JPS6025797Y2 - 一括插入式テストプラグ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は引出形保護継電器の内部要素の点検及び試験
に用いる一括挿入式のテストプラグに関するものである
。

第１図及び第２図は従来のテストプラグの構造を示すも
ので、１は合成樹脂、例えばフェノール樹脂で形成され
た上基台、２は同様にフェノール樹脂で形成された下基
台、３は絶縁物よりなるダイヤルプレート、４は親つま
み、５は子つまみで、両つまみ４，５はいずれも合成樹
脂で形成され、その成形時に軸中心部にねじ孔を有する
金属体が埋設される。

６は親端子、７は子端子で、両端子６，７の間に絶縁筒
８が挿入されて両端子６，７の間が電気的に絶縁されて
いる。

９は薄銅板よりなる１対の極板で、その一方の極板９−
１の一端が前記上基台１に固定され、他端が前記親端子
６に半田付によって固定されている。

また、他方の極板９−２はその一端が前記下基台２に固
定され、他端が前記子端子７に半田付によって固定され
ている。

なお、前記上基台１及び下基台２はピン１０及びねじ１
１により一体化されている。

上記構成のテストプラグは、継電器の内部要素の点検、
試験に際して各端子６，７にリード線を接続腰極板９の
部分を接続装置に挿着する。

リード線を接続する端子６には親つまみ４が、端子７に
子つまみ５が螺合され、しかも両っまみ４゜５は立体的
に重ねた親子つまみとなっており、ダイヤルプレート３
上における端子の占有面積の節減と端子間隔の拡大によ
るつまみ操作の簡単化が図られている。

しかしながら、このような親子つまみ構造では、親つま
み４のねじ径は子っまみ５と比べてかなり大きいものと
なる。

締付においては、ねじ径の小さなものはよく締まるが、
ねじ径の大きなものはねじピッチが大きいため、締付は
早くできても締付けた径小さなねじ径のものに比べて弛
みやすい。

特に、親つまみ４はその高さが低く、ねじ径が大きいの
に加えてねじ山が少ないので、一層弛みやすい傾向にあ
る。

また、締付操作においても子つまみ５は端子間の間隔が
広く、しかも指で摘むつまみのナール部も大きいので、
指が滑らす固く締付けることができるが、親つまみ４は
子一つまみ５に比べてナール部の面積が小さく、指が滑
りやすいばかりでなく、端子間の間隔も狭められており
、その上上方に子つまみ５があって締付操作の障害とな
るため、締付に支障を来し、固い締付は無理となる。

さらに、リード線を親つまみ４によって親端子６に接続
する際、子つまみ５とねじ径が異なるため、リード線の
先端に取付けられる接続片は２種類が必要となり、両者
の使い別けなど煩わしい配慮が必要となって不便である
。

また、接続片としては端子への取付を容易にするため通
常先端がＵ字形に開いた大形チップと称するものが使用
されるが、大形チップは端子部の弛みによって容易に脱
落するおそれがあるので、長尺のリード線には開口のな
い取付孔を有する端子（接続片゛）が用いられることが
ある。

この場合にζ科１１８子６，７からつまみ４，５を一旦
取外さなけれはならす、特に親端子６側を先に接続しな
けれはならないとの制約があるばかりでなく、親端子６
に取付ける接続片は大形となって、隣接する接続片が僅
かな変動によって接触するおそれがあり、特に絶縁保護
の施されていないものでは危険である。

一方、極板９は第１図に示すように一列に整然と配列さ
れているので、ｌ目で回路順序が識別されるが、結線す
る端子側は第２図に示すように端子が２段に配列されて
いるので、継電器（内部要素）側、盤外（外部接続）側
の区別とその回路順序などを１目で判別できず、ダイヤ
ルプレート３の記号を見て結線している。

しかしながら、親子の端子あるため１個所の端子部に二
つの異なった記号が併記されており、どの記号が親端子
に相当するのかなど１目で判別できない。

また、結線された後記号がリード線に隠れて見えなくな
ることがあり、結線チェック際不便である。

ところで、配電盤に装備された引出形保護継電器の試験
に当っては、床面上で操作が行われるが、その際テスト
プラグが直接床面に置かれることがある。

その場合、テストプラグは第２図に示すように極板９な
どが床面に接触し、汚損される。

塵埃付着などの汚損状態で接続装置に挿着すると、塵埃
が極板９に付着している場合には接触不良の原因となり
、また上基台１ （あるいは下基台２）に付着している
場合には、絶縁劣化による相間短絡を発生させるおそれ
がある。

また、テストプラグは、配電盤に装備された保護継電器
との着脱が行われるが、その取扱い中に誤まって床面に
落すとか、あるいは作業申請まってリード線に足を引掛
けてテストプラグを横転させたり、近くの器物に衝突さ
せるなどの不祥事を起すおそれがある。

このような事態が発生すると、上基台１及び下基台２は
フェノール樹脂の成形品であり、重量的にも重いので、
容易に破損する。

この種のテストプラグは点検及び試験の際のみに使用さ
れるものであって、その使用頻度は小さく、複数台の保
護継電器に対して１個という具合に備品数は少ないので
、破損すると代替品がなく、試験中断となって運転に支
障を来すことになる。

したがって、試験はテストプラグの破損防止に細心の注
意を払いながら行う必要があり、煩雑な作業となる。

また、上基台１及び下基台２は、極板９が多数個配設さ
れているので、第１図に示すＡ及びＢの寸法がかなり長
くなり、樹脂収縮作用または経年変化により反りを生じ
るなど変形することがある。

反りが生じると、挿着時に極板９と接点との接触状態に
異常を来して接触不良を生じるばかりでなく、テストプ
ラグの円滑な挿脱が妨げられる。

なお、テストプラグは所要の試験装置に接続してから引
出形継電器の端子装置（接続装置）に一括挿入するもの
であり、天地を逆にして挿入すると、所定回路と異なる
誤回路が形成され誤動作、最悪時には短絡焼損事故を惹
起すおそれがるので、テストプラグの天地逆の挿入を防
止する機構を必要とする。

この考案は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的
はリード線の接続を簡単かつ確実に行い得るとともに、
識別が容易な端子を有する一括挿入式テストプラグを提
供することにある。

この考案の他の目的は極板の部分を接触面とすることな
く安定な待機状態を保持することができ、かつ基台の反
りを防止できる一括挿入式テストプラグを提供すること
にある。

この考案に係る一括挿入式テストプラグは、一点一端子
で同一つまみと腰高さに交互に段差を設けたこと、端子
を前列は継電器側、後列は盤外側に分けるとともに、極
板に合せた一線上の回路順番に配列したこと、基台に取
付脚を設けたこと等を特徴とするものであって、以下こ
れを図示の実施例により説明する。

第３図〜第７図はこの考案の一実施例を示すもので、２
１は継電器箱、２２は端子装置で、主基台２３、下基台
２４、接点２７、盤外側の端子２８、継電器側端子２９
等からなる。

前記主基台２３は継電器本体２５に固定されており、こ
の本体２５を前記継電器箱２１より引出す際同時に引出
される。

前記下基台２４は前記継電器箱２１に固定されている。

両基台２３．２４の前面にはプラグ挿入口２６が設けら
れ、また両基台２３．２４の相対向する面に接点２７が
設けており、テストプラグ３０の挿入状態では、盤外側
端子２８〜下基台２４の接点２７〜テストプラグ３０〜
短絡片３１〜テストプラグ３０〜上基台２３の接点２７
〜継電器側端子２９の導電路が形成される。

テストプラグ３０は第５図〜第７図に示すように構成さ
れている。

図中、３２は弾性を有する合成樹脂、例えばポリカーボ
ネイト樹脂で形成された主基台で、略への字形（シュブ
ロン形）をしており、表面に高い円筒３３及び低い円筒
３４が交互に突設されている。

また、裏面には前記円筒と対応するように円筒３５が突
設されている。

２６は黄銅棒よりなる端子で、前記円筒３３．３４に挿
入され、その一端の切欠部が前記円筒３５に回転を防止
するように係合され、他端には細目ねじ部３７が設けで
ある。

３８は合成樹脂よりなるつまみで、その軸中心部に前記
細目ねじ部３７に螺合するねじ孔を有する金属体が成形
時に埋設されている。

３９は１対の黄銅板３９−１．３９−２などよりなる極
板で、絶縁板、例えばエポキシよりなる基板３９−３の
両面に黄銅板３９−１．３９−２が接着された構造とな
る。

４０はこの極板３９を固定する合成樹脂、例えば強化ポ
リエチレワテレフタレート合或樹脂よりなる固定板で、
その成形時に極板３９を埋込んで一体化する。

４１は前記極板３９にスポット溶接により溶着されたピ
ン、４２は接続片で、その一端は前記ピン４１にかしめ
によって固定され、他端は前記端子３６にねじ４３によ
り固定されている。

この接続片４２は絶縁チューブに挿通し、その両端部の
み締付部として露出させている。

４４は前記主基台３２と同様に弾性を有する合成樹脂、
例えばポリカーボネイト樹脂で形成された下基台、４５
は前記極板３９の幅に相当する切欠溝で、下基台４４に
設けられている。

４６は前記テストプラグ３０を引出すとき指を掛ける把
手、４７は鉄板を折曲げて形成腰下基台４４下面に取付
けた取付脚である。

前記下基台４４は前記主基台３２と接合され、ねじ４８
により固く締付けられて一体化される。

なお、４９は弾性を有する合成樹脂、例えばポリカーボ
ネイト樹脂で形成された締付用スパナで、前記つまみ３
８の外周ナール部を嵌挿され、これと咬合って係合する
ナール穴が一端に設けられ、他端に指で摘むつまみ部５
１が形成されている。

この考案に係る一括挿入式テストプラグは、上記のよう
に構成されており、つまみ３８の配列は極板３９の回路
順序に合せて一方向、例えば左から右へ順次並べた配列
するとともに、上下２個の端子３６を同回路′の１組と
し、その前列を継電器側、後列を盤外側として区別した
ので、従来（第１図及び第２図）のつまみの配列が２列
のものに対しての回路順序の判別に当り、どちらからど
のような順番となっているのか直感的に判別できないも
のに比べ、左から右へと一直線上に並べられている点判
別が容易である。

これは複数個の極板３９に対してどのつまみ３８が連結
されているのかなど両者のつながりの関係の見分は方に
ついても同様であり、容易に両者のつながりを見分ける
ことができるし、継電器側と盤外側の区別も明確である
。

しかも、端子記号も１端子に対して１記号となっており
、従来のように２つの記号が併記された親子端子の端子
記号表示と比べて判読が容易で結線及びチェックの際便
利である。

また、つまみ３８は全て大きさが統一され、かつつまみ
の高さは交互に高低の段差がつけられているので、ねじ
径が小さく、良好な締付が可能である。

特に、端子３６のねじ部３７は細目ねじであり、並目ね
じのつまみと比べて締付後つまみ３８は弛み難くなる。

しかも、つまみ３８の高さに交互に段差がつけられ、か
つ単独であるため、高いつまみはもとより低い方のつま
みでも上下方向のピッチが広く設定されていることと相
俟って指で摘みやすい。

例えば栂指を挿入して食指でつまみ３８を上下方向に沿
って摘むことは容易であり、摘んだ状態で指先でつまみ
３８を回せば締付けることができる。

なお、つまみ３８の締付をより確実にするには締付用ス
パナ４９を用いる。

このスパナ４９を用いて締付けるには、そのナール穴５
０につまみ３８を挿入する如く押込むと、つまみ３８の
外周ナール部にナール穴５０が咬み合って係合して円周
方向には滑らない。

この状態でつまみ部５１を指で摘んで回すとつまみ３８
も同様に回転して固（締まる。

スパナ４９を抜くときはそのまま上方に持ち上げれば、
ナール部は抜き方向に直接状となっており、かつ開口先
端が拡開するラッパ状にナール穴５０が形成されている
ため、簡単に抜き取ることができる。

スパナ４９は締付だけではなく、弛緩にも使用できるこ
とは勿論であり、また高低いずれのつまみにも利用でき
る。

すなわち、低い方のつまみであってもスパナ４９のつま
み部５１は高い方のつまみの頂点より高い所に位置する
ので、周囲のつまみ３８が操作の障害となることはない
。

また、スパナ４９は弾性を有する合成樹脂の成形品であ
り、固く締付けても、あるいは落下させても破損するこ
とがなく、しかも絶縁物であるため誤まって通電状態に
ある裸導体部に落しても短絡などを発生させる心配がな
く、勿論活線作業が可能であって、作業能率向上する。

さらに、多数本の直線ナール部に咬み合って係合される
ので、強く締付けられても通常のプラスねじあるいはマ
イナスねじのようにねじ頭の溝が摩耗して空転するおそ
れもなく、作業が確実になる。

また、ねじ径の統一によってリード線の先端に取付ける
接続片も一種類とすることができ、作業性の向上と併せ
て製造面などにおける利点も生じる。

一方、保護継電器の試験に際しては、配電盤の上部に袋
端されている場合のように長尺のリード線を用いること
があり、その場合には接続片とし。

て尖形チップ以外の端子が用いられることがあるが、ど
の端子でも１つのつまみ３８を取外し、再び螺合すれば
よいので、親子つまみのように２つのつまみを取外すな
どの煩わしさが解消される。

しかも、端子３６に絶縁保護のない接続片を装着しても
高い円筒３３と低い円筒３４とが交互に設けられて段差
が形成されており、この段差によって裸の接続片の隣接
するもの同志の接触が確実に防止され、取扱い上安全で
ある。

テストプラグ３０は保護継電器の試験に際して準備状態
で床面などに置かれることがある。

この場合には第６図に示すように下基台４４の下面に設
けた取付脚４７で支える如く置けば、極板３９は浮き上
がって床面と接触せず、取付脚４７の位置を適宜選定す
ることによって無造作にテストプラグ３０を床面におい
ても自然と起き上がり、常に第６図に示す状態に復帰さ
せることができ、極板３９の汚損が極力軽減される。

しかも、極板３９は１回路ごと機械的にも独立しており
、塵埃付着の防止に一層の効果がある。

また、上基台３２、下基台４４及びつまみ３８は弾性を
有する合成樹脂で形成され、極板３９は黄銅板３９−１
．３９−２の間にエポキシ基板３９−３を挾んだサンド
イッチ構造になっているので、誤まって床面に落したり
、器物に衝突させても破損のおそれが少なくなり、取扱
いに際して無用の心配がなくなって本来の試験に専念で
きる。

下基台３２は前述したようにその下面にその長手方向に
沿って取付脚４７がねじ４８により固く取着されており
、両基台３２．４４の反りがこれによって防止される。

その結果、挿脱操作は常に円滑に行うことができ、また
薄板３９の端子装置２２の接点２７との良好な接触状態
が維持される。

なお、極板３９はそれぞれ独立しており、この極板３９
の幅を適宜変化させて大小を混在させることにより、端
子装置２２に対してのテストプラグ３０の挿入状態を特
定の状態に限定できる。

すなわち、第５図に示す極板３９の中に幅の狭い極板３
９ａを混在させ、また端子装置２２のプラグ挿入口２６
にも上記極板３９ａに合致した幅のプラグ挿入口２６ａ
を設けると、幅の狭い極板３９ａと挿入口２６ａがちょ
うど合致した位置のみプラグの挿入が可能になる。

これは極板３９ａ、挿入口２６ａを全体の中間点よりず
らせた位置に設けるなど非対称的にすることによってプ
ラグ３０を逆さにした状態での挿入を防止できることを
意味している。

また、端子装置２２は第３図に示すように継電器箱２１
の上下に取付けられることがある。

この場合、継電器箱２１の上方に取付けられている端子
装置２２は、下方に取付けられている第４図に示す端子
装置２２と同種のものが取付けられるため、継電器箱２
１への取付方向は第４図に示す端子装置２２の取付方向
とは逆になる。

すなわち、継電器箱２１の上方と下方とに取付けられた
端子装置２２の回路の配列順序は、上方では天地逆に取
付けられているため、下方とは逆になっている。

この状態で第４図に示すテストプラグ３０を挿入するに
は、下方の端子装置２２には図示状態で挿入し、上方の
端子装置２２には図示状態とは逆の状態で挿入しなけれ
ばならない。

このようにプラグの挿入状態を変える必要がある場合に
は、従来はプラグ挿入口及びプラグの端子にそれぞれ捺
印された記号を頼りにプラグの挿入状態を操作者が確か
めてから挿入していたが、機械的に適正な挿入状態以外
では挿入不能とすることにより、操作に安心感が生じて
試験操作が円滑になり、時間が短縮される。

このような機能を果す機構は極板３９及び挿入口２６の
幅を２種類とすることに限定されるものではなく、それ
以上の数の種類とすることも可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のテストプラグを示す平面図、第２図は第
１図の■−■線断面図、第３図はこの考案に係るテスト
プラグを試験時などに使用する保護継電器の正面図、第
４図は第３図のＩＶ−ＩＶ線断面図、第５図はこの考案
に係るテストプラグの一実施例を示す平面図、第６図は
第５図のＶＩ−Ｖｌ線断面図、第７図は同テストプラグ
の分解斜視図である。 ２２・・・・・・端子装置、２６・・・・・・プラグ挿
入口、３０・・・・・・テストプラグ、３２・・・・・
・上基台、３３，３４・・・・・・円筒、３６・・・・
・・端子、３８・・・・・・つまみ、３９・・・・・・
極板、４４・・・・・・下基台、４７・・・・・・取付
脚、４９・・・・・・締付用スパナ。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 弾性を有する合成樹脂よりなる上基台及び下基台、この
   上下の基台の前方にそれぞれ独立して突出された複数の
   極板、これら極板の配列順序に合せて前列を継電器側と
   し、後列を盤外側として配列するとともに交互に高低の
   段差を設けた端子群、この端子群の各端子に螺合された
   つまみ、前記下基台の下面に極板配列方向に沿って取付
   けた取付脚を具備してなり、前記極板を引出形保護継電
   器の端子装置に挿着する一括押入式テストプラグ。