JP2635637B2 - システム内メモリの試験装置 - Google Patents
システム内メモリの試験装置Info
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- JP2635637B2 JP2635637B2 JP62328407A JP32840787A JP2635637B2 JP 2635637 B2 JP2635637 B2 JP 2635637B2 JP 62328407 A JP62328407 A JP 62328407A JP 32840787 A JP32840787 A JP 32840787A JP 2635637 B2 JP2635637 B2 JP 2635637B2
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- Japan
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- command
- test support
- ram
- general
- test
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は、システムに実装されたRAMの試験方式に関
し、 オンライン時に使用される全てのRAM記憶領域に対し
て試験可能なシステム内メモリの試験方式を提供するこ
とを目的とし、 中央処理装置によりインターフェースを介して受信し
たコマンドがテストサポートコマンドであるかどうかを
判断するテストサポートコマンド判断手段と、前記テス
トサポートコマンド判断手段で前記コマンドがテストサ
ポートコマンドであることを判定した場合、前記テスト
サポートコマンド実行時に、該テストサポートコマンド
で使用される情報が格納されるテストサポートコマンド
用RAM領域をアクセスして、該テストサポートコマンド
用RAM領域以外の全てのRAM領域を試験するテストサポー
トコマンド実行手段と、前記テストサポートコマンド判
断手段で前記コマンドが汎用コマンドであると判定した
場合、前記汎用コマンド実行時に、前記テストサポート
コマンドと前記汎用コマンドで共通に使用される処理に
使用される情報が格納される領域を有するRAM領域を、
前記テストサポートコマンド用で用いられたRAM領域と
は分離して設けられた前記汎用コマンドで使用される情
報が格納される汎用コマンド用RAM領域をアクセスし
て、前記汎用コマンドに対応する処理を実行する汎用コ
マンド実行手段を有し、汎用コマンドで使用するRAM領
域を全て試験可能とするように構成する。
し、 オンライン時に使用される全てのRAM記憶領域に対し
て試験可能なシステム内メモリの試験方式を提供するこ
とを目的とし、 中央処理装置によりインターフェースを介して受信し
たコマンドがテストサポートコマンドであるかどうかを
判断するテストサポートコマンド判断手段と、前記テス
トサポートコマンド判断手段で前記コマンドがテストサ
ポートコマンドであることを判定した場合、前記テスト
サポートコマンド実行時に、該テストサポートコマンド
で使用される情報が格納されるテストサポートコマンド
用RAM領域をアクセスして、該テストサポートコマンド
用RAM領域以外の全てのRAM領域を試験するテストサポー
トコマンド実行手段と、前記テストサポートコマンド判
断手段で前記コマンドが汎用コマンドであると判定した
場合、前記汎用コマンド実行時に、前記テストサポート
コマンドと前記汎用コマンドで共通に使用される処理に
使用される情報が格納される領域を有するRAM領域を、
前記テストサポートコマンド用で用いられたRAM領域と
は分離して設けられた前記汎用コマンドで使用される情
報が格納される汎用コマンド用RAM領域をアクセスし
て、前記汎用コマンドに対応する処理を実行する汎用コ
マンド実行手段を有し、汎用コマンドで使用するRAM領
域を全て試験可能とするように構成する。
本発明は、システムに実装されたRAMの試験方式に関
する。
する。
集積化技術の発展に伴い、大規模集積化されたMPU
（マイクロプロセッサ）と大容量化されたRAM（ランダ
ム・アクセス・メモリ）を内蔵したマイクロコンピュー
タシステム（単に、マイコンシステムという）はますま
す高機能化され、それと共に、マイコンシステムの高信
頼化に対する要求も高まって来た。特に、基本ソフトウ
ェアや応用ソフトウェアを外部記憶装置からロードし多
くのデータを格納して利用される主記憶装置の読み書き
動作は、マイコンシステムにおける基本動作であり、そ
の試験方法の重要性も高まって来た。主記憶装置は、リ
ードライト可能なRAM（ランダム・アクセス・メモリ）
であり、そのRAMを単体でLSIテスターで予め検査してお
くことも重要であるが、さらに、マイコンシステムにす
でに実装された状態で試験することも重要となる。
（マイクロプロセッサ）と大容量化されたRAM（ランダ
ム・アクセス・メモリ）を内蔵したマイクロコンピュー
タシステム（単に、マイコンシステムという）はますま
す高機能化され、それと共に、マイコンシステムの高信
頼化に対する要求も高まって来た。特に、基本ソフトウ
ェアや応用ソフトウェアを外部記憶装置からロードし多
くのデータを格納して利用される主記憶装置の読み書き
動作は、マイコンシステムにおける基本動作であり、そ
の試験方法の重要性も高まって来た。主記憶装置は、リ
ードライト可能なRAM（ランダム・アクセス・メモリ）
であり、そのRAMを単体でLSIテスターで予め検査してお
くことも重要であるが、さらに、マイコンシステムにす
でに実装された状態で試験することも重要となる。
複数のマイコンシステムが共通バスを介して中央制御
装置（CC）によって制御され、各マイコンシステムが他
の入出力制御装置、通信制御装置、あるいは電話交換機
制御装置を補助する装置として利用されるシステム系で
は、各マイコンシステム内のRAMに対する試験はそのCC
が実行することになる。
装置（CC）によって制御され、各マイコンシステムが他
の入出力制御装置、通信制御装置、あるいは電話交換機
制御装置を補助する装置として利用されるシステム系で
は、各マイコンシステム内のRAMに対する試験はそのCC
が実行することになる。
第２図（ａ）はこのようなシステムのシステム構成図
である。マイコンシステム１は、MPU（マイクロプロセ
ッサ）10を内蔵し、ROM12に格納されているファームウ
ェアやRAM11内のソフトウェアを動作させることによ
り、他の制御装置を補助する。マイコンシステム１は共
通バス３を介して上位の中央制御装置（CC）２によって
制御され、中央制御インターフェース（CC−INF）13を
通してコマンドの受信、ステータス信号の送出、データ
の送受信を行う。また、RAM11はリード、ライト可能な
メモリであり、制御装置（CNT）14は他装置の制御回路
である。
である。マイコンシステム１は、MPU（マイクロプロセ
ッサ）10を内蔵し、ROM12に格納されているファームウ
ェアやRAM11内のソフトウェアを動作させることによ
り、他の制御装置を補助する。マイコンシステム１は共
通バス３を介して上位の中央制御装置（CC）２によって
制御され、中央制御インターフェース（CC−INF）13を
通してコマンドの受信、ステータス信号の送出、データ
の送受信を行う。また、RAM11はリード、ライト可能な
メモリであり、制御装置（CNT）14は他装置の制御回路
である。
このようなシステム内のRAM11の試験において、従来
技術では、“テストサポートコマンド”とよばれる試験
サポート用コマンドで使用するフラグ等のワークエリア
を、オンラインで使用される汎用コマンドで使用するフ
ラグ等のワークエリアと共通にRAM11内な設けて使用し
ていた。すなわち、従来では、テストサポートコマンド
が使用するRAM11内のエリア以外のRAM11のエリアへCC2
がデータをライトした後、同じデータをリードし、その
正常性をCC2がチェックするという方法を採用してい
た。
技術では、“テストサポートコマンド”とよばれる試験
サポート用コマンドで使用するフラグ等のワークエリア
を、オンラインで使用される汎用コマンドで使用するフ
ラグ等のワークエリアと共通にRAM11内な設けて使用し
ていた。すなわち、従来では、テストサポートコマンド
が使用するRAM11内のエリア以外のRAM11のエリアへCC2
がデータをライトした後、同じデータをリードし、その
正常性をCC2がチェックするという方法を採用してい
た。
第３図は、テストサポートコマンド動作に関連する従
来の動作モジュールである。CC2よりテストサポートコ
マンドが起動されるとMPU10でまず、ROM12内に格納され
たコマンド解析処理ルーチン30が実行され、ここからテ
ストサポート処理ルーチン31が起動される。ROM12に格
納されたテストサポート処理ルーチン31内でROM12内に
格納されたデータ転送制御処理ルーチン32が起動され、
コマンドコード（CM）とメッセージ（MSG）が解読され
る。MSG内に示されるリード／ライト、データのロケー
ションと大きさをMPU10が判断すると、MPU10は内部メモ
リ（RAM11、ROM12等）にアクセスを行い、終了すると、
ROM12内に格納されたステータス送出処理ルーチン33が
実行され、CC2に終了のステータス信号を送出し、完了
する。
来の動作モジュールである。CC2よりテストサポートコ
マンドが起動されるとMPU10でまず、ROM12内に格納され
たコマンド解析処理ルーチン30が実行され、ここからテ
ストサポート処理ルーチン31が起動される。ROM12に格
納されたテストサポート処理ルーチン31内でROM12内に
格納されたデータ転送制御処理ルーチン32が起動され、
コマンドコード（CM）とメッセージ（MSG）が解読され
る。MSG内に示されるリード／ライト、データのロケー
ションと大きさをMPU10が判断すると、MPU10は内部メモ
リ（RAM11、ROM12等）にアクセスを行い、終了すると、
ROM12内に格納されたステータス送出処理ルーチン33が
実行され、CC2に終了のステータス信号を送出し、完了
する。
従って、従来方式では、RAM試験時に、テストサポー
トコマンドで使用されるRAM11の記憶領域の内で、汎用
コマンドでも使用される記憶領域に対して試験が不可能
となる。特に、コマンド解析処理ルーチン30、データ転
送制御処理ルーチン32、ステータス送出処理ルーチン33
は、オンライン時の他のコマンド（汎用コマンドとい
う）でも使用される汎用モジュールであり、この中で使
用しているRAM11内のワークエリアやフラグエリアを試
験できないという問題が生じていた。また、RAM11障害
の内容によっては、RAM試験結果が正常であるにもかか
わらず、他の汎用コマンド実行時に影響を与える場合も
あり、さらにRAM11の障害を汎用コマンド動作に関連す
る他のハードウェア障害と誤診断してしまう問題が生じ
ていた。さらに、正しい障害箇所の障害検出のためにRA
M11に対するテストサポートコマンド以外のすべてのテ
ストコマンド試験を実施する必要が生じ、試験時間がか
かる等の問題が生じていた。
トコマンドで使用されるRAM11の記憶領域の内で、汎用
コマンドでも使用される記憶領域に対して試験が不可能
となる。特に、コマンド解析処理ルーチン30、データ転
送制御処理ルーチン32、ステータス送出処理ルーチン33
は、オンライン時の他のコマンド（汎用コマンドとい
う）でも使用される汎用モジュールであり、この中で使
用しているRAM11内のワークエリアやフラグエリアを試
験できないという問題が生じていた。また、RAM11障害
の内容によっては、RAM試験結果が正常であるにもかか
わらず、他の汎用コマンド実行時に影響を与える場合も
あり、さらにRAM11の障害を汎用コマンド動作に関連す
る他のハードウェア障害と誤診断してしまう問題が生じ
ていた。さらに、正しい障害箇所の障害検出のためにRA
M11に対するテストサポートコマンド以外のすべてのテ
ストコマンド試験を実施する必要が生じ、試験時間がか
かる等の問題が生じていた。
本発明は、RAM記憶領域のうちでオンライン時に使用
される全てのRAM記憶領域に対して試験可能なシステム
内メモリの試験方法を提供することを目的とする。
される全てのRAM記憶領域に対して試験可能なシステム
内メモリの試験方法を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕 第１図（ａ）は、本発明の動作モジュールにおけるRA
Mアクセス処理ルーチンの概略図である。
Mアクセス処理ルーチンの概略図である。
同図において、４はCC2よりCC−INF13を介して受信し
たコマンドがテストサポートコマンドであるかどうかを
判断するテストサポートコマンド判断手段、５はテスト
サポートコマンド判断手段４で入力されたコマンドがテ
ストサポートコマンドであることを判定した場合、テス
トサポートコマンド用RAM領域をアクセスして、そのテ
ストサポートコマンド用RAM領域以外の全てのRAM領域を
試験するテストサポートコマンド実行手段、６はテスト
サポートコマンド判断手段４で受信したコマンドが汎用
コマンドであると判定した場合、汎用コマンド用RAM領
域をアクセスして、その汎用コマンドに対応する処理を
実行する汎用コマンド実行手段で、本発明では、テスト
サポートコマンドコマンド実行時に起動されるモジュー
ルで使用されるRAMの記憶領域を他の汎用コマンドで使
用される記憶領域と分離して設けている。
たコマンドがテストサポートコマンドであるかどうかを
判断するテストサポートコマンド判断手段、５はテスト
サポートコマンド判断手段４で入力されたコマンドがテ
ストサポートコマンドであることを判定した場合、テス
トサポートコマンド用RAM領域をアクセスして、そのテ
ストサポートコマンド用RAM領域以外の全てのRAM領域を
試験するテストサポートコマンド実行手段、６はテスト
サポートコマンド判断手段４で受信したコマンドが汎用
コマンドであると判定した場合、汎用コマンド用RAM領
域をアクセスして、その汎用コマンドに対応する処理を
実行する汎用コマンド実行手段で、本発明では、テスト
サポートコマンドコマンド実行時に起動されるモジュー
ルで使用されるRAMの記憶領域を他の汎用コマンドで使
用される記憶領域と分離して設けている。
本発明では、MPUが実行する汎用モジュール内で、RAM
領域をアクセスするとき、CC−INF13内のコマンドレジ
スタ（CMR）の内容を参照し、もしその内容がテストサ
ポートコマンドである場合は、汎用コマンドで使用する
RAM領域とは分離して設けられている別のテストサポー
トコマンド用RAM領域をアクセスするようにしている。
領域をアクセスするとき、CC−INF13内のコマンドレジ
スタ（CMR）の内容を参照し、もしその内容がテストサ
ポートコマンドである場合は、汎用コマンドで使用する
RAM領域とは分離して設けられている別のテストサポー
トコマンド用RAM領域をアクセスするようにしている。
次に、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図（ｂ）は本発明のテストサポートコマンドの動
作モジュールの実施例図である。
作モジュールの実施例図である。
本発明では、入力されたコマンドがテストサポートコ
マンドであると判断されたとき、MPU10がアクセスするR
AM11のテストサポートコマンド用RAM領域には汎用コマ
ンドで使用されるモジュール間インターフェース情報と
は異なる独自のモジュール間インターフェース情報が格
納されている。例えば、テストサポートコマンド用RAM
領域に格納されるモジュール間インターフェース情報の
実施例を次項の表１に示す。
マンドであると判断されたとき、MPU10がアクセスするR
AM11のテストサポートコマンド用RAM領域には汎用コマ
ンドで使用されるモジュール間インターフェース情報と
は異なる独自のモジュール間インターフェース情報が格
納されている。例えば、テストサポートコマンド用RAM
領域に格納されるモジュール間インターフェース情報の
実施例を次項の表１に示す。
第１図（ｂ）のテストサポートコマンド実行時のMPU1
0が実行する動作モジュールにおいてCC2よりコマンド起
動が行われると、CC−INF13内のCMRにコマンドがセット
され、MPU10でコマンド解析処理ルーチンが起動され
る。CMRにセットされるコマンド（CM）は、第２図
（ｂ）に示されるように、８ビットのコードで表現さ
れ、これがRAM参照用コマンドであれば、それにつづい
て、第２図（ｃ）に示されるようなメッセージ（MSG）
がCC−INF13内のレジスタにセットされる。MSG内のIDは
リード／ライトの方向、ADはアクセスするRAM11の記憶
領域のアドレス、DATAは、ライトモードのときの書込み
データである。このようなMSG付きのコマンドの内容が
解析され、該当のコマンド処理が起動される。そして、
そのコマンドがRAMテストの実行であれば、テストサポ
ート処理ルーチン70が起動される。
0が実行する動作モジュールにおいてCC2よりコマンド起
動が行われると、CC−INF13内のCMRにコマンドがセット
され、MPU10でコマンド解析処理ルーチンが起動され
る。CMRにセットされるコマンド（CM）は、第２図
（ｂ）に示されるように、８ビットのコードで表現さ
れ、これがRAM参照用コマンドであれば、それにつづい
て、第２図（ｃ）に示されるようなメッセージ（MSG）
がCC−INF13内のレジスタにセットされる。MSG内のIDは
リード／ライトの方向、ADはアクセスするRAM11の記憶
領域のアドレス、DATAは、ライトモードのときの書込み
データである。このようなMSG付きのコマンドの内容が
解析され、該当のコマンド処理が起動される。そして、
そのコマンドがRAMテストの実行であれば、テストサポ
ート処理ルーチン70が起動される。
RAM11のリード／ライトの試験は、ライトモードでCC2
からテストデータをRAMに書込み、リードモードでその
結果データをCC2に再入力し、テストデータと結果デー
タとの一致をCC2がチェックすることによってなされ
る。ライトモードの動作は、第２図（ｄ）に示される。
CC2からTSOのテストサポートコマンドとTSOのMSGをCC−
INF13を介してMPU10に与えると、MPU10はMSG内にあるテ
ストデータをRAM11の被検査記憶領域に書込む。書込み
アドレスと大きさは、それぞれMSGのADとSIZEに示され
ている。書込みが終了すると、MPU10からCC2にその終了
のステータス信号（ST）が返される。その後、CC2はリ
ードモードに切替え、第２図（ｅ）に示されるように、
TSOのテストサポートコマンドとTSOのMSGをCC−INF13を
介してMPU10に与える。リードモードでのMSGは、リード
を示すID、リードアクセスする先頭アドレスADとその領
域の大きさSIZEのみである。MPU10によってアクセスさ
れたRAM11の内容は、結果データとして、まず、CC−INF
13内のバッファメモリ（BM）に一次保持され、保持終了
後に、MPU10からCC2にステータス信号（ST）が返され
る。CC2はこのステータス信号を受けると、TS1というテ
ストサポートコマンドをMPU10に送り、CC2とCC−INF13
とのインターフェース間が通信可能となる。そして、BM
内の結果データがCC2に転送され、転送終了後に、ステ
ータス信号（ST）がCC2に送られる。その後、CC2内でテ
ストデータと結果データの一致検査が実行される。な
お、CC−INF13のBMとRAM11間のデータ転送は、すべてDM
Aで実行される。
からテストデータをRAMに書込み、リードモードでその
結果データをCC2に再入力し、テストデータと結果デー
タとの一致をCC2がチェックすることによってなされ
る。ライトモードの動作は、第２図（ｄ）に示される。
CC2からTSOのテストサポートコマンドとTSOのMSGをCC−
INF13を介してMPU10に与えると、MPU10はMSG内にあるテ
ストデータをRAM11の被検査記憶領域に書込む。書込み
アドレスと大きさは、それぞれMSGのADとSIZEに示され
ている。書込みが終了すると、MPU10からCC2にその終了
のステータス信号（ST）が返される。その後、CC2はリ
ードモードに切替え、第２図（ｅ）に示されるように、
TSOのテストサポートコマンドとTSOのMSGをCC−INF13を
介してMPU10に与える。リードモードでのMSGは、リード
を示すID、リードアクセスする先頭アドレスADとその領
域の大きさSIZEのみである。MPU10によってアクセスさ
れたRAM11の内容は、結果データとして、まず、CC−INF
13内のバッファメモリ（BM）に一次保持され、保持終了
後に、MPU10からCC2にステータス信号（ST）が返され
る。CC2はこのステータス信号を受けると、TS1というテ
ストサポートコマンドをMPU10に送り、CC2とCC−INF13
とのインターフェース間が通信可能となる。そして、BM
内の結果データがCC2に転送され、転送終了後に、ステ
ータス信号（ST）がCC2に送られる。その後、CC2内でテ
ストデータと結果データの一致検査が実行される。な
お、CC−INF13のBMとRAM11間のデータ転送は、すべてDM
Aで実行される。
このようなリード／ライトの動作モジュールでは、動
作に必要なMSGを受信するため、データ転送制御処理ル
ーチン８が起動される。このデータ転送制御処理ルーチ
ン８では、テストサポート処理ルーチン70で格納された
テストサポート用RAM領域内のＴ−TDVOL内容が示すデー
タ量のデータ転送がおこなわれ、そのDMA転送終了時にD
MA割込処理ルーチン９でテストサポート用RAM領域にセ
ットされるＴ−DMAEFGをMPU10が常に監視することにな
る。テストサポート用RAM領域内のＴ−DMAEFGがONする
と、データ転送制御処理ルーチン８から再びテストサポ
ート処理ルーチン70にもどり、次にステータス送出処理
ルーチン71が起動される。ステータス送出処理ルーチン
71はテストサポート用RAM領域内に格納されたＴ−EXST
の内容に従ってCC2にステータス信号を送出する。
作に必要なMSGを受信するため、データ転送制御処理ル
ーチン８が起動される。このデータ転送制御処理ルーチ
ン８では、テストサポート処理ルーチン70で格納された
テストサポート用RAM領域内のＴ−TDVOL内容が示すデー
タ量のデータ転送がおこなわれ、そのDMA転送終了時にD
MA割込処理ルーチン９でテストサポート用RAM領域にセ
ットされるＴ−DMAEFGをMPU10が常に監視することにな
る。テストサポート用RAM領域内のＴ−DMAEFGがONする
と、データ転送制御処理ルーチン８から再びテストサポ
ート処理ルーチン70にもどり、次にステータス送出処理
ルーチン71が起動される。ステータス送出処理ルーチン
71はテストサポート用RAM領域内に格納されたＴ−EXST
の内容に従ってCC2にステータス信号を送出する。
表１のＴ−EXST、Ｔ−TWVOL、Ｔ−DMAEFGはテストサ
ポートコマンド時のみに使用されるモジュール間インタ
ーフェース情報で、本発明では、汎用コマンドで使用さ
れるTWVOL、DMAEFG、EXSTが存在する汎用コマンド用RAM
領域とは分離して設けられる別のテストサポート用コマ
ンド領域に格納される。従って、本発明では例えば、テ
ストサポート処理ルーチン70からデータ転送制御処理ル
ーチン８が起動される場合に、DMAデータ転送量の表示
はテストサポートコマンド用RAM領域内のＴ−TDVOLにセ
ットされる。そして、テストサポートコマンドと汎用コ
マンドで共有されるデータ転送制御処理ルーチンでは、
第１図（ａ）のアクセス処理手段に示すように、コマン
ドがテストサポートコマンドか他の汎用コマンドである
かを、判断手段４がCMRをリードすることで判断してい
る。また、そこでテストサポートコマンド用のＴ−TDVO
Lの内容を使用するか、汎用コマンド用のTDVOLの内容を
使用するかを判断している。そして、本発明ではDMA割
込処理ルーチン９内でセットするDMA動作終了表示も、
テストサポートコマンドか汎用コマンドかの判断に従っ
て、Ｔ−DMAEFGをテストサポートコマンド用RAM領域に
セットするか、汎用のDMAEFGを汎用コマンド用RAM領域
にセットするかが決められる。さらにデータ転送制御処
理ルーチン８でも判断手段４の判断に従い、テストサポ
ートコマンド用RAM領域内のＴ−DMAEFGを参照するかあ
るいは汎用コマンドRAM領域内のDMAEFGを参照するかが
決定される。このような処理を実行することにより、本
発明ではテストサポートコマンド実行時、汎用コマンド
用のTDVOL、DMAEFG、EXSTが格納されたコマンド用RAM領
域を使用することがなく、試験時にその汎用コマンドで
使用するRAM領域を書替えても、テストサポートコマン
ドの実行には支障なく汎用コマンドで使用するRAM領域
を含むRAM領域全体（テストサポートコマンドで使用す
るRAM領域は除く）を検査の対象とすることができる。
ポートコマンド時のみに使用されるモジュール間インタ
ーフェース情報で、本発明では、汎用コマンドで使用さ
れるTWVOL、DMAEFG、EXSTが存在する汎用コマンド用RAM
領域とは分離して設けられる別のテストサポート用コマ
ンド領域に格納される。従って、本発明では例えば、テ
ストサポート処理ルーチン70からデータ転送制御処理ル
ーチン８が起動される場合に、DMAデータ転送量の表示
はテストサポートコマンド用RAM領域内のＴ−TDVOLにセ
ットされる。そして、テストサポートコマンドと汎用コ
マンドで共有されるデータ転送制御処理ルーチンでは、
第１図（ａ）のアクセス処理手段に示すように、コマン
ドがテストサポートコマンドか他の汎用コマンドである
かを、判断手段４がCMRをリードすることで判断してい
る。また、そこでテストサポートコマンド用のＴ−TDVO
Lの内容を使用するか、汎用コマンド用のTDVOLの内容を
使用するかを判断している。そして、本発明ではDMA割
込処理ルーチン９内でセットするDMA動作終了表示も、
テストサポートコマンドか汎用コマンドかの判断に従っ
て、Ｔ−DMAEFGをテストサポートコマンド用RAM領域に
セットするか、汎用のDMAEFGを汎用コマンド用RAM領域
にセットするかが決められる。さらにデータ転送制御処
理ルーチン８でも判断手段４の判断に従い、テストサポ
ートコマンド用RAM領域内のＴ−DMAEFGを参照するかあ
るいは汎用コマンドRAM領域内のDMAEFGを参照するかが
決定される。このような処理を実行することにより、本
発明ではテストサポートコマンド実行時、汎用コマンド
用のTDVOL、DMAEFG、EXSTが格納されたコマンド用RAM領
域を使用することがなく、試験時にその汎用コマンドで
使用するRAM領域を書替えても、テストサポートコマン
ドの実行には支障なく汎用コマンドで使用するRAM領域
を含むRAM領域全体（テストサポートコマンドで使用す
るRAM領域は除く）を検査の対象とすることができる。
このように、本発明ではテストサポートコマンドと他
の汎用コマンドでアクセスするRAM領域を分離し、RAM11
をアクセスする場合には第１図（ａ）に示すようなRAM
アクセス手順に従っている。すなわち、CC−INF13内の
コマンドレジスタ（CMR）の内容がテストサポートコマ
ンドコードであればテストサポートコマンド用RAM領
域、それ以外は汎用コマンド用RAM領域をアクセスす
る。本発明ではこのような処理がコマンド解析処理やデ
ータ転送処理モジュール追加されている。このときモジ
ュール規模の小さいステータス送出処理ルーチン71は、
汎用コマンド用モジュールとは別にテストサポート処理
ルーチン70の中に内蔵された形となる。
の汎用コマンドでアクセスするRAM領域を分離し、RAM11
をアクセスする場合には第１図（ａ）に示すようなRAM
アクセス手順に従っている。すなわち、CC−INF13内の
コマンドレジスタ（CMR）の内容がテストサポートコマ
ンドコードであればテストサポートコマンド用RAM領
域、それ以外は汎用コマンド用RAM領域をアクセスす
る。本発明ではこのような処理がコマンド解析処理やデ
ータ転送処理モジュール追加されている。このときモジ
ュール規模の小さいステータス送出処理ルーチン71は、
汎用コマンド用モジュールとは別にテストサポート処理
ルーチン70の中に内蔵された形となる。
本発明によれば、従来のRAM試験では試験不可能なRAM
記憶領域を試験することが可能となり、システム内のRA
Mに対する試験品質が向上し、さらに他のテストコマン
ドでエラーを検出する場合と比べてRAMの障害箇所の断
定を容易にし、極めて信頼性の高いRAM試験を実行でき
る。
記憶領域を試験することが可能となり、システム内のRA
Mに対する試験品質が向上し、さらに他のテストコマン
ドでエラーを検出する場合と比べてRAMの障害箇所の断
定を容易にし、極めて信頼性の高いRAM試験を実行でき
る。
第１図（ａ）は本発明の動作モジュールにおけるRAMア
クセス処理手段の概略図、 第１図（ｂ）は本発明のテストサポートコマンドの動作
モジュールの説明図、 第２図（ａ）はシステム構成図、 第２図（ｂ），（ｃ）はコマンドコード及びメッセージ
を示す図、 第２図（ｄ），（ｅ）はライトモード及びリードモード
の動作を示す図、 第３図は従来のテストサポートコマンド実行時の動作モ
ジュールを示す説明図である。 ４……テストサポートコマンド（テストサポートコマン
ド判断手段）、 ５……テストサポートコマンド用RAM領域アクセス処理
手段、 ６……汎用コマンド用RAM領域アクセス処理手段、 ８……データ転送制御処理ルーチン、 ９……DMA割込処理ルーチン、 30……コマンド解析処理ルーチン、 31……テストサポート処理ルーチン、 32……データ転送制御処理ルーチン、 33……ステータス送出処理ルーチン、 70……テストサポート処理ルーチン、 71……ステータス送出処理ルーチン．
クセス処理手段の概略図、 第１図（ｂ）は本発明のテストサポートコマンドの動作
モジュールの説明図、 第２図（ａ）はシステム構成図、 第２図（ｂ），（ｃ）はコマンドコード及びメッセージ
を示す図、 第２図（ｄ），（ｅ）はライトモード及びリードモード
の動作を示す図、 第３図は従来のテストサポートコマンド実行時の動作モ
ジュールを示す説明図である。 ４……テストサポートコマンド（テストサポートコマン
ド判断手段）、 ５……テストサポートコマンド用RAM領域アクセス処理
手段、 ６……汎用コマンド用RAM領域アクセス処理手段、 ８……データ転送制御処理ルーチン、 ９……DMA割込処理ルーチン、 30……コマンド解析処理ルーチン、 31……テストサポート処理ルーチン、 32……データ転送制御処理ルーチン、 33……ステータス送出処理ルーチン、 70……テストサポート処理ルーチン、 71……ステータス送出処理ルーチン．
Claims (1)
- 【請求項１】中央処理装置によりインターフェースを介
して受信したコマンドがテストサポートコマンドである
かどうかを判断するテストサポートコマンド判断手段
と、 前記テストサポートコマンド判断手段で前記コマンドが
テストサポートコマンドであることを判定した場合、前
記テストサポートコマンド実行時に、該テストサポート
コマンドで使用される情報が格納されるテストサポート
用コマンドRAM領域をアクセスして、該テストサポート
コマンド用RAM領域以外の全てのRAM領域を試験するテス
トサポートコマンド実行手段と、 前記テストサポートコマンド判断手段で前記コマンドが
汎用コマンドであると判定した場合、前記汎用コマンド
実行時に、前記テストサポートコマンドと前記汎用コマ
ンドで共通に使用される処理に使用される情報が格納さ
れる領域を有するRAM領域を、前記テストサポートコマ
ンド用で用いられたRAM領域とは分離して設けられた前
記汎用コマンドで使用される情報が格納される汎用コマ
ンド用RAM領域をアクセスして、前記汎用コマンドに対
応する処理を実行する汎用コマンド実行手段を有する、 ことを特徴とするシステム内メモリの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62328407A JP2635637B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | システム内メモリの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62328407A JP2635637B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | システム内メモリの試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01171049A JPH01171049A (ja) | 1989-07-06 |
| JP2635637B2 true JP2635637B2 (ja) | 1997-07-30 |
Family
ID=18209914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62328407A Expired - Lifetime JP2635637B2 (ja) | 1987-12-26 | 1987-12-26 | システム内メモリの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2635637B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5658196A (en) * | 1979-10-17 | 1981-05-21 | Nec Corp | Memory device having memory part for test |
| JPS62298854A (ja) * | 1986-06-18 | 1987-12-25 | Fujitsu Ltd | メモリテスト方式 |
-
1987
- 1987-12-26 JP JP62328407A patent/JP2635637B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01171049A (ja) | 1989-07-06 |
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