JPS6231974A - Ｉｃ用ソケツト - Google Patents
Ｉｃ用ソケツトInfo
- Publication number
- JPS6231974A JPS6231974A JP16949285A JP16949285A JPS6231974A JP S6231974 A JPS6231974 A JP S6231974A JP 16949285 A JP16949285 A JP 16949285A JP 16949285 A JP16949285 A JP 16949285A JP S6231974 A JPS6231974 A JP S6231974A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- terminal
- terminals
- lead
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣが着脱自在に装着されるＩＣ用ソケットに
関する。
関する。
従来のＩＣ用ソケットにおける装着ＩＣのリード端子が
挿入されるソケットピンの機能は外部配線端子部とＩＣ
のリード端子との間を導通状態とすることのみであった
。
挿入されるソケットピンの機能は外部配線端子部とＩＣ
のリード端子との間を導通状態とすることのみであった
。
上述した従来のＩＣ用ソケットにＩＣを装着して構成さ
れる基板のデバッグ時に、装着したＩＣの一つのリード
端子の状態をＩＣが装着されている面から測定する場合
、前記リード端子に測定機の測定端子を接触させた状態
を連続させなければならず、デバッグ作業が容易ではな
く、測定機測定端子が動くことにより隣り合ったＩＣの
リード端子同士が測定端子の導体部を介し短絡すること
があり、ＩＣの劣化、破壊の原因となるという欠点があ
った。
れる基板のデバッグ時に、装着したＩＣの一つのリード
端子の状態をＩＣが装着されている面から測定する場合
、前記リード端子に測定機の測定端子を接触させた状態
を連続させなければならず、デバッグ作業が容易ではな
く、測定機測定端子が動くことにより隣り合ったＩＣの
リード端子同士が測定端子の導体部を介し短絡すること
があり、ＩＣの劣化、破壊の原因となるという欠点があ
った。
本発明はデバッグ作業を容易にかつ安全に行うことがで
きるＩＣ用ソケットを提供するものであるＯ 〔問題点を解決するための手段〕 本発明はＩＣのリード端子が挿入接続されるソΩ ケラトビンに信号測定用の端子を設けたこと特徴とする
ＩＣ用ソケットである。
きるＩＣ用ソケットを提供するものであるＯ 〔問題点を解決するための手段〕 本発明はＩＣのリード端子が挿入接続されるソΩ ケラトビンに信号測定用の端子を設けたこと特徴とする
ＩＣ用ソケットである。
次に本発明の実施例を図により説明する。
第１図（、）は本発明の実施例の斜視図、同図（ｂ）は
同図（α）のソケットにＩＣを装着した状態の部分の断
面図である。第１図（ｔｚ） 、 （ｂ）においてへ絶
縁物のソケット基体１にはＩＣ６のリード端子７が挿入
されるソケットピン２のリード端子部は口部３が埋込捷
れて多数取付けられている。そして、ソケットピン２の
外部配線端子部４はソケット基体１の下面から外部に引
き出されており、各ソケットピン２のリード端子受口部
３と外部配線端子４との間に測定用端子５が設けられ、
該測定端子５毎にソケット基体１に切り欠き部８が設け
られ、各端子５はソケット基体１の切り欠き部８から突
出している。したがって、測定用端子５に測定機の測定
用端子を引かけた際、測定機の測定用端子は１本ずつ切
り欠き部８内に係合されて位置決めされるから、隣接す
る端子５，５同士が接触することが防止され、デバッグ
作業が容易となり、かつソケット基体１の切り欠き８内
に測定用端子５を係合しているため、他のＩＣ６のリー
ド端子７から保護される。
同図（α）のソケットにＩＣを装着した状態の部分の断
面図である。第１図（ｔｚ） 、 （ｂ）においてへ絶
縁物のソケット基体１にはＩＣ６のリード端子７が挿入
されるソケットピン２のリード端子部は口部３が埋込捷
れて多数取付けられている。そして、ソケットピン２の
外部配線端子部４はソケット基体１の下面から外部に引
き出されており、各ソケットピン２のリード端子受口部
３と外部配線端子４との間に測定用端子５が設けられ、
該測定端子５毎にソケット基体１に切り欠き部８が設け
られ、各端子５はソケット基体１の切り欠き部８から突
出している。したがって、測定用端子５に測定機の測定
用端子を引かけた際、測定機の測定用端子は１本ずつ切
り欠き部８内に係合されて位置決めされるから、隣接す
る端子５，５同士が接触することが防止され、デバッグ
作業が容易となり、かつソケット基体１の切り欠き８内
に測定用端子５を係合しているため、他のＩＣ６のリー
ド端子７から保護される。
上述のように本発明のＩＣ用ソケットにおいては、測定
機測定端子用の端子によりＩＣのリード端子に接触する
ことなくリード端子を測定でき、捷だ測定機測定端子が
他のリード端子と接触することがないため、デバッグ作
業を容易にかつ安全に行うことができる効果を有するも
のである。
機測定端子用の端子によりＩＣのリード端子に接触する
ことなくリード端子を測定でき、捷だ測定機測定端子が
他のリード端子と接触することがないため、デバッグ作
業を容易にかつ安全に行うことができる効果を有するも
のである。
第１図（ａ）は本発明の実施例を示す斜視図、同図（ｂ
） ｉｄ同図（α）のソケットにＩＣを装着した状態の
部分断面図である。
） ｉｄ同図（α）のソケットにＩＣを装着した状態の
部分断面図である。
Claims (1)
- （１）ＩＣを着脱自在に装着するＩＣソケットにおいて
、前記装着ＩＣのリード端子が挿入接続されるソケット
ピンに信号測定用の端子を設けたことを特徴とするＩＣ
用ソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16949285A JPS6231974A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | Ｉｃ用ソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16949285A JPS6231974A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | Ｉｃ用ソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6231974A true JPS6231974A (ja) | 1987-02-10 |
Family
ID=15887528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16949285A Pending JPS6231974A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | Ｉｃ用ソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6231974A (ja) |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP16949285A patent/JPS6231974A/ja active Pending
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