JPH01189932A - プローブカード - Google Patents
プローブカードInfo
- Publication number
- JPH01189932A JPH01189932A JP1513388A JP1513388A JPH01189932A JP H01189932 A JPH01189932 A JP H01189932A JP 1513388 A JP1513388 A JP 1513388A JP 1513388 A JP1513388 A JP 1513388A JP H01189932 A JPH01189932 A JP H01189932A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- probe card
- needle
- chip
- pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、IC試験時にICのパッドに接触する針を有
するプローブカードに関する。
するプローブカードに関する。
本発明は、プローブカードにおいてそのプローブカード
の針を被試験ICのパッドに対して垂直に立てることに
より、ICチップ上の無作為の位置に存在するパッド針
を立てることを容易にしたものである。
の針を被試験ICのパッドに対して垂直に立てることに
より、ICチップ上の無作為の位置に存在するパッド針
を立てることを容易にしたものである。
従来は、第2図に示すようにプローブカードにおける針
2は、窓穴3の外周部からICのパッドに向かって斜め
に取り付けられていた。
2は、窓穴3の外周部からICのパッドに向かって斜め
に取り付けられていた。
なお、1はプローブカード、4はコンタクトビン、6は
ICチップである。
ICチップである。
上記のようなプローブカードでは、ICチップ上の中央
付近などの無作為な位置に存在するパッドへ針を立てる
ことが難しいという欠点を有していた。
付近などの無作為な位置に存在するパッドへ針を立てる
ことが難しいという欠点を有していた。
上記問題点を解決するために本発明においてはプローブ
カードの針を第1図に示すようにICのパッドに対して
垂直に取り付けた構成としたことにより、ICチップ上
の無作為な位置に存在するパッドへ針を立てることを容
易にした。
カードの針を第1図に示すようにICのパッドに対して
垂直に取り付けた構成としたことにより、ICチップ上
の無作為な位置に存在するパッドへ針を立てることを容
易にした。
プローブカードの針を上記のように構成することにより
、プローブカード上の任意の位置に針を立てることが可
能となる。
、プローブカード上の任意の位置に針を立てることが可
能となる。
以下に、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明のプローブカードの斜視図である。プ
ローブカード1の針2をICチップ6上のパッド7に対
して垂直に取付けることにより、ICチップ6上の任意
の位置に存在するパッド7への針当てが容易になり、ま
た、プローブカードの設計及び製作時の高精度化を有利
にする。
ローブカード1の針2をICチップ6上のパッド7に対
して垂直に取付けることにより、ICチップ6上の任意
の位置に存在するパッド7への針当てが容易になり、ま
た、プローブカードの設計及び製作時の高精度化を有利
にする。
第3図は、本発明にかかる実施例を示すもので、プロー
ブカード1に針2を垂直に取付けることにより、ICチ
ップ上に任意に位置するパッドへの針当てが容易になる
。第4図は、前記第3図のA−A’線に沿った断面図の
一部であり、プローブカード1から垂直に取付けられた
針2の取付は箇所5は、ICチップ6の上に任意に位置
するパッド7と一対1の位置に存在するため、前記プロ
ーブカードの設計時、針2の取付位置の設計が容易にな
り、また前記プローブカードの製作時、針2の先端位置
の精度を容易に向上することができる。
ブカード1に針2を垂直に取付けることにより、ICチ
ップ上に任意に位置するパッドへの針当てが容易になる
。第4図は、前記第3図のA−A’線に沿った断面図の
一部であり、プローブカード1から垂直に取付けられた
針2の取付は箇所5は、ICチップ6の上に任意に位置
するパッド7と一対1の位置に存在するため、前記プロ
ーブカードの設計時、針2の取付位置の設計が容易にな
り、また前記プローブカードの製作時、針2の先端位置
の精度を容易に向上することができる。
第5図は、プローブカードlに垂直に取付けた針2の実
施例の1つを示すもので、計2の一部8を例えばS字形
に湾曲させることにより、計2がICのパッド7と接触
する際に計2の先端とパッド7との間に発生する圧力を
前記湾曲部8に逃がして低下させて前記パッド7の故障
等を防ぐことができる。
施例の1つを示すもので、計2の一部8を例えばS字形
に湾曲させることにより、計2がICのパッド7と接触
する際に計2の先端とパッド7との間に発生する圧力を
前記湾曲部8に逃がして低下させて前記パッド7の故障
等を防ぐことができる。
第6図は、第5図を用いて説明した実施例の他の実施例
であり、この場合は針2を弾力性のある物質9を含む構
造として計2とICのパッド7との間に発生する圧力を
低下させる。
であり、この場合は針2を弾力性のある物質9を含む構
造として計2とICのパッド7との間に発生する圧力を
低下させる。
本発明は、以上説明したようにICのチップ上の任意に
位置するパッドに対する針当てを容易にする効果がある
。併せて、プローブカードの設計及び高精度化を有利に
する効果がある。
位置するパッドに対する針当てを容易にする効果がある
。併せて、プローブカードの設計及び高精度化を有利に
する効果がある。
第1図は本発明にかかるプローブカードの斜視図、第2
図は従来のプローブカードの断面図、第3図は本発明に
かかるプローブカードの針の取付位置の実施例を示す平
面図、第4図は第3図のA−A’線に沿った断面図、第
5図及び第6図はそれぞれ本発明にかかるプローブカー
ドの実施例を示す断面図である。 1・・・プローブカード 2・・・針 6・・・ICチップ 7・・・パッド 以 玉出願人 セイコ
ー電子工業株式会社 暦3図
図は従来のプローブカードの断面図、第3図は本発明に
かかるプローブカードの針の取付位置の実施例を示す平
面図、第4図は第3図のA−A’線に沿った断面図、第
5図及び第6図はそれぞれ本発明にかかるプローブカー
ドの実施例を示す断面図である。 1・・・プローブカード 2・・・針 6・・・ICチップ 7・・・パッド 以 玉出願人 セイコ
ー電子工業株式会社 暦3図
Claims (1)
- (1)IC試験時にICのパッドに接触する針を有する
プローブカードにおいて、前記針を前記パッドに対して
垂直に立てたことを特徴とするプローブカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1513388A JPH01189932A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | プローブカード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1513388A JPH01189932A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | プローブカード |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01189932A true JPH01189932A (ja) | 1989-07-31 |
Family
ID=11880324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1513388A Pending JPH01189932A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | プローブカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01189932A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06256662A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-13 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 導電性重合体 |
JPH06253791A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-13 | Urashima:Kk | パック詰おでんとその製造方法 |
JPH077055A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Nec Corp | 探針装置 |
JPH0729839U (ja) * | 1993-11-08 | 1995-06-02 | 日本電子材料株式会社 | 垂直スプリング式プローブカード |
JPH0729838U (ja) * | 1993-11-08 | 1995-06-02 | 日本電子材料株式会社 | 座屈応力減少機構付垂直動作式プローブカード |
-
1988
- 1988-01-26 JP JP1513388A patent/JPH01189932A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06256662A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-13 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 導電性重合体 |
JPH06253791A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-13 | Urashima:Kk | パック詰おでんとその製造方法 |
JPH077055A (ja) * | 1993-06-17 | 1995-01-10 | Nec Corp | 探針装置 |
JPH0729839U (ja) * | 1993-11-08 | 1995-06-02 | 日本電子材料株式会社 | 垂直スプリング式プローブカード |
JPH0729838U (ja) * | 1993-11-08 | 1995-06-02 | 日本電子材料株式会社 | 座屈応力減少機構付垂直動作式プローブカード |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7554348B2 (en) | Multi-offset die head | |
JPH01189932A (ja) | プローブカード | |
KR100373692B1 (ko) | 프로브 구조체 | |
JP3164542B2 (ja) | プローブ及びそれを用いたプローブカード | |
JPH1151970A (ja) | プローブカード | |
JPH02206765A (ja) | プローブカード | |
JPS60189949A (ja) | プロ−ブカ−ド | |
JPS6218036Y2 (ja) | ||
KR0123865Y1 (ko) | 반도체 웨이퍼 프로브 카드 | |
JP2918164B2 (ja) | プローブカード | |
JPH0612544Y2 (ja) | プローブカード | |
JPH0233960A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0729838U (ja) | 座屈応力減少機構付垂直動作式プローブカード | |
JPH0337571A (ja) | プローブカード | |
JPH10288629A (ja) | コンタクトプローブおよびこれを備えたプローブ装置 | |
KR100507878B1 (ko) | 다중 정렬핀을 갖는 패키지 | |
JPH0666833A (ja) | プローブカード用探針 | |
JPH01136357A (ja) | 集積回路用パツケージ | |
JPH08330464A (ja) | ピン・グリッド・アレイ構造lsi | |
JPH04266042A (ja) | プローブカード | |
JPH0397296A (ja) | 表面実装型パッケージ | |
JPH05340966A (ja) | プローブカード | |
JPH05102254A (ja) | 半導体装置試験用プローブカード | |
JPH02192152A (ja) | 集積回路パッケージ構造 | |
JPS6484729A (en) | Probing card |