JP2685405B2 - 半導体樹脂封止装置 - Google Patents
半導体樹脂封止装置Info
- Publication number
- JP2685405B2 JP2685405B2 JP5241234A JP24123493A JP2685405B2 JP 2685405 B2 JP2685405 B2 JP 2685405B2 JP 5241234 A JP5241234 A JP 5241234A JP 24123493 A JP24123493 A JP 24123493A JP 2685405 B2 JP2685405 B2 JP 2685405B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heater
- rod
- temperature
- shaped
- sensors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/72—Heating or cooling
- B29C45/73—Heating or cooling of the mould
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C33/00—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor
- B29C33/02—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor with incorporated heating or cooling means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C37/00—Component parts, details, accessories or auxiliary operations, not covered by group B29C33/00 or B29C35/00
- B29C2037/90—Measuring, controlling or regulating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/72—Heating or cooling
- B29C45/73—Heating or cooling of the mould
- B29C2045/7343—Heating or cooling of the mould heating or cooling different mould parts at different temperatures
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S425/00—Plastic article or earthenware shaping or treating: apparatus
- Y10S425/013—Electric heat
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体樹脂封止用トラ
ンスファモ−ルド金型の改良に関する。
ンスファモ−ルド金型の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体樹脂封止用トランスファモ
−ルド金型は、例えば図8に示すような棒状のヒ−タ7
を複数個有している。そして、一般的には、当該金型の
温度は、一つ又は複数個のセンサ8によってモニタされ
ている。また、ヒ−タ7及びセンサ8は、制御部9によ
り制御されている。
−ルド金型は、例えば図8に示すような棒状のヒ−タ7
を複数個有している。そして、一般的には、当該金型の
温度は、一つ又は複数個のセンサ8によってモニタされ
ている。また、ヒ−タ7及びセンサ8は、制御部9によ
り制御されている。
【0003】なお、棒状のヒ−タ7は、その発熱分布が
決まっているため、製作時に予め当該ヒ−タの特性を選
択する必要がある。従って、ヒ−タの発熱分布を変える
ときには、当該分布に近い特性を有するヒ−タを選択す
べく、ヒ−タそのものを変えなければならない。
決まっているため、製作時に予め当該ヒ−タの特性を選
択する必要がある。従って、ヒ−タの発熱分布を変える
ときには、当該分布に近い特性を有するヒ−タを選択す
べく、ヒ−タそのものを変えなければならない。
【0004】このように、従来の棒状ヒ−タは、製作時
に予め当該ヒ−タの特性を選択する必要があり、熱板表
面の温度分布は、各々のヒ−タの発熱量等の特性によっ
て決定されてしまう。なお、希望する発熱分布を得るべ
く、ヒ−タの特性を決定するに際しても、その決定は試
行錯誤の後に行われるため、試作期間の長期化とコスト
の増大という欠点がある。
に予め当該ヒ−タの特性を選択する必要があり、熱板表
面の温度分布は、各々のヒ−タの発熱量等の特性によっ
て決定されてしまう。なお、希望する発熱分布を得るべ
く、ヒ−タの特性を決定するに際しても、その決定は試
行錯誤の後に行われるため、試作期間の長期化とコスト
の増大という欠点がある。
【0005】例えば、図9及び10に示すように、熱板
上で均一な温度分布を得たい場合、図9に示すヒ−タ7
aを選んだときには、熱板の温度分布は均一にはならな
い。従って、熱板の均一な温度分布を得るためには、図
9のヒ−タ7aを図10のヒ−タ7bに変えなければな
らない。
上で均一な温度分布を得たい場合、図9に示すヒ−タ7
aを選んだときには、熱板の温度分布は均一にはならな
い。従って、熱板の均一な温度分布を得るためには、図
9のヒ−タ7aを図10のヒ−タ7bに変えなければな
らない。
【0006】また、熱板の温度分布は、ヒ−タの配置の
ピッチ方向では、各々のヒ−タの設定温度を変えること
で、ある程度自由に設定できるが、ヒ−タの挿入方向
(軸方向)では、当該ヒ−タの発熱特性により決定され
るため、自由に設定することができないという欠点があ
る。
ピッチ方向では、各々のヒ−タの設定温度を変えること
で、ある程度自由に設定できるが、ヒ−タの挿入方向
(軸方向)では、当該ヒ−タの発熱特性により決定され
るため、自由に設定することができないという欠点があ
る。
【0007】従って、熱板上に被加熱物を配置する半導
体樹脂封止金型の場合には、熱板上における熱容量の変
動や、当該熱板上の任意の領域の温度を設定することは
困難である。なお、外付けのヒ−タ等を用いて不足する
熱量を補い、必要な発熱分布に近づけるようにするため
には余分なスペ−ス等が必要となる欠点がある。
体樹脂封止金型の場合には、熱板上における熱容量の変
動や、当該熱板上の任意の領域の温度を設定することは
困難である。なお、外付けのヒ−タ等を用いて不足する
熱量を補い、必要な発熱分布に近づけるようにするため
には余分なスペ−ス等が必要となる欠点がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来は、
製作時に予め当該ヒ−タの特性を選択する必要があり、
また、温度分布は、ヒ−タの挿入方向では、当該ヒ−タ
の発熱特性により決定され、熱容量などの変動に際して
自由に変えることができないという欠点がある。
製作時に予め当該ヒ−タの特性を選択する必要があり、
また、温度分布は、ヒ−タの挿入方向では、当該ヒ−タ
の発熱特性により決定され、熱容量などの変動に際して
自由に変えることができないという欠点がある。
【0009】本発明は、上記欠点を解決すべくなされた
もので、その目的は、ヒ−タの挿入方向、即ちヒ−タの
軸方向において、任意の発熱分布を実現できるように
し、被加熱物が配置される領域の温度を自由に制御でき
る半導体樹脂封止装置を提供することである。
もので、その目的は、ヒ−タの挿入方向、即ちヒ−タの
軸方向において、任意の発熱分布を実現できるように
し、被加熱物が配置される領域の温度を自由に制御でき
る半導体樹脂封止装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の半導体樹脂封止装置は、少なくとも1本以
上の棒状ヒ−タと、各々の棒状ヒ−タに対応して設けら
れ、当該棒状ヒ−タ本体又はその近傍の温度を検出する
ためのセンサを有する金型と、上記棒状ヒ−タの温度を
上記センサからの信号により制御する制御部とを備えて
いる。また、上記棒状ヒ−タは、各1本につき電気的に
独立した複数の回路で構成される複数のヒ−タ部分を有
し、上記制御部は、各々のヒ−タ部分に対応して設けら
れ、当該ヒ−タ部分の温度を独立に設定して、上記複数
個のセンサから各々の棒状ヒ−タ近傍の温度をモニタ
し、その信号により当該棒状ヒ−タの温度を任意に設定
し得る温度調節器を有する。
め、本発明の半導体樹脂封止装置は、少なくとも1本以
上の棒状ヒ−タと、各々の棒状ヒ−タに対応して設けら
れ、当該棒状ヒ−タ本体又はその近傍の温度を検出する
ためのセンサを有する金型と、上記棒状ヒ−タの温度を
上記センサからの信号により制御する制御部とを備えて
いる。また、上記棒状ヒ−タは、各1本につき電気的に
独立した複数の回路で構成される複数のヒ−タ部分を有
し、上記制御部は、各々のヒ−タ部分に対応して設けら
れ、当該ヒ−タ部分の温度を独立に設定して、上記複数
個のセンサから各々の棒状ヒ−タ近傍の温度をモニタ
し、その信号により当該棒状ヒ−タの温度を任意に設定
し得る温度調節器を有する。
【0011】
【作用】上記構成によれば、棒状ヒ−タは、1本につき
電気的に独立した回路で構成される複数のヒ−タ部分を
有している。これにより、各々のヒ−タ部分に対応して
設けられた複数個の温度調節器で、各々に設けられたセ
ンサの信号により当該ヒ−タ部分の温度を独立に設定し
得る。
電気的に独立した回路で構成される複数のヒ−タ部分を
有している。これにより、各々のヒ−タ部分に対応して
設けられた複数個の温度調節器で、各々に設けられたセ
ンサの信号により当該ヒ−タ部分の温度を独立に設定し
得る。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照しながら、本発明の一実施
例について詳細に説明する。図1及び図2は、本発明の
一実施例に係わる半導体樹脂封止用トランスファモ−ル
ド金型を示している。
例について詳細に説明する。図1及び図2は、本発明の
一実施例に係わる半導体樹脂封止用トランスファモ−ル
ド金型を示している。
【0013】この半導体樹脂封止用トランスファモ−ル
ド金型は、ダイセット11とチェイス金型2から構成さ
れている。ダイセット11の熱板(メインベ−ス)1上
には、チェイス金型2が配置される。被加熱物の半導体
パッケ−ジは、当該チェイス金型2上に搭載されてい
る。また、熱板1には、ヒ−タ3及び温度モニタ用セン
サ4が各々複数個設けられている。
ド金型は、ダイセット11とチェイス金型2から構成さ
れている。ダイセット11の熱板(メインベ−ス)1上
には、チェイス金型2が配置される。被加熱物の半導体
パッケ−ジは、当該チェイス金型2上に搭載されてい
る。また、熱板1には、ヒ−タ3及び温度モニタ用セン
サ4が各々複数個設けられている。
【0014】チェイス金型2は、被加熱物である半導体
パッケ−ジの品種毎に交換されるものである。チェイス
金型2のサポ−トピン12は、トランスファモ−ルドの
プレス時における荷重を支えるためのもので、当該半導
体パッケ−ジの大きさやフレ−ム長などを考慮し、所定
の箇所に配置されている。
パッケ−ジの品種毎に交換されるものである。チェイス
金型2のサポ−トピン12は、トランスファモ−ルドの
プレス時における荷重を支えるためのもので、当該半導
体パッケ−ジの大きさやフレ−ム長などを考慮し、所定
の箇所に配置されている。
【0015】また、トランスファモ−ルド時の熱は、サ
ポ−トピン12を通じてランナやキャビティに与えられ
る。従って、チェイス金型2の温度分布は、被加熱物で
ある半導体パッケ−ジの品種毎に異なるものとなる。
ポ−トピン12を通じてランナやキャビティに与えられ
る。従って、チェイス金型2の温度分布は、被加熱物で
ある半導体パッケ−ジの品種毎に異なるものとなる。
【0016】ヒ−タ3及び温度モニタ用センサ4は、そ
れぞれ制御部5に接続されている。制御部5は、温度調
節器6a〜6cによりヒ−タ3の出力を調節し、また、
ヒ−タ3の近傍における温度をモニタして図示しない被
加熱物の温度を任意の値に設定する。また、ヒ−タ3
は、例えば互いに平行となるようにピッチ方向に所定の
間隔で4本配置されているが、ヒ−タの本数は4本には
限られない。
れぞれ制御部5に接続されている。制御部5は、温度調
節器6a〜6cによりヒ−タ3の出力を調節し、また、
ヒ−タ3の近傍における温度をモニタして図示しない被
加熱物の温度を任意の値に設定する。また、ヒ−タ3
は、例えば互いに平行となるようにピッチ方向に所定の
間隔で4本配置されているが、ヒ−タの本数は4本には
限られない。
【0017】図2において、本発明に係わるヒ−タ3及
び温度モニタ用センサ4、並びにこれらの制御部5を詳
細に示すものである。ヒ−タ3は、その熱板1への挿入
方向(ヒ−タの軸方向)に沿って三つの部分(F,C,
R)から構成されている。各々のヒ−タ部分3a〜3c
は、それぞれ独立に温度調節器6a〜6cに接続され、
一つのヒ−タ部分は、他のヒ−タ部分とは独立に、その
温度が制御されている。また、センサ4a〜4cは、温
度調節器6a〜6cに接続されている。センサ4a〜4
cは、ヒ−タ3の近傍における温度をモニタし、そのデ
−タに基づき温度調節器6a〜6cを制御する。図11
は、熱板1に設けられるヒ−タ3及びセンサ4a〜4c
の挿入穴の一例を示すものである。 一つのヒ−タ挿入穴
3´の周囲には、3つのセンサ挿入穴4a´〜4c´が
設けられている。一つのセンサ挿入穴には、一つのセン
サが挿入される。センサ挿入穴4a´に挿入されるセン
サは、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのF部分の
温度を検出し、センサ挿入穴4b´に挿入されるセンサ
は、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのC部分の温
度を検出し、センサ挿入穴4c´に挿入されるセンサ
は、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのR部分の温
度を検出する。 なお、一つのヒ−タ挿入穴3´の周囲に
は、一つのセンサ挿入穴を設け、このセンサ挿入穴に図
2のセンサ4a〜4cの全てを挿入しても構わない。
び温度モニタ用センサ4、並びにこれらの制御部5を詳
細に示すものである。ヒ−タ3は、その熱板1への挿入
方向(ヒ−タの軸方向)に沿って三つの部分(F,C,
R)から構成されている。各々のヒ−タ部分3a〜3c
は、それぞれ独立に温度調節器6a〜6cに接続され、
一つのヒ−タ部分は、他のヒ−タ部分とは独立に、その
温度が制御されている。また、センサ4a〜4cは、温
度調節器6a〜6cに接続されている。センサ4a〜4
cは、ヒ−タ3の近傍における温度をモニタし、そのデ
−タに基づき温度調節器6a〜6cを制御する。図11
は、熱板1に設けられるヒ−タ3及びセンサ4a〜4c
の挿入穴の一例を示すものである。 一つのヒ−タ挿入穴
3´の周囲には、3つのセンサ挿入穴4a´〜4c´が
設けられている。一つのセンサ挿入穴には、一つのセン
サが挿入される。センサ挿入穴4a´に挿入されるセン
サは、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのF部分の
温度を検出し、センサ挿入穴4b´に挿入されるセンサ
は、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのC部分の温
度を検出し、センサ挿入穴4c´に挿入されるセンサ
は、ヒ−タ挿入穴3´に挿入されるヒ−タのR部分の温
度を検出する。 なお、一つのヒ−タ挿入穴3´の周囲に
は、一つのセンサ挿入穴を設け、このセンサ挿入穴に図
2のセンサ4a〜4cの全てを挿入しても構わない。
【0018】図3及び図4は、本発明の金型におけるヒ
−タの発熱特性とチェイス金型の温度分布との関係を実
験デ−タに基づき示すものである。図1の金型及び図2
のヒ−タを用いて、例えば(a)のようにヒ−タのF,
C,Rのそれぞれの部分を同じ温度(195℃)に設定
した場合、チェイス金型2の測定点A〜Fにおいて、温
度分布のレンジRは2.3℃と大きな値となっている。
一方、(b)のようにヒ−タのF,C,Rのそれぞれの
部分を別個に所定の温度(F=R=200℃、C=19
0℃)に制御した場合、チェイス金型2の測定点A〜F
において、温度分布のレンジRは0.6℃(測定点A,
B,C)又は0.3℃(測定点D,E,F)と小さな値
となっている。
−タの発熱特性とチェイス金型の温度分布との関係を実
験デ−タに基づき示すものである。図1の金型及び図2
のヒ−タを用いて、例えば(a)のようにヒ−タのF,
C,Rのそれぞれの部分を同じ温度(195℃)に設定
した場合、チェイス金型2の測定点A〜Fにおいて、温
度分布のレンジRは2.3℃と大きな値となっている。
一方、(b)のようにヒ−タのF,C,Rのそれぞれの
部分を別個に所定の温度(F=R=200℃、C=19
0℃)に制御した場合、チェイス金型2の測定点A〜F
において、温度分布のレンジRは0.6℃(測定点A,
B,C)又は0.3℃(測定点D,E,F)と小さな値
となっている。
【0019】図5乃至図7は、本発明の金型におけるヒ
−タの発熱特性とチェイス金型の温度分布との関係を実
験デ−タに基づいてさらに詳細に示すものである。図5
は、トランスファモ−ルド金型の表面の温度分布の測定
箇所を示すものである。即ち、当該測定箇所は、I−I
´線上におけるキャビティ13及びセンタ−ブロック1
5の表面である。
−タの発熱特性とチェイス金型の温度分布との関係を実
験デ−タに基づいてさらに詳細に示すものである。図5
は、トランスファモ−ルド金型の表面の温度分布の測定
箇所を示すものである。即ち、当該測定箇所は、I−I
´線上におけるキャビティ13及びセンタ−ブロック1
5の表面である。
【0020】例えば、各ヒ−タ部分(F,C,R)3a
〜3cには、センサ4a〜4cが独立に設けられ、制御
部5は、センサ4a〜4cが感知する温度が約185℃
となるように各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制御す
る。
〜3cには、センサ4a〜4cが独立に設けられ、制御
部5は、センサ4a〜4cが感知する温度が約185℃
となるように各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制御す
る。
【0021】このとき、図6に示すように、キャビティ
13の表面温度のレンジ(最大値−最小値)Rは、2.
9℃となり、チェイス金型2の表面温度のレンジRは、
4.2℃となる。つまり、キャビティ13及びチェイス
金型2の表面温度のレンジが比較的に大きい。そこで、
キャビティ13及びチェイス金型2の表面温度のレンジ
を小さくするため、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制
御する。
13の表面温度のレンジ(最大値−最小値)Rは、2.
9℃となり、チェイス金型2の表面温度のレンジRは、
4.2℃となる。つまり、キャビティ13及びチェイス
金型2の表面温度のレンジが比較的に大きい。そこで、
キャビティ13及びチェイス金型2の表面温度のレンジ
を小さくするため、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制
御する。
【0022】また、図7に示すように、センサ4a〜4
cが感知する温度の設定を所定の値に変更する。このと
き、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力は、例えばF=72
W、C=408W、R=220Wとなる。従って、キャ
ビティ13の表面温度のレンジRは、1.7℃となり、
チェイス金型2の表面温度のレンジRは、1.7℃とな
る。このように、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制御
することにより、特にキャビティ13及びチェイス金型
2のレンジを小さくすることができる。
cが感知する温度の設定を所定の値に変更する。このと
き、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力は、例えばF=72
W、C=408W、R=220Wとなる。従って、キャ
ビティ13の表面温度のレンジRは、1.7℃となり、
チェイス金型2の表面温度のレンジRは、1.7℃とな
る。このように、各ヒ−タ部分3a〜3cの出力を制御
することにより、特にキャビティ13及びチェイス金型
2のレンジを小さくすることができる。
【0023】本発明では、ヒ−タは、その挿入方向(軸
方向)において、中央部、右端部、左端部の三つの発熱
領域を有することになる。従って、それぞれの発熱領域
の出力を調節することで、被加熱物の温度分布を任意に
設定することができる。従って、本発明では、ヒ−タ自
体を変えることなく、温度調節器6a〜6cにより中央
部、右端部、左端部のそれぞれのヒ−タの温度を調節す
るのみで、例えば図3及び図4、又は図6及び図7に示
すような熱板の均一な温度分布を得ることができる。
方向)において、中央部、右端部、左端部の三つの発熱
領域を有することになる。従って、それぞれの発熱領域
の出力を調節することで、被加熱物の温度分布を任意に
設定することができる。従って、本発明では、ヒ−タ自
体を変えることなく、温度調節器6a〜6cにより中央
部、右端部、左端部のそれぞれのヒ−タの温度を調節す
るのみで、例えば図3及び図4、又は図6及び図7に示
すような熱板の均一な温度分布を得ることができる。
【0024】なお、上記実施例では、ヒ−タの出力制御
は、一つのヒ−タの各々のヒ−タ部分について、温度調
節器を一つ、及び、センサを一つ設け、当該温度調節器
により中央部、右端部、左端部のそれぞれのヒ−タの温
度を調節しているが、センサは、一つのヒ−タについて
一つ設け、各々のヒ−タ部分は、電圧等の出力調整を行
うことで、1つの温度調節器で任意の温度分布を得るこ
とも可能である。
は、一つのヒ−タの各々のヒ−タ部分について、温度調
節器を一つ、及び、センサを一つ設け、当該温度調節器
により中央部、右端部、左端部のそれぞれのヒ−タの温
度を調節しているが、センサは、一つのヒ−タについて
一つ設け、各々のヒ−タ部分は、電圧等の出力調整を行
うことで、1つの温度調節器で任意の温度分布を得るこ
とも可能である。
【0025】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の半導体
樹脂封止用トランスファモ−ルド金型によれば、次のよ
うな効果を奏する。ヒ−タは、その挿入方向において、
複数の発熱領域、例えば中央部、右端部、左端部の三つ
の発熱領域を有している。従って、それぞれの発熱領域
の出力を調節可能であり、被加熱物の温度分布を任意に
設定できる。従って、本発明では、ヒ−タ自体を変える
ことなく、温度調節器により中央部、右端部、左端部の
それぞれのヒ−タの温度を調節するのみで、被加熱物で
ある半導体パッケ−ジのチェイス金型の容量が変動して
も、熱板の均一な温度分布を得ることができる。また、
これにより従来のようなヒ−タの特性を決定するための
試行錯誤を不要とできる。
樹脂封止用トランスファモ−ルド金型によれば、次のよ
うな効果を奏する。ヒ−タは、その挿入方向において、
複数の発熱領域、例えば中央部、右端部、左端部の三つ
の発熱領域を有している。従って、それぞれの発熱領域
の出力を調節可能であり、被加熱物の温度分布を任意に
設定できる。従って、本発明では、ヒ−タ自体を変える
ことなく、温度調節器により中央部、右端部、左端部の
それぞれのヒ−タの温度を調節するのみで、被加熱物で
ある半導体パッケ−ジのチェイス金型の容量が変動して
も、熱板の均一な温度分布を得ることができる。また、
これにより従来のようなヒ−タの特性を決定するための
試行錯誤を不要とできる。
【0026】さらに、一つのヒ−タの中に独立して制御
可能な複数の発熱領域を有するため、これを複数のヒ−
タにより同じ効果を持たせるようにする場合に比べ、熱
板のヒ−タの配置部のスペ−スを数分の1に縮小でき
る。従って、本発明では、発熱を補うための外付けヒ−
タや、複雑な配置のヒ−タを設ける必要がなく、スペ−
ス的にもメリットが大である。
可能な複数の発熱領域を有するため、これを複数のヒ−
タにより同じ効果を持たせるようにする場合に比べ、熱
板のヒ−タの配置部のスペ−スを数分の1に縮小でき
る。従って、本発明では、発熱を補うための外付けヒ−
タや、複雑な配置のヒ−タを設ける必要がなく、スペ−
ス的にもメリットが大である。
【0027】また、本発明では、熱板の構造は、従来の
棒状ヒ−タの場合と同様であるので、簡単な構成で熱板
の均一な温度分布を得るという効果がある。また、本発
明は、一本のヒ−タに複数の発熱領域を有するものであ
るから、ヒ−タの挿入、取り出しなどが容易である。さ
らに、複数のヒ−タを用いる場合には、ヒ−タ間に発熱
しない部分が生じるが、本発明は、一つのヒ−タに複数
の発熱領域を設けるものであるためチェイス金型の温度
分布の均一化に貢献できる。
棒状ヒ−タの場合と同様であるので、簡単な構成で熱板
の均一な温度分布を得るという効果がある。また、本発
明は、一本のヒ−タに複数の発熱領域を有するものであ
るから、ヒ−タの挿入、取り出しなどが容易である。さ
らに、複数のヒ−タを用いる場合には、ヒ−タ間に発熱
しない部分が生じるが、本発明は、一つのヒ−タに複数
の発熱領域を設けるものであるためチェイス金型の温度
分布の均一化に貢献できる。
【図1】本発明に係わる半導体樹脂封止装置の概略を示
す図。
す図。
【図2】本発明のヒ−タ、センサ及び制御部を詳細に示
す図。
す図。
【図3】本発明の金型のヒ−タ構造でのヒ−タ温度と熱
板温度との関係を示す図。
板温度との関係を示す図。
【図4】図3の関係における温度測定点を示す図。
【図5】本発明に係わる半導体樹脂封止装置の概略を示
す図。
す図。
【図6】本発明の金型のヒ−タ構造での当該金型表面の
温度分布を示す図。
温度分布を示す図。
【図7】本発明の金型のヒ−タ構造での当該金型表面の
温度分布を示す図。
温度分布を示す図。
【図8】従来のヒ−タ、センサ及び制御部を示す図。
【図9】従来の金型のヒ−タ構造でのヒ−タ温度と熱板
温度との関係を示す図。
温度との関係を示す図。
【図10】従来の金型のヒ−タ構造でのヒ−タ温度と熱
板温度との関係を示す図。
板温度との関係を示す図。
【図11】図11は、熱板に設けられたヒ−タ挿入穴及
びセンサ挿入穴の一例を示す図である。
びセンサ挿入穴の一例を示す図である。
1 …熱板、 2 …チェイス金型、 3 …ヒ−タ、 3a〜3c …ヒ−タ部分、 4a〜4c …温度モニタ用センサ、 5 …制御部、 6a〜6c …温度調節器、 7 …従来のヒ−タ、 8 …従来の温度モニタ用センサ、 9 …従来の制御部、 11 …ダイセット、 12 …サポ−トピン、 13 …キャビティ、 15 …センタ−ブロック。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−19418(JP,A) 実開 平1−176928(JP,U)
Claims (5)
- 【請求項1】 少なくとも1本以上の棒状ヒ−タと、各
々の棒状ヒ−タに対応して設けられ、当該棒状ヒ−タ本
体又はその近傍の温度を検出するためのセンサを有する
金型と、上記棒状ヒ−タの温度を上記センサからの信号
により制御する制御部とを具備し、 上記棒状ヒ−タは、各1本につき電気的に独立した複数
の回路で構成される複数のヒ−タ部分を有し、 上記制御部は、各々のヒ−タ部分に対応して設けられ、
当該ヒ−タ部分の温度を独立に設定して、上記複数個の
センサから各々の棒状ヒ−タ近傍の温度をモニタし、そ
の信号により当該棒状ヒ−タの温度を任意に設定し得る
温度調節器を有することを特徴とする半導体樹脂封止装
置。 - 【請求項2】 複数のヒ−タ挿入用の穴及び複数のセン
サ挿入用の穴がそれぞれ設けられた熱板を有するダイセ
ットと、上記熱板上に搭載され、半導体装置が配置され
るキャビティ及びモ−ルド樹脂の通路となるランナをそ
れぞれ有するチェイスと、各々のヒ−タ挿入用の穴に1
つずつ挿入され、先端部から後端部にかけて複数の発熱
領域を有する複数の棒状ヒ−タと、各々のセンサ挿入用
の穴に1つずつ挿入され、上記複数の棒状ヒ−タの各発
熱領域の温度を検出する複数のセンサと、上記複数のセ
ンサが検出する上記棒状ヒ−タの各発熱領域の温度に基
づいて上記複数の棒状ヒ−タの各発熱領域の温度を独立
に所定の値に設定し得る制御部とを具備し、 上記複数のヒ−タ挿入用の穴は、上記熱板の一方側から
他方側に貫通し、上記複数のセンサ挿入用の穴は、それ
ぞれ所定のヒ−タ挿入用の穴に隣接して配置され、1つ
のヒ−タ挿入用の穴に隣接するセンサ挿入用の穴の数
は、当該1つのヒ−タ挿入用の穴に挿入される棒状ヒ−
タの発熱領域の数に等しく、少なくとも1つのセンサ挿
入用の穴の入口は、上記熱板の一方側に設けられ、残り
のセンサ挿入用の穴の入口は、上記熱板の他方側に設け
られ、全てのセンサ挿入用の穴の先端は、所定の棒状ヒ
−タの所定の発熱領域に位置している ことを特徴とする
半導体樹脂封止装置。 - 【請求項3】 上記半導体樹脂封止装置は、4つのヒ−
タ挿入用の穴と、4 つ又はそれ以上のセンサ挿入用の穴
と、4つの棒状ヒ−タと、4つ又はそれ以上のセンサと
を有することを特徴とする請求項2記載の半導体樹脂封
止装置。 - 【請求項4】 上記棒状ヒ−タの各発熱領域には、発熱
体が配置され、前記制御部は、前記棒状ヒ−タの各発熱
領域の温度に基づいて上記発熱体が発する熱量を制御す
ることを特徴とする請求項2記載の半導体樹脂封止装
置。 - 【請求項5】 複数のヒ−タ挿入用の穴及び複数のセン
サ挿入用の穴がそれぞれ設けられた熱板を有するダイセ
ットと、上記熱板上に搭載され、半導体装置が配置され
るキャビティ及びモ−ルド樹脂の通路となるランナをそ
れぞれ有するチェイスと、各々のヒ−タ挿入用の穴に1
つずつ挿入され、先端部から後端部にかけて複数の発熱
領域を有する複数の棒状ヒ−タと、各々のセンサ挿入用
の穴に1つずつ挿入され、上記複数の棒状ヒ−タの複数
の発熱領域の数に等しい数だけ設けられ、上記複数の棒
状ヒ−タの各発熱領域の温度を検出する複数のセンサ
と、上記複数のセンサが検出する上記棒状ヒ−タの各発
熱領域の温度に基づいて上記複数の棒状ヒ−タの各発熱
領域の温度を独立に所定の値に設定し得る制御部とを具
備し、 上記複数のヒ−タ挿入用の穴は、上記熱板の一方側から
他方側に貫通し、上記複数のセンサ挿入用の穴は、それ
ぞれ所定のヒ−タ挿入用の穴に隣接して配置され、1つ
のヒ−タ挿入用の穴に隣接するセンサ挿入用の穴の数
は、当該1つのヒ−タ挿入用の穴に挿入される棒状ヒ−
タの発熱領域の数に等しく、少なくとも1つのセンサ挿
入用の穴の入口は、上記熱板の一方側に設けられ、残り
のセンサ挿入用の穴の入口は、上記熱板の他方側に設け
られ、全てのセンサ挿入用の穴の先端は、所定の棒状ヒ
−タの所定の発熱領域に位置している ことを特徴とする
半導体樹脂封止装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5241234A JP2685405B2 (ja) | 1993-02-12 | 1993-09-28 | 半導体樹脂封止装置 |
CN93119967A CN1056706C (zh) | 1993-02-12 | 1993-12-24 | 半导体器件树脂封装设备 |
US08/177,957 US5415535A (en) | 1993-02-12 | 1994-01-06 | Semiconductor resin sealing apparatus |
KR1019940002160A KR0131180B1 (ko) | 1993-02-12 | 1994-02-05 | 반도체 수지밀봉장치 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2401693 | 1993-02-12 | ||
JP5-24016 | 1993-02-12 | ||
JP5241234A JP2685405B2 (ja) | 1993-02-12 | 1993-09-28 | 半導体樹脂封止装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06310554A JPH06310554A (ja) | 1994-11-04 |
JP2685405B2 true JP2685405B2 (ja) | 1997-12-03 |
Family
ID=26361472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5241234A Expired - Fee Related JP2685405B2 (ja) | 1993-02-12 | 1993-09-28 | 半導体樹脂封止装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5415535A (ja) |
JP (1) | JP2685405B2 (ja) |
KR (1) | KR0131180B1 (ja) |
CN (1) | CN1056706C (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1030525A (ja) * | 1996-07-16 | 1998-02-03 | Denso Corp | 高圧サプライポンプ |
JP3892609B2 (ja) * | 1999-02-16 | 2007-03-14 | 株式会社東芝 | ホットプレートおよび半導体装置の製造方法 |
JP4194596B2 (ja) * | 2005-11-25 | 2008-12-10 | 第一精工株式会社 | 樹脂封止金型装置および樹脂封止方法 |
US7766076B2 (en) * | 2007-03-23 | 2010-08-03 | Rocky Research | Spot cooler for heat generating electronic components |
CN102073214B (zh) * | 2009-11-23 | 2013-03-06 | 无锡华润上华半导体有限公司 | 涂胶显影机热处理单元 |
KR101440345B1 (ko) * | 2013-05-06 | 2014-09-15 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조용 스테이지 블럭 및 이를 이용한 반도체 칩 부착 방법 |
JP7205261B2 (ja) * | 2018-12-21 | 2023-01-17 | I-Pex株式会社 | 樹脂封止方法及び樹脂封止装置 |
CN113261085B (zh) * | 2018-12-21 | 2022-03-15 | 爱沛股份有限公司 | 树脂成形金属模具及树脂成形方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3370120A (en) * | 1965-05-28 | 1968-02-20 | Electroglas Inc | Diffusion furnace and method utilizing high speed recovery |
DE2711558A1 (de) * | 1977-03-17 | 1978-09-21 | Werner & Pfleiderer | Heizplatte fuer formwerkzeuge |
DE3325310C2 (de) * | 1983-07-13 | 1986-01-30 | Metzeler Kautschuk GmbH, 8000 München | Vorrichtung zur Herstellung von Formteilen aus Kunststoff |
US4609343A (en) * | 1983-12-30 | 1986-09-02 | Andras Tejfalussy | Temperature distribution regulating sample holder-adapter for forming conditions for gradient heat treatment in heat treatment ovens or furnaces |
JPS61249721A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-06 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 高密度情報記録用デイスクの射出成形金型 |
JPS6278834A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子用樹脂封止装置 |
US4659304A (en) * | 1986-02-11 | 1987-04-21 | Palmer-Chenard Industries, Inc. | Molding |
JPS62207615A (ja) * | 1986-03-07 | 1987-09-12 | Fujitsu Ltd | 樹脂封止用金型 |
US4711989A (en) * | 1986-05-19 | 1987-12-08 | Thermco Systems, Inc. | Diffusion furnace multizone temperature control |
DE3710139A1 (de) * | 1987-03-31 | 1988-10-13 | Hans Schreck | Heisskanal fuer kunststoffspritzmaschinen |
JPH0694135B2 (ja) * | 1989-02-03 | 1994-11-24 | 三菱電機株式会社 | 樹脂封止装置 |
FR2646579A1 (fr) * | 1989-03-20 | 1990-11-02 | Guillemot Gerard | Equipement chauffant electriquement a haute temperature par zones regulees pour la mise en oeuvre de produits en materiaux composites |
GB2233275A (en) * | 1989-05-25 | 1991-01-09 | Barnett Int Ltd | Uniformly curing moulded plastics by varying the heat input in proportion to the cavity size |
JPH04142044A (ja) * | 1990-10-02 | 1992-05-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体チップの実装方法 |
JPH0690126B2 (ja) * | 1990-10-30 | 1994-11-14 | 株式会社島津製作所 | キャピラリレオメータおよび温度検査棒 |
-
1993
- 1993-09-28 JP JP5241234A patent/JP2685405B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-24 CN CN93119967A patent/CN1056706C/zh not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-01-06 US US08/177,957 patent/US5415535A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-05 KR KR1019940002160A patent/KR0131180B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5415535A (en) | 1995-05-16 |
KR0131180B1 (ko) | 1998-04-14 |
JPH06310554A (ja) | 1994-11-04 |
CN1096916A (zh) | 1994-12-28 |
CN1056706C (zh) | 2000-09-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2685405B2 (ja) | 半導体樹脂封止装置 | |
JP2986384B2 (ja) | 半導体チップ・モジュールを能動的に冷却する装置及び方法 | |
JP2880799B2 (ja) | 冷接点補償付き熱電対トランスミッタ | |
US20080238466A1 (en) | Temperature sensing and prediction in ic sockets | |
EP0846940B1 (en) | Method and device for effecting temperature compensation in load cell type load detector | |
US4284872A (en) | Method for thermal testing and compensation of integrated circuits | |
JPH06511335A (ja) | 表面上に載置した対象物を加熱するための加熱ソールおよびこのソールを備えた化学処理反応器 | |
US7568388B2 (en) | Thermal flow sensor having an amplifier section for adjusting the temperature of the heating element | |
EP0307482B1 (en) | Injection nozzle of injection molding machines | |
JP3757809B2 (ja) | 温度調節器 | |
JPH0592991U (ja) | カートリッジヒータ群 | |
JP2009154454A (ja) | 射出成形機の型締装置 | |
JP2001165990A (ja) | 電子デバイスの温度制御方法及び装置 | |
JP3787614B2 (ja) | 多数個取り金型におけるゲート加熱制御方法 | |
JPS6272148A (ja) | 集積回路の冷却方式 | |
JP4871447B2 (ja) | マルチプレス型モールド装置 | |
KR20080038916A (ko) | 차량용 히팅시트 장치 | |
JPH09113374A (ja) | 熱電対用端子台 | |
JPH091610A (ja) | トランスファ成形金型の加熱ヒータ | |
JPS62259384A (ja) | 熱板 | |
HU223436B1 (hu) | Berendezés, csapolóegység és eljárás többrétegű üvegáram előállítására | |
JP2001083019A (ja) | 温度計測器 | |
JPH03152451A (ja) | ガスセンサ | |
KR200171841Y1 (ko) | 히터블록의 표면온도 측정장치 | |
JPH11115012A (ja) | 射出成形金型の温度制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970715 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070815 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080815 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090815 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |