JP2748390B2 - メモリカード - Google Patents
メモリカードInfo
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- JP2748390B2 JP2748390B2 JP63068481A JP6848188A JP2748390B2 JP 2748390 B2 JP2748390 B2 JP 2748390B2 JP 63068481 A JP63068481 A JP 63068481A JP 6848188 A JP6848188 A JP 6848188A JP 2748390 B2 JP2748390 B2 JP 2748390B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- power supply
- external
- memory card
- supply terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 4
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- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
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- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリカードに関し、特に相補型MOSメモリ
回路を実装するメモリカードに関する。
回路を実装するメモリカードに関する。
従来この種のICメモリカードは第2図に示すように、
電源端子,接地端子各々1端子と外部端子を有し外部端
子は内部端子と直接、または直列に抵抗を介して接続さ
れている。
電源端子,接地端子各々1端子と外部端子を有し外部端
子は内部端子と直接、または直列に抵抗を介して接続さ
れている。
上述した従来のICメモリカードでは、非使用状態にお
いて外部端子の電位レベルがフローティングになってお
り、外来の静電気が加わった際MOSメモリ回路の入力端
子が破壊されやすく、また入力保護の目的で外部端子と
内部端子の間に抵抗を入れると入出力電圧のスイッチン
グ波形を歪め、アクセス時間を遅らせてしまうという欠
点がある。
いて外部端子の電位レベルがフローティングになってお
り、外来の静電気が加わった際MOSメモリ回路の入力端
子が破壊されやすく、また入力保護の目的で外部端子と
内部端子の間に抵抗を入れると入出力電圧のスイッチン
グ波形を歪め、アクセス時間を遅らせてしまうという欠
点がある。
本発明のICメモリカードは、電源端子,接地端子およ
び外部信号接続用の外部端子を備え、相補型MOSメモリ
回路および前記メモリ回路のデータ保持用電池を実装し
たICメモリカードにおいて、前記電源端子は第一の電源
端子と第二の電源端子に分かれており、第一の電源端子
は前記メモリ回路の電源端子及び前記電池の正極端子と
接続され第二の電源端子は前記第一の電源端子と電気的
に絶縁されており抵抗を介して接地端子に接続され、前
記第一の電源端子を電源とし前記第二の電源端子を入力
するとインバータを有し、前記インバータの出力をゲー
ト入力とし、前記外部端子と前記接地端子または前記第
一の電源端子とにソースおよびドレインを接続したNチ
ャネル型トランジスタを有している。
び外部信号接続用の外部端子を備え、相補型MOSメモリ
回路および前記メモリ回路のデータ保持用電池を実装し
たICメモリカードにおいて、前記電源端子は第一の電源
端子と第二の電源端子に分かれており、第一の電源端子
は前記メモリ回路の電源端子及び前記電池の正極端子と
接続され第二の電源端子は前記第一の電源端子と電気的
に絶縁されており抵抗を介して接地端子に接続され、前
記第一の電源端子を電源とし前記第二の電源端子を入力
するとインバータを有し、前記インバータの出力をゲー
ト入力とし、前記外部端子と前記接地端子または前記第
一の電源端子とにソースおよびドレインを接続したNチ
ャネル型トランジスタを有している。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の実施例1の回路図である。使用時に
は電源端子Vcc1,Vcc2は共に外部電源Vccのレベルが与え
られる。よってQPO及びQNOで構成されるインバータ入力
ゲートはHiレベルとなりLレベルが出力される。これを
受けて外部端子A1〜Anと接地端子GNDの間にあるNチャ
ネル型MOSトランジスタQN1〜QNnはOFFし、メモリ回路M
の入出力端子と外部装置との間で信号の伝達を行なうこ
とができる。非使用時には第一の電源端子Vcc1は内蔵電
池Bで与えられるレベルに、一方、第二の電源端子Vcc2
は抵抗R1を介して接地レベルになる。この場合インバー
タ出力はHiレベルとなり、QN1〜QNnはONする。静電気が
A1〜Anに印加された場合、QN1〜QNnを通って電荷が逃げ
るためメモリ回路Mの入力端子は保護される。
は電源端子Vcc1,Vcc2は共に外部電源Vccのレベルが与え
られる。よってQPO及びQNOで構成されるインバータ入力
ゲートはHiレベルとなりLレベルが出力される。これを
受けて外部端子A1〜Anと接地端子GNDの間にあるNチャ
ネル型MOSトランジスタQN1〜QNnはOFFし、メモリ回路M
の入出力端子と外部装置との間で信号の伝達を行なうこ
とができる。非使用時には第一の電源端子Vcc1は内蔵電
池Bで与えられるレベルに、一方、第二の電源端子Vcc2
は抵抗R1を介して接地レベルになる。この場合インバー
タ出力はHiレベルとなり、QN1〜QNnはONする。静電気が
A1〜Anに印加された場合、QN1〜QNnを通って電荷が逃げ
るためメモリ回路Mの入力端子は保護される。
第3図は本発明の実施例2の回路図である。
実施例1と異なる点は、入力端子にトランジスタファ
ゲートQP1′〜QPn′,QN1′〜QNn′を設けた点であり、
使用時のみこれらのトランスファゲートがONし、非使用
時には、OFFする。この実施例では非使用時に静電気が
外部端子A1〜Anに加わった場合、メモリ回路Mの入力端
子には全く電圧が加わらないため、一層静電気耐圧を向
上できる利点がある。
ゲートQP1′〜QPn′,QN1′〜QNn′を設けた点であり、
使用時のみこれらのトランスファゲートがONし、非使用
時には、OFFする。この実施例では非使用時に静電気が
外部端子A1〜Anに加わった場合、メモリ回路Mの入力端
子には全く電圧が加わらないため、一層静電気耐圧を向
上できる利点がある。
以上説明したように本発明によればICメモリカードが
非使用状態の場合には第一の電源端子は内蔵電池の電位
に保たれ、第二の電源端子は抵抗を介して接地電位にな
る。この状態では外部端子と接地端子又は第一の電源端
子との間のNチャネル型MOSトランジスタはONし、外部
から静電気が外部端子に印加された場合、ONしたNチャ
ネル型MOSトランジスタを介して接地あるいは電源端子
に電荷が逃げるため、内部メモリ回路の入力端子は保護
される。
非使用状態の場合には第一の電源端子は内蔵電池の電位
に保たれ、第二の電源端子は抵抗を介して接地電位にな
る。この状態では外部端子と接地端子又は第一の電源端
子との間のNチャネル型MOSトランジスタはONし、外部
から静電気が外部端子に印加された場合、ONしたNチャ
ネル型MOSトランジスタを介して接地あるいは電源端子
に電荷が逃げるため、内部メモリ回路の入力端子は保護
される。
また使用時には第一,第二の電源端子共に外部電源に
接続されるため、外部端子と接地端子又は第一の電源端
子との間のNチャネル型MOSトランジスタはOFFし、外部
装置と内部メモリ回路との間で信号を伝達することがで
きる。
接続されるため、外部端子と接地端子又は第一の電源端
子との間のNチャネル型MOSトランジスタはOFFし、外部
装置と内部メモリ回路との間で信号を伝達することがで
きる。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図は従来
の回路の一例の回路図、第3図は第二の実施例の回路図
である。 Vcc……電源端子、Vcc1……第一の電源端子、Vcc2……
第二の電源端子、GND……接地端子、A1〜An……外部端
子、M……相補型MOSメモリ、B……電池、RB・R1〜Rn
……抵抗、D1……ダイオード、QP0・QP1′〜QPn′……
Pチャネル型MOSトランジスタ、QN0・QN1〜QNn・QN1′
〜QNn′……Nチャネル型MOSトランジスタ。
の回路の一例の回路図、第3図は第二の実施例の回路図
である。 Vcc……電源端子、Vcc1……第一の電源端子、Vcc2……
第二の電源端子、GND……接地端子、A1〜An……外部端
子、M……相補型MOSメモリ、B……電池、RB・R1〜Rn
……抵抗、D1……ダイオード、QP0・QP1′〜QPn′……
Pチャネル型MOSトランジスタ、QN0・QN1〜QNn・QN1′
〜QNn′……Nチャネル型MOSトランジスタ。
Claims (1)
- 【請求項1】第1の電源端子と接地端子間に設けられ外
部信号用外部端子が接続されるメモリ回路と、内蔵電池
と、前記内蔵電池により電圧が供給され第2の電源端子
が入力端に接続したインバータ回路と、前記外部信号用
外部端子と前記接地端子間に設けられゲート電極が前記
インバータ回路の出力端に接続したMOSトランジスタと
を有することを特徴とするメモリカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63068481A JP2748390B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | メモリカード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63068481A JP2748390B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | メモリカード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01240993A JPH01240993A (ja) | 1989-09-26 |
JP2748390B2 true JP2748390B2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=13374921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63068481A Expired - Lifetime JP2748390B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | メモリカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2748390B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61286988A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Icカ−ド |
JPS62201297A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-04 | 松下電器産業株式会社 | Icカ−ド |
-
1988
- 1988-03-22 JP JP63068481A patent/JP2748390B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01240993A (ja) | 1989-09-26 |
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