JPS6121981U - プリント配線基板等の回路パタ−ン検査装置 - Google Patents

プリント配線基板等の回路パタ−ン検査装置

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JPS6121981U
JPS6121981U JP9401184U JP9401184U JPS6121981U JP S6121981 U JPS6121981 U JP S6121981U JP 9401184 U JP9401184 U JP 9401184U JP 9401184 U JP9401184 U JP 9401184U JP S6121981 U JPS6121981 U JP S6121981U
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JP
Japan
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circuit pattern
printed wiring
wiring boards
pattern inspection
inspection equipment
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JP9401184U
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Inventor
武彦 高木
Original Assignee
日本シイエムケイ株式会社
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係るプリント配線基板等の回路パター
ン検査装置の構成図、第２図は本考案の第１実施例に係
る回路パターン検査装置のブロック回路図、第３図は本
考案の第２実施例に係る同装置のブロック回路図、第４
図は本考案の第３実施例に係る同装置のブロック回路図
、第５図及び第６図は従来例を説明するための回路パタ
ーンの平面図である。 １・・・回路パターン検査装置、２・・・検査装置本体
、３〜６・・・フラットパッケージ端子、３ａ〜６ａ・
・・他方の端子、７・・・第１プローブ端子、８〜１１
・・・第２プローブ端子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 回路パターンにおける一方側の端子である複数のフラッ
    トパッケージ端子に共通して接触する第１プローブ端子
    と、他方側の各端子に接触する複数の第２プローブ端子
    と、少なくとも各第２プローブ端子と第１プローブ端子
    間との電気的特性を検査する検査装買本体からなるプリ
    ント配線基板等の回路パターン検査装置。
JP9401184U 1984-06-23 1984-06-23 プリント配線基板等の回路パタ−ン検査装置 Granted JPS6121981U (ja)

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JP2014106039A (ja) * 2012-11-26 2014-06-09 Nippon Mektron Ltd 導通検査装置および導通検査方法

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JPS56110060A (en) * 1980-02-06 1981-09-01 Nec Corp Inspecting method and device for base plate of circuit

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