JP2684657B2 - 光ディスク記録方法 - Google Patents

光ディスク記録方法

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JP2684657B2
JP2684657B2 JP62287029A JP28702987A JP2684657B2 JP 2684657 B2 JP2684657 B2 JP 2684657B2 JP 62287029 A JP62287029 A JP 62287029A JP 28702987 A JP28702987 A JP 28702987A JP 2684657 B2 JP2684657 B2 JP 2684657B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、書込可能形光ディスクに情報を記録し、
再生するための新規な光ディスク記録方法に関し、記録
後のディスクをCD(コンパクト・ディスク)、CD−RO
M、CD−I(対話形CD)、CDV(ビデオ付CD)、LV(レー
ザディスク・ビジョン)等の再生専用として規格化され
た光ディスク(本願ではこれを「再生専用光ディスク」
という。)の再生装置を兼用して再生できるようにし
て、専用の再生装置を不要としたものである。 〔従来の技術〕 従来、書込可能形光ディスクとして、DRAW(追記
形)、E−DRAW(消去可能形)ディスクがあった。DRAW
ディスクは1度だけ書込が可能なもので、例えばレーザ
光照射で発生した熱によって金属記録膜を焼き切って情
報ピットを形成するものがある。 E−DRAWディスクは記録の書換が可能なもので、光磁
気記録を利用したものや、結晶状態とアモルファス状態
との間の相変化を利用したもの等がある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上記従来のDRAWディスク、E−DRAWディスクでは、再
生専用光ディスク(CD,CD−ROM,CD−I,CDV,LV等)と記
録フォーマットやディスク形状(外径等)、回転速度等
が異なるため、これら再生専用光ディスクの再生装置で
は再生することができなかった。 また、記録フォーマットやディスク形状を再生専用光
ディスクと同じにしたとしても、光磁気や光相変化を利
用したものでは光反射率が低く(ミラー部反射率が例え
ば50%以下)、再生専用光ディスクでは再生することが
できなかった。 また、従来のレーザ光照射で金属膜を焼き切って情報
ピットを形成するものでは、反射率は充分とし得るが、
記録に強力なガスレーザ等が必要であり、記録装置が大
型かつ高価になり、民生機器として利用することはでき
なかった。 この発明は、前記従来の技術における問題点を解決し
て再生に再生専用ディスクの再生装置を兼用することが
でき、かつ記録装置を小形かつ安価に構成することがで
きる光ディスク記録方法を提供しようとするものであ
る。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明の光ディスク記録方法は、半導体レーザで記
録可能な素材でかつ光反射率が59〜75%の素材材料で記
録面が形成され、この記録面上に深さが20〜50nmのプリ
グルーブを形成し、機械的寸法を再生専用光ディスクの
規格寸法に合致させた光ディスクからなる記録担体手段
を用い、この記録担体の前記記録面上に、半導体レーザ
で記録する際、記録すべき入力信号を前記再生専用光デ
ィスクの規格フォーマットに合致するマーク長記録方式
のデータ信号に変換しこのデータ信号に基づき前記半導
体レーザーの照射時間を制御すると共に記録線速度が前
記再生専用光ディスクの規格線速度に合致するように前
記記録担体の回転数を制御し、記録トラックピッチが前
記再生専用光ディスクの規格トラックピッチに合致する
ように前記プリグルーブにより前記記録担体と前記半導
体レーザとの位置関係を制御し、前記記録担体手段を再
生専用光ディスクの再生装置を兼用して再生できるよう
に記録することを特徴とするものである。 〔作 用〕 この発明の光ディスク記録方法によれば、半導体レー
ザで記録可能な素材でかつ光反射率が59〜75%の素材材
料で記録面が形成され、この記録面上に深さが20〜50nm
のプリグルーブを形成し、機械的寸法を再生専用光ディ
スクの規格寸法に合致させた光ディスクからなる記録担
体手段を用い、この記録担体の前記記録面上に、半導体
レーザで記録する際、記録すべき入力信号を再生専用光
ディスクの規格フォーマットに合致するマーク長記録方
式のデータ信号に変換しこのデータ信号に基づき半導体
レーザの照射時間を制御すると共に記録線速度が再生専
用光ディスクの規格線速度に合致するように記録担体の
回転数を制御し、記録トラックピッチが再生専用光ディ
スクの規格トラックピッチに合致するようにプリグルー
ブにより記録担体と半導体レーザとの位置関係を制御し
て記録することにより、このようにして記録された記録
担体手段を再生専用光ディスクの再生装置を兼用して再
生することができる。 〔実施例〕 この発明の一実施例を以下に説明する。 第1図はこの発明の一実施例を示すもので、記録から
再生を行なうシステム全体の概要を示したものである。 光ディスク1(記録担体手段)は、半導体レーザで記
録可能でかつ光反射率の比較的高い材料で記録面が構成
されると共に、機械的寸法が再生装置3で再生される再
生専用光ディスク(CD,CD−ROM,CD−I,CDV,LV等)の規
格寸法に合致するように構成され、さらに浅目のプリグ
ルーブを有してなる。 記録装置2は、記録すべき入力信号を再生装置3で再
生される再生専用光ディスクの規格フォーマットに合致
するマーク長記録方式のデータ信号として所定の転送速
度で出力し、かつ前記再生専用光ディスクの規格速度で
(CLVディスクの場合は規格線速度とデータ信号の転送
速度から決定される所定の回転数で、CAVディスクの場
合は規格回転数で)光ディスク1を駆動すると共に、前
記再生専用光ディスクの規格トラックピッチに合致する
ように予め光ディスク1上に形成してあるプリグルーブ
により該光ディスク1と半導体レーザとの位置を制御
し、前記データ信号に応じて前記半導体レーザの照射状
態を制御して光ディスク1の記録面を破ってピットを形
成し、光ディスク1への記録を行なう。 記録装置2で記録した光ディスク1はそれに適合した
CD,CD−ROM,CD−I,CDV,LV等の再生専用光ディスクの再
生装置を利用して再生される。 なお、いずれの再生専用光ディスクシステムを適用す
るかは、記録すべき入力データの種類に応じて定めるこ
とができる。例えばオーディオデータの場合はCDシステ
ムを利用することができる。この場合、光ディスク1と
してCDの規格寸法に合致したものを使用し、記録装置2
としてCDの規格フォーマットおよび規格線速度でデータ
を光ディスク1に記録するものを使用し、再生装置3と
してCDプレーヤあるいはCDプレーヤとLVプレーヤ等との
兼用機を使用することができる。 同様に、画像+オーディオデータの場合はLVシステム
やCDVシステム、コンピュータデータの場合はCD−ROMシ
ステム、コンピュータデータ、オーディオデータ、静止
画データ等の各種ディジタルデータの場合はCD−Iシス
テム等記録すべき入力データの種類に応じて使用する再
生専用光ディスクシステムの種類を定めることができ
る。 次に第1図のシステムの具体例について説明する。こ
こでは、再生専用光ディスクシステムとしてCDシステム
を利用して、既存のCDプレーヤで再生できるように記録
担体手段に記録する場合について説明する。 ここでは記録担体手段の条件を第1表のように定め
る。 第2図に記録担体手段の一実施例を示す。 ディスク1は、ポリカーボネイトやアクリル(PMMA)
等の透明のディスク基板10の表面にIn,Bi,Sn等の合金
(例えばIn−An−Ges合金)やTeC系合金等からなる厚さ
数10nmの薄膜12を形成し、これを、単板形式で用いたも
のである。 基板10、薄膜12には、プリグルーブ(案内溝)16′が
形成され、このプリグルーブ16′上の薄膜12部分がレー
ザ光で焼き切られて孔が明き、この孔が情報を記録する
ピット18となっている。プリグルーブ16′の深さは20〜
50nmに設定されている。また、プリグルーブ幅は、0.3
μm〜1.3μmに設定されている。 第2図のようにプリグルーブ16′にピット18を記録す
る場合はトラッキングエラー検出方法として3ビーム
法、プッシュプル法のいずれも使用できる。なお、第3
図のようにランド17にピット18を記録する場合は、プッ
シュプル法は使用できず、3ビーム法が使用される。 前述のようにディスク基板10の表面薄膜12をIn,Bi,Sn
等の合金(例えばIn−An−Ges合金)やTeC系合金等で構
成すると、ミラー(プレーン)部反射率を59〜75%に高
めることができ、既存のCD等の再生装置で再生可能とな
る。 また、第4図はミラー部反射率と既存CDプレーヤとの
コンパチビリティ(100%を全てのCDプレーヤで再生可
能とした場合)および記録パワーとの関係を示したもの
である。プリグルーブ16′の深さをこの実施例のように
20〜50nmとすると、ミラー部反射率が59%以上でコンパ
チビリティが約100%となる。これに対し、従来のよう
にプリグルーブ16′の深さを深く(例えば75nm)する
と、ミラー部反射率を75%以上としないとコンパビリテ
ィは100%にならない。この理由を簡単に説明する。こ
こで言うミラー部反射率とは、プリグルーブの無い部分
の反射率であり、本来、プリグルーブを設けると、それ
だけで反射率がある程度下がる。プリグルーブが浅けれ
ば浅いほど反射率の下がる割合が少なく、結局コンパチ
ビリティが上がるわけである。また、ミラー部反射率を
高めるようにAl等の金属膜を形成すると、レーザ光照射
で金属膜12を破って記録するのに高いレーザ光パワーが
必要となり、従来のようにミラー部反射率を75%以上に
するには強力なガスレーザ等が必要となる。これに対
し、この実施例のように材料の選定とプリグルーブ16′
を25〜35nmと浅目にすることにより、ミラー部反射率を
59〜75%にすると、比較的低いレーザ光パワーで記録が
可能となり、かつ約100%のコンパチビリティが得ら
れ、半導体レーザによる記録が可能となり、小型かつ安
価に記録装置を構成することができる。 第1図の記録装置2の具体例を第5図に示す。 光ディスク1はCDに適合した機械的寸法に構成されて
いる。 ディスクサーボ回路26は、システムコントローラ29か
らの指令により、ディスクモータ22を線速度一定で制御
する。この線速度一定制御は、光ヘッド23の位置に基づ
く演算制御で行なわれる。 フォーカスサーボおよびトラッキングサーボ回路28
は、システムコントローラ29からの指令により、光ヘッ
ド23内の半導体レーザから照射されるレーザ光のフォー
カスおよびトラッキングを制御する。トラッキング制御
はディスク1に形成されたプリグルーブを検出すること
により行なわれる。フィードサーボ回路27はシステムコ
ントローラ29からの指令により、フィードモータ30を駆
動して光ヘッド23をディスク1の径方向に移動させる。 光ディスク1に記録すべき入力信号はディジタル信号
の場合は直接データ信号形成回路32に入力され、アナロ
グ信号の場合はA/D変換器34を経てデータ信号形成回路3
2に入力される。この入力データのサンプリング周波数
およびデータビット数はCDデータに適合したものとされ
ている。データ信号形成回路32は、入力データにインタ
リーブをかけて、エラーチェックコードを付与し、サブ
コードを形成し、EFM変調してCDに適合したフォーマッ
トおよび転送レートで一連のシリアルデータを形成し、
出力する。 このデータは、ドライブインターフェイス25を介して
データ信号補正回路36で所定の補正をされてレーザ発生
回路35に入力される。レーザ発生回路35はデータ信号に
応じて光ヘッド23内の半導体レーザを駆動してレーザ光
を光ディスク1の記録面に照射し、記録を行なう。これ
により、光ディスク1にはCDに適合したフォーマット、
転送速度および線速度(1.2〜1.4m/s)でデータが記録
される。 次に、データ信号補正回路36によるデータ信号補正に
ついて説明する。 データ信号補正回路36は、データ信号をそのピット相
当長および直前ブランク相当長に応じて波形補正するも
のである。すなわち、光ディスク1の記録面へのレーザ
光熱的蓄積効果によるデータ信号タイミングと記録ピッ
トおよびブランクとの位置ずれをデータ信号タイミング
を増減させることにより減少させると共に、記録された
ピット幅の増大をデータ信号タイミングを分割すること
により防止している。具体的には、データ信号タイミン
グの増減について、直前のブランク長が短いピットを形
成する場合に前記レーザ光の照射時間を短目にし、かつ
直前のブランク長が長いピットを形成する場合に前記レ
ーザ光の照射開始を早め、かつ長いピットを形成する場
合に前記レーザ光の照射時間を短目にしている。また、
データ信号タイミングの分割について、ピット幅が0.3
〜0.9μmの間に形成されるように分割数、各分割レー
ザ光パルスのパルス幅やパルス強度が定められている。 以下、これらの補正制御について詳しく説明する。 <データ信号タイミングの増減制御について> 従来の記録方法は、第6図(a)に示すように形成す
べきピット長に応じた時間分(例えばCDでは1Tあたり23
1ns)レーザ光を照射するか、あるいは同図(b)に示
すように形成すべきピット長に応じた時間からある一定
時間t0を引いた時間分レーザ光を照射するようにしてい
た。 ピット長あるいはブランク長は記録データの“1"また
は“0"が連続する回数によって様々な長さを取り得るが
(CDフォーマットの場合3〜11T)、形成されるピット
長はその直前のブランク長(以下「直前ブランク長」と
いう。)によって変化する。すなわち、直前ブランク長
が短いほどその前のピットを形成した際の熱が次のピッ
トを形成する際に影響して溶融しやすくするので、レー
ザ光の照射時間が同じでも直前ブランク長が短いほどピ
ットが長く形成されてしまう。 第7図は形成されるピット長が直前ブランク長によっ
て変化する様子を3T,7T,11Tの各ピットについて示した
ものであるが(ピット長と同じ長さの直前ブランク長の
組合せを基準として、その基準Refからのずれでそれぞ
れ表わしている。)、この図からわかるように、直前の
ブランク長が短いほどその前のピットを形成したときの
熱の影響で溶融されやすくなっているので、照射時間が
同じでもピット長が長く形成されている。このため、再
生信号にジッタを多く含み、エラーが多くあるいはS/N
の悪い再生信号となっていた。 また、直前ブランク長が変化すると、ピット長のみな
らず照射開始位置とこの照射により形成されるピット始
端位置との関係にも変化が生じる。すなわち、直前ブラ
ンク長が長くなるほど照射開始位置からピット始端まで
の距離が長くなる。これは、直前ブランク長が長くなる
ほどその直前のピットからの熱の影響が少なくなって記
録膜が溶融しにくくなるためである。 このため、直前ブランク長にかかわらず照射開始位置
を一定にすると、直前ブランク長が長いほどピット始端
位置が後方にずれてしまい、ブランク長が正しく得られ
なくなる。記録データとしてはピット長もブランク長も
全く同等のデータ重みを持っているので、これではやは
り再生信号にジッタを含むことになってしまう。 また、ディスクにピットを形成する場合、ピット長を
長く形成する場合ほどレーザ光の照射時間が長くなるた
め、記録膜の加熱の度合が著しくなり、溶融しやすくな
る。 このため、前記第6図(a)あるいは(b)のように
ピット長の長短にかかわらず常にピット長に応じた時間
分レーザ光を照射するものでは、直前ブランク長が同じ
場合に例えば3Tのピットで規定のピット長になるように
レーザパワーを調整しても、第8図に示すように記録し
ようとするピット長が長くなるほど実際に形成されるピ
ットは規定値より長くなってしまう。これを再生波形の
アイパターンで見ると、例えば3〜11Tの各ピットの直
後にそれぞれ3Tのブランクを形成した再生波形のアイパ
ターンは第9図を示すようになり、ピット長が長くなる
ほど3Tのブランクの振幅が小さくなる。つまり、ピット
長が長くなるほど規定のピット長よりも長くなる。この
ため、レーザ光の照射時間自体もジッタを生じる原因と
なっていた。 そこで、データ信号補正回路36では、直前ブランク長
が短いピットを形成する場合にレーザ光の照射時間を短
目にするようにしている。 すなわち、前述したように直前ブランク長が短いピッ
トの場合照射時間に対してピット長が長目に形成される
傾向があるので、直前ブランク長が短いピットを形成す
る場合にレーザ光の照射時間を短目にすることにより、
長目に形成される傾向が打ち消されて規定値に近いピッ
ト長を形成することができる。これにより、ジッタの少
ない再生信号を得ることができ、エラーが少なくあるい
はS/Nのよい再生信号が得られる。 また、前述のように直前ブランク長が長いほど照射開
始位置に対してピット始端位置が後方にずれる傾向があ
るので、データ信号補正回路36では直前ブランク長が長
いピットを形成する場合にレーザ光の照射開始を早める
ようにして、ピット始端位置を正規の位置に規定して、
規定値に近いブランク長が得られるようにしている。 さらに、前述のようにピットはピット長を長く形成す
る場合ほど照射時間に対して長目に形成される傾向があ
るので、長いピットを形成する場合に照射時間を短目に
して、長目に形成される傾向を打ち消して、より規定値
に近いピット長を形成することができるようにしてい
る。 データ信号補正回路36による照射時間および照射開始
タイミングの補正制御の具体例について説明する。 (1) 直前ブランク長による照射時間の補正 前述のように、直前ブランク長が短いほど照射時間に
対してピット長が長目に形成される傾向があるので、第
10図に示すように、直前ブランク長が短いほど照射時間
を短目にして、この傾向を打ち消す。 形成すべきピット長をNT一定(Nは3,4……11)とし
た場合の各直前ブランク長ごとの照射時間の一例を第2
表に示す。 第2表のtおよびβn,Nの最適値を実験で求めること
により、直前ブランク長の長短にかかわらず規定値に近
いピット長を形成することができる。その結果、再生信
号のジッタは減少し、エラーが少なくなりあるいはS/N
が良好となる。 (2) 直前ブランク長による照射開始タイミングの補
正 前述のように、直前ブランク長が長いほど照射開始位
置に対してピット始端位置が後方にずれる傾向がある。 このため、直前ブランク長にかかわらず照射開始位置
を一定にして、前記(1)の直前ブランク長による照射
時間の補正を第10図に(a)で示すように照射期間の後
側で行なう(すなわち、補正分を後側に付ける)ように
すると、ピット長は正しく得られるものの、ピット位置
がずれて(直前ブランク長が長くなるほど後方にずれ
る。そのずれ量は直前ブランク長にほぼ比例する。)、
ブランク長は正しく得られなくなる。記録データとして
はピット長もブランク長も全く同等のデータ重みを持っ
ているので、これではやはり再生信号にエラーを含むこ
とになってしまう。 そこで、ここでは直前ブランク長による照射時間の補
正を第10図に(b)で示すように照射期間の前側で行な
う(すなわち、補正分を前側に付ける)ようにする。こ
れにより、正規の位置にピットが形成されて、ブランク
長も正しく得られるようになる。 (3) 形成すべきピット長による照射時間の補正 前述のように長いピットほど照射時間に対してピット
長が長目に形成される傾向があるので、第11図に示すよ
うに、長いピットほど照射時間を短目にして、この傾向
を打ち消すようにする。 直前ブランク長を3T一定とした場合の各ピット長ごと
の照射時間の一例を第3表に示す。 第3表のtおよびαの最適値を実験で求めることに
より、ピット長の長短にかかわらず規定値に近いピット
長を形成することができる。そのとき第12図のアイパタ
ーンに示すように3〜11Tのピットのあとの3Tブランク
の振幅はほぼ一定となる。この結果記録パワーに対する
ジッタの相対比は第13図に示すようになり、従来の照射
方法に比べて減少する。また、これにより記録パワーに
対するエラー発生率の相対比も第14図に示すように、従
来の照射方法に比べて減少する。 (4) 形成すべきピット長と直前ブランク長の組合せ
による照射時間および照射開始タイミングの補正 以上のように、形成されるピット長はピット長と直前
ブランク長によって影響されるので、その組合せによっ
て補正値を定めれば、規定値により近いピット長を形成
することができる。ピット長と直前ブランク長の様々な
組合せによる照射時間の一例を第4表に示す。 3T−3T(直前ブランク長3T、ピット長3T)の照射時間
3・T0−(t+γ3,3)をT3、7T−7Tの照射時間7・T0
−(t+γ7,7)をT7、11T−11Tの照射時間11/T0−(t
+γ11,11)をT11とした場合に、直前ブランク長によっ
て照射時間を第5表のように補正したところ、ピット長
センタ位置のずれは第15図に示すようになった。これに
よれば、第7図に示した直前ブランク長によって照射時
間補正しない場合に比べてピット長のずれが小さくなっ
た。 なお、ここでも直前ブランク長による照射時間の補正
分を照射時間の前側で行なう(すなわち、補正分を前側
に付ける)ようにすれば、正規の位置にピットが形成さ
れて、ブランク長も正しく得られるようになる。 なお、上記の実施例では照射パワーを一定とした場合
について説明したが、形成すべきピット長および直前ブ
ランク長によって照射パワーを可変する制御(形成すべ
きピット長が長いものほど、また直前ブランク長が短い
ものほど照射パワーを下げる。)を併用することもでき
る。 <データ信号タイミングの分割制御について> 従来のようにピット長に応じた時間分レーザ光をディ
スクに連続的に照射して記録するものでは、第16図に示
すように、形成されるピット40は前縁部40aの溶融量が
少なく、後縁部40bに近づくほど溶融量は多くなって、
涙滴状になる。これは、レーザ光を連続的に照射するた
め、ディスク記録部分がしだいに加熱されて、後縁部40
bほど溶け易くなるためである。 このため、ピット後縁部40bが第16図中点線40b′で示
すように溶け過ぎて、ピット後縁部40b′の位置が不正
確になることがあった。また、これを防止するために、
レーザ光の強度を弱めると、今度は第17図に示すよう
に、ピット前縁部40aの溶融が不足して、ピット前縁部4
0aの位置が不正確になることがあった。 したがって、このように記録されたディスクまたはこ
のように記録された原盤から作られたディスクを再生す
ると、再生信号はジッタ(時間軸方向の誤差)を多く含
むようになり、S/N劣化等品位の低いものとなってい
た。 また、ピット長は記録データの“1"または“0"が連続
する回数によって様々な長さを取り得るが(CDフォーマ
ットの場合3T〜11T)、ピット長が長くなるにつれてレ
ーザ光によるディスク記録部分の加熱の度合が著しくな
り、第18図に示すようにピット幅が広くなる。このた
め、ピット長が長くなるほどジッタは更に悪化してい
た。また、ピット幅が広くなるため、ディスク反射率が
低下して再生時のトラッキング、フォーカスサーボ回路
の負担が大きくなる(ゲインを大きくする必要があ
る。)とともに、記録密度を高めることができなかっ
た。 そこで、データ信号補正回路36では、前記データ信号
タイミングの増減制御とともに、信号ピットの長さに応
じた時間内でレーザ光を複数パルスに分割して照射する
ようにデータ信号タイミングの分割制御を行なってい
る。 このように、レーザ光を分割して照射すると、ピット
長が長くても光ディスク1の加熱は間欠的に行なわれ、
蓄積されにくくなるので、連続照射の場合のようにディ
スク記録膜が高温になってピット後縁部が過剰に溶融さ
れることがなくなる。したがって、ピット後縁部の位置
が正確になる。また、ピット後縁部が過剰に溶融されな
くなるので、レーザ光のパワーを上げることができ、こ
れによりピット前縁部の位置が正確になる。したがっ
て、ピット前縁部、後縁部とも正確に位置を規定するこ
とができ、再生信号のジッタを減少させて、S/Nの向上
等により再生信号の品位を高めることができる。 また、レーザ光によるディスク記録膜の加熱が蓄積さ
れにくくなるので、ピット長にかかわらずピット幅をほ
ぼ一定に細く形成することができる。したがって、反射
率が増大し、再生時のトラッキングやフォーカスサーボ
回路の負担が少なくなる(ゲインを小さくすることがで
きる。)とともに記録密度を高めることができる。 なお、レーザ光の分割数をピット長に応じて定めるよ
うにすれば(ピット長が長いほど分割数を多くす
る。)、ピット長にかかわらず常に最適なピット形状を
得ることができる。 また、分割したレーザ光の先頭のパルス幅を後続のも
のよりも広くしたり、パワーを後続のものより高めたり
することにより、ピット前縁の溶融をより良好にするこ
とができ、これによりジッタをさらに減少させることが
できる。 データ信号補正回路36により形成される書込み用レー
ザ光の分割パルスの一例を第19図(b)に示す。第19図
(a)はこれに対応する従来の連続レーザ光である。第
19図(c)は分割レーザ光により形成されるピット50の
形状を示したものである。 分割レーザ光は、形成すべきピット長に応じた時間内
で、3分割されている、第19図(c)の点線51,52,53
は、各パルスP1〜P3を単独に照射した場合にそれぞれ形
成されるピットで、これらパルスP1〜P3を連続的に照射
することにより、各ピット51,52,53がつながって連続し
たピット50が形成される。 これによれば、レーザ光を分割して照射するので熱の
蓄積が少なく、従来の連続照射の場合に比べてピット50
の幅の後縁部50bでの広がりが少ない。したがって、ピ
ット50の幅を細い幅でほぼ一定にできるので、反射率が
高くなってサーボ回路の負担が少なくなるとともに、記
録密度を高めることができる。 また、後縁部50bが溶融し過ぎないので、後縁部50bの
位置が正確に規定される。また、後縁部50bが溶融し過
ぎないので、レーザ光のパワーを上げることができ、こ
れにより、ピット前縁部50aが溶融され易くなり、ピッ
ト前縁部50aの位置が正確に規定される。したがって、
ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号の品位を上げ
ることができる。 ところで、ピット50の形状は、分割レーザ光のパルス
幅T、デューティ比Ton/T、レーザ光パワー等に応じて
変化する。したがって、熱の蓄積によるピット幅の増大
が少なく、かつピット50の前縁部50aおよび後縁部50bの
位置が正確に規定され、かつピット50が途中で切れない
ようにこれらの値を調整する。パルス幅Tが長くなり過
ぎると、1つのパルスにより形成されるピット自体後縁
部で幅が広がり、分割パルスとした利点がなくなるの
で、形成すべきピット長に応じて分割数を変えてほぼ等
しいパルス幅となるようにするのが好ましい。また、デ
ューティ比Ton/Tは、大きく(パルス幅を広くする)し
過ぎると、熱の蓄積によりピット幅が広がり、小さく
(パルス幅を狭くする)し過ぎるとピット50が途中で切
れてしまうので、ピット幅があまり広がらず、かつ途中
で切れないような値に調整する。また、レーザ光パワー
によっても溶融状態が変化するので、レーザ光パワーも
同時に調整する。実験によると、従来の連続照射の場合
の1.5倍程度のレーザ光パワーにしたところ好ましい結
果が得られた。 以上のパルス分割を利用してCDフォーマットで光ディ
スク1にピットを形成した場合の実験例について説明す
る。 CDフォーマットのDRAWディスクでは3〜11T(1T=1/
4.3218MHz)の9種類の長さを有するピットの組合せで
データを記録する。各長さのピットを形成するための分
割レーザ光の設定例を第6表に示す。 なお、T1on,T2on,T3onはそれぞれパルスP1,P2,P3の立
上り時間幅、T1off,T2offはそれぞれパルスP1,P2,P3の
間の立下り時間幅である。 上記の設定例では、3〜5Tを1分割、6〜8Tを2分
割、9〜11Tを3分割としている。なお、ピット長5Tは
2パルスとして、T1on=300〜800ns、T1off=200〜600n
s、T2on=100〜400nsとしてもよい。この分割レーザ光
により形成されるピット形状を第20図(c)に示す。レ
ーザ光が分割して照射されるので、熱の蓄積が少なく、
ピット長が長くなってもピット幅は細く一定幅に規定さ
れる。また、ピット前縁部、後縁部の位置が正確に規定
される。 この分割レーザ光を用いてDRAWディスクに記録を行な
ったところ、その再生信号のジッタは第21図に示すよう
に、従来の連続レーザ光で記録を行なった場合に比べて
約6割も減少し、エラーが低減された。なお、第21図に
おいて、縦軸は記録信号に対する再生信号の時間軸変動
の標準偏差を示すものであり、横軸は再生信号のデュー
ティ、すなわち、同信号中にピット相当部がどの程度の
割合を占めているかを示すものである。また、記録後の
反射率は第22図に示すように、従来の連続レーザ光で記
録を行なった場合に比べて約1割増加し、サーボ回路の
負担が軽減された。なお、第22図の縦軸は、連続レーザ
光で記録を行ない、かつ再生デューティが50%となるも
のの反射率を1とする相対比を示している。 以上の例では、分割パルスを各先頭パルスと後続のパ
ルスとで特に区別しなかったが(第19図(b)参照)、
第23図に示すように先頭のパルスP1のパルス幅を広くし
たり(P2,P3の1.1倍〜2倍程度)、第24図に示すように
先頭のパルスP1のパワーを上げたりする(P2,P3の1.05
〜1.43倍程度)ことにより、ピット前縁部の溶融がより
確実に行なわれるようになり、ジッタがより改善され
る。また、これにより後続するパルスはパワーを下げる
ことができ、より細いピットを形成することができ、反
射率が増加してサーボ回路の負担がより軽減されるとと
もに、記録密度をより高めることができる。 先頭のパルス幅を広くした場合の設定例を第7表に示
す。 第7表の設定条件による場合の記録パワーに対するエ
ラー発生率の相対比を第25図に示す。これによれば、従
来の連続照射の場合に比べてエラーが少なくなり、記録
パワーマージンが上がることがわかる。 また、以上の例では、レーザ光を完全に分割(パルス
立下り部分でパワー0)した場合について説明したが、
第26図に示すように直流成分を含むように分割すること
もできる。 また、以上の例ではピット長が長くなるほど分割数を
増やしたが、信号ピットの長さに応じた時間内でレーザ
光をその照射すべき期間の終了直前で分割させた2パル
スとして付与するようにすることもできる。このように
すれば、レーザ光のパワーがその照射すべき期間の終了
直前において一旦下げられるようになる。したがって、
前方パルスによる熱の蓄積がその部分で遮断されて、ピ
ットの長短にかかわらず後方パルスによるピット後部の
形成に影響しにくくなり、ピット後縁の位置は後方パル
スによりほぼ正確に規定することができる。したがっ
て、ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号の品位を
上げることができる。しかも、ピット長にかかわらずレ
ーザ光を照射すべき期間の終了直前のみでレーザ光パワ
ーを一旦下げるだけでよいので、ピット長に応じた数に
分割する場合に比べて回路構成を簡略化することができ
る。 第27図は記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラー
信号振幅(3ビーム法)、反射率の関係を示したもので
あるが、記録ピットで幅を0.3〜0.9μmにすると、ジッ
タ小、トラッキングエラー振幅大(トラッキング制御の
ゲイン大)、反射率大となる。ピット幅0.9μm以上で
は、再生時に隣接トラックピットを読んでしまう可能性
が増し、ピット幅0.3μm以下では、実質的にピットが
良好に形成されない状態となり、いずれもジッタ等が劣
化する。前記データ信号補正回路36によれば、このよう
に記録ピット幅を0.3〜0.9μmで記録することは容易で
ある。 なお、以上の例では、レーザ光を完全に分割した場合
について説明したが、第28図に示すように直流成分を含
むように分割することもできる。また、第29図に示すよ
うに前方のパルスP1の立上り部分のパワーを上げること
により、ピット前縁部の溶融がより確実に行なわれるよ
うになり、ジッタをより改善することができる。 また、半導体レーザはオンしてからレーザ光が定常状
態に達するまで時間がかかり、直前ブランク長が長い場
合ほど半導体レーザをオンした位置からピット前縁が形
成される位置までの長さが長くなる傾向にある。そこ
で、ブランク部分でも半導体レーザに弱い電流を流して
おけば、オンしたときのレーザ光の立ち上がりが早くな
り、ピット前縁が正確に規定されて、ジッタをより減少
させることができる。 なお、データ信号タイミングの増減制御とデータ信号
タイミング分割制御を併用する場合は、データ信号タイ
ミング分割制御によりピット長や直前ブランク長の影響
は少なくなるので、データ信号タイミングの増減制御は
前述の例よりも程度を少な目にすることができる。 〔変更例〕 前記実施例ではこの発明をCDシステムに適用した場合
について示したが、CD−ROM,CD−I,CD−V,LV等の再生専
用ディスクシステムにも適用できる。 また、記録装置は再生兼用形として構成することもで
きる。 また、線速度一定形ディスクシステムだけでなく回転
速度一定形ディスクシステムにも適用できる。 また、前記実施例ではこの発明をDRAWディスクに適用
した場合について示したが、E−DRAWディスクにも適用
することができる。 〔発明の効果〕 以上説明したように、この発明の光ディスク記録装置
によれば、半導体レーザで記録可能な素材でかつ光反射
率が59〜75%の素材材料で記録面が形成され、この記録
面上に深さが20〜50nmのプリグルーブを形成し、機械的
寸法を再生専用光ディスクの規格寸法に合致させた光デ
ィスクからなる記録担体手段を用い、この記録担体の前
記記録面上に、半導体レーザで記録する際、記録すべき
入力信号を再生専用光ディスクの規格フォーマットに合
致するマーク長記録方式のデータ信号に変換しこのデー
タ信号に基づき前記半導体レーザーの照射時間を制御す
ると共に記録線速度が再生専用光ディスクの規格線速度
に合致するように記録担体の回転数を制御し、記録トラ
ックピッチが再生専用光ディスクの規格トラックピッチ
に合致するようにプリグルーブにより記録担体と半導体
レーザとの位置関係を制御して記録するようにしたの
で、このようにして記録された記録担体手段を再生専用
光ディスクの再生装置を兼用して再生することができ
る。
【図面の簡単な説明】 第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図であ
る。 第2図は、第1図の光ディスク1の一実施例を示す図で
ある。 第3図は、ランド記録の場合のディスク記録面の拡大図
である。 第4図は、ミラー反射率と既存CDプレーヤとのコンパチ
ビリティおよび記録に必要なレーザ光パワーとの特性図
である。 第5図は、第1図の記録装置の一実施例を示すブロック
図である。 第6図は、従来における記録用レーザ光の一例を示す図
である。 第7図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正しな
い場合のピット長のずれを示す線図である。 第8図は、第6図のレーザ光により形成されるピット長
を示す線図である。 第9図は、第6図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号のアイパターンを示す図である。 第10図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正した
この発明による記録用レーザ光の一例を示す図である。 第11図は、形成すべきピット長に応じて照射時間を補正
した記録用レーザ光の一実施例を示す図である。 第12図は、第11図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号のアイパターンを示す図である。 第13図は、第11図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号の記録パワーに対するジッタの相対比を示す線
図である。 第14図は、第11図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号の記録パワーに対するエラー発生率の相対比を
示す線図である。 第15図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正した
場合のピット長のずれを示す線図である。 第16図は、従来の連続レーザ光を用いて形成したピット
形状の一例を示す図である。 第17図は、従来の連続レーザ光を用いて前縁部が溶融不
足となった状態を示す図である。 第18図は、従来の連続レーザ光で形成される各長さのピ
ット形状を示す図である。 第19図は、分割レーザ光の一例およびこの分割レーザ光
により形成されるピット形状の一例を示す図である。 第20図は、分割レーザ光で形成される各長さのピット形
状の一例を示す図である。 第21図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、分
割レーザ光でピットを形成した場合のジッタ特性を示す
図である。 第22図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、分
割レーザ光でピットを形成した場合の再生時のデイスク
反射率特性を示す図である。 第23図,第24図,第26図は、それぞれ分割レーザ光の他
の例を示す図である。 第25図は、第7表の設定条件による場合の記録パワー対
エラー派生率を相対比表示した線図である。 第27図は、記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラー
信号振幅、反射率の関係を示す特性図である。 第28図,第29図は、それぞれ分割レーザ光の他の実施例
を示す図である。 1……光ディスク、2……記録装置、3……再生装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−98333(JP,A) 特開 昭59−60742(JP,A) 特開 昭62−25508(JP,A) 特開 昭60−27969(JP,A) 特開 昭62−47841(JP,A) 特開 昭62−110637(JP,A)

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.半導体レーザで記録可能な素材でかつ光反射率が59
    〜75%の素材材料で記録面が形成され、この記録面上に
    深さが20〜50nmのプリグルーブを形成し、機械的寸法を
    再生専用光ディスクの規格寸法に合致させた光ディスク
    からなる記録担体手段を用い、 この記録担体の前記記録面上に、半導体レーザで記録す
    る際、記録すべき入力信号を前記再生専用光ディスクの
    規格フォーマットに合致するマーク長記録方式のデータ
    信号に変換しこのデータ信号に基づき前記半導体レーザ
    の照射時間を制御すると共に記録線速度が前記再生専用
    光ディスクの規格線速度に合致するように前記記録担体
    の回転数を制御し、記録トラックピッチが前記再生専用
    光ディスクの規格トラックピッチに合致するように前記
    プリグルーブにより前記記録担体と前記半導体レーザと
    の位置関係を制御し、 前記記録担体手段を再生専用光ディスクの再生装置を兼
    用して再生できるように記録することを特徴とする光デ
    ィスク記録方法。 2.前記データ信号がそのピット相当長もしくは直前ブ
    ランク相当長またはピット相当長および直前ブランク相
    当長に応じて波形補正された信号であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項に記載の光ディスク記録方法。 3.前記波形補正の内容が、前記記録担体手段の記録面
    へのレーザ光熱的蓄積効果によるデータ信号タイミング
    と記録ピットおよびブランクとの位置ずれをデータ信号
    タイミングを増減することにより減少させると共に、記
    録されたピット幅の増大をデータ信号タイミングを分割
    することにより防止するものであることを特徴とする特
    許請求の範囲第2項に記載の光ディスク記録方法。 4.前記データ信号タイミングの増減の内容が、直前の
    ブランク長が短いピットを形成する場合に前記レーザ光
    の照射時間を短目にし、かつ直前のブランク長が長いピ
    ットを形成する場合に前記レーザ光の照射開始を早め、
    かつ長いピットを形成する場合に前記レーザ光の照射時
    間を短目にするものであり、 前記データ信号タイミングの分割の内容が、ピット幅が
    0.3〜0.9μmの間に形成されるように分割数、各分割レ
    ーザパルスのパルス幅やパルス強度を定めたものである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載の光ディ
    スク記録方法。
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