにする。
【0014】従って、この請求項1記載の発明によれ
ば、データモニタ箇所ごとのメモリ回路とメモリ書き込
み制御回路とを必要とせず、1個のメモリ回路9とメモ
リ書き込み制御回路8を用いて、複数箇所のモニタデー
タをすべて収集することができ、このため、多数箇所の
データモニタを行う場合でも、回路規模の大幅な増大を
伴うことなしに、回路データ用モニタ装置を実現するこ
とができる。
【0015】請求項2記載の発明では、前述した請求項
1の記載の回路データ用モニタ装置において、メモリ書
き込み制御回路をプログラマブルにすることによって、
前述したディジタル回路における特定箇所のモニタデー
タを選択的に収集する、という構成を採っている。
【0016】このため、この請求項2記載の発明では、
メモリ書き込み制御回路の作用によって必要箇所のデー
タだけを選択して取り込むことができ、これがため、一
箇所当たりのモニタ時間(メモリに書き込むデータ量に
対応)を任意に増大することができ、モニタを効率良く
行うことができる。
【0017】請求項3記載の発明では、前述した請求項
1又は2に記載の回路データ用モニタ装置において、複
数の各ラッチタイミング発生回路が、送り込まれる第1
のクロックとその逓倍クロックである第2のクロックと
を入力すると共に、前記第1のクロックを整数分周した
タイミングで前記各ラッチ回路に対するラッチタイミン
グを順次発生する、という構成を採っている。
【0018】このため、この請求項3記載の発明では、
前述した請求項1又は2記載の発明と同等に機能するほ
か、各モニタ個所からのモニタデータを時分割で迅速に
且つ高精度にバス7に出力することができ、かかる点に
おいて信頼性の向上を図ることができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
1乃至図2に基づいて説明する。
【0020】まず、図1において、符号1乃至3は、そ
れぞれディジタル回路における複数のモニタ箇所(演算
回路部)を示す。また、符号11,12,13は、前述
した各演算回路部1乃至3に対応して設けられ当該各演
算回路部1乃至3からのモニタデータをラッチするラッ
チ回路を示す。この各ラッチ回路11,12,13に
は、当該各ラッチ回路11〜13にてラッチされるモニ
タデータのラッチタイミングを与えるラッチタイミング
発生回路21,22,23が、それぞれ個別に併設され
ている。
【0021】この各ラッチタイミング発生回路21,2
2,23は、クロックCL1 ,クロックCL2 によっ
て、各ラッチ回路11〜13に対するラッチタイミング
1 ,T2 ,T3 (図2参照)を個別に発生するように
なっている。ここで、クロックCL2 は、前述したクロ
ックCL1 の逓倍クロックからなっている。
【0022】符号7は前述した各ラッチ回路11〜13
のラッチデータを転送するモニタデータ用バスを示す。
また、符号8は、モニタデータ用バス7のモニタデータ
を選択して時分割でメモリ回路9に書き込むメモリ書き
込み制御回路を示す。そして、この図1においては、デ
ィジタル回路における複数のモニタ箇所(演算回路部)
1〜3の各モニタデータを同一のメモリ回路9に収集す
るようになっている。
【0023】次に、上記実施形態における各部および全
体的な動作等について説明する。
【0024】前述したようにラッチタイミング発生回路
21〜23は、クロックCL1 ,CL2 によって、各演
算回路部1乃至3からの演算結果のデータを、それぞれ
ラッチ回路11〜13においてラッチするための、ラッ
チタイミングT1 〜T3 を出力する(図2参照)。
【0025】ラッチ回路11は、ラッチタイミング発生
回路21で発生するラッチタイミングT1 の立ち上がり
で、演算回路部1の出力をラッチし、そのハイレベルの
期間でバス7にモニタデータを出力する。また、バス7
にモニタデータが流れている期間に、メモリ書き込み制
御回路8はこのモニタデータをラッチし、メモリ回路9
に書き込む。図2中で、記号Aは演算回路部1に対する
データモニタのタイミングを示している。
【0026】同様に、演算回路部2,演算回路部3の各
演算結果の出力データは、それぞれラッチタイミングT
2 ,T3 に同期してメモリ回路9に書き込まれる。図2
中、記号B,Cは、それぞれ演算回路部2,3に対す
る、データモニタのタイミングを示している。
【0027】このように、図1に示された回路データ用
モニタ装置では、複数個所のモニタデータが、時分割で
メモリ回路に書き込まれるため、同時刻のデータ比較を
容易に行うことができる。
【0028】また、メモリ書き込み制御回路8におい
て、必要箇所のデータだけを選択して取り込むことがで
き、1箇所あたりのモニタ時間(メモリに書き込むデー
タ量)を任意に増大することができる。
【0029】そして、このように、メモリ書き込み制御
回路8をプログラマブルにすることによって、モニタデ
ータの選択機能を持たせるようにすることができ、エラ
ー発生前後の特定箇所のモニタを行う等,エラー状況に
応じて必要なデータだけのモニタを効率よく行うことが
できる。
【0030】更に、データの転送をバス構造によって行
ない、かつモニタデータの格納を、一つのメモリ回路9
にまとめて行うようにしたので、多数箇所のデータモニ
タを行う場合でも、回路規模の大幅な増大を伴わずに、
回路データ用モニタ装置を実現することができる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
各個所のモニタ出力をバス上にまとめることにより、モ
ニタデータを格納するメモリ回路とメモリ回路へのデー
タの書き込み制御を行うメモリ書き込み制御回路とが、
それぞれ1個ですむこととなり、これがため、多数箇所
のデータをモニタする場合でも、回路規模の増大を確実
抑制することができる。
【0032】更に、多数のモニタ箇所における同時刻の
データを,時分割によって一度に取得することができる
ようにしたので、障害の解析をはじめ各種の解析効率
良く行うことができるという従来にない優れた回路デー
タ用モニタ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を示す回路ブロック図で
ある。
【図2】図1に開示した装置の動作を示す図(タイムチ
ャート)である。
【図3】従来例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1,2,3 ディジタル回路におけるモニタ箇所(演算
回路部) 7 モニタデータ用バス 8 メモリ書き込み制御回路 9 メモリ回路 11,12,13 ラッチ回路 21,22,23 ラッチタイミング発生回路 CL1 ,CL2 クロック T1 ,T2 ,T3 ラッチタイミング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 11/22 - 11/34 G01R 31/28 - 31/30 H04L 25/02

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディジタル回路における複数のモニタ箇
    所に対応して設けられ各モニタデータを互いにずれたラ
    ッチタイミングでラッチする複数のラッチ回路と、当該
    各ラッチ回路に併設され前記ラッチタイミングを各ラッ
    チ回路ごとにずらして与えるラッチタイミング発生回路
    と、前記各ラッチ回路で順次ラッチされたモニタデータ
    順次転送するモニタデータバスとを備え、 このモニタデータバスから転送されてきたモニタデータ
    を選択して時分割でメモリ回路に書き込むメモリ書き込
    み制御回路を装備し、 前記ディジタル回路における複数のモニタ箇所のモニタ
    データを同一のメモリ回路に収集することを特徴とした
    回路データ用モニタ装置。
  2. 【請求項2】 前記請求項1記載の回路データ用モニタ
    装置において、前記メモリ書き込み制御回路をプログラ
    マブルにすることによって、前記ディジタル回路におけ
    る特定箇所のモニタデータを選択的に収集することを特
    徴とした回路データ用モニタ装置。
  3. 【請求項3】 前記請求項1又は2記載の回路データ用
    モニタ装置において、前記ラッチタイミング発生回路
    が、第1のクロックとその逓倍クロックである第2のク
    ロックとを出力すると共に、前記第1のクロックを整数
    分周したタイミングで、前記各ラッチ回路に対するラッ
    チタイミングを発生することを特徴とした回路データ用
    モニタ装置。
JP08190725A 1996-07-19 1996-07-19 回路データ用モニタ装置 Expired - Fee Related JP3090053B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08190725A JP3090053B2 (ja) 1996-07-19 1996-07-19 回路データ用モニタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08190725A JP3090053B2 (ja) 1996-07-19 1996-07-19 回路データ用モニタ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1040126A JPH1040126A (ja) 1998-02-13
JP3090053B2 true JP3090053B2 (ja) 2000-09-18

Family

ID=16262778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08190725A Expired - Fee Related JP3090053B2 (ja) 1996-07-19 1996-07-19 回路データ用モニタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3090053B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009129368A (ja) * 2007-11-27 2009-06-11 Ricoh Co Ltd 半導体集積回路の検証装置、方法及びプログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009129368A (ja) * 2007-11-27 2009-06-11 Ricoh Co Ltd 半導体集積回路の検証装置、方法及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1040126A (ja) 1998-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0548494B2 (ja)
JPS60124744A (ja) エラ−・テスト及び診断装置
JP2007078689A (ja) システムオンチップの故障診断装置及び方法と故障診断の可能なシステムオンチップ
WO2007036117A1 (en) Chaîne de balayage de l'état du circuit, système de collecte de données et procédé d'émulation
JPS58225453A (ja) 診断回路の誤り検出方式
JP3090053B2 (ja) 回路データ用モニタ装置
JPS5836365B2 (ja) インタ−フエ−スソウチ
JPH11272627A (ja) パイプライン型マルチプロセッサシステム
JP2006251895A (ja) バスインタフェース回路
JPH1164450A (ja) 半導体試験装置
JP2740492B2 (ja) Lsi間非同期データ転送回路
JPH0325229Y2 (ja)
JP3569151B2 (ja) 交換機および診断方法
JP2000338188A (ja) 半導体集積回路の試験回路
JPH0290744A (ja) 通信システム自己診断装置
JPS602699B2 (ja) 情報処理装置
JPH0344781A (ja) 大規模集積回路
JP2815041B2 (ja) Lsi内部状態確認回路
JPH0660885U (ja) 情報表示装置
JP3156249B2 (ja) 障害検出回路の診断方式
JPS62119651A (ja) Ras回路診断方式
JPS61235956A (ja) 事象記録方式
JPS60239835A (ja) 論理回路の故障診断方式
JPH0728238B2 (ja) 多重化自動切替装置
JPS62203244A (ja) ハ−ドウエア診断方式

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000620

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees