JP2507127Y2 - リ―ド線のはみ出し防止機構 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、操作面でリード線の結線を適宜行う計測，
制御用等の電子機器におけるリード線のはみ出し防止機
構に関し、例えば半導体デバイスの測定機器、特に、高
電圧半導体直流テスト装置のテストフィクスチャの安全
性に係る前記はみ出し防止機構に関するものである。

〔従来の技術〕

近年、半導体技術の急進により多種のLSIが開発され
るようになっている。

これに伴い、一のテストフィクスチャを多種の被測定
デバイスに適用することが要請される。

一般に、一のテストフィクスチャにおいて、被測定デ
バイスの種類が多くなるということは、被測定デバイス
の形状，構造に応じた種々のソケットを用意しておかな
ければならないこと、テストフィクスチャへの入力信号
の種類が増加すること、該信号のレンジが拡大すること
等を意味する。

そこで、例えば、多種デバイスに対する多種のDCパラ
メトリックテストを行うような場合には、入力信号と被
測定デバイスの端子との接続をユーザに委ねる、という
自由度をテストフィクスチャに与えておくことが望まし
い。

第９図は、このような従来のテストフィクスチャを示
す説明図である。

同図において、本体操作面８上には、端子3a,着脱可
能なソケットモジュール７が取り付けられている。この
ソケットモジュール７には、ソケット６及び端子3bが設
けられている。ソケット６には、図示しない被測定デバ
イスが装着され、前記端子3a,3bには、テストリード４
の両端のプラグ５が装着されている。

ユーザは、被測定デバイスに応じたソケットモジュー
ル７を操作面８に予め取り付けておく。ソケット６の所
定のソケット端子と端子3bとはソケットモジュール７の
内部で結線されている。そして、被測定デバイスをこの
ソケット６に装着した後、端子3aと端子3bとをテストリ
ード４を用いて所望の結線を行う。

このようなテストフィクスチャにおいては、例えば、
第10図に示すリアパネル18に設けられた複数個のコネク
タ19に外部電圧，電流源が接続される。また、入力信号
は、本体１の内部を図示しないケーブルを介して操作面
８上に導かれ、端子3a,3bを介してソケット６に装着さ
れた図示しない被測定デバイスに出力される。

〔考案が解決しようとする課題〕

ところで、近年の半導体デバイスの進歩により、例え
ば、DCパラメトリックテストにおいて、被測定デバイス
に高電圧を印加し、あるいは大電流を流さなければなら
ない場合も生じている。

しかし、従来のテストフィクスチャの構造は、多種多
様なデバイスに順応した高い適用性（汎用性）を有して
いる反面、テストリード４に対する結線の自由度が感電
の危険を招来するという問題がある。

すなわち、テストリード４の結線はユーザが行うた
め、過誤，錯誤等によりテストリード４が第11図に示す
ように、カバー２を閉じた場合に該カバー２外部にはみ
出した状態が生じ得る。このような状態で、例えば高電
圧が該テストリード４のプラグ５に印加されると、ユー
ザが感電事故を起こす可能性が極めて高くなる。

本考案は、上記のような問題点を解決するために提案
されたものであって、カバーを有する高電圧テストフィ
クスチャ等の電子機器のリード線のはみ出し防止機構に
おいて、カバーを閉じた場合にリード線がはみ出さず、
またカバーの開閉が不完全である場合にはこれを検知す
ることにより、汎用性を損なうことがなく、かつ安全性
を向上させることができるリード線のはみ出し防止機構
を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本考案のリード線のはみ
出し防止機構は、電子機器の奥側であって、カバーと本
体操作面との間のカバー側に，摺動可能状態で支承され
てカバーと本体操作面との間に壁面を構成するはみ出し
防止板を設けてなることを特徴とする。

また、本体操作面，カバーの何れか一方の周の少なく
とも一部に長尺溝部を設け、他方に該長尺溝部に適合す
る長尺体を設けると共に、該長尺体の長尺溝部への挿入
の有無を検知する手段を有してなることを特徴とし、更
に、カバーの本体操作面に対向する側の周囲に少なくと
も一箇所が電気的に開いてなる回路を設け、本体操作面
にカバーが完全に閉じられた場合に上記回路を電気的に
閉じる接点を設けると共に、上記回路の電気的な開閉を
検知する手段を有してなることをも特徴とする。

〔作用〕

本考案のはみ出し防止機構では、カバー側に摺動可能
状態で支承されたはみ出し防止板が、カバーの開閉の際
には、該カバーの開閉動作を阻害することなく機器の奥
側のカバーと本体操作面との間に壁面を構成する。した
がって、例えば、カバーを閉じる場合に本体操作面上に
一端が端子に接続されていないリード線が存在するよう
な場合、はみ出し防止板がリード線のはみ出しを防止す
る。すなわち、はみ出し防止板が、カバーの動きに従っ
て、リードを操作面の方へ押し返すので、リード線は外
へはみ出すことはなく、リード線がカバーと本体との間
に挟まれた状態でカバーが閉じられることによる感電事
故の防止等が図られる。

また、本体操作面，カバーの何れか一方に長尺溝部
を、他方にこの長尺溝部に適合する長尺体を設けたはみ
出し防止機構では、カバーを閉じる場合に、リード線が
本体操作面に設けられた長尺溝部を横切ってはみ出して
いる場合には、長尺体は該溝部に挿入されない。したが
って、検知手段はこれを検知して、高電圧出力の停止、
警報ブザーを動作させる等の適宜な処置を行う。

更に、カバーの本体操作面に対向する側の周囲に、少
なくとも一箇所が電気的に開いた回路を、本体操作面に
上記回路を電気的に閉じる接点を設けたはみ出し防止機
構では、カバーを閉じる場合において、リード線が操作
面からはみ出しているときには、カバーは完全に閉じる
ことができず、リード線がカバー側の回路と本体操作面
側の接点との接触を妨害する。これにより、検知手段は
該回路が電気的に開いていることを検知して、上記と同
様に、高電圧出力の停止等を行う。

〔実施例〕

以下、本考案のはみ出し防止機構を、高電圧半導体テ
ストシステムにおけるテストフィクスチャに適用した場
合を例にとり説明する。

第１図は、テストフィクスチャの全体構成を示してお
り、第９図と同一の符号を付した要素は同図と同様の要
素であるので、説明は省略する。

第１図のテストフィクスチャは、略Ｌ字形をなしてお
り、操作面８の後端からパネル17が傾斜して取り付けら
れている。

本体操作面８の周囲（前側及び両側）の内側には、長
尺溝部９がコ字形状に設けられている。

また、本体操作面８の前端部にはスイッチ穴10が設け
られている。

一方、本体１には、カバー２が、前記側板11に設けら
れた軸12で結合されており、カバー２は、軸12の回りに
通常90°以上回転することにより、開閉できる。カバー
２の内側には前記の溝部９に適応する長尺体（同図で
は、コ字形状に配置されたアングル13）が取り付けられ
ており、前記スイッチ穴10に対応する位置にはピン16が
設けられている。

更に、カバー２の後端には後部壁面を構成するはみ出
し防止板15がスタッド14に支承されて設けられている。

このはみ出し防止板15は、例えば、一辺両端が凸状に
加工され、スタッド14の円筒形内部に、クリアランスを
有して嵌め込まれ、スタッド４をつなぐ軸線の軸回りに
回転することができる。

本実施例のテストフィクスチャの作用を簡単に説明す
る。

テストフィクスチャの通常の使用にあっては、複数の
テストリード４が操作面８上の端子3aとソケットモジュ
ール７上の端子3bに接続された状態で、カバー２が閉じ
られ、それにより、カバー２上のピン16が本体１内部に
ある図示しないスイッチをスイッチ用穴10を通して押
し、被測定デバイスに高電圧が印加され、大電流が流さ
れることになる。

ところで、いま、テストリード４の一端のプラグ５が
端子3aに接続され、他端のプラグ５がどこにも接続され
ておらず、パネル17の上部を越えて本体１の上面に位置
したものとする。このような状態で、カバー２を閉じる
場合、はみ出し防止板15は、第２図に示すように、その
下端が常に本体１の上面あるいはパネル17に接触しつつ
スタッド14を中心に回転し、プラグ５を前方に押し返す
ので、テストリード４の先端（プラグ５）が第３図α部
に示すように本体１とカバー２との間から外にはみ出す
事態を生じない。

なお、このはみ出し防止板15はパネル17の面に沿って
収まるので、テストリード４の結線を妨害しない。

上記実施例では、はみ出し防止板15を単にスタッド14
で回転可能に止めておくのみで、はみ出し防止板15の下
端を本体１の上面あるいはパネル17に接触させたが、バ
ネ等により、強制的にはみ出し防止板15の下端を本体１
の上面等に接触させてもよい。また、はみ出し防止板15
の下辺両端を上辺両端と同様凸状に加工し、該凸状部が
摺動できるスリットを有するガイド部材を本体１側に取
り付け、カバー２の開閉に応じて、前記凸状部が前記ス
リット内で摺動するように構成してもよい。

更に、はみ出し防止板15は、例えば、本体１の形状、
カバー２の形状等に応じて、本体側にスタッド14で取り
付けることもできるし、カバー２側および本体１側にス
リットを有するガイド部材を設け、はみ出し防止板15の
上辺両側を凸状に加工し、上記と同様に、カバー２の開
閉に応じて、該凸状部が前記ガイド部のスリット内で摺
動するように構成してもよい。

また、テストリード４が溝部９を横切って本体１の操
作面８の外側に飛び出ている場合にカバー２を閉じる
と、カバー２のアングル13と操作面８上の溝部９との間
にテストリード４が挟まれる。従って、カバー２が完全
に閉じず、ピン16がスイッチを押してしまうような事態
は生じない。

アングル13と溝部９との間にテストリード４を挟まれ
ないときの状態を第４図に、挟まれるときの状態を第５
図に示す。

なお、テストリード４がはみ出したことを、ユーザに
容易に認識させるために、本体の側面を、側板11が前方
に迫り出すように形成することもできる。

これにより、カバー２が閉じられる際に、テストリー
ド４が側板11にかかってはみ出しているような場合、該
テストリード４は前方に押し出されながらアングル13と
溝部９に挟まれ、第３図β部に示した状態となる。

なお、上記実施例では、アングル13の溝部９への挿入
を検知する手段として、ピン16,スイッチ穴10及び図示
しないスイッチを用いたが、光センサ、磁気センサ等を
用いた他の位置検知手段を採用することもできる。

また、上記実施例では、溝部９およびアングル13の形
状をコ字形としたが、これらを四角形状とすることもで
き、特に、はみ出し防止板15を使用しないテストフィク
スチャの場合には有効となる。

更に、上記実施例では、溝部９を本体１に設け、アン
グル13をカバー２に設けたが、溝部９をカバー２に、ア
ングル13を本体１に設けることもできるし、また溝部９
を複数本（例えば２本）並列に設け、アングルもこれら
の並列溝部に対応して（例えば２本）設けることもでき
る。

第６図は、テストリード４が本体１とカバー２とに挟
まれた場合に、これを電気的に検知する機構を示してい
る。

カバー２の操作面８に対向する側の周囲に、少なくと
も一箇所が電気的に開いた回路が設けられる。同図で
は、３本の導体21が電気的に開状態となって、コ字形に
配置されている。

そして、これらの導体21は、全体が絶縁体等により被
覆されており、その両端はカバー２に対して垂直に折れ
曲がっており、該折れ曲がり部21aの先端には接触端子
が形成されている。

一方、操作面８には導体21の折れ曲がり部21aに対応
する位置に、該折れ曲がり部21aが挿入される穴23が設
けられ、この穴23の下部には接点22が設けられる。第６
図において接点22は、導体21同士が隣合う箇所（操作面
８の手前両端）では、両導体21を短絡するべく、隣合う
他の接点22と相互接続されている。また、導体21同士が
隣合わない箇所（操作面８の奥側両端）の両接点22は、
検流計等の検知回路24を介して接続されている。

なお、導体21はカバー２に弾性体20を介在して取り付
けられている。

第６図の電気的検知機構において、本体１とカバー２
との間にテストリード４が挟まれない場合には、第７図
に示すように接点22が各導体21を短絡し、第６図の検知
回路24は異常である（すなわち、テストリード４が本体
１とカバー２との間に挟まれている）とは判断せず、テ
ストリード４が装着される端子への高電圧出力の停止を
しない。

しかし、本体１とカバー２との間にテストリード４が
挟まれた場合には、第８図に示すように、接点22は各導
体21を短絡せず、検知回路24は異常が生じたと判断す
る。この場合には、テストリード４が装着される端子へ
の高電圧出力を停止する。

なお、第６図の電気的検知機構では、導体21をコ字形
状に配置したが、四角形状に配置することもできる。

この場合、操作面８側の相互に隣接する２つの接点22
を検知回路24を介して短絡しておく。

〔考案の効果〕

本考案は、以上のように構成したので、以下の効果を
奏することができる。

例えば、DCパラメトリックテストにおいて、被測定デ
バイスに高電圧を印加し、あるいは大電流を流さなけれ
ばならない場合において、リード線が、本体奥側でカバ
ーとの間に挟まれてはみ出すという可能性を皆無にする
ことができる。

また、リード線が例えば本体前部あるいは側部でカバ
ーとの間にはさまれた状態ではみ出している場合には、
検知手段が動作して、高電圧の出力停止等を行うことが
できる。

従って、テストフィクスチャの構造を、従来通り多種
多様なデバイスに順応した高い適用性（汎用性）を有
し、リード線に対する結線の自由度を担保したまま、ユ
ーザを感電から保護することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示すテストフィクスチャの
全体構成を示す図である。 第２図ははみ出し防止板の作用を説明するための図であ
る。 第３図はテストリードの先端が本体とカバーとの間から
外にはみ出る状態を示す図である。 第４図はアングルと溝部との間にテストリードが挟まれ
ないときの状態を示す図である。 第５図は同じくテストリードが挟まれたときの状態を示
す図である。 第６図はテストリードが本体とカバーとの間に挟まれた
場合に、これを電気的に検知する機構を示す図である。 第７図は本体とカバーとの間にテストリードが挟まれな
い場合において、接点が各導体を短絡した状態を示す図
である。 第８図は同じく接点が各導体を短絡していない状態を示
す図である。 第９図は従来のテストフィクスチャの全体構成を示す図
である。 第10図はテストフィクスチャのリアパネルを示す図であ
る。 第11図はテストリードがカバーを閉じた場合にカバー外
部にはみ出した状態を示す図である。 １…本体、２…カバー ４…リード線（テストリード） ８…操作面、９…長尺溝部 10,16…長尺体の長尺溝への挿入の有無を検知する手段
（10…スイッチ穴,16…ピン） 13…長尺体（アングル） 15…はみ出し防止板 21…電気的に開いた回路（導体） 22…接点 24…回路の電気的な開閉を検知する手段

Claims (3)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】回転式のカバーを有する電子機器であっ
   て、リード結線が本体操作面で行われる該電子機器のリ
   ード線はみ出し防止機構において、 該電子機器の奥側であって、カバーと本体操作面との間
   のカバー側に、摺動可能状態で支承されてカバーと本体
   操作面との間に壁面を構成するはみ出し防止板を設けて
   なることを特徴とするリード線のはみ出し防止機構。
2. 【請求項２】カバーを有する電子機器であって、リード
   結線が本体操作面で行われる該電子機器のリード線のは
   み出し防止機構において、 本体操作面，カバーの何れか一方の周の少なくとも一部
   に長尺溝部を設け、他方に該長尺溝部に適合する長尺体
   を設けると共に、該長尺体の長尺溝部への挿入の有無を
   検知する手段を有してなることを特徴とするリード線の
   はみ出し防止機構。
3. 【請求項３】カバーを有する電気機器であって、リード
   結線が本体操作面で行われる該電子機器のリード線のは
   み出し防止機構において、 カバーの本体操作面に対向する側の周囲に少なくとも一
   箇所が電気的に開いてなる回路を設け、本体操作面にカ
   バーが完全に閉じられた場合に上記回路を電気的に閉じ
   る接点を設けると共に、上記回路の電気的な開閉を検知
   する手段を有してなることを特徴とするリード線のはみ
   出し防止機構。