JP2748909B2 - Ｉｃ挿入チェック付きテストソケット - Google Patents

Ｉｃ挿入チェック付きテストソケット

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JP2748909B2
JP2748909B2 JP7274331A JP27433195A JP2748909B2 JP 2748909 B2 JP2748909 B2 JP 2748909B2 JP 7274331 A JP7274331 A JP 7274331A JP 27433195 A JP27433195 A JP 27433195A JP 2748909 B2 JP2748909 B2 JP 2748909B2
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test
socket
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contact plate
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JP7274331A
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信孝 芹口
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＩＣ挿入チェック付
きテストソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、従来例のＩＣ挿入チェック付き
テストソケットによるテスト中を示す斜視図である。
【０００３】従来のＩＣ挿入チェック付きテストソケッ
トは、ＩＣを挿入するテストソケットの被差込み端子に
それぞれ対応してこれらの端子に接続されるチェック用
端子が、テスト時の被テストＩＣの端面の位置よりも外
側に設けられている。この構造では、被測定ＩＣ１６の
外部導出ピン１６ａとチェック端子１４との接続が確実
かどうか不明の状態のままでチェック端子１４で信号波
形の観測を行っているので、故障の発見が遅れトラブル
の原因となる虞があるという欠点がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】以上のように従来の技
術においては、被測定ＩＣの端子とテスト端子が確実に
連絡されているか不明のままテストが行われるのでテス
ト端子での正しい信号波形観測ができない。
【０００５】そこで本発明の目的は、ＩＣを挿入すると
ＩＣの各端子に対応したテスト端子がソケット内から外
に突出する構造とすることにより、上述の欠点がなく、
ＩＣ端子の折れ、曲がり等がないことを確認することが
でき、テスト端子での信号波形を正しく観測することが
可能なＩＣ挿入チェック付きテストソケットを提供する
ことである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣ挿入チェッ
ク付きソケットは、該ソケット内の差込み用の全テスト
端子には、被測定ＩＣの全端子に対応し、テスト端子軸
に対し横方向の接触板が付設され、被測定ＩＣをソケッ
トに挿入したとき該ＩＣの端子の先端部が接触板を旋回
させ、テスト端子をソケット内から突出させる構造を有
することを特徴としている。
【０００７】なお、このＩＣ挿入チェック付きテストソ
ケットは、接触板の旋回の中心が外部接触端子の根元端
であるものであることが望ましい。
【０００８】
【発明の実施の形態】被測定ＩＣのリード端子先端部が
ソケット内の接触板に触れると、この接触板を旋回させ
テスト端子を外に突出させる手段により、ＩＣがソケッ
トに正常にセットされているか否かを容易に確認できる
ので、テスト端子を使用して信号波形のチェックが可能
となる。したがってＩＣ端子の折れ、曲がり等の無い場
合にはテスト端子での信号波形を正しく観測できる。
【０００９】
【実施例】次ぎに、本発明の実施例について図面を参照
して説明する。
【００１０】図１は、本発明のＩＣ挿入チェック付きテ
ストソケットの一実施例の斜視図、図２は、図１の線Ａ
−Ａに沿った拡大断面図、図３は、本実施例による被測
定ＩＣのテスト中を示す斜視図である。
【００１１】図１ないし図３に示すように、本発明のＩ
Ｃ挿入チェック付きテストソケット１は、該ソケット１
の差込み用の全テスト端子４の下端部には、被測定ＩＣ
６の全端子１０に対応し、テスト端子４の軸とほぼ直角
方向をなす接触板４ａが付設され、被測定ＩＣ６をソケ
ット１のＩＣ端子挿入用穴２に挿入したときこのＩＣの
先端部が接触板４を旋回させ、それにより、テスト端子
４をソケット内から突出させる構造を有する。
【００１２】次ぎに本実施例の動作を説明する。
【００１３】図２のＩＣ端子挿入用穴２にＩＣを挿入す
るとＩＣの先端部が接触板４ａに接触すると、この接触
板４ａが、外部接続端子５の根元端に接する点を旋回中
心４ｂとして旋回し、テスト端子４がソケット内から上
方に突出する。図３に示すようにテスト端子４にプロー
ブ８を当てて信号波形を観測している例を示す。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ソケット
内の差込み全端子には、被測定ＩＣの全端子に対応し、
横方向の接触板を付着させた構造とすることにより、Ｉ
Ｃを挿入するとＩＣの端子の先端が接触板に触れ接触板
を旋回させテスト端子が突出するので、テスト端子を使
用して被測定ＩＣの信号波形を確実に観測できるＩＣ挿
入チェック付きテストソケットを提供できる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＩＣ挿入チェック付きテストソケット
の一実施例の斜視図である。
【図２】図１の線Ａ−Ａに沿った拡大断面図である。
【図３】本実施例による被測定ＩＣのテスト中を示す斜
視図である。
【図４】従来例のＩＣ挿入チェック付きテストソケット
によるテスト中を示す斜視図である。
【符号の説明】
１，１１ ＩＣ挿入チェック付きテストソケット ２ ＩＣ端子挿入用穴 ３ テスト端子突出口 ４，１４ テスト端子 ４ａ 接触板 ４ｂ 旋回中心 ５ 外部接続端子 ６，１６ 被測定ＩＣ ７ ＧＮＤ端子 ８ プローブ ９ プローブチェック端子 １０ 被測定ＩＣ端子 １６ａ 被測定ＩＣの外部導出ピン

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ＩＣ挿入チェック付きソケットにおい
    て、該ソケット内の差込み用の全テスト端子には、被測
    定ＩＣの全端子に対応し、前記テスト端子軸に対し横方
    向の接触板が付設され、前記被測定ＩＣを前記ソケット
    に挿入したとき該ＩＣの端子の先端部が前記接触板を旋
    回させ、前記テスト端子を前記ソケット内から突出させ
    る構造を有することを特徴とするＩＣ挿入チェック付き
    ソケット。
  2. 【請求項２】 前記接触板の旋回の中心が外部接触端子
    の根元端である請求項１記載のＩＣ挿入チェック付きソ
    ケット。
JP7274331A 1995-10-23 1995-10-23 Ｉｃ挿入チェック付きテストソケット Expired - Lifetime JP2748909B2 (ja)

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JPH09115629A JPH09115629A (ja) 1997-05-02
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