JPS60125587U - 電子部品の検査装置 - Google Patents

電子部品の検査装置

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JPS60125587U
JPS60125587U JP1330684U JP1330684U JPS60125587U JP S60125587 U JPS60125587 U JP S60125587U JP 1330684 U JP1330684 U JP 1330684U JP 1330684 U JP1330684 U JP 1330684U JP S60125587 U JPS60125587 U JP S60125587U
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JP
Japan
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electronic component
inspection equipment
component inspection
inspection
electronic components
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Application number
JP1330684U
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English (en)
Inventor
進 高田
Original Assignee
シャープ株式会社
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
゛第１図は電子部品の挿入状態を示す側面図、第２図は
本考案の電子部品の検査装置の一実施例を示す側面図、
第３図ａｔ　ｂ、　ｃは同検査装置を用いた電子部品の
挿入工程を示す説明図である。 １・・・集積回路素子、２・・・リード端子、３・・・
検査盤、４・・・端子検知孔、５・・・絶縁物、６・・
・電極、７・・・検査回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 内面に少なくとも２極の電極を絶縁物を介して形成した
    電子部品の端子検知孔を複数個有する検査盤と前記端子
    検知孔の電極それぞれに検査用の電圧を加える検査回路
    とからなる電子部品の検査装置。
JP1330684U 1984-01-31 1984-01-31 電子部品の検査装置 Pending JPS60125587U (ja)

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JPS60125587U true JPS60125587U (ja) 1985-08-23

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