JPS59115360U - 回路基板検査用電極構造 - Google Patents

回路基板検査用電極構造

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JPS59115360U
JPS59115360U JP921983U JP921983U JPS59115360U JP S59115360 U JPS59115360 U JP S59115360U JP 921983 U JP921983 U JP 921983U JP 921983 U JP921983 U JP 921983U JP S59115360 U JPS59115360 U JP S59115360U
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JP
Japan
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electrode structure
circuit board
board inspection
inspection
fixing jig
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Application number
JP921983U
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English (en)
Inventor
秀樹 両角
Original Assignee
セイコーエプソン株式会社
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、従来構造の検査用接触端子部断面図。 第２図ａ、　　ｂは、本考案で用いた導電性物質の断面
図。第３図ａは、本考案による実施例の断面図。 第３図すは、接触端子固定治具に検査用接触端子を等間
隔に配列した図。 １・・・回路基板、２・・・回路配線パターン、３・・
・検査用接触端子、４・・・接触端子固定治具、５・・
・導電性物質。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）回路基板等のパターン検査をする電極構造におい
    て、被検査基板と固定治具に固着された検査用接触端子
    との間に、加圧することにより導通ずる導電性物質を配
    置したことを特徴とする回路基板検査用電極構造。
  2. （２）固定治具に固着された検査用接触端子を等間隔の
    マス回状に配列したことを特徴とする実用新案登録請求
    の範囲第１項記載の回路基板検査用電極構造。
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