JP2749788B2

JP2749788B2 - 差込式試験端子用プラグ

Info

Publication number: JP2749788B2
Application number: JP7042789A
Authority: JP
Inventors: 留秋山; 中島　　茂; 章宏志萱
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1995-03-02
Filing date: 1995-03-02
Publication date: 1998-05-13
Anticipated expiration: 2013-05-13
Also published as: JPH08240612A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、試験回路を差込式試験
端子に抜き差しして接続する差込式試験端子用プラグに
関し、特に小型化を図れるとともに、試験回路のプラグ
への接続を簡単に、かつ、短時間で行えるようにした差
込式試験端子用プラグに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、導電線の電流を測定する場合に
は、図11に示すように、その導電線に巻き付けたコイル
に誘起された電流を電流計101 で検出する電流測定回路
（以下、ＣＴ回路という）が設けられ、複数の導電線の
間の電圧を測定する場合には、図５に示すように、導電
線間に接続されたトランスの二次電圧を電圧計102 で測
定する電圧測定回路（以下、ＰＴ回路という）が設けら
れる。

【０００３】そして、これらの電流計101 や電圧計102
に異常があるかないかを試験したり、これらの電流計10
1 や電圧計102の補正をするために差込式試験用ソケッ
ト103が設けられ、このソケット103 に適正な電流計104
を介在させたＣＴ試験回路106や適正な電圧計105 を介
在させたＰＴ試験回路107 が例えば図10に示す差込式試
験端子用プラグ108 を介して接続される。

【０００４】例えば図11および図12に示すように、前記
ソケット103 は、プラグ108 を抜き取った状態では互い
に接続され、プラグ108 を差し込んだ状態では互いに絶
縁される１対のソケット端子109 ａ・109 ｂと、両ソケ
ット端子109 ａ・109 ｂを断続させる１対のスイッチ端
子109 ｃ・109 ｄとを有する複数（ここでは２つ）の単
体ソケット103 Ａ・103 Ｂを備える。

【０００５】また、前記プラグ108 は、各単体ソケット
103 Ａ・103 Ｂのソケット端子109ａ・109 ｂに対応す
る各ラグ端子からなる１対のプラグ端子110 ａ・110 ｂ
と、これら対をなすプラグ端子110 ａ・110 ｂの間に配
置され、プラグ108 をソケット103 に差し込んだ時に前
記スイッチ端子109 ｃ・109 ｂの間に突入して両スイッ
チ端子109 ｃ・109 ｄ間を絶縁する絶縁ラグ110 ｃとを
有する２つの単体プラグ108 Ａ・108 Ｂを備える。

【０００６】通常、これら単体ソケット103 Ａ・103 Ｂ
どうし、あるいは、単体プラグ108Ａ・108 Ｂどうしは
各単体ソケット103 Ａ・103 Ｂのソケット端子109 ａ・
109ｂ、あるいは、単体プラグ108 Ａ・108 Ｂのプラグ
端子110 ａ・110 ｂが並ぶ方向と直角方向（以下、厚さ
方向という）に並べて、その両外側に配置される側面プ
レートと共に通しボルトなどによって一体に連結され
る。

【０００７】また、前記プラグ108 の各プラグ端子110
ａ・110 ｂへのＣＴ試験回路106 の各リード線106 ａ〜
106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路107 の各リード線107
ａ〜107 ｄは、図10に示すように、単体プラグ108 Ａ・
108 Ｂの絶縁ケース111 外に突出させた接続端子112
に、これに螺合される押さえナット113 で締め付けるこ
とにより各プラグ端子108 ａ・108 ｂに接続されてい
る。

【０００８】この押さえナット113 は、指でつまんでね
じ回すことができるように、接続端子112 に螺合される
通常の六角ナットの外径よりも大径に形成され、また、
締め込んだ時に接続端子112 が露出しないように接続端
子112 の突出量よりも長く形成されている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の差
込式試験端子用プラグ107 では、押さえナット113 が接
続端子112 に螺合される通常の六角ナットの外径よりも
大径に形成され、また、接続端子112 の突出量よりも長
く形成されているので、各単体プラグ108 Ａ・108 Ｂの
厚さ方向の厚さが分厚くなり、また、プラグ108 を抜き
差しする方向（以下、挿抜方向という）にも長くなり、
輸送や保管に必要なスペースが大きくなるという問題が
ある。

【００１０】また、各接続端子112 にＣＴ試験回路106
のリード線106 ａ〜106 ｄ、あるいは、ＰＴ試験回路10
7 のリード線107 ａ〜107 ｄの端部を固定したり、取外
したりするためには、押さえナット113 を緩めたり、締
め込んだりする必要があり、作業性を高める上で不利に
なる。本発明は、上記の事情を考慮してなされたもので
あり、ＣＴ試験回路、あるいは、ＰＴ試験回路の接続お
よび解離の作業性を高めることができ、しかも、小型に
できるようにした差込式試験端子用プラグを提供するこ
とを目的とするものである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の差込式試験端子
用単体プラグは、絶縁ケースと、この絶縁ケースに互い
に絶縁状に、かつ、先端部が絶縁ケースの前方に突出す
るように保持され、試験回路から導出されたリード線が
接続される上下対をなすプラグ端子とを備える差込式試
験端子用プラグにおいて、上記の目的を達成するため、
次のような手段を講じている。

【００１２】すなわち、各プラグ端子に、試験回路のリ
ード線の端末に結合され、絶縁ケースの後方から差し込
まれたプラグコンタクトが接続される外線接合部と、絶
縁ケースの後方から差し込まれる短絡クリップを介して
他方のプラグコンタクトと接続される端子短絡用接合部
とが設けられることを特徴としている。

【００１３】

【作用】本発明においては、各プラグ端子に試験回路の
リード線の端末に結合され、絶縁ケースの後方から差し
込まれたプラグコンタクトが接続される外線接合部を設
けているので、試験回路のリード線の端末に結合された
プラグコンタクトを絶縁ケースの後方から差し込むこと
により試験回路のリード線がプラグ端子に接続される。

【００１４】また、絶縁ケースの後方から差し込まれる
短絡クリップを介して他方のプラグコンタクトと接続さ
れる端子短絡用接合部が設けられるので、絶縁ケースの
後方から両プラグ端子の端子短絡用接合部に短絡クリッ
プを差し込むことにより両プラグ端子が短絡される。つ
まり、絶縁ケースの後方に試験回路の電流計あるいは電
圧計のリード線の端末に結合したプラグコンタクトを差
し込んだり、短絡クリップを差し込んだりすることによ
り、簡単に、かつ、短時間での操作で試験回路とプラグ
とを結合できることになる。

【００１５】しかも、本発明においては、絶縁ケースの
後面から突出する接続端子やこれに螺合されるナットな
どが設けられていないので、プラグを厚さ方向にも、挿
抜方向にも小さくできる。

【００１６】

【実施例】本発明の一実施例に係る差込式試験端子用プ
ラグを図面に基づいて具体的に説明すれば、以下の通り
である。図１の側面図に示す本発明の一実施例に係るプ
ラグ１は、絶縁ケース２の前面に突設した絶縁ラグ３
と、この絶縁ラグ３を中心にして上下対称の位置で絶縁
ケース２の前方に突出するように、かつ、互いに絶縁状
に絶縁ケース２に支持される１対のラグ端子からなるプ
ラグ端子４・５を備える。

【００１７】第１のプラグ端子としての上側のプラグ端
子４は絶縁ケース２内で後端部を上方に折り上げてあ
り、この折上げ部分に絶縁ケース２の後方から絶縁ケー
ス２内に差し込まれたプラグコンタクト６を接合する外
線接合部７が形成される。また、第２のプラグ端子とし
ての下側のプラグ端子５は絶縁ケース２内で上側にコ字
形に折り返され、このコ字形の立上がり部分に、絶縁ケ
ース２の後方から絶縁ケース２内に差し込まれたプラグ
コンタクト６が接合される下側の外線接合部７が形成さ
れる。

【００１８】下側のプラグ端子５の上側の折返し部分
と、これに上側から対向する上側のプラグ端子４の基部
とに絶縁ケース２の後方から絶縁ケース２内に差し込ま
れる短絡クリップ８により互いに接合される端子短絡用
接合部９が構成される。上記絶縁ケース２およびプラグ
端子４・５はそれぞれ１つずつが組になって単体プラグ
10Ａ〜10Ｄを構成し、例えば４つの単体プラグ10Ａ〜10
Ｄが、各単体プラグ10Ａ〜10Ｄの両プラグ端子４・５間
の中心線が一直線状に位置するように厚さ方向に並べら
れ、その厚さ方向両外側に配置される側面プレート20と
ともに例えば通しボルトによって一体に組み付けること
により１つの差込式試験端子用プラグ１を構成する。

【００１９】図１に示すように、このプラグ１には、更
に、各絶縁ケース２内で下側のプラグ端子５よりもさら
に下方に位置させて、各単体プラグ10Ａ〜10Ｄのプラグ
端子５に共通に対向する短絡バー11が設けられ、この短
絡バー11とこれに対向する各下側のプラグ端子５の基部
とにコモン接続用接合部12が設けられる。そして、所要
の複数の単体プラグ10Ａ〜10Ｄのコモン接続用接合部12
の間にそれぞれ短絡クリップ８を当該単体プラグ10Ａ〜
10Ｄの絶縁ケース２の後方から、絶縁ケース２の後壁に
形成された短絡クリップ用挿抜孔２ｄを通して短絡クリ
ップ８を差し込むことにより、異なる単体プラグ10Ａ〜
10Ｄの下側のプラグ端子５どうしを接続できるようにし
ている。

【００２０】つまり、所要の複数のコモン接続用接合部
12に短絡クリップを挿入することにより、その複数の下
側のプラグ端子５どうしを簡単に、かつ、短時間で接続
させることができ、プラグ１に接続される外部回路の構
成を簡単にできるとともに、その配線作業の作業性を高
めることができる。また、上記絶縁ケース２には、これ
らプラグコンタクト用挿抜孔２ａ・２ｃおよび短絡クリ
ップ用挿抜孔２ｂ・２ｄを横断するように上下に進退す
る係止具13と、この係止具13を下方に付勢する板バネ14
とが支持される。

【００２１】図13に示すように、この係止具13は平面視
においてＬ字形に折り曲げられた側縁部材13ａと、この
側縁部材13ａから櫛歯状に連出された係止部材13ｂ〜13
ｅおよび操作部材13ｆとを備え、最上位の係止部材13ｂ
には左右に突出するストップ15が形成される。このスト
ップ15が絶縁ケース２に設けた受部16に受け止められる
ことにより、上記係止具13の下方への移動が各プラグコ
ンタクト用挿抜孔２ａ・２ｃおよび短絡クリップ用挿抜
孔２ｂ・２ｄの上部に所定量だけ各係止部材13ｂ〜13ｅ
が突出する位置に制限される。

【００２２】そして、プラグコンタクト６、あるいは、
短絡クリップ８を挿入すると、まず、その絶縁ケース６
ａの前端部によって係止具13が上方に押し上げられ、さ
らに、プラグコンタクト６、あるいは、短絡クリップ８
を所定の深さまで差し込むとプラグコンタクト６、ある
いは、短絡クリップ８の絶縁ケース６ａの上面に形成し
た係合溝６ａ・８ａに対応する係止部材13ａ〜13ｅが嵌
まり込む。

【００２３】これにより、プラグコンタクト６、あるい
は、短絡クリップ８がその位置に係止され、プラグ１に
差し込まれたプラグコンタクト６、あるいは、短絡クリ
ップ８が不用意にプラグ１から抜き取られることが防止
される。必要に応じてプラグコンタクト６、あるいは、
短絡クリップ８をプラグ１から抜き取る時には係止具13
を例えば指先で板バネ14に抗して上方に押し上げて、係
止具13の各開口部13ａ〜13ｄの上縁をプラグコンタクト
６、あるいは、短絡クリップ８の係合溝６ａ・８ａ外に
上昇させ、この状態を保持しながらプラグコンタクト
６、あるいは、短絡クリップ８を抜き取ればよい。

【００２４】この差込式試験端子用プラグ１が適用され
る差込式試験端子用ソケットとしては公知の差込式試験
端子用ソケット30が用いられ、図２に示すように、この
ソケット30は４つの単体プラグ10Ａ〜10Ｄに対応する単
体ソケット31Ａ〜31Ｄを１対の側面プレート32と共に厚
さ方向に並べ、通しボルトで一体に連結し、さらに、こ
れら単体ソケット31Ａ〜31Ｄおよび両側面プレート32の
プラグ１に対向させる面を覆う前面プレート33を組み付
けたものである。

【００２５】各単体ソケット31Ａ〜31Ｄは、図１に示す
ように、絶縁ケース34内に前記単体プラグ10の各プラグ
端子４・５に対応する上下１対のレセプタクル型のソケ
ット端子35・36と、両ソケット端子35・36間を断続する
１対のスイッチ端子37・38とを備える。各ソケット端子
35・36には試験される電流計101 、ＣＴ、電圧計102 、
ＰＴなどから導出されたリード線が小ネジ39で締め付け
られ、前面プレート33および絶縁ケース34のプラグ１に
対向する面には前記単体プラグ10の各プラグ端子４・５
が挿抜されるプラグ端子挿通孔40・41と絶縁ラグ３が挿
抜される絶縁ラグ挿通孔42が形成される。

【００２６】前記スイッチ端子37・38は、プラグ１が差
し込まれない時には互いに接触し、絶縁ラグ挿通孔42か
ら差し込まれたプラグ１の絶縁ラグ３によって開かれて
互いに絶縁される。なお、プラグ端子４・５とソケット
端子35・36との断続とスイッチ端子37・38の開閉との位
置をずらすことによりＣＴ回路用またはＰＴ回路として
使用する。ＰＴ回路用の場合、各プラグ端子４・５の絶
縁ケース１からの突出量を絶縁ラグ３の絶縁ケース１か
らの突出量より低くすることにより、差込み時にスイッ
チ端子37・38が開かれてからソケット端子35・36がプラ
グ端子４・５と接続され、抜き取り時にソケット端子35
・36とプラグ端子４・５との接続が解除されてからスイ
ッチ端子37・38が閉じられる。

【００２７】また、ＰＴ回路用の場合、プラグ端子４・
５の絶縁ケース１からの突出量を絶縁ラグ３の絶縁ケー
ス１からの突出量を近づけることにより、差込み時に前
記スイッチ端子37・38が開かれる前にソケット端子35・
36にプラグ端子４・５が接続され、抜き取り時にスイッ
チ端子37・38が閉じられた後にソケット端子35・36とプ
ラグ端子４・５との接続が解除される。

【００２８】前記プラグ１を用いてＣＴ試験を行う場合
には、図４に示すように、ＣＴ試験回路106 の電流計10
4 から導出された１対のリード線106 ａ・106 ｂの端末
に結合された１対のプラグコンタクト６を１つの単体プ
ラグ10Ａの両プラグ端子４・５の外線接合部７に差込
み、他の１つ、例えばその隣の単体プラグ10Ｂの両プラ
グ端子４・５の短絡用接合部９の間に短絡クリップ８を
差し込むことによりＣＴ試験回路106 とプラグ１との接
続が完成される。

【００２９】つまり、２つのプラグコンタクト６と１つ
の短絡クリップ８を差し込むだけでＣＴ試験回路106 が
プラグ１に接続されることになり、簡単に、かつ短時間
でＣＴ試験回路106 をプラグ１に接続することができ、
プラグ１へのＣＴ試験回路106 の接続の作業性を高める
ことができる。また、前記プラグ１を用いてＰＴ試験を
行う場合には、例えば図５に示すように、適正な電圧計
102 の一方の極に接続された２本のリード線107 ａ・10
7 ｂの端末に結合されたプラグコンタクト６を１つの単
体プラグ10の両外線接合部７に差込み、前記電圧計102
の他方の極に接続された２本のリード線107 ｃ・107 ｄ
の端末に結合されたプラグコンタクト６を他の１つ、例
えば隣接する単体プラグ10Ｄの両外線接合部７に差込め
ばよい。

【００３０】つまり、４つのプラグコンタクト６を差し
込むだけでＰＴ試験回路106 をプラグ１に接続できるこ
とになり、簡単に、かつ短時間でＰＴ試験回路106 をプ
ラグ１に接続することができ、プラグ１へのＰＴ試験回
路106 の接続の作業性を高めることができる。さらに、
前記プラグ１を用いてＰＴ試験を行う場合には、例えば
図６に示すように、適正な電圧計102 の両方の極に接続
された２本のリード線107 ａ・107 ｃをそれぞれ異なる
単体プラグ10Ｃ・10Ｄの下側のプラグ端子５の外線接合
部７に差込み、各単体プラグ10Ｃ・10Ｄの端子短絡用接
合部７間に短絡クリップ８を挿入するようにしてもよ
い。

【００３１】つまり、２つのプラグコンタクト６と２つ
の短絡クリップ８とを差し込むだけでもＰＴ試験回路10
6 をプラグ１に接続できることになり、簡単に、かつ短
時間でＰＴ試験回路106 をプラグ１に接続することがで
き、プラグ１へのＰＴ試験回路106 の接続の作業性を高
めることができる。しかも、プラグ１にＣＴ試験回路10
6 のリード線106 ａ〜106 ｄやＰＴ試験回路107 のリー
ド線107 ａ〜107 ｄを接続するために、絶縁ケース１の
後方に突出する接続端子およびこの接続端子に螺合され
る押さえナットを省略できるので、厚さ方向および挿抜
方向にも小さくできる。

【００３２】ところで、例えばＣＴ試験において電流計
104から導出した２本のリード線106ａ・106 ｂが接続さ
れる単体プラグ10Ａの両プラグ端子４・５間に同時に短
絡クリップ８が挿入されると、電流計104 が短絡される
ことになり、電流計104 による計測ができなくなるとい
う問題がある。また、ＣＴ試験において両プラグ端子４
・５が短絡クリップ８によって短絡される単体プラグ10
Ｂの両プラグ端子４・５間にプラグコンタクト６を介し
て何らかの外部配線が接続されると、ＣＴ試験回路106
の電流計104 で正確な電流計測ができなくなるという問
題がある。

【００３３】さらに、ＰＴ試験において２つの単体プラ
グ10Ｃ・10Ｄのプラグ端子４・５間にプラグコンタクト
６を介して何らかの外部配線が接続されると、ＰＴ試験
回路107 の電圧計105 で正確な電圧計測ができなくなる
という問題がある。そこで、この実施例では、図１に示
すように、上側のプラグ端子４の外線接合部７へのプラ
グコンタクト６の挿入と端子短絡用接合部９間への短絡
クリップの挿入とを選択的に禁止する第１の二重接続防
止手段として、あるいは、上から３段目の外線接合部７
へのプラグコンタクト６の挿入と上から４段目のコモン
接続用接合部12間への短絡クリップ８の挿入とを選択的
に禁止する第２の二重接続防止手段として、プラグコン
タクト６に二重接続防止部17が設けられる。

【００３４】すなわち、図７に示すように、プラクコン
タクト６は、透明の絶縁ケース６ａと、ピン状のプラグ
端子接合部６ｃとを備え、この絶縁ケース６ａの後部を
上下に長い直方形箱状に形成することにより二重接続防
止部17が形成される。上記プラグ端子接合部６ｃの後端
はこの二重接続防止部17内の上部に露出させてあり、そ
の前端は絶縁ケース６ａの前端から所定の寸法にわたっ
て突出させてある。

【００３５】上記プラグ端子接合部６ｃの後端には小ネ
ジ６ｄによってリード線接続用アイプレート６ｅが固定
され、このアイプレート６ｅの下端に連設されたリード
線接合部６ｆにリード線106 ａ〜106 ｄ・107 ａ〜107
ａのうちの１本の端末がプラグ端子接合部６ｃの軸心と
平行に後方から挿入され、リード線接合部６ｆをかしめ
ることによりリード線接合部６ｄに固定される。

【００３６】二重接続防止部17の後面は開放してもよい
が、この実施例では、リード線接合部６ｄに対応する位
置にリード線挿通孔６ｇを設けた蓋６ｈで蓋することに
より、前記リード線の振れを防止するようにしている。
そして、このプラグコンタクト６をプラグ端子接合部６
ｃがプラグ１の外線接合部７に接合する所定の位置まで
プラグコンタクト用挿抜孔２ａ・２ｃに差し込むと、図
１および図３に示すように、前記二重接続防止部17が下
側に張り出してそのプラグコンタクト用挿抜孔２ａ・２
ｃの直ぐ下側の短絡クリップ用挿抜孔２ｂ・２ｄへの短
絡クリップ８の挿入を不可能にする。

【００３７】また、先に短絡クリップ用挿抜孔２ｂ・２
ｄに短絡クリップ８を差し込んでからこのプラグコンタ
クト６をその真上のプラグコンタクト用挿抜孔２ａ・２
ｃに差し込もうとすれば、短絡クリップ８が支障となっ
てプラグコンタクト６を外線接合部７に接続できなくな
る。なお、このプラグコンタクト６では、二重接続防止
部17が透明になっているので、その内部のプラグ端子接
合部６ｃとアイプレート６ｅとの結合状態およびリード
線接合部６ｆとリード線との接続状態をプラグコンタク
ト６をプラグ１から引き抜いたり、さらに、プラグコン
タクト６を分解したりせずに視認することができる。

【００３８】また、リード線がリード線接合部６ｄにか
しめによって結合されるので、リード線が半田付けによ
りプラグコンタクト６のプラグ端子接合部６ｃに結合さ
れる場合に比べてプラグコンタクト６とリード線との結
合強度が高く、リード線がプラグコンタクト６から引き
抜かれたり、リード線とプラグコンタクト６との間で導
通不良が生じたりし難くなる。

【００３９】図２および図８に示すように、各側面プレ
ート20の前面には、それぞれ差込み案内用のガイドピン
21・22が突設されているが、各ガイドピン21・22の位置
は、図８の側面図に示すように、各単体プラグ１のプラ
グ端子４・５間の中心線に関して非対称な位置に配置さ
れる。なお、図８において、ａはプラグ端子４・５と中
心線との距離、ｂ、ｃは各ガイドピン21・22と中心線と
の距離であり、ここでは、ａ＞ｂ＞ｃである。

【００４０】また、プラグ１に対応して、ソケット30の
前面プレート33および両側の側面プレートには各ガイド
ピン21・22に対応するピン孔43が形成されている。この
ように、ガイドピン21・22をプラグ端子４・５間の中心
線から非対称の位置に位置させ、ソケット30にこれらに
対応するピン孔43を形成すると、プラグ１をその上下方
向を取り違えずにソケット30に差し込むことができ、誤
接続を防止することができる。

【００４１】なお、誤接続を防止する方法としては、ガ
イドピン21・22をプラグ端子４・５間の中心線から対称
の位置に位置させ、絶縁ラグ３をプラグ端子４・５間の
中心線から偏位させたり、ガイドピン21・22をプラグ端
子４・５間の中心線から非対称の位置に位置させると共
に、絶縁プラグ３をプラグ端子４・５間の中心線から偏
位させたりする方法が考えられる。

【００４２】また、図２および図８に示すように、上記
プラグ１の各側面プレート20の各外側面には、ソケット
30の前面プレート33の左右各端部に係脱されるロック装
置23が設けられ、このロック装置23は、側面プレート20
に揺動可能に支持されたロック爪23ａと、このロック爪
23ａの前端部を側面プレート20側に付勢するスプリング
23ｂと、ロック爪23ａと一体に形成され、押し込み操作
によりスプリング23ｂに抗してロック爪23ａの前端部を
側面プレート20から離れる方向に駆動するための操作レ
バー23ｃとを備える。

【００４３】プラグ１をソケット30に差し込む時には、
そのままプラグ１を差し込めばよく、ロック爪23ａの先
端部外側が傾斜しているため、自動的に側面プレート外
周部に沿ってロック爪23ａが開かれ、完全にプラグ１が
ソケット30に差し込まれれば、ロック爪23ａの先端部が
ソケット30の前面プレート33の左右各端部に係合され、
これにより、プラグ１がソケット30から不用意に抜き取
られることが防止される。

【００４４】なお、プラグ１をソケット30から抜き取る
時には、両ロック装置23の操作レバー23ｃを押し込んで
ロック爪23ａを開いてからプラグ１をソケット30から抜
き取ればよい。本発明の他の実施例では、図９に示すよ
うに、プラグ１の各単体プラグ10Ａ〜10Ｄ内に上側のプ
ラグ端子４の外線接合部７へのプラグコンタクト６の挿
入と端子短絡用接合部９間への短絡クリップの挿入とを
選択的に禁止する第２の二重接続防止手段としての第１
の選択ストッパ18と、第３段の外線接合部７へのプラグ
コンタクト６の挿入と第４段のコモン接続用接合部12間
への短絡クリップ８の挿入とを選択的に禁止する第２の
二重接続防止手段としての第２の選択ストッパ18が設け
られる。

【００４５】第１の選択ストッパー18は、厚さ方向から
見てほぼ４分の１円形の扇形輪郭を有し、その扇形の要
の部分が上側のプラグコンタクト用挿抜孔２ａと上側の
短絡クリップ用挿抜孔２ｂとの間で絶縁ケース２内の後
端部に厚さ方向の軸心回りに回転可能に支持される。そ
して、上から第１段に位置する上側のプラグコンタクト
用挿抜孔２ａにプラグコンタクト６が挿入されると、こ
の第１の選択ストッパ18の上方への回転がプラグコンタ
クト６によって制限され、絶縁ケース２の後方から上か
ら２段目に位置する短絡クリップ用挿抜孔２ｂに差し込
まれた短絡クリップ８の先端を受け止めてこの短絡クリ
ップ８の端子短絡用接合部９間への挿入が禁止される。

【００４６】反対に、短絡クリップ８を絶縁ケース２の
後方から上側の短絡クリップ用挿抜孔２ｂを通して端子
短絡用接合部９間に挿入すると第１の選択ストッパ18が
上方に回転し、この後に絶縁ケース２の後方から上側の
プラグコンタクト用挿抜孔２ａに差し込まれたプラグコ
ンタクト６がこの第１の選択ストッパ18を介して短絡ク
リップ８に受け止められ、このプラグコンタクト６の上
側のプラグ端子４の外線接合部７への接続が禁止され
る。

【００４７】第２の選択ストッパ18は第１の選択ストッ
パ18と同形に形成され、その扇形の要の部分が下側のプ
ラグコンタクト用挿抜孔２ｃと下側の短絡クリップ用挿
抜孔２ｄとの間で絶縁ケース２内の後端部に厚さ方向の
軸心回りに回転可能に支持される。そして、上から第３
段に位置する下側のプラグコンタクト用挿抜孔２ｃにプ
ラグコンタクト６を挿入した後に絶縁ケース２の後方か
ら上から４段目に位置する下側の短絡クリップ用挿抜孔
２ｄを通して差し込まれる短絡クリップ８は第２の選択
ストッパー18を介してプラグコンタクト６に受け止めら
れ、この短絡クリップ８のコモン接続用接合部12間への
挿入が禁止される。

【００４８】逆に、短絡クリップ８を絶縁ケース２の後
方から下側の短絡クリップ用挿抜孔２ｄを通してコモン
接続用接合部12間に挿入した後に、絶縁ケース２の後方
から下側のプラグコンタクト用挿抜孔２ｃに差し込まれ
たプラグコンタクト６は、第２の選択ストッパー18を介
して短絡クリップ８に受け止められ、下側の外線接合部
７への接続を禁じられる。

【００４９】この実施例のその他の構成、作用ないし効
果は上記の一実施例のそれらと同様であるので、重複を
避けるためこれらの説明は省略する。

【００５０】

【発明の効果】以上に説明したように、本発明の差込式
試験端子用プラグは、各プラグ端子に試験回路のリード
線の端末に結合され、絶縁ケースの後方から差し込まれ
たプラグコンタクトが接続される外線接合部を設けてい
るので、試験回路のリード線の端末に結合されたプラグ
コンタクトを絶縁ケースの後方から差し込むことにより
試験回路のリード線がプラグ端子に接続される。

【００５１】また、絶縁ケースの後方から差し込まれる
短絡クリップを介して他方のプラグコンタクトと接続さ
れる端子短絡用接合部が設けられるので、絶縁ケースの
後方から両プラグ端子の端子短絡用接合部に短絡クリッ
プを差し込むことにより両プラグ端子が短絡される。つ
まり、絶縁ケースの後方に試験回路の電流計あるいは電
圧計のリード線の端末に結合したプラグコンタクトを差
し込んだり、短絡クリップを差し込んだりすることによ
り、簡単に、かつ、短時間でな操作で試験回路とプラグ
とを結合することができ、プラグへの試験回路の接続作
業の作業性を高める効果が得られる。

【００５２】しかも、本発明においては、絶縁ケースの
後面から突出する接続端子やこれに螺合されるナットな
どが設けられないので、プラグを厚さ方向にも、挿抜方
向にも小さくできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の側面プレートを除去した側
面図である。

【図２】本発明の一実施例の平面図である。

【図３】本発明の一実施例の単体プラグの背面図であ
る。

【図４】本発明の一実施例が適用されたＣＴ試験の回路
図である。

【図５】本発明の一実施例が適用されたＰＴ試験の回路
図である。

【図６】本発明の一実施例が適用されたＰＴ試験の他の
回路図である。

【図７】本発明のプラグコンタクトの縦断側面図であ
る。

【図８】本発明の一実施例の側面図である。

【図９】本発明の他の実施例の側面プレートを除去した
側面図である。

【図10】従来例の側面図である。

【図11】従来例が適用されたＣＴ試験の回路図である。

【図12】従来例が適用されたＰＴ試験の回路図である。

【図13】本発明に係る係止具と板バネの斜視図である。

【符号の説明】

１…プラグ２…絶縁ケース４・５…プラグ端子６…プラグコンタクト７…外線接合部８…クリップ９…端子短絡用接合部 11…短絡バー 12…コモン接続用接合部 13…係止具 17…二重接続防止部 18…選択ストッパー 106…ＣＴ試験回路 106ａ〜 106ｄ…リード線 107…ＰＴ試験回路 107ａ〜 107ｄ…リード線

フロントページの続き (72)発明者志萱章宏滋賀県草津市野村三丁目４番１号不二電機工業株式会社草津製作所内 (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01R 1/04 G01R 1/06 H01R 13/703

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】絶縁ケースと、この絶縁ケースに互いに
絶縁状に、かつ、先端部が絶縁ケースの前方に突出する
ように保持され、試験回路から導出されたリード線が接
続される上下対をなすプラグ端子とを備える差込式試験
端子用プラグにおいて、各プラグ端子に、試験回路のリ
ード線の端末に結合され、絶縁ケースの後方から差し込
まれたプラグコンタクトが接続される外線接合部と、絶
縁ケースの後方から差し込まれる短絡クリップを介して
他方のプラグコンタクトと接続される端子短絡用接合部
とが設けられることを特徴とする差込式試験端子用プラ
グ。
【請求項２】左右方向に並べられた複数の上下対をな
すプラグ端子と、絶縁ケース内で下側または上側の各プ
ラグ端子に共通に対向させた短絡バーとを備え、各下側
または上側のプラグ端子と短絡バーとに絶縁ケースの後
方から差し込まれる短絡クリップを介して接続されるコ
モン接続用接合部が設けられる差込式試験端子用プラ
グ。
【請求項３】上下方向の上から１段目に第１のプラグ
端子の外線接合部が、２段目に第１のプラグ端子と第２
のプラグ端子との端子短絡用接合部が、３段目に第２の
プラグ端子の外線接合部が、４段目に第２のプラグ端子
と短絡バーのコモン接続用接合部が設けられる請求項２
に記載の差込式試験端子用プラグ。
【請求項４】第１段の外線接合部へのプラグコンタク
トの挿入と第２段の端子短絡用接合部への短絡クリップ
の挿入とを選択的に禁止する第１の二重接続防止手段
と、第３段の外線接合部へのプラグコンタクトの挿入と
第４段のコモン接続用接合部への短絡クリップの挿入と
を選択的に禁止する第２の二重接続防止手段とが設けら
れる請求項３に記載の差込式試験端子用プラグ。
【請求項５】絶縁ケースに差し込まれたプラグコンタ
クトおよび／または短絡クリップに係脱される係止具が
設けられる請求項１ないし４のいずれか一項に記載の差
込式試験端子用プラグ。