JPS605509A - 分子線エピタキシ装置 - Google Patents

分子線エピタキシ装置

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JPS605509A
JPS605509A JP58112721A JP11272183A JPS605509A JP S605509 A JPS605509 A JP S605509A JP 58112721 A JP58112721 A JP 58112721A JP 11272183 A JP11272183 A JP 11272183A JP S605509 A JPS605509 A JP S605509A
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susceptor
substrate
vacuum chamber
molecular beam
wafer
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JP58112721A
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Kazuo Sato
一雄 佐藤
Sumio Yamaguchi
山口 純男
Shigeo Kato
加藤 重雄
Yasuhide Matsumura
松村 泰秀
Muneo Mizumoto
宗男 水本
Sumio Okuno
澄生 奥野
Naoyuki Tamura
直行 田村
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Hitachi Ltd
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    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/005Transport systems
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
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    • C30B23/02Epitaxial-layer growth
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、分子線エピタキシ装置に係り、特に、真空槽
内において、基板表面への塵の伺着を防ぎつつ、基板を
自動搬送するのに好適な分子線エピタキシ装置に関する
〔発明の背景〕
分子線エピタキシ法は、基板上に薄膜結晶を成長させる
技術として、近年、注目を集めている。
しかしながら、これを工業的規模で実施するには、装置
上、解決すべき重要な技術課題が残されている。
第1図は、工業的規模で分子線エピタキシを実施するの
に必要な装置の構成を示す平面図である。。
装置は、大別して、導入室1、準備分析室2、成長室3
、搬出室4の各真空室、およびこれらの真空室とゲート
パルプ7を介して接続される基板搬送路5からなってい
る。搬送路5と各真空室との間の基板(図示省略)の移
送は、ゲートバルブ7を貫通する腕を持つ移載用マニピ
ュレータ6によつて行われる。基板は大気中から導入室
1に投入される。導入室1を10− ’ 〜10−8T
orr の気圧せで真空排気した後、ゲートバルブ7を
開けて搬送路5(気圧: 10−’ 〜1O−1OTo
rr )内に基板を移送する。基板は、搬送路5を介し
て、順に、準備分析室2と成長室3(いずれも気圧はI
Q−10〜10−” Torr )に移送されて、それ
ぞれ、基板表面の清浄化および結晶成長のプロセスを施
され、最後に搬出室4(気圧10−6〜10−” To
rr )から大気中に再び搬出される。
以上のような装置における技術課題の一つは、基板を大
気中から装置内に投入した後、超高真空至に搬送してエ
ピタキシアル成長に必要な諸プロセスを行い、再び大気
中に搬出するための、高真空ならびに超高真空下の基板
搬送システムにある。
搬送中に基板を損傷することなく、壕だ、基板を取り落
とすことなく確実に搬送し、更に、エピタキ7層の格子
欠陥を低減するため、搬送途中での基板表面の汚れ、表
面への塵の付着を、極力、避けなければならない。
一方、かかる装置においては、超高真空を達成するため
、真空槽内には、潤滑油等の高分子材料が使用できない
。壕だ、槽内部品の表面から放出されるガスを低減する
目的で、1、空槽全体は、250〜300Cの@A度に
頻繁に加熱される。このような苛酷な条件下では、大気
中において通常用いられるような精密な運動機構は、部
品間の焼付き、摩耗等の問題を生じるので使用できない
また、モータ、リミットスイッチ等の駆動源やセンサ類
を槽内に設置することも困難である。
このだめ、従来では、以下に述べるような基板を搬送す
る方式がとられている。第2図にその搬送方式の主要部
を示した。例えば、GaAsのように機械的強度の低い
基板8を、剛性の商いサセプタ9(例えばMoにより製
作される〕に貼付けあるいは機械的に保持し、サセプタ
9を搬送の単位とする。そして、かかるサセプタ9は、
その基板面を垂直に立てられた状態を維持し麿から、搬
送路および各真空室間を移送される。
導入室、準備分析室、成長室、搬出室における試料ホル
ダ、さらに搬送路を走行する試料ホルダは、いずれも第
2図に示すような試料保持環13を持っている。サセプ
タは、その側面に立てられたピン10を有し、これらと
かん合するL字形の溝14によって試料保持環13に保
持される。各真空室の試料ホルダからのサセプタの着脱
、搬送路中の試料ホルダからのサセプタの着脱は、いず
れも試料移載用マニピュレータ6によって行われる。こ
れは、大気側から真空内にある軸31を直進1回転させ
る機構であり、その先端にあるつかみ部11が、前記の
試料保持3JJ13とがん合しつつ、同時にサセプタの
ピン1oとがん合する溝12を持つ。マニピュレータの
直進と回転運動により、サセプタは各真空室から搬送路
へ、また搬送路から各真空室へと移載される。
以上に述べた従来の装置では、サセプタの着脱作業は、
すべて真空槽のピユーボートを介した目視により、細心
の注意を払って手動で行われている。それにも拘らず、
サセプタは垂直に立った姿勢であるので倒れやすくサセ
プタの取り落としの確率は高い。近年、装置の構成が多
数の真空槽を有するように発展するに従って、受は渡し
箇所が増し、取り落としの確率は更に増大している。落
ちたサセプタは、真空室を大気に暴露しない限り拾うこ
とができないので、かかる従来の基板搬送方式には、大
きな欠点があった。さらに、また基板面は、垂直に立っ
ているものの、真空槽内壁に付着したフレーク状の塵が
落下して基板面へ付着するのを完全には防止できない欠
点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、かかる点に着目してなさねたものであり、搬
送中の基板の表面に塵等が付着することを避けるととも
に、基板の搬送の信頼性全高め、基板搬送の自動化を容
易ならしめる分子線エビ!キシ装置を提供することにあ
る。
〔発明の概要〕
上記の目的を達成するため、本発明では、エピタキシア
ル成長を行う基板面を重力方向(あるいは下向き)に向
けて基板を真空槽内に導入し、準備1分析、成長等のエ
ピタキシアル成長に必要な各プロセスを行うための真空
室間の基板の搬送、および基板の受け渡しを、常に基板
面を上記の方向に維持した状態で行い、かつ基板面に直
接接触することなく基板を受け渡すように構成したもの
である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を実施例を用いて、その内容を詳細に説明
する。
第1図に示す構成の分子線エピタキシ装置では、前述し
たように、基板はサセプタに取付けられて、導入室1か
ら真空槽内に持込まれ、準備・分析室2、成長室3を経
て、搬出室4から取出される。
各戸朶室は、ゲートパルプ7によって搬送室5から隔て
られている。
かかる構成において、本発明では、大気中から導入室へ
の基板の持込みは、第3図の(a)filおよび(b)
に示すカセットによって行う。基板15はサセプタ16
の而に貼り付は又はクランプした後、カセット17の棚
に水平かつ下向きに置かれる。カセットの正面は同図(
a)の如く開口しており、棚は(b)の如く側面のみに
存在する。本実施例のカセットでは、多数枚のサセプタ
を同時に真空槽内へ持込めるので、10ツトの基板のエ
ピタキシ成長の間、真空槽を大気に開放することなく、
連続した作業が可能である。
第1図の導入室1から搬送路5へのサセプタの移送の手
順を第1図のX−X断面図として第4図の(a)、 (
b)、 (C)に示す。カセット17の任意の棚にある
サセプタ16を移送する場合、同図(a)のようにカセ
ット17を上下方向Aに送り、適当な高さにて停止させ
る。次いでゲートパルプ7を開放し、移載用マニピュレ
ータ6のマグネットカプリングの大気側28を前進させ
ることにより、真空室内の軸32を前進させ、その先端
につけだフォー218を棚の間に進入させる。次いで同
図(b)のようにフォーク18を後退させ、搬送路のレ
ール21上に待機しているトロッコ20の真」二でフォ
ーク18を停止する。ここで、ゲートパルプ7は閉鎖す
る。次いで、リフト19が、ベローズを応用した直進運
動導入機構29によって大気側からC方向に駆動され、
サセプタ16を持ち上げる。この状態でフォーク18f
:更にB方拘に退避させた後、リフト19を下降すれば
、同図(C)のように、サセプタはトロッコ上に移載を
完了する。
第4図における搬送路内の諸機構の概観図を第5図に示
す。ここで重要なことは、フォーク18、リフト19、
トロッコ20など、サセプタ16を支えるすべての機構
が互いに干渉することのないよう、1だ、サセプタに貼
付けた基板に触れぬようにサセプタを保持することであ
る。第6図の(a)〜(d)は、かかる保持状態の移行
を示すもので、同図(a)に示すようにカセット17の
棚に載置されたサセプタ16’f、(b)に示すように
フォーク18の先端で支え、つぎに<C) K示すよう
にリフト19の先端で支えて、(d)に示すようにトロ
ッコ20上の棚22に移載するようにしたものである。
各図では、それぞれサセプタを支える位置を2点鎖線で
示している。
トロッコ20は、第5図に示すように、基板面を下向き
にしたままサセプタ16を載せることができるよう、棚
(あるいは座)22が設けである。
サセプタ16を積んだトロッコ20はレール21上を大
気側から駆動されるワイアに引かれてD方向に移動する
。トロッコの駆動方法は、これ以外にもラック・ピニオ
ンの組合せ、チェーンによるけん引、更に電磁誘導によ
る駆動等も可能である。
以上導入室から搬送路へのサセプタの移送について説明
したが、搬送路において準備分析室、成長室の前に停止
したトロッコ20から基板15をこれらの超高真空室へ
送り込む機構についても、第4図の(b)、 (c)お
よび第5図に示したものと全く同様である。
準備・分析室、成長室におけるサセプタ16の受け取り
機構は、第7図の(a)、 (b)に示すとおり工ある
。移載用マニピュレータのフォーク18に載ったサセプ
タ16に対し、試料ホルダ23が直進Eと回転運動Fを
行って、そのL字溝24にサセプタ側のロッド25をか
ん合させ、サセプタを受け取る。分子線の照射、あるい
は基板面の分析においては、基板面を真空室内の適切な
位置へ移動。
回転する必要がある。本発明では、試料ホルダに回転と
移動の機能を付与することにより、基板の搬送における
基板面の向きと関係なく、真空室内の所望の位置で分子
線の照射、基板面の分析を可能とした。−例としてクヌ
ードセン(Knudsen )型分子線源を用いた成長
室内における試料の動きを第8図(a)および(b)に
示した。図中、30はクヌー下セン型分子線源を示す。
基板15は(a)において下向きのまま試料ホルダ23
に移載された後、(b)に示すように軸26を中心とし
た矢印27方向の回転運動により照射位置に移動する。
移載用マニピュレータ18は搬送路側へ退避し、ゲート
パルプ7が閉じて分子線の照射が行われる。
なお、基板の搬出については、上述の搬入手順を逆にた
どることにより行われる。
以上に述べた基板の搬送と受け渡しにおいて、基板は終
畑下向き、す々わち、重力方向を向いており、搬送、受
は渡し中に、基板面に塵等が付着する可能性は極めて低
い。特に成長室での基板の受け渡しにおいては、成長室
の壁や試料ホルダに付着した照射物質が落下゛すること
が多いので、本方式の効果は太きい。また、移載用マニ
ピュレータの運動は、直進のみであり、基板搬送の自動
化は極めて容易である。
サラに、本発明の搬送システムにおいて、カセット17
の上下運動As 移載用マニピュレータ6の運動B1 
リフト19の上下運動C,)ロツコ20の移動りはいず
れも直進運動のみであり、その駆動と停止の信号は、真
空槽のビューポートのガラスを介して大気中から導入さ
れる赤外線あるいはレーザとこれを受光する光電センサ
との組合せによって容易に位置の制御が可能になる。捷
た、回転運動と直進運動の組合せが要求される唯一の箇
所である成長室、準備成長室の試料ホルダに対するサセ
プタの着脱においても、移載用フォーク上に水平に置か
れているサセプタに試料ホルダを押し付けながら回転す
るだけの運動は、目視による操作を不要とした。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明によれば、以下の諸効果が得られ
る。
(1)基板面を下向きにして搬送、受は渡しを行うので
、基板面に塵等の付着が無く、格子欠陥の少い高品質の
エピタキシが可能になる。
(2)棚状のカセットに基板を積めるので、多数枚の基
板を一度に真空槽に持込むことが可能になり、槽内の真
空を保ったまま、連続的にエピタキシを行うことも可能
になる。
(3)基板の受け渡しにさいして、基板が水平に保持さ
れているので、従来の方式に比して、受は渡しの失敗率
が著しく低く、特に受け渡し箇所の多い多室構成の装置
において、稼動率の向上をもたらす。
(4)基板移載用のマニピュレータの運動の自由度が、
従来の方式では直進と回転の2自由度であるのに対し、
直進のみの1自由度となるので、基板の搬送の自動化が
容易になる。
なお、本実施例における導入室のカセットの形中 態、準備・分析ならびに成長惑P試料ホルダの形状、ト
ロッコからフォークへの基板の移載の形態については、
他の形態、形状であっても、本発明の重力を利用した下
向き搬送の設計思想を用いれば、上記の効果が得られる
。また、装置が第1図に示す構成にとどまらず、真空室
の数が実施例より増減した場合、あるいは搬送路が折れ
曲ったり、単一平面内になくても、また、真空室の配置
が変っても、本発明の思想が適用できること(dいうま
でもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、分子線エピタキシ装置の構成例を示す平面図
、第2図は、従来の基板搬送方式を示す見取図、第3図
の(a)は、本発明における基板を積載したカセットの
正面の断面図、(b)はその側面の断面図、第4図(a
) 、 (b) 、 (C)は、第1図のX−X@面で
、導入室から搬送路へのサセプタの移送の手順を示す断
面図、第5図は、移載用マニピュレータから搬送路への
基板の移載機構を示す図、第6図(a)〜(d)は、サ
セプタの保持状態の移行を示す図で、第7図(a)、 
(b)は、基板を試料ホルダに受け渡す前後の状態を示
す正面図、第8図(a)、(b)は、成長室内における
試料の動きを説明する図である。 1・・・導入室、2・・・準備・分析室、3・・・成長
室、4・・・搬出室、訃・・搬送路、6・・・移載用マ
ニピュレータ、7・・・ゲートパルプ、15・・・基板
、16・・・サセプタ、17・・・カセット、18・・
・移載用マニピュレータの先端のフォーク、19・・・
リフト、2o・・・トロッコ、21・・・レール、22
・・・トロッコノ棚、23・・・試料ホルダ、24・・
・試料ホルダのL字形のて 1 図 石 Z 図 3 ′fJ3図 (lスーフ (し〕 狛 4 図 冨5図 B 1N 乙 図 (C) (d) 第7図 (0−) (′b) 第 3 図 (L) 5 \ 土浦市神立町502番地株式会社 日立製作所機械研究所内 @発 明 者 田村直行 下松市豊井794番地株式会社日 立製作所笠戸工場内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 エピタキシアル成長を行う基板面を重力方向に向
    けて基板を真空槽内に導入し、エピタキシアル成長に必
    要なプロセスを行うだめの真空室への前記基板の搬送、
    および基板の受け渡しを、前記基板面を上記重力方向に
    維持した状態で行う如く構成したことを特徴とする分子
    線エピタキシ装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、複数の
    基板をまとめて同時に大気中から真空槽内に導入する如
    く構成したことを特徴とする分子線エピタキシ装置。 3、特許請求の範囲第1項または第2項記載の装置にお
    いて、エピタキシアル成長のための真空室に設けられた
    基板ホルダを、前記基板を受け取った後、前記基板面を
    分子線の照射位置まで回転せしめ得る機能を有する如く
    構成したことを特徴とする分子線エピタキシ装置。
JP58112721A 1983-06-24 1983-06-24 分子線エピタキシ装置 Pending JPS605509A (ja)

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KR (1) KR910000078B1 (ja)
CA (1) CA1207470A (ja)
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