JP2704309B2 - 基板処理装置及び基板の熱処理方法 - Google Patents
基板処理装置及び基板の熱処理方法Info
- Publication number
- JP2704309B2 JP2704309B2 JP2154921A JP15492190A JP2704309B2 JP 2704309 B2 JP2704309 B2 JP 2704309B2 JP 2154921 A JP2154921 A JP 2154921A JP 15492190 A JP15492190 A JP 15492190A JP 2704309 B2 JP2704309 B2 JP 2704309B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- hot plate
- time
- heat treatment
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
Description
し、さらに詳しくは、複数の処理部に対し基板を順次搬
送するように構成した基板処理装置、及び当該処理部内
での熱処理方法に関する。
と称する)の洗浄、乾燥、フォトレジスト塗布、加熱・
乾燥等の各種処理をなすため、複数の基板処理ユニット
及び熱処理ユニットを備え、単一の自走式基板搬送ロボ
ットにより基板を所定のタクトタイムTで順次搬送して
所要の処理をするように構成されている。ここで、タク
トタイムとは、当該ロボットが同一処理ユニットへ巡回
するのに要する周期をいう。
えて加熱するとフォトレジストの感度低下等の原因とな
るオーバーベークが発生するので、当該タクトタイムT
よりも短い加熱時間tで加熱処理する必要がある。
案した。それは基板収容カセットCの停留部110、液剤
塗布ユニット121、現像ユニット122、熱処理ユニット12
3(123A〜123C)、パターン焼付用露光ユニット128及び
自走式基板搬送ロボット130とを備え、各熱処理ユニッ
ト123A〜123Cにそれぞれ定置式基板移載手段118を付設
して成り、所定の加熱時間tを経過した後は定置式基板
移載手段118で熱処理ユニットから基板Wを取り出し、
自走式基板搬送ロボット130に引き渡すまで基板Wをバ
ッファスペースへ停留させるようにしたものである(実
願平1−99460号、以下先考案例という)。
うに、基板Wがホットプレート124上で加熱が開始され
てから所定の加熱時間tが経過した後は、ホットプレー
ト124に付設した昇降支持具126で基板Wをホットプレー
ト124から持ち上げ、更に、その基板Wを冷却する技術
が開示されている(以下、従来例という)。
スを確保した上、定置式基板移載手段を付設しなければ
ならず、コスト高を招く。
24aをあけて、そこから冷却風を基板Wに吹きつけて基
板Wを冷却する構造であるため、熱処理ユニット全体の
コスト高を招くとともに、ホットプレート124の冷却風
噴出孔124a近傍では過冷却となってホットプレート自体
の均一な温度分布が得られない等実用上の難点がある。
所定の加熱処理を行うに際し、余分のバッファスペース
や基板の移載手段及び冷却手段を必要とせず、安価で実
施が容易な熱処理方法の提供を技術課題とする。
に構成される。
びクールプレートを含む複数の処理部に対し、基板を順
次搬送して、基板の処理を行う基板処理装置において、
前記ホットプレートに昇降自在に付設され、上昇して基
板を受け取り、基板を受け取ってから基板のクールプレ
ートへの移載動作開始までに要する時間から加熱時間を
差し引いた時間差の間、上昇して基板をホットプレート
に対して離間待機させ、その後下降して基板をホットプ
レート上に着地または近接させて加熱させ、前記加熱時
間満了と同時に上昇して、クールプレートへの移載動作
が開始される上昇位置に基板を上昇させる昇降支持具を
備えたことを特徴とする基板処理装置である。
びクールプレートを含む複数の処理部に対し基板を順次
搬送しながら所要の処理を行うに際し、ホットプレート
において、基板を受け取ってからクールプレートへの移
載動作開始までの時間より短い時間で加熱するようにし
た基板の熱処理方法において、前記ホットプレートで
は、当該ホットプレートに付設した昇降支持具で、基板
を受け取り、基板を受け取ってから基板のクールプレー
トへの移載動作開始までに要する時間から加熱時間を差
し引いた時間差の間、基板をホットプレートに対して離
間待機させ、その後昇降支持具を下降させて基板をホッ
トプレート上に着地または近接させて加熱し、前記加熱
時間満了と同時に昇降支持具を上昇させて基板をクール
プレートに移載して冷却することを特徴とする基板の熱
処理方法である。
設の昇降支持具で基板を受け取った後、そのままの姿勢
で、つまり基板をホットプレートから離間させた状態で
待機させる。即ち、昇降支持具により基板を受け取って
から基板のクールプレートへの移載動作開始までに要す
る時間から加熱時間を差し引いた時間差の間、基板をホ
ットプレートに対して離間待機させて、基板がホットプ
レートから熱をあまり受けない状態を維持する。この離
間待機状態では基板の温度は緩慢に上昇するが、その温
度上昇は実害のない程度に留まっている。次いで基板を
ホットプレート上に着地または微小空間を維持して近接
させ、所定温度で所定の時間だけ基板を加熱して所要の
熱処理を施す。そして加熱時間満了と同時に昇降支持具
を上昇させて、クールプレートへの移載動作が開始され
る上昇位置に基板を上昇させてクールプレートへ基板を
移載することで素早く基板を強制冷却し、ホットプレー
トから必要以上の熱を受けないようにする。
項1の発明の実施例に係る基板処理装置の斜視図であ
る。
熱処理ユニット23A〜23Cに配置されたそれぞれ処理部と
してのホットプレート24とクールプレート25、同じく処
理部としての液剤塗布ユニット21、処理部としての現像
ユニット22、及び基板搬送手段である自走式基板搬送ロ
ボット30を備え、自走式基板搬送ロボット30で順次各ユ
ニット21〜25へ基板Wを給排し、一連の処理を行うよう
に構成されている。
載置するカセット載置台11と、基板収容カセットCと自
走式基板搬送ロボット30との間で基板Wをやり取りする
自走式の基板移載ロボット12とが設けられ、基板移載ロ
ボット12で基板収容カセットCから未処理基板Wを取り
出して自走式基板搬送ロボット30へ引き渡すとともに、
処理済みの基板Wを当該ロボット30から受け取り、再び
カセットC内へ収容するように構成されている。
で支持し、自走、旋回、アーム出退自在に構成され、あ
らかじめ設定された作動プログラムに基づき、上記各基
板処理ユニット21・22及び熱処理ユニット23A〜23Cに基
板Wを所定のタクトタイムTで順次搬送するように構成
されている。
上段にホットプレート24が、下段にクールプレート25が
断熱仕切り壁27で仕切って配置され、各プレート24、25
には昇降支持具26が付設され、基板Wの熱処理に際し、
上昇状態にある昇降支持具26で基板Wを受け取り、その
まま基板WをタクトタイムT(昇降支持具26により基板
Wを受け取ってから基板Wのクールプレート24への移載
動作開始までに要する時間)と加熱時間tとの時間差だ
けホットプレート24上で離間待機させ、その後昇降支持
具26を下降させることにより基板Wをホットプレート24
上に着地または近接させ、タクトタイムTの満了と同時
に昇降支持具26を上昇させ、直ちに自走式基板搬送ロボ
ット30で基板Wをクールプレート25上へ移載するように
構成されている。これにより、離間待機時における基板
Wの温度上昇は緩慢で、かつ加熱時間tは厳守されるの
で、基板のオーバーベークは免れる。
塗布後の熱処理条件を例示するグラフである。即ち、第
3図はタクトタイムTが所定の加熱時間tと一致する状
態を示すものであり、第4図は従来例(第7図B)にお
いて、所定の加熱時間tの経過後タクトタイムTが満了
するまでホットプレートの温度安定性維持のため、冷媒
を吹出さずに昇降支持具26で基板Wをホットプレート24
から離間待機させた場合を示すものであり、第5図は請
求項2の発明により基板Wを熱処理した場合を示すもの
である。
100℃、クールプレート25の設定温度は23℃とし、所定
のタクトタイムTの満了後、直ちに基板Wをクールプレ
ート25へ移載するものとし、これらの図中dは当該移載
に要する時間を示している。
相当する余分の過熱がなされたことになる。
相当する過熱がなされたことになるが、加熱処理の前段
での離間待機時間に受ける熱量はわずかであり、後述す
るように全く弊害にならない。
し、第3図〜第5図の熱処理を実施した各基板20枚毎に
線幅1.5μmのパターンを焼き付け、それぞれ画線の太
りを比較観察して本発明の実用性を確認した。
である。
トタイムTの満了後直ちに基板をクールプレート上へ移
載して常温へ冷却するものについて例示したが、これに
限るものではない。
の発明では、昇降支持具で基板を受け取ってから基板の
クールプレートへの移載動作開始までに要する時間から
加熱時間を差し引いた時間差の間、基板をホットプレー
トに対して離間待機させ、その後下降して基板をホット
プレート上に着地または近接させて加熱し、加熱時間満
了と同時に基板を上昇させて、クールプレートへ移載し
て素早く基板を強制冷却するようにしたので、加熱処理
状態が速やかに断ち切られ、ホットプレートから必要以
上の熱を受けることがなくなる。これにより、基板の加
熱処理時間を理想的な加熱処理時間に保ち、基板を所望
の品質に改質できるという顕著な効果を奏することがで
きる。
図は熱処理ユニットの模式図、第3図〜第5図はそれぞ
れ熱処理条件を例示するグラフ、第6図は先考案例に係
る基板処理装置の平面図、第7図は従来例を示すホット
プレートの縦断面図である。 21・22……基板処理ユニット、23(23A・23B・23C)…
…熱処理ユニット、24……ホットプレート、26……昇降
支持具、30……自走式基板搬送ロボット、T……タクト
タイム、t……加熱時間。
Claims (2)
- 【請求項1】ホットプレートおよびクールプレートを含
む複数の処理部に対し、基板を順次搬送して、基板の処
理を行う基板処理装置において、 前記ホットプレートに昇降自在に付設され、上昇して基
板を受け取り、基板を受け取ってから基板のクールプレ
ートへの移載動作開始までに要する時間から加熱時間を
差し引いた時間差の間、上昇して基板をホットプレート
に対して離間待機させ、その後下降して基板をホットプ
レート上に着地または近接させて加熱させ、前記加熱時
間満了と同時に上昇して、クールプレートへの移載動作
が開始される上昇位置に基板を上昇させる昇降支持具を
備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】ホットプレートおよびクールプレートを含
む複数の処理部に対し基板を順次搬送しながら所要の処
理を行うに際し、ホットプレートにおいて、基板を受け
取ってからクールプレートへの移載動作開始までの時間
より短い時間で加熱するようにした基板の熱処理方法に
おいて、 前記ホットプレートでは、当該ホットプレートに付設し
た昇降支持具で、基板を受け取り、基板を受け取ってか
ら基板のクールプレートへの移載動作開始までに要する
時間から加熱時間を差し引いた時間差の間、基板をホッ
トプレートに対して離間待機させ、その後昇降支持具を
下降させて基板をホットプレート上に着地または近接さ
せて加熱し、前記加熱時間満了と同時に昇降支持具を上
昇させて基板をクールプレートに移載して冷却すること
を特徴とする基板の熱処理方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2154921A JP2704309B2 (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 基板処理装置及び基板の熱処理方法 |
EP91109329A EP0462459B1 (en) | 1990-06-12 | 1991-06-07 | Method of heat treatment of substrate |
DE69131146T DE69131146T2 (de) | 1990-06-12 | 1991-06-07 | Methode zur Wärmebehandlung eines Substrates |
KR91009467A KR940010151B1 (en) | 1990-06-12 | 1991-06-08 | Thermal treatment of substrate |
US08/165,531 US5430271A (en) | 1990-06-12 | 1993-12-13 | Method of heat treating a substrate with standby and treatment time periods |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2154921A JP2704309B2 (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 基板処理装置及び基板の熱処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0445514A JPH0445514A (ja) | 1992-02-14 |
JP2704309B2 true JP2704309B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=15594866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2154921A Expired - Lifetime JP2704309B2 (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 基板処理装置及び基板の熱処理方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5430271A (ja) |
EP (1) | EP0462459B1 (ja) |
JP (1) | JP2704309B2 (ja) |
KR (1) | KR940010151B1 (ja) |
DE (1) | DE69131146T2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100637717B1 (ko) | 2005-09-28 | 2006-10-25 | 세메스 주식회사 | 베이크 유닛, 상기 베이크 유닛에 사용되는 가열플레이트를 냉각하는 방법, 그리고 상기 베이크 유닛을포함하는 기판 처리 장치 및 방법 |
Families Citing this family (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2638668B2 (ja) * | 1990-09-03 | 1997-08-06 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板搬送方法および基板搬送装置 |
DE634699T1 (de) * | 1993-07-16 | 1996-02-15 | Semiconductor Systems Inc | Gruppiertes fotolithografisches System. |
EP0634783B1 (en) * | 1993-07-16 | 1997-08-06 | Semiconductor Systems, Inc. | Thermal process module for substrate coat/develop system |
US5766824A (en) * | 1993-07-16 | 1998-06-16 | Semiconductor Systems, Inc. | Method and apparatus for curing photoresist |
US5431700A (en) * | 1994-03-30 | 1995-07-11 | Fsi International, Inc. | Vertical multi-process bake/chill apparatus |
JP3196917B2 (ja) * | 1994-06-17 | 2001-08-06 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
TW297910B (ja) * | 1995-02-02 | 1997-02-11 | Tokyo Electron Co Ltd | |
US6002109A (en) | 1995-07-10 | 1999-12-14 | Mattson Technology, Inc. | System and method for thermal processing of a semiconductor substrate |
US6036426A (en) * | 1996-01-26 | 2000-03-14 | Creative Design Corporation | Wafer handling method and apparatus |
US6133550A (en) * | 1996-03-22 | 2000-10-17 | Sandia Corporation | Method and apparatus for thermal processing of semiconductor substrates |
US6046439A (en) | 1996-06-17 | 2000-04-04 | Mattson Technology, Inc. | System and method for thermal processing of a semiconductor substrate |
US5879128A (en) * | 1996-07-24 | 1999-03-09 | Applied Materials, Inc. | Lift pin and support pin apparatus for a processing chamber |
US6198074B1 (en) | 1996-09-06 | 2001-03-06 | Mattson Technology, Inc. | System and method for rapid thermal processing with transitional heater |
JP3202929B2 (ja) * | 1996-09-13 | 2001-08-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理システム |
US5848670A (en) * | 1996-12-04 | 1998-12-15 | Applied Materials, Inc. | Lift pin guidance apparatus |
JPH11135600A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-05-21 | Shibaura Mechatronics Corp | ロボット装置および処理装置 |
EP1049640A4 (en) * | 1997-11-28 | 2008-03-12 | Mattson Tech Inc | SYSTEMS AND METHODS FOR HANDLING WORKPIECES FOR VACUUM PROCESSING AT HIGH FLOW RATE AND LOW CONTAMINATION |
US6787391B1 (en) | 1998-06-19 | 2004-09-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of forming bumps on a wafer utilizing a post-heating operation, and apparatus therefor |
US6169271B1 (en) | 1998-07-13 | 2001-01-02 | Mattson Technology, Inc. | Model based method for wafer temperature control in a thermal processing system for semiconductor manufacturing |
US6533531B1 (en) | 1998-12-29 | 2003-03-18 | Asml Us, Inc. | Device for handling wafers in microelectronic manufacturing |
US6861619B1 (en) | 2000-02-07 | 2005-03-01 | Therma-Wave, Inc. | Method and apparatus for preparing semiconductor wafers for measurement |
US6261853B1 (en) | 2000-02-07 | 2001-07-17 | Therma-Wave, Inc. | Method and apparatus for preparing semiconductor wafers for measurement |
EP1124252A2 (en) * | 2000-02-10 | 2001-08-16 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and process for processing substrates |
NL1018086C2 (nl) * | 2001-05-16 | 2002-11-26 | Asm Int | Werkwijze en inrichting voor het thermisch behandelen van substraten. |
US6843201B2 (en) * | 2002-05-08 | 2005-01-18 | Asm International Nv | Temperature control for single substrate semiconductor processing reactor |
US7427329B2 (en) | 2002-05-08 | 2008-09-23 | Asm International N.V. | Temperature control for single substrate semiconductor processing reactor |
US6939403B2 (en) * | 2002-11-19 | 2005-09-06 | Blue29, Llc | Spatially-arranged chemical processing station |
JP4354243B2 (ja) * | 2003-04-21 | 2009-10-28 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体の昇降機構及び処理装置 |
US7022627B2 (en) | 2003-10-31 | 2006-04-04 | Asm International N.V. | Method for the heat treatment of substrates |
US7410355B2 (en) * | 2003-10-31 | 2008-08-12 | Asm International N.V. | Method for the heat treatment of substrates |
US6940047B2 (en) * | 2003-11-14 | 2005-09-06 | Asm International N.V. | Heat treatment apparatus with temperature control system |
US7217670B2 (en) * | 2004-11-22 | 2007-05-15 | Asm International N.V. | Dummy substrate for thermal reactor |
US7819079B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-10-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian cluster tool configuration for lithography type processes |
US7798764B2 (en) | 2005-12-22 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool |
US7371022B2 (en) | 2004-12-22 | 2008-05-13 | Sokudo Co., Ltd. | Developer endpoint detection in a track lithography system |
US7651306B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-01-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian robot cluster tool architecture |
US7699021B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-04-20 | Sokudo Co., Ltd. | Cluster tool substrate throughput optimization |
US7694688B2 (en) | 2007-01-05 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Wet clean system design |
US7950407B2 (en) * | 2007-02-07 | 2011-05-31 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for rapid filling of a processing volume |
JP2010525581A (ja) * | 2007-05-01 | 2010-07-22 | マトソン テクノロジー カナダ インコーポレイテッド | 照射パルス熱処理方法および装置 |
JP5006122B2 (ja) | 2007-06-29 | 2012-08-22 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5128918B2 (ja) | 2007-11-30 | 2013-01-23 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5318403B2 (ja) * | 2007-11-30 | 2013-10-16 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5179170B2 (ja) * | 2007-12-28 | 2013-04-10 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
JP5001828B2 (ja) | 2007-12-28 | 2012-08-15 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
KR101733179B1 (ko) | 2010-10-15 | 2017-05-08 | 맛선 테크놀러지, 인코포레이티드 | 워크피스를 노출할 조사 펄스의 형상을 결정하는 방법, 장치 및 매체 |
CN108663914B (zh) * | 2017-03-30 | 2021-10-08 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 烘烤方法 |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3830194A (en) * | 1972-09-28 | 1974-08-20 | Applied Materials Tech | Susceptor support structure and docking assembly |
US4178113A (en) * | 1977-12-05 | 1979-12-11 | Macronetics, Inc. | Buffer storage apparatus for semiconductor wafer processing |
JPS5730341A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-18 | Anelva Corp | Substrate processing device |
US4507078A (en) * | 1983-03-28 | 1985-03-26 | Silicon Valley Group, Inc. | Wafer handling apparatus and method |
JPS605509A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-12 | Hitachi Ltd | 分子線エピタキシ装置 |
GB8410251D0 (en) * | 1984-04-19 | 1984-05-31 | Heraeus Schott Quarzschmelze | Handling semiconductor wafers |
JPS6169966A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-10 | Hitachi Ltd | 真空処理装置 |
JPS62104049A (ja) * | 1985-10-30 | 1987-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | ベ−キング炉装置 |
US4770590A (en) * | 1986-05-16 | 1988-09-13 | Silicon Valley Group, Inc. | Method and apparatus for transferring wafers between cassettes and a boat |
DE3637608A1 (de) * | 1986-11-05 | 1988-05-19 | Windmoeller & Hoelscher | Vorrichtung zum teilen einer bahn in schmalere bahnen oder streifen |
JPH0693438B2 (ja) * | 1986-12-11 | 1994-11-16 | 大日本スクリ−ン製造株式会社 | 基板温度測定装置 |
JPS63176476A (ja) * | 1987-01-14 | 1988-07-20 | Hitachi Ltd | 薄膜の形成もしくは加工方法 |
JPS6449010A (en) * | 1987-08-19 | 1989-02-23 | Sumitomo Electric Industries | Production of optical cable |
JPH01125821A (ja) * | 1987-11-10 | 1989-05-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 気相成長装置 |
US5034199A (en) * | 1987-11-13 | 1991-07-23 | Kopin Corporation | Zone melt recrystallization apparatus |
KR970008320B1 (ko) * | 1987-11-17 | 1997-05-23 | 도오교오 에레구토론 가부시끼가이샤 | 열처리 장치 |
US4955775A (en) * | 1987-12-12 | 1990-09-11 | Tel Sagami Limited | Semiconductor wafer treating apparatus |
US5177514A (en) * | 1988-02-12 | 1993-01-05 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for coating a photo-resist film and/or developing it after being exposed |
JPH07101666B2 (ja) * | 1988-02-17 | 1995-11-01 | 東京エレクトロン九州株式会社 | 熱処理方法およひ熱処理装置 |
JP2502661B2 (ja) * | 1988-03-04 | 1996-05-29 | 松下電器産業株式会社 | 気相成長装置 |
US4840530A (en) * | 1988-05-23 | 1989-06-20 | Nguyen Loc H | Transfer apparatus for semiconductor wafers |
JPH0234789A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-05 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 気相反応装置 |
JP2639093B2 (ja) * | 1989-04-28 | 1997-08-06 | 日新電機株式会社 | イオン処理装置 |
JPH0812875B2 (ja) * | 1989-07-24 | 1996-02-07 | 三菱電機株式会社 | ボンディング方法とボンディング装置 |
JP2905857B2 (ja) * | 1989-08-11 | 1999-06-14 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型処理装置 |
JP2889926B2 (ja) * | 1989-10-20 | 1999-05-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板の加熱処理方法及び加熱処理装置 |
US5089441A (en) * | 1990-04-16 | 1992-02-18 | Texas Instruments Incorporated | Low-temperature in-situ dry cleaning process for semiconductor wafers |
US5277579A (en) * | 1991-03-15 | 1994-01-11 | Tokyo Electron Sagami Limited | Wafers transferring method in vertical type heat treatment apparatus and the vertical type heat treatment apparatus provided with a wafers transferring system |
-
1990
- 1990-06-12 JP JP2154921A patent/JP2704309B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-06-07 DE DE69131146T patent/DE69131146T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-07 EP EP91109329A patent/EP0462459B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-06-08 KR KR91009467A patent/KR940010151B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1993
- 1993-12-13 US US08/165,531 patent/US5430271A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100637717B1 (ko) | 2005-09-28 | 2006-10-25 | 세메스 주식회사 | 베이크 유닛, 상기 베이크 유닛에 사용되는 가열플레이트를 냉각하는 방법, 그리고 상기 베이크 유닛을포함하는 기판 처리 장치 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0462459A1 (en) | 1991-12-27 |
US5430271A (en) | 1995-07-04 |
JPH0445514A (ja) | 1992-02-14 |
EP0462459B1 (en) | 1999-04-21 |
DE69131146D1 (de) | 1999-05-27 |
KR940010151B1 (en) | 1994-10-22 |
DE69131146T2 (de) | 1999-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2704309B2 (ja) | 基板処理装置及び基板の熱処理方法 | |
JP3153372B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US6464789B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
JPH07297258A (ja) | 板状体の搬送装置 | |
JP2006303104A (ja) | 加熱装置、塗布、現像装置及び加熱方法 | |
US7364376B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
TW480557B (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP4079861B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US7229240B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP3649048B2 (ja) | レジスト塗布・現像装置、ならびにそれに用いる基板加熱処理装置および基板搬送装置 | |
JP3593496B2 (ja) | 塗布現像処理装置 | |
JP3874960B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP4083371B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JPH10189429A (ja) | 基板加熱装置 | |
JP3504822B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理用露光装置 | |
JPH08321537A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
JP2001274221A (ja) | 板状体の搬送装置および搬送方法、ならびに処理装置 | |
JPH11162804A (ja) | 熱処理装置及び熱処理方法 | |
JPH0817724A (ja) | 基板処理装置 | |
JPH11238674A (ja) | 熱処理装置 | |
JP3556068B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP3246890B2 (ja) | 熱処理装置 | |
JP2005101077A (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
KR102654155B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP2001077020A (ja) | 熱処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071009 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081009 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091009 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091009 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091009 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101009 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101009 Year of fee payment: 13 |