JP2001283467A - 光ディスク記録担体 - Google Patents

光ディスク記録担体

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JP2001283467A
JP2001283467A JP2001067324A JP2001067324A JP2001283467A JP 2001283467 A JP2001283467 A JP 2001283467A JP 2001067324 A JP2001067324 A JP 2001067324A JP 2001067324 A JP2001067324 A JP 2001067324A JP 2001283467 A JP2001283467 A JP 2001283467A
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pit
length
recording
optical disk
laser beam
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JP2001067324A
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English (en)
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Seiji Matsumoto
誠二 松本
Katsuichi Osakabe
勝一 刑部
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Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 再生専用光ディスクの再生装置で再生できる
光ディスク記録担体を提供する。 【解決手段】 光ディスク1は、半導体レーザで記録可
能な素材でかつ光反射率が59〜75%の素材材料で記
録面が形成され、この記録面上に深さが20nm〜50
nmのプリグルーブを形成し、機械的寸法を再生専用光
ディスクの規格寸法に合致して構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、書込可能形の光
ディスク記録媒体に関し、記録後のディスクをCD(コ
ンパクト・ディスク)、CD−ROM、CD−I(対話
形CD)、CDV(ビデオ付CD)、LV(レーザディ
スク・ビジョン)等の再生専用として規格化された光デ
ィスク(本願ではこれを「再生専用光ディスク」とい
う。)の再生装置を兼用して再生できるようにして、専
用の再生装置を不要としたものである。
【0002】
【従来の技術】従来、書込可能形光ディスクとして、D
RAW(追記形)、E−DRAW(消去可能形)ディス
クがあった。DRAWディスクは1度だけ書込が可能な
もので、例えばレーザ光照射で発生した熱によって金属
記録膜を焼き切って情報ピットを形成するものがある。
【0003】E−DRAWディスクは記録の書換が可能
なもので、光磁気記録を利用したものや、結晶状態とア
モルファス状態との間の相変化を利用したもの等があ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のDRAWデ
ィスク、E−DRAWディスクでは、再生専用光ディス
ク(CD,CD−ROM,CD−I,CDV,LV等)
と記録フォーマットやディスク形状(外径等)、回転速
度等が異なるため、これら再生専用光ディスクの再生装
置では再生することができなかった。
【0005】また、記録フォーマットやディスク形状を
再生専用光ディスクと同じにしたとしても、光磁気や光
相変化を利用したものでは光反射率が低く(ミラー部反
射率が例えば50%以下)、再生専用光ディスクでは再
生することができなかった。
【0006】また、従来のレーザ光照射で金属膜を焼き
切って情報ピットを形成するものでは、反射率は充分と
し得るが、記録に強力なガスレーザ等が必要であり、記
録装置が大型かつ高価になり、民生機器として利用する
ことはできなかった。
【0007】この発明は、前記従来の技術における問題
点を解決して再生に再生専用ディスクの再生装置を兼用
することができ、かつ記録装置を小形かつ安価に構成す
ることができる光ディスク記録媒体を提供しようとする
ものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、レーザで記
録可能な素材でかつ光反射率が59〜75%の素材材料
で記録面が形成され、この記録面上にレーザ光が入射さ
れる側の面での深さが20nm〜50nmのプリグルー
ブを形成し、機械的寸法を再生専用光ディスクの規格寸
法に合致させ、トラックピッチを再生専用光ディスクの
規格トラックピッチに合致させたことを特徴とするもの
である。
【0009】また、この発明は、レーザで記録可能な素
材でかつ光反射率が59〜75%の素材材料で記録面が
形成され、この記録面上にレーザ光が入射される側の面
での深さが20nm〜50nmのプリグルーブを形成
し、機械的寸法を再生専用光ディスクの規格寸法に合致
させ、記録フォーマットを再生専用光ディスクの記録フ
ォーマットに合致させたことを特徴とするものである。
【0010】この発明の光ディスク記録担体によれば、
再生専用光ディスクの再生装置を兼用して再生すること
ができる。
【0011】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を以下説明
する。図1はこの発明の光ディスク記録担体を用いて記
録から再生を行なうシステム全体の概要を示したもので
ある。
【0012】光ディスク1(光ディスク記録担体)は、
半導体レーザで記録可能でかつ光反射率の比較的高い材
料で記録面が構成されると共に、機械的寸法が再生装置
3で再生される再生専用光ディスク(CD,CD−RO
M,CD−I,CDV,LV等)の規格寸法に合致する
ように構成され、さらに浅目のプリグルーブを有してな
る。
【0013】記録装置2は、記録すべき入力信号を再生
装置3で再生される再生専用光ディスクの規格フォーマ
ットに合致するマーク長記録方式のデータ信号として所
定の転送速度で出力し、かつ前記再生専用光ディスクの
規格速度で(CLVディスクの場合は規格線速度とデー
タ信号の転送速度から決定される所定の回転数で、CA
Vディスクの場合は規格回転数で)光ディスク1を駆動
すると共に、前記再生専用光ディスクの規格トラックピ
ッチに合致するように予め光ディスク1上に形成してあ
るプリグルーブにより該光ディスク1と半導体レーザと
の位置を制御し、前記データ信号に応じて前記半導体レ
ーザの照射状態を制御して光ディスク1の記録面を破っ
てピットを形成し、光ディスク1への記録を行なう。
【0014】記録装置2で記録した光ディスク1はそれ
に適合したCD,CD−ROM,CD−I,CDV,L
V等の再生専用光ディスクの再生装置を利用して再生さ
れる。
【0015】なお、いずれの再生専用光ディスクシステ
ムを適用するかは、記録すべき入力データの種類に応じ
て定めることができる。例えばオーディオデータの場合
はCDシステムを利用することができる。この場合、光
ディスク1としてCDの規格寸法に合致したものを使用
し、記録装置2としてCDの規格フォーマットおよび規
格線速度でデータを光ディスク1に記録するものを使用
し、再生装置3としてCDプレーヤあるいはCDプレー
ヤとLVプレーヤ等との兼用機を使用することができ
る。
【0016】同様に、画像+オーディオデータの場合は
LVシステムやCDVシステム、コンピュータデータの
場合はCD−ROMシステム、コンピュータデータ、オ
ーディオデータ、静止画データ等の各種ディジタルデー
タの場合はCD−Iシステム等記録すべき入力データの
種類に応じて使用する再生専用光ディスクシステムの種
類を定めることができる。
【0017】次に図1のシステムの具体例について説明
する。ここでは、再生専用光ディスクシステムとしてC
Dシステムを利用して、既存のCDプレーヤで再生でき
るようにこの発明の光ディスク記録担体に記録する場合
について説明する。ここでは記録担体手段の条件を表1
のように定める。
【0018】
【表1】 図2に光ディスク記録担体の一実施例を示す。光ディス
ク1は、ポリカーボネイトやアクリル(PMMA)等の透明
のディスク基板10の表面にIn,Bi,Sn等の合金
(例えばIn−An−Ges合金)やTeC系合金等か
らなる厚さ数10nmの薄膜12を形成し、これを、単板
形式で用いたものである。
【0019】基板10、薄膜12には、プリグルーブ
(案内溝)16′が形成され、このプリグルーブ16′
上の薄膜12部分がレーザ光で焼き切られて孔が明き、
この孔が情報を記録するピット18となっている。レー
ザ光が入射される側の面でのプリグルーブ16′の深さ
は20〜50nmに設定されている。また、プリグルーブ
幅は、0.3μm〜1.3μmに設定されている。
【0020】図2のようにプリグルーブ16′にピット
18を記録する場合はトラッキングエラー検出方法とし
て3ビーム法、プッシュプル法のいずれも使用できる。
なお、図3のようにランド17にピット18を記録する
場合は、プッシュプル法は使用できず、3ビーム法が使
用される。
【0021】前述のようにディスク基板10の表面薄膜
12をIn,Bi,Sn等の合金(例えばIn−An−
Ges合金)やTeC系合金等で構成すると、ミラー
(プレーン)部反射率を59〜75%に高めることがで
き、既存のCD等の再生装置で再生可能となる。
【0022】また、図4はミラー部反射率と既存CDプ
レーヤとのコンパチビリティ(100%を全てのCDプ
レーヤで再生可能とした場合)および記録パワーとの関
係を示したものである。プリグルーブ16′の深さをこ
の実施の形態のように20〜50nmとすると、ミラー部
反射率が59%以上でコンパチビリティが約100%と
なる。これに対し、従来のようにプリグルーブ16′の
深さを深く(例えば75nm)すると、ミラー部反射率を
75%以上としないとコンパビリティは100%になら
ない。
【0023】この理由を簡単に説明する。ここで言うミ
ラー部反射率とは、プリグルーブの無い部分の反射率で
あり、本来、プリグルーブを設けると、それだけで反射
率がある程度下がる。プリグルーブが浅ければ浅いほど
反射率の下がる割合が少なく、結局コンパチビリティが
上がるわけである。また、ミラー部反射率を高めるよう
にAl等の金属膜を形成すると、レーザ光照射で金属膜
12を破って記録するのに高いレーザ光パワーが必要と
なり、従来のようにミラー部反射率を75%以上にする
には強力なガスレーザ等が必要となる。これに対し、こ
の実施例の形態ように材料の選定とプリグルーブ16′
を25〜35nmと浅目にすることにより、ミラー部反射
率を59〜75%にすると、比較的低いレーザ光パワー
で記録が可能となり、かつ約100%のコンパチビリテ
ィが得られ、半導体レーザによる記録が可能となり、小
型かつ安価に記録装置を構成することができる。
【0024】図1の記録装置2の具体例を図5に示す。
光ディスク1はCDに適合した機械的寸法に構成されて
いる。ディスクサーボ回路26は、システムコントロー
ラ29からの指令により、ディスクモータ22を線速度
一定で制御する。この線速度一定制御は、光ヘッド23
の位置に基づく演算制御で行なわれる。
【0025】フォーカスサーボおよびトラッキングサー
ボ回路28は、システムコントローラ29からの指令に
より、光ヘッド23内の半導体レーザから照射されるレ
ーザ光のフォーカスおよびトラッキングを制御する。ト
ラッキング制御は光ディスク1に形成されたプリグルー
ブを検出することにより行なわれる。フィードサーボ回
路27はシステムコントローラ29からの指令により、
フィードモータ30を駆動して光ヘッド23をディスク
1の径方向に移動させる。
【0026】光ディスク1に記録すべき入力信号はディ
ジタル信号の場合は直接データ信号形成回路32に入力
され、アナログ信号の場合はA/D変換器34を経てデ
ータ信号形成回路32に入力される。この入力データの
サンプリング周波数およびデータビット数はCDデータ
に適合したものとされている。データ信号形成回路32
は、入力データにインタリーブをかけて、エラーチェッ
クコードを付与し、サブコードを形成し、EFM変調し
てCDに適合したフォーマットおよび転送レートで一連
のシリアルデータを形成し、出力する。
【0027】このデータは、ドライブインターフェイス
25を介してデータ信号補正回路36で所定の補正をさ
れてレーザ発生回路35に入力される。レーザ発生回路
35はデータ信号に応じて光ヘッド23内の半導体レー
ザを駆動してレーザ光を光ディスク1の記録面に照射
し、記録を行なう。これにより、光ディスク1にはCD
に適合したフォーマット、転送速度および線速度(1.
2〜1.4m/s)でデータが記録される。
【0028】次に、データ信号補正回路36によるデー
タ信号補正について説明する。データ信号補正回路36
は、データ信号をそのピット相当長および直前ブランク
相当長に応じて波形補正するものである。すなわち、光
ディスク1の記録面へのレーザ光熱的蓄積効果によるデ
ータ信号タイミングと記録ピットおよびブランクとの位
置ずれをデータ信号タイミングを増減させることにより
減少させると共に、記録されたピット幅の増大をデータ
信号タイミングを分割することにより防止している。具
体的には、データ信号タイミングの増減について、直前
のブランク長が短いピットを形成する場合に前記レーザ
光の照射時間を短目にし、かつ直前のブランク長が長い
ピットを形成する場合に前記レーザ光の照射開始を早
め、かつ長いピットを形成する場合に前記レーザ光の照
射時間を短目にしている。また、データ信号タイミング
の分割について、ピット幅が0.3〜0.9μmの間に
形成されるように分割数、各分割レーザ光パルスのパル
ス幅やパルス強度が定められている。
【0029】以下、これらの補正制御について詳しく説
明する。 <データ信号タイミングの増減制御について>従来の記
録方法は、図6(a)に示すように形成すべきピット長
に応じた時間分(例えばCDでは1Tあたり231n
s)レーザ光を照射するか、あるいは同図(b)に示す
ように形成すべきピット長に応じた時間からある一定時
間t0 を引いた時間分レーザ光を照射するようにしてい
た。
【0030】ピット長あるいはブランク長は記録データ
の“1”または“0”が連続する回数によって様々な長
さを取り得るが(CDフォーマットの場合3〜11
T)、形成されるピット長はその直前のブランク長(以
下「直前ブランク長」という。)によって変化する。す
なわち、直前ブランク長が短いほどその前のピットを形
成した際の熱が次のピットを形成する際に影響して溶融
しやすくするので、レーザ光の照射時間が同じでも直前
ブランク長が短いほどピットが長く形成されてしまう。
【0031】図7は形成されるピット長が直前ブランク
長によって変化する様子を3T,7T,11Tの各ピッ
トについて示したものであるが(ピット長と同じ長さの
直前ブランク長の組合せを基準として、その基準Ref
からのずれでそれぞれ表わしている。)、この図からわ
かるように、直前のブランク長が短いほどその前のピッ
トを形成したときの熱の影響で溶融されやすくなってい
るので、照射時間が同じでもピット長が長く形成されて
いる。このため、再生信号にジッタを多く含み、エラー
が多くあるいはS/Nの悪い再生信号となっていた。
【0032】また、直前ブランク長が変化すると、ピッ
ト長のみならず照射開始位置とこの照射により形成され
るピット始端位置との関係にも変化が生じる。すなわ
ち、直前ブランク長が長くなるほど照射開始位置からピ
ット始端までの距離が長くなる。これは、直前ブランク
長が長くなるほどその直前のピットからの熱の影響が少
なくなって記録膜が溶融しにくくなるためである。
【0033】このため、直前ブランク長にかかわらず照
射開始位置を一定にすると、直前ブランク長が長いほど
ピット始端位置が後方にずれてしまい、ブランク長が正
しく得られなくなる。記録データとしてはピット長もブ
ランク長も全く同等のデータ重みを持っているので、こ
れではやはり再生信号にジッタを含むことになってしま
う。
【0034】また、ディスクにピットを形成する場合、
ピット長を長く形成する場合ほどレーザ光の照射時間が
長くなるため、記録膜の加熱の度合が著しくなり、溶融
しやすくなる。
【0035】このため、前記図6(a)あるいは(b)
のようにピット長の長短にかかわらず常にピット長に応
じた時間分レーザ光を照射するものでは、直前ブランク
長が同じ場合に例えば3Tのピットで規定のピット長に
なるようにレーザパワーを調整しても、図8に示すよう
に記録しようとするピット長が長くなるほど実際に形成
されるピットは規定値より長くなってしまう。これを再
生波形のアイパターンで見ると、例えば3〜11Tの各
ピットの直後にそれぞれ3Tのブランクを形成した再生
波形のアイパターンは図9に示すようになり、ピット長
が長くなるほど3Tのブランクの振幅が小さくなる。つ
まり、ピット長が長くなるほど規定のピット長よりも長
くなる。このため、レーザ光の照射時間自体もジッタを
生じる原因となっていた。
【0036】そこで、データ信号補正回路36では、直
前ブランク長が短いピットを形成する場合にレーザ光の
照射時間を短目にするようにしている。すなわち、前述
したように直前ブランク長が短いピットの場合照射時間
に対してピット長が長目に形成される傾向があるので、
直前ブランク長が短いピットを形成する場合にレーザ光
の照射時間を短目にすることにより、長目に形成される
傾向が打ち消されて規定値に近いピット長を形成するこ
とができる。これにより、ジッタの少ない再生信号を得
ることができ、エラーが少なくあるいはS/Nのよい再
生信号が得られる。
【0037】また、前述のように直前ブランク長が長い
ほど照射開始位置に対してピット始端位置が後方にずれ
る傾向があるので、データ信号補正回路36では直前ブ
ランク長が長いピットを形成する場合にレーザ光の照射
開始を早めるようにして、ピット始端位置を正規の位置
に規定して、規定値に近いブランク長が得られるように
している。
【0038】さらに、前述のようにピットはピット長を
長く形成する場合ほど照射時間に対して長目に形成され
る傾向があるので、長いピットを形成する場合に照射時
間を短目にして、長目に形成される傾向を打ち消して、
より規定値に近いピット長を形成することができるよう
にしている。
【0039】データ信号補正回路36による照射時間お
よび照射開始タイミングの補正制御の具体例について説
明する。 (1) 直前ブランク長による照射時間の補正 前述のように、直前ブランク長が短いほど照射時間に対
してピット長が長目に形成される傾向があるので、図1
0に示すように、直前ブランク長が短いほど照射時間を
短目にして、この傾向を打ち消す。形成すべきピット長
をNT一定(Nは3,4……11)とした場合の各直前
ブランク長ごとの照射時間の一例を表2に示す。
【0040】
【表2】 ただし、T0 =1/4.3218 MHz t=0〜500ns β3,N >β4,N >β5,N >…>β11,N 表2のtおよびβn,N の最適値を実験で求めることによ
り、直前ブランク長の長短にかかわらず規定値に近いピ
ット長を形成することができる。その結果、再生信号の
ジッタは減少し、エラーが少なくなりあるいはS/Nが
良好となる。
【0041】(2) 直前ブランク長による照射開始タイ
ミングの補正 前述のように、直前ブランク長が長いほど照射開始位置
に対してピット始端位置が後方にずれる傾向がある。こ
のため、直前ブランク長にかかわらず照射開始位置を一
定にして、前記(1)の直前ブランク長による照射時間の
補正を図10に(a)で示すように照射期間の後側で行
なう(すなわち、補正分を後側に付ける)ようにする
と、ピット長は正しく得られるものの、ピット位置がず
れて(直前ブランク長が長くなるほど後方にずれる。そ
のずれ量は直前ブランク長にほぼ比例する。)、ブラン
ク長は正しく得られなくなる。記録データとしてはピッ
ト長もブランク長も全く同等のデータ重みを持っている
ので、これではやはり再生信号にエラーを含むことにな
ってしまう。
【0042】そこで、ここでは直前ブランク長による照
射時間の補正を図10に(b)で示すように照射期間の
前側で行なう(すなわち、補正分を前側に付ける)よう
にする。これにより、正規の位置にピットが形成され
て、ブランク長も正しく得られるようになる。
【0043】(3) 形成すべきピット長による照射時間
の補正 前述のように長いピットほど照射時間に対してピット長
が長目に形成される傾向があるので、図11に示すよう
に、長いピットほど照射時間を短目にして、この傾向を
打ち消すようにする。直前ブランク長を3T一定とした
場合の各ピット長ごとの照射時間の一例を表3に示す。
【0044】
【表3】 ただし、T0 =1/4.3218 MHz t=0〜500ns αn =0〜100ns (n=4,5,…,11) α4 <α5 <……<α11 表3のtおよびαn の最適値を実験で求めることによ
り、ピット長の長短にかかわらず規定値に近いピット長
を形成することができる。そのとき図12のアイパター
ンに示すように3〜11Tのピットのあとの3Tブラン
クの振幅はほぼ一定となる。この結果記録パワーに対す
るジッタの相対比は図13に示すようになり、従来の照
射方法に比べて減少する。また、これにより記録パワー
に対するエラー発生率の相対比も図14に示すように、
従来の照射方法に比べて減少する。
【0045】(4) 形成すべきピット長と直前ブランク
長の組合せによる照射時間および照射開始タイミングの
補正 以上のように、形成されるピット長はピット長と直前ブ
ランク長によって影響されるので、その組合せによって
補正値を定めれば、規定値により近いピット長を形成す
ることができる。ピット長と直前ブランク長の様々な組
合せによる照射時間の一例を表4に示す。
【0046】
【表4】 ただしT0 =1/4.3218 MHz t=0〜500ns rm,n =0〜100ns (m:直前ブランク長、n:ピット長、m,n=3,
4,…,11) 同じピット長nに対しては、 γ3,n >γ4,n >…>γ11,n 同じ直前ブランク長mに対しては、 γm,3 <γm,4 <…<γm,11 3T−3T(直前ブランク長3T、ピット長3T)の照
射時間3・T0 −(t+γ3,3 )をT3 、7T−7Tの
照射時間7・T0 −(t+γ7,7 )をT7 、11T−1
1Tの照射時間11・T0 −(t+γ11,11 )をT11
した場合に、直前ブランク長によって照射時間を表5の
ように補正したところ、ピット長センタ位置のずれは図
15に示すようになった。これによれば、図7に示した
直前ブランク長によって照射時間補正しない場合に比べ
てピット長のずれが小さくなった。
【0047】
【表5】 なお、ここでも直前ブランク長による照射時間の補正分
を照射時間の前側で行なう(すなわち、補正分を前側に
付ける)ようにすれば、正規の位置にピットが形成され
て、ブランク長も正しく得られるようになる。
【0048】なお、上記の実施例では照射パワーを一定
とした場合について説明したが、形成すべきピット長お
よび直前ブランク長によって照射パワーを可変する制御
(形成すべきピット長が長いものほど、また直前ブラン
ク長が短いものほど照射パワーを下げる。)を併用する
こともできる。 <データ信号タイミングの分割制御について>従来のよ
うにピット長に応じた時間分レーザ光をディスクに連続
的に照射して記録するものでは、図16に示すように、
形成されるピット40は前縁部40aの溶融量が少な
く、後縁部40bに近づくほど溶融量は多くなって、涙
滴状になる。これは、レーザ光を連続的に照射するた
め、ディスク記録部分がしだいに加熱されて、後縁部4
0bほど溶け易くなるためである。
【0049】このため、ピット後縁部40bが図16中
点線40b′で示すように溶け過ぎて、ピット後縁部4
0b′の位置が不正確になることがあった。また、これ
を防止するために、レーザ光の強度を弱めると、今度は
図17に示すように、ピット前縁部40aの溶融が不足
して、ピット前縁部40aの位置が不正確になることが
あった。
【0050】したがって、このように記録されたディス
クまたはこのように記録された原盤から作られたディス
クを再生すると、再生信号はジッタ(時間軸方向の誤
差)を多く含むようになり、S/N劣化等品位の低いも
のとなっていた。
【0051】また、ピット長は記録データの“1”また
は“0”が連続する回数によって様々な長さを取り得る
が(CDフォーマットの場合3T〜11T)、ピット長
が長くなるにつれてレーザ光によるディスク記録部分の
加熱の度合が著しくなり、図18に示すようにピット幅
が広くなる。このため、ピット長が長くなるほどジッタ
は更に悪化していた。また、ピット幅が広くなるため、
ディスク反射率が低下して再生時のトラッキング、フォ
ーカスサーボ回路の負担が大きくなる(ゲインを大きく
する必要がある。)とともに、記録密度を高めることが
できなかった。
【0052】そこで、データ信号補正回路36では、前
記データ信号タイミングの増減制御とともに、信号ピッ
トの長さに応じた時間内でレーザ光を複数パルスに分割
して照射するようにデータ信号タイミングの分割制御を
行なっている。
【0053】このように、レーザ光を分割して照射する
と、ピット長が長くても光ディスク1の加熱は間欠的に
行なわれ、蓄積されにくくなるので、連続照射の場合の
ようにディスク記録膜が高温になってピット後縁部が過
剰に溶融されることがなくなる。したがって、ピット後
縁部の位置が正確になる。また、ピット後縁部が過剰に
溶融されなくなるので、レーザ光のパワーを上げること
ができ、これによりピット前縁部の位置が正確になる。
したがって、ピット前縁部、後縁部とも正確に位置を規
定することができ、再生信号のジッタを減少させて、S
/Nの向上等により再生信号の品位を高めることができ
る。
【0054】また、レーザ光によるディスク記録膜の加
熱が蓄積されにくくなるので、ピット長にかかわらずピ
ット幅をほぼ一定に細く形成することができる。したが
って、反射率が増大し、再生時のトラッキングやフォー
カスサーボ回路の負担が少なくなる(ゲインを小さくす
ることができる。)とともに記録密度を高めることがで
きる。
【0055】なお、レーザ光の分割数をピット長に応じ
て定めるようにすれば(ピット長が長いほど分割数を多
くする。)、ピット長にかかわらず常に最適なピット形
状を得ることができる。
【0056】また、分割したレーザ光の先頭のパルス幅
を後続のものよりも広くしたり、パワーを後続のものよ
り高めたりすることにより、ピット前縁の溶融をより良
好にすることができ、これによりジッタをさらに減少さ
せることができる。
【0057】データ信号補正回路36により形成される
書込み用レーザ光の分割パルスの一例を図19(b)に
示す。図19(a)はこれに対応する従来の連続レーザ
光である。図19(c)は分割レーザ光により形成され
るピット50の形状を示したものである。
【0058】分割レーザ光は、形成すべきピット長に応
じた時間内で、3分割されている、図19(c)の点線
51,52,53は、各パルスP1〜P3を単独に照射
した場合にそれぞれ形成されるピットで、これらパルス
P1〜P3を連続的に照射することにより、各ピット5
1,52,53がつながって連続したピット50が形成
される。
【0059】これによれば、レーザ光を分割して照射す
るので熱の蓄積が少なく、従来の連続照射の場合に比べ
てピット50の幅の後縁部50bでの広がりが少ない。
したがって、ピット50の幅を細い幅でほぼ一定にでき
るので、反射率が高くなってサーボ回路の負担が少なく
なるとともに、記録密度を高めることができる。
【0060】また、後縁部50bが溶融し過ぎないの
で、後縁部50bの位置が正確に規定される。また、後
縁部50bが溶融し過ぎないので、レーザ光のパワーを
上げることができ、これにより、ピット前縁部50aが
溶融され易くなり、ピット前縁部50aの位置が正確に
規定される。したがって、ジッタが減少して、S/Nの
向上等再生信号の品位を上げることができる。
【0061】ところで、ピット50の形状は、分割レー
ザ光のパルス幅T、デューティ比Ton/T、レーザ光
パワー等に応じて変化する。したがって、熱の蓄積によ
るピット幅の増大が少なく、かつピット50の前縁部5
0aおよび後縁部50bの位置が正確に規定され、かつ
ピット50が途中で切れないようにこれらの値を調整す
る。パルス幅Tが長くなり過ぎると、1つのパルスによ
り形成されるピット自体後縁部で幅が広がり、分割パル
スとした利点がなくなるので、形成すべきピット長に応
じて分割数を変えてほぼ等しいパルス幅となるようにす
るのが好ましい。また、デューティ比Ton/Tは、大
きく(パルス幅を広くする)し過ぎると、熱の蓄積によ
りピット幅が広がり、小さく(パルス幅を狭くする)し
過ぎるとピット50が途中で切れてしまうので、ピット
幅があまり広がらず、かつ途中で切れないような値に調
整する。また、レーザ光パワーによっても溶融状態が変
化するので、レーザ光パワーも同時に調整する。実験に
よると、従来の連続照射の場合の1.5倍程度のレーザ
光パワーにしたところ好ましい結果が得られた。
【0062】以上のパルス分割を利用してCDフォーマ
ットで光ディスク1にピットを形成した場合の実験例に
ついて説明する。
【0063】CDフォーマットのDRAWディスクでは
3〜11T(1T=1/4.3218MHz)の9種類の
長さを有するピットの組合せでデータを記録する。各長
さのピットを形成するための分割レーザ光の設定例を表
6に示す。
【0064】
【表6】 なお、T1on,T2on,T3on はそれぞれパルスP1,P
2,P3の立上り時間幅、T1off, T2offはそれぞれパ
ルスP1,P2,P3の間の立下り時間幅である。
【0065】上記の設定例では、3〜5Tを1分割、6
〜8Tを2分割、9〜11Tを3分割としている。な
お、ピット長5Tは2パルスとして、T1on =300〜
800ns、T1off=200〜600ns、T2on =100
〜400nsとしてもよい。この分割レーザ光により形成
されるピット形状を図20(c)に示す。レーザ光が分
割して照射されるので、熱の蓄積が少なく、ピット長が
長くなってもピット幅は細く一定幅に規定される。ま
た、ピット前縁部、後縁部の位置が正確に規定される。
【0066】この分割レーザ光を用いてDRAWディス
クに記録を行なったところ、その再生信号のジッタは図
21に示すように、従来の連続レーザ光で記録を行なっ
た場合に比べて約6割も減少し、エラーが低減された。
なお、図21において、縦軸は記録信号に対する再生信
号の時間軸変動の標準偏差を示すものであり、横軸は再
生信号のデューティ、すなわち、同信号中にピット相当
部がどの程度の割合を占めているかを示すものである。
また、記録後の反射率は図22に示すように、従来の連
続レーザ光で記録を行なった場合に比べて約1割増加
し、サーボ回路の負担が軽減された。なお、図22の縦
軸は、連続レーザ光で記録を行ない、かつ再生デューテ
ィが50%となるものの反射率を1とする相対比を示し
ている。
【0067】以上の例では、分割パルスを各先頭パルス
と後続のパルスとで特に区別しなかったが(図19
(b)参照)、図23に示すように先頭のパルスP1の
パルス幅を広くしたり(P2,P3の1.1〜2倍程
度)、図24に示すように先頭のパルスP1のパワーを
上げたりする(P2,P3の1.05〜1.43倍程
度)ことにより、ピット前縁部の溶融がより確実に行な
われるようになり、ジッタがより改善される。また、こ
れにより後続するパルスはパワーを下げることができ、
より細いピットを形成することができ、反射率が増加し
てサーボ回路の負担がより軽減されるとともに、記録密
度をより高めることができる。先頭のパルス幅を広くし
た場合の設定例を表7に示す。
【0068】
【表7】 表7の設定条件による場合の記録パワーに対するエラー
発生率の相対比を図25に示す。これによれば、従来の
連続照射の場合に比べてエラーが少なくなり、記録パワ
ーマージンが上がることがわかる。
【0069】また、以上の例では、レーザ光を完全に分
割(パルス立下り部分でパワー0)した場合について説
明したが、図26に示すように直流成分を含むように分
割することもできる。
【0070】また、以上の例ではピット長が長くなるほ
ど分割数を増やしたが、信号ピットの長さに応じた時間
内でレーザ光をその照射すべき期間の終了直前で分割さ
せた2パルスとして付与するようにすることもできる。
このようにすれば、レーザ光のパワーがその照射すべき
期間の終了直前において一旦下げられるようになる。し
たがって、前方パルスによる熱の蓄積がその部分で遮断
されて、ピットの長短にかかわらず後方パルスによるピ
ット後部の形成に影響しにくくなり、ピット後縁の位置
は後方パルスによりほぼ正確に規定することができる。
したがって、ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信
号の品位を上げることができる。しかも、ピット長にか
かわらずレーザ光を照射すべき期間の終了直前のみでレ
ーザ光パワーを一旦下げるだけでよいので、ピット長に
応じた数に分割する場合に比べて回路構成を簡略化する
ことができる。
【0071】図27は記録ピット幅とジッタ、トラッキ
ングエラー信号振幅(3ビーム法)、反射率の関係を示
したものであるが、記録ピットで幅を0.3〜0.9μ
mにすると、ジッタ小、トラッキングエラー振幅大(ト
ラッキング制御のゲイン大)、反射率大となる。ピット
幅0.9μm以上では、再生時に隣接トラックピットを
読んでしまう可能性が増し、ピット幅0.3μm以下で
は、実質的にピットが良好に形成されない状態となり、
いずれもジッタ等が劣化する。前記データ信号補正回路
36によれば、このように記録ピット幅を0.3〜0.
9μmで記録することは容易である。
【0072】なお、以上の例では、レーザ光を完全に分
割した場合について説明したが、図28に示すように直
流成分を含むように分割することもできる。また、図2
9に示すように前方のパルスP1の立上り部分のパワー
を上げることにより、ピット前縁部の溶融がより確実に
行なわれるようになり、ジッタをより改善することがで
きる。
【0073】また、半導体レーザはオンしてからレーザ
光が定常状態に達するまで時間がかかり、直前ブランク
長が長い場合ほど半導体レーザをオンした位置からピッ
ト前縁が形成される位置までの長さが長くなる傾向にあ
る。そこで、ブランク部分でも半導体レーザに弱い電流
を流しておけば、オンしたときのレーザ光の立ち上がり
が早くなり、ピット前縁が正確に規定されて、ジッタを
より減少させることができる。
【0074】なお、データ信号タイミングの増減制御と
データ信号タイミング分割制御を併用する場合は、デー
タ信号タイミング分割制御によりピット長や直前ブラン
ク長の影響は少なくなるので、データ信号タイミングの
増減制御は前述の例よりも程度を少な目にすることがで
きる。
【0075】前記実施の形態ではこの発明をCDシステ
ムに適用した場合について示したが、CD−ROM,C
D−I,CD−V,LV等の再生専用ディスクシステム
にも適用できる。また、記録装置は再生兼用形として構
成することもできる。
【0076】また、線速度一定形ディスクシステムだけ
でなく回転速度一定形ディスクシステムにも適用でき
る。また、前記実施の形態ではこの発明をDRAWディ
スクに適用した場合について示したが、E−DRAWデ
ィスクにも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の光ディスク記録担体を用いて記録
から再生を行うシステム全体の概要を示すブロック図で
ある。
【図2】 図1の光ディスク1の具体例を示す図であ
る。
【図3】 ランド記録の場合のディスク記録面の拡大図
である。
【図4】 ミラー反射率と既存CDプレーヤとのコンパ
チビリティおよび記録に必要なレーザ光パワーとの特性
図である。
【図5】 図1の記録装置の一実施例を示すブロック図
である。
【図6】 従来における記録用レーザ光の一例を示す図
である。
【図7】 直前ブランク長に応じて照射時間を補正しな
い場合のピット長のずれを示す線図である。
【図8】 図6のレーザ光により形成されるピット長を
示す線図である。
【図9】 図6のレーザ光により形成されたピットの再
生信号のアイパターンを示す図である。
【図10】 直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
たこの発明による記録用レーザ光の一例を示す図であ
る。
【図11】 形成すべきピット長に応じて照射時間を補
正した記録用レーザ光の一実施例を示す図である。
【図12】 図11のレーザ光により形成されたピット
の再生信号のアイパターンを示す図である。
【図13】 図11のレーザ光により形成されたピット
の再生信号の記録パワーに対するジッタの相対比を示す
線図である。
【図14】 図11のレーザ光により形成されたピット
の再生信号の記録パワーに対するエラー発生率の相対比
を示す線図である。
【図15】 直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
た場合のピット長のずれを示す線図である。
【図16】 従来の連続レーザ光を用いて形成したピッ
ト形状の一例を示す図である。
【図17】 従来の連続レーザ光を用いて前縁部が溶融
不足となった状態を示す図である。
【図18】 従来の連続レーザ光で形成される各長さの
ピット形状を示す図である。
【図19】 分割レーザ光の一例およびこの分割レーザ
光により形成されるピット形状の一例を示す図である。
【図20】 分割レーザ光で形成される各長さのピット
形状の一例を示す図である。
【図21】 連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピットを形成した場合のジッタ特性を示
す図である。
【図22】 連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピットを形成した場合の再生時のデイス
ク反射率特性を示す図である。
【図23】 分割レーザ光の他の例を示す図である。
【図24】 分割レーザ光の他の例を示す図である。
【図25】 表7の設定条件による場合の記録パワー対
エラー派生率を相対比表示した線図である。
【図26】 分割レーザ光の他の例を示す図である。
【図27】 記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラ
ー信号振幅、反射率の関係を示す特性図である。
【図28】 分割レーザ光の他の例を示す図である。
【図29】 分割レーザ光の他の例を示す図である。
【符号の説明】
1…光ディスク、2…記録装置、3…再生装置、16′
…プリグルーブ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザで記録可能な素材でかつ光反射率が
    59〜75%の素材材料で記録面が形成され、この記録
    面上にレーザ光が入射される側の面での深さが20nm
    〜50nmのプリグルーブを形成し、機械的寸法を再生
    専用光ディスクの規格寸法に合致させ、トラックピッチ
    を再生専用光ディスクの規格トラックピッチに合致させ
    たことを特徴とする光ディスク記録担体。
  2. 【請求項2】レーザで記録可能な素材でかつ光反射率が
    59〜75%の素材材料で記録面が形成され、この記録
    面上にレーザ光が入射される側の面での深さが20nm
    〜50nmのプリグルーブを形成し、機械的寸法を再生
    専用光ディスクの規格寸法に合致させ、記録フォーマッ
    トを再生専用光ディスクの記録フォーマットに合致させ
    たことを特徴とする光ディスク記録担体。
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