JPS63294677A - Ｉｃソケツト - Google Patents
ＩｃソケツトInfo
- Publication number
- JPS63294677A JPS63294677A JP13018787A JP13018787A JPS63294677A JP S63294677 A JPS63294677 A JP S63294677A JP 13018787 A JP13018787 A JP 13018787A JP 13018787 A JP13018787 A JP 13018787A JP S63294677 A JPS63294677 A JP S63294677A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- terminal
- socket
- measuring
- terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 22
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 4
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣソケットに関し、特にＩＣを装着し基板を
デバッグする際に測定用端子を保護した構造等を有する
ＩＣソケットに関する。
デバッグする際に測定用端子を保護した構造等を有する
ＩＣソケットに関する。
従来のＩＣソケットは、ＩＣを容易に装着するため装着
面が内側に傾斜をもたせた構造のものがある。
面が内側に傾斜をもたせた構造のものがある。
第４図はかかる従来の一例を説明するためのＩＣソケッ
トの断面図である。
トの断面図である。
第４図に示すように、ソケット本体１１の下の面には外
部に接続するため二列に形成したピン接続リード１２が
突出し、ソケット本体１１の内部でピン押えばね１３と
上方外部へ伸びる測定用端子１４とが前記リード１２に
接続される構造である。
部に接続するため二列に形成したピン接続リード１２が
突出し、ソケット本体１１の内部でピン押えばね１３と
上方外部へ伸びる測定用端子１４とが前記リード１２に
接続される構造である。
また、第５図は第４図に示すような一般的なＩＣソケッ
トに挿入されるＩＣピンの端子間隔を示す平面図である
。
トに挿入されるＩＣピンの端子間隔を示す平面図である
。
第５図に示すように、ＩＣ１７の二列に形成されたピン
１８ａは基本間隔ａの状態にある端子を表し、またピン
１８ｂは拡がった状態すにある端子を表す。
１８ａは基本間隔ａの状態にある端子を表し、またピン
１８ｂは拡がった状態すにある端子を表す。
上述したように、ＩＣピンの端子が外側に拡がっている
場合、これを無理に第４図に示すようなソケットに挿入
しようとすると、ＩＣのピン端子を破損してしまうこと
がある。この破損の問題を解決するため、従来はピン接
続リード１２がＩＣソケットの上方に向かって拡がった
構造を有し、これによりピンの拡がりを吸収してソケッ
トに挿入するようにしている。
場合、これを無理に第４図に示すようなソケットに挿入
しようとすると、ＩＣのピン端子を破損してしまうこと
がある。この破損の問題を解決するため、従来はピン接
続リード１２がＩＣソケットの上方に向かって拡がった
構造を有し、これによりピンの拡がりを吸収してソケッ
トに挿入するようにしている。
上述した従来のＩＣソケットは、これにＩＣを装着して
構成する基板をデパックする際に装着したＩＣのピン端
子の一つを選択しその状態を測定する必要が生じる。か
かる場合、測定器の測定用端子を連続して接触させてお
かなければならないため、測定器の測定用端子が動くこ
とで隣りあったＩＣのピン端子相互が測定用端予め導通
部分により短絡することがある。かかるＩＣピン端子間
の短絡は測定対象のＩＣピン端子の状態を正確に測定で
きないばかりでなく、ＩＣの破壊の原因にもなるという
欠点がある。
構成する基板をデパックする際に装着したＩＣのピン端
子の一つを選択しその状態を測定する必要が生じる。か
かる場合、測定器の測定用端子を連続して接触させてお
かなければならないため、測定器の測定用端子が動くこ
とで隣りあったＩＣのピン端子相互が測定用端予め導通
部分により短絡することがある。かかるＩＣピン端子間
の短絡は測定対象のＩＣピン端子の状態を正確に測定で
きないばかりでなく、ＩＣの破壊の原因にもなるという
欠点がある。
本発明の目的は、従来のかかる基板等のデバッグの際に
ＩＣの状態を正確且つ安全に測定できるようなＩＣソケ
ットを提供することにある。
ＩＣの状態を正確且つ安全に測定できるようなＩＣソケ
ットを提供することにある。
本発明のＩＣソケットは、外部に接続するため二列に形
成したピン接続リードと、前記ピン接続リードに接続さ
れたピン押えばねと、前記リードに接続され、上方外部
へ伸びるとともに外側に折曲げてなる測定用端子と、前
記ピン接続リードを支持し、前記測定用端子を収納し且
つ隣接する前記測定用端子間の接触を防止させるための
隔壁を形成したソケット本体とを有し、前記測定用端子
の立上り部と前記ピン押えばねとによりＩＣピン端子挿
入部を形成するように構成される。
成したピン接続リードと、前記ピン接続リードに接続さ
れたピン押えばねと、前記リードに接続され、上方外部
へ伸びるとともに外側に折曲げてなる測定用端子と、前
記ピン接続リードを支持し、前記測定用端子を収納し且
つ隣接する前記測定用端子間の接触を防止させるための
隔壁を形成したソケット本体とを有し、前記測定用端子
の立上り部と前記ピン押えばねとによりＩＣピン端子挿
入部を形成するように構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を説明するためのＩＣソケッ
トの斜視図である。
トの斜視図である。
第１図に示すように、かかるＩＣソケットは外部に接続
するためソケット本体１に二列にわたって支持されたピ
ン接続リード２と、このピン接続リード２に接続され且
つソケット本体１の内側に二列に内蔵されるピン押えば
ね３と、同じくピン接続リード２に接続され且つソケッ
ト本体１の内壁に沿って一部がピン押えばね３と対峙す
るように形成され、前記ピン接続リード２に接続されて
いない反対側が外側に向かって折曲げて形成された測定
用端子４とを有している。しかも、このソケット本体１
は各測定用端子４の接触防止用に隔壁６が形成されてい
る。かかる形状のソケットにＩＣを装着して試験を行う
ときは、測定用端子４に試験用フックを引っかけて固定
する。
するためソケット本体１に二列にわたって支持されたピ
ン接続リード２と、このピン接続リード２に接続され且
つソケット本体１の内側に二列に内蔵されるピン押えば
ね３と、同じくピン接続リード２に接続され且つソケッ
ト本体１の内壁に沿って一部がピン押えばね３と対峙す
るように形成され、前記ピン接続リード２に接続されて
いない反対側が外側に向かって折曲げて形成された測定
用端子４とを有している。しかも、このソケット本体１
は各測定用端子４の接触防止用に隔壁６が形成されてい
る。かかる形状のソケットにＩＣを装着して試験を行う
ときは、測定用端子４に試験用フックを引っかけて固定
する。
次に、第２図は第１図における測定用端子と隔壁部分の
拡大図である。
拡大図である。
第２図に示すように、測定用端子４は隔壁６により分離
され且つその先端部は外側に向かって折曲げられている
ので、測定器（図示省略）の試験用端子フック等をこの
測定用端子４の先端部に引っかけて固定すれば隣接する
測定用端子に短絡する問題もなくなる。
され且つその先端部は外側に向かって折曲げられている
ので、測定器（図示省略）の試験用端子フック等をこの
測定用端子４の先端部に引っかけて固定すれば隣接する
測定用端子に短絡する問題もなくなる。
次に、第３図は第１図におけるＩＣソケットのＡ−Ａ’
線断面図である。
線断面図である。
第３図に示すように、ＩＣソケットはソケット本体１の
内壁に沿った測定用端子４の一部をなす立上り部とピン
押えばね３とによりＩＣピン端子挿入部５を形成してお
り、端子を挿入しやすくしている。
内壁に沿った測定用端子４の一部をなす立上り部とピン
押えばね３とによりＩＣピン端子挿入部５を形成してお
り、端子を挿入しやすくしている。
以上、本実施例について説明したが、測定用端子４ある
いはピン押えばね３はピン接続リード２を延長して形成
してあってもよいことは言うまでもない。
いはピン押えばね３はピン接続リード２を延長して形成
してあってもよいことは言うまでもない。
以上説明したように、本発明は二列のピン接続リードと
、このリードに接続されたピン押えばねと、同じく前記
リードに接続され、上方外部へ伸びるとともに外側に折
曲げてなる測定用端子と、前記ピン接続リードを支持し
、前記測定用端子を収納し且つ隣接する前記測定用端子
間の接触を防止させるための隔壁を有するソケットの本
体とを有し、前記測定用端子の立上り部と前記ピン押え
ばねとによりＩＣピン端子挿入部を形成することにより
、ＩＣピンの挿入を容易にし、且つ測定機器の測定用端
子等によってもＩＣのピン端子の短絡を防止することが
できるため、正確で安全な測定および使用が得られると
いう効果がある。
、このリードに接続されたピン押えばねと、同じく前記
リードに接続され、上方外部へ伸びるとともに外側に折
曲げてなる測定用端子と、前記ピン接続リードを支持し
、前記測定用端子を収納し且つ隣接する前記測定用端子
間の接触を防止させるための隔壁を有するソケットの本
体とを有し、前記測定用端子の立上り部と前記ピン押え
ばねとによりＩＣピン端子挿入部を形成することにより
、ＩＣピンの挿入を容易にし、且つ測定機器の測定用端
子等によってもＩＣのピン端子の短絡を防止することが
できるため、正確で安全な測定および使用が得られると
いう効果がある。
第１図は本発明の一実施例を説明するためのＩＣソケッ
トの斜視図、第２図は第１図における測定用端子と隔壁
部分の拡大図、第３図は第１図におけるＩＣソケットの
Ａ−Ａ″線断面図、第４図は従来の一例を説明するため
のＩＣソケットの断面図、第５図は一般的なＩＣソケッ
トに挿入されるＩＣピンの端子間隔を示す平面図である
。 １・・・ソケット本体、２・・・ピン接続リード、３・
・・ピン押えばね、４・・・測定用端子、５・・・第１
図 拾 ２図 第３図
トの斜視図、第２図は第１図における測定用端子と隔壁
部分の拡大図、第３図は第１図におけるＩＣソケットの
Ａ−Ａ″線断面図、第４図は従来の一例を説明するため
のＩＣソケットの断面図、第５図は一般的なＩＣソケッ
トに挿入されるＩＣピンの端子間隔を示す平面図である
。 １・・・ソケット本体、２・・・ピン接続リード、３・
・・ピン押えばね、４・・・測定用端子、５・・・第１
図 拾 ２図 第３図
Claims (1)
- 外部に接続するため二列に形成したピン接続リードと、
前記ピン接続リードに接続されたピン押えばねと、前記
リードに接続され、上方外部へ伸びるとともに外側に折
曲げてなる測定用端子と、前記ピン接続リードを支持し
、前記測定用端子を収納し且つ隣接する前記測定用端子
間の接触を防止させるための隔壁を有するソケットの本
体とを有し、前記測定用端子の立上り部と前記ピン押え
ばねとによりＩＣピン端子挿入部を形成することを特徴
とするＩＣソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13018787A JPS63294677A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | Ｉｃソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13018787A JPS63294677A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | Ｉｃソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63294677A true JPS63294677A (ja) | 1988-12-01 |
Family
ID=15028157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13018787A Pending JPS63294677A (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | Ｉｃソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63294677A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0737661A (ja) * | 1993-07-22 | 1995-02-07 | Nec Corp | Ｉｃソケット |
-
1987
- 1987-05-26 JP JP13018787A patent/JPS63294677A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0737661A (ja) * | 1993-07-22 | 1995-02-07 | Nec Corp | Ｉｃソケット |
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